DE10313399A1 - Micorvia Conductor Prepreg-Layer zur Herstellung von HDI-Multilayern durch gemeinsame Verpressung von Einzellagen, von optoelektronischen und Chip in Polymer Schaltungselementen sowie Verfahren und Vorrichtung zu deren Herstellung - Google Patents
Micorvia Conductor Prepreg-Layer zur Herstellung von HDI-Multilayern durch gemeinsame Verpressung von Einzellagen, von optoelektronischen und Chip in Polymer Schaltungselementen sowie Verfahren und Vorrichtung zu deren HerstellungInfo
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Abstract
Es wird ein Microvia Conductor Prepreg Layer zur Herstellung von HDI-Multilayern und optoelektronischen Schaltungselementen durch bevorzugte Verpressung von Einzellagen beschrieben, bei dem auf der Kupferfolie ein Glasfaservlies mit lösungsmittelhaltigem Epoxidharzlack beschichtet, das Lösungsmittel getrocknet und das Vlies dann bei Temperaturen von 100 bis 130 DEG C mit einer Schmelzviskosität von 20 bis 40 Pas einlaminiert wird. Für die gemeinsame Verpressung von Einzellagen wird dieser Microvia Conductor Prepreg Layer mit Folie beidseitig laminiert, mittels Laser gebohrt und galvanisch mit Kupfer oder im Siebdruck mit Leitpaste gefüllt, die Leiter laserstrukturiert und geätzt, der Microvia Conductor Prepreg Layer nach dem Trocknen in einem Pressvorgang mehrlagig beidseitig auf eine Multilayerkernschaltung verpresst. Zur Erzeugung eines optoelektronischen Schaltungselementes wird auf die Kupferfolienoberfläche ein thermisch härtbarer Trockenfilm auflaminiert, der mittels Laser strukturiert und die organischen optischen Leiter werdenchemisch-galvanisch verkupfert. Außerdem lassen sich ungehauste Silizium Chips durch Verpressen in Polymer einbetten.
Description
- Unter Multilayern versteht man Mehrlagenschaltungen, die durch Verpressen von so genannten Innenlagenschaltungen mit Prepregs in Vakuum-Hochdrucketagenpressen verpresst werden. Die Kontaktierung der einzelnen Lagen findet erst zum Schluss statt, wenn alle gemeinsam mit Bohrungen versehen und mit galvanisch abgeschiedenem Kupfer kontaktiert werden.
- In den letzten Jahren kommen immer mehr HDI Multilayer oder SBU-Multilayer zum Einsatz. HDI bedeutet High Density Interconnections und SBU bedeutet Sequential Build Up Es werden also Multilayer mit hoher Schaltungsdichte benötigt, die sequentiell durch Aufbringen von jeweils zwei Außenschichten hergestellt werden.
- Zur Herstellung derartiger Schichten hat sich insbesondere eine mit Dielektrikum beschichtete Kupferfolie durchgesetzt. Für diese beschichtete Kupferfolie und entsprechende Verfahren sind folgende Patente angemeldet bzw. erteilt worden:
MULTIPLE LAYER PRINTED CIRCUIT BOARDS AND METHOD OF MANUFACTURE US 5,362,534 vom 08.11.1994
PROCESS FOR PRODUCING MULTILAYER PRINTED CIRCUIT BOARD US 5,806,177 vom 15.09.1998
INSULATING RESIN COMPOSITION FOR BUILD-UP BY COPPER FOIL LAMINATION AND METHOD FOR PRODUCTION OF MULTILAYER PRINTED CIRCUIT BOARD USING THE COMPOSITION US 5,837,155 vom 17.11.1998.
Sowie die PCT/EP 99 /01936 mit dem Titel: METHOD AND APPARATUS FOR TWOLAYER COATING OF COPPER FOILS WITH MELTABLE COATING. - Es werden also zwei Verfahren beschrieben, bei denen zuerst die Kernschaltung beschichtet und die Leiter eingeebnet werden und anschließend eine beschichtete Kupferfolie auflaminiert wird. Bei zwei weiteren Verfahren wird die Kupferfolie mit zwei Dielektrikaschichten beschichtet.
- Während die beschichtete Kupferfolie in den Patenten US 5,806,177 und US 5,837,155 mit einem Rollenlaminator auflaminiert wird, wird die zweischichtig beschichtete Kupferfolie gemäß US 5362,534 und PCT/EP 99/01936 in Mehretagenpressen aufgepresst. Im Gegensatz zu den bisherigen Multilayern, wird beim HDI-Multilayer ein bereits gebohrtes Kernlaminat verpresst. Das heißt, es muss vor dem Verfüllen der Bohrungen mit geschmolzenem Dielektrikum die Luft entfernt werden. Dies gelingt mit der derzeitigen beschichteten Kupferfolie nur sehr unvollkommen. Die Bohrungen sind bereits verkupfert, sodass sie um ca. 20 µm über dem Laminat erhaben sind. Der Druck des Pressgeleges (Laminate und Pressbleche) führt dazu, dass die Bohrungen von dem Dielektrikum auf der Kupferfolie abgedeckt werden und dass trotz hohem Vakuum eine Luftfreiheit der Bohrungen nicht hergestellt werden kann. Lufteinschlüsse können die Funktionssicherheit des HDI-Multilayers erheblich beeinflussen. Es kann sich hier insbesondere Feuchtigkeit einlagern, die beim Lötprozess zur Delaminierung der Schaltung und zum Totalausfall führt. Dies insbesondere, wenn beim Blei freiem Löten mit höheren Temperaturen gearbeitet werden muss. Zur Zeit behilft man sich mit dem Tempern der fertigen Multilayer. Außerdem kann es beim Verfüllen der vergrabenen Bohrungen zur Reduktion der Dielektrikumschicht über den Leitern kommen. Die Bohrungen können auch Einfallstellen aufweisen. Darüber hinaus wird bei mehrschichtigem Aufbau mit Unverstärkten Dielektrikum die Dimensionsstabilität insbesondere bei Temperaturbeaufschlagung negativ beeinflusst. Um insbesondere die Dimensionsstabilität zu verbessern wurden Prepregs aus Epoxidharz beschichteten Glasgewebe eingesetzt. Diese ließen sich jedoch wesentlich schlechter mittels Laser bohren. Zur Verbessehrung der Dimensionsstabilität werden auch Vliese aus Aramidfasern eingesetzt. Diese lassen sich wie das Epoxidharzdielektrikum mittels Laser bohren. Das Problem bei Vliesen ist das Saugvermögen, welches bis zum fünf- fachen des Vliesgewichtes erreichen kann. Daher werden Vliese auch besonders in der Oberflächenveredlung eingesetzt. Bei der Verwendung als verpressfähiges Prepreg muss der zu erzielende Lackauftrag von ca. 100 Gew.-% bezogen auf das Trägermaterial durch starkt verdünnte Lacklösungen erzielt werden. Ein mechanisches Abquetschen mittels Walzen ist wegen der mangelnden Festigkeit nur sehr schwer möglich. Der Lack imprägniert die Oberfläche der Einzelfasern, was zu einem volumigen Vliesprepreg führt, welches ein hohes Luftvolumen einschließt. Dieses hochvolumige Vliesprepreg führt beim Verpressen zur Reduzierung der Kupferhaftung durch Lackmangel auf der Oberfläche. Die Feuchtigkeit und die Luft kann nur unter Vakuumanwendung wieder herausgeholt werden. Die mangelhafte Kupferhaftung und die Lufteinschlüsse könnent zum Ausfall der Schaltung führen.
- Die Probleme der sequentiellen Herstellung sind darüber hinaus in der Mehrfachverpressung und in der Mehrfachgalvanisierung sowie in der Lasergeschwindigkeit und in der Ausbeute zu suchen. Ist die letzte Microvia Bohrlage fehlerhaft, so muss der ganze HDI-Multilayer verworfen werden. Dies veranlasst die Leiterplattenhersteller nach Möglichkeiten der Einzelherstellung der Microvia Bohrlagen zu suchen.
- In der Fachzeitschrift Produktion von Leiterplatten und Systemen Nr. 8/02 des Eugen G. Leuze Verlags werden auf den Seiten 1316 und 1317 Verfahren zur Einzellagenverpressung beschrieben. Das Verfahren mit der Bezeichnung "SSP Single Step Process" von der Fa. Ibeden beschreibt ein Verfahren, welches von einem dünnen einseitig mit Kupferfolie kaschiertem Epoxidglaslaminat ausgeht. Es werden nach der Lamination mit dem Dryflim zunächst von der Epoxidglaslaminatseite die Vias mittels Laser gebohrt und anschließen galvanisch mit Kupfer vollständig gefüllt und mit Nickel abgedeckt. Anschließend wird das Leiterbild belichtet und geätzt. Die Laminatseite muss nunmehr mit einem Kleber versehen werden und kann dann mit den anderen in gleicher Weise hergestellten Microvia Bohrlagen in einer Vakuumpresse zu einem HDI-Multilayer verpresst werden. Die Nachteile dieses Herstellungsverfahrens liegen in der aufwendigeren Bohrbarkehit des Laminates mittels Laser, hervorgerufen durch die Verwendung von Glasgewebe, in der Einbettung der Leiter in eine Klebschicht, die auch die Kupferkontakte der Vias überdeckt, sowie in der unverstärkten Klebschicht, welche die Dimensionsstabilität in x, y, z Richtung negativ beeinflusst. Das Verfüllen von vergrabenen Bohrungen einer Multilayer-Kernleiterplatte ist nicht möglich.
- Das zweite Verfahren mit der Bezeichnung "PALAP Patterned Prepreg Lay Up Process" der Firma Denso beschreibt ein Verfahren zur Einzellagenverpressung, welches von einer mit einem Thermoplast beschichteten Kupferfolie ausgeht Auf dieser beschichteten Kupferfolie wird nach dem Laminieren mit Photo-Dryfilm ein Leiterbild erzeugt und geätzt.
- Anschließend werden in den Thermoplast die Vias mittels Laser erzeugt. Diese Vias werden nun mit einer Kupferleitpaste gefüllt. Anschließend wird der Photo Dryfilm gestrippt und die Microvia Bohrlagen können in einem Pressvorgang mit einer Vakuum Multilayerpresse zu einem HDI-Multilayer verpresst werden. Dieses Herstellungsverfahren hat insbesondere die Problematik, dass die HDI-Multilayer über keinerlei Verstärkung verfügen und somit in hohem Maße insbesondere bei vielen Schichten hohe Dimensionsveränderungen in y, y, z Richtung aufweisen. Außerdem ist eine gleichmäßige Dielektrikumdicke über den Leitern nicht gewährleistet. Ein Verfüllen von vergrabenen Bohrungen in Multilayer-Kernschaltungen ist ebenfalls nicht möglich.
- Eine weitere Problematik besteht darin, dass in Zukunft optische Leiter verfügbar gemacht werden müssen, was zu Electrical/Optical Hybridschaltungen führt. Hier ist insbesondere eine enge Verbindung mit den elektrischen und den optischen Leitern erforderlich. Ein weiteres Problem stellt die Forderung "Chip in Polymer" dar. Nachdem es mit dem Multilayer gelungen ist, die Leiter auf mehrere Ebenen zu verteilen, ist es nunmehr das Ziel, auch Intergrierte Schaltungen (Chips) in das Innere einer Multilayerschaltung zu verlegen. Dies lässt sich nicht durch Lackbeschichtung oder durch Verpressung mit Glasgewebeprepregs lösen. Daher wurde hierfür auch ein Forschungsprogramm aufgelegt.
- Die Lösung all dieser Probleme erfolgt durch den erfindungsgemäßen Microvia Conductor Prepreg Layer gemäß dem Patentanspruch 1), ein Verfahren zur Herstellung von HDI- Multilayern durch gemeinsame Verpressung von Einzellagen 6), ein Verfahren zur Herstellung von Optoelectronischen Schaltungselementen 11), ein Verfahren zur Herstellung von in Polymer eingebetteten Chips 12) sowie durch ein Verfahren zur Herstellung der Microvia Conductor Prepreg-Layer gemäß Patentanspruch 13) und eine Vorrichtung gemäß Patentanspruch 17) Besonders bevorzugte Varianten des Microvia Conductor Prepreg Layers, der Verfahren und der Vorrichtung sind jeweils Gegenstand der entsprechenden abhängigen Patentansprüche.
- Es wird ein Microvia Conductor Prepreg Layer zur Herstellung von HDI-Multilayern und optoelektronischen Verbindungen durch bevorzugte Verpressung von Einzellagen sowie ein Verfahren und eine Vorrichtung zu deren Herstellung beschrieben.
- Der Microvia Conductor Prepreg Layer besteht aus einer Kupferfolie, auf deren getreateter Seite ein mit Epoxidharz beschichtetes Glasvlies und auf der glatten Seite zur Erzielung einer optolektronischen Verbindung ein thermisch härtbarter mittels Laser- oder UV-Strahlung strukturierbarer Trockenfim auflaminiert ist.
- Die elektrolytisch abgeschiedene Kupferfolie (1) wird einer Beschichtungseinheit (2) zugeführt, die aus einer Walzenbeschichtungsanlage (3) und einer Laminieranlage (4) besteht. Die Walzenbeschichtungsanlage (3) verfügt über eine verchromten Dosierwalze (5) und eine gummierten Auftragswalze (6) sowie über eine verchromte Führungswalze (7). Die Laminieranlage verfügt über eine gummierte Andruckwalze (8) und eine verchromte Laminierwalze (9). Zwischen diesen beiden Anlagen ist ein Trockner (10) angeordnet. Die Kupferfolie (1) wird über eine Transportband (11) durch den Trockner (10) geführt. Auf diese Kupferfolie (1) wird vor der Beschichtung Glasvlies (12) mit einer Andruckwalze (8) auf die mit einem Transportband (11) umfasste verchromten Führungswalze (7) aufgelegt und dann gemeinsam mit lösungsmittelhaltigem Dielektrikum (13) mittels einer Walzenbeschichtungsanlage (3) beschichtet, die über eine mit einer glatten Gummierung ausgestatteten Auftragswalze (6) verfügt, die eine Härte von 50 bis 70 shore A aufweist. Das Dielektrikum weist hierbei eine bevorzugte Viskosität von 200 bis 2000 m Pa.s auf und wird im Walzenspalt ohne Andruck aufgetragen. Die beschichtete Kupferfolie wird mit dem Transportband (11) in einem Trockner (10) geführt, der mit Infrarotstrahlern und Umluft betrieben wird. Hierbei wird die Viskosität des Dielektrikums stark herabgesetzt, sodass es zu einer optimalen Beschichtung der Kupferfolienoberfläche und des Vlieses kommt. Die eigentliche Laminierung des Dielektrikums (13) in das Vlies (12)erfolgt im geschmolzenen Zustand. Diese Laminierstation (4) verfügt über eine gummierte Andruckwalze (8) mit einer Härte von 20 bis 40 Shore A. Die Laminierung erfolgt nach dem Trockner bei Temperaturen von 100 bis 170°C und einer Schmelzviskosität von 5 bis 30 Pa.s mittels einer Trennfolie (14), die von oberhalb der Laminieranlage (4) zugeführt wird. Von der Unterseite kann über eine verchromte Laminierwalze (9) eine Folie (14)oder ein mittels Laser oder Strahlung strukturierbarer Trockenfilm (15) zur Erzeugung von optoelektronischen Schaltungselementen auflaminiert werden. Anschließen wird in einem Kühler (16) auf Raumtemperatur abgekühlt und mit einer Schneideinheit (17) der Microvia Conductor Prepreg Layer (18) auf Format geschnitten.
- Kupferfolie: 18 µm Fa. Gould
Gummierung: Rauhigkeit 10 µm Härte 50 Shore A
Dosierwalze (5): verchromt mit Unterwanne,
Dosierspalt: 140 µm
Epoxidharzlack: Fa. Duroplast-Chemie Rezeptur: A 143 Gew. Tl. EPOSID VP (868) 70 Gew.-%
37 Gew. Tl. EPODUR DICY 10 Gew.-%. in Methylglykol
0,7 Gew. Tl. EPODUR EMI 50 PM
Gelierzeit 170°C: 200 sec. Viskosität: 300 m Pa.s
Lackauftrag Trockengewicht: 60 g pro qm
Lackschichtdicke: 50 µm - Vlies (12) 20 g/qm Glasvlies Typ FF Sheet Fa. Nitto Boseki Co. Ltd. Japan Laminieranlage (4) Fig. 2 Trennfolie (14): TEDLAR 30 µm Dupont
Andruckwalze (8): Gummierung 30 Shore A glatte Oberfläche Rauhigkeit 10 µm
Umlufttrockner (10): 130°C Länge 10 m
Geschwindigkeit: 10 m pro min Microvia Conductor Prepreg-Layer Prepregdicke: 60 µm
Harzgehalt: 75%, Restgelierzeit bei 170°C: 200 sec TG. 40°C - Fig. 3
Microvia Conductor Prepreg Layer (18)
18 µm Kupferkaschierung, 60 µm Prepregdicke, Gesamtdicke 80 µm. - Fig. 4
Der Microvia Conductor Prepreg Layer (18) wird mit Folien (14) kaschiert. - Fig. 5
In den einseitig mit 18 µm Cu kaschierten MICOP-Layer (18)werden von der Laminatseite mittels Kohlendioxidlaser Bohrungen (19) eingebracht, die die Kupferfolie (1) nicht durchbrechen. - Fig. 6
Die beidseitig aufliegenden Folien (14) werden an den Rändern miteinander verschweißt. Die Microvia Bohrungen (19) werden dann mit mittels des Novigant Prozesses von Atotech galvanisch verkupfert oder mittels Siebdruck mit Kupfer- oder Silberleitpaste gefüllt (20), wobei die durch die Laserbohrung gehärteten Bohrlochwandungen das Eindringen von Galvanoflüssigkeit verhindern Nach dem Abziehen der Folie werden die Leiter (21) mittels UV Laser strukturiert., und das verbliebene Restkupfer sowie die überstehende Leitpaste bzw. galvanisch Kupfer an der Laminatseite weggeätzt. Die Einzellagen werden nun gespült und getrocknet. - Die Microvia Conductor Prpreg Layer (18) werden dann beidseitigt auf eine Kernschaltung (22) aufgelegt und in einer Vakuum Multilayerpresse in einem Pressgang verpresst, wobei die vergrabenen Bohrungen (23) vollständig mit Dielektrikum gefüllt werden.
- Der aus den erfindungsgemäßen Microvia Conductor Prepreg Layern hergestellte HDI-Multilayer verfügt über gefüllte vergrabene Bohrungen, eine hohe Dimensionsstabilität in x, y und z Richtung und hat aufgrund der Kontrolle der Einzellagen vor dem Verpressen eine hohe Ausbeute.
- Fig. 7
Nach dem Verpressen der Microvia Conductor Prepreg Layer (18) auf eine Kernschaltung (22) wird auf der Kupfefolienseiterseite ein thermisch härtbarer Trockenfilm (15) auflaminiert. - Fig. 8
Der Trockenfilm (15) wird mittels Kohlendioxidlaser strukturiert und mit einer 0,5 µm dicken chemischen abgeschiedenen Kupferschicht (24) verkupfert. - Fig. 9
Anschließend werden die freien Kupferstege (25) mittels UV Laser entfernt. - Fig. 10
Die durch die Laserstrukturierung entstandenen Lichtwellenleiter (26) werden nun galvanisch verkupfert. Sie sind somit von allen Seiten umschlossen und können als optoelektronisches Schaltungselement zusammen mit kupferkaschierten Microvia Conductor Prepreg Layer verpresst werden. - Beschichtung eines Microvia Conductor Prepreglayers gemäß Beispiel 1. Rezeptur A Walzenspalt: 280 µm
Lackauftrag trocken: 120 g pro qm
Lackschichtdicke: 100 µm
Glasvlies: FF sheet 40 g pro qm. Fa. NITTO BOSEKI Japan
Prepregdicke: 120 µm
Beschichtungsgeschewindigkeit: 5 m pro min.
Trockentemperatur: 120°C
Harzgehalt: 75%, Restgelierzeit bei 170°C: 200 sec TG. 40°C - Fig. 11
Auflegen eines Microvia Conductor Prepreg-Layers (18) auf eine mit ungehausten integrierten Silizium Schaltungen (Chips) (27) belegten Kernschaltung (22). - Fig. 12
Verlegen des Microvia Conductor Prepreg-Layers und die bestückte Kernschaltung zwischen zwei Edelstahlpressbleche (28) in einer Vakuum Multilayerpresse (29), evakuieren und auf Kontaktdruck zusammenfahren. - Verpressen und Einkapseln der ungehausten integrierten Siliziumschaltungen (Chips) bei 100°C und bei 2 bar Druck. Endaushärtung bei 20 bar Druck und 160°C 60 min.
Claims (17)
1. Microvia Conductor Prepreg Layer zur Herstellung von HDI-Multilayern und
optelektronischen Schaltungselementen insbesondere durch bevorzugte Verpressung von
Einzellagen, dadurch gekennzeichnet, dass eine bevorzugt 5 bis 35 µm dicke Kupferfolie
(1) mit einem bevorzugt 20 bis 200 µm dickem mit Epoxidharzdielektrikum (13)
beschichtetem Glasvlies (12) laminiert ist.
2. Microvia-Conductor Prepreg Layer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
er einen Erweichungsbereich von bevorzugt TG 20°C bis TG 80°C aufweist. und
über ein Zusammendrückbarkeit bei 100°C und 2 bar bei einer Fläche von 50 × 50 mm
von 50 bis 70% der Dicke verfügt.
3. Microvia Conductor Prepreg Layer nach Anspruch 1, insbesondere dadurch
gekennzeichnet, dass er einen bevorzugten Glasanteil von 20 bis 50 Gew.-% aufweist, wobei
bevorzugt ein Glasvlies mit Filamenten von 5 bis 20 µm und einem Gewicht von 20 bis
60 g pro qm verwendet wird.
4. Microvia Conductor Prepreg Layer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass er
bei 100 bis 130°C über eine Schmelzviskosität von 10 bis 30 Pa.s verfügt.
5. Microvia Conductor Prepreg Layer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die
Laserbohrgeschwindigkeit bevorzugt der doppelten Geschwindigkeit verglichen mit der
bei Glasgewebearmierung üblichen Geschwindigkeit entspricht.
6. Microvia Conductor Prepreg Layer nach Anspruch 1 zur Herstellung von HDI
Multilayern durch gemeinsame Verpressung von Einzellagen, dadurch gekennzeichnet, dass die
Microvia-Bohrungen (19)mittels Kohlendioxid-Laser von der Prepregseite eingebracht
werden können.
7. Microvia Conductor Prepreg Layer nach den Ansprüchen 1 und 6 zur Herstellung von
HDI Multilayern im Einzelpressverfahren, dadurch gekennzeichnet, dass die Microvia
Borungen (24) die Kupferfolie (1) nicht durchbrechen und vollständig mit galvanisch
abgeschiedenem Kupfer gefüllt werden können.
8. Microvia Conductor Prepreg Layer nach den Ansprüchen 1 und 6 zur Herstellung von
HDI Multilayern durch gemeinsame Verpressung von Einzellagen, dadurch
gekennzeichnet, dass die Kontaktierung mit der Kupferfolie über Leitpasten (20) erfolgen kann, die in
die Micovia-Bohrungen (19) einfüllbar sind.
9. Microvia Conductor Prepreg Layer nach den Ansprüchen 1 und 6 zur Herstellung
von HDI Multilayern durch gemeinsame Verpressung von Einzellagen, dadurch
gekennzeichnet, dass er nach der Strukturierung der Leiter (26) und der Kontaktierungspunkte
in einem Pressvorgang in mehreren Schichten auf mit Kontaktierungsbohrungen
versehene Mulilayerkernschaltungen (27) derart verpresst wird, dass die vergrabenen Bohrungen
(28 der Kernschaltung (27) mit Epoxidharzdielektrikum (12) gefüllt werden.
10. Microvia Conductor Prepreg Layer nach den Ansprüchen 1 und 6 insbesondere zur
Herstellung von HDI Multilayern durch gemeinsame Verpressung von Einzellagen,
dadurch gekennzeichnet, dass der Microvia Conductor Prepreg Layer beidseitig mit
Thermoplastfolien unter Vakuum laminiert, an den Rändern thermisch verschweißt, mittels
Laser gebohrt, die Bohrungen galvanisch mit Kupfer oder mittels Leitpaste gefüllt, die
Thermoplastfolie abgezogen, die Leiter mittels Laser strukturiert und geätzt, und die so
erzeugten Microvia Conductor Prepreg Layer auf Multilayerkernschaltungen (27) in
einem Pressvorgang aufgepresst werden.
11. Microvia Conductor Prepreg Layer nach Anspruch 1 zur Herstellung eines
Optoelektronischen Schaltungselementes, dadurch gekennzeichnet, dass auf der
Kupferfolienoberfläche (1) eine Folie auflaminiert wird, die bevorzugt mit einem mittels Laser
strukturierbarem Lack beschichtet ist (22).
12. Microvia Conductor Prepreg Layer nach Anspruch 1 insbesondere zur Herstellung
von eingebetteten integrierten Schaltungen (Chips), dadurch gekennzeichnet, dass er nach
dem Verpressen auf eine mit Siliziumchips (27) bestückte Multilayer Kernschaltungen
(22) eine konstante Dielektrikumsdicke über den Chips und eine
Zusammendrückbarkeit von mehr als 50% der Oberfläche um mehr als 50% der Dicke gewährleistet
13. Verfahren zur Herstellung von Microvia Conductor Prepreg Layer nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, dass lösungsmittelhaltiges Epoxidharzdielektrikum (13)
mittels einer Walzenbeschichtungsanlage (3) bei Raumtemperatur auf eine mit einem
Glasvlies belegten Kupferfolie (1) aufgetragen, mittels eines Transportbandes (11)durch
einen Trockner (10) transportiert und nach der Trocknung und Lösungsmittelentfernung
mittels einer Laminieranlage (4) und einer Folie (14) heiß derart laminiert wird, dass
die eingeschlossene Luft herausgedrückt wird.
14. Verfahren zur Herstellung von Microvia Conductor Prepreg Layern nach Anspruch
13, dadurch gekennzeichnet, dass die Gummierung der Andruckwalze (8) der
Laminieranlage (4) eine bevorzugte Härte von 20 bis 40 Shore A aufweist.
15. Verfahren zur Herstellung eines Micovia-Conductor Prepreg Layers als
optoelektronisches Schaltungselement gemäß den Ansprüchen 1 und 11, dadurch gekennzeichnet, dass der
auf die Kupferoberfläche auflaminierte thermisch härtbare Trockenfilm(15) nach der
Laserstrukturierung des Lackes und des Kupfers mittels UV Laser, chemisch-galvanisch
verkupfert und über Microvias (19) mit den Kupferleitern (21)eines auflaminierten
kupferkaschierten Micovia-Conductor Prepreg Layers (18) verbunden wird.
16. Verfahren zur Herstellung eines Microvia-Conductor Prepreg Layers zum Einbetten
von auf Kernschaltungen aufgebrachten ungehausten Siliziumchips nach den Ansprüchen 1
und 12, insbesondere dadurch gekennzeichnet, dass der Microvia Conductor Prepreg Layer
(18) auf die bestückte Kernschaltung (22) aufgelegt, zwischen Pressblechen (28) in
einer Multilayer Vakuumpresse (29) auf Kontaktdruck zusammengepresst wird, nach der
Evakuierung die Chips (27) bei einer Temperatur von 80 bis 130°C und einem Druck von
1,5 bis 5 bar eingebettet und bei 150 bis 170°C in 0,5 bis 1 Stunde ausgehärtet werden.
17. Vorrichtung zur Herstellung von Microvia-Conductor Prepreg Layern nach den
Ansprüchen 1 und 13, dadurch gekennzeichnet, dass eine Walzenbeschichtungsanlagen (2)
bestehend aus einer Beschichtungseinheit (3) und einer nachgeordneten Laminiereinheit (4)
verwendet wird, dass die Führungswalzen (7) mit einem Band (11) umhüllt sind, das den
Transport in den Trockner (10) übernimmt, der zwischen beiden Anlagen angeordnet ist,
und dass die zu beschichtenden Materialien wie Kupferfolie (1) und Vlies (12) mit einer
Andruckwalze (8) hierauf aufgebracht werden, die Beschichtungswalze mit einer glatten
Gummierung (6) versehen ist, die Laminiereinheit (4) für das Laminieren mittels Trennfolie
(14) aus einer gummierten Andruckwalze (8) und einer verchromten Laminierwalze (9)
besteht, und dass nach der Laminiereinheit (4) ein Luftkühler (16) angeordnet ist.
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