DE112010000683B4 - Method and apparatus for non-contacting surface measurement - Google Patents
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Abstract
Verfahren für ein nicht-kontaktierendes Messen einer Oberflächenform eines Werkstücks durch Autofokussierungssteuerung eines autofokussierenden Optiksystems einer Lasersonde in einer vertikalen Richtung (Z) in Bezug auf eine Oberfläche des Werkstücks (1) und durch kontinuierliches Abtasten des Werkstücks in einer horizontalen Richtung (X, Y), zum Messen der Oberflächenform des Werkstücks in Übereinstimmung mit einer Verschiebungsgröße einer Objektivlinse (4) des autofokussierenden Optiksystems in der vertikalen Richtung, das derart gesteuert wird, dass ein Rückstrahl (L') der Lasersonde in fokussierter Position in der Mitte eines zweiteiligen Sensors (5) empfangen wird, wobei das Verfahren für ein nicht-kontaktierendes Messen einer Oberflächenform folgende Schritte umfasst: Erfassen einer Spannungsdifferenz zwischen den beiden Sensoren des zweiteiligen Sensors und Bestimmen, ob die erfasste Spannungsdifferenz innerhalb eines Nachbarschaftsbereichs liegt, der soweit um die fokussierte Position festlegbar ist, dass der Rückstrahl (L') der Lasersonde beide Sensoren des zweiteiligen Sensors teilweise erreicht, Berechnen, wenn die erfasste Spannungsdifferenz innerhalb des Nachbarschaftsbereichs liegt, eines Korrekturwerts für eine Position der Objektivlinse (4) in der vertikalen Richtung in Bezug auf die fokussierte Position, und Addieren des Korrekturwerts zu der tatsächlichen Position der Objektivlinse in der vertikalen Richtung, um die Verschiebungsgröße der Objektivlinse (4) in der vertikalen Richtung zu berechnen, wobei, wenn die erfasste Spannungsdifferenz nicht innerhalb des Nachbarschaftsbereichs liegt, das kontinuierliche Abtasten in der horizontalen Richtung gestoppt wird, bis die Spannungsdifferenz durch Tätigkeit der Autofokussierungssteuerung wieder in den Nachbarschaftsbereich kommt.Method for non-contacting measurement of a surface shape of a workpiece by auto-focusing control of an auto-focusing optical system of a laser probe in a vertical direction (Z) with respect to a surface of the workpiece (1) and by continuously scanning the workpiece in a horizontal direction (X, Y) , for measuring the surface shape of the workpiece in accordance with a displacement amount of an objective lens (4) of the autofocusing optical system in the vertical direction, which is controlled so that a return beam (L ') of the laser probe in a focused position in the center of a two-part sensor (5 ), wherein the method for a non-contacting measurement of a surface shape comprises the following steps: detecting a voltage difference between the two sensors of the two-part sensor and determining whether the detected voltage difference lies within a neighborhood area that extends around the focused P. osition can be determined that the return beam (L ') of the laser probe partially reaches both sensors of the two-part sensor, calculating, if the detected voltage difference is within the neighborhood area, a correction value for a position of the objective lens (4) in the vertical direction with respect to the focused position, and adding the correction value to the actual position of the objective lens in the vertical direction to calculate the amount of displacement of the objective lens (4) in the vertical direction, and if the detected voltage difference is not within the neighborhood range, continuous scanning in the horizontal direction is stopped until the voltage difference comes back into the neighborhood area by the action of the auto focus control.
Description
Technisches GebietTechnical area
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren für ein nicht-kontaktierendes Messen einer Oberflächenform.The present invention relates to a method for non-contact measuring of a surface shape.
Stand der TechnikState of the art
Eine Vorrichtung des Lasersondentyps mit einer Laser-Autofokussierung für ein nicht-kontaktierendes Messen einer Oberflächenform wird verwendet, um die Form und die Körnung eines Präzisionsteils zu messen. Die obere Fläche eines Werkstücks (eines zu messenden Objekts) wird in einer horizontalen Richtung mit vorbestimmten Schrittweiten durch einen Laserstrahl unter Verwendung einer Autofokussierungssteuerung abgetastet. In Übereinstimmung mit der Verschiebungsgröße einer Objektivlinse eines autofokussierenden Optiksystems in einer Fokussierungsrichtung werden Messdaten in Bezug auf eine Oberflächenform des Werkstücks erhalten.A laser probe type laser focusing device for non-contacting surface shape measurement is used to measure the shape and grain of a precision part. The upper surface of a workpiece (an object to be measured) is scanned in a horizontal direction with predetermined pitches by a laser beam using autofocusing control. In accordance with the shift amount of an objective lens of an autofocusing optical system in a focusing direction, measurement data related to a surface shape of the workpiece are obtained.
Die Objektivlinse wird derart gesteuert, dass wie in der
Zusammenfassung der ErfindungSummary of the invention
Problemstellung der ErfindungProblem of the invention
Die oben genannte Vorrichtung aus dem Stand der Technik tastet ein zu messendes Werkstück mit vorbestimmten Schrittweiten ab. Wenn die Vorrichtung im Fokus ist, werden Höheninformationen erhalten. Danach wird das Werkstück um eine Schrittweite vorgeschoben. Deshalb wird eine lange Messzeit benötigt.The above-mentioned prior art device scans a workpiece to be measured with predetermined pitches. When the device is in focus, height information is obtained. Thereafter, the workpiece is advanced by one step. Therefore, a long measuring time is needed.
Mit Bezug auf den Stand der Technik gibt die vorliegende Erfindung ein Verfahren für ein nicht-kontaktierendes Messen einer Oberflächenform an, das die Oberflächenform eines Werkstücks messen kann, indem es das Werkstück kontinuierlich und nicht intermittierend abtastet.With reference to the prior art, the present invention provides a method for non-contacting surface shape measurement that can measure the surface shape of a workpiece by scanning the workpiece continuously rather than intermittently.
Die Erfindung stellt ein Verfahren für ein nichtkontaktierendes Messen einer Oberflächenform eines Werkstücks nach Anspruch 1 und eine Vorrichtung für ein nichtkontaktierendes Messen einer Oberflächenform eines Werkstücks nach Anspruch 3 bereit.The invention provides a method for non-contact measuring a surface shape of a workpiece according to
Das Verfahren für ein nicht-kontaktierendes Messen einer Oberflächenform umfasst folgende Schritte: Erfassen einer Spannungsdifferenz zwischen zwei Sensoren eines zweiteiligen Sensors, und das Bestimmen, ob die erfasste Spannungsdifferenz innerhalb eines Nachbarschaftsbereichs liegt, der soweit um die fokussierte Position festlegbar ist, dass der Rückstrahl der Lasersonde beide Sensoren des zweiteiligen Sensors teilweise erreicht; Berechnen, wenn die erfasste Spannungsdifferenz innerhalb des Nachbarschaftsbereichs liegt, eines Korrekturwerts in einer vertikalen Richtung für eine Objektivlinse in Bezug auf die fokussierte Position; und Addieren des Korrekturwerts zu einer tatsächlichen Position in der vertikalen Richtung der Objektivlinse, um eine Verschiebungsgröße der Objektivlinse in der vertikalen Richtung zu berechnen; wobei, wenn die erfasste Spannungsdifferenz nicht innerhalb des Nachbarschaftsbereichs liegt, das kontinuierliche Abtasten in der horizontalen Richtung gestoppt wird, bis die Spannungsdifferenz durch Tätigkeit der Autofokussierungssteuerung wieder in den Nachbarschaftsbereich kommt.The method for non-contacting surface shape measurement comprises the steps of detecting a voltage difference between two sensors of a two-part sensor, and determining whether the detected voltage difference is within a neighborhood range that is determinable about the focused position such that the backscatter is Laser probe partially reaches both sensors of the two-part sensor; Calculating, when the detected voltage difference is within the neighborhood range, a correction value in a vertical direction for an objective lens with respect to the focused position; and adding the correction value to an actual position in the vertical direction of the objective lens to calculate a displacement amount of the objective lens in the vertical direction; wherein, when the detected voltage difference is not within the neighborhood range, the continuous scanning in the horizontal direction is stopped until the voltage difference returns to the neighborhood area by operation of the autofocusing control.
Kurzbeschreibung der ZeichnungenBrief description of the drawings
Ausführungsformen der Erfindung Embodiments of the invention
(Erste Ausführungsform)First Embodiment
Ein zu messendes Werkstück
Über dem Werkstück
Die AF-Skala
Über der Objektivlinse
Der Laserstrahl L wird durch eine Oberfläche des Werkstücks
Die Position des durch die Abbildungslinse
Wenn die optisch gewichtete Mitte des Punkts des Rückstrahls L' der Mitte des zweiteiligen Sensors S entspricht, gleichen die Ausgaben aus den zwei Sensoren a und b einander aus. In diesem Fall ist der durch die Objektivlinse
Ausgaben aus den zwei Sensoren a und b werden in eine AF-Steuereinrichtung
Um die Ausgaben aus den zwei Sensoren a und b auszugleichen, gibt die Steuerschaltung
Das Werkstück
Wenn der Rückstrahl L' auf die Mitte (neutrale Position) des zweiteiligen Sensors S der vorliegenden Ausführungsform trifft und die Ausgaben aus den zwei Sensoren a und b einander ausgleichen, ist die Objektivlinse
Wie in
Die Verschiebungsgrößen der Objektivlinse
Wenn die durch den zweiteiligen Sensor S erfasste Spannungsdifferenz außerhalb des Nachbarschaftsbereichs liegt, kann das Messverfahren einen Fehler vergrößern oder das Fehlen von Messdaten für einen Teil außerhalb des Nachbarschaftsbereichs verursachen.If the voltage difference detected by the two-part sensor S is out of the neighborhood range, the measuring method may increase an error or cause the lack of measurement data for a part outside the neighborhood area.
Auch wenn die Spannungsdifferenz in einem nicht-linearen Bereich außerhalb des Nachbarschaftsbereichs liegt, ist eine Messung möglich, wenn der Laserstrahlpunkt die beiden Sensoren a und b des zweiteiligen Sensors S teilweise erreicht, um die Erfassung einer Spannungsdifferenz zu ermöglichen. Weil eine Beziehung (nicht-lineare Kennlinie) zwischen der optisch gewichteten Mitte eines Punkts und einer Spannungsdifferenz, d. h. der Verschiebungsgröße der Objektivlinse
Um eine „gewellte Form” der Oberfläche des Werkstücks
Wenn eine Oberflächenform des Werkstücks
(Zweite Ausführungsform)Second Embodiment
Ein Werkstück als zu messendes Objekt gemäß dieser Ausführungsform ist ein im wesentlichen ringförmiges Innenzahnrad
Innerhalb der Drehbühne
Der durch die Reflexionsebene
Wenn auch eine Innenfläche eines Werkstücks gemessen wird, muss die Objektivlinse
Effekte der ErfindungEffects of the invention
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird auch dann, wenn ein Rückstrahl von einem zu messenden Werkstück nicht der Mitte des zweiteiligen Sensors entspricht, eine Spannungsdifferenz zwischen den zwei Sensoren des zweiteiligen Sensors für die Berechnung eines Korrekturwerts verwendet, wenn die Spannungsdifferenz innerhalb eines Nachbarschaftsbereichs liegt. Der Korrekturwert wird zu einer tatsächlichen Position der Objektivlinse in einer vertikalen Richtung addiert, um eine Verschiebungsgröße der Objektivlinse nach oben zu einem fokussierten Zustand (nach oben zu einer Position, an welcher der Rückstrahl der Mitte des zweiteiligen Sensors entspricht) zu berechnen. Auf diese Weise ist nicht immer ein tatsächlicher fokussierter Zustand erforderlich, wobei ein Zustand, in dem eine Spannungsdifferenz innerhalb des Nachbarschaftsbereichs liegt, ausreicht, um eine Oberflächenform des Werkstücks zu messen. Die Oberflächenform des Werkstücks kann gemessen werden, indem das Werkstück kontinuierlich abgetastet wird. Dadurch wird die Messzeit verkürzt.According to the present invention, even if a return beam from a workpiece to be measured does not correspond to the center of the two-part sensor, a voltage difference between the two sensors of the two-part sensor is used for the calculation of a correction value when the voltage difference is within a neighborhood range. The correction value is added to an actual position of the objective lens in a vertical direction to calculate a shift amount of the objective lens upward to a focused state (upward to a position where the return beam corresponds to the center of the two-part sensor). In this way, an actual focused state is not always required, and a state where a voltage difference is within the neighborhood region is enough to measure a surface shape of the workpiece. The surface shape of the workpiece can be measured by continuously scanning the workpiece. This shortens the measuring time.
Wenn die Spannungsdifferenz zwischen den zwei Sensoren des zweiteiligen Sensors außerhalb des Nachbarschaftsbereichs liegt, wird das kontinuierliche Abtasten des Werkstücks in einer horizontalen Richtung gestoppt. Durch diese Technik wird eine Oberflächenform mit Formvariationen korrekt gemessen, ohne Messfehler zu vergrößern oder ein Fehlen von Messdaten zu verursachen.When the voltage difference between the two sensors of the two-part sensor is out of the neighborhood area, the continuous scanning of the workpiece in a horizontal direction is stopped. This technique correctly measures a surface shape with shape variations without increasing measurement errors or causing a lack of measurement data.
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Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120194651A1 (en) * | 2011-01-31 | 2012-08-02 | Nikon Corporation | Shape measuring apparatus |
US9537042B2 (en) * | 2013-02-21 | 2017-01-03 | Nlight, Inc. | Non-ablative laser patterning |
US9842665B2 (en) | 2013-02-21 | 2017-12-12 | Nlight, Inc. | Optimization of high resolution digitally encoded laser scanners for fine feature marking |
US10100393B2 (en) | 2013-02-21 | 2018-10-16 | Nlight, Inc. | Laser patterning of multi-layer structures |
US10464172B2 (en) | 2013-02-21 | 2019-11-05 | Nlight, Inc. | Patterning conductive films using variable focal plane to control feature size |
US10618131B2 (en) | 2014-06-05 | 2020-04-14 | Nlight, Inc. | Laser patterning skew correction |
CN105720463B (en) | 2014-08-01 | 2021-05-14 | 恩耐公司 | Protection and monitoring of back reflection in optical fiber and fiber-optic transmission lasers |
JP6402029B2 (en) | 2014-12-25 | 2018-10-10 | 株式会社エンプラス | Measuring method |
JP6389759B2 (en) * | 2014-12-26 | 2018-09-12 | 三鷹光器株式会社 | Non-contact edge shape measuring method and apparatus |
US9837783B2 (en) | 2015-01-26 | 2017-12-05 | Nlight, Inc. | High-power, single-mode fiber sources |
US10050404B2 (en) | 2015-03-26 | 2018-08-14 | Nlight, Inc. | Fiber source with cascaded gain stages and/or multimode delivery fiber with low splice loss |
US10520671B2 (en) | 2015-07-08 | 2019-12-31 | Nlight, Inc. | Fiber with depressed central index for increased beam parameter product |
US11179807B2 (en) | 2015-11-23 | 2021-11-23 | Nlight, Inc. | Fine-scale temporal control for laser material processing |
EP3978184A1 (en) | 2015-11-23 | 2022-04-06 | NLIGHT, Inc. | Method and apparatus for fine-scale temporal control for laser beam material processing |
US10074960B2 (en) | 2015-11-23 | 2018-09-11 | Nlight, Inc. | Predictive modification of laser diode drive current waveform in order to optimize optical output waveform in high power laser systems |
CN108698164B (en) | 2016-01-19 | 2021-01-29 | 恩耐公司 | Method of processing calibration data in a 3D laser scanner system |
US10423015B2 (en) | 2016-09-29 | 2019-09-24 | Nlight, Inc. | Adjustable beam characteristics |
US10732439B2 (en) | 2016-09-29 | 2020-08-04 | Nlight, Inc. | Fiber-coupled device for varying beam characteristics |
US10730785B2 (en) | 2016-09-29 | 2020-08-04 | Nlight, Inc. | Optical fiber bending mechanisms |
JP2018116006A (en) * | 2017-01-20 | 2018-07-26 | 三鷹光器株式会社 | Contactless surface height measurement method and device therefor |
US11173548B2 (en) | 2017-04-04 | 2021-11-16 | Nlight, Inc. | Optical fiducial generation for galvanometric scanner calibration |
CN109341605B (en) * | 2018-11-08 | 2020-07-10 | 广西师范大学 | Composite measuring head based on laser heterodyne interference technology |
CN110044277B (en) * | 2019-04-04 | 2020-11-24 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Frame glue detection device and frame glue detection method |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3536700A1 (en) * | 1985-10-15 | 1987-04-16 | Ulrich Breitmeier | DEVICE FOR DETERMINING THE LOCAL DISTANCE OF A TEST AREA FROM A REFERENCE AREA |
DE3719422A1 (en) * | 1986-12-19 | 1988-06-30 | Hommelwerke Gmbh | DEVICE FOR CONTACT-FREE MEASUREMENT OF A DISTANCE FROM A SURFACE, IN PARTICULAR TO SCAN A CONTOUR OF A SURFACE OF A WORKPIECE LENGTH OF A MEASURING PATH |
JPH0743110A (en) * | 1993-05-24 | 1995-02-10 | Mitaka Koki Co Ltd | Two-stage detecting type non-contact positioning device |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4958826A (en) * | 1972-10-04 | 1974-06-07 | ||
US4300167A (en) * | 1980-02-07 | 1981-11-10 | Circon Corporation | Automatic iris control system |
US4577967A (en) * | 1983-05-20 | 1986-03-25 | Citizen Watch Co., Ltd. | Surface shape measurement apparatus |
JPH02125498A (en) | 1988-11-04 | 1990-05-14 | Hitachi Chem Co Ltd | High density circuit board and manufacture thereof |
ATE169123T1 (en) * | 1991-03-25 | 1998-08-15 | Heidelberger Druckmasch Ag | METHOD AND DEVICE FOR OPTICALLY MEASURING DISTANCES |
DE4219311C2 (en) | 1991-06-13 | 1996-03-07 | Sony Magnescale Inc | Displacement detector |
JP2973636B2 (en) * | 1991-09-26 | 1999-11-08 | ソニー・プレシジョン・テクノロジー株式会社 | Displacement detector |
JPH10148506A (en) * | 1996-11-15 | 1998-06-02 | Ricoh Co Ltd | Optical displacement gauge and surface shape measuring device therewith, displacement measuring method and surface measuring method therewith, and displacement measuring method and storage medium which can be read by computer storing program to allow computer to execute displacement measuring method or surface shape measuring method |
JP3900609B2 (en) * | 1997-08-29 | 2007-04-04 | 株式会社ニコン | Cross-sectional shape measuring device |
JP2003100246A (en) * | 2001-09-25 | 2003-04-04 | Toshiba Corp | Charged particle beam device and methods for pattern measuring and pattern drawing |
JP2004145009A (en) * | 2002-10-24 | 2004-05-20 | Mitsutoyo Corp | Focusing servo device, image measuring device, and focusing servo method |
US7286246B2 (en) * | 2003-03-31 | 2007-10-23 | Mitutoyo Corporation | Method and apparatus for non-contact three-dimensional surface measurement |
JP3923945B2 (en) * | 2004-01-13 | 2007-06-06 | 三鷹光器株式会社 | Non-contact surface shape measurement method |
JP5242940B2 (en) * | 2007-04-24 | 2013-07-24 | 三鷹光器株式会社 | Non-contact shape measuring device |
JP4513832B2 (en) | 2007-07-13 | 2010-07-28 | ヤマハ株式会社 | Class D amplifier circuit |
JP5153582B2 (en) * | 2008-02-20 | 2013-02-27 | 三洋電機株式会社 | Inspection method and inspection apparatus for objective lens driving device |
-
2010
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3536700A1 (en) * | 1985-10-15 | 1987-04-16 | Ulrich Breitmeier | DEVICE FOR DETERMINING THE LOCAL DISTANCE OF A TEST AREA FROM A REFERENCE AREA |
DE3719422A1 (en) * | 1986-12-19 | 1988-06-30 | Hommelwerke Gmbh | DEVICE FOR CONTACT-FREE MEASUREMENT OF A DISTANCE FROM A SURFACE, IN PARTICULAR TO SCAN A CONTOUR OF A SURFACE OF A WORKPIECE LENGTH OF A MEASURING PATH |
JPH0743110A (en) * | 1993-05-24 | 1995-02-10 | Mitaka Koki Co Ltd | Two-stage detecting type non-contact positioning device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2010087391A1 (en) | 2012-08-02 |
WO2010087391A1 (en) | 2010-08-05 |
US20110279826A1 (en) | 2011-11-17 |
US8570532B2 (en) | 2013-10-29 |
CN102301200A (en) | 2011-12-28 |
SG173479A1 (en) | 2011-09-29 |
JP5584140B2 (en) | 2014-09-03 |
DE112010000683T5 (en) | 2012-10-31 |
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---|---|---|
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DE112014007223T5 (en) | Distance sensor, distance detection device and distance detection method | |
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DE102018202625B4 (en) | Measuring device | |
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KR20060132579A (en) | Method of and apparatus for determining focus of an imaging system | |
DE2539577A1 (en) | METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING ANGLE DISPLACEMENT |
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