DE102022207309A1 - Method for testing an input channel for PWM signals of an electronic circuit - Google Patents
Method for testing an input channel for PWM signals of an electronic circuit Download PDFInfo
- Publication number
- DE102022207309A1 DE102022207309A1 DE102022207309.6A DE102022207309A DE102022207309A1 DE 102022207309 A1 DE102022207309 A1 DE 102022207309A1 DE 102022207309 A DE102022207309 A DE 102022207309A DE 102022207309 A1 DE102022207309 A1 DE 102022207309A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- pwm signal
- test
- time interval
- input channel
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 127
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 31
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 claims abstract description 19
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 20
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 15
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 6
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 2
- BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N (2r,3r,4s,5r)-2-[6-[[2-(3,5-dimethoxyphenyl)-2-(2-methylphenyl)ethyl]amino]purin-9-yl]-5-(hydroxymethyl)oxolane-3,4-diol Chemical compound COC1=CC(OC)=CC(C(CNC=2C=3N=CN(C=3N=CN=2)[C@H]2[C@@H]([C@H](O)[C@@H](CO)O2)O)C=2C(=CC=CC=2)C)=C1 BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000012956 testing procedure Methods 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
- G01R31/2843—In-circuit-testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31712—Input or output aspects
- G01R31/31715—Testing of input or output circuits; test of circuitry between the I/C pins and the functional core, e.g. testing of input or output driver, receiver, buffer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/02—Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration
- G01R29/027—Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen eines Eingangskanals für Pulsbreitenmodulation, PWM,-Signale einer elektronischen Schaltung während ein externes PWM-Signal (10) empfangen wird, umfassend ein Erzeugen eines vorbestimmten Test-PWM-Signals (12) mit einer vorbestimmten Periodendauer; ein Umschalten des Eingangskanals vom Empfangen des externen PWM-Signals (10) zu einem Empfangen des Test-PWM-Signals (12); ein Bestimmen wenigstens eines Test-Werts beim Empfangen des Test-PWM-Signals (12); ein Zurückschalten, nach einem Test-Zeitintervall (60), des Eingangskanals vom Empfangen des Test-PWM-Signals (12) zu dem Empfangen des externen PWM-Signals (10); ein Vergleichen des wenigstens einen Test-Werts mit wenigstens einem entsprechenden vorbestimmten Referenz-Wert; und ein Bestimmen, dass eine Fehlfunktion des Eingangskanals vorliegt, wenn eine Differenz zwischen dem wenigstens einen Test-Wert und dem wenigstens einen Referenz-Wert einen vorgegebenen oder vorgebbaren Schwellenwert überschreitet.The invention relates to a method for testing an input channel for pulse width modulation, PWM, signals of an electronic circuit while an external PWM signal (10) is received, comprising generating a predetermined test PWM signal (12) with a predetermined period length; switching the input channel from receiving the external PWM signal (10) to receiving the test PWM signal (12); determining at least one test value upon receiving the test PWM signal (12); switching back, after a test time interval (60), the input channel from receiving the test PWM signal (12) to receiving the external PWM signal (10); comparing the at least one test value with at least one corresponding predetermined reference value; and determining that there is a malfunction of the input channel if a difference between the at least one test value and the at least one reference value exceeds a predetermined or predeterminable threshold value.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen eines Eingangskanals für PWM-Signale einer elektronischen Schaltung sowie eine Recheneinheit und ein Computerprogramm zu dessen Durchführung.The present invention relates to a method for testing an input channel for PWM signals of an electronic circuit as well as a computing unit and a computer program for carrying it out.
Hintergrund der ErfindungBackground of the invention
Zur Unterstützung einer Verarbeitungseinheit, wie bspw. einer CPU (Central Processing Unit), für zeit- und positionsbezogene Prozesse sind sogenannte Timer, d. h. Zeitgeber-Einheiten bzw. Zeitgebermodule, bekannt. Solche Zeitgebermodule können als Einzelkomponenten oder als Peripheriebausteine der Verarbeitungseinheit ausgebildet sein und dabei mehr oder weniger wichtige Funktionen zur Signalaufnahme und -erzeugung in zeitlicher Abhängigkeit von einem oder mehreren internen Takten des Zeitgebermoduls zur Verfügung stellen. Insbesondere können Eingangskanäle vorgesehen sein, die PWM-Signale empfangen und deren Pegelübergänge, z.B. bezogen auf einen internen Takt, erfassen.To support a processing unit, such as a CPU (Central Processing Unit), for time and position-related processes, so-called timers, i.e. H. Timer units or timer modules are known. Such timer modules can be designed as individual components or as peripheral components of the processing unit and thereby provide more or less important functions for signal recording and generation in a time-dependent manner on one or more internal clocks of the timer module. In particular, input channels can be provided which receive PWM signals and record their level transitions, for example based on an internal clock.
Offenbarung der ErfindungDisclosure of the invention
Erfindungsgemäß werden ein Verfahren zum Prüfen eines Eingangskanals für PWM-Signale einer elektronischen Schaltung gemäß dem Anspruch 1 sowie eine Recheneinheit gemäß dem Anspruch 11 und ein Computerprogramm gemäß dem Anspruch 15 zu dessen Durchführung mit den Merkmalen der unabhängigen Patentansprüche vorgeschlagen. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind Gegenstand der Unteransprüche sowie der nachfolgenden Beschreibung.According to the invention, a method for testing an input channel for PWM signals of an electronic circuit according to
Die Erfindung bedient sich der Maßnahme, während ein externes PWM-Signal am Eingangskanal empfangen wird bzw. während eines Empfangens eines externen PWM-Signals mittels des Eingangskanals, für ein Test-Zeitintervall auf den Empfang eines vorbestimmten Test-PWM-Signals umzuschalten, und basierend auf dem während des Test-Zeitintervalls empfangenen Test-PWM-Signal wenigstens einen Test-Wert zu bestimmen, der mit wenigstens einem entsprechenden Referenz-Wert verglichen wird, um für den Fall, dass eine Differenz zwischen dem wenigstens einen Test-Wert und dem wenigstens einen Referenz-Wert einen vorgegebenen oder vorgebbaren Schwellenwert überschreitet, insbesondere der wenigstens eine Test-Wert nicht mit dem wenigstens einen Referenz-Wert übereinstimmt, zu erkennen, dass eine Fehlfunktion des Eingangskanals vorliegt. Diese Maßnahme ist vorteilhaft, da so ein und derselbe Eingangskanal sowohl für den Empfang des externen PWM-Signals als auch für den Empfang des Test-PWM-Signals verwendet wird. Insbesondere ist kein zweiter Eingangskanal notwendig, etwa für einen redundanten Empfang des externen PWM-Signals.The invention uses the measure of switching to receiving a predetermined test PWM signal for a test time interval while an external PWM signal is received on the input channel or while receiving an external PWM signal by means of the input channel, and based to determine at least one test value on the test PWM signal received during the test time interval, which is compared with at least one corresponding reference value in the event that there is a difference between the at least one test value and the at least a reference value exceeds a predetermined or predeterminable threshold value, in particular the at least one test value does not match the at least one reference value, to recognize that there is a malfunction of the input channel. This measure is advantageous because one and the same input channel is used both for receiving the external PWM signal and for receiving the test PWM signal. In particular, no second input channel is necessary, for example for redundant reception of the external PWM signal.
Unter einem Schalten eines Eingangskanals kann ein Beenden, insbesondere ein Unterbrechen oder Aussetzen, eines Empfangens eines ersten PWM-Signals und ein Beginnen, insbesondere Fortführen, eines Empfangens eines zweiten PWM-Signals verstanden werden. Vorliegend kann unter einem Umschalten des Eingangskanals insbesondere ein Beenden, insbesondere ein Unterbrechen oder Aussetzen, eines Empfangens des externen PWM-Signals und ein Beginnen eines Empfangens des Test-PWM-Signals verstanden werden. Weiter kann vorliegend unter einem Zurückschalten des Eingangskanals insbesondere ein Beenden eines Empfangens des Test-PWM-Signals und ein Beginnen, insbesondere Fortführen, eines Empfangens des externen PWM-Signals verstanden werden. Hierbei ist der Eingangskanal bevorzugt eingerichtet, alternierend ein erstens PWM-Signal, insbesondere das externe PWM-Signal, und ein zweites PWM-Signal, insbesondere das Test-PWM-Signal, zu empfangen.Switching an input channel can be understood as terminating, in particular interrupting or suspending, receiving a first PWM signal and starting, in particular continuing, receiving a second PWM signal. In the present case, switching the input channel can be understood to mean, in particular, terminating, in particular interrupting or suspending, receiving the external PWM signal and starting to receive the test PWM signal. Furthermore, in the present case, switching back the input channel can be understood to mean, in particular, ending receiving the test PWM signal and starting, in particular continuing, receiving the external PWM signal. Here, the input channel is preferably set up to alternately receive a first PWM signal, in particular the external PWM signal, and a second PWM signal, in particular the test PWM signal.
Pulsbreitenmodulation wird auch als Pulsdauermodulation oder Pulslängenmodulation (ugs. auch als Pulsweitenmodulation) bezeichnet. In der weiteren Beschreibung wird die übliche Abkürzung PWM (engl. pulse width modulation) für Pulsbreitenmodulation verwendet. Die Fehlfunktion kann als potentielle Fehlfunktion des Eingangskanals angesehen werden, da auch andere Elemente, die im Verfahren verwendet werden, einen Fehler aufweisen könnten. Solche Fehler können durch geeignete Prüfverfahren für diese anderen Elemente erkannt bzw. ausgeschlossen werden.Pulse width modulation is also referred to as pulse duration modulation or pulse length modulation (also known as pulse width modulation). In the further description, the usual abbreviation PWM (pulse width modulation) is used for pulse width modulation. The malfunction can be viewed as a potential malfunction of the input channel since other elements used in the process could also have a fault. Such errors can be detected or excluded by suitable testing procedures for these other elements.
Bevorzugt schließt der wenigstens eine Test-Wert eine Periodendauer und/oder einen Tastgrad bzw. eine Einschaltdauer des Test-PWM-Signals ein. Die Einschaltdauer bezeichnet die Zeitdauer innerhalb einer Periode, während ein hoher Signalpegel vorliegt. Der Tastgrad wird auch als Tastverhältnis bezeichnet und ist wie üblich als Quotient von Einschaltdauer und Periodendauer bestimmt.Preferably, the at least one test value includes a period and/or a duty cycle or a duty cycle of the test PWM signal. The duty cycle refers to the amount of time within a period when a high signal level is present. The duty cycle is also known as the duty cycle and is, as usual, determined as the quotient of the duty cycle and the period duration.
Bevorzugt ist das Test-Zeitintervall kürzer als eine Periodendauer des externen PWM-Signals, weiter bevorzugt kürzer als eine halbe Periodendauer des externen PWM-Signals. Die Prüfung des Eingangskanals wirkt sich damit nur wenig oder gar nicht auf die Genauigkeit von aus dem externen PWM-Signal bestimmten (verarbeiteten) Werten (z.B. Tastgrad) aus.The test time interval is preferably shorter than a period of the external PWM signal, more preferably shorter than half a period of the external PWM signal. Testing the input channel therefore has little or no effect on the accuracy of values (e.g. duty cycle) determined (processed) from the external PWM signal.
Bevorzugt ist das Test-Zeitintervall gleich oder länger als zwei Periodendauern des Test-PWM-Signals. Weiter bevorzugt schließt das Test-Zeitintervall wenigstens zwei vollständige Perioden des Test-PWM-Signals ein. Unter einer vollständigen Periode eines PWM-Signals ist im Rahmen der vorliegenden Erfindung bevorzugt ein zeitlicher Abschnitt des PWM-Signals zu verstehen, welcher mit einer steigenden Flanke, d.h. einem Pegelübergang von einem niedrigen Pegel zu einem hohen Pegel, beginnt, und von einer fallenden Flanke, d.h. einem Pegelübergang von dem hohen Pegel zu dem niedrigen Pegel, gefolgt wird. Eine vollständige Periode eines PWM-Signals kann basierend auf einer Anzahl der Pegelübergänge von einem niedrigen / hohen Signalpegel zu einem hohen / niedrigen Signalpegel ermittelt werden. Ein niedriger Signalpegel kann bspw. einer Spannung von 0 V, ein hoher Signalpegel bspw. einer Spannung von 5 V entsprechen. Durch diese Maßnahmen kann sichergestellt werden, dass der wenigstens eine Test-Wert mit hinreichender Genauigkeit bestimmt werden kann.The test time interval is preferably equal to or longer than two period durations of the test PWM signal. More preferably, the test closes Time interval at least two complete periods of the test PWM signal. In the context of the present invention, a complete period of a PWM signal is preferably understood to mean a time section of the PWM signal which begins with a rising edge, ie a level transition from a low level to a high level, and with a falling edge , that is, a level transition from the high level to the low level is followed. A complete period of a PWM signal can be determined based on a number of level transitions from a low/high signal level to a high/low signal level. A low signal level can correspond to a voltage of 0 V, for example, and a high signal level can correspond to a voltage of 5 V, for example. These measures can ensure that the at least one test value can be determined with sufficient accuracy.
Bevorzugt wird das externe PWM-Signal verarbeitet, um einen verarbeiteten Wert zu bestimmen, der in Zeitabständen abgefragt und/oder verwendet wird, wobei das Test-Zeitintervall kürzer als 20 %, bevorzugt kürzer als 10 %, noch weiter bevorzugt kürzer als 5 %, einer zeitlichen Länge der Zeitabstände ist. Damit kann sichergestellt werden, dass der verarbeitete Wert, der etwa im Falle eines externen PWM-Signals von einem Sensor einem Sensormesswert entspricht, nicht durch die Prüfung des Eingangskanals verfälscht wird. Die Zeitabstände, z.B. regelmäße Zeitabstände, liegen etwa zwischen Zeitpunkten vor, an denen der verarbeitete Wert abgefragt bzw. verwendet wird (beispielsweise in einer Regelung). Solche Zeitabstände können beispielsweise im Bereich von 1 ms bis 20 ms liegen. Analog könnte vorgesehen sein, dass ein zeitlicher Anteil des Test-Zeitintervalls bzw., bei wiederholter Durchführung des Verfahrens, der Test-Zeitintervalle bezogen auf die gesamte Zeit (d.h. Zeit, in der das externe PWM-Signal empfangen wird, plus Zeit, in der das Test-PWM-Signal empfangen wird) kleiner als 20 %, bevorzugt kleiner als 10 %, weiter bevorzugt kleiner als 5 %, ist.Preferably, the external PWM signal is processed to determine a processed value that is queried and/or used at time intervals, the test time interval being shorter than 20%, preferably shorter than 10%, even more preferably shorter than 5%, a time length of the time intervals. This can ensure that the processed value, which corresponds to a sensor measurement value in the case of an external PWM signal from a sensor, is not falsified by checking the input channel. The time intervals, e.g. regular time intervals, are approximately between times at which the processed value is queried or used (for example in a control system). Such time intervals can be in the range from 1 ms to 20 ms, for example. Analogously, it could be provided that a temporal portion of the test time interval or, if the method is carried out repeatedly, of the test time intervals is based on the entire time (i.e. time in which the external PWM signal is received, plus time in which the test PWM signal is received) is less than 20%, preferably less than 10%, more preferably less than 5%.
Bevorzugt erfolgt das Umschalten des Eingangskanals vom Empfangen des externen PWM-Signals zum Empfangen des Test-PWM-Signals in Reaktion auf ein Auslösesignal. Das Auslösesignal kann z.B. ein Interrupt sein, der an einem Interrupt-Modul der elektronischen Schaltung erkannt wird.Preferably, switching the input channel from receiving the external PWM signal to receiving the test PWM signal occurs in response to a trigger signal. The trigger signal can be, for example, an interrupt that is detected on an interrupt module of the electronic circuit.
Bevorzugt wird das Test-PWM-Signal durch die elektronische Schaltung erzeugt. Insbesondere kann dafür ein Ausgangsmodul der elektronischen Schaltung verwendet werden. Das Leiten des Test-PWM-Signals vom Ausgangsmodul zum Eingangsmodul bzw. Eingangskanal kann extern (außerhalb der elektronischen Schaltung) über eine entsprechende Leitung erfolgen. Alternativ, falls entsprechende Leitungen in der elektronischen Schaltung vorgesehen sind, kann das Leiten des Test-PWM-Signals vom Ausgangsmodul zum Eingangsmodul bzw. Eingangskanal intern erfolgen.The test PWM signal is preferably generated by the electronic circuit. In particular, an output module of the electronic circuit can be used for this. The test PWM signal can be routed from the output module to the input module or input channel externally (outside the electronic circuit) via a corresponding line. Alternatively, if corresponding lines are provided in the electronic circuit, the test PWM signal can be routed internally from the output module to the input module or input channel.
Vorteilhafterweise umfasst das Verfahren einen Schritt des Ausgebens eines Signals, insbesondere mittels der Recheneinheit, basierend auf dem Schritt des Vergleichens des wenigstens einen Test-Werts mit wenigstens einem entsprechenden vorbestimmten Referenz-Wert. Denkbar ist, dass nur in dem Fall, in dem bestimmt wurde, dass eine Fehlfunktion des Eingangskanals vorliegt, ein Signal ausgegeben wird. Denkbar ist auch, dass zusätzlich auch in dem Fall, in dem die Differenz zwischen dem wenigstens einen Test-Wert und dem wenigstens einen Referenz-Wert kleiner oder gleich dem vorgegebenen oder vorgebbaren Schwellenwert ist, ein Signal ausgegeben wird. Das Signal kann eine Fehlfunktionsinformation bezüglich des Vorliegens oder Nicht-Vorliegens des Fehlfunktion des Eingangskanals umfassen. Ansprechend auf das ausgegebene Signal und/oder unter Verwendung des ausgegebenen Signals kann die Fehlfunktionsinformation drahtlos oder drahtgebunden an eine Ausgabeeinheit, bspw. eine Anzeigeeinheit, übertragen werden, um eine Information bezüglich der Fehlfunktion, bspw. das Vorliegen einer Fehlfunktion, mittels der Ausgabeeinheit auszugeben, insbesondere anzuzeigen. Denkbar ist weiter, dass die Fehlfunktionsinformation ansprechend auf das ausgegebene Signal und/oder unter Verwendung des ausgegebenen Signals drahtlos oder drahtgebunden an eine weitere räumlich von der Recheneinheit beabstandete Signalverarbeitungseinheit weitergeleitet wird, um die Fehlfunktionsinformation mittels der Signalverarbeitungseinheit weiterzuverarbeiten und/oder einen Eingriff in die elektronische Schaltung zu initiieren und/oder zu steuern.Advantageously, the method comprises a step of outputting a signal, in particular by means of the computing unit, based on the step of comparing the at least one test value with at least one corresponding predetermined reference value. It is conceivable that a signal is only output in the case in which it has been determined that there is a malfunction in the input channel. It is also conceivable that a signal is also output in the case in which the difference between the at least one test value and the at least one reference value is less than or equal to the predetermined or predeterminable threshold value. The signal may include malfunction information regarding the presence or absence of the malfunction of the input channel. In response to the output signal and/or using the output signal, the malfunction information can be transmitted wirelessly or by wire to an output unit, for example a display unit, in order to output information regarding the malfunction, for example the presence of a malfunction, by means of the output unit, in particular. It is also conceivable that the malfunction information is forwarded wirelessly or by wire in response to the output signal and/or using the output signal to a further signal processing unit spatially spaced from the computing unit in order to further process the malfunction information by means of the signal processing unit and/or to intervene in the electronic To initiate and/or control the circuit.
Eine erfindungsgemäße Recheneinheit, z.B. ein Steuergerät eines Kraftfahrzeugs, umfasst eine elektronische Schaltung mit einem Eingangskanal für PWM-Signale und ist, insbesondere programmtechnisch, dazu eingerichtet, ein erfindungsgemäßes Verfahren durchzuführen. Die Recheneinheit umfasst die elektronische Schaltung oder ist mit dieser verbunden (insbesondere zum Austausch von Daten und/oder Signalen). Die elektronische Schaltung umfasst ein Eingangsmodul, wobei der Eingangskanal in dem Eingangsmodul vorgesehen ist.A computing unit according to the invention, e.g. a control device of a motor vehicle, comprises an electronic circuit with an input channel for PWM signals and is set up, in particular in terms of programming, to carry out a method according to the invention. The computing unit includes the electronic circuit or is connected to it (in particular for exchanging data and/or signals). The electronic circuit includes an input module, the input channel being provided in the input module.
Die elektronische Schaltung umfasst bevorzugt ein Ausgangsmodul, das mit dem Eingangsmodul verbunden ist und das dazu konfiguriert oder konfigurierbar ist, das Test-PWM-Signal zu erzeugen. Die Konfiguration kann z.B. durch Register erfolgen.The electronic circuit preferably includes an output module that is connected to the input module and that is configured or configurable to generate the test PWM signal. The configuration can be done, for example, using registers.
Bevorzugt weist das Eingangsmodul wenigstens zwei Eingänge und ein Auswahlelement auf, durch das jeder der Eingänge wahlweise mit dem Eingangskanal verbindbar ist. Das Auswahlelement kann z.B. durch Schaltelement(e) und/oder Multiplexer o.Ä. realisiert sein.The input module preferably has at least two inputs and a selection element, through which each of the inputs can be optionally connected to the input channel. The selection element can be implemented, for example, by switching element(s) and/or multiplexers or similar.
Auch die Implementierung eines erfindungsgemäßen Verfahrens in Form eines Computerprogramms oder Computerprogrammprodukts mit Programmcode zur Durchführung aller Verfahrensschritte ist vorteilhaft, da dies besonders geringe Kosten verursacht, insbesondere wenn ein ausführendes Steuergerät noch für weitere Aufgaben genutzt wird und daher ohnehin vorhanden ist. Schließlich ist ein maschinenlesbares Speichermedium vorgesehen mit einem darauf gespeicherten Computerprogramm wie oben beschrieben. Geeignete Speichermedien bzw. Datenträger zur Bereitstellung des Computerprogramms sind insbesondere magnetische, optische und elektrische Speicher, wie z.B. Festplatten, Flash-Speicher, EEPROMs, DVDs u.a.m. Auch ein Download eines Programms über Computernetze (Internet, Intranet usw.) ist möglich. Ein solcher Download kann dabei drahtgebunden bzw. kabelgebunden oder drahtlos (z.B. über ein WLAN-Netz, eine 3G-, 4G-, 5G- oder 6G-Verbindung, etc.) erfolgen.The implementation of a method according to the invention in the form of a computer program or computer program product with program code for carrying out all method steps is also advantageous because this causes particularly low costs, especially if an executing control device is used for additional tasks and is therefore present anyway. Finally, a machine-readable storage medium is provided with a computer program stored thereon as described above. Suitable storage media or data carriers for providing the computer program are, in particular, magnetic, optical and electrical memories, such as hard drives, flash memories, EEPROMs, DVDs, etc. It is also possible to download a program via computer networks (Internet, intranet, etc.). Such a download can be wired or wired or wireless (e.g. via a WLAN network, a 3G, 4G, 5G or 6G connection, etc.).
Weitere Vorteile und Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung und der beiliegenden Zeichnung.Further advantages and refinements of the invention result from the description and the accompanying drawing.
Die Erfindung ist anhand von Ausführungsbeispielen in der Zeichnung schematisch dargestellt und wird im Folgenden unter Bezugnahme auf die Zeichnung beschrieben.The invention is shown schematically in the drawing using exemplary embodiments and is described below with reference to the drawing.
Kurze Beschreibung der ZeichnungenBrief description of the drawings
-
1 zeigt eine beispielhafte elektronische Schaltung mit einem Eingangskanal, der entsprechend der Erfindung geprüft werden kann.1 shows an exemplary electronic circuit with an input channel that can be tested according to the invention. -
2 zeigt ein Ablaufdiagramm gemäß einer bevorzugten Ausführungsform.2 shows a flowchart according to a preferred embodiment. -
3A ,3B zeigen Signalverläufe von externen PWM-Signalen und Test-PWM-Signalen entsprechend bevorzugter Ausführungsformen.3A ,3B show signal curves of external PWM signals and test PWM signals according to preferred embodiments.
Ausführungsform(en) der ErfindungEmbodiment(s) of the invention
Der Eingangskanal 4 ist dabei beispielhaft in einem Eingangsmodul 6 (bzw. Zeitgeber-Eingangsmodul) vorgesehen, das wenigstens zwei Eingänge aufweist, wobei der Eingangskanal 4 wahlweise mit einem der Eingänge verbunden werden kann, wozu ein Auswahlelement 8, etwa ein Multiplexer und/oder HalbleiterSchalter, vorgesehen ist. An einem der Eingänge des Eingangsmoduls 6 liegt ein externes PWM-Signal 10 an, und an einem anderen der Eingänge des Eingangsmoduls 6 liegt ein Test-PWM-Signal 12 an. Durch das Auswahlelement 8 kann wahlweise eines dieser beiden PWM-Signale an den Eingangskanal 4 weitergegeben werden. Im Allgemeinen kann das Eingangsmodul 6 mehrere Eingangskanäle aufweisen und/oder es können, wie gezeigt, mehrere Eingangsmodule vorgesehen sein.The
Das Eingangsmodul 6 bzw. der Eingangskanal 4 umfasst vorzugsweise Analyseelemente bzw. Filterelemente (nicht dargestellt), mit denen insbesondere vorbestimmte Eigenschaften von Signalen, die empfangen werden, erkannt werden können. Dies sind beispielsweise Pegelübergänge (Flanken) eines empfangenen PWM-Signals und/oder die Periodendauer eines empfangenen PWM-Signals und/oder der Tastgrad (Tastverhältnis) bzw. die Einschaltdauer (d.h. die Dauer während einer Periode in der ein hoher Pegel des PWM-Signals vorliegt) eines empfangenen PWM-Signals. Bei den Pegelübergängen kann zusätzlich eine Unterscheidung zwischen der Richtung vorgesehen sein, d.h. ob ein Pegelübergang von einem niedrigen zu einem hohen Signalpegel (steigende Flanke) oder von einem hohen zu einem niedrigen Signalpegel (fallende Flanke) vorliegt. Zusätzlich bzw. um die vorgenannten Eigenschaften bestimmen zu können, können eine oder mehrere Zählelemente und/oder ein oder mehrere Registerelemente als Analyseelemente vorgesehen sein, mit denen eine oder mehrere Anzahlen von Taktzyklen, insbesondere zwischen Pegelübergängen gezählt und/oder erfasst (insbesondere zwischengespeichert) werden können.The
Die elektronische Schaltung 2 umfasst weiterhin vorzugsweise eine Taktgeberschaltung (bzw. ein Taktsignalmodul) 14, die dazu eingerichtet ist, ein oder mehrere Taktsignale (mit möglicherweise verschiedenen Frequenzen) für die anderen Elemente bzw. Module der elektronischen Schaltung 2 (generisches Zeitgebermodul) bereitzustellen. Das Eingangsmodul 6 bzw. der Eingangskanal 4 kann insbesondere dazu konfiguriert sein, eines dieser Taktsignale zu verwenden bzw. auszuwählen, und am Eingangskanal 4 empfangene Signale, insbesondere PWM-Signale, mit diesem Taktsignal zu synchronisieren. Bei PWM-Signalen ist die zeitliche Länge zwischen Pegelübergängen also durch eine bestimmte Anzahl von Taktzyklen des Taktsignals charakterisiert bzw. gegeben. Es versteht sich, dass die elektronische Schaltung 2 optional auch andere, nicht gezeigte Module aufweisen kann.The
Es ist beispielhaft eine (externe) Kommunikations-Schnittstelle 16 (bzw. Bus-Interface) in der elektronischen Schaltung 2 vorgesehen, die eine Datenkommunikation mit anderen Recheneinheiten und/oder Prozessoren ermöglicht. Insbesondere können durch den Eingangskanal 4 bzw. durch die Analyseelemente bestimmte Eigenschaften (Periodendauer, Tastgrad) über die Kommunikations-Schnittstelle 16 an andere Recheneinheiten übermittelt werden und von diesen verwendet werden. Z.B. könnte das externe PWM-Signal ein Signal eines Sensors sein, wobei der Messwert als Tastgrad kodiert ist, und der Messwert von einem Regler, der durch die andere Recheneinheit implementiert wird, verwendet werden.For example, an (external) communication interface 16 (or bus interface) is provided in the
Das Test-PWM-Signal 12 wird vorzugsweise durch ein Ausgangsmodul 18 (bzw. Zeitgeber-Ausgangsmodul) erzeugt und an das Eingangsmodul 6 übermittelt. Das Ausgangsmodul 18 ist entsprechend dazu konfiguriert bzw. konfigurierbar, das Test-PWM-Signal 12 mit einer bestimmten bzw. bestimmbaren Periodenlänge und einem bestimmten bzw. bestimmbaren Tastgrad zu erzeugen und an einem Ausgang anzulegen, der mit dem Eingang des Eingangsmoduls verbunden ist, an dem das Test-PWM-Signal 12 anliegt. Abweichend hiervon wäre auch vorstellbar, dass das Test-PWM-Signal 12 von einer elektronischen Einheit außerhalb der elektronischen Schaltung erzeugt wird. Die Erzeugung durch das Ausgangsmodul 18 der elektronischen Schaltung 2 ist zweckmäßig, da das Ausgangsmodul 18 sowie das Eingangsmodul 6 von der gleichen Taktquelle, z.B. der Taktgeberschaltung 14, mit Taktsignalen versorgt werden. Im Allgemeinen können, wie gezeigt, mehrere Ausgangsmodule in der elektronischen Schaltung 2 eingeschlossen sein.The
Die Konfiguration des Ausgangsmoduls 18, des Eingangsmoduls 6 sowie gegebenenfalls anderer Elemente bzw. Module der elektronischen Schaltung 2 kann beispielsweise durch Setzen entsprechender Konfigurations-Register erfolgen.The configuration of the
Weitere beispielhaft gezeigte Elemente, die in der elektronischen Schaltung 2 umfasst sein können, sind eine (interne) allgemeine Schnittstellen-Einheit 20 (Routing-Einheit), die einzelne Module der elektronischen Schaltung 2 zur Datenkommunikation verbindet, ein oder mehrere Rechenmodule 22, die dazu eingerichtet sind, Rechenoperationen durchzuführen und dazu etwa jeweils einen Rechenkern und einen Speicher aufweisen, ein Interrupt-Modul 24, über das Interrupts in der elektronischen Schaltung 2 ausgelöst werden können und/oder Interrupts der elektronischen Schaltung 2 erkannt werden können, und schnittstellenverbundene Ausgangsmodule 26, die anders als das Ausgangsmodul 18 mit der Schnittstellen-Einheit 20 verbunden sind. Ein schnittstellenverbundenes Ausgangsmodul 26 könnte ebenso zur Erzeugung des Test-PWM-Signals 12 verwendet werden. Das Interrupt-Modul 24 kann über Datenleitungen bzw. Signalleitungen mit anderen Recheneinheiten verbunden werden.Further elements shown by way of example that can be included in the
Einzelne Verfahrensschritte können zumindest teilweise durch eines der Rechenmodule 22 der elektronischen Schaltung erfolgen, insbesondere können das Vergleichen des wenigstens einen Test-Werts mit dem vorbestimmten Referenzwert und/oder das Bestimmen, dass möglicherweise eine Fehlfunktion des Eingangskanals vorliegt, durch ein Rechenmodul erfolgen. Zusätzlich oder alternativ ist auch denkbar, dass das Umschalten des Eingangskanals vom Empfang des externen PWM-Signals zum Empfang des Test-PWM-Signals und das Zurückschalten nach dem Test-Zeitintervall durch ein Rechenmodul ausgelöst bzw. veranlasst wird (z.B. durch entsprechendes Ansteuern des Auswahlelements oder durch Setzen eines entsprechenden Registers). Dazu können ein oder mehrere Computerprogramme oder Computerprogramm-Module vorgesehen sein, die in einem Rechenmodul ausgeführt werden.Individual method steps can be carried out at least in part by one of the
Ebenso können diese Verfahrensschritte zumindest teilweise durch eine andere Recheneinheit durchgeführt werden, die etwa (soweit vorhanden) mittels der Kommunikations-Schnittstelle 16 und/oder des Interrupt-Moduls 24 mit der elektronischen Schaltung 2 verbunden sind. Der Begriff „andere Recheneinheit“ soll eine von der elektronischen Schaltung verschiedene Recheneinheit bezeichnen. Beispielsweise kann die elektronische Schaltung 2 zusammen mit der anderen Recheneinheit auf einer Platine angeordnet sein oder in einem Chip integriert sein. Die so erhaltene zusammengefasste Recheneinheit kann etwa in einem Steuergerät einer Maschine und/oder eines Fahrzeugs enthalten sein, um Steuerungsfunktionen durchzuführen.Likewise, these method steps can be carried out at least in part by another computing unit, which (if available) is connected to the
Es wird von einem Zustand ausgegangen, in dem durch den Eingangskanal das externe PWM-Signal empfangen wird, Schritt 110.A state is assumed in which the external PWM signal is received through the input channel,
In Schritt 120 erfolgt ein Umschalten des Eingangskanals vom Empfangen des externen PWM-Signals zum Empfangen eines Test-PWM-Signals. In Schritt 130 wird basierend auf dem empfangenen Test-PWM-Signal wenigstens ein Test-Wert bestimmt. Dazu werden insbesondere Pegelübergänge und deren Zeitpunkte (typischerweise gemessen in Taktzyklen) erfasst. In Schritt 140 wird nach dem Test-Zeitintervall (startend mit Schritt 120) wieder zurückgeschaltet, d.h. vom Empfangen eines Test-PWM-Signals zum Empfangen des externen PWM-Signals geschaltet. Schritt 130 kann teilweise nach Schritt 140 erfolgen, insbesondere kann vorgesehen sein, dass eine Berechnung des wenigstens einen Test-Werts nach dem Zurückschalten erfolgt; z.B. erfolgt die Berechnung aus Werten, die während des Test-Zeitintervalls erfasst wurden. Nach dem Schritt 140 ist wieder der Zustand aus Schritt 110 hergestellt. Es kann vorgesehen sein, dass die Prüfung des Eingangskanals wiederholt, z.B. in bestimmten Zeitabständen, durchgeführt wird. Schritt 120 kann als Beginn des Test-Zeitintervalls angesehen werden und Schritt 140 kann als Ende des Test-Zeitintervalls angesehen werden.In
Das Test-PWM-Signal wird in Schritt 100 mit einer bestimmten Periodendauer und einem bestimmten Tastgrad (Tastverhältnis) erzeugt. Dieser Schritt kann unabhängig von anderen Schritten fortlaufend durchgeführt werden (etwa wie in
In Schritt 150 erfolgt ein Vergleich des wenigstens einen, in Schritt 130 bestimmten, Test-Werts mit dem entsprechenden wenigstens einem, bekannten bzw. vorbestimmten, Referenz-Wert.In
Wenn eine Differenz zwischen dem wenigstens einen Test-Wert und dem wenigstens einen Referenz-Wert einen vorgegebenen oder vorgebbaren Schwellenwert überschreitet, insbesondere wenn der wenigstens eine Test-Wert nicht gleich dem wenigstens einen Referenz-Wert ist, wird in Schritt 160 eine Fehlfunktion des Eingangskanals bestimmt bzw. erkannt. Genauer gesagt wird eine mögliche bzw. potentielle Fehlfunktion des Eingangskanals bestimmt, da eventuell auch ein anderes am Verfahren beteiligtes Element eine Fehlfunktion haben könnte. Solche Fehlfunktionen anderer Elemente können durch geeignete (andere) Prüfverfahren ausgeschlossen werden. Wenn die (potentielle) Fehlfunktion bestimmt wird, kann vorgesehen sein, dass eine entsprechende Fehlermeldung erzeugt und/oder kommuniziert wird. Ebenso könnte von einer weiteren Verwendung des externen PWM-Signals bzw. darauf basierender Daten oder verarbeiteter Werte abgesehen werden.If a difference between the at least one test value and the at least one reference value exceeds a predetermined or predeterminable threshold value, in particular if the at least one test value is not equal to the at least one reference value, a malfunction of the input channel occurs in
Wenn die Differenz zwischen dem wenigstens einen Test-Wert und dem wenigstens einen Referenz-Wert einen vorgegebenen oder vorgebbaren Schwellenwert nicht überschreitet, insbesondere wenn der wenigstens eine Test-Wert gleich dem wenigstens einen Referenz-Wert ist, wird vorzugsweise in Schritt 170 ein fehlerfreier Zustand des Eingangskanals bestimmt bzw. erkannt. Es kann vorgesehen sein, dass, etwa nach einer bestimmten Wartezeit, eine erneute Prüfung des Eingangskanals durchgeführt wird, dass also zu Schritt 120 zurückgesprungen wird.If the difference between the at least one test value and the at least one reference value does not exceed a predetermined or predeterminable threshold value, in particular if the at least one test value is equal to the at least one reference value, an error-free state is preferably achieved in
Typischerweise wird mit Schritt 120 die Verarbeitung des externen PWM-Signals unterbrochen. Z.B. werden Pegelübergänge, die nach Schritt 120 im Test-Zeitintervall liegen, bei der Bestimmung verarbeiteter Größen, etwa des Tastgrads des externen PWM-Signals, nicht berücksichtigt. Erst nach dem Zurückschalten in Schritt 140 wird mit der Verarbeitung des externen PWM-Signals fortgefahren.Typically, at
Vorzugsweise ist vorgesehen, dass mit der Verarbeitung des externen PWM-Signals nicht unmittelbar mit Ende des Test-Zeitintervalls (Schritt 140) fortgefahren wird, sondern in Schritt 180 zunächst gewartet wird, bis eine vollständige bzw. gültige Periode des externen PWM-Signals verstrichen ist. Dies kann anhand der Pegelübergänge erkannt werden.It is preferably provided that the processing of the external PWM signal does not continue immediately at the end of the test time interval (step 140), but rather waits in
Vorzugsweise wird in Schritt 190, nachdem die vollständige Periode des externen PWM-Signals verstrichen ist, mit der Verarbeitung des externen PWM-Signals fortgefahren. Wenn Schritt 180 nicht vorgesehen ist, kann etwa mit Ende des Test-Zeitintervalls mit der Verarbeitung fortgefahren werden. Schritt 180 ist zweckmäßig, da die Bestimmung von verarbeiteten Werten aus dem externen PWM-Signal genauer ist.Preferably, in step 190, after the full period of the external PWM signal has elapsed, processing of the external PWM signal continues. If
In einem optionalen Schritt 200, der insbesondere zyklisch (z.B. in Zeitabständen im Bereich von 1 ms bis 20 ms) erfolgt, kann eine Abfrage und/oder Verwendung (etwa in einem Regelungsverfahren) eines aus dem externen PWM-Signal bestimmten, verarbeiteten Werts (etwa Tastgrad) vorgesehen sein. Bei geeigneter (kurzer) Wahl des Test-Zeitintervalls wirkt sich die Prüfung des Eingangskanals nicht oder nur sehr wenig auf die Genauigkeit von verarbeiteten Werten des externen PWM-Signals aus. Etwa kann bei wiederholter Durchführung der Prüfung die Wartezeit in Schritt 170 größer als eine Zykluszeit von Schritt 200 sein. Allgemein kann vorgesehen sein, dass das Test-Zeitintervall und optional die Wartezeit aus Schritt 170 so gewählt ist bzw. sind, dass zu mindestens 80 %, bevorzugt mindestens 90 %, weiter bevorzugt mindestens 95 %, der gesamten Zeit eine Verarbeitung des externen PWM-Signals erfolgen kann. D.h. die Zeit, in der die Verarbeitung unterbrochen ist (zwischen Schritt 120 und Schritt 190 bzw. 140) sollte anteilig insbesondere kleiner als 20 %, bevorzugt kleiner als 10 %, weiter bevorzugt kleiner als 5 %, sein.In an
Der Signalverlauf in Diagramm 56 weist drei zeitliche Bereiche auf. Zunächst, bis zum Beginn 58 des Test-Zeitintervalls 60, entspricht das am Eingangskanal empfangene Signal dem externen PWM-Signal aus Diagramm 52. Während des Test-Zeitintervalls 60 entspricht das am Eingangskanal empfangene Signal dem Test-PWM-Signal aus Diagramm 54. Nach dem Ende 62 des Test-Zeitintervalls 60 entspricht das am Eingangskanal empfangene Signal wieder dem externen PWM-Signal aus Diagramm 52. Da keine zeitliche Korrelation zwischen dem externen PWM-Signal und dem Test-PWM-Signal besteht, kann das Test-Zeitintervall 62 verschiedenen Zeitfenstern bezogen auf die Perioden des externen PWM-Signals entsprechen, etwa entsprechend
In beiden Figuren ist weiterhin ein Zeitpunkt 64 eingezeichnet, an dem eine vollständige Periode des externen PWM-Signals nach Ende 62 des Test-Zeitintervalls 60 verstrichen ist. Dies kann an der Anzahl von Pegelübergängen (Flanken) erkannt werden, die nach dem Ende 62 des Test-Zeitintervalls 60 vorliegen bzw. durch den Eingangskanal erfasst werden. Es wird davon ausgegangen, dass eine Periode eines PWM-Signals mit einer steigenden Flanke, d.h. dem Pegelübergang vom niedrigen Pegel zum hohen Pegel, beginnt. Die zeitliche Länge des hohen Pegels ist entsprechend dem Tastgrad veränderlich.Both figures also show a point in
In
In
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNGQUOTES INCLUDED IN THE DESCRIPTION
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.This list of documents listed by the applicant was generated automatically and is included solely for the better information of the reader. The list is not part of the German patent or utility model application. The DPMA assumes no liability for any errors or omissions.
Zitierte PatentliteraturCited patent literature
- EP 2553540 A1 [0020]EP 2553540 A1 [0020]
Claims (16)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102022207309.6A DE102022207309A1 (en) | 2022-07-18 | 2022-07-18 | Method for testing an input channel for PWM signals of an electronic circuit |
GB2310338.5A GB2621246A (en) | 2022-07-18 | 2023-07-05 | Method for Testing an Input Channel for PWM Signals of an Electronic Circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102022207309.6A DE102022207309A1 (en) | 2022-07-18 | 2022-07-18 | Method for testing an input channel for PWM signals of an electronic circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102022207309A1 true DE102022207309A1 (en) | 2024-01-18 |
Family
ID=87556811
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102022207309.6A Pending DE102022207309A1 (en) | 2022-07-18 | 2022-07-18 | Method for testing an input channel for PWM signals of an electronic circuit |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102022207309A1 (en) |
GB (1) | GB2621246A (en) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19513081A1 (en) | 1995-04-07 | 1996-10-10 | Bosch Gmbh Robert | Method and device for monitoring the measured value acquisition in an electronic power control of a vehicle engine |
EP2553540A1 (en) | 2010-03-31 | 2013-02-06 | Robert Bosch GmbH | Circuit arrangement for a data processing system and method for data processing |
DE102014202678A1 (en) | 2014-02-13 | 2015-08-13 | Robert Bosch Gmbh | Method and apparatus for detecting a short circuit on a PWM driver circuit |
DE102019204413A1 (en) | 2019-03-29 | 2020-10-01 | Robert Bosch Gmbh | Electrical diagnosis of PWM signal inputs on electr. Control devices |
DE102020111743A1 (en) | 2019-05-10 | 2020-11-12 | Infineon Technologies Ag | Integrated circuit and method for monitoring a switching transistor and motor system |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2085838B1 (en) * | 2008-02-01 | 2014-01-08 | Rockwell Automation Limited | Input channel diagnostics |
-
2022
- 2022-07-18 DE DE102022207309.6A patent/DE102022207309A1/en active Pending
-
2023
- 2023-07-05 GB GB2310338.5A patent/GB2621246A/en active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19513081A1 (en) | 1995-04-07 | 1996-10-10 | Bosch Gmbh Robert | Method and device for monitoring the measured value acquisition in an electronic power control of a vehicle engine |
EP2553540A1 (en) | 2010-03-31 | 2013-02-06 | Robert Bosch GmbH | Circuit arrangement for a data processing system and method for data processing |
DE102014202678A1 (en) | 2014-02-13 | 2015-08-13 | Robert Bosch Gmbh | Method and apparatus for detecting a short circuit on a PWM driver circuit |
DE102019204413A1 (en) | 2019-03-29 | 2020-10-01 | Robert Bosch Gmbh | Electrical diagnosis of PWM signal inputs on electr. Control devices |
DE102020111743A1 (en) | 2019-05-10 | 2020-11-12 | Infineon Technologies Ag | Integrated circuit and method for monitoring a switching transistor and motor system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2621246A (en) | 2024-02-07 |
GB202310338D0 (en) | 2023-08-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102008056343B4 (en) | Warning system for a motor vehicle | |
DE102009046500B4 (en) | Method for determining the internal resistance of a battery | |
EP1952169B1 (en) | Method for determining storage battery operating conditions | |
EP2604478B2 (en) | Method for recognising function errors of a multi-sensor assembly | |
DE2340547B2 (en) | CIRCUIT ARRANGEMENT FOR TESTING LOGICAL CIRCUITS | |
EP2105750B1 (en) | Switch assembly, device and method for serial transmission of files through a connector | |
EP1866714B1 (en) | Method and device for monitoring a process action | |
DE2838549A1 (en) | PULSE WIDTH MEASUREMENT | |
DE102013105852B4 (en) | An information processing apparatus having a microcontroller to control a control target | |
DE102016001920A1 (en) | Control device for reporting maintenance and inspection times of signal-controlled peripheral devices | |
DE19611885B4 (en) | Method and device for controlling an electromagnetic switching element | |
EP1355804B1 (en) | Circuit arrangement and method for measuring current in vehicle braking systems | |
DE10127054B4 (en) | Method for monitoring a voltage supply of a control device in a motor vehicle | |
DE102022207309A1 (en) | Method for testing an input channel for PWM signals of an electronic circuit | |
DE102012111767B4 (en) | Electronic control unit and electric power steering device | |
EP3365784B1 (en) | Circuit assembly and method for monitoring a micro-controller based on a watchdog voltage | |
DE10043500A1 (en) | Method and device for checking the functionality of a timer | |
DE102014206353A1 (en) | Method and device for monitoring the temperature of the coil wire of a solenoid valve | |
DE102011083655A1 (en) | Monitoring device of electronic control system for controlling electric motor, determines error event origin task number on detecting incorrect response number and restarts system operation from error event origin task number | |
DE102013105853A1 (en) | Information processing apparatus | |
DE102011115707A1 (en) | Method for energizing actuating unit of operating element for on-board electronics of motor car with anti-corrosion current, involves extending pulse duration of signal pulses as corrosion current at time period of repetition rate | |
DE102017214610B4 (en) | Method for checking at least one vehicle function and testing device | |
EP2338248B1 (en) | Method for operating a communication system with a plurality of nodes and communication system therefor | |
DE102013220453A1 (en) | Method for operating a motor vehicle and method for evaluating recorded time profiles | |
DE102023200498A1 (en) | Method for monitoring a clock module of an electronic circuit |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R163 | Identified publications notified | ||
R012 | Request for examination validly filed |