DE112010000781T5 - Plasma processing apparatus - Google Patents
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Abstract
Eine Plasmaverarbeitungsvorrichtung beinhaltet: eine Verarbeitungskammer (101), die aus einer Kammer (2), die eine Seitenwand (34) aufweist, einem Elektrodenflansch (4), und einem Isolierungsflansch (81), der zwischen der Kammer (2) und dem Elektrodenflansch (4) eingefügt ist, besteht, wobei die Verarbeitungskammer (101) eine Reaktionskammer (2a) umfasst; einen Stützabschnitt (15), der in der Reaktionskammer (2a) enthalten ist, auf dem ein Substrat (10), das eine Behandlungsoberfläche (10a) aufweist, befestigt ist; einen Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt (36), der an der Seitenwand (34) der Kammer (2) bereitgestellt ist; eine RF-Spannungsversorgung (9), die mit dem Elektrodenflansch (4) verbunden ist, und die eine hochfrequente Spannung bereitstellt; ein erstes Türventil (55), das an dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt (36) bereitgestellt ist, und das den Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt (36) öffnet oder schließt; und ein zweites Türventil (56), das elektrisch mit der Kammer (2) verbunden ist, das einen Flächenabschnitt (56a), der auf einer gleichen Fläche wie eine innere Seitenoberfläche (33) der Kammer (2) positioniert ist, aufweist.A plasma processing apparatus includes: a processing chamber (101) composed of a chamber (2) having a side wall (34), an electrode flange (4), and an insulation flange (81) which is connected between the chamber (2) and the electrode flange ( 4) is inserted, the processing chamber (101) comprising a reaction chamber (2a); a support portion (15) contained in the reaction chamber (2a) on which a substrate (10) having a treatment surface (10a) is fixed; a transfer input-output section (36) provided on the side wall (34) of the chamber (2); an RF power supply (9) which is connected to the electrode flange (4) and which provides a high-frequency voltage; a first door valve (55) which is provided on the transfer input-output section (36) and which opens or closes the transfer input-output section (36); and a second door valve (56) electrically connected to the chamber (2) having a surface portion (56a) positioned on a same surface as an inner side surface (33) of the chamber (2).
Description
HINTERGRUND DER ERFINDUNGBACKGROUND OF THE INVENTION
Technisches GebietTechnical area
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Plasmaverarbeitungsvorrichtung.The present invention relates to a plasma processing apparatus.
Die Anmeldung beansprucht die Priorität der
Technischer HintergrundTechnical background
Herkömmlicherweise ist eine Plasma-CVD-Vorrichtung bekannt, in der ein Dünnfilm, zum Beispiel, auf einer Fläche eines Substrats, auf der ein Film zu bilden ist, durch Abbauen eines Quellgases unter Verwendung von Plasma gebildet wird.Conventionally, a plasma CVD apparatus is known in which a thin film, for example, is formed on a surface of a substrate on which a film is to be formed by decomposing a source gas using plasma.
Wie in
Eine Brauseplatte
Ein Raum
D. h., die Brauseplatte
Ein Ende einer Erdungsplatte
Das andere Ende der Erdungsplatte
Die Kammer
Aus diesem Grund dient das Heizelement
Auf der anderen Seite ist eine hochfrequente Spannungsversorgung
Der Elektrodenflansch
Eine Abschirmabdeckung
In der vorstehenden Ausgestaltung wird ein Gas, das in den Gaseinführraum eingeführt wird, gleichförmig von jedem Abgabeloch der Brauseplatte
Zu diesem Zeitpunkt wird eine hochfrequente Spannung an den Elektrodenflansch
Infolgedessen wird, aufgrund der Tatsache, dass das Quellgas, das von Plasma abgebaut wird, eine Oberfläche des Substrats, auf der ein Film zu bilden ist, erreicht, ein gewünschter Film gebildet.As a result, due to the fact that the source gas degraded by plasma reaches a surface of the substrate on which a film is to be formed, a desired film is formed.
Wenn Plasma durch Anlegen einer hochfrequenten Spannung an den Elektrodenflansch
Weiterhin wird der elektrische Strom zu einer inneren Seitenoberfläche der Kammer
Der elektrische Strom mit Erzeugung von Plasma fließt so, dass er den vorgenannten Strompfad durchläuft (siehe z. B. ungeprüfte
Allerdings ist, wie in
In dem vorstehenden Fall ist der Pfad eines hochfrequenten elektrischen Stroms, der an der inneren Seitenoberfläche der Kammer
Aus diesem Grund steigt die Induktivität in dem Pfad des hochfrequenten elektrischen Stroms, der an der inneren Seitenoberfläche, an der der Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt
Insbesondere wenn die Größe des Substrates
Aus diesem Grund tritt eine Fehlanpassung der Impedanz, die durch die abnormale elektrische Entladung bewirkt wird, auf, und es besteht ein Problem darin, dass eine anlegbare hochfrequente Spannung, die an Elektrodenflansch
ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNGSUMMARY OF THE INVENTION
Infolgedessen wurde die Erfindung in Anbetracht der oben beschriebenen Gegebenheiten gemacht und sie soll eine Plasmaverarbeitungsvorrichtung bereitstellen, in der es möglich ist, eine abnormale elektrische Entladung an dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt zu vermeiden und die anlegbare hochfrequente Spannung zu erhöhen.As a result, the present invention has been made in view of the above-described circumstances, and is intended to provide a plasma processing apparatus in which it is possible to avoid an abnormal electric discharge at the transmission input-output portion and to increase the applyable high-frequency voltage.
Um die zuvor genannten Probleme zu lösen, beinhaltet eine Plasmaverarbeitungsvorrichtung gemäß der Erfindung: eine Verarbeitungskammer, die aus einer Kammer, die eine Seitenwand aufweist, einem Elektrodenflansch, und einem Isolierungsflansch, der zwischen der Kammer und dem Elektrodenflansch eingefügt ist, besteht, wobei die Verarbeitungskammer eine Reaktionskammer beinhaltet; einen Stützabschnitt, der in der Reaktionskammer enthalten ist, auf dem ein Substrat, das eine Behandlungsoberfläche aufweist, befestigt ist, wobei der Stützabschnitt die Temperatur des Substrats steuert; einen Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt, der an der Seitenwand der Kammer bereitgestellt ist und der zum Übertragen des Substrats zu der Reaktionskammer oder zum Übertragen des Substrats von der Reaktionskammer verwendet wird; eine RF-Spannungsversorgung, die mit dem Elektrodenflansch verbunden ist, und die eine hochfrequente Spannung bereitstellt; ein erstes Türventil, das an dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt bereitgestellt ist, und das den Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt öffnet oder schließt; und ein zweites Türventil, das elektrisch mit der Kammer verbunden ist, das einen Flächenabschnitt, der auf einer gleichen Fläche wie eine innere Seitenoberfläche der Kammer positioniert ist, aufweist.In order to solve the aforementioned problems, a plasma processing apparatus according to the invention includes: a processing chamber consisting of a chamber having a side wall, an electrode flange, and an insulation flange interposed between the chamber and the electrode flange, the processing chamber includes a reaction chamber; a support portion contained in the reaction chamber on which a substrate having a treatment surface is mounted, the support portion controlling the temperature of the substrate; a transfer input-output portion provided on the side wall of the chamber and used for transferring the substrate to the reaction chamber or transferring the substrate from the reaction chamber; an RF power supply connected to the electrode flange and providing a high frequency voltage; a first door valve provided at the transmission input-output section and opening or closing the transmission input-output section; and a second door valve electrically connected to the chamber having a surface portion positioned on a same surface as an inner side surface of the chamber.
In der vorstehenden Ausgestaltung kann, als der Pfad eines zurückgeleiteten elektrischen Stroms an dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt, ein elektrischer Strom auf dem Flächenabschnitt des zweiten Türventils fließen.In the above embodiment, as the path of a recirculated electric current at the transmission input-output portion, an electric current may flow on the surface portion of the second door valve.
Aus diesem Grund ist es möglich, die Induktivität in der Nähe des Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitts zu reduzieren.For this reason, it is possible to reduce the inductance in the vicinity of the transmission input-output section.
Des Weiteren ist es, durch Bereitstellen des zweiten Türventils, möglich, den Entladungsraum, der von dem ersten Türventil und dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt umgeben ist, zu verschließen.Further, by providing the second door valve, it is possible to close the discharge space surrounded by the first door valve and the transfer input-output portion.
Somit kann, wenn Plasma erzeugt wird, eine abnormale elektrische Entladung in dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt verhindert werden, und es ist möglich, eine anlegbare hochfrequente Spannung, die an den Elektrodenflansch angelegt werden kann, zu erhöhen.Thus, when plasma is generated, an abnormal electric discharge in the transmission input-output section can be prevented, and it is possible to increase an applyable high-frequency voltage that can be applied to the electrode flange.
In der Plasmaverarbeitungsvorrichtung gemäß der Erfindung ist es bevorzugt, dass das zweite Türventil einen Endabschnitt aufweist, an dem ein elastisches Element, das Leitfähigkeit aufweist, bereitgestellt ist.In the plasma processing apparatus according to the invention, it is preferable that the second door valve has an end portion to which an elastic member having conductivity is provided.
In der vorstehenden Ausgestaltung ist das zweite Türventil elektrisch mit der Kammer verbunden, und ein elektrischer Strom kann zwischen dem zweiten Türventil und der Kammer als der Pfad eines zurückgeleiteten elektrischen Stroms fließen.In the above embodiment, the second door valve is electrically connected to the chamber, and an electric current may flow between the second door valve and the chamber as the path of a recirculating electric current.
Des Weiteren ist es, wenn das zweite Türventil geschlossen wird, möglich, zu verhindern, dass der Endabschnitt mit dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt kollidiert.Further, when the second door valve is closed, it is possible to prevent the end portion from colliding with the transmission input-output portion.
Aus diesem Grund ist es möglich, einen Schaden des zweiten Türventils oder der Kammer zu verhindern, und es ist möglich, den Produktlebenszyklus der Komponente zu verlängern.For this reason, it is possible to prevent damage of the second door valve or the chamber, and it is possible to extend the product life cycle of the component.
In der Plasmaverarbeitungsvorrichtung gemäß der Erfindung ist es bevorzugt, dass ein Spalt zwischen dem zweiten Türventil und der Kammer bereitgestellt ist, und dass das zweite Türventil elektrisch mit der Kammer verbunden ist.In the plasma processing apparatus according to the invention, it is preferable that a gap is provided between the second door valve and the chamber, and that the second door valve is electrically connected to the chamber.
Bei dieser Anordnung wird ein extrem schmaler Spalt, der kleiner oder gleich, zum Beispiel, 1 mm ist, zwischen dem zweiten Türventil und der Kammer bereitgestellt.In this arrangement, an extremely narrow gap, which is smaller than or equal to, for example, 1 mm, is provided between the second door valve and the chamber.
Weiterhin ist, wenn die hochfrequente Spannung angelegt wird, der Endabschnitt über eine kapazitive Kopplung als der Pfad eines zurückgeleiteten elektrischen Stroms elektrisch mit dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt verbunden. Furthermore, when the high-frequency voltage is applied, the end portion is electrically connected to the transmission input-output portion via a capacitive coupling as the path of a recirculated electric current.
In der vorstehenden Ausgestaltung ist es, da der Endabschnitt des zweiten Türventils nicht in Kontakt mit dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt steht, möglich, Staub oder dergleichen daran zu hindern, sich zwischen dem Endabschnitt und dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt abzulagern.In the above configuration, since the end portion of the second door valve is not in contact with the transmission input-output portion, it is possible to prevent dust or the like from being deposited between the end portion and the transmission input-output portion ,
Es ist bevorzugt, dass die Plasmaverarbeitungsvorrichtung gemäß der Erfindung des Weiteren eine Brauseplatte beinhaltet, die in der Reaktionskammer enthalten ist, und die so angeordnet ist, dass sie der Behandlungsoberfläche gegenüberliegt, wobei die Brauseplatte ein Prozessgas in Richtung des Substrats bereitstellt.It is preferable that the plasma processing apparatus according to the invention further includes a shower plate included in the reaction chamber and disposed facing the treatment surface, the shower plate providing a process gas toward the substrate.
Bei dieser Anordnung wird, aufgrund der Tatsache, dass die Brauseplatte das Prozessgas bereitstellt und die RF-Spannungsversorgung eine hochfrequente Spannung anlegt, das Prozessgas in einem Plasmazustand erhalten, eine Wachstumsreaktion aus gasförmiger Phase wird auf der Behandlungsoberfläche des Substrats erzeugt, und es ist möglich, einen Dünnfilm auf der Behandlungsoberfläche zu bilden.With this arrangement, due to the fact that the shower plate provides the process gas and the RF power supply applies a high-frequency voltage, the process gas is obtained in a plasma state, a gaseous phase growth reaction is generated on the treatment surface of the substrate, and it is possible to to form a thin film on the treatment surface.
Effekte der ErfindungEffects of the invention
Gemäß der Erfindung kann, als der Pfad eines zurückgeleiteten elektrischen Stroms an dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt, ein elektrischer Strom auf dem Flächenabschnitt des zweiten Türventils fließen.According to the invention, as the path of a recirculated electric current at the transmission input-output portion, an electric current can flow on the surface portion of the second door valve.
Aus diesem Grund ist es möglich, die Induktivität in der Nähe des Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitts zu reduzieren.For this reason, it is possible to reduce the inductance in the vicinity of the transmission input-output section.
Des Weiteren ist es, durch Bereitstellen des zweiten Türventils, möglich, den Entladungsraum, der von dem ersten Türventil und dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt umgeben ist, zu verschließen.Further, by providing the second door valve, it is possible to close the discharge space surrounded by the first door valve and the transfer input-output portion.
Somit kann, wenn Plasma erzeugt wird, eine abnormale elektrische Entladung in dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt verhindert werden, und es ist möglich, eine anlegbare hochfrequente Spannung, die an den Elektrodenflansch angelegt werden kann, zu erhöhen.Thus, when plasma is generated, an abnormal electric discharge in the transmission input-output section can be prevented, and it is possible to increase an applyable high-frequency voltage that can be applied to the electrode flange.
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGENBRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS
BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMENDESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS
Nachstehend wird eine Ausführungsform einer Plasmaverarbeitungsvorrichtung, die die Erfindung betrifft, unter Bezugnahme auf Zeichnungen beschrieben werden.Hereinafter, an embodiment of a plasma processing apparatus related to the invention will be described with reference to drawings.
Zudem sind in den jeweiligen Zeichnungen, die nachstehend beschrieben werden, um den jeweiligen Komponenten in der Zeichnung eine verständliche Größe zu geben, die Dimensionen und die Proportionen der jeweiligen Komponenten im Vergleich zu den echten Komponenten je nach Bedarf abgewandelt.In addition, in the respective drawings described below to give an intelligible size to the respective components in the drawing, the dimensions and proportions of the respective components are modified as needed in comparison to the genuine components.
Des Weiteren wird, in der Ausführungsform, eine Filmbildungsvorrichtung, die ein Plasma-CVD-Verfahren verwendet, beschrieben werden. Furthermore, in the embodiment, a film forming apparatus using a plasma CVD method will be described.
Wie in
Die Verarbeitungskammer
Ein Öffnungsabschnitt ist an einem Bodenabschnitt
Eine Stützsäule
Ein Heizelement
Weiterhin ist eine Absaugleitung
Eine Vakuumpumpe
Die Vakuumpumpe
Des Weiteren ist die Stützsäule
D. h., das Heizelement
Zudem ist ein Balg (in der Figur nicht gezeigt) außerhalb der Vakuumkammer
Der Elektrodenflansch
Der Elektrodenflansch
Weiterhin ist eine Brauseplatte
Infolgedessen wird ein Raum
Ferner steht die obere Wand
Ein Gaseinführanschluss
Des Weiteren ist eine Gaseinführleitung
Ein Ende der Gaseinführleitung
Zudem durchdringt die Gaseinführleitung
Außerdem wird das Prozessgas von dem Prozessgas-Bereitstellungsabschnitt
D. h., der Raum
Sowohl der Elektrodenflansch
Eine Abschirmabdeckung
Die Abschirmabdeckung
Zudem ist eine RF-Spannungsversorgung
Der Anpassungskasten
D. h., die Vakuumkammer
Auf der anderen Seite sind der Elektrodenflansch
Eine Mehrzahl von Gasabgabelöchern
Das Prozessgas, das in den Raum
Des Weiteren ist eine Gaseinführleitung
Ein Fluorgas-Bereitstellabschnitt
Die Radikalenquelle
Die Gaseinführleitung
Das Heizelement
Das Substrat
Der Heizelement
Infolgedessen ist das Heizelement
Wenn das Substrat
Genauer gesagt beträgt der Abstand (Spalt) G1 zwischen der Behandlungsoberfläche
Zudem besteht, wenn der Abstand G1 kleiner als 3 mm ist und der kleinste Lochdurchmesser (Grenzwert) der Gasabgabelöcher
Des Weiteren besteht, wenn der Abstand G1 größer als 10 mm ist, ein Bedenken darin, dass, wenn ein Film gebildet wird, ein Pulver erzeugt wird.Further, when the distance G1 is larger than 10 mm, there is a concern that when a film is formed, a powder is generated.
In einem Zustand, in dem das Substrat
Weiterhin ist eine Heizleitung
Eine Temperatur des Heizelements
Die Heizleitung
Die Heizleitung
Die Heizleitung
Wie in
Die Erdungsplatten
Die Erdungsplatten
Zweite Enden (das andere Ende) der Erdungsplatten
Infolgedessen dient das Heizelement
Die Erdungsplatten
Wie in den
Ein erstes Türventil
Das erste Türventil
Wenn sich das erste Türventil
Auf der anderen Seite wird, wenn sich das erste Türventil
Des Weiteren ist ein zweites Türventil
Das zweite Türventil
Das zweite Türventil
Der Flächenabschnitt
Das zweite Türventil
D. h., wenn sich das erste Türventil
Auf der anderen Seite verschiebt sich, wenn sich das erste Türventil
Weiterhin ist eine Spiralfeder
D. h., wenn sich das zweite Türventil
In einem Zustand, in dem das zweite Türventils
Als Nächstes wird ein Vorgang in einem Fall, in dem ein Film auf der Behandlungsoberfläche
Zunächst wird der Innendruck der Vakuumkammer
In einem Zustand, in dem das Innere der Vakuumkammer
Das Substrat
Nachdem das Substrat
Das Heizelement
D. h., da der Abstand zwischen dem Heizelement
Des Weiteren stehen, da die Erdungsplatte
Nachdem das Substrat
Aus diesem Grund wird der Abstand zwischen der Brauseplatte
Insbesondere beträgt der Abstand (Spalt) G1 zwischen der Behandlungsoberfläche
Nachfolgend wird das Prozessgas von dem Prozessgas-Bereitstellungsabschnitt
Infolgedessen wird das Prozessgas aus den Gasabgabelöchern
Nachfolgend wird eine hochfrequente Spannung an den Elektrodenflansch
Infolgedessen fließt ein hochfrequenter elektrischer Strom so, dass er von der Oberfläche des Elektrodenflansches
Aus diesem Grund wird Plasma zwischen der Brauseplatte
In dem Plasma, das auf diese Art und Weise erzeugt wird, wird das Prozessgas abgebaut, eine Wachstumsreaktion aus gasförmiger Phase wird auf der Behandlungsoberfläche
Der hochfrequente elektrische Strom, der zu dem Heizelement
Infolgedessen wird der hochfrequente elektrische Strom zu der Abschirmabdeckung
Zu diesem Zeitpunkt wird, an dem Abschnitt, an dem der Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt
Auf der anderen Seite wird, an dem Abschnitt, an dem der Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt
Aus diesem Grund wird der hochfrequente elektrische Strom daran gehindert, an der inneren Oberfläche des Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitts
Der Flächenabschnitt
Aus diesem Grund ist die Länge des Rückleitungspfads, in dem Fall, in dem der hochfrequente elektrische Strom auf dem Flächenabschnitt
Infolgedessen sind, in dem Pfad eines zurückgeleiteten elektrischen Stroms, und zwar, in der gesamten Peripherie der inneren Seitenoberfläche
Des Weiteren wird, wenn der oben beschriebene Filmbildungsprozess mehrere Male wiederholt wird, aufgrund der Tatsache, dass ein Filmbildungsmaterial an einer inneren Seitenoberfläche
In einem Säuberungsschritt wird das Fluorgas, das von dem Fluorgas-Bereitstellungsabschnitt
Aufgrund des Bereitstellens des Fluorradikals in dem Filmbildungsraum
BeispieleExamples
Als Nächstes werden Beispiele der Erfindung insbesondere unter Bezugnahme auf die
Zudem ist die vorliegende Erfindung nicht auf die nachstehend beschriebenen Beispiele beschränkt.In addition, the present invention is not limited to the examples described below.
Wie in
Des Weiteren wurde die Größe eines Suszeptors, d. h., die Länge L2 in der Längsrichtung des Bereichs, auf dem das Substrat
Weiterhin wurde die RF-Frequenz der RF-Spannungsversorgung
Infolgedessen wurden, als die Arten und die Flussraten des Prozessgases, das von dem Prozessgas-Bereitstellungsabschnitt
Unter der vorstehenden Bedingung wurde der Abstand G1 zwischen der Behandlungsoberfläche
Die Größenordnungen der anlegbaren hochfrequenten Spannung Pf (kW), die an den Elektrodenflansch
Weiterhin wurde ein μc-Si Film auf der Behandlungsoberfläche
Wie in
Somit kann, gemäß der oben beschriebenen Ausführungsform, der hochfrequente elektrische Strom auf dem Flächenabschnitt
Aus diesem Grund ist es möglich, die Induktivität in der Nähe des Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitts
D. h., an dem Pfad eines zurückgeleiteten elektrischen Stroms und rund um die innere Seitenoberfläche
Weiterhin ist es, durch das Bereitstellen des zweiten Türventils
Somit kann, wenn Plasma erzeugt wird, eine abnormale elektrische Entladung in dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt
Des Weiteren ist es, da die Spiralfeder
Aus diesem Grund ist es möglich, einen Schaden des zweiten Türventils
Zudem ist der technische Gegenstand der Erfindung nicht auf die oben beschriebenen Ausführungsformen beschränkt, sondern es können verschiedene Abwandlungen vorgenommen werden, ohne den Schutzbereich der Erfindung zu verlassen.In addition, the technical subject of the invention is not limited to the embodiments described above, but various modifications may be made without departing from the scope of the invention.
Und zwar sind die Materialien, Ausgestaltungen, oder dergleichen, die insbesondere in der Ausführungsform beschrieben werden, Beispiele der Erfindung, und Abwandlungen können in geeigneter Art und Weise eingesetzt werden.That is, the materials, configurations, or the like described in particular in the embodiment are examples of the invention, and modifications may be appropriately made.
In der oben beschriebenen Ausführungsform ist die Struktur beschrieben, in der das erste Türventil
Allerdings ist die Erfindung nicht auf die vorstehende Struktur beschränkt, sondern es kann, solange beide Türventile
Zum Beispiel kann eine Struktur eingesetzt werden, in der, wenn sich die Türventile
Des Weiteren kann als eine Struktur jedes der Türventile
Ferner ist, in der oben beschriebenen Ausführungsform, die Struktur beschrieben, in der die Spiralfeder
Allerdings ist die Erfindung nicht auf die vorstehende Struktur beschränkt, und es ist nicht notwendig, dass die Spiralfeder
Weiterhin kann, wie in
In dieser Struktur ist die Größe des Spalts G2 so gesetzt, dass eine elektrische Leistung zwischen dem Endabschnitt
D. h., wenn die hochfrequente Spannung angelegt wird, ist der Endabschnitt
In der vorstehenden Struktur ist es, da der Endabschnitt
Weiterhin ist, in den oben beschriebenen Beispielen, der Fall beschrieben, in dem ein gemischtes Gas aus SiH4 und H2 als ein Prozessgas verwendet wurde, und in dem ein μc-Si-Film auf der Behandlungsoberfläche
Allerdings ist die Erfindung nicht auf den vorstehenden Film-Typ beschränkt, sondern es können ein a-Si (amorphes Silizium), SiO2 (Oxidfilm), SiN (Nitridfilm), und SiC (Karburierungsfilm) unter Verwendung der Plasmaverarbeitungsvorrichtung
Des Weiteren kann, anstatt der Filmbildungsverarbeitung des Bildens eines gewünschten Films auf dem Substrat
In diesem Fall wird der Typ eines Prozessgases oder eine Flussrate in geeigneter Art und Weise gemäß den Verarbeitungsbedingungen geändert.In this case, the type of a process gas or a flow rate is appropriately changed according to the processing conditions.
Gewerbliche AnwendbarkeitIndustrial Applicability
Wie oben im Detail beschrieben, ist die Erfindung nützlich für eine Plasmaverarbeitungsvorrichtung, in der es möglich ist, eine abnormale elektrische Entladung an dem Übertragungs-Eingangs-Ausgangs-Abschnitt zu verhindern und eine anlegbare hochfrequente Spannung zu erhöhen.As described above in detail, the invention is useful for a plasma processing apparatus in which it is possible to prevent an abnormal electric discharge at the transmission input-output portion and to increase an applicable high-frequency voltage.
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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