DE1623902B1

DE1623902B1 - Schaltungsanordnung zur messtechnischen bestimmung statischer parameter stochastischer prozesse

Info

Publication number: DE1623902B1
Application number: DE1967W0044885
Authority: DE
Inventors: Wolfgang Dr Wehrmann
Original assignee: Norma GmbH; Norma Fabrik Elektrischer Messgeraete
Current assignee: Norma GmbH; Norma Fabrik Elektrischer Messgeraete
Priority date: 1966-10-06
Filing date: 1967-09-30
Publication date: 1971-11-11
Also published as: US3568055A; AT263400B; GB1207394A

Description

1 \ - "■ 2

Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur rungsgeschwindigkeiten des Meßwertes können zwar meßtechnischen Bestimmung statistischer Parameter bei der zuletzt beschriebenen Einrichtung erhöht stochastischer Prozesse, die von einer Signalquelle in werden, jedoch sind hier ebenso wie bei den anderen Form einer elektrischen Größe geliefert oder durch vorerwähnten Geräten lediglich Häufigkeitsverteiluneinen Wandler in eine elektrische Größe umgewandelt 5 gen direkt meßbar. Allenfalls die Stimmenhäufigkeit werden, wobei das dem stochastischen Prozeß ent- läßt sich nach dem tabellarischen Vorhegen aller Ersprechende Signal s(t) in diskreten, vorzugsweise gebniswerte halbautomatisch oder graphisch eräquidistantenTaktzeitpunktenifc = fc-T,mitfc= .. .-2, mitteln.

—1, 0, 1, 2 ... und τ als Zeitgrundintervall, ab- Demgegenüber ist es die Aufgabe der Erfindung,

getastet wird, die Abtastwerte sfa) durch Vergleich io eine Anordnung zu schaffen, mit welcher schnell und

mit wenigstens einer veränderbaren Gleichspannung zuverlässig, aus statistischen Vorgängen neben den

(Schwellenspannung) in wenigstens zwei Klassen TotalwahrscheinÜchkeiten auch andere Parameter

(Amplitudenintervalle) unterteilt werden und die für "wie Verbund-, Übergangs-und bedingten Wahrschein-

den jeweiligen Anwendungsfall interessierenden sta- lichkeiten beliebiger Dimensionen erfaßt werden

tistischen Parameter, wie z. B. Total-, Verbund- und 15 können. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß bei

Übergangswahrscheinlichkeit, der Klassen der Ab- einer Schaltungsanordnung der eingangs erwähnten

tastwerte gemessen werden. Art dadurch gelöst, daß ein an sich bekannter Ampli-

Es sind verschiedenartige Einrichtungen zur Klassie- tudendiskriminator ein Verknüpfungsnetzwerk entrung physikalischer Werte bekannt. Eine Reihe von hält und von einem Taktgenerator angesteuert wird, Ausführungsformen weist im Prinzip eine aus meh- 20 daß ein logisches Netzwerk vorgesehen ist, das bireren Kontakten bestehende Kontaktbank auf, die stabile Elemente zur Speicherung interner Zustände von einem Kontaktarm, dessen Bewegung/der An- des logischen Netzwerkes enthält, und daß das logische derung der zu klassierenden Größe entspricht, über- Netzwerk wenigstens einen Satz von Einstellgliedern strichen wird. Mit wechselnder Meßgröße wechseln umfaßt, der veränderbare Schwellenspannungen abauch die vom Kontaktarm berührten Einzelkontakte, 25 hängig von dem jeweils herrschenden internen Zuso daß jeder Kontakt mit seiner Erregung auf eine stand des logischen Netzwerkes, dem von. einem Taktbestimmte Schwelle der Meßgröße hindeutet, und die generator getasteten Amplitudendiskriminator liefert. Meßgröße somit klassiert werden kann. Die, Erfindung wird nachstehend an Hand der

Zur Beseitigung der Nachteile der mechanischen Zeichnung näher erläutert. Es zeigt

Kontakte, die im schnellen Verschleiß, geringer Ar- 30 Fig. 1 ein Blockschaltbild eines Beispiels der erfin-

beitsgeschwindigkeit und in der mangelnden Vari- dungsgemäßen Schaltungsanordnung,

ationsmöglichkeit der.Schwellenbreite liegen, hat man - Fig.-2a- bis 2c die Art und Weise--der—Signal-

den elektrischen Meßwert an ein Parallelnetzwerk von Verarbeitung durch den getasteten Verstärker und das

unterschiedlich vorgespannten Gleichrichtern gelegt, binäre Entscheidungsnetzwerk der Schaltung gemäß

deren jeder somit bei einem anderen Schwellwert der 35 F i g. 1,

Meßgröße durchlässig wurde.- Die genannten Klassie- F i g. 3 Einzelheiten des Verknüpfungsnetzwerkes

rungsprinzipien hat man bisher dazu verwendet, so- der Schaltung gemäß F i g. 1,

genannte Häufigkeitszähler zu schaffen, indem die F i g. 4 Einzelheiten des Automaten gemäß F i g. 1,

Verweilzeit der Meßgröße in jeder Klasse über einen Fig. 5 Einzelheiten der bistabilen Elemente des

längeren Abschnitt mit Hilfe von Zähleinrichtungen 40 Automaten gemäß F i g. 1,

mechanischer oder elektrolytischer Art erfaßt wurde. F i g. 6 Einzelheiten der Meßanordnung zur Be-

Ein anderes als Pegelhäufigkeitszähler bekannt- Stimmung von Übergangswahrscheinlichkeiten,

gewordenes Gerät zur Bestimmung der Häufigkeits- F i g. 7 eine gegenüber der Schaltung der gemäß

Verteilung stochastischer Prozesse enthält einen Kon- Fig. 1 verwendeten Potentiometeranordnung ab-

taktstreifen, welcher am Schreibarm eines Schreibers 45 gewandelte Äusführungsform,

befestigt ist und den Schreibbereich in zwölf Ab- F i g. 8 eine modifizierte Schaltungsanordnung geschnitte unterteilt. Der Schreibstift wird vom sto- maß F i g. 1 zur Bestimmung statistischer Parameter chastischen Prozeß gesteuert und setzt je nach seiner stoehastiseher Prozesse, die einem Nutzsignal überStellung eines von zwölf Zählwerken in Tätigkeit, die lagert sind, und

Impulse mit einer Frequenz bis zu 10 Hz zählen und 5° F i g. 9 ein Beispiel eines Nutzsignals, dem ein stodamit die Häufigkeit der einzelnen Pegelwerte re- chastischer Prozeß überlagert ist.
gistrieren. Die Nachteile einer derartigen Einrichtung Der in Fig. 1 dargestellte getastete Amplitudenbestehen darin, daß ihre Anwendung auf Vorgänge be-. diskriminator 7 der erfindungsgemäßen „Schaltungsschränkt ist, die sich nur langsam ändern, und daß anordnung dient dazu, die Abtastwerte eines sto-Umfang und Anzahl der Klassen nur sehr umstand- 55 chastischen Prozesses in drei Klassen zu unterteilen, lieh, teilweise durch Auswechseln mechanischer Teile, Die Signalquelle Ϊ liefert einen stochastischen Proverändert werden können. zeß s(t), dem eine Gleichspannung überlagert ist, so

Es sind auch Häufigkeitszähler bekanntgeworden, daß nur Amplituden einer Polarität auftreten. Aus welche durch einen Impulsschalter gesteuerte Strom- dem stochastischen Prozeß werden mit einem im tore enthalten. Die in eine amplitudenmodulierte 60 Takt T getasteten Verstärker 2 die Abtastwerte s(t^) in Impulsreihe umgewandelte Meßgröße gelangt zu Form amphtudenmoduherter Impulse gewonnen. Der einem Parallelnetzwerk von Stromtoren, an welchen Takt wird vom Taktgenerator 3 erzeugt und ist verunterschiedliche Sperrspannungen hegen. Die Meß- änderbar. Die Abtastwerte werden den beiden binären impulse versetzen je nach ihrer jeweiligen Höhe eine Entscheidungsnetzwerken 4a und 4b zugeführt, in mehr oder weniger große Zahl der Stromtore in lei- 65 denen entschieden wird, ob die Abtastwerte größer tenden Zustand und lassen deren Zählwerte an- oder kleiner als die von außen angelegten Schwellensprechen. _< . spannungen U_sa und U_Sb sind. Dieser Vorgang soll

Die Ansprechzeit und die noch erfaßbaren Ände- beispielsweise für das binäre Entscheidungsnetzwerk4a

3 4

an Hand der F i g. 2 näher erklärt werden. F i g. 2a Übergangswahrscheinlichkeiten näher ausgeführt wer-

stellt den stochastischen Prozeß s(t) dar, der in den den.

Taktzeitpunkten tu = k · τ abgetastet wird. Die Ab- Verbindet man den Ausgang A₃-, wobei j = 1, 2, 3 tastwerte s(tjc) werden im binären Entscheidungsnetz- ist, der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung nach werk 4a mit der Schwellenspannung U_sa verglichen, 5 F i g. 1 mit dem Eingang E₃ eines Flip-Flops, das gewobei es vorteilhaft ist, Impulse nur einer Polarität setzt wird, wenn am Eingang E₃ ein Impuls auftritt zu verwenden (Fi g. 2 b) und dazu dem stochastischen und gelöscht wird, wenn an diesem Eingang kein ImProzeß eine genügend große Gleichspannung zu über- puls auftritt, so ist der zeitliche Mittelwert der Auslagern (Fig. 2a). Ist ein Abtastwert größer bzw. gangsspannung des Flip-Flops der totalen Wahrkleiner als Usa, so tritt am Ausgang des binären Ent- io scheinlichkeit ρ (j) direkt proportional, mit der ein Abscheidungsnetzwerkes 4 a die Entscheidung Z in Form tastwert in die zugeordnete Klasse Kj fällt, und wird eines Impulses bzw. einer Impulslücke (kein Impuls) am Automatenausgang B₃ mit einem trägen Drehspulauf (Fig. 2c). Die EntscheidungenX bilden eine bi- instrument direkt angezeigt. Die totale Wahrscheinnäre Zufallsfolge. Für das binäre Entscheidungsnetz- Iichkeit kann auch digital gemessen werden, wenn man werk 4b gelten vollkommen analoge Überlegungen. 15 den Normalfrequenzeingang eines elektronischen Zäh-Die beiden Zufallsfolgen X und Y in F i g. 1 werden lers mit dem Takt T steuert und den Meßfrequenzeinem Verknüpfungsnetzwerk 6 zugeleitet, das daraus eingang des Zählers mit dem Ausgang B₃- des Flipdrei neue binäre Zufallsfolgen Z₁, Z₂, Z₃ bildet, die den Flops verbindet. Bei der Messung der Verbundwahrdrei Klassen der Abtastwerte sfa) zugeordnet sind scheinlichkeit, mit der aufeinanderfolgende Abtast- und an den Ausgängen A₁, A₂, A₃ des Verknüpfungs- 20 werte in die Klassen Ki bzw. K₃- fallen, mit (i,j = 1, 2, netzwerkes 6 auftreten. Die logische Struktur des Ver- 3), setzt man ein Flip-Flop nur bei Koinzidenz der Imknüpfungsnetzwerkes 6 läßt sich an Hand der F i g. 3 pulse am Eingang E₃- mit jenen um einen Taktschritt leicht erläutern, wenn man dem Ereignis »Impuls« verzögerten am EingangEt; sonst wird das Flip-Flop bzw. »kein Impuls« der Zufallsfolgen X und Y eine gelöscht (F i g. 5). Der zeitliche Mittelwert der Auslogische Eins bzw. Null zuordnet. Bedenkt man, daß 25 gangsspannung des Flip-Flop ist der Verbundwahrim Automaten 8 (Fi g. 4) die Potentiometer Sa und scheinlichkeit ρ (i, j) direkt proportional und wird mit 5 b, an denen die Schwellenspannungen U_sa und Ua, einem Drehspulinstrument am Automatenausgang Bi₃ abgegriffen werden, so geschaltet sind, daß die Un- gemessen (F i g. 5). Die digitale Messung der Verbundgleichung Wahrscheinlichkeit erfolgt analog jener der Total-

n <r I TT I <: I ττ \ <■ \ rr \ ™;+1 ττ \ η „mI\ 3<> Wahrscheinlichkeit. Man kann auch drei- und mehr-U S- U_sa S U_Sb \ ^- \ Uq\ mit C₀ = { S(I) imax ,· · , _ΛΤ -, , , , · -,· , , -.

¹ ' ' ' ' ' ' ' uwij dimensional Verbundwahrschemlichkeiten messen,

immer erfüllt ist und dadurch ein Impulsereignis in Y wenn man bei Koinzidenz dreier bzw. mehrerer entimmer eines in X bedingt, kann man beim paarweisen sprechend verzögerter Impulse an den entsprechenden

Auftreten von X und Y drei Fälle unterscheiden: Ausgängen der Schaltungsanordnung nach Fig. 1

.,,_,,_ . , , _TT , . , 35 ein Flip-Flop setzt und sonst löscht. Der zeitliche

a) X = 0, Y = 0, entspricht der Ungleichung Mittelwert der Ausgangsspannung des Flip-Flop ist

0 ^ I s(tjc) I g I Usa I der mehrdimensionalen Verbundwahr scheinlichkeit

(1. Klasse der Abtastwerte) ^direkt ProP^orti°nal und wird mit einem Drehspulinstrument angezeigt.

b) X= I₉ Y= 0, entspricht der Ungleichung 40 Die Übergangswahrscheinlichkeit ρ (///), die angibt,

ι Jj ι _< ι (. \ ι _< ι jj ι mit welcher Wahrscheinlichkeit ein Abtastwert in die

1 u_Sa 1 = 1 s\jh) 1 = 1 t/eö 1 ^ ^^ _{fällt unter der Be}di_ngung, daß der unmittel-

(2. Klasse der Abtastwerte), bar vorangegangene in die i-te Klasse gefallen ist,

c) X = 1, Y = 1, entspricht der Ungleichung _AK £f^{m auf einf ache} ^ώβηιιτ digital gemessen werden.

45 Dazu setzt man em Flip-Flop I mit den um einen Takt-

I Usb I S I s(tk) I ^ I U₀ 1 schritt verzögerten Impulsen am Eingang j?« und

(3. Klasse der Abtastwerte). löscht es, wenn kein Impuls am Eingang Et auftritt

(F i g. 6). Ein Flip-Flop II wird, so wie bei der Messung

Andere Kombinationen von X und Y können nicht der Verbundwahrscheinlichkeit ρ (i, /), nur bei Koinziauf treten. F i g. 3 läßt erkennen, daß dem Fall a) ein 50 denz der Impulse am Eingang Ej mit jenen um einen Impuls am Ausgang A₁ entspricht, da dann nur das Taktschritt verzögerten am Eingang Et gesetzt. Ver-UND-Tor6a offen ist, Fallb) über UND-Tor 6b bindet man den Normalfrequenzeingang eines elekeinen Impuls am Ausgang A₂ bedingt und im Fall c) ironischen Zählers mit dem Ausgang des Flip-Flop I ein Impuls am Ausgang A_z auftritt. Die den einzelnen und den Meßfrequenzeingang des Zählers mit dem Fällen entsprechenden Ungleichungen ergeben die 55 Ausgang des Flip-Flop II, so zeigt der Zähler die Überyugeordneten Klassen der Abtastwerte und die Ab- gangswahrscheinlichkeit/?(///) an (F ig. 6).
hängigkeit jedes Klassenumfanges von den Schwellen- Die Anwendung der Schaltungsanordnung gemäß

spannungen U_sa und U_Sb- F i g. 1 zur Messung statistischer Parameter kann er-

Die drei Zufallsfolgen Z₁, Z₂, Z₃ entsprechen den weitert werden, wenn man die Schwellenspannungen drei Klassen der Abtastwerte und steuern einen Auto- 60 u_sa und Usb so erzeugt, daß die Bedingung
maten 8. Die Wirkungsweise des Automaten soll an \ ττ ττ \ λ ττ „„„„_t

ττ 1 · 1 · 1 πα ι j /τ-. _Λ ι.. , Usb — Usa — Ά Us — COnsr.

Hand seiner logischen Struktur (F 1 g. 4) erläutert ' '

werden. Der Automat 8 enthält eine Anordnung bi- bei Veränderung der Schwellenspannungen immer erstabiler Elemente 10 zur Speicherung seiner internen füllt bleibt. Man kann dann das Schwellenspannungs-Zustände und liefert an seinen Ausgängen Spannungen, 65 intervall (JJ_Sa, U_Sb) bei konstanter Spannungsdifferenz die zur Messung statistischer Parameter des sto- Δ U_s über den gesamten Amplitudenbereich des stochastischen Prozesses s(t) dienen. Dies soll im fol- chastischen Prozesses verschieben und jeweils die genden beispielsweise für die Total-, Verbund- und Wahrscheinlichkeit messen, mit der die Äbtastwerte

des stochastischen Prozesses in dieses Intervall fallen. Damit erreicht man denselben Effekt wie mit einer Schaltungsanordnung für

m = \ U_O\/AU_S

äquidistante Klassen, mit

\U₀\={\s(t)\}_ma*.

Zu diesem Zweck ist in der Schaltungsanordnung nach F i g. 1 anstatt der Potentiometeranordnung S eine Potentiometeranordnung 5' (F i g. 7) vorzusehen, die aus zwei gleichzeitig gegensinnig veränderbaren Widerständen ba' und 56' besteht, zwischen denen ein einstellbarer Widerstand 5c' liegt, an dessen Enden die beiden Schwellenspannungen U_sa und U_Sb abgegriffen werden. Mit dem Widerstand Sc' wird die Schwellenspannungsdifferenz A U_s abgegriffen werden. Mit dem Widerstand 5 c' wird die Schwellenspannungsdifferenz Δ U_s eingestellt, und durch gleichzeitiges und gegensinniges Verändern der Widerstände 5 a' und 5b' wird das Schwellenspannungsintervall (U_sa, Um) über den gesamten Amplitudenbereich des stochastischen Prozesses verschoben.

Verwendet man eine Kombination mehrerer getasteter Amphtudendiskriminatoren nach F i g. 1, die vom selben Taktgenerator gesteuert werden und an verschiedene Signalquellen oder Wandler, die die stochastischen Prozesse in Form elektrischer Größen liefern, angeschlossen werden mit einem Automaten, kann man die Parameter, die die statistische Abhängigkeit der einzelnen Prozesse voneinander kennzeichnen, messen. Die Messung dieser Parameter erfolgt vollkommen analog zu den schon beschriebenen Verfahren. So wird z. B. zur Messung der Verbundwahrscheinüchkeit^(i®, 7^(Π))₃ die die Wahrscheinlichkeit angibt, mit der ein Impuls am Ausgang AiQ.) des Amphtudendiskriminators I und gleichzeitig ein Impuls am Ausgang Aj(JI) des Amplitudendiskrimators II auftritt, bei Koinzidenz der Impulse an diesen beiden Ausgängen ein Flip-Flop gesetzt, ansonsten gelöscht. Der zeitliche Mittelwert der Ausgangsspannung des Flip-Flop ist der Verbundwahrscheinlichkeit ρ (1"^,J⁰¹O direkt proportional und wird analog oder digital angezeigt.

Sollen statistische Parameter eines stochastischen Prozesses gemessen werden, der einem Nutzsignal überlagert ist, kann dazu eine nach F i g. 8 modifizierte Schaltungsanordnung nach F i g. 1 verwendet werden. Die Wirkungsweise einer solchen Schaltungsanordnung soll an Hand der F i g. 8 und 9 beispielsweise für einen gestörten Stufenprozeß erklärt werden. Die F i g. 9 zeigt einen gestörten Stufenprozeß mit drei Amplitudenstufen und läßt erkennen, daß zur Klassierung des stochastischen Prozesses, der dem Stufenprozeß überlagert ist, mittels eines getasteten Amplitudendislariminators, die Schwellenspannungen des Amphtudendiskriminators entsprechend dem Verlauf des Stufenprozesses abschnittsweise verschoben werden müssen. Dazu ist in F i g. 8 neben dem getasteten Amph'tudendiskriminator la ein zweiter, Ib erforderlich, der entscheidet, auf welcher Amplitudenstufe sich der Stufenprozeß gerade befindet und in Abhängigkeit von dieser Entscheidung die Schwellenspannungen des Amplitudendiskriminators la umschaltet. Zu diesem Zweck enthält der Automat in F i g. 8 einen Satz bistabiler Elemente 11 gemäß F i g. 1, die die Entscheidung des Amplitudendiskriminators Ib speichern und die Umschaltung der Schwellenspannungen des Amplitudendiskriminators la steuern. Diese Steuerung erfolgt so, daß die mit st bezeichneten Schalter im Automaten der F i g. 8 geschlossen werden, wenn am Ausgang Si der Anordnung 11 von F i g. 8 ein Impuls auftritt, sonst aber offenbleiben. Dadurch wird in Abhängigkeit der stabilen Lagen der Flip-Flops der Anordnung 11 eine der drei Potentiometeranordnungen 12 a, 126,12 c des Automaten eingeschaltet und liefert die Schwellenspannungen für den Amplitudendiskriminator la. Die Anordnung bistabiler Elemente 10 in F i g. 8 ist die gleiche wie in F i g. 1 und dient der Häufigkeitsmessung von Automatenzuständen in der schon früher erklärten Weise. Das Meßverfahren bei additiv gestörten Netzsignalen kann wesentlich vereinfacht und mit einer Schaltungsanordnung nach F i g. 1 durchgeführt werden, wenn das Nutzsignal aucn in ungestörter Form zur Verfügung steht. Dann kann die dem Nutzsignalverlauf r(f) entsprechende Verschiebung der Schwellenspannungen des getasteten Amphtudendiskriminators dadurch erreicht werden, daß die Potentiometeranordnung 5 in F i g. 1 nicht von einer Gleichspannung U₀ gespeist wird, sondern von ää einer Quelle, die die Spannung U₀ + r(t) abgibt. Der ^ Automat in F i g. 1 liefert dann Spannungen an seinen Ausgängen, die nach den schon beschriebenen Verfahren zur Messung statistischer Parameter nur von der Störung dienen.

Die Schaltungsanordnungen gemäß F i g. 1 und 8 kann man für beliebig viele Klassen erweitern, wobei für η Klassen der getastete Amphtudendiskriminator (n — 1) binäre Entscheidungsnetzwerke sowie Schwellenspannungen und (n — 1) UND-Tore im Verknüpfungsnetzwerk besitzt und der Automat wenigstens η bistabile Elemente enthällt.

Claims

Patentansprüche:

1. Schaltungsanordnung zur meßtechnischen Bestimmung statistischer Parameter stochastischer Prozesse, die von einer Signalquelle in Form einer elektrischen Größe geliefert oder durch einen Wandler in eine elektrische Größe umgewandelt werden, wobei das dem stochastischen Prozeß entsprechende Signal s(t) in diskreten, vorzugsweise äquidistanten Ä Taktzeitpunkten tk = /c · τ, mit k = ... —2, —1, ™ 0, 1, 2 ... und τ als Zeitgrundintervall, abgetastet wird, die Abtastwerte j (^) durch Vergleich mit wenigstens einer veränderbaren Gleichspannung (Schwellenspannung) in wenigstens zwei Klassen (Amplitudenintervalle) unterteilt werden und die für den jeweiligen Anwendungsfall interessierenden statistischen Parameter, wie z. B. Total-, Verbund- und Übergangswahrscheinlichkeit, der Klassen der Abtastwerte gemessen werden, dadurch gekennzeichnet, daß der an sich bekannte Amplitudendiskriminator ein Verknüpfungsnetzwerk (6) enthält und von einem Taktgenerator (3) angesteuert wird, daß ein logisches Netzwerk (8) vorgesehen ist, das bistabile Elemente zur Speicherung interner Zustände des logischen Netzwerkes (8) enthält, und daß das logische Netzwerk (8) wenigstens einen Satz (5) von Einstellgliedern umfaßt, der veränderbare Schwellenspannungen abhängig von dem jeweils herrschenden internen Zustand des logischen Netzwerkes (8) dem von einem Taktgenerator (3) getasteten Amphtudendiskriminator liefert.

2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß im logischen Netz-

werk (8) die bistabilen Elemente in Form bistabiler Multivibratoren und die Einstellglieder in Form von gleichstromgespeisten Potentiometern ausgeführt sind.

3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Eingänge der bistabilen Elemente zur Speicherung interner Automatenzustände mit den Ausgängen einer Signalquelle, die ein vom stochastischen Prozeß s(t) unabhängiges Signal J₁ (?) liefert, verbunden sind.

4. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens ein Satz von Einstellgliedern im logischen Netzwerk (8) vorgesehen ist, der veränderbare Schwellenspannungen in Abhängigkeit eines Signals J₂(Oj ¹S das vom stochastischen Prozeß s (t) unabhängig ist, dem getasteten Amplitudendiskriminator liefert.

5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Sätze von Einstellgliedern vorgesehen sind, aus denen abhängig vom gerade herrschenden internen Zustand des logischen Netzwerkes (8) ein Satz ausgewählt wird, der jeweils die Schwellenspannungen dem getasteten Amplitudendiskriminator liefert.

6. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1,2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß im logischen Netzwerk (8) nur ein Satz von Potentiometern vorgesehen ist, an denen veränderbare, während der jeweiligen Messung konstante Schwellenspannungen abgegriffen werden.

7. Schaltungsanordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß im logischen Netzwerk (8) nur eine mit einer Gleichspannungsquelle verbundene Potentiometeranordnung, bestehend aus zwei gleichzeitig, gegensinnig veränderbaren Widerständen (5 a' und 5 b'), zwischen denen ein einstellbarer Widerstand (5') liegt, an dessen Enden die beiden Schwellenspannungen des getasteten, für drei Klassen ausgelegten Amplitudendiskriminators abgegriffen werden, vorgesehen ist, so daß bei Einstellung der Schwellenspannungen mit den beiden gleichzeitig, gegensinnig veränderbaren Widerständen (5a' und 5b') die Spannungsdifferenz der Schwellenspannungen konstant bleibt und die Größe der Differenz mit dem einstellbaren Widerstand (5 c') vorgewählt werden kann, wodurch das durch die Schwellenspannungsdifferenz bestimmte Amplitudenintervall (Klasse) der Abtastwerte des stochastischen Prozesses über dessen gesamten Amplitudenbereich verschoben werden kann und die Wahrscheinlichkeit, mit der ein Abtastwert in dieses Intervall fällt, gemessen werden kann.

8. Verwendung einer Kombination von wenigstens einer Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 und wenigstens einer Schaltungsanordnung nach Anspruch 6, die einen gemeinsamen Taktgenerator haben und deren Eingänge an derselben Signalquelle oder an demselben Wandlerausgang angeschlossen sind, wobei die Einstellglieder des logischen Netzwerkes der einen Schaltungsanordnung die Schwellenspannungen für den getasteten Amplitudendiskriminator der anderen Schaltungsanordnung liefern und gegebenenfalls auch gleichzeitig umgekehrt, so daß die statistischen Parameter stochastischer Prozesse gemessen werden können, die einem Nutzsignal, insbesondere einem Stufenprozeß, überlagert sind.

9. Verwendung einer Kombination von wenigstens einer Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 und wenigstens einer Schaltungsanordnung nach Anspruch 6 zur Messung statistischer Parameter stochastischer Prozesse, die bei einem Nutzsignal, insbesondere bei einem Stufenprozeß, als Störung auftreten, wobei die beiden Schaltungsanordnungen einen gemeinsamen Taktgenerator haben, der Eingang der Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 mit der Nutzsignalquelle, der Eingang der Schaltungsanordnung nach Anspruch 6 mit dem Ausgang eines durch den meßtechnisch zu untersuchenden stochastischen Prozeß gestörten Übertragungssystems, das an dieselbe Nutzsignalquelle angeschlossen ist, verbunden ist und die Einstellglieder der einen Schaltungsanordnung die Schwellenspannungen des getasteten Amplitudendiskriminators der anderen Schaltungsanordnung liefern und gegebenenfalls auch gleichzeitig umgekehrt.

10. Verwendung von wenigstens zwei Schaltungsanordnungen nach Anspruch 4, die einen gemeinsamen Taktgenerator haben und deren Eingänge an verschiedenen Signalquellen oder Wandlerausgängen, die die verschiedenen stochastischen Prozesse in Form elektrischer Größen liefern, angeschlossen sind, zur Messung von Parametern, die die statistische Abhängigkeit der einzelnen Prozesse voneinander kennzeichnen.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

109 546/82