DE1739053U - ARRANGEMENT FOR SHIELDING HIGH-FREQUENCY INTERFERENCE FIELDS IN A PROBE SLOT. - Google Patents
ARRANGEMENT FOR SHIELDING HIGH-FREQUENCY INTERFERENCE FIELDS IN A PROBE SLOT.Info
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- DE1739053U DE1739053U DE1956S0020698 DES0020698U DE1739053U DE 1739053 U DE1739053 U DE 1739053U DE 1956S0020698 DE1956S0020698 DE 1956S0020698 DE S0020698 U DES0020698 U DE S0020698U DE 1739053 U DE1739053 U DE 1739053U
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H05K9/0007—Casings
- H05K9/0018—Casings with provisions to reduce aperture leakages in walls, e.g. terminals, connectors, cables
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Description
Sieraens: & ialsfce ·■ ': ^: ' · München- 2, den 28. JUNI 195Sieraens: & ialsfce · ■ ' : ^:' · Munich- 2, June 28, 195
Aktiengesellschaft· ; : :; Wittelsbacherplatz 4.Public company ·; ::; Wittelsbacherplatz 4.
£§#ä® ;v """56/2515 ' ; :: £ § # ä® ; v """56/2515'; ::
Anordnung zur AlssoMrmun^ ..■■ hochfrequent er Störfelder in einemArrangement for AlssoMrmun ^ .. ■■ high-frequency interference fields in one
Hochfrequente StörfeMBr lassen sich'am sichersten durch nahtr und schlitalose Abschirmung|fernhalten:o Oft ist dies aus irgend einem Grund-nicht möglich, so feesitzt beispielsweise die Meßleitung einen. Schlitz, durch .den eine Sonde in die Meßleitung ragt» Mit Hilfe-:dieser ;Sonde wird die Spannungsverteilung im Hohl- oder iCoaxi&lleiter längs: einer Meßstrecke abgetasteto Durch den Schlitz/können, hochfrequente· B tor feld er in die. Meßleitung eindringen,,, AuSerdem, stellt der Schlitz ein resonanB-■ fähiges· Gebilde dar^ .das durch äußere Stö'rfelder oder auch durch das leid im- Sohlleiter angeregt werden kanno Es "bildenr sich dann Störwellen im Schlitz aus? die sich.der von der Sonde aus dem Hohlleiter ausgeko|>pelten: Spannung überlagern und,;Fehl~ messungen; zur folge haben», ■; -; .: \ *High frequency StörfeMBr let sich'am safest by approaching r and schlitalose shielding | Keep: o Often this is for some reason not-possible so feesitzt example, the measuring line one one. Slot through which a probe protrudes into the measuring line »With the help of this; Measuring line penetrate ,,, Besides others, represents the slot resonanB- ■ enabled · structure represents ^ .the can be stimulated by external Stö'rfelder or by the suffering import Sohlleiter It o "then bildenr to interference waves in the slot from? Which . which are extracted from the waveguide by the probe: superimpose voltage and,; incorrect measurements; result in », ■; - ; . : \ *
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9/430/984 ν/:,.Λ;^;2ΐ£$ίί;'ή;'- ; : . . \ ν ■ -.-■ ■9/430/984 ν /:,. Λ; ^; 2ΐ £ $ ίί; 'ή;'-; : . . \ ν ■ -.- ■ ■
Zur ¥ e rr Inge r mg des 'Bihf lueses der Störfelder in einem Sondensohlitz ist'es bereits: Jek|nnt, den Sondenaehlitz, möglichst; . λ sehmal und tief ^öaailJäÄi'V^awroi? ■■ wird das Eindringen der , äußeren Störfelder■ in 'Mn EoMleitex1 erschwert.; fernerhin ist es -bekannti, die Sonde bis zur unteren Kante des Schlitzes abzu- SOiIiTmQU, um einen mögliehst Iclelnen Anteil der si cn im Sonden-Schlitz befindlichen Stfewellen auszukoppeln. line weitere be- . kannte Maßnahme besteht darin, den Sondenschlitz durch federnde ■ Bleches'durch äie die Meßsonde hindurchragt? abzudecken, .To the ¥ e rr inge r mg of the 'Bihf lueses of the disturbance fields in a probe seat it is already: Jek | nnt, the probe seat, if possible; . λ sehmal and deep ^ öaailJäÄi'V ^ awroi? ■■ the penetration of the 'external interference fields ■ in' Mn EoMleitex 1 is made more difficult .; Furthermore, it is known to disconnect the probe as far as the lower edge of the slot in order to decouple as much as possible of the signal waves located in the probe slot. line further loading. knew measure is to probe slot by resilient ■ Bleches'durch AEIE protrudes the probe? to cover,.
Die ersten beiden genannten Maßnahmen, auch gleichzeitig angev^endet ^ sind unzureichend j während, die dritte der. bekannten laßnahmen bei höheren Frequenzen.:infolge nicht ;ioiaer einwand- ■ freien Kontakt versagt» Auch ist"es bekannt,' Hpohfre^uenä ' : ; dämpfendes Blaterial zm beseitigung unerwünschter Hochfrequenz-· felder m yer»en.den» Me Anwendung im Sondenschlits einer leßleitung ist jeäach nicht: -ohne:; weiteres vor teilhaft, weil dadurch die. Bigendlmpfmng; düö:;: Leiter β ^ erhöht und der Wellenwiderstand . verändört --wird-» ■-■ ■:■- :; :r :. ;:::: :>:. ... -. ." .:· : The first two measures mentioned, also applied at the same time, are inadequate j while, the third of the. known measures at higher frequencies: as a result not ; "failed ioiaer PROBLEM-free contact ■ It is also 'known' Hpohfre ^ uenä ':; absorbing Blaterial zm disposal of unwanted radio frequency fields · m yer" en.den "Me application Sondenschlits a leßleitung jeäach is: -without: ; another before geous, because thereby the Bigendlmpfmng; düö:;: Head β ^ increased and the impedance verändört --wird- "■ - ■ ■: ■ -:;:.. r:; :::::>:. . ... -.. " . : · :
Dem-gegenüber sieht die .Anordnung zur Abschirmung hochfrequenter Storfeider in einem, vcjrizugsweise einer Meßleitung angehörenden 3 Sondenschlitz, -bei dMiSööhfre^uenz dämpf enden Material ?erv;endung findet, gemißter !feuerung vor, daß der Leiter?. Z0B, Hohlleiter., :in*dem deriSondens:chlitz angebracht ist, auf der Außenseite-beiderseits^ des Sondenschlitzes- Aussparungen besitzt3 die mit HochfreijuenÄ-di|ip;fendem Material ausgefüllt sind, derarts daß eine genügend große (!Dämpfung der Storf eider und der ,;On the other hand, the arrangement for shielding high-frequency Storfeider in a 3 probe slot, possibly belonging to a measuring line, is used in the case of material which attenuates the frequency of occurrence, if fired, so that the conductor? . . Z 0 B, waveguide: in * the deriSondens: is chlitz mounted on the outer side on both sides ^ of Sondenschlitzes- recesses has by HochfreijuenÄ-di 3 | ip; are filled fendem material such s that a sufficiently large (! Attenuation of the storf eider and the,;
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Schlitzwellen eintritt, ohne die gute des Leiters> in dem der .Sondenschlitz angebracht-as-t-, zu beeinträchtigen, d„ho ohne die Eigendämpfung der Keiieitung' fur die gewünschte Wellenform zuSlotted waves occurs without the good of the conductor> in which the .Sonde slot attached-as-t- to impair, d "ho without the Self-attenuation of the line for the desired waveform
Geoäß einer Weiterbildung .der Heuerung besitzt,-um das Auftreten von ^Ghlit^wellen zwischen, dem: die Meßsonde aufnehmenden leiter und dem Meßsbhlitten/zu Termeidenj außer dem Leiter auch die Grundplatte dee die^ Sonde tragenden leßschlirfctens auf seiner..... den Leiter zugewandten Seite Aussparungen,- die_ mit- Hochfrequenz dämpfendem laterial ausgefüllt sind. Als Hochfrequenz dämpfendes-Material sind vorzugsweise Earbonyl ei sen und Ferrite; wiä :: : eventuell-auch -Widerstandsmassen vorgesehene Karbonyleisen und ferrite sind ; Bmtohl; Ii el eic tr ils aXs auch ierromagnetika mi-t großen ?erlugten>b:e-t sehriholien Frequenzen, beispielsweise oberhalb 1 UBz und:eignen sich daher besonders, gut zu Dämpfungszweoken„;;line"weitere-' ferbesserung wird erhielt, wenn neben der Verwendung, von' Hochfrequenz "dämpfendem Material' die Sonde in an sich bekannter Weise fels zur" unteren Kante des Hondenschlitzes abgeschirmt .ist,; : ; : ·: ■ ::; -■'■ ■'..■ : ~ [. ■'■';. ' , :: ; " ; '"- ■.According to a further development, the hiring possesses, in order to prevent the occurrence of ghlite waves between the conductor receiving the measuring probe and the measuring element / to terms, in addition to the conductor, the base plate of the measuring section carrying the probe on its ..... the side facing the conductor, recesses, - which are filled with high-frequency damping material. The preferred high-frequency damping material is Earbonyl iron and ferrites; wiä ::: may-also -Widerstandsmassen provided carbonyl iron and ferrite are; Bmtohl; Ii el eic tr ils aXs also ierromagnetika large mi-t erlugten> b: et sehriholien frequencies, for example above 1 Shown here and: therefore particularly suitable, good to Dämpfungszweoken ";;line" weitere- 'ferbesserung is received when the next Using 'high frequency' damping material 'the probe is shielded in a known manner from the' lower edge of the Hondenschlitz .is ,;: ; : · : ■ ::; - ■ '■ ■' .. ■ : ~ [. ■ '■';.',::;";'"- ■.
Durch' die der ifeuerung. .vorgenommene ÄrLordnung zur Abschirmung hochfrequent er; Stör fender wird -eine ausr ei chend e Dämpfung der Stör f elder erreiclity ohnB eine 3 ee'intr acht igung der Gute der Meßleitung in lauf nehmen zu muss en :S insbesondere tritt'keine Irhöhung.der;Bigendämpfu»g auf0: Außerdem erfolgt auch keine « sätaliche Veränderung des fellenwiderstandes, während Gleichmäßigkeit der/MeBspanriungsauskopplung gewährleistet iat„ ■ Through the control of the fire. .pecified regulations for high frequency shielding; Disturbing fender will be sufficient attenuation of the disturbance field without having to take into account the good of the measuring line : S in particular there is no increase in the; Bigend attenuation 0: In addition there is also no "sätaliche change in the resistance fell, while uniformity iat ensures the / MeBspanriungsauskopplung" ■
'9/430/984. ■;■ :"Γ:^;::ν^^-' ;. ; '.'■■■■■ '^ '9/430/984. ■; ■ : " Γ : ^; :: ν ^^ - ';.;'.'■■■■■' ^
Weitere wesentliche: Torteile bestehen' in der einfachen . : mechanischen fe.rtigung uü<3l iri te Tatsache; daß kein inechanisoher YerschieiβFurther essentials: Gate parts consist 'in the simple one. : mechanical production uü < 3l irrelevant fact; that no non-mechanical shooting
Die !Teuerung ;Wi3?d anhand^ eines in der Figur dargestellten Ausfuhrüngsbeispieleöi:: fur|||as eine Sohlleiterireßleitung Yerwendung findet, näher? Inflation; Wi3 d ^ based one in the figure Ausfuhrüngsbeispieleöi shown: for ||| as a Sohlleiterireßleitung Yerwendung place closer
Der lonlleiter H besitzt ©inen JCeßsondenschlitz S, durch'den die Seisonde: Il ;hindurphragto; Me Meßsonde sellDSt besitzt · Dis 2ur unteren Kante; des: Höhlleiters eine ATaschirmung "A,- um nög-ÜDhst wenig Störfelder' aus :denf Schlitz auszukoppeln. Die ■ , Neuerung sieht mm vor'/ ■ nur auf "der Außenseite des Seiters beider seits des Sdndenschlitaes S Aussparungen an2ubringen3 die mit Hochfrequenz . diuipfendem Material 'D1 , ausgefüllt sind. ^einäß einer Weiterentwicklung der leuerung -feesitzt auch die Grundplatte α des die Sonde.;!:: tragenden/Meßschlittens· auf seiner dem :.' Hohlleiter ζκ$ψ&Μ*θ$^ Seite längs' des : Sondenschlitzes Aus-V "' sparungen, die /ebenfalls init: Hochfrequent däiöpfendem Material D2 ausgefüllt ■ ΒίϊφΙ:. ;■:■;: ; r ^' ^The lonlleiter H has © inen JCesssondenschlitz S through which the Seisonde: II ; hindurphragt o ; Me measuring probe sellDSt has · Dis 2 on the lower edge; of: Höhlleiters a ATaschirmung "A - in order NÖG-ÜDhst little interference '. of: coupling out denf slot The ■, innovation provides mm before' / ■ only to" 3 outside the Seiters both sides of the Sdndenschlitaes S recesses an2ubringen the high frequency . diuipfendem material 'D 1 , are filled out. ^ In accordance with a further development of the control system, the base plate α of the probe.;! :: carrying / measuring slide is seated on its dem :. ' Waveguide ζκ $ ψ & Μ * θ $ ^ side along 'des : Sondenschlitzes Aus-V "' savings, which / also filled in: high-frequency, thawing material D 2 ■ ΒίϊφΙ :. ; ■: ■ ;:; r ^ '^
Claims (1)
füllt ■2ο arrangement naoh Ansprucix Ί, characterized, - that, in addition to the head and the 'round plate' of the 'probe carrying -..- s': on. his side to the head of ZfUgeYvfandt ^, \ ü1b_ with '
fills ■
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1956S0020698 DE1739053U (en) | 1956-06-28 | 1956-06-28 | ARRANGEMENT FOR SHIELDING HIGH-FREQUENCY INTERFERENCE FIELDS IN A PROBE SLOT. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE1956S0020698 DE1739053U (en) | 1956-06-28 | 1956-06-28 | ARRANGEMENT FOR SHIELDING HIGH-FREQUENCY INTERFERENCE FIELDS IN A PROBE SLOT. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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DE1739053U true DE1739053U (en) | 1957-02-07 |
Family
ID=32728928
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1956S0020698 Expired DE1739053U (en) | 1956-06-28 | 1956-06-28 | ARRANGEMENT FOR SHIELDING HIGH-FREQUENCY INTERFERENCE FIELDS IN A PROBE SLOT. |
Country Status (1)
Country | Link |
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DE (1) | DE1739053U (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102009053624A1 (en) * | 2009-11-17 | 2011-05-19 | Siemens Aktiengesellschaft | RF cavity and accelerator with such an RF cavity |
-
1956
- 1956-06-28 DE DE1956S0020698 patent/DE1739053U/en not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102009053624A1 (en) * | 2009-11-17 | 2011-05-19 | Siemens Aktiengesellschaft | RF cavity and accelerator with such an RF cavity |
US8779697B2 (en) | 2009-11-17 | 2014-07-15 | Siemens Aktiengesellschaft | RF cavity and accelerator having such an RF cavity |
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