DE1171173B - Spannungsoptisches Untersuchungsverfahren und Messelement zur Durchfuehrung des Verfahrens - Google Patents
Spannungsoptisches Untersuchungsverfahren und Messelement zur Durchfuehrung des VerfahrensInfo
- Publication number
- DE1171173B DE1171173B DEO6284A DEO0006284A DE1171173B DE 1171173 B DE1171173 B DE 1171173B DE O6284 A DEO6284 A DE O6284A DE O0006284 A DEO0006284 A DE O0006284A DE 1171173 B DE1171173 B DE 1171173B
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- stress
- measuring element
- element according
- optical
- optical measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 14
- 238000011835 investigation Methods 0.000 title description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 15
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims description 2
- 239000007779 soft material Substances 0.000 claims description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 claims 1
- 238000010073 coating (rubber) Methods 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 1
- 238000002845 discoloration Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
- G01B11/18—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge using photoelastic elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
- G01B11/168—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge by means of polarisation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/24—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet
- G01L1/241—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet by photoelastic stress analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
- Spannungs optisches Untersuchungsverfahren und Meßelement zur Durchführung des Verfahrens -Die Erfindung bezieht sich auf ein spannungsoptisches Untersuchungsverfahren unter Verwendung einer spannungsoptisch aktiven Schicht, welche an auf ihren Spannungszustand zu untersuchenden Körpern zweckmäßig unter Zwischenschaltung eines Spiegels befestigt und mit polarisiertem Licht bestrahlt wird. Weiterhin ist Gegenstand der Erfindung ein Meßelement zur Durchführung des Verfahrens.
- Die bisherigen Untersuchungsverfahren dieser Art liefern Anzeigen, die -nur bei Verwendung von teuren und schwer zu bedienenden, optischen Feinmeßgeräten die notwendige Meßgenauigkeit ergeben.
- So ist z. B. vorgeschlagen worden, die in spannungsoptisch aktiven Medien bei mechanischer Verformung eintretende Verfärbung als Anzeige für einen bestimmten Spannungszustand, d. h. für eine bestimmte Dehnung heranzuziehen. Auch bei den polarisationsoptischen Schichtverfahren zur Messung der Oberflächenspannung an beanspruchten Bauteilen (s. VDI-Zeitschrift, Bd. 81, S. 803/804, 1937) waren optische Feinmeßgeräte unerläßlich.
- Das erfindungsgemäße Verfahren ist demgegenüber dadurch gekennzeichnet, daß bereits im unbelasteten Zustand ein Interferenzraster erzeugt wird, welches durch die spannungsoptisch aktive Schicht eine meßbare Verschiebung erfährt, sobald in dieser Schicht Spannungen auftreten.
- Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren sind die Verschiebungen des Interferenzrasters auch bei geringen Dehnungen der spannungsoptisch aktiven Schicht so groß, daß sie mit dem unbewaffneten Auge wahrgenommen werden können.
- Ein spannungsoptisches Meßelement zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens kennzeichnet sich dadurch, daß die spannungsoptisch aktive Schicht aus einem optisch inhomogenen Medium besteht, in welchem durch die Inhomogenität zwischen benachbarten Lichtstrahlen eine Phasenverschiebung eintritt, wodurch ein Interferenzraster erzeugt wird. Derartige optisch inhomogene Medien lassen sich durch besondere Behandlung von unter Spannung stehenden Körpern erzeugen; die Spannungszustände frieren dabei gewissermaßen ein. Die Verwendung solcher inhomogener Medien ist von den spannungsoptischen Untersuchungsverfahren dreidimensionaler Körper am Modell her bekannt.
- Ein Interferenzraster kann auch dadurch erzeugt werden, daß der spannungsoptisch aktiven Schicht eine keilförmige, Interferenzen gleicher Dicke erzeugende Platte beigelegt ist.
- Da in der Spannungsoptik mit polarisiertem Licht gearbeitet werden muß, legt man zweckmäßig, wie bei spannungsoptischen Meßelementen bekannt, einen Polarisationsfilm dem Meßelement unmittelbar bei. Eine andere Möglichkeit besteht natürlich darin, auf das Meßelement Licht von einer polarisierten Lichtquelle her einfallen zu lassen und das Interferenzraster durch ein weiteres Polarisationsfilter zu betrachten. Die Ablesung des Spannungszustandes ist am einfachsten dann, wenn mit dem Meßelement eine Skala vereinigt ist.
- Um an einem Meßelement nur die in einer bestimmten Richtung wirksamen Spannungen angreifen zu lassen, bringt man dieses in bekannter Weise nur in bestimmten Zonen in kraftübertragende Verbindung mit dem auf seinen Spannungszustand zu untersuchenden Körper. Zweckmäßig bildet man das Meßelement als länglichen Streifen aus, der nur an seinen beiden Endabschnitten mit dem Körper verbunden wird.
- Um an den übrigen Stellen die Verbindung des Meßelementes mit dem Körper zu verhindern, belegt man das Meßelement zwischen seinen Endabschnitten und an seinen längsseitigen Begrenzungsfiächen mit einem weichen Werkstoff.
- Will man neben der Direktablesung des spannungsoptischen Meßstreifens auch die Möglichkeit einer Fernablesung schaffen, so vereinigt man das spannungsoptische Meßelement in bekannter Weise mit einem dehnungsempfindlichen Widerstandsdraht oder einer Widerstandsfolie nach Art der bekannten Dehnungsmeßstreifen.
- Um die Empfindlichkeit des spannungsoptischen Meßelementes noch zu erhöhen, kann man in der spannungsoptisch aktiven Schicht, wie bekannt, spannungserhöhende Kerben, Bohrungen od. dgl. vorsehen.
- Die Zeichnungen zeigen Ausführungsbeispiele der Erfindung. Es stellt dar Fig. 1 eine Draufsicht auf ein erfindungsgemäßes Meßelement, Fig. 2 einen Schnitt nach Linie II-II der F i g. 1, F i g. 3 eine Draufsicht auf ein erfindungsgemäßes Meßelement mit Ableseskala, Fig. 4 einen der Fig. 2 entsprechenden Schnitt durch eine andere Ausführungsform, F i g. 5 ein spannungsoptisches Meßelement mit dehnungsempfindlichem Widerstand, F i g. 6 einen Schnitt nach Linie VI-VI der F i g. 5.
- In Fig. 1 ist auf einem StablO ein erfindungsgemäßes spannungsoptisches Meßelement befestigt, welches allgemein mit 12 bezeichnet ist. Die Befestigung an dem Stab 10 ist an den beiden Enden des Meßelementes bei 14 und 16 mit Hilfe eines Klebstoffes hergestellt. Das Meßelement besteht aus einer spannungsoptisch aktiven Schicht 18, welche an ihrer Unterseite mit einem Spiegel 20 versehen, etwas versilbert ist und auf ihrer versilberten Fläche eine Gummierung 22 trägt; die Gummierung 22 ist wesentlich weicher als die spannungsoptische Schicht 18. Auf die Deckfläche der spannungsoptischen Schicht 18 ist eine Polarisationsfolie 24 aufgeklebt.
- In F i g. 3 erkennt man ein System von Interferenzstreifen 26. Diese Interferenzstreifen erfahren bei Dehnung des Meßelementes eine Verschiebung in Richtung des Pfeiles 28. Aus der Verschiebung der Interferenzstreifen 26 gegenüber einer Skala 30 erhält man ein Maß für die im Prüfkörper herrschenden Spannungen. Bei Berücksichtigung des Elastizitätsmoduls der spannungsoptisch aktiven Schicht kann die Skala in Dehnungseinheiten geeicht werden.
- Während in der Ausführungsform nach den F i g. 1 bis 3 das Entstehen des Interferenzrasters auf die optische Inhomogenität der spannungsoptisch aktiven Schichtl8 zurückzuführen ist, wird in der Ausführungsform nach Fig. 4 das Interferenzraster durch eine keilförmige Interferenzen gleicher Dicke erzeugende Schicht 32 gebildet. Im übrigen stimmt die Ausführungsform nach Fig. 4 in allen Einzelheiten mit der Ausführungsform nach den Fig. 1 bis 3 überein. Die in der Fig. 4 erzeugten Interferenzstreifen liegen ähnlich wie in der Fig. 3; ihre Lage kann ebenfalls mit Hilfe einer Skala ermittelt werden.
- In den Fig. 5 und 6 ist ein spannungsoptisches Meßelement dargestellt, welches mit Widerstandsdrähten 34 versehen ist. Diese Widerstandsdrähte ändern bei mechanischer Dehnung ihren Widerstandswert, so daß neben der optischen Anzeige des Spannungszustandes auch eine elektrische Anzeige zur Verfügung steht. Die Kombination des spannungsoptischen Meßelementes mit dem elektrischen Meßelement hat den besonderen Vorteil, daß eine ständige Nullpunktkontrolle zur Verfügung steht.
- Fehler, die durch das Ankleben hereinkommen, werden durch Verzerrung des Interferenzrasters sichtbar und können daher berücksichtigt werden.
- Würde man elektrische Dehnungsmeßstreifen allein verwenden, so könnten derartige Fehler nicht entdeckt werden und würden zu falschen Meßergebnissen führen.
- Die insbesondere aus den F i g. 1, 3 und 5 zu entnehmende Art der Befestigung des Meßstreifens an dem zu untersuchenden Körper bewirkt, daß der Meßstreifen nur den jeweils interessierenden Span- nungen ausgesetzt ist, während die übrigen Spannungen durch die Zwischenschaltung der verhältnismäßig weichen Gummierung 22 ausgeschaltet werden.
Claims (12)
- Patentansprüche: 1. Spannungsoptisches Untersuchungsverfahren unter Verwendung einer spannungsoptisch aktiven Schicht, welche an auf ihren Spannungszustand zu untersuchenden Körpern zweckmäßig unter Zwischenschaltung eines Spiegels befestigt und mit polarisiertem Licht bestrahlt wird, d a -durch gekennzeichnet, daß bereits im unbelasteten Zustand ein Interferenzraster erzeugt wird, welches durch die spannungsoptisch aktive Schicht eine meßbare Verschiebung erfährt, sobald in dieser Schicht Spannungen auftreten.
- 2. Spannungsoptisches Meßelement zur durch führung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die spannungsoptisch aktive Schicht aus einem optisch inhomogenen Medium besteht, in welchem durch die Inhomogenität eine Phasenverschiebung zwischen benachbarten Lichtstrahlen eintritt, wodurch ein Interferenzraster erzeugt wird.
- 3. Spannungsoptisches Meßelement nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das optisch inhomogene Medium ein Medium mit eingefrorenem Spannungszustand ist.
- 4. Spannungsoptisches Meßelement nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der spannungsoptisch aktiven Schicht eine keilförmige, Interferenzen gleicher Dicke erzeugende Platte beigelegt ist.
- 5. Spannungsoptisches Meßelement nach Anspruch 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß es in an sich bekannter Weise mit einer Polarisationsfolie vereinigt ist.
- 6. Spannungsoptisches Meßelement nach Anspruch 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß es mit einer Skala für die Ablesung der Interferenzrastereinstellung versehen ist.
- 7. Spannungsoptisches Meßelement nach Anspruch 2 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß es in an sich bekannter Weise auf den auf seinen Spannungszustand zu untersuchenden Körper aufgeklebt ist.
- 8. Spannungsoptisches Meßelement nach Anspruch 2 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß es in an sich bekannter Weise nur in bestimmten Zonen in kraftübertragender Verbindung mit dem auf seinen Spannungszustand zu untersuchenden Körper steht.
- 9. Spannungsoptisches Meßelement nach Anspruch 2 bis 8 in Form eines länglichen Streifens, dadurch gekennzeichnet, daß nur die beiden Endabschnitte mit dem Körper verbunden sind.
- 10. Spannungsoptisches Meßelement nach Anspruch 2 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß es zwischen seinen Endabschnitten und an seinen längsseitigen Begrenzungsflächen mit einem weichen Werkstoff belegt ist.
- 11. Spannungsoptisches Meßelement nach Anspruch 2 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß es in an sich bekannter Weise mit einem dehnungsempfindlichen Widerstandsdraht oder einer Widerstandsfolie vereinigt ist.
- 12. Spannungsoptisches Meßelement nach Anspruch 2 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß in an sich bekannter Weise in der spannungsoptisch aktiven Schicht zur Erhöhung der Spannung Kerben, Bohrungen od. dgl. vorgesehen sind.In Betracht gezogene Druckschriften: Französische Patentschriften Nr. 1 102 216, 1161842, 1163306; »Revue de Metallurgie (Memoires)«, Bd. 53, 1956, H. 8, S. 638 bis 644.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEO6284A DE1171173B (de) | 1958-07-25 | 1958-07-25 | Spannungsoptisches Untersuchungsverfahren und Messelement zur Durchfuehrung des Verfahrens |
US816918A US3313204A (en) | 1958-07-25 | 1959-05-29 | Photoelastic strain gauge with bult-in stress pattern |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEO6284A DE1171173B (de) | 1958-07-25 | 1958-07-25 | Spannungsoptisches Untersuchungsverfahren und Messelement zur Durchfuehrung des Verfahrens |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1171173B true DE1171173B (de) | 1964-05-27 |
Family
ID=7350816
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEO6284A Pending DE1171173B (de) | 1958-07-25 | 1958-07-25 | Spannungsoptisches Untersuchungsverfahren und Messelement zur Durchfuehrung des Verfahrens |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3313204A (de) |
DE (1) | DE1171173B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0962744A1 (de) * | 1998-06-02 | 1999-12-08 | European Community | Differenzieller Krümmungswandler |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3445168A (en) * | 1965-10-28 | 1969-05-20 | Vishay Intertechnology Inc | Process and element for strain measurement |
US3495907A (en) * | 1966-02-01 | 1970-02-17 | Donald E Rogers | Indicating means |
US3782182A (en) * | 1971-04-29 | 1974-01-01 | Vishay Intertechnology Inc | Strain multiplier |
US3994598A (en) * | 1975-09-15 | 1976-11-30 | Reytblatt Zinovy V | Photoelastic strain gauge coating |
US4320966A (en) * | 1979-05-16 | 1982-03-23 | Reytblatt Zinovy V | Fourier processor of photoelastic data and method of using same |
DE3638338A1 (de) * | 1986-11-10 | 1988-05-19 | Enguvu Ag Baar | Bewegungsmessvorrichtung |
US10539813B2 (en) | 2004-01-28 | 2020-01-21 | Pamela Saha | Deformable photoelastic device |
US9109882B1 (en) * | 2004-01-28 | 2015-08-18 | Pamela Saha | Deformable photoelastic device |
US8107076B1 (en) * | 2004-10-26 | 2012-01-31 | Pamela Saha | Polariscope toy and ornament with accompanying photoelastic and/or photoplastic devices |
US9661869B2 (en) | 2004-10-26 | 2017-05-30 | Pamela Saha | Polariscope toy and ornament with accompanying photoelastic and/or photoplastic devices |
US7434480B2 (en) * | 2005-12-14 | 2008-10-14 | The Boeing Company | Methods and systems for using active surface coverings for structural assessment and monitoring |
US8525979B2 (en) * | 2008-06-16 | 2013-09-03 | Duhane Lam | Monitoring device for detecting stress strain and method for using same |
WO2012111317A1 (ja) * | 2011-02-14 | 2012-08-23 | 株式会社環境総合テクノス | 自然および人工構造物変状検知装置 |
JP6658024B2 (ja) * | 2016-02-04 | 2020-03-04 | コニカミノルタ株式会社 | 駆動装置及び歪み制御方法 |
CN112729143B (zh) * | 2020-12-16 | 2022-03-22 | 江苏大学 | 基于比率荧光技术的发光光弹性涂层应变测量***及方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1102216A (fr) * | 1954-04-03 | 1955-10-18 | Snecma | Procédé et dispositif d'extensométrie photo-élastique |
FR1161842A (fr) * | 1956-11-26 | 1958-09-04 | Dispositif pour la détection de tensions mécaniques | |
FR1163306A (fr) * | 1956-12-14 | 1958-09-24 | Procédé de détermination des contraintes mécaniques et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procédé |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2014688A (en) * | 1930-11-10 | 1935-09-17 | Mabboux Georges | Process and device for the application of elasticimetry, particularly of photoelasticimetry |
US2074106A (en) * | 1935-02-28 | 1937-03-16 | Bausch & Lomb | Metallographic illuminating system and prism therefor |
US2174269A (en) * | 1936-10-01 | 1939-09-26 | Polaroid Corp | Strain tester |
US2120365A (en) * | 1936-12-21 | 1938-06-14 | Sheet Polarizer Company Inc | New and improved viewing device for use in the examination of photoelastic effects |
US2322319A (en) * | 1939-09-16 | 1943-06-22 | Arthur C Ruge | Strain responsive apparatus |
US2625850A (en) * | 1950-02-16 | 1953-01-20 | John S Stanton | Method and apparatus for assessing transient stresses within bodies |
US2672048A (en) * | 1952-02-14 | 1954-03-16 | Baldwin Lima Hamilton Corp | Temperature compensated strain gauge |
US2724964A (en) * | 1952-09-02 | 1955-11-29 | Magnaflux Corp | Method of determining strain values in rigid articles |
US2813958A (en) * | 1955-07-20 | 1957-11-19 | Revere Corp America | Weighing cells |
FR1148457A (fr) * | 1955-11-10 | 1957-12-10 | Snecma | Perfectionnements aux appareils d'extensométrie photoélastique |
FR71278E (fr) * | 1957-04-19 | 1959-11-02 | Snecma | Perfectionnements aux appareils d'extensométrie photoélastique |
-
1958
- 1958-07-25 DE DEO6284A patent/DE1171173B/de active Pending
-
1959
- 1959-05-29 US US816918A patent/US3313204A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1102216A (fr) * | 1954-04-03 | 1955-10-18 | Snecma | Procédé et dispositif d'extensométrie photo-élastique |
FR1161842A (fr) * | 1956-11-26 | 1958-09-04 | Dispositif pour la détection de tensions mécaniques | |
FR1163306A (fr) * | 1956-12-14 | 1958-09-24 | Procédé de détermination des contraintes mécaniques et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procédé |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0962744A1 (de) * | 1998-06-02 | 1999-12-08 | European Community | Differenzieller Krümmungswandler |
WO1999063303A1 (en) * | 1998-06-02 | 1999-12-09 | European Community (Ec) | Differential curvature transducer |
US6465800B1 (en) | 1998-06-02 | 2002-10-15 | European Community (Ec) | Differential transducer for measuring the curvature variations of a surface |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3313204A (en) | 1967-04-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1171173B (de) | Spannungsoptisches Untersuchungsverfahren und Messelement zur Durchfuehrung des Verfahrens | |
DE4000326C2 (de) | Drucksensor | |
EP0487450A2 (de) | Verfahren und Einrichtungen zur faseroptischen Kraftmessung | |
EP0736750B1 (de) | Positionsmesseinrichtung | |
EP0342192B1 (de) | Optischer kraftmess-sensor | |
EP0025815A1 (de) | Verfahren zur Dehnungs-Überwachung von auf Zug beanspruchten Bauteilen | |
DE3611119C1 (de) | Sensoranordnung | |
DE3729409C2 (de) | ||
DE2658399A1 (de) | Interferometrisches verfahren | |
EP0062192A2 (de) | Verfahren zur optischen Messung eines Weges | |
DE7325857U (de) | Beschleunigungsmesser | |
DE1233170B (de) | Vorrichtung zum Ermitteln der sechs Deformationskomponenten in Bauwerken aus Beton | |
DE2837945A1 (de) | Dehnungstransformator | |
DE3120653A1 (de) | "vorrichtung zur bestimmung von bewegungsgroessen bzw. kriechzustaenden an materialien" | |
DE2808041A1 (de) | Messwertaufnehmer zur erfassung von zug- und/oder druckbelastung eines kraftuebertragungsgliedes | |
DE2149438C3 (de) | Anordnung zum Messen der Komponente einer auf einen Körper wirkenden Kraft | |
DE4124685A1 (de) | Verfahren und anordnung zur messung einer mechanischen groesse | |
DE1023905B (de) | Vorrichtung zum Anzeigen des Groesstmasses kleiner, rasch verlaufender AEnderungen des gegenseitigen Abstandes zweier Bezugspunkte, insbesondere an von Kraeften beanspruchten Maschinenteilen | |
DE175891C (de) | ||
DE913244C (de) | Verfahren zur UEberwachung der elastischen Lagerung von Flugmotoren u. dgl. | |
DE1541455C (de) | Anordnung zum Bestimmen der Leistung eines Laserstrahles | |
AT398845B (de) | Gerät zum messen und/oder prüfen von neigungen | |
DE952134C (de) | Elektroscher Druckindikator | |
DE102011006922A1 (de) | Messwandler für die Sensortechnik | |
DE934196C (de) | Verfahren zur experimentellen Ermittlung von Biegungsmomenten an Modellen von Flaechentragwerken |