DE102020206682A1 - Verfahren zur Untersuchung eines Reifens - Google Patents

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Oliver Kirschning
Jorge Lacayo-Pineda
Jens Winkler
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Continental Reifen Deutschland GmbH
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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Untersuchung eines Reifens (2), wobei der Reifen (2) mindestens einen, zumindest teilweise aus einem Metall ausgebildeten, Festigkeitsträger (14, 15) aufweist, aufweisend die folgenden Schritte:- Bereitstellen eines Reifens (2);- Bereitstellen einer Messvorrichtung (4), wobei die Messvorrichtung (4) zur Durchführung eines Laufzeitverfahrens geeignet ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren, eine Steuervorrichtung und ein System.
  • Die Erfindung geht aus von einem Verfahren zur Untersuchung eines Reifens, wobei der Reifen mindestens einen, zumindest teilweise aus einem Metall ausgebildeten, Festigkeitsträger aufweist. Das Verfahren weist die folgenden Schritte auf:
    • - Bereitstellen eines Reifens;
    • - Bereitstellen einer Messvorrichtung, wobei die Messvorrichtung zur Durchführung eines Laufzeitverfahrens geeignet ist.
  • Bei dem Festigkeitsträger kann es sich beispielsweise um eine Reifenkarkasse oder um einen Reifengürtel handeln.
  • Aus dem Stand der Technik sind Verfahren bekannt, wobei die aus dem Stand der Technik bekannten Verfahren die zuvor benannten Schritte aufweisen. Bei den aus dem Stand der Technik bekannten Verfahren handelt es sich insbesondere um solche Verfahren, mittels denen Reifen untersucht werden können, ohne, dass es durch die Untersuchung zu einer mechanischen Einwirkung auf den Reifen kommt. Eine mechanische Einwirkung auf den Reifen könnte mit einer Wahrscheinlichkeit einer Beschädigung des Reifens oder einer Komponente des Reifens einhergehen.
  • Bei den aus dem Stand der Technik bekannten Verfahren könnte es erforderlich sein, die Untersuchung mittels der Messvorrichtung unter Nutzung verschiedener Mittel und verschiedener Messkomponenten vorzunehmen. Es könnte beispielsweise erforderlich sein, dass die Messvorrichtung gemäß dem Stand der Technik Kombinationen von Laser- und Radar-Sensoren aufweist. Der Einsatz einer Messvorrichtung, wobei die Messvorrichtung einer Mehrzahl an Messkomponenten aufweist, könnte technisch komplex sein und mit einem erhöhten Kalibrierungsaufwand bezüglich der Messkomponenten einhergehen. Dies könnte insgesamt zu einer Erhöhung eines technischen Aufwandes führen, mit dem das Verfahren durchgeführt wird.
  • Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein verbessertes Verfahren bereitzustellen, wobei es sich bei dem Verfahren um ein solches Verfahren handelt, mittels dem der Reifen untersucht werden kann, ohne, dass es zu einer Beschädigung des Reifens kommt und wobei das Verfahren einer im Vergleich zum Stand der Technik geringeren technischen Aufwand erfordert.
  • Gelöst wird die gestellte Aufgabe dadurch, dass die Messvorrichtung zur Durchführung eines Laufzeitverfahrens mittels Terahertzstrahlung geeignet ist, und das Verfahren die weiteren Schritte aufweist:
    • - Durchführen des Laufzeitverfahrens mittels Terahertzstrahlung, wobei ein erster und ein zweiter Messpunkt bestimmt werden, wobei es sich bei dem ersten Messpunkt um einen Punkt handelt der an einem ersten Materialübergang liegt und es sich bei dem zweiten Messpunkt um einen Punkt handelt der an einem zweiten Materialübergang liegt;
    • - Bestimmen eines ersten Abstandes der Messvorrichtung zu dem ersten Messpunkt mittels des Laufzeitverfahrens;
    • - Bestimmen eines zweiten Abstandes der Messvorrichtung zu dem zweiten Messpunkt mittels des Laufzeitverfahrens;
    • - Bestimmen eines dritten Abstands zwischen dem ersten Messpunkt und dem zweiten Messpunkt in Abhängigkeit des ersten Abstandes und des zweiten Abstandes.
  • Bei dem ersten Materialübergang handelt es sich um einen Phasenübergang zweier Materialien, beispielsweise Luft zu einem Gummi oder zu einem Kautschuk. Bei dem Gummi oder dem Kautschuk handelt es sich um den Gummi oder den Kautschuk, aus dem der Reifen mit ausgebildet ist. Bei der Luft handelt es sich beispielsweise um Luft in einem Reifeninnenraum oder um Luft, die eine Außenfläche des Reifens umgibt. Bei der Außenfläche handelt es sich beispielsweise um eine von dem Reifen weg orientierte Oberfläche des Laufstreifens des Reifens.
  • Bei dem zweiten Materialübergang handelt es sich um einen Phasenübergang zweier Materialien, beispielsweise von dem Gummi oder von dem Kautschuk zu dem Festigkeitsträger. Bei dem Gummi oder dem Kautschuk handelt es sich um den Gummi oder den Kautschuk, aus dem der Reifen mit ausgebildet ist.
  • Bei dem dritten Abstand handelt es sich insbesondere um die Differenz des ersten und zweiten Abstands. Bei dem dritten Abstand kann es sich beispielsweise um die Dicke eines Laufstreifens des Reifens handeln oder es kann sich um die Dicke einer Reifeninnenschicht des Reifens handeln. Für den Fall, wonach es sich beispielsweise um die Dicke einer Reifeninnenschicht handelt, liegt der erste Messpunkt an dem Phasenübergang von der Luft im Reifeninnenraum zu der Reifeninnenschicht. Die Reifeninnenschicht ist eine Gummi- oder Kautschukschicht. Der zweite Messpunkt liegt für diesen Fall am Materialübergang von der Reifeninnenschicht zu der Karkasse.
  • Durch den erfindungsgemäßen Umstand, wonach die Messvorrichtung zur Durchführung eines Laufzeitverfahrens mittels Terahertzstrahlung geeignet ist, und wobei das Verfahren die weiteren Schritte aufweist:
    • - Durchführen des Laufzeitverfahrens mittels Terahertzstrahlung, wobei ein erster und ein zweiter Messpunkt bestimmt werden, wobei es sich bei dem ersten Messpunkt um einen Punkt handelt der an einem ersten Materialübergang liegt und es sich bei dem zweiten Messpunkt um einen Punkt handelt der an einem zweiten Materialübergang liegt;
    • - Bestimmen eines ersten Abstandes der Messvorrichtung zu dem ersten Messpunkt mittels des Laufzeitverfahrens;
    • - Bestimmen eines zweiten Abstandes der Messvorrichtung zu dem zweiten Messpunkt mittels des Laufzeitverfahrens;
    • - Bestimmen eines dritten Abstands zwischen dem ersten Messpunkt und dem zweiten Messpunkt in Abhängigkeit des ersten Abstandes und des zweiten Abstandes,

    kann ein Verfahren durchgeführt werden, dass lediglich mittels des Einsatzes von Terahertzstrahlung durchgeführt wird. Dadurch ist eine Messvorrichtung erforderlich, die technisch weniger aufwändig im Betrieb ist, als es bei aus dem Stand der Technik bekannten Messvorrichtungen der Fall sein könnte. Darüber hinaus können räumliche Abstände mittels Terahertzstrahlung ausreichend präzise bestimmt werden.
    Mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens können Abmessungen und Geometrien des Reifens sowie seiner Komponenten bestimmt und vermessen werden. Zu den Komponenten zählen beispielsweise Karkassen oder Reifengürtel. Mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens kann beispielsweise eine Rotationssymmetrie des Reifens oder des Festigkeitsträgers, also beispielsweise der Karkasse oder des Reifengürtels, vermessen und geprüft werden.
  • Somit wird insgesamt ein verbessertes Verfahren bereitgestellt.
  • Die im Verfahren verwendete Messvorrichtung weist insbesondere Mittel zum Senden und Empfangen von Terahertzstrahlung auf. Der Terahertzstrahlung liegen elektromagnetische Terahertzwellen zu Grunde in einem Frequenzbereich von beispielsweise 0,3 THz bis 10 THz. Der Terahertzstrahlung liegen insbesondere elektromagnetische Terahertzwellen zu Grunde in einem Frequenzbereich von beispielsweise 0,3 THz bis 5 THz oder 5 THz bis 10 THz.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren ist grundsätzlich bei allen Elastomerprodukten oder Kautschukprodukten anwendbar, also insbesondere bei solchen, die eine Festigkeitsträger aufweisen, wobei der Festigkeitsträger von einer Elastomerschicht oder Kautschukschicht bedeckt ist. Insbesondere wird dann anstelle eines Reifens eine Elastomerprodukt oder Kautschukprodukt im erfindungsgemäßen Verfahren bereitgestellt.
  • Die Erfindung betrifft ferner eine Steuervorrichtung einer Maschine zur Runderneuerung eines Reifens. Die Steuervorrichtung ist dabei zur Durchführung eines erfindungsgemäßen Verfahrens geeignet.
  • Die Erfindung betrifft ferner ein System zur Runderneuerung eines Reifens. Das System weist eine erfindungsgemäße Steuervorrichtung auf. Das System weist ferner eine Messvorrichtung auf, wobei die Messvorrichtung zur Verwendung in einem erfindungsgemäßen Verfahren geeignet ist. Das System weist ferner eine Schleifvorrichtung auf, wobei die Schleifvorrichtung zur Abschleifung eines Reifens geeignet ist.
  • Die Messvorrichtung des Systems weist insbesondere Mittel zum Senden und Empfangen von Terahertzstrahlung auf. Der Terahertzstrahlung liegen elektromagnetische Wellen zu Grunde in einem Frequenzbereich von beispielsweise 0,3 THz bis 10 THz. Der Terahertzstrahlung liegen insbesondere elektromagnetische Terahertzwellen zu Grunde in einem Frequenzbereich von beispielsweise 0,3 THz bis 5 THz oder 5 THz bis 10 THz.
  • Bei dem System handelt es sich insbesondere um eine Maschine zur Runderneuerung von Reifen.
  • Bei dem Reifen handelt es sich beispielsweise um einen PKW-Reifen, um einen LKW-Reifen oder um einen Zweirad-Reifen.
  • Weitere vorteilhafte Ausgestaltungsformen der vorliegenden Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
  • Gemäß einer vorzugsweisen Ausgestaltungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens werden der erste Abstand und der zweite Abstand dadurch bestimmt, dass Terahertzwellen von der Messvorrichtung ausgesendet werden, wobei erste Terahertzwellen der ausgesendeten Terahertzwellen an dem ersten Messpunkt reflektiert und dann die ersten reflektierten Terahertzwellen von der Messvorrichtung aufgenommen werden, und wobei zweite Terahertzwellen der ausgesendeten Terahertzwellen an dem zweiten Messpunkt reflektiert und dann die zweiten reflektierten Terahertzwellen von der Messvorrichtung aufgenommen werden, wobei der erste Abstand in Abhängigkeit der Laufzeit der ersten reflektierten Terahertzwellen bestimmt wird und der zweite Abstand in Abhängigkeit der Laufzeit der zweiten reflektierten Terahertzwellen bestimmt wird.
  • Gemäß einer nächsten vorzugsweisen Ausgestaltungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens, ist das Verfahren gekennzeichnet durch die weiteren Schritte:
    • - Ausgeben eines Signals, wobei das Signal eine Information über den dritten Abstand enthält, wobei dem dritten Abstand ein Abstandswert zugeordnet ist
    • - Vergleichen des Abstandswerts mit einem Sollwert.
  • Durch den erfindungsgemäßen Umstand, wonach das erfindungsgemäße Verfahren gekennzeichnet ist durch die weiteren Schritte:
    • - Ausgeben eines Signals, wobei das Signal eine Information über den dritten Abstand enthält, wobei dem dritten Abstand ein Abstandswert zugeordnet ist
    • - Vergleichen des Abstandswerts mit einem Sollwert,
    kann ein insbesondere elektronisch auswertbares Signal erzeugt werden. In Abhängigkeit des Vergleichens des Abstandswertes mit einem Sollwert, können Eingriffe oder mechanische Maßnahmen am Reifen vorgenommen werden. Ferner kann beispielsweise die Einsatzfähigkeit des Reifens bestimmt werden. Hintergrund der Bestimmung der Einsatzfähigkeit des Reifens ist, dass beispielsweise die Dicke der Reifeninnenschicht oder des Laufstreifens bestimmt werden können. Die Dicke der Reifeninnenschicht oder die Dicke des Laufstreifens stehen in Zusammenhang mit der Einsatzfähigkeit des Reifens. Darüber hinaus können Verformungen oder Beschädigungen von Festigkeitsträgern bestimmt werden. Dabei kann sich der Sollwert aus einer vorgegebenen Abmessung und idealen Rotationsymmetrie des Festigkeitsträgers ergeben.
  • Gemäß einer nächsten vorzugsweisen Ausgestaltungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens wird in Abhängigkeit des Vergleichens eine Klassifizierung des dritten Abstandes vorgenommen.
  • Bei der Klassifizierung kann es sich beispielsweise um eine Zuordnung zu einer Klasse handeln, wobei die Klasse den Grad einer Tauglichkeit des Reifens oder einer seiner Komponenten betrifft.
  • Gemäß einer nächsten vorzugsweisen Ausgestaltungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens wird in Abhängigkeit des dritten Abstandes eine Dicke einer Reifeninnenschicht bestimmt und/oder in Abhängigkeit des dritten Abstandes wird eine räumliche Position des Festigkeitsträgers bestimmt.
  • Bei der räumlichen Position des Festigkeitsträgers handelt es sich beispielsweise um eine auf die Rotationsachse des Reifens bezogenen Position.
  • Gemäß einer nächsten vorzugsweisen Ausgestaltungsform des erfindungsgemäßen Systems weist die Steuervorrichtung einen Regelkreis auf, wobei der Regelkreis eingerichtet ist, dass mittels der Messvorrichtung und der Schleifvorrichtung ein iterativ wiederholbares und nacheinander durchgeführtes Bestimmen des dritten Abstands und Abschleifen des Reifens oder ein zeitgleiches Bestimmen des dritten Abstands und Abschleifen des Reifens vorgenommen werden kann.
  • Gemäß einer nächsten vorzugsweisen Ausgestaltungsform des erfindungsgemäßen Systems kann der Reifen während einer Bestimmung des dritten Abstands in einer Ruheposition gehalten werden, während die Messvorrichtung um den Reifen herum bewegt werden kann.
  • Gemäß einer nächsten vorzugsweisen Ausgestaltungsform des erfindungsgemäßen Systems kann die Messvorrichtung während einer Bestimmung des dritten Abstands in einer Ruheposition gehalten werden, während der Reifen bewegt werden kann
  • Gemäß einer nächsten vorzugsweisen Ausgestaltungsform des erfindungsgemäßen Systems können der Reifen und die Messvorrichtung während einer Bestimmung des dritten Abstands zeitgleich bewegt werden.
  • Weitere Vorteile, Merkmale und Einzelheiten, auf die die Erfindung in ihrem Umfang nicht beschränkt ist, werden nun anhand der Zeichnungen näher beschrieben.
  • Es zeigt:
    • 1: eine schematische Darstellung eines erfindungsgemäßen Systems gemäß einer Ausführungsform;
    • 2: eine schematische Darstellung eines Bereichs eines Reifens;
    • 3: eine schematische Darstellung eines erfindungsgemäßen Systems gemäß einer weiteren Ausführungsform;
    • 4: eine schematische Darstellung eines erfindungsgemäßen Systems gemäß einer weiteren Ausführungsform;
    • 5: eine schematische Darstellung eines Bereichs eines Reifens;
    • 6: eine schematische Darstellung der Auftragung einer Intensität reflektierter gemessener Terahertzwellen gegenüber einer Laufzeit der Terahertzwellen.
  • In der 1 ist ein erfindungsgemäßes System 1 zur Runderneuerung eines Reifens 2 gemäß einer Ausführungsform schematisch dargestellt. Das System 1 weist eine erfindungsgemäße Steuervorrichtung 3 auf. Die Steuervorrichtung 3 ist zur Durchführung eines erfindungsgemäßen Verfahrens geeignet.
  • Das System 1 weist eine Messvorrichtung 4 auf, wobei die Messvorrichtung 4 zur Verwendung in einem erfindungsgemäßen Verfahren geeignet ist.
  • Das System 1 weist eine Schleifvorrichtung 5 auf, wobei die Schleifvorrichtung 5 zur Abschleifung des Reifens 2 geeignet ist.
  • Die Steuervorrichtung 3 und die Messvorrichtung 4 sind insbesondere an einer Basisvorrichtung 20 angeordnet. Die Basisvorrichtung 20 ist insbesondere zur Energieversorgung der Steuervorrichtung 3 und/oder der Messvorrichtung 4 vorgesehen.
  • Die Messvorrichtung 4 weist insbesondere Mittel 21 zum Senden und Empfangen von Terahertzstrahlung auf. Der Terahertzstrahlung liegen elektromagnetische Wellen zu Grunde in einem Frequenzbereich von beispielsweise 0,3 THz bis 10 THz.
  • Der Reifen 2 ist in Radialschnittansicht dargestellt und um eine Rotationsachse 22 in eine Umlaufrichtung 23 rotierbar.
  • Der Reifen 2 weist eine Karkasse 14, einen Reifengürtel 15, eine Reifeninnenschicht 16 und eine Laufstreifen 17 auf.
  • In der 2 ist ein Bereich 19 eines Reifens 2 schematisch dargestellt.
  • Luft 24 und der Laufstreifen 17 bilden einen ersten Materialübergang 9 aus. Der Laufstreifen 17 und der Reifengürtel 15 bilden einen zweiten Materialübergang 10 aus.
  • Der Laufstreifen 17 ist vorzugsweise aus Kautschuk ausgebildet, der Reifengürtel 15 ist beispielsweise aus Stahl ausgebildet. Die Luft 24 ist die Umgebungsluft des Reifens 2.
  • Von der Messvorrichtung 4 ausgesendete Terahertzwellen 25 breiten sich gemäß der schematischen Darstellung in der 2 von der Messvorrichtung 4 ausgehend in Richtung des Laufstreifens 17 des Reifens 2 aus. Die Terahertzwellen 25 breiten sich zunächst bis zu dem ersten Materialübergang 9 und treffen dort auf den ersten Messpunkt 7.
  • In der 2 ist schematisch dargestellt, wie erste Terahertzwellen 26 von dem ersten Materialübergang 9 reflektiert werden und sich in Richtung zu der Messvorrichtung 4 ausbreiten.
  • Ein Teil der Terahertzwellen 25 breitet sich innerhalb des Laufstreifens 17 in Richtung des Reifengürtels 15 aus. Die Terahertzwellen 25 breiten sich dabei bis zu dem zweiten Materialübergang 10 aus und treffen dort auf einen zweiten Messpunkt 8.
  • Über die bekannte Ausbreitungsgeschwindigkeit der Terahertzwellen kann mittels eines Laufzeitverfahrens ein erster Abstand 11 berechnet werden. Bei dem ersten Abstand 11 handelt es sich um den Abstand zwischen der Messvorrichtung 4 und dem ersten Messpunkt 7.
  • In der 2 ist schematisch dargestellt, wie zweite Terahertzwellen 27 von dem zweiten Materialübergang 10 reflektiert werden und sich in Richtung zu der Messvorrichtung 4 ausbreiten. Über die bekannte Ausbreitungsgeschwindigkeit der Terahertzwellen kann mittels eines Laufzeitverfahrens ein zweiter Abstand 12 berechnet werden. Bei dem zweiten Abstand 12 handelt es sich um den Abstand zwischen der Messvorrichtung 4 und dem zweiten Messpunkt 8.
  • In der 2 ist ein dritter Abstand 13 schematisch dargestellt. Der dritte Abstand 13 ergibt sich in Abhängigkeit von dem ersten Abstand 11 und dem zweiten Abstand 12. Der dritte Abstand 13 ergibt sich insbesondere aus der Differenz des ersten Abstands 11 und des zweiten Abstands 12.
  • Der dritte Abstand 13 ist der Abstand zwischen dem ersten Materialübergang 9 zu dem zweiten Materialübergang 10, der dritte Abstand 13 entspricht somit der Dicke des Laufstreifens 17.
  • Sämtliche Terahertzwellen 25, 26, 27, die in den 2, 2.2 und 2.3 dargestellt sind, breiten sich in eine zueinander parallele oder antiparallele Richtung aus.
  • In der 3 ist ein erfindungsgemäßes System 1 gemäß einer weiteren Ausführungsform schematisch dargestellt. Gemäß der Darstellung in der 2 weist die Steuervorrichtung 3 einen Regelkreis 6 auf. Der Regelkreis 6 ist eingerichtet, dass mittels der Messvorrichtung 4 und der Schleifvorrichtung 5 ein iterativ wiederholbares und nacheinander durchgeführtes Bestimmen des dritten Abstands 13 und Abschleifen des Reifens 2 oder ein zeitgleiches Bestimmen des dritten Abstands 13 und Abschleifen des Reifens 2 vorgenommen werden kann.
  • In der 4 ist ein erfindungsgemäßes System 1 gemäß einer weiteren Ausführungsform schematisch dargestellt. Gemäß der Darstellung in der 4 kann der Reifen 2 während einer Bestimmung des dritten Abstands 13 in einer Ruheposition gehalten werden kann während die Messvorrichtung 4 um den Reifen 2 herumbewegt werden kann.
  • Das System 1 weist insbesondere Mittel 18 zum Bewegen der Messvorrichtung 4 um den Reifen 2 herum auf.
  • In der 5 ist ein anderer Bereich 28 eines Reifens 2 schematisch dargestellt. Bei dem anderen Bereich 28 handelt es sich um den Schulterbereich des Reifens 2.
  • Luft 24 und die Reifeninnenschicht 16 bilden den ersten Materialübergang 9 aus. Die Reifeninnenschicht 16 und die Karkasse 14 bilden den zweiten Materialübergang 10 aus.
  • Die Reifeninnenschicht 16 ist vorzugsweise aus Kautschuk ausgebildet, die Karkasse 14 ist beispielsweise aus Stahl ausgebildet. Die Luft 24 ist die Luft im Reifeninnenraum 29 des Reifens 2.
  • Mittels von der Messvorrichtung 4 ausgesendeter Terahertzwellen 25 und dann an dem Materialübergangen 9 und 10 reflektierten Terahertzwellen kann wiederum auf Grundlage eines Laufzeitverfahrens der dritte Abstand 13 bestimmt werden. Der dritte Abstand 13 ist der Abstand zwischen dem ersten Materialübergang 9 zu dem zweiten Materialübergang 10, der dritte Abstand entspricht somit der Dicke der Reifeninnenschicht 16.
  • In der 6 ist eine Intensität S reflektierter gemessener Terahertzwellen gegenüber einer Laufzeit t der Terahertzwellen aufgetragen. Die Intensität S der reflektierten Terahertzwellen ist auf der Ordinate aufgetragen. Auf der Abszisse ist die Laufzeit t der Terahertzwellen aufgetragen.
  • Bei der Laufzeit t handelt es sich um die Zeit von der Aussendung einer Terahertzwelle bis zu dem Wiederempfangen der reflektierten Terahertzwelle.
  • Zu zwei Zeitpunkten t1 und t2 zeigen sich lokale Maxima der Intensität im zeitlichen Verlauf. Das erste lokale Maximum P1 ergibt sich zum Zeitpunkt t1, das zweite lokale Maximum P2 ergibt sich zum Zeitpunkt t2.
  • Das erste lokale Maximum P1 ergibt sich aus den an dem ersten Materialübergang 9 reflektierten Terahertzwellen 26.
  • Das zweite lokale Maximum P2 ergibt sich aus den an dem zweiten Materialübergang 10 reflektierten Terahertzwellen 27.
  • Anhand der Zeitpunkte t1 und t2 kann eine Differenzzeit tD errechnet werden. Anhand der Differenzzeit tD kann das erfindungsgemäße Laufzeitverfahren durchgeführt werden.
  • Bezugszeichenliste
    • 1
    System
    2
    Reifen
    3
    Steuervorrichtung
    4
    Messvorrichtung
    5
    Schleifvorrichtung
    6
    Regelkreis
    7
    Erster Messpunkt
    8
    Zweiter Messpunkt
    9
    Erster Materialübergang
    10
    Zweiter Materialübergang
    11
    Erster Abstand
    12
    Zweiter Abstand
    13
    Dritter Abstand
    14
    Karkasse
    15
    Reifengürtel
    16
    Reifeninnenschicht
    17
    Laufstreifen
    18
    Mittel zur Bewegung des Reifens
    19
    Bereich eines Reifens
    20
    Basisvorrichtung
    21
    Mittel zur Erzeugung von Terahertzstrahlung
    22
    Rotationsachse
    23
    Umlaufrichtung
    24
    Luft
    25
    Terahertzwellen
    26
    Erste reflektierte Terahertzwellen
    27
    Zweite reflektierte Terahertzwellen
    28
    Anderer Bereich des Reifens
    29
    Reifeninnenraum

Claims (9)

  1. Verfahren zur Untersuchung eines Reifens (2), wobei der Reifen (2) mindestens einen, zumindest teilweise aus einem Metall ausgebildeten, Festigkeitsträger (14, 15) aufweist, aufweisend die folgenden Schritte: - Bereitstellen eines Reifens (2); - Bereitstellen einer Messvorrichtung (4), wobei die Messvorrichtung (4) zur Durchführung eines Laufzeitverfahrens geeignet ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Messvorrichtung (4) zur Durchführung eines Laufzeitverfahrens mittels Terahertzstrahlung geeignet ist, und wobei das Verfahren die weiteren Schritte aufweist: - Durchführen des Laufzeitverfahrens mittels Terahertzstrahlung, wobei ein erster Messpunkt (7) und ein zweiter Messpunkt (8) bestimmt werden, wobei es sich bei dem ersten Messpunkt (7) um einen Punkt handelt, der an einem ersten Materialübergang (9) liegt und es sich bei dem zweiten Messpunkt (8) um einen Punkt handelt, der an einem zweiten Materialübergang (10) liegt; - Bestimmen eines ersten Abstandes (11) der Messvorrichtung (4) zu dem ersten Messpunkt (7) mittels des Laufzeitverfahrens; - Bestimmen eines zweiten Abstandes (12) der Messvorrichtung (4) zu dem zweiten Messpunkt (8) mittels des Laufzeitverfahrens; - Bestimmen eines dritten Abstands (13) zwischen dem ersten Messpunkt (7) und dem zweiten Messpunkt (8) in Abhängigkeit des ersten Abstandes (11) und des zweiten Abstandes (12).
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Abstand (11) und der zweite Abstand (12) dadurch bestimmt werden, dass Terahertzwellen (25) von der Messvorrichtung (4) ausgesendet werden, wobei erste Terahertzwellen (26) der ausgesendeten Terahertzwellen (25) an dem ersten Messpunkt (7) reflektiert und dann die ersten reflektierten Terahertzwellen (26) von der Messvorrichtung (4) aufgenommen werden, und wobei zweite Terahertzwellen (27) der ausgesendeten Terahertzwellen (25) an dem zweiten Messpunkt (8) reflektiert und dann die zweiten reflektierten Terahertzwellen (27) von der Messvorrichtung (4) aufgenommen werden, wobei der erste Abstand (11) in Abhängigkeit der Laufzeit der ersten reflektierten Terahertzwellen (26) bestimmt wird und der zweite Abstand (12) in Abhängigkeit der Laufzeit der zweiten reflektierten Terahertzwellen (27) bestimmt wird.
  3. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch die weiteren Schritte: - Ausgeben eines Signals, wobei das Signal eine Information über den dritten Abstand (13) enthält, wobei dem dritten Abstand (13) ein Abstandswert zugeordnet ist - Vergleichen des Abstandswerts mit einem Sollwert.
  4. Verfahren nach dem vorhergehenden Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass in Abhängigkeit des Vergleichens eine Klassifizierung des dritten Abstandes (13) vorgenommen wird.
  5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass in Abhängigkeit des dritten Abstandes (13) eine Dicke einer Reifeninnenschicht (16) bestimmt wird und/oder in Abhängigkeit des dritten Abstandes (13) eine räumliche Position des Festigkeitsträgers (14, 15) bestimmt wird.
  6. Steuervorrichtung (3) eines Systems (1) zur Runderneuerung eines Reifens (2), wobei die Steuervorrichtung (3) zur Durchführung eines Verfahrens nach einem der vorhergehenden Ansprüche geeignet ist.
  7. System (1) zur Runderneuerung eines Reifens (2), wobei das System (1) eine Steuervorrichtung (3) nach dem vorhergehenden Anspruch aufweist und wobei das System (1) eine Messvorrichtung (4), geeignet zur Verwendung in einem Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, aufweist und wobei das System (1) eine Schleifvorrichtung (5) aufweist, wobei die Schleifvorrichtung (5) zur Abschleifung eines Reifens (2) geeignet ist.
  8. System (1) nach dem vorhergehenden Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuervorrichtung (3) einen Regelkreis (6) aufweist, wobei der Regelkreis (6) eingerichtet ist, dass mittels der Messvorrichtung (4) und der Schleifvorrichtung (5) ein iterativ wiederholbares und nacheinander durchgeführtes Bestimmen des dritten Abstands (13) und Abschleifen des Reifens (2) oder ein zeitgleiches Bestimmen des dritten Abstands (13) und Abschleifen des Reifens (2) vorgenommen werden kann.
  9. System (1) nach einem der Ansprüche 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, dass der Reifen (2) während einer Bestimmung des dritten Abstands (13) in einer Ruheposition gehalten werden kann, während die Messvorrichtung (4) um den Reifen (2) herum bewegt werden kann, oder, dass die Messvorrichtung (4) während einer Bestimmung des dritten Abstands (13) in einer Ruheposition gehalten werden kann, während der Reifen (2) bewegt werden kann, oder, dass der Reifen (2) und die Messvorrichtung (4) während einer Bestimmung des dritten Abstands (13) zeitgleich bewegt werden können.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US11874223B1 (en) 2022-08-30 2024-01-16 The Goodyear Tire & Rubber Company Terahertz characterization of a multi-layered tire tread

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