DE1762847A1 - Circuit arrangement for potential-free testing of a line multiple consisting of n rows and m columns in the manner of a code signal tester - Google Patents

Circuit arrangement for potential-free testing of a line multiple consisting of n rows and m columns in the manner of a code signal tester

Info

Publication number
DE1762847A1
DE1762847A1 DE19681762847 DE1762847A DE1762847A1 DE 1762847 A1 DE1762847 A1 DE 1762847A1 DE 19681762847 DE19681762847 DE 19681762847 DE 1762847 A DE1762847 A DE 1762847A DE 1762847 A1 DE1762847 A1 DE 1762847A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
lines
test
winding
current
line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19681762847
Other languages
German (de)
Inventor
Dipl-Ing Ludwig Kraus
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19681762847 priority Critical patent/DE1762847A1/en
Publication of DE1762847A1 publication Critical patent/DE1762847A1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04QSELECTING
    • H04Q3/00Selecting arrangements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

Schaltungsanordnung zum potentialfreien Prüfen eines aus n-Zeilen und m-Spalten bestehender leitungsvielfaches nach Art eines Kodenignalprüfers. Zusatz zum Zusatzpatent (S 110 594 YIIIa/21a1) Das Zusatzpatent (S 110 594 YIIIa/21a1) bezieht sich auf eine Schaltungsanordnung zum potentialfreien Prüfen eines aus n-Zeilen und m-Spalten bestehenden leitungsvielfaches, bei der parallel zu den Zeitungen des leitungsvielfaches eine Prüfleitung angeordnet ist, die über Dioden und über Prüfwiderstände mit jeder Zeitung des leitungsvielfaches verbunden ist und über die ein von der Anzahl der erregten Zeitungen abhängiger Prüfstrom fließt, bei der eine Vergleichsschaltung vorhanden ist, die einen Magnetkern mit rechteckförmiger Hystereseschleife enthält, der über eine erste Wicklung durch den Prüfstrom in einer Richtung erregt und über eine zweite Wicklung durch Veraleichestromimpulee in der entgegengesetzten Richtung erregt wird, und bei der der Prüfstrom und die Vergleiehsetronimpulse den Magnetkern derart beeinflussen, daß er nur bei Unvollständigkeit der Betriebezuatände der zu den Zeilen bzw. zu den Spalten den Zeitungnyielfaohen gehörenden Zeitungen vom Vergleichnatromimpule von dem einen in den anderen Sättigungszustand ummagnetisiert wird. Diese Bchaltungsanordnuna kann. noch für die susiitzliche Prüfung auf Mehrdeutigkeit der Betriebazu- stände der zu den Zeilen bzw. zu den Spalten des Loitungs, vielfaches gehörenden Leitungen erweitert werden. Hierzu wird ein zweiter Magnetkern vorgesehen, der vom Prüfstrom über eine Wicklung in der Weise beeinflußt wird, daß er von einem Sättigungszustand in den anderen immer nur dann ummagnetisiert wird, wenn Mehrdeutigkeit vorliegt. Wenn als ordnungsgemäßer Betriebszustand ein solcher gilt, in dem nicht nur eine der Leitungen des Leitunf;svielfaches sondern eine Mehrzahl derselben Arbeitspotential führt, mut3 bei der vorgunanuten erweiterten Schaltungsanordnung mit Fehlanzeigen gerechnet worden. Es kann dann nämlich schon eine geringfügige durch 'femporaturschwankungen bedingte Veränderung der Hystereseschleifo des verwendeten Magnetkernes dazuführen, daß der Magnetkorn in den anderen Sättigungszustand ummagnetisiert wird, obwohl nicht mehr als die vorgeschriebene Anzahl von Leitungen Arbeitspotential führen. Wenn das anlet;cn von arbeitspotential und Ruhepotential an die Leitung des Leitungsviolfachos über elektronische Kontakte erfolgt, und das Leitungsvielfach eine große Anzahl von Leitungen enthält, kann außerdem auch schon die Beoinflussung des Prüfstromes durch die Sporrströmc über die Leitungen, an denen Ruhepotential liegt, zur Umrnagnotisiorung des betreffenden Magnetkernes führen, obwohl ein Fehler überhaupt nicht vorliegt. Hei der im folgenden beschriebenen Ausgestaltung der im Patent (S 110 594 Vllla/21a1) angege., benon Schaltungsanordnung können derartige Fohlanzeigon nicht auftreten. Diese Ausgestaltung ist nämlich dadurch gekennzoichnot, du(3 für @ die zusätzliche Prüfung rauf Mehrdoutigkoit der Botriobezuständo der zu den Zeilen bxw. zu den Spalten den Loitungsviolfnchos gehörenden Loitungon ein zwoitor Magnetkorn vorgesehen ist, der vom Prüfstrom über eine orsto Wicklung in einer Richtung und über eine zweite hTicklung von den Vergleichsstr omimpulsen in der anderen Richtung derart becinflußt wird, daß er von einem Sätti gungszustand in den anderen immer nur dann ummagnetisiert wird, wenn Meiirdeiitii,;keit vorliegt. Das Anplitudenverhältnis von Prüfstrom und Vergleichsstrom inipiilsen läßt sich hierbei so einrichten, daß bei der für den fehlerfreien Betriebsfall vorgegebenen Anzahl von Lci-- tun,i;sinL<rlcierungen sich Prüfstrom und Vergleichsstrom gerade aufheben. Der Zuwachs des Prüfstromes, der zur Umnizif"-iict:isie- rung des Magnetkernes führt, muß dann mindestens so groß sein wie der von einer Leitung des Leitungsvielfaches gelieferte Anteil zum Prüfstrom. Auf diese Weise läßt sich eine große Anzahl von Leitungen überprüfen, von denen im fehlerfreien Betriebsfall ebenfalls eine relativ große Anzahl Arbeits- potential führt. Ein erprobtes Ausführun,:sbeisl>iel, bei dem die Anzahl der zu überprüfenden Leitungen 100 und die Anzahl der hiervon Arbeitspotential führenden Leitungen -15 botriij",r, funktionierte noch einwandfrei. Wenn die vori;enEinnte Dimen- sionierungsvorschrift eingehalten wird, ist auch dis Auf- treten von Störimpulsen vermieden, die bei Aussteuerung des Magnetkernes längs des nicht ideal waagrechten Teils seiner Hysteresoschleife auftreten können. Hiermit eriiU?'i;;eil sich also auch zusätzliche Kompensationsmittel, wie sie bei der Schaltungsanordnung, von der hier ausgegangen wird, vorge.-- sehen sind Gemäß einer weiteren Ausgestaltung dor Schaltungsanordnung beeinflussen die beiden Magnetkerne über eine ausßabewicklung Jetteils einen Ausgabeschaltverstärker, der nur während des Auftretens von VergleichsstrominiRulsen übertragungsfähig ist. hierdurch wird vcrinieden, daß infolge des nicht ideal rechtockförmigen Verlaufos der Hystoreseschleife der Magnotkorno bei dunen Rückstellung StörimpuZso abgogobun werden können. Aufbau und Funktionsweise der den Gegenstand der Anmeldung darstellenden Schaltungsanordnung werden nun anhand einer Figur näher erläutert. Von dcla »»7a n..Zeilenlöitungen und m-Spaltenleitungen sind hier lediglich die Zeilenleitungen L1 bis Lti dargestellt, die jeweils dann Arbeitspotential aufweisen, wenn sie über die Ilauptstromstrecke der ihnen zuf;cordneten, hier als npn-Iratisistoren dargestellten elektronischen Schalter T1 bis `fn mit Erde verbunden werden. Die parallel liegende PrüfleitungZ1) ist über die Reihenschaltungen von Widerstände Rp1 bis ltpn und Dioden 01 bis Dn mit den Leitungen des Leitungsvielfaches verbunden. Uber die Prüfleitung fließt also jeweils ein Strom, der von dem über die Leitungen des Leitungsvielfaches fließenden Strom abhängig ist. Der Prüfstrom wird der fr üfloitung über einen in Basis-ürundschaltuiig betriebenen Transistorverstärker To zugeführt, dessen Emittor an den Verbindungspunkt der Iteilien-. schaltungen von Widerständen und Dioden angeschlossen ist und dessen Kollektor mit der Prüfleitung Lp verbunden ist. Zum Leitendmnchen dieses Transistors werden seiner Basis Steuere impulse zugeführt, die jeweils gleichzeitig mit den an die Basen der Transistoren T1 bis Tn angelegten Impulsen also gleichzeitig mit dem Anliegen von Arbeitspotential auf einer Anzahl der Leitungen des Leitungsvielfaches auftreten. Der Trunsistorverstärker To gewährleistet, da13 das zu überwachende Leitungsvielfach von der Prüfschaltung nur in geringem Maße bolastot wird. Vor Prüfstrom beeitiflulit über Wicklungen 1411 bzw. 1v21 die beiden Magnetkerne Mk1 und Mk2, die jeweils eine rechteckftirtniee liystoreseschluifo aufweisen, uhd von denen der Korn MIt1 der Prüfung auf Vollstbndiekoit und der Kern ßlk2 der Prüfung auf Motirdeutigkoit dient. Vor Wicklungseinn der Wicklungen W1-1 und W21 ist so gotrählt, dass die beiden Kerne durci den Prüfstrom in otitgeE;ongosotiter Mugnotisiorunesrichteng magnetisiert worden. Über Wicklungen W12 und 1422 worden die beiden Magnetkerne M11 und Mk2 vom Kompensationsstrom beeinflußt. Der 1#-icklungs-. sinn der Wicklungen W12 und 1411 bzw. 1422 und 1r'21 ist jeweils gei;ensiiinig, so daß die Richtung der vom Prüfstrom und der von den Vergleichsstromimpulsen bei ein und demselben Kern hervorgerufene Magnetisierung entgegengesetzt gerichtet ist. Heim vorliegenden Ausführunt;sboispiel kompensieren sich im >:alle des fehlerfreien Betriebs der SchaltungsunordnunC die Wirkungen von Prüfstrom und Vorgloictisstroniiinpulsen sogar. Die Vdrgleichsstroniiinpulse werden hier nämlich in derselben Weise wie der Prüfstrom zugeführt, d. h. über die Hauptstromstrecke eines in Basis-Grundschaltung betriebenen Transistors T1 und über die parallelliegenden der Anzahl der im fehlerfreien Betriebsfall Arbeitspotential führenden Leitungen entsprechenden Anzahl von Reilienschaltungon aus Widerständen Itv1 bis Rvn und Dioden Dv1 bis Dn1. Die parallelliegenden Reihenschaltungen von Widerständen und Diadon können auch durch einen einzigen Kompensationswiderstand Rv ersetzt sein, was dann günstig ist, wann die zu üboriiacitotiden Leituntren immer deiisolben Kode entsprechend Arbeitspotential führen, die Anzahl der jeweils Arbeitspotential führenden Leitungen also iin fehlorfreion Fall immer dieselbe ist. Die beiden Magnetkerne Mk1 und Nk2 tragen außerdem noch die Wicklungen W13 bzw. W23, über die die Korite in eine Anfangsromunonzlago zurückgostollt werden und die Ausgabewicklungen W14 bzw. W24, deren Anschlüsse an die Stouoroingängo jeweils eines Ausgabosehaltüerstürlcors V1 bzu. V2 :angeschlossen sind. Die Ausgänge dar Ausgabosehaltvorstärkor sind miteinander verbunden und stellen den Ausgang A dar Schaltungsanordnung dar. Vor Beginn oinor Prüfung sind die beiden Magnotkortio Mk1 und Mk2 über die Rückßtollwicklungon 113 und W23 boispiolscioisa in die nogativo Bomanonzlogo Gekippt worden. Hoi Anlagen eines Taktimpulses an den gemeinsamen `Takteingang te der 'fr arisistoroli To und Tlc, der gleichzeitig mit dein Auftreten von Ärboitspotcritial an einer bestimmten Anzahl der Leitung, des Leitungs-, vielfaches auftritt, werden die Kerne M11 und 2%(k2 durch einen Prüfstrom, dessen Amplitude der Anzahl der Leitungen,, an (Ionen Arbeitspotential liegt, entspricht und durch einen Vergleichsstrom beeinflußt, der dieselbe Amplitude wie der Prüfstrom aufweist, der bei fehlerfreiem Betrieb fließt. Der cler Prüfung auf Vollständigkeit dienende Kern Mk1 wird hierbei vom Prüfstrom in negativer Magnotisierungsrichtung und vom Vor-, gleichsstronr in positiver Magnetisierungsrichtung beeinflußt. Im fehlerfreien Betrieb heben sich die Wirkungen der beiden Ströme auf, so daß keine Aussteuerung bzw. Ummagnotisierung des Kernes bik1 erfolgt. Wenn jedoch auch nur eine der Leitungen des Leitungsvielfaches, an deren normalerweise Arbeitspotential liegen sollte, in fehlerhafter Weise ltuliepotcritial führt, dann reicht die Amplitude des Vergleichsstromes aus, uni den Magnetkern Mk1 in den anderen Sättigungszustand umzurnagnetisieren, wodurch über seine Ausf;abewicklung 1414 ein Innpuls abgegeben wird, der über den Au$gabeschaltvorstärker V2 an den Ausgang A der Schaltungsanordnung gelangt und damit das Vorliegen eines Fehlers anzeigt.Circuit arrangement for potential-free testing of a line multiple consisting of n-rows and m-columns in the manner of a code signal tester. Addition to the additional patent (S 110 594 YIIIa / 21a1) The additional patent (S 110 594 YIIIa / 21a1) relates to a circuit arrangement for potential-free testing of a line multiple consisting of n-rows and m-columns, in which the line multiple is parallel to the newspapers test lead is arranged, which diodes and test resistors with each newspaper of the line multiple connected and the flows dependent on the number of excited newspapers test current is present in which a comparison circuit including a magnetic core with a rectangular hysteresis loop, via a first Winding is excited by the test current in one direction and is excited via a second winding by Veraleichestromimpulee in the opposite direction, and in which the test current and the comparison setron pulses influence the magnetic core in such a way that it only works if the operating states to the lines or to the Columns belong to the newspaper nyielfaohen producing newspapers is magnetized by the comparison atomic pulse from one to the other state of saturation . This circuit arrangement can. can still be expanded for the sensitive check for ambiguity of the operating conditions of the lines belonging to the lines or columns of the line multiple. For this purpose, a second magnetic core is provided, which is influenced by the test current via a winding in such a way that it is only remagnetized from one saturation state to the other if there is ambiguity. If the correct operating state is one in which not only one of the lines of the line multiple but a majority of the same work potential carries, then false indications have been expected in the previously expanded circuit arrangement. A slight change in the hysteresis loop of the magnetic core used, caused by fluctuations in the femoral nature, can result in the magnetic grain being remagnetized to the other saturation state , although no more than the prescribed number of lines carry working potential. If the start; cn of work potential and rest potential to the line of the line violet takes place via electronic contacts, and the line manifold contains a large number of lines, the influence of the test current by the Sporrströmc can also already be done via the lines at which rest potential is Lead Umrnagnotisiorung the relevant magnetic core, although there is no error at all. In the embodiment described below in the patent (S 110 594 Vllla / 21a1) indicated, benon circuit arrangement such foal indicators cannot occur. This embodiment is namely gekennzoichnot by du up Mehrdoutigkoit the Botriobezuständo the BXW (3 to the lines for @ additional testing. The Loitungsviolfnchos belonging Loitungon a zwoitor magnetic particle is provided to the columns of the test current on a orsto winding in one direction and a second winding is influenced by the comparison current pulses in the other direction in such a way that it is affected by a saturation state in the others is only ever remagnetized when Meiirdeiitii,; keit is present. The amplitude ratio of test current and reference current inipiilsen can be set up in such a way that the for the number of Lci-- do, i; sinL <rlcierungen test current and comparison current lift. The increase in the test current leading to the umnizif "-iict: isie- tion of the magnetic core leads, must then be at least as large like that supplied by one line of the line multiple Proportion to the test current. In this way you can have a great Check the number of lines, of which i'm faultless Case also a relatively large number of work potential leads. A tried and tested execution: sbeisl> iel, in which the number of lines 100 to be checked and the number the lines leading from this work potential -15 botriij ", r, still worked perfectly. If the previous one dimension sioning regulation is adhered to, dis- avoid interference pulses that occur when the Magnetic core along the not ideally horizontal part of his Hysteresis loop can occur . Herewith eriiU? 'I ;; hurry up thus also additional compensation means, as in the Circuit arrangement assumed here - are seen According to a further embodiment of the circuit arrangement, the two magnetic cores influence an output switching amplifier via an output winding, which is only capable of being transmitted during the occurrence of comparison current pulses. This prevents the Magnotkorno from being canceled due to the not ideal right-skirted course of the hystoresis loop when it is reset. The structure and mode of operation of the circuit arrangement representing the subject of the application will now be explained in more detail with reference to a figure. Of the line lines and m-column lines, only the line lines L1 to Lti are shown here, which each have working potential when they are assigned to them via the main current path of the electronic switches T1 to, shown here as npn iratisistors `fn be connected to earth. The test line Z1) lying in parallel is connected to the lines of the line multiple via the series connections of resistors Rp1 to ltpn and diodes 01 to Dn. A current therefore flows over the test line, which is dependent on the current flowing over the lines of the line multiple. The test current is fed to the flow via a transistor amplifier To which is operated in base and whose emitter is connected to the connection point of the Iteilien-. circuits of resistors and diodes is connected and its collector is connected to the test line Lp. To Leitendmnchen this transistor, its base control pulses are supplied, which occur simultaneously with the pulses applied to the bases of the transistors T1 to Tn, i.e. simultaneously with the application of working potential on a number of the lines of the line multiple. The Trunsistor Amplifier To ensures that the line multiple to be monitored is only bolasted to a small extent by the test circuit. Before the test current, the two magnetic cores Mk1 and Mk2, each of which has a rectangular shape, and of which the grain MIt1 is used to test for complete integrity and the core ßlk2 to test for motility , beeitiflulit via windings 1411 or 1v21. Before the windings W1-1 and W21 are inside the windings W1-1 and W21 are counted so that the two cores have been magnetized by the test current in otitgeE; ongosotiter Mugnotisiorunesrichtig. The two magnetic cores M11 and Mk2 are influenced by the compensation current via windings W12 and 1422. The 1 # development. The meaning of the windings W12 and 1411 or 1422 and 1r'21 is mutually exclusive, so that the direction of the magnetization caused by the test current and that caused by the comparison current pulses in one and the same core is opposite. In the present example, all of the fault-free operation of the circuit disorder is compensated for by the effects of test current and pre-glossary pulses. The Vdrgleichsstroniiinpulse are supplied here in the same way as the test current, i.e. via the main current path of a transistor T1 operated in a basic basic circuit and via the number of parallel circuits consisting of resistors Itv1 to Rvn and diodes Dv1 corresponding to the number of lines carrying working potential in error-free operation up to Dn1. The parallel series connections of resistors and diadons can also be replaced by a single compensation resistor Rv, which is advantageous when the lines leading to excessive lines always have the same code corresponding to the working potential, i.e. the number of lines carrying working potential is always the same in the fault-free case. The two magnetic cores Mk1 and Nk2 also carry the windings W13 and W23, via which the Korite are rolled back into an initial romunonzlago, and the output windings W14 and W24, whose connections to the stouoroingango each of an output holding door cores V1 bzu. V2: are connected. The outputs are connected to each other and represent output A as a circuit arrangement. Before starting the exam, the two Magnotkortio Mk1 and Mk2 via the return coil on 113 and W23 boispiolscioisa Has been tipped into the nogativo Bomanonzlogo. Hoi plants one Clock pulse to the common `clock input te der 'fr arisistoroli To and Tlc, which occurs at the same time as the occurrence of Arboitspotcritial on a certain number of the line, the line multiple, the cores M11 and 2% (k2 by a test current, whose The amplitude of the number of lines, corresponds to and is influenced by a comparison current which has the same amplitude as the test current that flows in fault-free operation In fault-free operation, the effects of the two currents cancel each other out, so that no modulation or re-magnetization of the core bik1 takes place , incorrectly leads ltuliepotcritial, then the amplitude of the comparison current is sufficient to re-magnetize the magnetic core Mk1 to the other saturation state, whereby an impulse is emitted via its output winding 1414, which arrives at output A of the circuit arrangement via the output switching amplifier V2 and thus indicates the presence of an error .

Der Korri Mk2, der der Prüfung auf Mehrdeutigkeit dient, wird vom Prüfstrom. in positiver Magnotisietungsrichtung vom Vorgloichsstrom dagegen in negativer Magnotisierungsrichtung booinflußt. Bei fehlerfreiem Betrieb lieben sich auch hier die Wirkungen der beiden Ströme auf. Wenn jedoch über die vorgegebene Anzahl von Leitungen dos Loitungsviolfachos hinaus eine oder mehrere Arbeitspotential führen, also MehrdoutigIcoit vorliegt, reicht der dornentsprechend größere Prüfatronr aus, uni den Magnetkorn in den anderen Sättigungszustand unrzumagnotisioron. Hierdurch wird über die Ausgabewicklung W24 und den Ausgabotaktvorstlirkor V1 obonfulls ein Fohlorsignal abgegeben. Die Ausgabetaktverstürker V1 und V2 werden taktmäßig bc trieben und zwar so, daß sie nur während des Auftretens des Prüfstromes bzw. des Vorgleichsstromes leitend sind. Hierdurch wird vermieden, daß Impulse, die beine Rückstellen der Magnetkerne Mk1 und Mk2 infolge des nicht ideal rechtc:ckfürmigen Verlaufes der Hystereseschleifen dieser Kerne entstehen, als Störimpulse an den AusUauM der Schaltungsanord- nung uelanf;en können. The Korri Mk2, which is used to check for ambiguity, is taken from the test stream. Boin flows in the positive magnotization direction from the pre-equalization current, on the other hand, in the negative magnotization direction. In case of fault-free operation, the effects of the two currents love each other here too. However, if one or more working potentials lead beyond the specified number of lines dos Loitungsviolfachos, i.e. multi-downdraft is present, the correspondingly larger test cartridge is sufficient to unrzumagnotisioron the magnetic grain in the other state of saturation. As a result, a foalor signal is output via the output winding W24 and the output clock feeder V1 obonfulls. The output clock amplifiers V1 and V2 are clockwise driven in such a way that they are only conductive during the occurrence of the test current or the pre-DC current. This avoids impulses that arise when the magnetic cores Mk1 and Mk2 are reset as a result of the not ideally rectangular shape of the hysteresis loops of these cores as interference impulses on the output of the circuit arrangement. can be requested.

Claims (2)

Y a t e n t a n s p r ü c 1i e ----------------------------- Schaltungsanordnung zum potentialfreie)) Prüfen eines aus 1. n-Zeilen und r«-Spalten bestelenden Leitungsvielfaches, bei der parallel zu den Leitungen des Leitungsvielfaches eine Prüfleitung angeordnet ist, die über Dioden und über Prüfwiderstände mit jeder Leitung des Leitungsvielfaches verbunden ist und die über ein von der Anzahl der erregten Leitungen abhängiger Prüfstrom fließt, bei der eine Vergleichsschaltung vorliandeti ist, die eine)! Magnetkern mit rechteckförmiger Hystereseschleife enthält, der über eine erste Wicklung durch den Prüfstrom in einer Richtung er-. regt und über eine zweite Wicklung durch Vergleichsstromimpulse in der entgegengesetzten Richtung erregt wird und bei der der Prüfstrom und die Vergleichsstromimpulse den Magnetkern derart beeinflussen, daß er nur bei Unvollständigkeit der Betriebszustände der zu den Zeilen bzw. zu den Spalten des Leitungsvielfaches gehörenden Leitungen vom VerE;leichsstromimpuls von dem einen in den anderen Sättigungszustand ummagnetisiert wird, nach Zusatzpatent (S 11o 594 VIIIa/2,1Lt1), dadurch gekennzeichnet, daß für die zusätzliche Prüfung auf Mehrdeutig-Iceit der Betriebszustände der zu den Zeilen bzw. zu den Spalten des Leitungsvielfaches gehörenden Leitungen ein zweiter Magnetkern vorGesehen ist, der vom Prüfstrom über eine erste Wicklung in einer Richtung und über eine zweite Wicklung von den Vergleichsstromimpulsen in der anderen Richtung derart beeinflußt wird, daß er durch den Prüfstrom von einem Sättigungszustand in den anderen immer nur dann ummugnotisiort wird, wenn MohrdoutiUkoit vorliegt. Y atentansprü c 1i e ----------------------------- Circuit arrangement for potential-free)) Check one of 1. n-lines and r «-Columns ordering line multiple, in which a test line is arranged parallel to the lines of the line multiple, which is connected to each line of the line multiple via diodes and test resistors and which flows via a test current dependent on the number of excited lines, with a comparison circuit vorliandeti is the one)! Contains magnetic core with a rectangular hysteresis loop, which is carried out in one direction by the test current via a first winding. excites and is excited via a second winding by comparison current pulses in the opposite direction and in which the test current and the comparison current pulses influence the magnetic core in such a way that it is only released from the VerE if the operating states of the lines belonging to the rows or columns of the line multiple are incomplete. Light current pulse is remagnetized from one to the other saturation state, according to additional patent (S 11o 594 VIIIa / 2,1Lt1), characterized in that for the additional check for ambiguous iceit of the operating states belonging to the rows or columns of the line multiple A second magnetic core is provided for lines, which is influenced by the test current via a first winding in one direction and via a second winding by the comparison current pulses in the other direction in such a way that it is only ummugnotisiorted by the test current from one state of saturation to the other, if MohrdoutiUkoit is present gt. 2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gokonnzuichnut, daß der Prüfstrom und die Vergloiehestromimpulso der Wicklung eines Magnotkornoe jeweils Ubor einen in Basis-Grundschaltung betriebenen Transistorverstärker zugeführt werden, dessen Kollektoranschluß finit einer Zuleitung der betreffenden Wicklung verbunden ist und dessen I:mi tterarischluß an den Verbindungspunkt der Heilienschaltungen von Dioden und Widerständen ante schlossen ist, die, sofern sie im Prüfstromkreis liegen, zu den Leitungen des Leitungsvielfaches und sofern sie im Ver;;leiclissti-uinkreis liegen, zu einem Pol der Ver- gleichsstromduelle führen.
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Magnetkerne über eine -lus"@ibo - wicklung jeweils einen Aust;;abeschaltvorstärker beein-- flussen, der nur während des Auftretens von Vc:rt;leiclis-- stromimpulscn übertragungsfähig ist.
2. Circuit arrangement according to claim 1, characterized gokonnzuichnut that the test current and the Vergloiehestromimpulso of the winding of a Magnotkornoe are each fed to a transistor amplifier operated in the basic basic circuit, the collector terminal of which is finitely connected to a supply line of the winding in question and whose I: mi tterarischluß to the Connection point of the healing circuits of diodes and resistors ante is closed, which, if they are in the test circuit, to the lines of the line multiple and provided they lie in the ver ;; leiclissti-uinkreis, to a pole of the lead direct current duels.
3. Circuit arrangement according to claim 1 or 2, characterized marked that the magnetic cores have a -lus "@ibo - winding one off ;; off switching preamplifier affects fluxes that occur only during the occurrence of Vc: rt; leiclis-- stromimpulscn is transferable.
DE19681762847 1968-09-10 1968-09-10 Circuit arrangement for potential-free testing of a line multiple consisting of n rows and m columns in the manner of a code signal tester Pending DE1762847A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19681762847 DE1762847A1 (en) 1968-09-10 1968-09-10 Circuit arrangement for potential-free testing of a line multiple consisting of n rows and m columns in the manner of a code signal tester

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19681762847 DE1762847A1 (en) 1968-09-10 1968-09-10 Circuit arrangement for potential-free testing of a line multiple consisting of n rows and m columns in the manner of a code signal tester

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1762847A1 true DE1762847A1 (en) 1970-12-03

Family

ID=5697245

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19681762847 Pending DE1762847A1 (en) 1968-09-10 1968-09-10 Circuit arrangement for potential-free testing of a line multiple consisting of n rows and m columns in the manner of a code signal tester

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1762847A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2247540A1 (en) * 1972-09-28 1974-04-18 Siemens Ag PROTECTIVE CIRCUIT FOR RING COUNTERS

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2247540A1 (en) * 1972-09-28 1974-04-18 Siemens Ag PROTECTIVE CIRCUIT FOR RING COUNTERS

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1041098B (en) Arrangement for monitoring the condition of lines in telecommunications, preferably telephone systems
DE1762847A1 (en) Circuit arrangement for potential-free testing of a line multiple consisting of n rows and m columns in the manner of a code signal tester
DE2449016A1 (en) AC network internal resistance measuring device - based on principle of voltage drop caused by load impedance
EP0037965B1 (en) Device for testing a digital circuit with test circuits enclosed in this circuit
DE1935081A1 (en) Method and arrangement for testing an electrical detector system and an electrical detector system using such an arrangement, in particular for determining metals
DE1524001B2 (en) Test circuit for a selection circuit
DE1293836B (en) Magnetic analog-to-digital converter with a comparison arrangement
EP0553451A2 (en) Process and means for monitoring the functioning of inductances
DE3304360A1 (en) ELECTROMAGNETICALLY CONTROLLED FLAT KNITTING MACHINE
DE948522C (en) Device for evaluating groups of impulses, in particular telex characters
DE1205137B (en) Analog-to-digital converter
DE581510C (en) Command transmission device with acknowledgment using direct current
AT210653B (en) Electronic totalizer
DE1108747B (en) Method and circuit arrangement for registering faulty states which occur in message processing systems
DE1176714B (en) Arrangement for a static magnetic storage device
DE829234C (en) Electronic counter
DE1296261B (en) Device for functional testing of relays or other controllable electromechanical switching devices
DE1053575B (en) Method and arrangement for preventing the loading of equipment by connecting an electrical dialer
DE1299713B (en) Circuit arrangement for testing a line multiple consisting of n rows and n columns in the manner of a íÀ1 from ní code signal tester
DE1168499B (en) Circuit arrangement for checking the call and occupancy status of subscriber lines in telephone switching systems
AT226282B (en) Logic circuits with transformers in which only the linear working area is used, in particular for use in telephone systems
DE1808716A1 (en) Real-time test system for magnetic storage elements
DE1179252B (en) Method and circuit arrangement for operating a binary forward counter as a backward counter or vice versa
DE2458805B2 (en) Central storage device consisting of a counting system using magnetic cores
DE1273008B (en) Circuit arrangement for switching through and checking for correct marking of several different types of relay in a coupling network