DE112010002063B4 - Feldemissions-Elektronenkanone und Elektronenstrahlvorrichtung mit einer solchen Feldemissions-Elektronenkanone - Google Patents

Feldemissions-Elektronenkanone und Elektronenstrahlvorrichtung mit einer solchen Feldemissions-Elektronenkanone Download PDF

Info

Publication number
DE112010002063B4
DE112010002063B4 DE112010002063.9T DE112010002063T DE112010002063B4 DE 112010002063 B4 DE112010002063 B4 DE 112010002063B4 DE 112010002063 T DE112010002063 T DE 112010002063T DE 112010002063 B4 DE112010002063 B4 DE 112010002063B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
electron gun
field emission
extraction electrode
electron
electron beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE112010002063.9T
Other languages
English (en)
Other versions
DE112010002063T5 (de
Inventor
Mikio Ichihashi
Takashi Onishi
Shunichi Watanabe
Keiji Tamura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Hitachi High Tech Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp, Hitachi High Tech Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Publication of DE112010002063T5 publication Critical patent/DE112010002063T5/de
Application granted granted Critical
Publication of DE112010002063B4 publication Critical patent/DE112010002063B4/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/06Electron sources; Electron guns
    • H01J37/063Geometrical arrangement of electrodes for beam-forming
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/06Electron sources; Electron guns
    • H01J37/073Electron guns using field emission, photo emission, or secondary emission electron sources
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/10Lenses
    • H01J37/14Lenses magnetic
    • H01J37/141Electromagnetic lenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/06Sources
    • H01J2237/063Electron sources
    • H01J2237/06308Thermionic sources
    • H01J2237/06316Schottky emission
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/06Sources
    • H01J2237/063Electron sources
    • H01J2237/06325Cold-cathode sources
    • H01J2237/06341Field emission
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/06Sources
    • H01J2237/065Source emittance characteristics
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/26Electron or ion microscopes

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

Feldemissions-Elektronenkanone, bei der aus einer Kathode ein Elektronenstrahl extrahiert wird und der extrahierte Elektronenstrahl gebündelt wird, miteiner Magnetfeldlinse (207, 209), die derart angeordnet ist, daß sich die Kathode innerhalb des Magnetfeldes der Linse befindet; und miteiner Extraktionselektrode (203, 403, 503, 603, 703) zum Extrahieren von Elektronen aus der Kathode,dadurch gekennzeichnet, dassdie Extraktionselektrode eine zylindrische Form mit konstantem Innendurchmesser (d) ohne Blendenstruktur aufweist.

Description

  • Technisches Gebiet
  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Elektronenkanone und insbesondere eine Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone (Kalt-FE-Elektronenkanone) mit einem Elektronenstrahl hoher Leuchtkraft.
  • Stand der Technik
  • Bei einem Elektronenmikroskop wird das zu betrachtende Material (die Probe) mit einem Elektronenstrahl bestrahlt, der von einer Elektronenkanone ausgesendet wird, wobei der Elektronenstrahl mittels eines elektronenoptischen Systems wie einer Elektronenlinse und einem Deflektor gesteuert wird. Das Prinzip des Elektronenmikroskops liegt darin, Transmissionselektronen, die die bestrahlte Probe durchsetzt haben, reflektierte Elektronen und Sekundärelektronen zu erfassen, die durch die Wechselwirkung zwischen der Probe und dem Elektronenstrahl erzeugt wurden, und damit die Probe vergrößert zu betrachten. Die Elektronenkanone zum Erzeugen des Elektronenstrahls spielt bei diesem Elektronenmikroskop eine wichtige Rolle.
  • Bei einem typischen Aufbau des Elektronenmikroskops umfaßt die Elektronenkanone zum Erzeugen des Elektronenstrahls eine Kombination aus einem Bestrahlungssystem, einer elektromagnetischen Linse wie einer Objektivlinse und einer Erfassungsvorrichtung für den Elektronenstrahl. Die elektromagnetische Linse hat die Funktion, den Elektronenstrahl so zu führen und zu bündeln, daß er die Probe bestrahlt.
  • Um in kurzer Zeit ein klares Beobachtungsbild mit hoher Auflösung zu erhalten, ist es erforderlich, die Probe mit einem hellen Elektronenstrahl (einem großen Strahlstrom) zu bestrahlen, der auf einen kleinen Punkt auf der Probe konvergiert wird. Um auf der Probe einen kleinen und hellen Elektronenstrahlpunkt auszubilden, ist es erforderlich, die Leuchtkraft der Elektronenkanone zu erhöhen. Die Leuchtkraft eines Elektronenstrahls ist definiert als die Größe des Stroms pro Fläche pro Raumwinkel der Lichtquelle, und nach den Prinzipien der Elektronenoptik kann die Leuchtkraft eines Elektronenstrahls, der eine elektromagnetische Linse ohne Änderung seiner Energie durchläuft, nicht die ursprüngliche Leuchtkraft überschreiten. Aus diesem Grund ist eine Elektronenkanone hoher Leuchtkraft erforderlich, um ein Elektronenmikroskop mit hoher Leuchtkraft zu erhalten.
  • Für Elektronenmikroskope mit hoher Auflösung werden gern Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanonen (C-FE-Elektronenkanonen) als Elektronenkanonen mit hoher Leuchtkraft verwendet. Gemäß dem Prinzip der Elektronenstrahlerzeugung wird bei solchen Elektronenkanonen am vorderen Ende eines Wolfram-Einkristalls, der durch eine Elektrofeldpolitur sehr spitz gemacht wurde, ein starkes elektrisches Feld erzeugt, das einen Elektronenstrahl extrahiert. Die Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone entspricht mehr als alle anderen Arten von Elektronenquellen einer Punktlichtquelle, so daß ein Elektronenstrahl mit hoher Leuchtkraft erhalten wird. Außerdem kann mit einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone ein Elektronenstrahl erzeugt werden, in dem die Energiefluktuationen (die Energiebreite ΔE) der einzelnen Elektronen im extrahierten Elektronenstrahl klein ist.
  • Bisher werden vor allem Elektronenkanonen verwendet, die durch das Kombinieren einer solchen Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone mit einer elektrostatischen Linse, wie sie von Butler und anderen 1966 eingeführt wurde, erhalten werden.
  • Die 1 zeigt den Aufbau einer typischen Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone mit einer elektrostatischen Linse vom Butler-Typ. Eine Extraktions-Spannungsquelle 105 erzeugt zwischen einer Elektronenquelle 101 und einer Extraktionselektrode 110 eine Potentialdifferenz (V1), die am vorderen Ende der Elektronenquelle 101 (in der 1 dem unteren Ende der Elektronenquelle 101) ein elektrisches Feld erzeugt. Das elektrische Feld führt zu einer Feldemission an der Elektronenquelle 101, und es wird ein Elektronenstrahl emittiert. Ein Teil des emittierten Elektronenstrahls läuft durch eine Blende 109 in der Extraktionselektrode 110 und wird durch die elektrostatische Linsenwirkung des von Elektroden 103 und 104 vom Butler-Typ zwischen der Extraktionselektrode 110 und einer Anode 107 gebildeten elektrischen Feldes gebündelt. Dabei wird dieser Teil des emittierten Elektronenstrahls durch die Potentialdifferenz (V0 - V1) zwischen der Extraktionselektrode und der Anode beschleunigt (wenn der Betrag des Beschleunigungspotentials |V0| > dem Betrag des Extraktionspotentials |V1| ist) oder abgebremst (wenn |V0| < |V1| ist) und zur Probe hin abgegeben.
  • Aufgrund dieses Aufbaus ist die Elektronenkanone relativ klein, was für die Erzeugung eines Ultrahochvakuums günstig ist. Außerdem hat dieser Aufbau den Vorteil, daß die elektrostatische Linse den Elektronenstrahl gleichzeitig beschleunigen und bündeln kann.
  • Ungünstigerweise ist jedoch bei dieser Elektronenkanone der entnehmbare Gesamtstrom kleiner als bei anderen Arten von Elektronenquellen, etwa einer Schottky-Elektronenquelle, und wenn ein großer Strom entnommen werden soll, ist es erforderlich, einen Elektronenstrahl zu verwenden, der von einem Chip unter einem großen Winkel abgegeben wird. Andererseits nimmt bei einer solchen Elektronenkanone die Leuchtkraft (effektive Leuchtkraft) aufgrund des Einflusses der Aberration der elektrostatischen Linse wieder ab, wenn mehrere Prozent des vom Chip (der Kathode) emittierten Gesamtstroms entnommen werden. Je größer der entnommene Strom ist, um so stärker zeigt sich dieser Effekt. Es ist schwierig, die Aberration der elektrostatischen Linse zu verringern. Aus diesem Grund werden bei Untersuchungs-Elektronenmikroskopen, bei denen für eine elementare Analyse oder für eine andere Analyse ein hoher Strahlstrom erforderlich ist, die Leuchtkraft und die Energiebreite auf den zweiten Platz gesetzt, und es wird in vielen Fällen eine andere Elektronenquelle verwendet, etwa eine Schottky-Elektronenquelle (eine Heißkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone).
  • Es wurde vorgeschlagen, zur Erhöhung der Leuchtkraft der Elektronenkanone bei der herkömmlichen Heißkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone zum Bündeln des Elektronenstrahls eine Magnetfeldlinse zu verwenden.
  • Zur Verringerung der Aberration wurde vorgeschlagen, einen Aufbau mit einer größeren Anzahl von Elementen (als Aufbau vom Immersionstyp bezeichnet) zu verwenden, bei dem die Elektronenquelle sich im Inneren eines Magnetfeldes befindet. Der in der Patentliteratur 1 beschriebene Aufbau ist von einer solchen Art, wobei sich unmittelbar unter einer Elektronenkanone eine durch ein Magnetfeld gebildete Sammellinse befindet. In den Patentliteraturstellen 2 bis 7 sind bekannte Beispiele für den Aufbau vom Immersionstyp beschrieben.
  • Die Aufbauten enthalten bei diesen bekannten Beispielen generell eine Heißkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone und unterscheiden sich darin stark von einem Aufbau mit einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone, daß ein Fanggitter vorgesehen ist. Das Fanggitter, das für die Heißkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone kennzeichnend ist, hat die Aufgabe, thermische Elektronen zu entfernen, die von dem Heizfaden neben der Elektronenquelle emittiert werden, wobei die thermischen Elektronen mit einem negativen Potential an der Elektronenquelle zum Fanggitter geführt werden.
  • Bei der Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone gibt es keinen Heizfaden, so daß keine thermischen Elektronen emittiert werden und kein Fanggitter erforderlich ist. Bei der Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone ist neben der Elektronenquelle nur die Extraktionselektrode angeordnet, die dazu dient, am vorderen Ende der Elektronenquelle ein großes elektrisches Feld zu erzeugen, um an diesem vorderen Ende eine Feldemission herbeizuführen.
  • Wegen dieser Unterschiede im Aufbau ist der optimale Aufbau bei einer Heißkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone ein anderer als bei einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone, auch wenn es sich um eine Elektronenkanone vom Immersionstyp mit einer Magnetfeldlinse handelt. Daher kann wegen der später noch erläuterten Gründe mit den bekannten Aufbauten bei einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone keine hohe Leistung erhalten werden.
  • Zitierliste
  • Patentliteratur
  • Patentliteratur 1: JP S64 - 76654 A
    • Patentliteratur 2: JP H02 - 297 852 A
    • Patentliteratur 3: JP 2000-3689 A
    • Patentliteratur 4: JP 2000-90866 A
    • Patentliteratur 5: JP 2000-285839 A
    • Patentliteratur 6: JP H06 - 162 979 A
    • Patentliteratur 7: JP 2006-210254 A
  • Außerdem offenbart US 6392333 B1 eine Feldemissions-Elektronenkanone, von der der Oberbegriff der unabhängigen Ansprüche ausgeht. Verwandter Stand der Technik ist in US 2007/0085018 A1 , US 5155412 A und US 4295072 A offenbart.
  • Darstellung der Erfindung
  • Technisches Problem
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone mit geringer Aberration auch bei hohem Strom zu schaffen, um so eine Elektronenkanone mit hoher Leuchtkraft zu erhalten. Außerdem soll eine Elektronenstrahlvorrichtung mit einer solchen Elektronenkanone bereitgestellt werden.
  • Lösung des Problems
  • Die obige Aufgabe wird durch eine Feldemissions-Elektronenkanone und eine Elektronenstrahlvorrichtung nach den anhängenden Patentansprüchen gelöst.
  • Anders ausgedrückt umfaßt die vorliegende Einrichtung eine Feldemissions-Elektronenkanone mit einer Magnetfeldlinse, die so angeordnet ist, daß sich die Kathode innerhalb des Magnetfelds der Linse befindet, wobei die Konvergenzwirkung des Magnetfelds der Magnetfeldlinse größer ist als die Konvergenzwirkung eines elektrischen Feldes, das zum Beschleunigen des Elektronenstrahls zwischen der Extraktionselektrode zum Extrahieren von Elektronen aus der Kathode und einer Anode ausgebildet wird.
  • Vorteile der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung umfaßt eine Elektronenkanone mit einer Funktion zum Bündeln des Elektronenstrahls mittels eines Magnetfelds, wobei bei der Elektronenkanone die immer in geringem Umfang vorhandene elektrostatische Linsenwirkung herabgesetzt ist, so daß die Elektronenkanone eine geringe Aberration und eine hohe Leuchtkraft aufweist.
  • Figurenliste
    • 1 zeigt den Aufbau einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone mit einer elektrostatischen Linse vom Butler-Typ.
    • 2 zeigt den Aufbau einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone vom Immersions-Typ gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
    • 3 zeigt den Aufbau einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone vom Immersions-Typ gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
    • 4 zeigt den Aufbau einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone vom Immersions-Typ gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
    • 5 zeigt den Aufbau einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone vom Immersions-Typ gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
    • 6 zeigt den Aufbau einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone vom Immersions-Typ mit einer Beschleunigerröhre und einer Beschleunigungsspannung von 100 kV bis 300 kV gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
    • 7 zeigt den Aufbau einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone vom Immersions-Typ gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
    • 8 zeigt die Beziehung zwischen der angelegten Spannung und der Stärke des elektrischen Feldes am vorderen Ende eines Chips bei einer zylindrischen Extraktionselektrode.
    • 9 zeigt das Ergebnis einer theoretischen Analyse der Leuchtkraft einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone vom Magnetfeld-Immersionstyp und der Leuchtkraft einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone mit einer elektrostatischen Linse vom Butler-Typ.
    • 10 zeigt einen Vergleich zwischen der Leuchtkraft einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone vom Magnetfeld-Immersionstyp und der Leuchtkraft davon, wenn der Innendurchmesser des kleinsten Teils einer Extraktionselektrodenblende 1 mm bzw. 2 mm beträgt.
  • Beschreibung der Ausführungsformen
  • Im folgenden wird die vorliegende Erfindung anhand von Ausführungsformen näher beschrieben.
  • Ausführungsform 1
  • Die 2 zeigt eine Art einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone vom Immersionstyp als beispielhafte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • Die 2 zeigt den Aufbau der Elektronenkanone gemäß der vorliegenden Erfindung. In einem Vakuumbehälter (nicht gezeigt) sind eine Elektronenquelle 101, ein Elektronenquellenhalter 102, eine Extraktionselektrode 203, eine Anode 204, ein magnetischer Pfad 207 und ein Permanentmagnet 209 angeordnet. Das Innere des Vakuumbehälters wird auf einem ultrahohen Vakuum von etwa 10-8 Pa gehalten. Von einer Beschleunigungs-Spannungsversorgung 106 wird bezüglich eines geerdeten Abschnitts 108 an die Elektronenquelle 101 ein Potential V0 (eine negative Spannung) angelegt. Mit Bezug zu diesem Elektronenquellenpotential wird von einer Extraktions-Spannungsquelle 105 eine Spannung V1 (eine positive Spannung von mehreren Kilovolt) an die Extraktionselektrode 203 angelegt. Das Potential V1 bewirkt eine Feldemission, so daß die Elektronenquelle 101 einen Elektronenstrahl (mit der Energie V0 - V1) emittiert. Dieser Elektronenstrahl wird von einer Magnetfeldlinse (bei der vorliegenden Ausführungsform dem Magnetfeld, das auf dem Weg des Elektronenstrahls durch den Permanentmagnet 209 und den magnetischen Pfad 207 erzeugt wird) gebündelt und zur Anode 204 hin beschleunigt. Dabei wird die Magnetfeldlinse nicht von einem Elektromagnet erzeugt, sondern von dem Permanentmagnet 209. Der Permanentmagnet 209 wird deshalb ausgewählt, weil es schwierig ist, einen Elektromagneten im Ultrahochvakuum im Hochspannungsabschnitt der Elektronenkanone unterzubringen. Das vom Permanentmagnet 209 und dem magnetischen Pfad 207, der aus einem Material mit hoher magnetischer Permeabilität wie Permalloy besteht, erzeugte magnetische Feld ist statisch, so daß die Stärke davon nicht eingestellt werden kann. Die effektive Stärke der Magnetfeldlinse kann nur dadurch geändert werden, daß die Elektronenquelle 201 hinsichtlich des Magnetfeldes auf und ab bewegt wird, wodurch eine Einstellung der elektronenoptischen Bedingungen wie der Position der virtuellen Lichtquelle möglich ist. Der Elektronenquellenhalter 102 enthält deshalb einen Positionseinstellmechanismus (nicht gezeigt).
  • Die Extraktionselektrode 203 hat die Form eines Zylinders, der an der Anodenseite offen ist und keine Blendenstruktur aufweist. Da die Extraktionselektrode am vorderen Ende der Elektronenquelle ein hohes elektrisches Feld erzeugen soll, scheint es erforderlich, die Extraktionselektrode zwischen der Elektronenquelle und der Anode anzuordnen. Die 1 zeigt den typischen Aufbau einer herkömmlichen Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone mit einer becherförmigen Extraktionselektrode 110 mit einer Blendenstruktur auf der Anodenseite der Elektronenquelle.
  • Im Gegensatz dazu enthält bei der vorliegenden Ausführungsform die Extraktionselektrode 203 keine Blendenstruktur.
  • Das vordere Ende der Elektronenquelle 101 ist eine scharfe Spitze mit einem Durchmesser von einigen Mikrometern. Demgegenüber hat die Extraktionselektrode eine makroskopische Struktur mit Abmessungen im Bereich von zehn Millimetern bis zu einigen zehn Millimetern. Wenn das vordere Ende der Kathode die Form einer Halbkugel mit einem Krümmungsradius r (bis zu 1 µm) hat und der Abstand zwischen der Anode und der Kathode gleich R (bis zu 10 mm) ist sowie die Potentialdifferenz zwischen der Anode und der Kathode gleich V, läßt sich die Stärke F des elektrischen Felds am vorderen Ende der Kathode ausdrücken durch F = 2 V / { rlog e ( 4 R / r ) } .
    Figure DE112010002063B4_0001
  • Aus der Beziehung zwischen R und r geht hervor, daß die Stärke F des elektrischen Felds nahezu unabhängig von R fast nur von V und r abhängt. Diese Asymmetrie zeigt, daß die Stärke des elektrischen Felds am vorderen Ende der Elektronenquelle im wesentlichen von der Struktur der Elektronenquelle wie dem Durchmesser des vorderen Endes der Elektronenquelle abhängt und kaum von der Position und der Struktur der Extraktionselektrode. Auch bei einer zylindrischen Extraktionselektrode tritt daher eine Feldemission auf. Bei der vorliegenden Erfindung wird von diesem Effekt Gebrauch gemacht.
  • Die 8 zeigt die Beziehung (als Ergebnis einer theoretischen Analyse) zwischen der angelegten Spannung und der Stärke des elektrischen Feldes am vorderen Ende eines Chips bei einer gegebenen zylindrischen Extraktionselektrode. Die horizontale Achse gibt den Innendurchmesser d der gegebenen Extraktionselektrode an und die vertikale Achse die Extraktionsspannung (V1), die erforderlich ist, um ein elektrisches Feld von 4 × 1019 V/m (berechneter Wert) am vorderen Ende des Chips zu erzeugen.
  • Eine zylinderförmige Extraktionselektrode ohne Blendenstruktur hat den Vorteil, daß keine diskontinuierlichen Punkte im Potentialgradient im Blendenabschnitt auftreten und daß der elektrostatische Linseneffekt zwischen der Extraktionselektrode 203 und der Anode 204 verringert ist. Die vorliegende Erfindung hat darüberhinaus den Vorteil, daß der Elektronenstrahl nicht von einer elektrostatischen Linsenstruktur mit einer großen Aberration, sondern von einer Magnetfeldlinse gebündelt wird, so daß die Gesamt-Aberration der Elektronenkanone abnimmt. Es ist dabei wünschenswert, den Bündelungseffekt des elektrischen Feldes so weit wie möglich zu verringern. Die Extraktionselektrode ist daher zur Anodenseite hin offen, und es befindet sich keine Blendenstruktur im Weg des Elektronenstrahls, so daß die Bündelungskraft des elektrischen Feldes abgeschwächt ist. Im Ergebnis ist die Aberration gering.
  • Die 9 zeigt einen Vergleich zwischen dem Ergebnis einer theoretischen Analyse der Leuchtkraft einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone vom Magnetfeld-Immersionstyp mit einer gegebenen Form und einer herkömmlichen Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone (die nicht vom Magnetfeld-Immersionstyp ist). Die horizontale Achse des Diagramms stellt den Probenstrom dar und die vertikale Achse die durch die Analyse bestimmte Leuchtkraft. Wenn von dem vom Chip emittierten Strom nur der unter einem kleinen Winkel in der Nähe des Mittelpunktes emittierte Strom verwendet wird, fällt die Leuchtkraft der Elektronenkanone mit der Leuchtkraft an der Achse zusammen, so daß die Leuchtkraft der Elektronenkanone vom Immersionstyp und die Leuchtkraft der herkömmlichen Elektronenkanone gleich sind (am rechten Ende des Diagramms). Wenn die Größe des entnommenen Stroms durch das Sammeln des unter einem größeren Winkel emittierten Stroms zunimmt, nimmt die Leuchtkraft aufgrund des Einflusses der Aberration der Elektronenkanone ab. Das Diagramm zeigt, daß bei einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone vom Magnetfeld-Immersionstyp mit kleiner Aberration der Strom bei gleichbleibender Leuchtkraft in einer größeren Menge entnommen werden kann. Der Vergleich zeigt somit, daß bei einer Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone vom Immersionstyp mit gleichbleibender Leuchtkraft mehr Strom erhalten werden kann, der an der Stelle, an der die Leuchtkraft beginnt abzunehmen, etwa um das zehnfache größer ist als bei der herkömmlichen Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone.
  • Ausführungsform 2
  • Es wird nun eine Modifikation der Ausführungsform 1 beschrieben. Auch wenn die Form der Extraktionselektrode nicht vollständig zylindrisch ist und die Extraktionselektrode eine schwach ausgebildete Blendenstruktur aufweist, kann dadurch das Ziel erreicht werden, den Elektronenstrahl hauptsächlich durch die Magnetfeldlinse zu bündeln, während die Bündelungskraft und die Aberration der elektrischen Feldlinse gering bleiben.
  • Die 3 zeigt einen Fall, bei dem die Extraktionselektrode keine zylindrische Form hat. In der 3 ist ein vorstehender Teil so ausgebildet, daß die Extraktionselektrode 303 keine Linsenwirkung durch das elektrische Feld erzeugt. Der Innendurchmesser 310 des kleinsten Teils der Öffnung der Extraktionselektrode ist dabei gleich oder größer als 2 mm.
  • Die 10 zeigt beispielhaft das Ergebnis einer theoretischen Analyse, wenn dem Diagramm der 9 die Ergebnisse einer theoretischen Analyse für angenommene Formen mit einem Innendurchmesser ds des kleinsten Teils der Extraktionselektrode von 1 mm und 2 mm überlagert werden. Wenn der Innendurchmesser des kleinsten Teils 1 mm beträgt, nimmt die Leuchtkraft im wesentlichen auf die gleiche Art ab wie bei der herkömmlichen Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone. Wenn der Innendurchmesser des kleinsten Teils 2 mm beträgt, ist die Abnahme der Leuchtkraft kleiner und liegt näher an der Kurve für die Elektronenkanone vom Immersionstyp (mit zylindrischer Elektrode). Das Diagramm zeigt, daß der Innendurchmesser des kleinsten Teils 2 mm oder größer sein muß, wenn von den Vorteilen der Elektronenkanone vom Immersionstyp Gebrauch gemacht werden soll.
  • Ausführungsform 3
  • Unabhängig davon, ob das anodenseitige Ende der Extraktionselektrode sich bezüglich der Elektronenquelle an der Anodenseite oder der Kathodenseite befindet, kann somit das Ziel erreicht werden, den Elektronenstrahl im wesentlichen durch die Magnetfeldlinse zu bündeln, während die Bündelungskraft und die Aberration der elektrischen Feldlinse gering sind.
  • Die 4 und die 5 zeigen bezüglich der Position des anodenseitigen Endes der Extraktionselektrode weitere Ausführungsformen.
  • In der 4 erstreckt sich die Extraktionselektrode 403 derart zur Anode 404, daß sie länger ist als die Extraktionselektrode 203 der 2. Die Extraktionselektrode 403 kann sich über die Unterseite 410 des magnetischen Pfades hinaus zur Anode 204 erstrecken und so den gesamten Permanentmagneten 209 und den magnetischen Pfad 207 vom Weg des Elektronenstrahls aus gesehen verdecken. Auch in diesem Fall ist der Linseneffekt des elektrischen Feldes nicht sehr groß. Wie in der 5 gezeigt, kann das anodenseitige Ende der Extraktionselektrode 503 sich auch an einer Stelle befinden, die höher liegt als die Elektronenquelle 101 (auf der der Anode 204 gegenüberliegenden Seite).
  • Anhand der 7 wird eine Modifikation der Ausführung der 4 beschrieben. In der 7 erstreckt sich die Extraktionselektrode 703 noch weiter zur Anode 204, und es ist ein plattenförmiger Abschnitt ausgebildet, der den magnetischen Weg 207 abdeckt. In der 7 deckt die Extraktionselektrode 703 den magnetischen Weg 207 gegenüber der Anode 204 ab, so daß gestreute Elektronen 711, die auf die Anode 204 treffen und davon zurückgestreut werden, nicht den magnetischen Weg 207 erreichen. Damit wird eine Gasemission aus dem magnetischen Weg 207 aufgrund des Auftreffens der gestreuten Elektronen 711 vermieden. Die Extraktionselektrode 703 wird dabei einer Oberflächenbehandlung wie einer Beschichtung mit Gold unterzogen, um die Gasemission daraus zu verringern, wenn die gestreuten Elektronen 711 darauf auftreffen, und die Extraktionselektrode 703 wird von einer Heizvorrichtung 710 zum Entgasen ausreichend aufgeheizt, bevor die Elektronenkanone benutzt wird. Die Heizvorrichtung 710 und die Extraktionselektrode 703 sind dabei vorzugsweise vom magnetischen Weg 207 thermisch isoliert, wozu eine Abdeckung zwischen den beiden Elementen und dem magnetischen Weg 207 angebracht wird oder ein thermischer Isolator. Durch die thermische Isolation wird vermieden, daß der Permanentmagnet 209 durch das Aufheizen mit der Heizvorrichtung 710 thermisch entmagnetisiert wird.
  • Ausführungsform 4
  • Die Anordnungen der Ausführungsformen 1 bis 3 können leicht auch bei einer Hochdruck-Elektronenkanone mit einer Beschleunigerröhre verwendet werden. Die 6 zeigt den Aufbau einer Elektronenkanone vom Immersionstyp mit einer Beschleunigerröhre und einer Beschleunigungsspannung von 100 kV bis 300 kV. Auch bei diesem Aufbau wird die Spannung V0 an die Elektronenquelle 101 angelegt und an die Extraktionselektrode 603 bezüglich der Elektronenquelle 101 das Potential V1, so daß von der Elektronenquelle ein Elektronenstrahl emittiert wird. Dieser Elektronenstrahl wird zuerst von der Potentialdifferenz zwischen einer zweiten Anode 604, die auf dem Potential V2 liegt, und der Elektronenquelle beschleunigt. Der Elektronenstrahl wird dann im Inneren der Beschleunigerröhre (nicht gezeigt) an den Zwischenelektroden 610 bis 613 weiter beschleunigt, bis er die Anode 614 erreicht, die auf Massepotential liegt. Bei dem Aufbau der 6 ist der Durchmesser des Weges für den Elektronenstrahl an der zweiten Elektrode 604 und an den Zwischenelektroden 610 bis 613 jeweils mindestens so groß wie an der Extraktionselektrode 303 in der 3, wodurch der Linseneffekt des beschleunigenden elektrischen Feldes gering ist.
  • Ausführungsform 5
  • Bei der herkömmlichen Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone mit dem Aufbau der 1 wird ein großer Teil des von der Elektronenquelle 101 emittierten Elektronenstrahls von der Extraktionselektrodenblende 109 blockiert, und nur ein Teil der Elektronen durchläuft die Blende und wird zur Anode 107 hin beschleunigt. Bei dem erfindungsgemäßen Aufbau der Elektronenkanone der 2 weist dagegen die Extraktionselektrode 203 keine Blendenstruktur auf, so daß die Anode 204 direkt mit dem Elektronenstrahl bestrahlt wird.
  • Bei der Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone der 2 ist in der Nähe der Anode 204 eine Heizvorrichtung 210 vorgesehen, und die Komponenten der Anode 204 werden im Vakuum vor Beginn des Betriebs der Elektronenkanone aufgeheizt, so daß im Betrieb kein Gas emittiert wird. Auch bei der Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone mit der Beschleunigerröhre der 2 ist in der Nähe der Anode 614 eine Heizvorrichtung 617 vorgesehen, so daß im Betrieb kein Gas emittiert wird.
  • Ausführungsform 6
  • Bei den beschriebenen Ausführungsformen wird für die Magnetfeldlinse zum Bündeln des Elektronenstrahls ein Permanentmagnet verwendet. Bei den obigen Ausführungsformen befindet sich der Permanentmagnet im Vakuumbehälter und der Vakuumbehälter in einer Kammer für die Elektronenkanone. Die erfindungsgemäßen Auswirkungen werden dabei auch mit einem Magnet erhalten, der kein mit Titannitrid beschichteter Samarium-Kobalt-Magnet ist, ohne das das Vakuum in der Kammer für die Elektronenkanone schlechter wird.
  • Nicht auf das erwähnte Verfahren beschränkt zeigten Experimente, daß, wenn ein Permanentmagnet verwendet wird, der mit Titannitrid beschichtet ist (zum Beispiel ein Samarium-Kobalt-Magnet), der Magnet direkt in die Kammer für die Elektronenkanone gebracht werden kann, ohne daß das Vakuum in der Kammer für die Elektronenkanone schlechter wird. Der Permanentmagnet kann auch außerhalb der Kammer für die Elektronenkanone angeordnet werden. Auch bei einem solchen Aufbau werden die Auswirkungen der vorliegenden Erfindung erhalten, ohne daß das Vakuum in der Kammer für die Elektronenkanone schlechter wird.
  • In der obigen Beschreibung wird angenommen, daß ein Permanentmagnet verwendet wird, aber auch wenn das Magnetfeld mit einer elektromagnetischen Spule erzeugt wird, können die Auswirkungen der vorliegenden Erfindung erhalten werden.
  • Die beschriebenen Ausführungsformen ergeben eine Elektronenkanone mit einer kleineren Aberration als bei der herkömmlichen Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone. Auch wenn der Elektronenstrahl unter einem großen Winkel von der Elektronenquelle (mit einem großen Strom) abgegeben wird, kann so der Elektronenstrahl ohne Verzerrungen gebündelt und verwendet werden.
  • Wenn die Leuchtkraft in einem Elektronenmikroskop gleich der einer Standard-Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone sein soll, kann mit der vorliegenden Erfindung sichergestellt werden, daß die Menge des entnommenen Stroms nur etwa ein Zehntel des Stroms der herkömmlichen Kaltkathoden-Feldemissions-Elektronenkanone ist. Es ist daher möglich, eine Hochleistungs-Elektronenkanone mit einer hohen Stabilität des emittierten Stroms und einer kleinen Energieverteilung ΔE der emittierten Elektronen zu erhalten.
  • Auch bei einem Elektronenmikroskop mit einem relativ großen Strom von 1 nA und mehr, zum Beispiel einem Elektronenmikroskop für elementare Analysefunktionen, kann daher ein Elektronenstrahl mit einem kleinen Punktdurchmesser und hoher Helligkeit erhalten werden.
  • Die vorliegende Erfindung kann bei den Elektronenquellen für ein Rasterelektronenmikroskop, ein Transmissionselektronenmikroskop, ein Rastertransmissionselektronenmikroskop und bei anderen Elektronenstrahlvorrichtungen verwendet werden, bei denen ein Elektronenstrahl benutzt wird.
  • Bezugszeichenliste
  • 101
    Elektronenquelle
    102
    Elektronenquellenhalter
    103, 104
    Elektrode vom Butler-Typ
    105
    Extraktions-Spannungsversorgung
    106
    Beschleunigungs-Spannungsversorgung
    107, 204, 614
    Anode
    108
    geerdeter Abschnitt
    109
    Extraktionselektrodenblende
    110, 203, 303, 403, 503, 603
    Extraktionselektrode
    207
    magnetischer Pfad
    209
    Permanentmagnet
    210, 617, 710
    Heizvorrichtung
    310
    Innendurchmesser des kleinsten Teils der Extrakti-onselektrodenblende
    410
    Unterseite der magnetischen Pfades
    604
    zweite Anode
    610, 611, 612, 613
    Zwischenelektrode
    615
    Vorwiderstand
    616
    V2-Spannungsversorgung
    703
    Extraktionselektrode (die auch als Abschirmung dient)
    711
    gestreute Elektronen

Claims (11)

  1. Feldemissions-Elektronenkanone, bei der aus einer Kathode ein Elektronenstrahl extrahiert wird und der extrahierte Elektronenstrahl gebündelt wird, mit einer Magnetfeldlinse (207, 209), die derart angeordnet ist, daß sich die Kathode innerhalb des Magnetfeldes der Linse befindet; und mit einer Extraktionselektrode (203, 403, 503, 603, 703) zum Extrahieren von Elektronen aus der Kathode, dadurch gekennzeichnet, dass die Extraktionselektrode eine zylindrische Form mit konstantem Innendurchmesser (d) ohne Blendenstruktur aufweist.
  2. Feldemissions-Elektronenkanone, bei der aus einer Kathode ein Elektronenstrahl extrahiert wird und der extrahierte Elektronenstrahl gebündelt wird, mit einer Magnetfeldlinse (207, 209), die derart angeordnet ist, daß sich die Kathode innerhalb des Magnetfeldes der Linse befindet; und mit einer Extraktionselektrode (303) zum Extrahieren von Elektronen aus der Kathode, dadurch gekennzeichnet, dass die Extraktionselektrode eine aufgrund eines nach innen vorstehenden Teils nicht vollständig zylindrische Form aufweist, wobei der vorstehende Teil so ausgebildet ist, dass er keine Linsenwirkung aufweist.
  3. Feldemissions-Elektronenkanone nach Anspruch 2, wobei der vorstehende Teil einen Innendurchmesser (310, ds) von 2 mm oder mehr aufweist.
  4. Feldemissions-Elektronenkanone nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei die Magnetfeldlinse von einem Permanentmagneten gebildet wird.
  5. Feldemissions-Elektronenkanone nach Anspruch 4, mit einem Bewegungsmechanismus zum Verändern der Position der Kathode.
  6. Feldemissions-Elektronenkanone nach einem der Ansprüche 1 bis 3, mit einem Heizabschnitt (210, 617) zum Aufheizen einer Anode (204, 614) zum Beschleunigen des Elektronenstrahls.
  7. Feldemissions-Elektronenkanone nach Anspruch 3, wobei das untere Ende der Extraktionselektrode eine der Anode gegenüberliegende Oberfläche aufweist.
  8. Feldemissions-Elektronenkanone nach einem der Ansprüche 1 bis 3, mit einem Heizabschnitt (710) zum Aufheizen der Extraktionselektrode.
  9. Feldemissions-Elektronenkanone nach Anspruch 8, mit einer Anordnung zum thermischen Isolieren der Heizvorrichtung und der Extraktionselektrode vom magnetischen Pfad eines Permanentmagneten und des Permanentmagneten, um zu verhindern, daß der Permanentmagnet durch das Aufheizen der Heizvorrichtung thermisch entmagnetisiert wird.
  10. Feldemissions-Elektronenkanone nach Anspruch 2, wobei der vorstehende Teil am Ende der Extraktionselektrode (303) angrenzend an einen zylindrischen Teil mit konstantem Innendurchmesser angeordnet ist.
  11. Elektronenstrahlvorrichtung zum Bearbeiten und Untersuchen einer Probe mit einem Elektronenstrahl, wobei die Elektronenstrahlvorrichtung die Feldemissions-Elektronenkanone nach einem der Ansprüche 1 bis 3 umfaßt.
DE112010002063.9T 2009-05-22 2010-04-14 Feldemissions-Elektronenkanone und Elektronenstrahlvorrichtung mit einer solchen Feldemissions-Elektronenkanone Expired - Fee Related DE112010002063B4 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009123684A JP5386229B2 (ja) 2009-05-22 2009-05-22 電子銃
JP2009-123684 2009-05-22
PCT/JP2010/002684 WO2010134259A1 (ja) 2009-05-22 2010-04-14 電子銃

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE112010002063T5 DE112010002063T5 (de) 2012-07-19
DE112010002063B4 true DE112010002063B4 (de) 2018-10-04

Family

ID=43125952

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE112010002063.9T Expired - Fee Related DE112010002063B4 (de) 2009-05-22 2010-04-14 Feldemissions-Elektronenkanone und Elektronenstrahlvorrichtung mit einer solchen Feldemissions-Elektronenkanone

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8669535B2 (de)
JP (1) JP5386229B2 (de)
DE (1) DE112010002063B4 (de)
WO (1) WO2010134259A1 (de)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6095338B2 (ja) * 2012-11-28 2017-03-15 株式会社日立製作所 電子銃および荷電粒子線装置
JP6340165B2 (ja) 2013-04-25 2018-06-06 株式会社日立ハイテクノロジーズ 電子銃、荷電粒子銃およびそれらを用いた荷電粒子線装置
US9799484B2 (en) 2014-12-09 2017-10-24 Hermes Microvision, Inc. Charged particle source
DE112017007825B4 (de) 2017-09-07 2023-09-28 Hitachi High-Technologies Corporation Elektronenkanone und Elektronenstrahlanwendungsvorrichtung
JP6916074B2 (ja) * 2017-09-20 2021-08-11 浜松ホトニクス株式会社 電子放出管、電子照射装置及び電子放出管の製造方法

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4295072A (en) 1978-02-08 1981-10-13 Hitachi, Ltd. Field emission electron gun with anode heater and plural exhausts
JPS6476654A (en) 1987-09-14 1989-03-22 Jeol Ltd Lens for field emission type electron gun
JPH02297852A (ja) 1989-02-22 1990-12-10 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 荷電粒子ビーム発生装置
US5155412A (en) 1991-05-28 1992-10-13 International Business Machines Corporation Method for selectively scaling a field emission electron gun and device formed thereby
JPH06162979A (ja) 1992-08-27 1994-06-10 Toshiba Corp 磁界界浸型電子銃
JP2000003689A (ja) 1998-06-12 2000-01-07 Toshiba Corp 電子銃とそれを用いた露光装置
JP2000090866A (ja) 1998-09-17 2000-03-31 Toshiba Corp 電子銃、電子銃による電子ビーム発生方法及び電子銃を用いた露光装置
JP2000285839A (ja) 1999-03-30 2000-10-13 Toshiba Corp 電子銃とそれを用いた露光装置および露光方法
US6392333B1 (en) 1999-03-05 2002-05-21 Applied Materials, Inc. Electron gun having magnetic collimator
JP2006210254A (ja) 2005-01-31 2006-08-10 Fujitsu Ltd 磁場レンズ
US20070085018A1 (en) 2005-09-06 2007-04-19 Fang Zhou Device and method for selecting an emission area of an emission pattern

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR970005769B1 (ko) * 1992-08-27 1997-04-19 가부시끼가이샤 도시바 자계 계침형 전자총
JP3325982B2 (ja) * 1993-12-27 2002-09-17 株式会社東芝 磁界界浸型電子銃
JP3431765B2 (ja) * 1995-08-25 2003-07-28 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 電子供給装置及び表示装置
JP2002134051A (ja) * 2000-10-20 2002-05-10 Seiko Instruments Inc 電磁界重畳型レンズ及びこれを用いた電子線装置
US7095022B2 (en) * 2000-12-12 2006-08-22 Ebara Corporation Electron beam apparatus and method of manufacturing semiconductor device using the apparatus
WO2005124815A1 (ja) * 2004-06-16 2005-12-29 Hitachi High-Technologies Corporation 電子線源および電子線応用装置
JP2006324119A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Hitachi Ltd 電子銃
JP2008140623A (ja) * 2006-11-30 2008-06-19 Japan Science & Technology Agency 電子線源装置
JP5099756B2 (ja) * 2007-06-18 2012-12-19 Jfeエンジニアリング株式会社 電子線発生装置およびその制御方法
JP2009087593A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Hitachi High-Technologies Corp 電界放射電子銃

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4295072A (en) 1978-02-08 1981-10-13 Hitachi, Ltd. Field emission electron gun with anode heater and plural exhausts
JPS6476654A (en) 1987-09-14 1989-03-22 Jeol Ltd Lens for field emission type electron gun
JPH02297852A (ja) 1989-02-22 1990-12-10 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 荷電粒子ビーム発生装置
US5155412A (en) 1991-05-28 1992-10-13 International Business Machines Corporation Method for selectively scaling a field emission electron gun and device formed thereby
JPH06162979A (ja) 1992-08-27 1994-06-10 Toshiba Corp 磁界界浸型電子銃
JP2000003689A (ja) 1998-06-12 2000-01-07 Toshiba Corp 電子銃とそれを用いた露光装置
JP2000090866A (ja) 1998-09-17 2000-03-31 Toshiba Corp 電子銃、電子銃による電子ビーム発生方法及び電子銃を用いた露光装置
US6392333B1 (en) 1999-03-05 2002-05-21 Applied Materials, Inc. Electron gun having magnetic collimator
JP2000285839A (ja) 1999-03-30 2000-10-13 Toshiba Corp 電子銃とそれを用いた露光装置および露光方法
JP2006210254A (ja) 2005-01-31 2006-08-10 Fujitsu Ltd 磁場レンズ
US20070085018A1 (en) 2005-09-06 2007-04-19 Fang Zhou Device and method for selecting an emission area of an emission pattern

Also Published As

Publication number Publication date
JP5386229B2 (ja) 2014-01-15
WO2010134259A1 (ja) 2010-11-25
JP2010272381A (ja) 2010-12-02
US8669535B2 (en) 2014-03-11
US20120062094A1 (en) 2012-03-15
DE112010002063T5 (de) 2012-07-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE112012003413B4 (de) Rasterelektronenmikroskop
DE60011031T2 (de) Optische Säule für Teilchenstrahlvorrichtung
EP2095391B1 (de) Teilchenoptische anordnung
EP1385193B9 (de) Objektivlinse für ein Elektronenmikroskopiesystem und Elektronenmikroskopiesystem
DE69332995T2 (de) Raster-Elektronenmikroskop
DE112014002951B4 (de) Rasterelektronenmikroskop
DE19732093B4 (de) Korpuskularstrahlgerät
DE112014002139B4 (de) Elektronenkanone, Ladungsteilchenkanone und Ladungsteilchenstrahlvorrichtung unter Verwendung der Elektronenkanone und der Ladungsteilchenkanone
DE2842527A1 (de) Elektrostatische emissionslinse
EP2463889A2 (de) Elektronenstrahlgerät und Detektoranordnung
DE3532781A1 (de) Anordnung zur detektion von sekundaer- und/oder rueckstreuelektronen in einem elektronenstrahlgeraet
DE112010002063B4 (de) Feldemissions-Elektronenkanone und Elektronenstrahlvorrichtung mit einer solchen Feldemissions-Elektronenkanone
DE112012003062B4 (de) lonenstrahlvorrichtung
DE112012003176T5 (de) Elektronenkanone und Ladungsteilchenstrahlvorrichtung
DE60105199T2 (de) Sem mit einem sekundärelektronendetektor mit einer zentralelektrode
DE112016000644T5 (de) Verbundvorrichtung für geladene Partikelstrahlen
DE112017007822B4 (de) Rasterelektronenmikroskop
DE112017006846T5 (de) Ladungspartikelstrahlvorrichtung
DE112014003782T5 (de) lonenstrahlvorrichtung und Emitterspitzenausformverfahren
DE2608958A1 (de) Vorrichtung zum erzeugen von strahlen aus geladenen teilchen
DE102010001346B4 (de) Teilchenstrahlgerät und Verfahren zum Betreiben eines Teilchenstrahlgeräts
DE2004256A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Oberflaechenanalyse mittels Elektronenstrahl
DE112018007343B4 (de) Mit einem strahl geladener teilchen arbeitende vorrichtung
DE2540602C2 (de)
DE102012215945A1 (de) Teilchenstrahlgerät und Verfahren zum Betrieb eines Teilchenstrahlgeräts

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R016 Response to examination communication
R016 Response to examination communication
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee