DE1498062A1 - Method and device for the automatic evaluation of test values obtained by regular, class-wise testing of a fluctuating process - Google Patents

Method and device for the automatic evaluation of test values obtained by regular, class-wise testing of a fluctuating process

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DE1498062A1
DE1498062A1 DE19651498062 DE1498062A DE1498062A1 DE 1498062 A1 DE1498062 A1 DE 1498062A1 DE 19651498062 DE19651498062 DE 19651498062 DE 1498062 A DE1498062 A DE 1498062A DE 1498062 A1 DE1498062 A1 DE 1498062A1
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Description

verfahren und- ? @=riclt.uxt zur auto",ati_schex@@@.LS@rertun, . vun durch regelmäMge.sf _kl:ass.en weises hrY.ie;n eine .aeh,#aanfetx.e'-"-;sx°ane,s.. eriiaitenrirzif:;=rrte@a. -t@[email protected] S3..c`@3I auf e-in -,und r! eIIt-g. @z. - -- pr 'jert:ei- ur aua .- I,zn@;sfu-@G@tio@? @t@n sta..st:3.sh aus2rertnarer Form eines 'um einen öswürschten V omznal Wert .scahwü r.ls eizden VorgarSes,,äc-' st=«t22t auf in. re#e#jn,i#i#erL '"#.e#:tiz@terj 'vorn die; ke., . a)'or= @a..n. er,!itIte- frü£'vre°r besx,i@=@-s;eise bei der L;al.-- isrü funk oder "-ontr_olle : - - Für di.e.:°r@us:vertun@FvonIe@.@@rlrissen -vän ZeLt- e.s folgen eines' Prozesses oder `Vorgang wandet--i3,an naoil 3@Iölch-@- . _ 1£eit statistische 12eth:oden an,, bei. clien en der 1:ittellder-4 di#e. -Streuung u6-w. -ein Maß fÜr die Art der Ven«nderunfen des be- o'oachteten fr07sPS'SeS. -bilden.. Dies ist von b.eson.dS'rar 1t.'V.i:.Chtig- Reit bei der Analyse von Industriellen l'roze.ssen,. beispeLs-. weise bei der z@rmittlunr- des @Y'T!üE.:T@üchte..; uri @: des'eiLC'_@tig- kaitz--eh.3ltes vcri -2a-#jier,R .` . :- . -. - '_lz r#Jer .;.-rain lzierden #ie?-ax"tir;a..zz3@.;;-en so aule- d_..1 zne c-ro<ze :@rizafl `v'aa `s'e @@@erge:on.Zsen zu -vor @ee- benen -e`.@zuzzkteri ab@elese erprde.n ttnd dabei die ai der . @eitir_t@rval@e urt@zr _¢r@t_c@.:sz^t-@@L1n°@ des .@ci:lankul=@-@,z@=er-o:e. der 3eitf c1""e. g.e:@774t -werder- Die Pr,a<aerta werden G..:_1#ch ihre. .- ri'!1n@ t.'.C"C82 @@:@z S.@"yT-i3_.zl.ert-.. diesen kann -dann eilz;e VerteiiLTnüa- -G-l?`2:'ewü;enZ@`.LL`@Ta _ga.eiah'1_'at- ESr,''a.elT,, aus der der i#4ittv@ ;°'1''t 1ZnG S.treu2Ln:; der es;@l3._'@- teit ^7a, l:el? :L?rtn:... SS 1i@:3t,- auf r-leY` f.31^..y; C.... a,iG33r' `raraxz@, .s.e'nr -vi a1 pr"UCht und V'er endet und cä I^71rtz 1Z@I.:v11Ch_.,- de1'?.1'- . .=ei t bG?a2s tig;e-.@rutun-en nU.cr! lyLIr@C'rl@rla;t@rr_11,. ;a@c,.l'_ ;1(=''1.U'_2:i_t`<iJ :TZ°. :e- SL'@`lh:i111@f&1.t. de'6 zu 'EW:e@ha@":@'1t`e:n@Te11 -'[email protected]ü.3as selbst -zuntamt.. leiterhin wird [email protected]. vermindert" . üenn c@ie üblIchen Graphi schen i":e thod :n angewendet werde= .. Dies-- ?raht:eile- werden durch dis 'Terfanren L-enäh der Erfindung dadurch ausgescl-1@1tet,, @'Tr, .jeäeli'"Frvfvör-- gang entsprechend dem ermit-telt-Hzi !@rUüeert eil- .3:L-nal er-zeugt wird., das einer entsprechenden. .äyreichereiz^_.i@eit einte =ehrzaill. von Speichereinheiten eingespeist wird,. von den jede- einem - Wertbereich,. einer sogenannten @@Lause zuäaordn et _ ist und zur Fortführung des Prüfvorganges die Speichereinheiten periodisch in einer Folge von 'dertbereicher abgerufen werden. zur Ermitt- lung eines Ausgangssiplales, das nacheinander durch die Ampli- tuden die Zahl der Eingangssignale in den einzelnen Speicher- einreiten darstellt, so da!3 das Ausgangssignal eine stufenför- r;i - Funktion bildet, die anfangs eines. steigenden und an- schlie2.end einen fallenden Verlauf aufweist, die durch Ausfil- terung der die Stufen erzeugender! -'armonischen ge ;1L,: stet wird, so, das: eine Verteilungsfunktion oder Kurven4arstellung erhal- ten wird, die kontinuierlich -die Schvrankungen des beobachteten Prozesses beschreibt und eine stetie Ableitung besitzt und diese Verteilungsfunktion auf eine 1_atli.odenstrahlröhre, Schnell- druck-er und/oder eine andere Auswertvorrichtun,9 gegeben väird. Weitere erfindun_gsgemäi-"e Merkmale ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung der in den Zeichnungen bei- spielsweise dargestellten Ausfcihrungsfor?:a. In den beigefügten Zeichnungen zeigen _ Fig: rt. ein Blockdiagramm für die Ausführung des Verfahrens gemäß der Erfindung, Fi;;. 2 .ein. Beispiel für eine-- in de,- Verfahren verwendeten Kömmutator, Fiü.-G Kurvendarstellungen für die Erklärung der Arbeits- weise der Einrichtung. Die Einrichtung, wie sie in Fig. 1 gezeigt ist, be- steht aus einer Informationseinheit, die eine Anzahl von Speichern 1-11, 1121 M3---Mn enthält und einer Ablese- oder Abruf- einheit, umfassend einen Kommutator K, der mit den Speichern - verbunden ist, und-mit einem Filter F sowie einer Ableseschal- tung U und einem Anzeigegerät J in Serie geschaltet ist. Die grundsätzliche Wirkungsweise der Erfindung ist folgende: Durch eine-Einrichtung zum klassenweisen Ermitteln von Werten - nicht dargestellt -, beispielsweise -einem Fall- Bügelrelais, durch Spiegelgalvanometermit eingebauten Foto- widerständen o. dgl. wird jede Schwankungsperiode der unter- suchten Folge in regelmäßigen Zeitabständen geprüft, um weder- holt Serien von verschiedenen Prüfwerten zu erhalten, die in die verschiedenen Klassen fallen, d@. h. in bestimmte Größen- oder Amplitudenbereiche, Diese Prüfwerte werden klassenweise in den entspre- chenden@Speichern - ein Speicher für jede Klasse - gespeichert. Jeder der Speicher ist so eingerichtet, daß er ein Ausgangs- Signal abgeben kann, das proportional ist der Anzahl der ihm eingegebenen Prüfwerte. Dieses Signal wird von den Speichern in einer Folge abgerufen durch einen Kommutator K, um ein periodisch wiederholtes,stufen- oder treppenförmig ausgebilde-' tes, zunächst ansteigendes und anschließend fallendes Ausgangs- signal - beispielsweise in Volt - zu erzeugen, welches die Verteilungsfunktion der Schwankungsperiode darstellt. 'fieses Ausgangssignal wird dann in einen Filter F eingegeben, um die Stufenkomponenten zu glätten und es dann auf eine trblese- Schaltun- U (und eine Kathodenstrahlröhre 0i .für die Auswer- tung und Anzeige durch den Indikator J zu geben.. In der dargestellten Ausführungsform sind die Spei- eher i#i1...Iin klassenweise geordnet, in Serie geschaltet, wie es in rig.-1 dargestellt ist, durch die Leiter r31, S2, v3 usw. Dadurch wird erreicht, daß, wenn die Speicher,nacheinander klassenweise abgerufen werden, aus dem ,Speicher '1 .ein Aus- gangssignal erhalten wird, das proportional. der Zahl- der in Klasse 1 eingespeicherten Prüfwerte entspricht.-Vom Speicher t42 wird ein Ausgangssignal erhalten, das proportional ist der Zahl der in den Klassen 1 und 2 eingespeicherten Prüfwerte und aus dem Speicher M3 erhält man ein Ausgangssignal, das proportional ist der 'Anzahl der in den Klassen 1, 2 und 3 ein- gespeicherten Prüfwerte. Wird beispielsweise eine reine Gauss- Verteilung von sieben Klassen angenommen, so sind beispiels- weise die Prüfwertzahlen 1, 9, 50, 80, 50, 9 und 1 in den Spei- chern MI...M7 eingespeichert. Die serienmäßige Verknüpfung der Speicher resultiert dann in Ausgangssignalen - beispielsweise in Volt -, die proportional sind zu 1, 10, 60, 'f4-0, 190, 199 und 200. Somit bilden alle Prüfwerte, die während einer Schwan- kungsperiode geprüft werden, bei aufeinanderfolgender Abrufung eine monoton steigende stufenförmige Verteilungsfunktion. Der Kommutator h. ist eingerichtet zur Abrufung.der einzelnen Speicher und dazu mit den Ausgangsklemmen der Spei- cher über die Leitungsverbindungen L1, L2, L3 usw. verbunden. In der dargestellten Ausführungsform gemäß Fig. 2 ist der Kommutator K mechanisch aufgebaut und für die Abrufung von sieben Klassen (Speichern) über die Eingangsleitungen L1 ... L7 eingericbtet. Der kommutator K besteht aus einem gedruckten, Schaltungsbrett 1, auf dem die gedruckten leitenden Bereiche durch 14 in einem Kreis angeordnete Kommutatorsegmente k1 ... k14 gebildet werden, die mit leitenden Zuführungsbereichen 2 ver- Bunden sind. Nie aus der Fig,. ersichtlich, sind die Segmente k1 bis einschl. k7 auf einer der linken Hälfte des Kreises je- weils mit den entsprechenden Zuführungsleitern L1...L7 ver- wunden. Demgegenüber lind die Segmente k8 ... k14 einschl. auf der anderen,der rechten Hälfte des Kreises durch auf dem Schaltbrett 1 im einzelnen nicht gezeigte Leiter mit den glei- chen Eingangsleitungen L1...L7, allerdings in umgekehrter Rei- henfolge, verbunden. So ist das Segment k8 mit dem Leiter L6 verkoppelt, das Segment k9 mit dem Leiter L5! das Segment k10 mit dem Leiter L4 usw. Der Zuführungsleiter L7 ist lediglich mit dem Segment k7 verbunden, während das .Segment k14 unverknüpft bleibt. Im Zentrum des gedruckten Schaltbrettes 1 ist ein Schleifkontakt 3- in Fig. 2 schematisch eingezeichnet -drehbar angelenkt und derart ausgebildet, daß er von einem elektrischen Synchronmotor von näherungsweise 25 U/sec angetrieben werden kann. Auf Grund der Verknüpfung der Segmente k1 ...k14 mit den Zuführungsleitern Z1...27 werden alle Speicherklassen zweimal pro Umdrehung des Kontaktes 3 abgerufen, und zwar in steigender Klassenordnung während der ersten Hälfte der Umdrehung und in einer fallenden Klassenordnung während der zweiten Umdrehungshälfte. procedure and-? @ = riclt.uxt zur auto ", ati_schex @@@. LS @ rertun,. vun by regular.sf _kl: ass.en wise hrY.ie; n one .aeh, # aanfetx.e '- "-; sx ° ane, s .. eriiaitenrirzif:; = rrte @ a. -t @ e @ 3-e1.t S3..c` @ 3I on e-in -, and r! eIIt-g. @z. - - pr 'jert: a- ur ouch .- I, zn @; sfu- @ G @ tio @? @ t @ n sta..st: 3.sh special form of a 'um an öswschten v omznal value .scahwü r.as eizden VorgarSes ,, äc- ' st = «t22t on in. re # e # jn, i # i # erL '"# .e #: tiz @ terj' in front die; ke.,. a) 'or = @at. er,! itIte- early £ 'vre ° r besx, i @ = @ - s; eise bei der L; al .-- isrü funk or "-ontr_olle: - - For di.e.:°r@us:vertun@FvonIe@.@@rlrissen -vän ZeLt- it follow a 'process or' process turns - i3, to naoil 3 @ Iölch - @ -. _ 1 £ eit statistical 12eth: oden an ,, at. clien en der 1: ittellder-4 di # e. -Scatter u6-w. -a measure for the type of venous loss of the o 'paid attention to 07sPS'SeS. - form .. This is from b.eson.dS'rar 1t.'Vi: .Chtig- Reit in the analysis of industrialists l'roze.ssen ,. EXAMPLE-. wise at the z @ rmittlunr- des @ Y'T! üE.: T @ üchte ..; uri @: des'eiLC '_ @ tig- kaitz - formerly 3rd vcri -2a- # jier, R .`. : -. -. - '_lz r #J er .; .- rain lzierden #ie? -ax "tir; a..zz3 @. ;; - en so aule- d _ .. 1 zne c-ro <ze: @rizafl `v'aa` s'e @@@ erge: on.Zsen zu -vor @ ee- benen -e`. @ zuzzkteri ab @ elese erprde.n ttnd the ai der. @ eitir_t @ rval @ e urt @ zr _ ¢ r @ t_c @ .: sz ^ t - @@ L1n ° @ des. @ ci: lankul = @ - @, z @ = er-o: e. der 3eitf c1 "" ege: @ 774t -werder- The Pr, a <aerta will be G ..: _ 1 # ch theirs. .- ri '! 1n @ t.'. C "C82 @@: @ z S. @" yT-i3_.zl.ert- .. this can -then eilz; e VerteiLTnüa- -Gl? `2: 'ewü; enZ @` .LL` @ Ta _ga.eiah'1_'at- ESr,''a.elT ,, from the der i # 4ittv @; ° '1''t 1ZnG S.treu2Ln :; of it; @ l3 ._ '@ - teit ^ 7a, l: el? : L? Rtn: ... SS 1i @: 3t, - on r-leY` f.31 ^ .. y; C .... a, iG33r '`` raraxz @, .s.e'nr -vi a1 pr "UCht and V'er ends and cä I ^ 71rtz 1Z @ I.: v11Ch _., - de1 '?. 1'-. . = ei t bG? a2s tig; e -. @ rutun-en nU.cr! lyLIr @ C'rl @ rla; t @ rr_11 ,. ; a @ c, .l'_; 1 (= ''1.U'_2: i_t` <iJ: TZ °.: e- SL '@ `lh: i111@f&1.t. de'6 to 'EW: e @ ha @ ": @' 1t`e: n @ Te11 -'[email protected]ü.3as himself -zuntamt .. ladder, the aeaiauigl @ pt is reduced ". üenn c @ ie usual Graphical i ": e thod: n will be applied = .. This -? Raht: hurry - be by dis ' Terfanren L-enäh the invention thereby excluded ,, @ 'Tr, .jeäeli'"Frvfvör-- gear corresponding to the determined Hzi ! @ rUüeert eil- .3: L-nal generates becomes., that of a corresponding. .äyreichereiz ^ _. i @ eit einte = Ehrzaill. is fed from storage units. from each - one - Value range ,. a so-called @@ Lause zuäaordn et _ and to Continuation of the test process the storage units periodically be retrieved in a sequence by 'dertbereicher. to investigate development of an output plale, which successively through the amplification tude the number of input signals in the individual memory rides in, so that! 3 the output signal has a r; i - function that forms the beginning of a. rising and rising finally shows a descending course, which by filtering out modification of the stages generating! -'armonic ge; 1L,: is steadily, so that: a distribution function or curve display is obtained th is continuously -the variance of the observed Describes the process and has a continuous derivation and this distribution function on a 1_atli.odenstrahlröhre, high-speed printer and / or another evaluation device, 9 given. Further features according to the invention result from the following description of the two in the drawings Example of execution form shown: a. In the accompanying drawings, _ Fig: rt. a block diagram for carrying out the method according to the invention, Fi ;;. 2. A. Example of a - in de - procedure used Commuter, Fiü.-G Curves for explaining the working wise of the establishment. The device as shown in Fig. 1, consists of a unit of information that contains a number of Save 1-11, 1121 M3 --- Mn and a reading or retrieval unit, comprising a commutator K, which is connected to the memories - is connected, and -with a filter F and a reading switch- device U and a display device J is connected in series. the The basic mode of operation of the invention is as follows: By a device for class-wise determination of values - not shown -, for example -a case- Bracket relay, through mirror galvanometer with built-in photo resistances or the like, each fluctuation period of the were looking for a sequence checked at regular intervals to avoid neither- fetches series of different test values to be obtained in the different classes fall, d @. H. in certain sizes or amplitude ranges, These test values are class-wise in the corresponding @ Save - one memory for each class - saved. Each of the memories is set up in such a way that it has an output Can emit signal that is proportional to the number of him entered test values. This signal is from the memories retrieved in a sequence by a commutator K to a periodically repeated, step-shaped or staircase-shaped- ' tes, initially rising and then falling output signal - for example in volts - to generate which the Represents the distribution function of the fluctuation period. 'nasty Output signal is then input to a filter F in order to smooth the step components and then apply it to a cloudy Circuit U (and a cathode ray tube 0i. For the evaluation direction and display by the indicator J .. In the embodiment shown, the storage rather i # i1 ... Iin sorted by class, connected in series, like it is represented in rig.-1, by conductors r31, S2, v3 etc. This ensures that, when the memory, one after the other can be called up in classes, from the 'memory' 1. output signal is obtained that is proportional. the number of in Class 1 corresponds to stored test values - From memory t42 an output signal is obtained which is proportional to the Number of test values stored in classes 1 and 2 and an output signal is obtained from the memory M3 which is proportional to the 'number of people in classes 1, 2 and 3 stored test values. For example, if a pure Gaussian Assuming distribution of seven classes, put the check value numbers 1, 9, 50, 80, 50, 9 and 1 in the memory saved MI ... M7. The serial connection of the Memory then results in output signals - for example in volts - which are proportional to 1, 10, 60, 'f4-0, 190, 199 and 200. Thus, all test values, which during a swan be checked for consecutive retrievals a monotonically increasing step-like distribution function. The commutator h. is set up to retrieve individual memory and to the output terminals of the memory connected via the line connections L1, L2, L3, etc. In the illustrated embodiment according to FIG. 2, the Commutator K mechanically constructed and for the retrieval of seven classes (storage) via the input lines L1 ... L7 incised. The commutator K consists of a printed, Circuit board 1 on which the printed conductive areas by 14 commutator segments k1 ... k14 arranged in a circle are formed, which are provided with conductive feed areas 2 Are bound. Never from the figure. can be seen, the segments k1 up to and including k7 on one of the left half of the circle because with the corresponding supply conductors L1 ... L7 wounds. In contrast, the segments k8 ... k14 including the other, the right half of the circle through on that Switchboard 1 in detail not shown conductor with the same input lines L1 ... L7, but in reverse order sequence, connected. So is the segment k8 with the conductor L6 coupled, the segment k9 with the conductor L5! the segment k10 with the conductor L4 etc. The feed conductor L7 is only connected to the segment k7, while the segment k14 remains unlinked. In the center of the printed circuit board 1, a sliding contact 3 is shown schematically in FIG. 2, hinged so that it can rotate and is designed in such a way that it can be driven by an electric synchronous motor of approximately 25 rev / sec. Due to the connection of the segments k1 ... k14 with the supply conductors Z1 ... 27, all storage classes are called up twice per revolution of the contact 3, in an increasing class order during the first half of the revolution and in a decreasing class order during the second half of the revolution .

_ Somit wird das von dem Schleifkontakt erhaltene Signal - beispielsweise in Volt - ein periodisch wiederholtes. symmetrisch abgestrahltes Stufensignal darstellen mit der Grundfrequenz von 25 Hz. Dabei stellt der steigende Ast des Signals die Verteilungsfunktion oder Kurve des untersuchten Vorganges oder Prozesses während einer Schwankungsperiode dar, wie in Fig. 3 dargestellt._ Thus, the signal received from the sliding contact - for example in volts - is periodically repeated. represent symmetrically radiated step signals with a basic frequency of 25 Hz. The rising branch of the signal represents the distribution function or curve of the process or process being examined during a fluctuation period, as shown in FIG. 3.

Das Ausgangssignal, abgegeben beispielsweise in Kommutatorspannung, kenn nach Fourier in eine Anzahl von Frequenzkomponenten von sinusförmiger Form (Fig.4) aufgespalten werden. Die Funktion besteht aus einer Grundfrequenz f. und einer Anzahl von Harmonischen, die der Funktion ihren speziellen Charakter geben. ZuS'.Ützlich ist eine Anzahl von Frequenzkomponenten vorhanden (2n f0 und höher), die von dem Stufencharakter der Kurve herrühren, der seinerseits wieder durch die Masseneinteilung gegeben ist.The output signal, given for example in commutator voltage, know according to Fourier into a number of frequency components of sinusoidal form (Fig. 4) are split. The function consists of a basic frequency f. And a number of harmonics that give the function its special character give. In addition, there are a number of frequency components (2n f0 and higher), which result from the step character of the curve, which in turn is caused by the Mass division is given.

Die Frequenzkomponenten niedrigerer Ordnung, die' die -Verteilungsfunktion charakterisieren, klingen normalerweise sehr schnell ab (die 10. Harmonische wird kleiner.als 1% der Grundharmonischen).The lower order frequency components that characterize the distribution function usually decay very quickly (the 10th harmonic becomes less than 1% of the fundamental harmonic).

Für die Beseitigung der Stufenkomponenten wird ein, Filter F benutzt. Dies ist ein Filter vom Typ einer Drossel- x) kette mit einer Dämpfung von 18 Dezibel in der Oktave und einer Grenzfrequenz von 10 x f0 Hz. Die Grenzfrequenz ist dabei so .gewählt, daß die Stufenkomponenten vollkommen herausgefiltert werden, während die wesentlichen Harmonischen der Verteilungskurve unbeeinflußt bleiben. Die erhaltene Spannungskurve, wie sie in Fig. 5 dargestellt ist, kann sofort an einer Kathoden-Strahlröhre Ö abgelesen oder durch einen Schnelldrucker registriert werden. Die Ableseschaltung U kann aus niveauabhängigen Triggerschaltungen bestehen, die auf bestimmte vorgewählte Niveaus ansprechen und dadurch eine*Impulssperre oder einen Impulsdurchgang bilden. So erhält man eine Impulskette, in-der die Impulsdauer ein direktes Maß für die Streuung der Funktion bzw. die Abweichung, vom Mittelwert darstellt. x) (dB Octave) Fig. G zeigt einen Impuls, der in Jeder Periode z.=ii- sahen dem oberen und dem unteren Triggerniveau entsteht und der die Länge L hat. Der Indikator J ist ein rektifizierendes Instrument, dessen Auslenkunr, direkt proportional zur Impuls- länge L ist und die folglich proportional ist. zur Streuung bzw. der I,£ittelwertabweichune. Dieser Impuls kann dann wiederum benutzt werden für die '_;esulierung der den -beobachteten ä#rozer bes tirlrrenclen -Para- meter. .Die oben beschriebene Anordnung für die Analyse klassi- fizisrter Daten mit Hilfe der Faurier-<inalfse.ergibt eine be- deutend höhere Genauigkeit als jene Methoden, bei. denen. die Verteilungskurve durch lineare Interpolation der verschiedenen "ausgeprägten Klassenniveaus ermittelt wird. Das verbesserte Er- gebnis ergibt-sich daraus, da.3 in dem beschriebenen Verfahren eine Verteilungskurve erhalten wird, die eins stetige Ableitung besitzt, was in den bisherigen Verfahren nicht der Fall war. Das erfindungsgemäße Verfahre4eliminiert somit die Teile von. Ungenauigkeiten, die durch die Klassifizierung des Prüfmaterials in eine begrenzte Anzahl. von aus statistischer Sicht eingeteil- ten Klassen entstehen. Die Erfindung" ist nicht auf die beschriebene Ausfüh- rungsform beschränkt,, sondern es sind verschiedene Aodifizie- rungen innerhalb des Rahmens der Erfindung möglich. " So könnte der mechanische Kommutator durch. einen hin- und herscawingenden Typ .anstelle des rotierenden ersetzt werden oder auch durch eine rein elektronische oder elektromagnetische Umschaltung, beispielsweise durch Zungenelemente und einen rotierenden 1'iagneten. Jeiterhin könnten anstelle der Erzeuguneiner spiegelsymmetrischen Verteilungskurve durch Serienschaltung der -Z')peicher und Verdoppelung der Ablesevorgänge während einer Kommutationsperiode, wie es oben. beschrieben ist, nur unabhängig angeordnete Speicher verwendet werden, die dann nur je einräal während jeder Kommutätionsperiode abgerufen würden. Dadurch würde eine Frequenzfunktion erhalten werden, die auf gleiche ,reise mittels einer Fourier-Analyse analysiert werden könnte.For the elimination of the step components, a Filter F used. This is a filter of the throttle type x) chain with an attenuation of 18 decibels in the octave and one Cutoff frequency of 10 x f0 Hz. The cutoff frequency is selected so that the step components are completely filtered out, while the essential harmonics of the distribution curve remain unaffected. The voltage curve obtained, as shown in FIG. 5, can be read off immediately on a cathode ray tube O or registered by a high-speed printer. The reading circuit U can consist of level-dependent trigger circuits which respond to certain preselected levels and thereby form a pulse block or a pulse passage. A pulse chain is thus obtained in which the pulse duration is a direct measure of the spread of the function or the deviation from the mean value. x) (dB octave) Fig. G shows a pulse that z. = I- saw the upper and the lower trigger level arises and which has the length L. The indicator J is a rectifying one Instrument whose deflection is directly proportional to the momentum length L and which is consequently proportional. for scattering or the mean value deviation. This impulse can then in turn be used for the '_; esulation of the -observed Ä # rozer bes tirlrrenclen -para- meter. The arrangement described above for the analysis of classic more specific data with the help of the Faurier- <inalfse. signifying higher accuracy than those methods. those. the Distribution curve by linear interpolation of the various "distinctive class level is determined. The improved result arises from da.3 in the process described a distribution curve is obtained which is one continuous derivative possesses, which was not the case in previous proceedings. The method according to the invention thus eliminates the parts of. Inaccuracies caused by the classification of the test material in a limited number. from a statistical point of view th classes emerge. The invention "is not limited to the described execution limited form, but there are various modifications possible within the scope of the invention. " So the mechanical commutator could get through. a back and forth swinging type can be replaced instead of the rotating type, or by a purely electronic or electromagnetic switchover, for example by tongue elements and a rotating 1'iagneten. Furthermore, instead of generating a mirror-symmetrical distribution curve by connecting the -Z ') in series and doubling the readings during a commutation period, as above. is described, only independently arranged memories are used, which would then only be called up once during each commutation period. This would result in a frequency function which could be analyzed for the same trip by means of a Fourier analysis.

Durch eine Abänderung der Anordnung für die Ermittlung der Prüfwerte und die klassifizierteEinspe;#sung dieser Prüfwerte in die äpeicher kann trotzdem eine spiegelsymmetrische Verteilungskurve erhalten werden. von Speichern die nicht in Serie geschaltet sind. beispielsweise kann man ein durch Prüfung ermitteltes Signal gleichzeitig in unabhängige, niveauabhängige Schaltungen, wie beispielsweise Schmitt-Trigger, mit verschiedenen Triggerniveaus oder Schwellwerten, die jeder einer anderen Klasse entsprechen und mit verschiedenen Speiehern verbunden sind, einspeisen. In diesem Falle wäre es -nicht notwendig, die.Speicher in Serie zu schalten. Jedes ermittelte Signal würde in a11 denjenigen Speichern gespeichert werden, die mit den Trigger-Schaltungen eines niedrigeren Niveaus verbunden sind, als die Amplitude .des eingespeisten Signals beträgt.By changing the arrangement for determining the test values and the classified feeding of these test values into the memory can nevertheless a mirror symmetrical distribution curve can be obtained. of stores that don't are connected in series. for example, one can find a Signal simultaneously in independent, level-dependent circuits, such as Schmitt triggers, with different trigger levels or thresholds, each correspond to a different class and are associated with different spears, feed in. In this case it would not be necessary to connect the storage units in series. Each identified Signal would be stored in a11 in those memories connected to the trigger circuits of a lower level, than the amplitude of the injected signal.

Nach einer vollständig erfolgten Einspeisung in die-Speicher werden diese umso weniger eingespeiste Signale enthalten, als die Klassenordnung der Speicher (,zunehmende Größe des Wertbereiches) zunimmt. Folgerichtig ist der Ablesevorgang der Sp#->icher,in diesem Fall in einer Folge in-Richtung fallender Klassenordnung,.abzuwickeln, um eine Verteilungskurve zu erhalten, die,zuerst ansteigt und dann fällt. (Beispielsweise muß die Umschaltung in umgekehrter Richtung erfolgen als-bei der beschriebenen Anordnung, bei der die Speicher in. Serie geschaltet sind.) Sofern es im Vermögen eines Fachmannes liegt, können auch in anderer Hinsicht verschiedene Komponenten der Anordnung durch equivalente Komponenten ausgetauscht werden. -After a complete feed into the storage these contain fewer fed-in signals than the class order of the memory (, increasing size of the value range) increases. The reading process is logical the Sp # -> icher, in this case in a sequence in the direction of falling class order, to handle, to get a distribution curve that, first increases and then decreases. (For example the switchover must take place in the opposite direction than -with the described arrangement, in which the storage tanks are connected in series.) Provided that it is within the capabilities of a specialist various components of the arrangement can also be carried out in other respects equivalent components are exchanged. -

Claims (3)

Ansprüche 3Verfahren zur automatischen Ermittlung einer Verteilungsfunktion von statistisch auswertbarer Form eines um einen gewünschten Nominalwert schwankenden Vorganges, gestützt auf*in regelmäßigen Zeitintervallen von diesem Vorgang ermittelte Prüfwerte, beispielsweise bei der Materialprüfung oder- -kontrolle, dadurch gekennzeichnet, daß.für jeden Prüfvorgang entsprechend dem ermittelten Prüfwert ein Signal erzeugt wird., das einer . entsprechenden Speichereinheit einer Mehrzahl von Speichereinheiten eingespeist wird, von denen jede einem Wertbereich)einer-sogenannten Klasse. zugeordnet ist und zur Fortführung des Prüfvorganges die Speichereinheiten periodisch in einer Folge von Wertbereichen abgerufen werden zur Ermittlung eines Ausgangssignales, das der Zahl der verschiedenen Eingangssignale in den einzelnen Speichereinheiten entspricht, wobei dieses Ausgangssignal als eine Funktion der Zeit eine anfangs steigende und anschließend fallende Stufenform aufweist, die durch Ausfilterung der die Stufen erzeugenden Harmonischen geglättet wird, so daß eine Verteilungsfunktion entsteht, die -kontinuierlichden schwankenden Vorgang beschreibt und eine stetige Ableitung hat, und diese Verteilungsfunktion aiif eine Kathodenstrahlröhre, Schnelldrucker und/oder eine ändere Auswertevorrichtung gegeben wird. Claims 3 method for automatically determining a distribution function of statistically evaluable form of fluctuating to a desired nominal value operation, having regard to * in regular time intervals of this process test values determined, for example, in material testing or-control, characterized in that daß.für each inspection operation in accordance with the determined test value a signal is generated. That one. corresponding memory unit of a plurality of memory units is fed, each of which has a value range) of a so-called class. is assigned and to continue the test process, the memory units are periodically called up in a sequence of value ranges to determine an output signal that corresponds to the number of different input signals in the individual memory units, this output signal having an initially rising and then falling step shape as a function of time which is smoothed by filtering out the harmonics that generate the stages, so that a distribution function is created which continuously describes the fluctuating process and has a continuous derivative, and this distribution function is given to a cathode ray tube, high-speed printer and / or some other evaluation device. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich-i net, daß jedes Zingangssignal für einen bestimmten Speieher zur Erzeugung einer Verteilungsfunktion auch auf si@mtliche anderen Speichereinheiten übertragen wird, die einem höheren Jertbereich zugeordnet sind als der erstgenannte Speicher und alle Prüfwerte, die wehrend einer 1*!ei';)periode erhalten werden, im steigenden Teil des stufenförmigen Ausgängssignales reproduziert werden und der .fallende Teil des Ausgangssignals spi-ägelsyt;imetrisch zum steigenden Teil ausgebildet ist. 2. The method according to claim 1, characterized in that each Input signal for a specific storage unit to generate a distribution function is also transferred to all other storage units that have a higher Jert area are allocated as the first-mentioned memory and all test values that during a 1 *! ei ';) period, in the rising part of the step-shaped Output signal are reproduced and the .falling part of the output signal spi-ägelsyt; is designed to be imetrical to the rising part. 3. Einrichtung für die Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch die Kombination einer werteklassen-empfindlichen Anordnung. in Verbindung mit einer Anzahl von Speichereinheiten (M1, M2... Mn), von denen jeder ein unterschiedlicher Bereich oder Klasse von Prüfwerten, erhalten durch. die Prüfung des schwankenden Vorganges, zugeordnet ist, wobei die werteklassen-empfindliehe Anordnung derart ausgebildet ist, daß für jede durchgeführte Einzelprüfung ein Signal erzeugt wird,: daß.in'die diesem Signal entsprechende Klasse bzw. Speichereinheit eingespeist wird,-und ein Kommutator (K) angeordnet ist, der mit den Ausgangsklemmen der Speicher zur wiederholten periodischen Abfragung der .Speicher in eine in Klassen geordnete folge verbunden ist für den Erhalt einer periodisch wiederholten Serie von Ausgangssignalen mit einer der Zahl der in den einzelnen Speichereinheiten gespeicherten Einzelsignalen proportionalen Amplitude, wobei die Ausgangssignale zusammen eine in ihrer Amplitude zunächst=steiöende und dann fallende Verteilungsfunktion in zeitabhängigen Stufen für die Prüfwerte bilden, und-weiterhin eine äperr:cetten-Filteranordnung (F) zur Aussonderung der die Harmonischen bildenden Stufen mit der Ausgangsklemme des Kommutators (K) verbunden ist und eine Auswertevorrichtung (0 bzw. U) mit dem Ausgang der Filteranordnung (F). zur Auswertung. der dann eine stetige Ableitung aufweisenden Verteilungsfunktion in Verbindung steht. _ 4. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die wertklassen-empfindliche Anordnung -ein Fallbügelinstrument oder eine entsprechende- Vorrich--..-. tung- umfaßt' und daß die Speichereinheiten (i11 ... -1vln)in .-- der Reihenfolge d-er Klassen in Serie -geschaltet-snd, so daß jede Speichereinheit (beispielsweise 113) neben den in die Einheit selbst eingespeisten Signalen gleichzeitig die Eingangssignale sämtlicher Speichereinheiten niedrigerer Klassen (I4,1 und IvI2) speichert und somit die Zahl der in jeder Speichereinheit gespeicherten Signale laufend von der niedrigsten Klasse (1) zu der höchsten Klasse (n) ansteigt und daß der Kommutator (Ir.) derart ausgebildet ist, daß er die Speichereinheiten zuerst in steigender Reihenfolge der Klassen und anschließend in fallender Klassenreihenfolge abfragt zur Bildung einer Verteilungsfunktion, die spiegelbildlich zur höchsten Werteklasse verläuft. 5. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die wertklassen- empfindliche Anordnung aus einer Anzahl von niveauabhängigen Schaltungen entsprechend der Anzahl der Klassen bzw. Wertbereiche besteht, mit Schwellwerten entsprechend den unteren Grenzen der entsprechenden Testwertbereiche, wobei die Eingangsklemmen der Schaltungen zur Aufnahme des durch die Prüfung-ermittelten Signales parallelgeschaltet sind und die Ausgangsklemmen jeweils mit verschiedenen Speichereinheiten für die entsprechenden Klassen verbunden sind und so -jedes Prüfsignal in all denjenigen Speichereinheiten gespeichert wird, deren niveauabhängige .Schaltung einen Schwellwert unterhalb der Amplitude des Prüfsignales besitzen und so die Zahl der gesreiclr;.ez#ten Signale in jeder Syiei- chereinheit lauf--#i.` von der niedrigsten Klasse (1) zu der höchsten !.--lasse (_) f"llt und weiterhin der Iiommutator zur Abrufung der Speichereinheiten derart ausgebildet- i:-3t, daß er zuerst in einer fallenden I,--lass enreihenfolge und anschließend in einer steigenden I#,'lassenfolge die äpei- chereinheiten abruft zur 3ildung einer Verteilungsfunk- tion, spiegelsymmetrisch zur höchsten L.-lasse. 6. Einrichtung nach. einem der Ansprüche 3, 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die_ Auswertevorrichtung einen Indikator (C), wie beis:Fielsweise eine Kathoden- Strahlröhre oder Drucker, umfaßt zur-visuellen ßeproduk- tion des die Verteilungsfunktion darstellenden_ Signales. 7. Einrichtung nach den Ansprüchen 4, 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet" daß die Auswertevorrichtung eine vom Signalniveau abhängige Trigger-Schaltung umfaßt, die ein zwischengeschaltetes Impulstor zwischen einer Signal- quelle und einem von dieser Signalquelle gespeisten An- zeigeinstrument darstellt,. wobei die Trigger-Schaltung derart ausgebildet ist, daß bei einem vorgegebenen-ersten niedrigen Niveau bzw. Amplitude der durch den ansteigen- den Teil des Signales dargestellten Verteilungskurve das
Irz@ulscur -eöffnet ist und boi einetu zareiteä: vor,_;egebenen höheren L'iveazi in artsteigenden Ast des Si`nales das Im- Pulstor schließt, so dais eine vo7, einen "irzeigeinstrument re-istrierte Impulskette ent-teht, in äer die Impulsl<Enge (If) ein Na:, für der>` 'fnhrscheinlici@keitsber eich der V ertei- ltirtsfiznk-tion und dati?it für die =:,;treuurz@ Lzca. -ie '.@ittel-- wertabweichuns der Funktion darstellt. `:ir=r:ic-@tlü1 n@@@ _.@ns;>a#izclz 7, durch zeichnet, #ta" das [email protected]@trvtaezxt aus einem i;ektifizierT in3triit.zE#tit Des teht mit ei r_er Aulenkung proportional zur äit:l damit proportional--zur :3 trezt .@ und
3. Device for performing the method according to claim 1 or 2, characterized by the combination of a value class-sensitive arrangement. in connection with a number of storage units (M1, M2 ... Mn), each of which has a different range or class of test values obtained by. the test of the fluctuating process is assigned, the value class-sensitive arrangement being designed in such a way that a signal is generated for each individual test carried out: that the class or memory unit corresponding to this signal is fed into, -and a commutator ( K) is arranged, which is connected to the output terminals of the memory for repeated periodic interrogation of the .Speicher in a sequence arranged in classes for obtaining a periodically repeated series of output signals with an amplitude proportional to the number of individual signals stored in the individual storage units, wherein the output signals together form a distribution function which initially increases in amplitude and then decreases in time-dependent steps for the test values, and furthermore an alternate chain filter arrangement (F) connected to the output terminal of the commutator (K) for the separation of the steps forming the harmonics is and an evaluation device htung (0 or U) with the output of the filter arrangement (F). to the results. which is then connected to the distribution function having a continuous derivative. _ 4. Device according to claim 3, characterized in that the value class-sensitive arrangement -a drop arm instrument or a corresponding device --..-. tung comprises' and that the storage units (i11 ... -1vln) .-- in the order of the classes in series-turned & snd, so that each memory unit (such as 113) in addition to the self-fed to the unit at the same time signals stores the input signals of all memory units of lower classes (I4,1 and IvI2) and thus the number of signals stored in each memory unit increases continuously from the lowest class (1) to the highest class (n) and that the commutator (Ir.) is designed in this way is that it queries the storage units first in ascending order of the classes and then in descending order to form a distribution function that is a mirror image of the highest value class. 5. Device according to claim 3, characterized in that the value class-sensitive arrangement consists of a number of level-dependent circuits corresponding to the number of classes or value ranges, with threshold values corresponding to the lower limits of the corresponding test value ranges, the input terminals of the circuits for receiving the are connected in parallel by the test-determined signal and the output terminals are each connected to different memory units for the corresponding classes and so-each test signal is stored in all those memory units whose level-dependent .Schaltung have a threshold value below the amplitude of the test signal and so the number of gesreiclr; .ez # th signals in each Syiei- ch unit run - # i.` from the lowest class (1) to the highest! .-- let (_) fall and continue to be the Iiommutator designed to retrieve the storage units - i: -3t, that he is first in a falling I, - let en sequence and then in an increasing I #, 'let the sequence calls up chunks to form a distribution radio tion, mirror-symmetrical to the highest L.-lasse. 6. Set up after. one of claims 3, 4 or 5, characterized in that the_ evaluation device an indicator (C), such as: In some cases a cathode Jet tube or printer, includes for-visual ßeprodukt- tion of the signal representing the distribution function. 7. Device according to claims 4, 5 or 6, characterized in "that the evaluation device a includes trigger circuit dependent on the signal level, the an interposed impulse gate between a signal source and an input supplied by this signal source pointing instrument represents. being the trigger circuit is designed such that at a predetermined-first low level or amplitude of the the part of the signal represented distribution curve that
Irz @ ulscur -is open and boi einetu zareiteä: before, _; egiven higher L'iveazi in the descending branch of the Si`nales the im- Pulstor concludes, according to one vo7, a "showcase instrument" A re-istrated impulse chain arises, in the outer the impulse length is narrow (If) a Na :, for the> `` 'Fnhrscheinlici @ keitsbereich the distribution ltirtsfiznk-tion and dati? it for the =:,; treuurz @ Lzca. -ie '. @ ittel-- value deviation of the function. `: ir = r: ic- @ tlü1 n @@@ _. @ ns;> a # izclz 7, by drawing, #ta" the .z_zei @ 3ei.xz @ trvtaezxt from an i; ectified in3triit.zE # tit It is with a deflection proportional to the äit: l thus proportional - to: 3 trezt. @ and
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3410572A1 (en) * 1983-03-22 1984-09-27 Rockwell-Rimoldi S.p.A., Olcella, Mailand/Milano DEVICE FOR PROCESSING PRODUCT SAMPLE SAMPLE DATA
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US4720806A (en) * 1984-03-31 1988-01-19 Barmag Ag Method and apparaus for centrally collecting measured values
DE10348741A1 (en) * 2003-10-16 2005-05-12 Saurer Gmbh & Co Kg Method for visually presenting compliance with given effects

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