DE1109400B - Microscope stage, in particular for measuring nuclear tracks - Google Patents

Description

Mikroskoptisch, insbesondere zur Vermessung von Kernspuren Der Gegenstand der Erfindung betrifft einen Mikroskoptisch für hohe Anforderungen an Genauigkeit, insbesondere zur Vermessung von Kernspuren, der ein schnelles und genaues Spannen und Entspannen des Objektes zuläßt und mit dem sowohl eine Drehung des Objektes um die optische Achse des Abbildungsstrahlenganges als auch eine geradlinige Bewegung des Objektes durchführbar ist.Microscope stage, especially for measuring nuclear traces The object The invention relates to a microscope stage for high demands on accuracy, especially for the measurement of core tracks, which enables fast and precise clamping and relaxation of the object allows and with which both a rotation of the object around the optical axis of the imaging beam path as well as a rectilinear movement of the object is feasible.

Es sind an sich Mikroskoptische bekannt, mit denen sowohl eine Drehung als auch eine translatorische Verschiebung des Objektes nach zwei zueinander senkrechten Richtungen vorgenommen werden kann. Bei diesen Anordnungen ist jedoch nach Einspannen des Objektes die Lage des Kreuztisches zum Objekt festgelegt, also nicht mehr veränderlich.There are microscope stages known per se, with which both a rotation as well as a translational shift of the object to two mutually perpendicular Directions can be made. In these arrangements, however, is after clamping of the object, the position of the cross table to the object is determined, i.e. no longer changeable.

Demgegenüber unterscheidet sich die erfindungsgemäße Anordnung dadurch, daß die beiden Achsen des Kreuztisches jederzeit in beliebiger Richtung zu der Probe orientiert werden können.In contrast, the arrangement according to the invention differs in that that the two axes of the cross table at any time in any direction to the sample can be oriented.

Auf diese Weise ist es besonders einfach möglich, senkrechte Abweichungen von einer in erster Näherung in gerader Richtung verlaufenden Kernspur festzustellen.In this way it is particularly easy to find vertical deviations can be determined from a core track running in a straight direction in a first approximation.

Der Vorgang ist also folgender: Mittels des Drehsystems wird die Probe zunächst so orientiert, daß eine Achse des Kreuztisches parallel zu der angenähert geradlinigen Kernspur in der Probe verläuft. Die zweite Achse des Kreuztisches dient dann dazu, die Spur in die Mitte des Sehfeldes zu stellen bzw. sagittale (senkrechte) Abweichungen von dieser Spur zu messen.The process is as follows: The sample is turned by means of the rotating system initially oriented so that an axis of the cross table is approximated parallel to that straight nuclear track runs in the sample. The second axis of the cross table is used then to place the track in the center of the field of view or sagittal (vertical) To measure deviations from this track.

Es ist weiterhin bekannt, daß Gleittische grundsätzlich eine Verschiebung der Proben in beliebiger Richtung zulassen. Diese Tische haben jedoch den Nachteil, daß sie bei der Anwendung hoher Vergrößerungen, wie sie bei der erfindungsgemäßen Anordnung verwendet werden (etwa 1200fach), bei der mit Hand vorgenommenen Verschiebung keine sichere Ausrichtung zulassen. Es besteht bei solchen Gleittischen die Gefahr, daß man die Probe häufig über die gewünschte Stelle hinaus verschiebt und dann wieder in entgegengesetzter Richtung das Ziel zu erreichen versucht. Es ist zwar bekannt, auch bei Gleittischen eine Schraube zum Verschieben der Probe anzuwenden; mit einer solchen ist jedoch eine mit einem Kreuztisch erreichbare Präzision nicht zu erzielen.It is also known that slide tables are basically a displacement allow the samples in any direction. However, these tables have the disadvantage that they are used in the application of high magnifications, as in the case of the invention Arrangement can be used (about 1200fold) in the manual shift do not allow safe alignment. With such sliding tables there is the risk of that one often shifts the sample beyond the desired point and then again trying to reach the goal in the opposite direction. It is well known use a screw to move the specimen even with slide tables; with a however, such a precision that can be achieved with a cross table cannot be achieved.

Diese Nachteile werden gemäß der Erfindung dadurch beseitigt, daß einer den Objektträger tragenden ferromagnetischen Spannplatte zwei Elektromagnetsysteme zugeordnet sind, von denen das eine ringförmig und koaxial zum Mikroskopobjektiv meßbar drehbar angeordnet ist, während das andere an dem Mikroskopkreuztisch befestigt und die Anordnung so getroffen ist, daß wahlweise das eine oder andere Magnetsystem zum Spannen benutzbar ist.These disadvantages are eliminated according to the invention in that a ferromagnetic clamping plate carrying the slide, two electromagnetic systems are assigned, one of which is ring-shaped and coaxial with the microscope objective is arranged measurably rotatable, while the other is attached to the microscope cross table and the arrangement is made so that either one or the other magnet system can be used for clamping.

Da immer nur ein Magnetsystem in Wirkung sein darf, muß dafür Sorge getragen werden, daß der remanente Magnetismus des anderen vorher eingeschaltet gewesenen Magnetsystems beseitigt wird. Andernfalls würden zu starke Widerstände bei Bewegung der Spannplatte zu überwinden sein. Hierfür sind Mittel bekannter Art vorgesehen, die bei Einschaltung des einen Elektromagnetsystems das andere Elektromagnetsystem entmagnetisieren.Since only one magnet system may be in effect at a time, care must be taken be worn that the remanent magnetism of the other switched on beforehand existing magnet system is eliminated. Otherwise there would be too much resistance to be overcome when moving the clamping plate. Means of known kind are available for this provided that when one of the electromagnet systems is switched on, the other electromagnet system demagnetize.

Eine vorteilhafte Ausführung ergibt sich, wenn einer der Spannmagnete an vorzugsweise kurzhübigen Blattfedern befestigt ist, die diesen Magneten im entmagnetisierten Zustand von der Spannplatte leicht abheben, wodurch das Reibungsmoment zwischen dem Spannmagneten und der Spannplatte beseitigt wird.An advantageous embodiment results when one of the clamping magnets is attached to preferably short-stroke leaf springs that demagnetized these magnets Lift the state slightly from the clamping plate, reducing the frictional torque between the clamping magnet and the clamping plate is eliminated.

Zur Herabsetzung des Gewichtes der mit höchster Präzision geführten Spannplatte und aus Gründen der besseren Entmagnetisierung hat es sich als besonders vorteilhaft erwiesen, wenn die Spannplatte aus leichtem und unmagnetischem Material mit ein- oder beidseitiger ferromagnetischer Auflage besteht.To reduce the weight of the guided with the highest precision Clamping plate and for reasons of better demagnetization, it has proven to be special Proven to be advantageous if the clamping plate is made of light and non-magnetic material with one or two-sided ferromagnetic support.

Ein Ausführungsbeispiel des Gegenstandes der Erfindung ist in der Zeichnung teilweise im Längsschnitt dargestellt.An embodiment of the subject matter of the invention is in Drawing partially shown in longitudinal section.

Koaxial zu dem Objektiv 1, dem Kondensor 2 und dem Okular 3 eines Kernspurmikroskops ist ein Radial-Kugellager 4 angeordnet, an dessen innerem Ring mittels Blattfedern 5 ein ringförmiges Magnetsystem 6 befestigt ist. Innerhalb dieses Magnetsystems befindet sich ein zweites Magnetsystem 7, welches mit einem Träger 8 fest verbunden und mittels Rollen 9 auf dem Mikroskoptisch 10 geradlinig verschiebbar ist.Coaxial to the objective 1, the condenser 2 and the eyepiece 3 of one Nuclear track microscope, a radial ball bearing 4 is arranged on its inner ring an annular magnet system 6 is attached by means of leaf springs 5. Inside this Magnet system is a second magnet system 7, which with a carrier 8 firmly connected and by means of rollers 9 on the microscope stage 10 can be moved in a straight line.

Diese beiden Magnetsysteme 6 und 7 sind wahlweise einschaltbar und wirken auf eine als Träger eines zu betrachtenden Objektes 11 dienenden Spannplatte 12, die auf der unteren Seite mit einer ferromagnetischen Auflage 13 versehen ist. Soll eine Drehung des auf der Spannplatte 12 befestigten Objektes 11 vorgenommen werden, was bei einer Richtungsänderung der zu vermessenden Kernspur erforderlich ist, so wird das vom Radiallager 4 geführte Magnetsystem 6 eingeschaltet. Infolge des dadurch entstehenden magnetischen Feldes und der Aufhängung dieses Magnetsystems mittels der Bandfedern 5 schnellt dieses von unten gegen die Spannplatte 12 (13) und zwischen letzterer und diesem Magnetsystem 6 ist solange eine feste Kupplung hergestellt, wie der Strom eingeschaltet bleibt. Durch Drehen dieses Magnetsystems 6 kann nun das Objekt 11 um die optische Achse des Mikroskopes um jeden beliebigen Winkel in die gewünschte Lage gedreht und das Maß der Drehung an einer nicht mit dargestellten Skala direkt oder im Gesichtsfeld des Okulars 3 abgelesen werden.These two magnet systems 6 and 7 can optionally be switched on and act on a clamping plate 12 which serves as a carrier for an object 11 to be viewed and which is provided with a ferromagnetic support 13 on the lower side. If the object 11 fastened on the clamping plate 12 is to be rotated, which is necessary when the direction of the core track to be measured changes, the magnet system 6 guided by the radial bearing 4 is switched on. As a result of the resulting magnetic field and the suspension of this magnet system by means of the band springs 5, it snaps from below against the clamping plate 12 (13) and between the latter and this magnet system 6 a fixed coupling is established as long as the current remains switched on. By rotating this magnet system 6, the object 11 can now be rotated around the optical axis of the microscope by any desired angle into the desired position and the degree of rotation can be read on a scale (not shown) directly or in the field of view of the eyepiece 3.

Soll nun anschließend die Kernspur in ihrer neuen Richtung verfolgt und ausgemessen werden, so muß das andere Magnetsystem 7 eingeschaltet werden. Dabei wird das bisher eingeschaltet gewesene Magnetsystem 6 durch Schaltmittel bekannter Art ausgeschaltet und nach einem kurzen Entmagnetisierungsstrom schnellt dieses bisher benutzte Magnetsystem 6 infolge der Blattfeder 5 in die in der Skizze mit übertriebenem Abstand von der Spannplatte dargestellten Ausgangslage zurück. Nunmehr ist das andere Magnetsystem 7 fest mit der Spannplatte 12 (13) gekuppelt und durch Verschieben des Trägers 8 auf dem Mikroskoptisch 10 mit einer in der Fig. 1 nicht mit dargestellten Mikrometerschraube am Kreuztisch ist das Objekt 11 geradlinig im Gesichtsfeld des Mikroskopes verschiebbar.If the core track is then to be followed and measured in its new direction, the other magnet system 7 must be switched on. The previously switched on magnet system 6 is switched off by switching means of a known type and after a brief demagnetizing current, this previously used magnet system 6, due to the leaf spring 5, snaps back into the starting position shown in the sketch with an exaggerated distance from the clamping plate. The other magnet system 7 is now firmly coupled to the clamping plate 12 (13) and by moving the carrier 8 on the microscope table 10 with a micrometer screw on the cross table, not shown in FIG. 1, the object 11 can be moved in a straight line in the field of view of the microscope.

Es sei noch darauf hingewiesen, daß die Probe stets auf dem System 7 aufliegt, so daß ein fester Abstand zwischen Objektiv und Probe während der Messung erhalten bleibt. Bei Betätigung des Systems 6 wird dann die Probe auf dem System 7 verschoben.It should also be noted that the sample is always on the system 7 rests, so that a fixed distance between the objective and the sample during the measurement preserved. When the system 6 is actuated, the sample is then placed on the system 7 postponed.

Claims (4)

PATENTANSPRÜCHE: 1. Mikroskoptisch, insbesondere zur Vermessung von Kernspuren, dadurch gekennzeichnet, daß einer den Objektträger tragenden ferromagnetischen Spannplatte zwei Elektromagnetsysteme zugeordnet sind, von denen das eine ringförmig und koaxial zum Mikroskopobjektiv meßbar drehbar angeordnet ist, während das andere an dem Mikroskopkreuztisch befestigt und die Anordnung so getroffen ist, daß wahlweise das eine oder andere Magnetsystem zum Spannen benutzbar ist. PATENT CLAIMS: 1. Microscope stage, especially for measuring Nuclear tracks, characterized in that one ferromagnetic Clamping plate are assigned two electromagnetic systems, one of which is ring-shaped and is arranged coaxially to the microscope objective so as to be measurable rotatable, while the other attached to the microscope cross table and the arrangement is made so that optional one or the other magnet system can be used for clamping. 2. Mikroskoptisch nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel bekannter Art vorgesehen sind, die bei Einschaltung des einen Elektromagnetsystems das andere Magnetsystem entmagnetisieren. 2. Adjust the microscope stage Claim 1, characterized in that means of known type are provided which when one of the electromagnetic systems is switched on, demagnetize the other magnet system. 3. Mikroskoptisch nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß einer der Spannmagneten an vorzugsweise kurzhübigen Blattfedern befestigt ist, die diesen Magneten im entmagnetisierten Zustand von der Spannplatte leicht abheben. 3. microscope stage according to claim 2, characterized in that one of the clamping magnets is attached to preferably short-stroke leaf springs that demagnetized these magnets Lift the state slightly from the clamping plate. 4. Mikroskoptisch nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Spannplatte aus leichtem und unmagnetischem Material mit ein- oder beidseitiger ferromagnetischer Auflage besteht. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschriften Nr. 815 704, 642 598; deutsches Gebrauchsmuster Nr. 1706 671; USA.-Patentschriften Nr. 2 003 387, 1505 418; britische Patentschrift Nr. 591163; französische Patentschrift Nr. 769 456; Prospekte d. Fa. Carl Zeiss, Oberkochen/Württ., 40-451-d, Scho. XII/5600, S. 6, Abs. 9, und 40-110-e, W VIII/57 Aoo, S. 6 und 7; Prospekt d. Fa. Spencer, Am. optical Comp. Sci. Instr. Div., Buffalo 15, New York M 66-846.4. Microscope stage according to claim 3, characterized in that the clamping plate consists of light and non-magnetic material with a ferromagnetic support on one or both sides. Considered publications: German Patent Nos. 815 704, 642 598; German utility model No. 1706 671; U.S. Patent Nos. 2,003,387, 1505,418; British Patent No. 591163; French Patent No. 769,456; Brochures d. Carl Zeiss, Oberkochen / Württ., 40-451-d, Scho. XII / 5600, p. 6, para. 9, and 40-110-e, W VIII / 57 Aoo, p. 6 and 7; Prospectus d. Spencer, Am. optical Comp. Sci. Instr. Div., Buffalo 15, New York M 66-846.