DE102019126838A1 - Device for irradiating a flat substrate - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Bestrahlen eines flächigen Substrats (7) mit zwei nebeneinander und beabstandet von dem Substrat (7) angeordneten elektrisch betriebenen Strahlungsquellen (1, 2), wobei die Strahlungsquellen (1, 2) elektrisch in Reihe geschaltet sind, und wobei mindestens einer der Strahlungsquellen (1, 2) eine veränderbare Impedanz parallel geschaltet ist.The invention relates to a device for irradiating a flat substrate (7) with two electrically operated radiation sources (1, 2) arranged next to one another and at a distance from the substrate (7), the radiation sources (1, 2) being electrically connected in series, and wherein at least one of the radiation sources (1, 2) has a variable impedance connected in parallel.
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Bestrahlen eines flächigen Substrats mit zwei nebeneinander und beabstandet von dem Substrat angeordneten elektrisch betriebenen Strahlungsquellen.The invention relates to a device for irradiating a flat substrate with two electrically operated radiation sources arranged next to one another and at a distance from the substrate.
Derartige Vorrichtungen werden eingesetzt, um ein Substrat bzw. eine auf dem Substrat angeordnete Funktionsschicht mit Hilfe der Strahlungsquellen im Rahmen von Herstellungsprozessen zu bearbeiten oder zu modifizieren. Die Strahlungsquellen können beispielsweise Heizstrahler, also InfrarotStrahlungsquellen, sein, die eingesetzt werden um das Substrat oder die aufgebrachte Funktionsschicht zu trocknen. Ein anderes Einsatzgebiet sind Schichten, die mit Ultraviolett-Strahlung bestrahlt werden, um sie chemisch zu modifizieren, beispielsweise auszuhärten.Such devices are used in order to process or modify a substrate or a functional layer arranged on the substrate with the aid of the radiation sources in the context of manufacturing processes. The radiation sources can be, for example, radiant heaters, that is to say infrared radiation sources, which are used to dry the substrate or the applied functional layer. Another area of application are layers that are irradiated with ultraviolet radiation in order to modify them chemically, for example to harden them.
Dabei ist es häufig wichtig, dass über die möglichst gesamte Oberfläche des Substrats eine gleichmäßige Strahlungsintensität erzielt wird. Zwei oder mehr Strahlungsquelle werden dann eingesetzt, wenn die Substratbreite zu groß ist, um mit einer Strahlungsquelle allein das Substrat ausreichend homogen zu bestrahlen zu können.It is often important that a uniform radiation intensity is achieved over the entire surface of the substrate as possible. Two or more radiation sources are used when the substrate width is too large to be able to irradiate the substrate sufficiently homogeneously with one radiation source alone.
Wenn zwei Strahlungsquellen nebeneinander bei einem stationären Substrat oder nebeneinander in Hinblick auf eine Durchlaufrichtung eines bewegten Substrats in einem kontinuierlichen Prozess eingesetzt werden, ist zum Erreichen einer homogenen Strahlungsintensität zum einen die Positionierung der Strahlungsquellen in Hinblick auf ihren Abstand untereinander und vom Substrat unter Berücksichtigung von abbildenden Elementen wie Reflektoren und/oder Linsen zu optimieren. Herstellungstoleranzen, insbesondere bei der Drahtstärke und/oder Länge eine Wendel der Strahlungsquellen können jedoch auch bei theoretisch optimal positionierten Strahlungsquellen zu einer nicht homogenen Bestrahlung des Substrats führen. Zudem ist auch noch zu berücksichtigen, dass die Strahlungsquellen im Laufe der Zeit unterschiedlich altern können, so dass trotz anfänglich optimaler Anordnungsgeometrie der Strahlungsquellen ein Ausgleich der Strahlungsintensität der beiden Strahlungsquellen untereinander notwendig sein kann.If two radiation sources are used next to each other in a stationary substrate or next to each other with regard to a direction of passage of a moving substrate in a continuous process, to achieve a homogeneous radiation intensity, on the one hand, the positioning of the radiation sources with regard to their distance from one another and from the substrate, taking into account imaging To optimize elements such as reflectors and / or lenses. Manufacturing tolerances, in particular in the wire thickness and / or length of a coil of the radiation sources, can, however, lead to non-homogeneous irradiation of the substrate even with radiation sources that are theoretically optimally positioned. In addition, it must also be taken into account that the radiation sources can age differently in the course of time, so that despite an initially optimal arrangement geometry of the radiation sources, it may be necessary to balance the radiation intensity of the two radiation sources with one another.
Dazu bietet sich eine elektrische oder elektronische Intensitätsregelung der beiden Strahlungsquellen, bzw. zumindest die Möglichkeit einer Intensitätsabsenkung bei einer der beiden Strahlungsquellen, an. Werden beide Strahlungsquellen parallel geschaltet von einer Spannungsquelle versorgt, kann eine solche Intensitätseinstellung oder -absenkung durch Vorschalten einer entsprechenden Leistungssteuerung vor zumindest eine der Strahlungsquellen erfolgen. Bei Einsatz einer Wechselspannungsquelle können beispielsweise eine Phasenanschnittsteuerung oder eine Gruppenwellensteuerung verwendet werden.For this purpose, electrical or electronic intensity regulation of the two radiation sources, or at least the possibility of reducing the intensity of one of the two radiation sources, is suitable. If both radiation sources are supplied from a voltage source connected in parallel, such an intensity setting or reduction can take place by connecting a corresponding power control upstream of at least one of the radiation sources. When using an AC voltage source, phase control or group wave control can be used, for example.
Nachteilig ist dabei - insbesondere beim Einstellen einer sehr kleinen Intensität der Strahlungsquellen - eine möglicherweise zu geringe Einstellgenauigkeit bei Verwendung einer Gruppenwellensteuerung oder eine erhöhte Abgabe von elektromagnetischer Störstrahlung bei Verwendung einer Phasenanschnittsteuerung.The disadvantage here - especially when setting a very low intensity of the radiation sources - is a possible insufficient setting accuracy when using a group wave control or an increased emission of electromagnetic interference radiation when using a phase control.
Es ist daher eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung der eingangs genannten Art zu beschreiben, bei der die beiden Strahlungsquellen auch mit geringerer Intensität betrieben werden können und ihre Intensität relativ zueinander eingestellt werden kann, ohne dass ein Übermaß an elektromagnetischer Störstrahlung entsteht.It is therefore an object of the present invention to describe a device of the type mentioned at the outset, in which the two radiation sources can also be operated with lower intensity and their intensity can be adjusted relative to one another without creating an excessive amount of electromagnetic interference radiation.
Diese Aufgabe wird durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen des unabhängigen Anspruchs gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben.This object is achieved by a device with the features of the independent claim. Advantageous refinements and developments are specified in the dependent claims.
Eine erfindungsgemäße Vorrichtung der eingangs genannten Art zeichnet sich dadurch aus, dass die Strahlungsquellen elektrisch in Reihe geschaltet sind, wobei mindestens einer der Strahlungsquellen eine veränderbare Impedanz parallel geschaltet ist.A device according to the invention of the type mentioned at the beginning is characterized in that the radiation sources are electrically connected in series, with at least one of the radiation sources having a variable impedance connected in parallel.
Durch die elektrische Reihenschaltung werden die Strahlungsquellen prinzipiell gegenüber einer Parallelschaltung bei gleicher Versorgungsspannung mit geringerer Intensität betrieben. Ein Vorschalten einer Leistungssteuerung ist jedoch bei in Serie geschalteten Strahlungsquellen nicht möglich, da ein vorgeschaltetes Leistungssteuerungsgerät sich gleichermaßen auf beide Strahlungsquellen auswirken würde. Durch die erfindungsgemäß einer Strahlungsquelle parallel geschalteten veränderbaren Impedanz kann jedoch eine Leistungsvariation der Strahlungsquellen untereinander erfolgen.Due to the electrical series connection, the radiation sources are in principle operated with a lower intensity compared to a parallel connection with the same supply voltage. Upstream connection of a power control is not possible in the case of radiation sources connected in series, since an upstream power control device would have the same effect on both radiation sources. However, due to the variable impedance connected in parallel with a radiation source according to the invention, the power of the radiation sources can be varied with one another.
In einer vorteilhaften Ausgestaltung der Vorrichtung umfasst die veränderbare Impedanz eine Reihenschaltung einer Impedanz und eines getaktet betreibbaren Schaltorgans. Die Impedanz wird durch das vorschaltbare getaktet betreibbare Schaltorgan effektiv in ihrem Impedanzwert variiert.In an advantageous embodiment of the device, the variable impedance comprises a series connection of an impedance and a switching element that can be operated in a clocked manner. The impedance value is effectively varied in its impedance value by the switching element which can be connected upstream and which can be operated in a clocked manner.
Werden die Strahlungsquellen an einer Wechselspannungsquelle betrieben, kann dazu bevorzugt eine Phasenanschnittsteuerung oder eine Gruppenwellensteuerung eingesetzt werden. Beim Betreiben der Strahlungsquellen mit einer Gleichspannungsquelle kann eine Pulsweiten-Modulationssteuerung (PWM) eingesetzt werden. Entsprechend wird als Schaltorgan bevorzugt ein Halbleiterschalter, insbesondere ein Triac, ein MOSFET (Metal Oxide Semiconductor Field Effekt Transistor), ein Bipolartransistor oder ein IGBT (Insulating Gate Bipolar Transistor) eingesetzt werden. Anders als beim Betreiben der Strahlungsquellen über zum Beispiel einer Phasenanschnittsteuerung führt das Betreiben der Impedanz über eine Phasenanschnittsteuerung nicht zu einer Abgabe übermäßiger Störstrahlung, da Zuleitungen zur Impedanz kurz und die Impedanz selbst geometrisch klein gehalten werden und damit gut abgeschirmt werden können, was bei den Strahlungsquellen selbst nicht so einfach möglich ist.If the radiation sources are operated on an alternating voltage source, phase control or group wave control can preferably be used for this purpose. When operating the radiation sources with a DC voltage source, a pulse width modulation control (PWM) can be used. Accordingly, a semiconductor switch, in particular a triac, a MOSFET (Metal Oxide) is preferred as the switching element Semiconductor Field Effect Transistor), a bipolar transistor or an IGBT (Insulating Gate Bipolar Transistor) can be used. In contrast to the operation of the radiation sources via, for example, a phase control, operating the impedance via a phase control does not lead to the emission of excessive interference radiation, since the supply lines to the impedance are kept short and the impedance itself is kept geometrically small and can thus be well shielded, which is the case with the radiation sources itself is not so easily possible.
Die veränderbare Impedanz kann als Impedanz einen ohmschen Widerstand, einen Kondensator oder eine Induktivität, sowie Verschaltungen von zwei oder mehreren dieser Elemente umfassen. Dabei kann jede Anordnung mit einer veränderbaren Impedanz, über die eine Leistungsaufnahme der parallel geschalteten Strahlungsquelle variiert werden kann, geeignet sein. Bei einem Betreiben der Strahlungsquellen mit einer Gleichspannungsquelle ist ein ohmscher Widerstand als Impedanz bevorzugt. Insbesondere bei einem Betreiben der Strahlungsquellen mit einer Wechselspannungsquelle kann auch ein Einsatz kapazitiver oder induktiver Elemente bei der Impedanz sinnvoll sein. Dieses gilt auch, wenn die Strahlungsquellen zwar mit Gleichspannung betrieben werden, die veränderbare Impedanz jedoch z.B. eine PWM-Steuerung umfasst.The changeable impedance can comprise an ohmic resistor, a capacitor or an inductance as impedance, as well as interconnections of two or more of these elements. Any arrangement with a variable impedance, via which the power consumption of the radiation source connected in parallel, can be varied, can be suitable. When the radiation sources are operated with a DC voltage source, an ohmic resistor is preferred as the impedance. In particular when the radiation sources are operated with an alternating voltage source, the use of capacitive or inductive elements for the impedance can also be useful. This also applies if the radiation sources are operated with direct voltage, but the variable impedance includes, for example, a PWM control.
In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Vorrichtung weist diese ein Relais auf, um die veränderbare Impedanz wahlweise parallel zu einer der beiden Strahlungsquellen zu schalten. Dabei kann in einer Ausgestaltung das Relais zwei Umschaltkontakte aufweisen, die jeweils mit ihrem Mittelanschluss mit je einem Anschluss der veränderbaren Impedanz verbunden sind, und die mit ihren Schaltanschlüssen jeweils mit einem der Endanschlüsse der Reihenschaltung der Strahlungsquellen und mit deren Mittelabgriff verbunden sind. Alternativ kann auch ein Relais mit einem Umschaltkontakt eingesetzt werden, wobei in dem Fall die veränderbare Impedanz mit einem Anschluss mit einem Mittelabgriff der Reihenschaltung der Strahlungsquellen verbunden ist und mit ihrem anderen Anschluss mit einem Mittelanschluss des Umschaltkontakts, wobei Schaltanschlüsse des Umschaltkontakts mit jeweils einem Endanschluss der Reihenschaltung der Strahlungsquellen verbunden sind.In a further advantageous embodiment of the device, it has a relay in order to selectively switch the variable impedance in parallel to one of the two radiation sources. In one embodiment, the relay can have two changeover contacts, each of which is connected with its center connection to one connection of the variable impedance each, and which are each connected with their switching connections to one of the end connections of the series connection of the radiation sources and to their center tap. Alternatively, a relay with a changeover contact can also be used, in which case the variable impedance is connected to one connection with a center tap of the series connection of the radiation sources and with its other connection to a center connection of the changeover contact, with the switching connections of the changeover contact each having an end connection of the Series connection of the radiation sources are connected.
Bei beiden genannten Ausgestaltungen kann durch das Relais die veränderbare Impedanz der einen oder andere Strahlungsquelle parallel geschaltet werden, wobei die Strahlungsquelle, zu der die Impedanz parallel geschaltet ist, in ihrer Intensität gegenüber der anderen Strahlungsquelle abgesenkt werden kann. Die veränderbare Impedanz wird somit bevorzugt der intensiveren der Strahlungsquellen parallel geschaltet, um diese auf die Intensität der weniger intensiven Strahlungsquelle absenken zu können.In both of the above-mentioned embodiments, the relay can switch the variable impedance of one or the other radiation source in parallel, the intensity of the radiation source to which the impedance is connected can be reduced compared to the other radiation source. The changeable impedance is thus preferably connected in parallel to the more intensive one of the radiation sources in order to be able to lower it to the intensity of the less intensive radiation source.
Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Vorrichtung sind weitere Relais vorgesehen, über die die Reihenschaltung der Strahlungsquellen aufgetrennt werden kann und die Strahlungsquellen parallel geschaltet werden können. Auf diese Weise kann die Vorrichtung auch wahlweise mit höheren Strahlungsintensitäten genutzt werden. Um auch in dem Fall einen Intensitätsausgleich zwischen den Strahlungsquellen vornehmen zu können, ist in Reihe zu zumindest einer der beiden Strahlungsquellen ein weiteres getaktet betreibbares Schaltorgan angeordnet, das wiederum Teil einer Phasenanschnittsteuerung, einer Gruppenwellensteuerung oder einer Pulsweiten-Modulationssteuerung (PWM) sein kann.According to a further advantageous embodiment of the device, further relays are provided via which the series connection of the radiation sources can be separated and the radiation sources can be connected in parallel. In this way, the device can also optionally be used with higher radiation intensities. In order to be able to compensate for the intensity between the radiation sources even in this case, a further switching element that can be operated in a clocked manner is arranged in series with at least one of the two radiation sources, which in turn can be part of a phase control, a group wave control or a pulse width modulation control (PWM).
In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Vorrichtung sind die Strahlungsquellen Heizstrahler. Die Vorrichtung kann dann beispielsweise Verwendung finden in Prozessen, in denen ein Substrat oder eine aufgelegte Funktionsschicht bevorzugt in einem Durchlaufverfahren getrocknet und/oder chemisch oder physikalisch verbunden werden. Ein möglicher Anwendungsfall ist die Trocknung einer Tintenschicht, insbesondere auf nicht-saugendem Untergrund. Ein solcher Anwendungsfall ist beispielsweise bei sogenannten Markierungsdruckern gegeben, das sind Drucker, die einen Tinten-Aufdruck auf Kunststoffmarkierer aufbringen, die zur Markierung von elektrischen Leitungen oder Geräten eingesetzt werden.In a further advantageous embodiment of the device, the radiation sources are radiant heaters. The device can then be used, for example, in processes in which a substrate or an applied functional layer is dried and / or chemically or physically connected, preferably in a continuous process. One possible application is the drying of a layer of ink, especially on a non-absorbent surface. Such an application is given, for example, in so-called marking printers, that is, printers that apply an ink print to plastic markers that are used to mark electrical lines or devices.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand von einem Ausführungsbeispiel mit Hilfe von Figuren näher erläutert. Die Figuren zeigen:
-
1 eine schematische Schnittansicht einer Vorrichtung zum Bestrahlen eines unterliegenden flächigen Substrats; und -
2 ein schematisches Schaltbild der in1 gezeigten Vorrichtung.
-
1 a schematic sectional view of a device for irradiating an underlying flat substrate; and -
2 a schematic circuit diagram of the in1 device shown.
Das Substrat
Bei den Strahlungsquellen
Die gezeigte Anordnung ist Teil eines kontinuierlichen Prozesses, bei dem das Substrat
Weiter kann die Homogenität auch durch eine Variation der elektrischen Leistung, die die Strahlungsquellen
Die Strahlungsquellen
Durch unterschiedliche Taktung des Schaltorgans
In einer Grundstellung der Vorrichtung sind die beiden Zweige, in denen die Strahlungsquellen
In jedem der Zweige mit den Strahlungsquellen
Um in dem Fall die Intensität der Strahlungsquellen
Zur Parallelschaltung des veränderbaren Widerstands
Wenn ein Ausgleich benötigt wird, bei dem umgekehrt die Strahlungsintensität der Strahlungsquelle
Die Vorrichtung weist ein weiteres Relais
In diesem Betriebsmodus werden höhere Intensitäten der Strahlungsquellen
BezugszeichenlisteList of reference symbols
- 1, 21, 2
- StrahlungsquelleRadiation source
- 3, 43, 4
- Reflektorreflector
- 5, 65, 6
- StrahlungsfeldRadiation field
- 77th
- SubstratSubstrate
- 88th
- Funktionsschicht Functional layer
- 1010
- veränderbarer Widerstandchangeable resistance
- 1111
- ohmscher Widerstandohmic resistance
- 1212th
- SchaltorganSwitching element
- 1313th
- Relaisrelay
- 14, 1514, 15
- weiteres Schaltorganfurther switching element
- 1616
- weiteres Relaisanother relay
Claims (12)
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