DE1056840B - Method for distributing foreign matter components in semiconductor rods by a crucible-free zone melting method - Google Patents

Method for distributing foreign matter components in semiconductor rods by a crucible-free zone melting method

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DE1056840B
DE1056840B DES32194A DES0032194A DE1056840B DE 1056840 B DE1056840 B DE 1056840B DE S32194 A DES32194 A DE S32194A DE S0032194 A DES0032194 A DE S0032194A DE 1056840 B DE1056840 B DE 1056840B
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Germany
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foreign matter
semiconductor
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DES32194A
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Dr Karl Siebertz
Dr Heinz Henker
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Siemens AG
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Siemens AG
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B13/00Single-crystal growth by zone-melting; Refining by zone-melting
    • C30B13/28Controlling or regulating

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Materials Engineering (AREA)
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  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

Verfahren zum Verteilen von Fremdstoffkomponenten in Halbleiterstäben durch ein tiegelloses Zonenschmelzverfahren Es wurde bereits ein Verfahren zum Umschmelzen eines Halbleiterstabes, z. B. zur Reinigung oder Vergleichmäßigung des Konzentrationsspiegels der in dem Stab anwesenden Verunreinigungen, vorgeschlagen, bei dem in dem nur an seinen Enden. in vertikaler Lage gehalterten Halbleiterstab eine sich über den Stabquerschnitt erstreckende, von den angrenzenden festen Stabteilen auf Grund der Oberflächenspannung freigetragene geschmolzene Zone erzeugt und allmählich von dem einen. bis zu dem anderen Ende des Stabes durch eine Relativbewegung zwischen dem Stab und der die geschmolzene Zone erzeugenden Wärmequelle verschoben wird.. Da bei diesem Verfahren keine Gefäßwände mit der Schmelzzone in Berührung kommen, lassem, sich durch eine gegebenenfalls iterierte Anwendung dieses Verfahrens Reinheitsgrade erzielen, die mit dem bisher bekannten Zonenschmelzverfahren, bei dem das umzuschmelzende Material in einem. Schiffchen, gehaltert wurde, nicht erreicht werden konnten.Method for distributing foreign matter components in semiconductor rods by a crucible-free zone melting process There has already been a process for remelting a semiconductor rod, e.g. B. to clean or equalize the concentration level of the impurities present in the rod, suggested in which only at its ends. A semiconductor rod held in a vertical position extends over the rod cross-section extending from the adjoining solid rod parts due to surface tension released molten zone generated and gradually from the one. up to that other end of the rod by a relative movement between the rod and the die molten zone generating heat source is moved .. As in this process no vessel walls come into contact with the enamel zone, let them pass through a If necessary, iterated application of this process can achieve degrees of purity that with the previously known zone melting process in which the material to be remelted in one. The shuttle that was held could not be reached.

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Verteilen der vom Grundstoff aufgenommenem Fremdstoffkomponen.ten in einem Stab aus Halbleitergrundstoff durch tiegelloses Zonenschmelzen, wobei die Schmelzzone durch den vorzugsweise aufrecht angeordneten, an beiden Enden gehalterten. Stab geführt wird. Dieses. Verfahren wird gemäß der Erfindung zum gezielten Verteilen der in den Halbleiterstab einzuführenden Fremdstoffe auf bestimmte Zonen des Stabes (Dotieren) angewendet.The invention relates to a method for distributing the from Foreign material components absorbed in the base material in a rod made of semiconductor base material by crucible zone melting, the melting zone preferably being upright arranged, held at both ends. Rod is guided. This. procedure is according to the invention for the targeted distribution of the to be introduced into the semiconductor rod Foreign matter applied to certain zones of the rod (doping).

Der Fremdstoff, beispielsweise ein Donator oder ein Akzeptor, kann dabei vor Einleitung des Schmelzvorganges in den Körper eingeführt werden. Zu diesem Zwecke kann der Stab an der gewünschten. Stelle angebohrt oder angefräst und dort mit einer entsprechenden. Dosis eines Donators oder Akzeptors versehen werden. Sobald diese Stelle von der Schmelzzone aufgeschmolzen ist, wird der in Wanderrichtung der Schmelzzone liegende Kristallbereich mit dem Donator bzw. Akzeptor versetzt, während der vorher umgeschmolzene und bereits. erstarrte Teil des Stabes davon frei bleibt. Legt man zwei Pillen in genau bemessenem Abstand hintereinander ein, so daß die Schmelzzone z. B. zuerst den Akzeptor und unmittelbar danach den den Akzeptor wieder überkompensierenden Donator erfaßt, so bildet sich in dem Halbleiterstab eine dünne p-Schicht im sonst n-leitenden Material aus. Die Dicke der p-Schicht wird dabei im wesentlichen vom Abstand der Pillen, d h. von der Wegdifferenz, mit der sie nacheinander von der Schmelzzone erreicht werden, bestimmt.The foreign substance, for example a donor or an acceptor, can be introduced into the body before starting the melting process. To this Purposes can be the rod at the desired. Spot drilled or milled and there with a corresponding. Dose of a donor or acceptor can be provided. As soon If this point is melted by the melting zone, it becomes that in the direction of travel The crystal area lying in the melting zone is mixed with the donor or acceptor, during the previously remelted and already. part of the rod froze free of it remain. If you put two pills in exactly the right distance between them, so that the melting zone z. B. first the acceptor and immediately thereafter the acceptor detected again overcompensating donor, so forms in the semiconductor rod a thin p-layer in the otherwise n-conductive material. The thickness of the p-layer is essentially determined by the distance between the pills, i.e. of the path difference, with which they are reached one after the other from the melting zone.

Die Fremdsubstanz kann aber auch während des Schmelzvorganges eingebracht werden und wird dann durch die im Stabe wandernde Schmelzzone über eine gewisse Zonenbreite verteilt. Das kann geschehen, indem man bei einheitlichem Stabmaterial die die Leitfähigkeit bestimmenden entsprechend dosierten Pillen in geeigneter zeitlicher Folge in die Schmelzzone eindrückt, einschließt, einfallen läßt oder auf sonst geeignete Weise einbringt. Anstelle der Zugabe des Fremdstoffes in fester Form kann die Zugabe auch in Gasfarm - gegebenenfalls durch plötzliches vorübergehendes Beimischen zur umgebenden Schutzatmosphäre - bewirkt werden.However, the foreign substance can also be introduced during the melting process and is then passed through the melting zone moving in the rod over a certain amount Zone width distributed. This can be done by using the same rod material the correspondingly dosed pills determining the conductivity at a suitable time Result in the melting zone presses, encloses, collapses or otherwise suitable Way. Instead of adding the foreign substance in solid form, adding also in gas farm - if necessary by sudden temporary admixture to surrounding protective atmosphere - are effected.

Bei allen Ausfführungsformen ist folgender wesentliche Gesichtspunkt zu beachten. Würde man die Fremdsubstanz nur in äußerst geringer Menge zusetzen, so würde sie durch das Zonensahmelzverfahren an das Ende des Stabes transportiert werden und aus dem Material auf diese Weise sofort wieder ausgeschieden werden. Es ist daher darauf zu achten, daß die Beimengung in einem höheren Konzentrationsgrad zugesetzt wird, so daß das an sich zum Reinigen oder auch zum Kristallziehen vorgeschlagene Zonenschmelzverfahren nicht zum Entfernen, sondern gerade zum Dispergieren der an einer einzigen. Stelle hinzugefügten Beimischung über eine gewisse Zonenbreite des Halbleiterstabes führt.In all embodiments, the following essential point is made to be observed. If the foreign substance were only added in extremely small quantities, so it would be transported to the end of the rod by the zoning process and are immediately eliminated from the material in this way. It is therefore important to ensure that the admixture is in a higher degree of concentration is added, so that the proposed per se for cleaning or for crystal pulling Zone melting process not for removing, but just for dispersing the a single. Place added admixture over a certain zone width of the Semiconductor rod leads.

In der Zeichnung bedeutet 1 einen vorgereänigten Germaniumstab, der zwischen zwei Halterungen 2 und 3 senkrecht angeordnet ist. 4 bedeutet eine Bohrung, in die eine gewisse Dosis eines in bezug auf das Germanium als Donator wirkenden Materials eingebracht ist. In einer zweiten Bohrung 5 befindet sich eine entsprechende Dosis eines Akzeptors. 6 ist ein Heizring, der den Halbleitexstab zonenweise zu schmelzen vermag. Der Heizring wird in. Richtung des Pfeiles 7 langsam verschoben. Die Halterung 2 führt während. des sukzessiven, zonenweisen Schmelzvorganges eine Rotation im Sinne des Pfeiles 8 aus. Außerdem ist die Halterung 2 an einen Vibrator angeschlossen., so daß eine Vibration im Sinne des Doppelpfeiles 9 stattfindet. Sobald die. von dem Heizring 6 erzeugte Schmelzzone die Stellen 4 und 5 überstreicht, werden die dort eingebrachten Substanzen innerhalb gewisser Zonen des Halbleiterstabes dispergiert. Letzte Spuren von unerwünschten Verunreinigungen werden außerdem an das untere. Ende des Stabes 1 transportiert. Der Stab 1 kann. auch waagerecht angeordnet sein.In the drawing, 1 denotes a pre-cleaned germanium rod which is arranged vertically between two holders 2 and 3. 4 denotes a bore into which a certain dose of a material which acts as a donor with respect to the germanium is introduced. A corresponding dose of an acceptor is located in a second bore 5. 6 is a heating ring that is able to melt the semiconductor rod in zones. The heating ring is slowly moved in the direction of arrow 7. The bracket 2 performs during. of the successive, zone-wise melting process a rotation in the direction of arrow 8. In addition, the holder 2 is connected to a vibrator. So that a vibration in the sense of the double arrow 9 takes place. As soon as the. If the melting zone generated by the heating ring 6 sweeps over the points 4 and 5, the substances introduced there are dispersed within certain zones of the semiconductor rod. Last traces of unwanted impurities are also transferred to the lower one. End of the rod 1 transported. The rod 1 can. also be arranged horizontally.

Die Erfindung ist nicht auf das Ausführungsbeispiel beschränkt. Das Verfahren gemäß der Erfindung läßt sich in den beschriebenen. Ausführungsformen gleichzeitig auch zum Reinigen oder zum Kristallziehen, d. h. zur Umwandlung des Kristallgefüges des halbleitenden Stabes ausnutzen. So kann z. B. der zu behandelnde Stab aus gesinterten, gegebenenfalls vorgereinigten Halbleitermaterial bestehen, das unter Umständen in entsprechender Weise geschichtet ist. Je nach der auszunutzenden Wirkung sind bald die einen, bald die anderen Vorteile des Zonenschmelzverfahrens nach der Erfindung von verschiedener Bedeutung. Es ist daher die Auswahl der verschiedenen in den Ausführungsbeispielen. dargestellten Maßnahmen nach den Bedürfnissen des jeweiligen Anwendungszweckes im einzelnen. Fall zu treffen.The invention is not restricted to the exemplary embodiment. That Process according to the invention can be found in the described. Embodiments at the same time also for cleaning or for crystal pulling, d. H. to convert the Make use of the crystal structure of the semiconducting rod. So z. B. the one to be treated Rod made of sintered, possibly pre-cleaned semiconductor material, which may be layered in a corresponding way. Depending on the one to be exploited Sometimes there are some effects, sometimes the other advantages of the zone melting process according to the invention of various importance. It is therefore the choice of the various in the exemplary embodiments. measures according to the needs of the respective application in detail. Case to meet.

Claims (7)

PATENTANSPRÜCHE: 1. Verfahren zum Verteilen der vom Grundstoff aufgenommenen Fremdstoffkomponenten in einem Stab aus Halbleitergrundstoff durch tiegelloses Zonenschmelzen, wobei die Schmelzzone durch den vorzugsweise aufrecht angeordneten, an beiden Enden gehalterten Stab geführt wird,, gekennzeichnet durch die Anwendung zum gezielten. Verteilen der in den Halbleiterstab einzuführenden Fremdstoffe auf bestimmte Zonen des Stabes (Dotieren). PATENT CLAIMS: 1. A method for distributing the foreign matter components absorbed by the base material in a rod made of semiconductor base material by crucible-free zone melting, the melting zone being guided through the rod, which is preferably arranged upright and held at both ends, characterized by its use for targeted. Distributing the foreign matter to be introduced into the semiconductor rod to specific zones of the rod (doping). 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn: zeichnet, daß der Fremdstoff, beispielsweise ein Donator oder ein Akzeptor, vor Einleitung des Schmelzvorganges in den Halbleiterkörper eingeführt wird. 2. The method according to claim 1, characterized in that the foreign substance, for example a donor or an acceptor, introduced into the semiconductor body before the melting process is initiated will. 3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß in dem halbleitenden Körper eine oder mehrere Bohrungen, Fräsungen oder andere geeignete Öffnungen erzeugt werden, die zur Aufnahme des Fremdstoffes dienen. 3. The method according to claim 2, characterized in that in the semiconducting Body creates one or more bores, millings or other suitable openings which serve to absorb the foreign matter. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß als Halbleiterkörper ein gegebenenfalls vorgereinigter Sinterkörper dient. 4. The method according to any one of the claims 1 to 3, characterized in that the semiconductor body is an optionally pre-cleaned Sintered body is used. 5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß dem Sinterkörper an einer oder mehreren gewünschten Stellen ein oder mehrere Fremdstoffe beigemengt sind. 5. The method according to claim 4, characterized in that the Sintered body, one or more foreign substances at one or more desired locations are added. 6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Fremdstoff der geschmolzenen Zone zugeführt wird. 6. The method according to any one of claims 1 to 5, characterized in that that the foreign matter is supplied to the molten zone. 7. Transistor, Phototransistor, Richtleiter, Varistor, temperaturabhängiger Widerstand oder ähnliches, aus einem Halbleiter, gegebenenfalls mit np-Zonen hergestelltes Gerät, dadurch gekennzeichnet, daß das halbleitende Material nach dem Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 6 hergestellt ist. In Betracht gezogene Druckschriften: Belgische Patentschrift Nr. 510 303. In Betracht gezogene ältere Patente: Deutsches Patent Nr. 1014 332.7. transistor, phototransistor, directional conductor, varistor, temperature-dependent resistor or the like, device made of a semiconductor, optionally with np-zones, characterized in that the semiconducting material is made by the method according to any one of claims 1 to 6. Documents considered: Belgian patent specification No. 510 303. Prior patents considered: German patent No. 1 014 332.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1289625B (en) * 1960-03-11 1969-02-20 Commissariat Energie Atomique Method for sintering a tubular blank and device for carrying out the method

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE510303A (en) * 1951-11-16

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