DE102017118104B3 - Safety-relevant ultrasonic sensor system for self-testing and monitoring of this ultrasonic sensor system by means of coefficient monitoring of a fundamental or harmonic wave - Google Patents
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Abstract
Es wird ein selbstestfähiges Sensorsystem (SS) vorgeschlagen, das vier Zustände, einen Betriebszustand und drei Testzustände aufweisen kann. Im dritten Testzustand stimuliert eine digitale Signalerzeugung (DSO) direkt den digitalen Eingangsschaltkreis (DSI) mit Prüfsignalen wodurch diese Signalkette geprüft werden kann. Im zweiten Testzustand stimuliert die digitale Signalerzeugung (DSO) die analoge Signalkette (DR, AS) und den digitalen Eingangsschaltkreis (DSI) mit Prüfsignalen wodurch dann diese Signalkette geprüft werden kann. Im dritten Testzustand stimuliert die digitale Signalerzeugung (DSO) die analoge Signalkette (DR, AS), die Sensorteilvorrichtung (TR) (typischerweise ein Ultraschalltransducer) und den digitalen Eingangsschaltkreis (DSI) mit Prüfsignalen wodurch dann diese Signalkette geprüft und auf Parametereinhaltungen überwacht werden kann. Im Betriebszustand stimuliert die digitale Signalerzeugung (DSO) die analoge Signalkette (DR, AS), die Sensorteilvorrichtung (TR) (typischerweise ein Ultraschalltransducer) und den digitalen Eingangsschaltkreis (DSI) mit Messsignalen wobei dann die Signalkette auf Parametereinhaltungen überwacht werden kann. Es erfolgt eine Koeffizientenüberwachung deiner Grund- oder Oberwelle eines Signals des Ultraschallsensorsystems (SS).A self-testable sensor system (SS) is proposed, which can have four states, one operating state and three test states. In the third test state, digital signal generation (DSO) directly stimulates the digital input circuit (DSI) with test signals, allowing this signal chain to be tested. In the second test state, digital signal generation (DSO) stimulates the analog signal chain (DR, AS) and the digital input circuit (DSI) with test signals, whereby the signal chain can then be tested. In the third test state, digital signal generation (DSO) stimulates the analog signal chain (DR, AS), the sensor subdevice (TR) (typically an ultrasound transducer) and the digital input circuit (DSI) with test signals whereby this signal chain can be checked and monitored for parameter compliance. In operation, digital signal generation (DSO) stimulates the analog signal chain (DR, AS), the sensor subdevice (TR) (typically an ultrasound transducer) and the digital input circuit (DSI) with measurement signals, where the signal chain can be monitored for parameter compliance. There is a coefficient monitoring of your fundamental or harmonic of a signal of the ultrasonic sensor system (SS).
Description
Oberbegriffpreamble
Es wird ein selbsttestfähiges Sensorsystem, insbesondere ein Ultraschallsensormesssystem für die Verwendung im Automobil, und ein Verfahren zu dessen Betrieb vorgeschlagen.A self-testable sensor system, in particular an ultrasonic sensor measuring system for use in the automobile, and a method for its operation are proposed.
Allgemeine EinleitungGeneral introduction
Im Zuge der Einführung der funktionalen Sicherheit gemäß ISO26262 im Automobilbereich müssen auch Ultraschallsensorsysteme solche funktionalen Sicherheitsanforderungen erfüllen. Diese Anforderungen sind besonders hoch, wenn es um solche autonomen Funktionen, wie beispielsweise das automatische Einparken geht. Um verdeckte Fehler besser erkennen zu können, ist eine Selbstdiagnosefähigkeit auch und besonders während des Betriebs notwendig. Ein Problem ist, dass die Messergebnisse solcher Ultraschallmesssysteme beispielsweise für das autonome Einparken von Kfz verwendet werden. Eine Erkennung verdeckter Fehler ist daher unverzichtbar. Diese Schrift beschäftigt sich mit den typischen Fehlern und den notwendigen Teilvorrichtungen und Verfahren zu deren Erkennung.With the introduction of functional safety in accordance with ISO 26262 in the automotive sector, ultrasonic sensor systems must also meet such functional safety requirements. These requirements are particularly high when it comes to such autonomous functions, such as automatic parking. In order to better detect hidden defects, a self-diagnostic capability is also and especially necessary during operation. One problem is that the measurement results of such ultrasonic measuring systems are used, for example, for the autonomous parking of motor vehicles. A detection of hidden errors is therefore indispensable. This document deals with the typical errors and the necessary sub-devices and methods for their detection.
Diese Aufgabe wird durch eine Vorrichtung nach Anspruch 1 gelöst.This object is achieved by a device according to
Stand der TechnikState of the art
Aus der Offenlegungsschrift DE 10 2008 042 820 A1 ist eine Sensorvorrichtung mit einem Ultraschallsensor und einer Funktionsüberwachungsvorrichtung zur Ermittlung der Impedanz mittels eines Spannungspegels, welcher durch Verstärker, Filter und Mikrocontroller am Schallwandler ermittelt wird, bekannt. Auch wird in der DE 10 2008 042 820 A1 eine Auswertung des Spannungssignals an einem Komparator, bei der ein Überwachungssignal bezüglich der Spannung bzw. Impedanz gebildet wird, offengelegt.From the published
Lösung der AufgabeSolution of the task
Während des initialen Selbsttests des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS) oder im Rahmen kundenspezifischer Diagnosemaßnahmen können verschiedene Tests des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS) zur Systemdiagnose durchgeführt werden:
- 1. Digitale Signalverarbeitungsüberprüfung; VORTEIL: Stimuli und Erwartungswerte der Systemantwort der digitalen Signalverarbeitung können exakt festgelegt werden.
- 2. Interne Signalpfad Überprüfung; (Anregen des Burstgenerators, Nutzen eines heruntergeteilten Treiberstroms, Einkopplung hinter der ersten Verstärkerstufe, Auswertung nach der Echoevaluierung). VORTEIL: Diese Methode ist schnell und umfassend.
- 3. Impedanz-Wert Überprüfungen der Impedanz der Senosorteilvorrichtung(TR), also des Ultraschalltranducers (TR);
(Durchführen eines Frequenzsweeps und Auswerten der Resonanzkurve)
VORTEIL: Die Methode prüft den kompletten Signalpfad inklusive der externen Elemente. Die Auswertung der Resonanzkurve der Sensorteilvorrichtung (TR), also des Ultraschalltransducers (TR), die die Systemantwort der Sensorteilvorrichtung (TR) auf den Stimulus in Form des Frequenzsweeps ist, kann in der nach
Methodik 1 bereits geprüften digitalen Signalverarbeitung erfolgen. Der Frequenzsweep selbst kann ebenfalls in der bereits nach derMethode 1 geprüften digitalen Signalverarbeitung erzeugt werden. - 4. Komparatoren an der Sensoransteuerung zur Überwachung der externen Komponenten und der Treibertransistoren ; VORTEIL: Kontinuierliche Prüfung der Sensoranregung auch während des Betriebs.
- 5. Symmetrieprüfung durch Symmetrieprüfungsvorrichtungen auch während des Betriebs; VORTEIL: Betriebsrelevante, symmetriebrechende Störungen der Symmetrie der Sensorteilvorrichtung (z.B. des Ultraschall / Übertrager Systems) können erkannt werden.
- 6. Oberwellenprüfung auch während des Betriebs; VORTEIL: Betriebsrelevante, nicht symmetriebrechende, aber das Schwingungsspektrum verändernde Störungen der Sensorteilvorrichtung (z.B. des Ultraschalltransducer / Übertrager Teilsystems) können erkannt werden.
- 1. Digital signal processing check; ADVANTAGE: Stimuli and expected values of the system response of digital signal processing can be specified exactly.
- 2. Internal signal path verification; (Excitation of the burst generator, use of a divided driver current, coupling behind the first amplifier stage, evaluation after the echo evaluation). ADVANTAGE: This method is fast and comprehensive.
- 3. Impedance value Checks of the impedance of the senosor device (TR), ie the ultrasonic transducer (TR); (Performing a sweep of frequency and evaluating the resonance curve) ADVANTAGE: The method checks the complete signal path including the external elements. The evaluation of the resonance curve of the sensor subdevice (TR), ie of the ultrasound transducer (TR), which is the system response of the sensor subdevice (TR) to the stimulus in the form of the frequency sweep, can be carried out in the digital signal processing already tested according to
methodology 1. The frequency sweep itself can also be generated in the already tested by themethod 1 digital signal processing. - 4. comparators on the sensor driver for monitoring the external components and the driver transistors; ADVANTAGE: Continuous testing of sensor excitation even during operation.
- 5. Symmetry testing by symmetry testing devices also during operation; ADVANTAGE: Operational, symmetry-breaking disturbances of the symmetry of the sensor subdevice (eg of the ultrasound / transducer system) can be detected.
- 6. Harmonic testing also during operation; ADVANTAGE: Operational, non-symmetrical, but the vibration spectrum changing disturbances of the sensor subdevice (eg the ultrasonic transducer / transmitter subsystem) can be detected.
Digitale SignalverarbeitungsüberprüfungDigital signal processing verification
Die digitale Signalverarbeitungsüberprüfung erfolgt durch das Einspeisen mindestens eines Testsignals, das einem kritischen möglichen Signal des Ultraschalltransducers entspricht. Dieses Einspeisen erfolgt im Signalpfad des Ultraschallsensorsystems in einem dritten Testzustand des Sensorsystems nach dem Analog-zu-Digital-Wandler (ADC) oder in einem zweiten Testzustand des Sensorsystems vor dem Analog-zu-Digital-Wandler (ADC). Es folgt dann eine Auswertung in der Form, wie sie im Normalbetrieb für ein reales Ultraschallechosignal erfolgen würde. Da das Testsignal bekannt ist und dessen zu erwartendes Ergebnis ebenfalls vorbekannt ist, kann der Signalpfad sehr schnell auf Durchgängigkeit und Funktionalität im Betrieb geprüft werden. Dies kann im Betrieb ohne Performance Einbuße beispielsweise zu nicht Betriebszeiten oder beim Start oder Neustart des Systems oder beim Ausschalten des Ultraschallsensorsystems erfolgen. Eine Einspeisung in den Signalpfad vor dem Analog-zu-Digitalwandler (ADC) erfolgt dabei analog über einen Analog-Multiplexer (AMX). Eine Einspeisung in den Signalpfad nach dem Analog-zu-Digitalwandler (ADC) erfolgt dabei digital beispielsweise über einen digitalen Multiplexer (DMX). Bei digitaler Einspeisung muss die Antwort des Systems am Ende des Signalpfades EXAKT den Vorgaben entsprechen, während bei einer Einspeisung als Analogsignal ein TOLERANZBEREICH vorgegeben werden muss oder die Analogsignale mit einem solchen Vorhalt erzeugt werden, dass eine Falschbewertung bei Berücksichtigung der Prozessschwankungen und der Betriebsparameterschwankungen ausgeschlossen ist. Der Vorteil dieses Verfahrens ist, dass es besonders schnell und exakt ist.The digital signal processing check is performed by feeding at least one test signal corresponding to a critical possible signal of the ultrasonic transducer. This feeding takes place in the signal path of the ultrasonic sensor system in a third test state of the sensor system according to the analog-to-digital converter (ADC) or in a second test state of the sensor system before the analog-to-digital converter (ADC). It then follows an evaluation in the form that would be done in normal operation for a real ultrasonic echo signal. Since the test signal is known and its expected result is also known, the signal path can be checked very quickly for continuity and functionality in operation. This can During operation without performance, losses occur, for example, during non-operating times or when the system is started or restarted or when the ultrasonic sensor system is switched off. An injection into the signal path before the analog-to-digital converter (ADC) takes place analogously via an analog multiplexer (AMX). A feed into the signal path after the analog-to-digital converter (ADC) takes place digitally, for example via a digital multiplexer (DMX). For digital injection, the response of the system at the end of the signal path must be EXACTLY as specified, whereas an analog signal must be given a TOLERANCE RANGE, or the analog signals are generated with such a bias that a misjudgment is excluded, taking into account process variations and operating parameter variations , The advantage of this method is that it is particularly fast and accurate.
Hierdurch kann im Normalbetrieb des Ultraschallsensorsystems eine recht hohe funktionale Testabdeckung aufrechterhalten werden. Diese Prinzipien lassen sich aber auf ähnliche Sensorsysteme verallgemeinern.As a result, a fairly high functional test coverage can be maintained during normal operation of the ultrasonic sensor system. However, these principles can be generalized to similar sensor systems.
PRINZIP:PRINCIPLE:
Das Prinzip des hier vorgeschlagenen Selbsttestverfahrens umfasst das Einspeisen eines Testsignals nach oder vor dem Analog-zu-Digital-Wandler (ADC) im analogen Eingangsschaltkreis (AS) und das Auswerten nach der Echo Auswertung im nachfolgenden digitalen Eingangsschaltkreis (DSI). Dabei ist es möglich, verschiedene Pfade im analogen Eingangsschaltkreis (AS) und im nachfolgenden digitalen Eingangsschaltkreis (DSI) zu durchlaufen, um die Prüfungen möglichst nah an die jeweilige Anwendung des Sensorsystems (SS) anzupassen.The principle of the self-test method proposed here comprises feeding a test signal after or before the analog-to-digital converter (ADC) in the analog input circuit (AS) and the evaluation after the echo evaluation in the subsequent digital input circuit (DSI). It is possible to go through different paths in the analog input circuit (AS) and in the subsequent digital input circuit (DSI) in order to adapt the tests as closely as possible to the respective application of the sensor system (SS).
Die Anregung mit einem definierten Eingangssignal durch einen digitalen Eingangsschaltkreis (DSO) unter Umgehung der nicht digitalen Signalpfadanteile führt zu einer festen, reproduzierbaren Echoinformation (z.B. hinsichtlich Zeitpunkt, Echohöhe, Korrelation mit einem erwarteten, exakt vorbekannten Signalverlauf etc.) am Ausgang der Signalkette im digitalen Eingangsschaltkreis (DSI).The excitation with a defined input signal through a digital input circuit (DSO) bypassing the non-digital signal path components leads to a fixed, reproducible echo information (eg with respect to timing, echo height, correlation with an expected, exactly known waveform, etc.) at the output of the signal chain in the digital Input circuit (DSI).
Diese Vorhersagbarkeit soll für einen Selbsttest mit einem Betriebszustand und drei Testzuständen des Sensorsystems genutzt werden.This predictability should be used for a self-test with one operating state and three test states of the sensor system.
Es wird daher ein selbsttestfähiges Sensorsystem (SS) vorgeschlagen, das eine digitale Signalerzeugung (DSO) zur Erzeugung der Stimuli, eine Treiberstufe (DR) zur Leistungsverstärkung und analogen Signalformung der digital vorliegenden Stimuli, eine Sensorteilvorrichtung (TR) bzw. einen Ultraschalltransducer (TR) zur Umsetzung der leistungsverstärkten Stimuli in Messsignale im Messmedium (z.B. Luft bei Ultraschall) und zum Empfang der Kanalantwort aus dem Messkanal (CH) in Form eines empfangenen Signals, einem analogen Eingangsschaltkreis (AS) zur Verstärkung, Vorverarbeitung und Digitalisierung des empfangenen Signals, einem digitalen Eingangsschaltkreis (DSI) zur Verarbeitung des digitalisierten empfangenen Signals. Diese Komponenten sind im Stand der Technik in typischen Ultraschallmesssystemen, beispielsweise für die Verwendung in automobilen Einparkhilfesystemen anzufinden.A self-testable sensor system (SS) is therefore proposed, which includes digital signal generation (DSO) for generating the stimuli, a driver stage (DR) for power amplification and analog signal shaping of the digitally present stimuli, a sensor subdevice (TR) or an ultrasound transducer (TR). for converting the power amplified stimuli into measurement signals in the measurement medium (eg air in the case of ultrasound) and for receiving the channel response from the measurement channel (CH) in the form of a received signal, an analog input circuit (AS) for amplifying, preprocessing and digitizing the received signal, a digital signal Input circuit (DSI) for processing the digitized received signal. These components are found in the prior art in typical ultrasonic measuring systems, for example for use in automotive parking assistance systems.
Um nun einen effizienten Selbsttest des Sensorsystems (SS) zu ermöglichen, wird vorgeschlagen, dass das selbsttestfähige Sensorsystem zusätzlich mit einer analogen Kanalsimulationseinheit (ACS) versehen wird. Diese analoge Kanalsimulationseinheit (ACS) soll in der Lage sein, die Kette aus Sensorteilvorrichtung (TR) (bzw. Ultraschalltransducer (TR)) und Messkanal (CN) zu emulieren. Um dies zu ermöglichen, muss der Signalpfad durch einen analogen Multiplexer (AMX) vor dem analogen Eingangsschaltkreis (AS) aufgetrennt werden und das Ausgangssignal der analogen Kanalsimulationseinheit (ACS) dort eingespeist werden und das Ausgangssignal der Sensorteilvorrichtung (TR) (bzw. des Ultraschalltransducers (TR)) abgekappt werden. Es ist natürlich auch denkbar, das Ausgangssignal der analogen Kanalsimulationseinheit (ACS) innerhalb des analogen Eingangsschaltkreises (AS) durch eine entsprechende Multiplexer-Struktur innerhalb des analogen Eingangsschaltkreises (AS) einzuspeisen oder Elemente der analogen Kanalsimulation innerhalb der Treiberstufe (DR), die hier auch als Digital-zu-Analog-Wandler fungiert, mit zu implementieren. Dies wird ausdrücklich mitbeansprucht. Beispielsweise ist es denkbar, dass die Treiberstufe (DR) in einer Testkonfiguration in ihrer Ausgangsamplitude reduziert wird und der analoge Eingangsschaltkreis (AS) direkt von dem Ausgang der Treiberstufe (TR) angesteuert wird. Die Kontrolle der Konfiguration der Treiberstufe (DR) erfolgt bevorzugt durch die Steuereinheit (CTR). Die Dämpfung dient dann dazu, betriebsnahe Pegel am Eingang des analogen Eingangsschaltkreises (AS) zu erzeugen. Somit können kritische, erlaubte und fehlerhafte Prüf- und Testfälle simuliert werden. Die Antwort des Sensorsystems (SS) muss sich dabei in einem vorbestimmbaren Wertebereich befinden. Es können Fehlerfälle und erlaubte Betriebszustände als Prüffälle emuliert werden. Somit kann die Signalkette unter Ausschluss des Messkanals (CN) und der diesem Messkanal (CN) vorausgehenden und nachfolgenden Sensorteilvorrichtung (TR) (z.B. eines Ultraschalltransducers) auf Einhaltung vorgegebener Spezifikationsbereiche für wichtige Betriebsparameter und Betriebsfälle überprüft werden.In order to enable an efficient self-test of the sensor system (SS), it is proposed that the self-testable sensor system is additionally provided with an analog channel simulation unit (ACS). This analog channel simulation unit (ACS) should be able to emulate the chain of sensor subdevice (TR) (or ultrasound transducer (TR)) and measurement channel (CN). To make this possible, the signal path must be separated by an analog multiplexer (AMX) in front of the analog input circuit (AS) and the output of the analog channel simulation unit (ACS) are fed there and the output signal of the sensor subdevice (TR) (or the ultrasonic transducer (or TR)) are capped. Of course, it is also conceivable to feed the output signal of the analog channel simulation unit (ACS) within the analog input circuit (AS) through a corresponding multiplexer structure within the analog input circuit (AS) or elements of the analog channel simulation within the driver stage (DR), which also here acts as a digital-to-analog converter to implement with. This is expressly claimed. For example, it is conceivable that the driver stage (DR) is reduced in its output amplitude in a test configuration and the analog input circuit (AS) is driven directly by the output of the driver stage (TR). The control of the configuration of the driver stage (DR) is preferably carried out by the control unit (CTR). The attenuation then serves to generate near-operational levels at the input of the analog input circuit (AS). Thus, critical, allowed and faulty test and test cases can be simulated. The response of the sensor system (SS) must be within a predeterminable range of values. Error cases and permitted operating states can be emulated as test cases. Thus, excluding the measurement channel (CN) and the sensor subdevice (TR) (e.g., an ultrasound transducer) preceding and following this measurement channel (CN), the signal chain can be checked for compliance with predetermined specification ranges for important operating parameters and operational cases.
In analoger Weise kann eine digitale Kanalsimulationseinheit (DCS) mit einem mit einem digitalen Multiplexer (DMX) vorgesehen werden. Die digitale Kanalsimulationseinheit (DCS) emuliert bevorzugt in exakt reproduzierbarer Weise ein vorbestimmtes Verhalten der Signalkette aus Treiberstufe (DR), Sensorteilvorrichtung (TR), Messkanal (CN), und analogem Eingangsschaltkreis (AS). Somit können kritische erlaubte und fehlerhafte Betriebsfälle als Prüf- und Testfälle simuliert werden. Somit kann die Signalkette unter Ausschluss des Messkanals (CN) und der dem Messkanal (CN) vorausgehenden und nachfolgenden Sensorteilvorrichtung (TR) (z.B. eines Ultraschalltransducers) sowie der analogen Schaltungsteile auf EXAKTE Einhaltung vorgegebener Spezifikationswerte für wichtige Betriebsparameter und Betriebsfälle überprüft werden. Analogously, a digital channel simulation unit (DCS) with one with a digital multiplexer (DMX) can be provided. The digital channel simulation unit (DCS) preferably emulates in a precisely reproducible manner a predetermined behavior of the signal sequence comprising driver stage (DR), sensor subdevice (TR), measuring channel (CN), and analog input circuit (AS). Thus, critical allowed and faulty operating cases can be simulated as test and test cases. Thus, excluding the measurement channel (CN) and the sensor subdevice (TR) (eg an ultrasound transducer) preceding and following the measurement channel (CN), the signal circuit can be checked for EXACT compliance with specified specification values for important operating parameters and operating cases.
Es können somit mehrere, bevorzugt vier Zustände des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS) unterschieden werden:Thus, several, preferably four states of the proposed sensor system (SS) can be distinguished:
Zum Ersten weist das vorgeschlagene Sensorsystem (SS) einen im Folgenden als „Betriebszustand“ bezeichneten Zustand auf, der dem messenden Normalbetrieb entspricht.First, the proposed sensor system (SS) has a state hereinafter referred to as "operating state", which corresponds to the measuring normal operation.
Zum Zweiten weist das Sensorsystem (SS) einen im Folgenden erster Testzustand genannten Zustand auf, in dem die Sensorteilvorrichtung (TR), beispielsweise ein Ultraschalltransducer, auf korrekte Funktion geprüft wird. Dies kann beispielsweise durch eine Impedanz-Messung des beispielhaften Ultraschalltransducers (TR) erfolgen.Secondly, the sensor system (SS) has a state, referred to below as the first test state, in which the sensor subdevice (TR), for example an ultrasound transducer, is checked for correct function. This can be done for example by an impedance measurement of the exemplary ultrasonic transducer (TR).
Zum Dritten weist das Sensorsystem (SS) einen im Folgenden zweiter Testzustand genannten Zustand auf, in dem die Sensorteilvorrichtung (TR) selbst nicht mehr Teil des Signalpfades ist. Vielmehr wird die Sensorteilvorrichtung (TR) und damit auch der Messkanal (CN) durch eine analoge Kanalsimulationseinheit (ACS) und einen analogen Multiplexer (AMX) überbrückt. Der Vorteil ist, dass somit das Verhalten des Signalpfades nicht mehr von den Bedingungen im Messkanal (CN) oder vom Zustand der Sensorteilvorrichtung (TR), also beispielsweise vom Zustand der Sensorteilvorrichtung (TR), z.B. eines Ultraschalltransducers (TR), abhängt und damit vorhersagbar ist. Entspricht die Antwort des Signalpfades in diesem zweiten Testzustand auf einen vorgegebenen Stimulus nicht einer erwarteten Antwort in gewissen Grenzen, so liegt ein Fehler vor. Hierbei muss die erwartete Antwort eine gewisse Toleranz ermöglichen, um Fertigungsschwankungen auszugleichen, die sich erfahrungsgemäß besonders in den analogen Schaltungsteilen und der Sensorteilvorrichtung (TR) auswirken.Thirdly, the sensor system (SS) has a state referred to below as the second test state, in which the sensor subdevice (TR) itself is no longer part of the signal path. Rather, the sensor subdevice (TR) and thus also the measurement channel (CN) is bridged by an analog channel simulation unit (ACS) and an analog multiplexer (AMX). The advantage is that thus the behavior of the signal path no longer depends on the conditions in the measurement channel (CN) or on the state of the sensor subdevice (TR), for example, on the state of the sensor subdevice (TR), e.g. an ultrasound transducer (TR), and thus is predictable. If the response of the signal path in this second test state to a given stimulus does not correspond to an expected response within certain limits, then there is an error. In this case, the expected response must allow a certain tolerance in order to compensate for production fluctuations, which experience has shown to have an effect, in particular, in the analog circuit parts and the sensor subdevice (TR).
Der Stimulus und die Simulation des Kanals können dabei so gewählt werden, dass sowohl Stimulus als auch Kanalantwort einem realen spezifikationsgemäß erlaubten Fall entsprechen. In dem Fall muss die Antwort des Systems also einer erwarteten Antwort im Rahmen gewisser vorausberechenbarer Grenzen entsprechen.The stimulus and the simulation of the channel can be chosen so that both stimulus and channel response correspond to a real allowable according to specification case. In that case, the response of the system must therefore correspond to an expected response within certain predictable limits.
Die Simulationen des Kanals können dabei auch so gewählt werden, dass die Kanalantwort zwar einem realen spezifikationsgemäß erlaubten Fall entspricht, der Stimulus selbst aber zu einem Fehlerereignis in der Empfangskette führen soll. Wird dieses Fehlerereignis nicht durch die Empfangskette bestehend aus digitalem Eingangsschaltkreis (DSI) und analogem Eingangsschaltkreis (AS) erkannt, so ist die Empfangskette fehlerhaft, was signalisiert werden kann. In dem Fall muss die Antwort des Sensorsystems (SS) einer erwarteten Antwort im Rahmen gewisser vorausberechenbarer Grenzen entsprechen. Ist dies nicht der Fall, liegt ein Fehler vor.The simulations of the channel can also be chosen so that the channel response corresponds to a real specification-permitted case, but the stimulus itself should lead to an error event in the reception chain. If this error event is not detected by the digital input circuit (DSI) and analog input circuit (AS) receive chain, the receive chain is faulty, which can be signaled. In that case, the response of the sensor system (SS) must correspond to an expected response within certain predictable limits. If this is not the case, there is an error.
Der Stimulus kann dabei auch so gewählt werden, dass der Stimulus einem realen spezifikationsgemäß erlaubten Fall entspricht. Die Simulation des Kanals kann dabei dann so gewählt werden, dass die Kanalantwort einem spezifikationsgemäß nicht erlaubten Fall entspricht. Auch in diesem Fall muss der Fehler durch die nachfolgende Empfangskette erkannt werden.The stimulus can also be chosen so that the stimulus corresponds to a real specification-permitted case. The simulation of the channel can then be selected such that the channel response corresponds to a specification that is not allowed. Also in this case, the error must be detected by the subsequent receive chain.
Natürlich ist es denkbar, sowohl den Stimulus als auch die Simulation des Kanals zu einem Fehlerfall führen. Auch dieses muss durch die nachfolgende Empfangskette erkannt werden.Of course, it is conceivable that both the stimulus and the simulation of the channel lead to an error. This must also be recognized by the subsequent chain of reception.
Zum Vierten kann das vorgeschlagene Sensorsystem (SS) einen im Folgenden dritter Testzustand genannten Zustand einnehmen, in dem die Sensorteilvorrichtung (TR), insbesondere in Form eines Ultraschalltransducers, und die analogen Signalpfadanteile nicht mehr Teil des verbliebenen Signalpfads sind. Der verbleibende Signalpfad ist dann rein digital. Antworten des verbliebenen Signalpfads in diesem dritten Testzustand auf vordefinierte Stimuli müssen daher im Gegensatz zum zweiten Testzustand des Sensorsystems (SS) EXAKT mit vorgebbaren Erwartungswerten übereinstimmen.Fourth, the proposed sensor system (SS) may assume a state referred to below as the third test state, in which the sensor subdevice (TR), in particular in the form of an ultrasound transducer, and the analog signal path portions are no longer part of the remaining signal path. The remaining signal path is then purely digital. Therefore, in contrast to the second test state of the sensor system (SS), responses of the remaining signal path in this third test state to predefined stimuli must EXACTLY coincide with predefinable expected values.
Der Stimulus und die Simulation des Kanals können dabei so gewählt werden, dass sowohl Stimulus als auch Kanalantwort einem realen spezifikationsgemäß erlaubten Fall nun exakt entsprechen. In dem Fall muss die Antwort des Systems mit einer zugeordneten erwarteten Antwort exakt übereinstimmen. Ist dies nicht der Fall, liegt ein Fehler vor.The stimulus and the simulation of the channel can be selected so that both the stimulus and the channel response now correspond exactly to a real case permitted by the specification. In that case, the system response must match exactly with an associated expected answer. If this is not the case, there is an error.
Die Simulation des Kanals kann dabei wieder auch so gewählt werden, dass die Kanalantwort zwar einem realen spezifikationsgemäß erlaubten Fall entspricht, der Stimulus selbst aber zu einem Fehlerereignis in der Empfangskette führen soll. Wird dieses Fehlerereignis nicht durch die digitale Empfangskette bestehend nur noch aus dem digitalem Eingangsschaltkreis (DSI) erkannt, so ist die digitale Empfangskette fehlerhaft, was signalisiert werden kann. In dem Fall muss die Antwort des Systems der erwarteten Antwort exakt entsprechen.The simulation of the channel can again be chosen such that the channel response corresponds to a real specification-permitted case, but the stimulus itself should lead to an error event in the reception chain. will this Error event not detected by the digital receive chain consisting only of the digital input circuit (DSI), the digital receive chain is faulty, which can be signaled. In that case, the answer of the system must exactly match the expected answer.
Der Stimulus kann dabei auch so gewählt werden, dass der Stimulus einem realen spezifikationsgemäß erlaubten Fall entspricht. Die Simulation des Kanals kann dabei dann so gewählt werden, dass die Kanalantwort einem spezifikationsgemäß nicht erlaubten Fall entspricht. Auch in diesem Fall muss der Fehler durch die nachfolgende digitale Empfangskette erkannt werden.The stimulus can also be chosen so that the stimulus corresponds to a real specification-permitted case. The simulation of the channel can then be selected such that the channel response corresponds to a specification that is not allowed. Also in this case, the error must be detected by the subsequent digital receive chain.
Natürlich ist es denkbar, sowohl den Stimulus als auch die Simulation des Kanals zu einem Fehlerfall führen. Auch dieses muss durch die nachfolgende digitale Empfangskette im dritten Testzustand erkannt werden.Of course, it is conceivable that both the stimulus and the simulation of the channel lead to an error. Again, this must be detected by the subsequent digital receive chain in the third test state.
Im Folgenden wird zunächst auf die vier Zustände genauer eingegangen. Weitere Zustände können vorgesehen werden.In the following, the four states will be discussed in more detail. Other states can be provided.
Betriebszustandoperating condition
Im Betriebszustand erzeugt die digitalen Signalerzeugung (DSO) ein erstes digitales Signal (S1), das die besagten Stimuli umfasst. Die Treiberstufe (DR) setzt dieses erste digitale Signal (S1) der digitalen Signalerzeugung (DSO) in ein zweites analoges Signal (S2) um, führt dabei typischerweise die besagte Digital-zu-Analog-Wandlung und eine Leistungsverstärkung durch. Die Treiberstufe (DR) steuert mit diesem zweiten analogen Signal (S2) die Sensorteilvorrichtung (TR), also beispielsweise einen Ultraschalltransducer (TR), an und veranlasst diese somit mittels des zweiten analogen Signals (S2) zum Aussenden eines Messsignals (MS) in einen Messkanal (CN) in einen Außenbereich (ASS) außerhalb des Sensorsystems (SS) hinein. Beispielsweise kann durch die Treiberstufe (DR) ein Ultraschalltransducer (TR) zur Aussenden eines Ultraschallmesssignals (MS) in eine Luftstrecke als Messkanal (CN) veranlasst werden. Die Sensorteilvorrichtung (TR), also beispielsweise der besagte Ultraschalltransducer (TR), empfängt dann zu bestimmten Zeiten, die im Falle eines Ultraschalltransducers (TR) bevorzugt mit den Zeiten der Aussendung des Ultraschallmesssignals, den Sendephasen (SP), übereinstimmen, aus dem Messkanal (CN) ein Empfangssignal (ES) in Abhängigkeit von dem Messsignal (MS). Im Falle eines Ultraschalltransducers (TR) handelt es sich bevorzugt um Echos des zuvor ausgestrahlten Ultraschallmesssignals (MS), die den Ultraschalltransducer (TR) aus dem Messkanal (CN) erreichen. Die Sensorteilvorrichtung (TR) erzeugt in Abhängigkeit von dem empfangenen Empfangssignal (ES) ein drittes analoges Signal (S3), das von dem aus dem Messkanal (CN) empfangenen Empfangssignal (ES) abhängt. Beispielsweise erzeugt der beispielhafte Ultraschalltransducer (TR) das dritte analoge Signal (S3) in Abhängigkeit von dem Ultraschallempfangssignal (ES), dass er aus dem Ultraschallmesskanal (CN) als Echo des zuvor von ihm abgestrahlten Ultraschallmesssignals (MS) empfängt.In operation, digital signal generation (DSO) generates a first digital signal (S1) comprising said stimuli. The driver stage (DR) converts this first digital signal (S1) of digital signal generation (DSO) into a second analog signal (S2), typically performing said digital-to-analog conversion and power amplification. The driver stage (DR) controls with this second analog signal (S2) the sensor subdevice (TR), for example an ultrasound transducer (TR), and thus causes it by means of the second analog signal (S2) to emit a measurement signal (MS) into one Measuring channel (CN) in an outdoor area (ASS) outside the sensor system (SS) into it. For example, by the driver stage (DR) an ultrasonic transducer (TR) for emitting an ultrasonic measurement signal (MS) in an air gap as a measuring channel (CN) can be caused. The sensor subdevice (TR), for example the said ultrasound transducer (TR), then receives from the measuring channel at certain times, which in the case of an ultrasound transducer (TR) preferably coincide with the times of emission of the ultrasound measurement signal, the transmission phases (SP). CN) a received signal (ES) as a function of the measuring signal (MS). In the case of an ultrasonic transducer (TR), these are preferably echoes of the previously emitted ultrasonic measurement signal (MS) which reach the ultrasound transducer (TR) from the measurement channel (CN). Depending on the received received signal (ES), the sensor subdevice (TR) generates a third analog signal (S3), which depends on the received signal (ES) received from the measuring channel (CN). For example, the exemplary ultrasound transducer (TR) generates the third analog signal (S3) in response to the ultrasound receive signal (ES) to echo from the ultrasound measurement channel (CN) the ultrasound measurement signal (MS) previously emitted by it.
Der analoge Multiplexer (AMX) leitet dieses dritte analoge Signal (S3) als viertes analoges Signal (S4) weiter an den analogen Eingangsschaltkreis (AS).The analog multiplexer (AMX) passes this third analog signal (S3) as the fourth analog signal (S4) on to the analog input circuit (AS).
Der analoge Eingangsschaltkreis (AS) wandelt das vierte analoge Signal (S4) in ein fünftes digitales Signal (S5) um. Er arbeitet also zum einen als Analog-zu-Digital-Wandler (ADC). Zum anderen kann der analoge Eingangsschaltkreis aber beispielsweise auch Filter und Verstärker und andere analoge Schaltkreise umfassen, die das empfangene Signal vorverarbeiten und aufbereiten. Der digitale Multiplexer (DMX) leitet im Betriebszustand das fünfte digitale Signal (S5) als sechstes digitales Signal (S6) weiter.The analog input circuit (AS) converts the fourth analog signal (S4) into a fifth digital signal (S5). So he works on the one hand as an analog-to-digital converter (ADC). On the other hand, however, the analog input circuit may also include, for example, filters and amplifiers and other analog circuits that preprocess and process the received signal. In the operating state, the digital multiplexer (DMX) forwards the fifth digital signal (S5) as the sixth digital signal (S6).
Der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) empfängt das sechste digitale Signal (S6) und erzeugt ein siebtes Antwortsignal (S7). Beispielsweise kann der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) digitale Filter und Signalprozessorsysteme aufweisen. Besonders bevorzugt ist die Verwendung von matched Filtern, deren Filterfunktion erwarteten Signalformen aus der vorausgehenden Signalkette entspricht. Es ist beispielsweise denkbar, dass weitere erlaubte Betriebskonfigurationen zulässig sind, die sich nur durch den Signalpfad in dem digitalen Eingangsschaltkreis (DSI) und/oder durch den Signalpfad in dem analogen Eingangsschaltkreis (AS) und die zugehörige Stimulierzeugung in der digitalen Signalerzeugung (DSO) bzw. in der Konfiguration der Treiberstufe (DR) unterscheiden. Diese Konfigurationen werden bevorzugt durch die Systemsteuerung (CTR) eingestellt und kontrolliert, deren Steuerleitungen in den beigefügten Figuren zur Vereinfachung nicht eingezeichnet sind. Zur Vereinfachung wird hier eine einzige Konfiguration des Sensorsystems (SS) angenommen, was aber in dieser Hinsicht nicht einschränkend wirken soll. Da der Betriebszustand der Normalzustand ist, wird das Ausgangssignal des digitalen Eingangsschaltkreises, das siebte Antwortsignal (S7), als Signal für das Messergebnis aufgefasst und als solches weiterverarbeitet und/oder an andere Systemkomponenten z.B. eine Systemsteuerung (CTR) signalisiert. In den nachfolgenden Testzuständen wird hingegen das siebte Antwortsignal (S7) als Prüfergebnis des Sensorsystems (SS) interpretiert und verwendet. Dies geschieht im Betriebszustand nicht, wenn die Werte plausibel sind. Es ist denkbar, vor der Verwendung des siebten Antwortsignals (S7) als Messergebnis oder vor der Verwendung der Werte des siebten Antwortsignals (S7) als Messergebnis bzw. als Messergebnisse dieser Signale bzw. die durch sie repräsentierten Werte auf Plausibilität auch im Betriebszustand zu prüfen und so Fehler im laufenden Betrieb zu erkennen.The digital input circuit (DSI) receives the sixth digital signal (S6) and generates a seventh response signal (S7). For example, the Digital Input Circuit (DSI) may include digital filters and signal processor systems. Particularly preferred is the use of matched filters whose filter function corresponds to expected signal forms from the preceding signal chain. It is conceivable, for example, that further permitted operating configurations are permissible, which are limited only by the signal path in the digital input circuit (DSI) and / or by the signal path in the analog input circuit (AS) and the associated stimulation generation in the digital signal generation (DSO) and / or in the configuration of the driver stage (DR). These configurations are preferably set and controlled by the system controller (CTR) whose control lines are not shown in the attached figures for simplicity. For simplicity, a single configuration of the sensor system (SS) is assumed here, but this is not intended to be limiting in this regard. Since the operating state is the normal state, the output signal of the digital input circuit, the seventh response signal (S7) is taken as a signal for the measurement result and further processed as such and / or signaled to other system components such as a system control (CTR). In the subsequent test states, on the other hand, the seventh response signal (S7) is interpreted and used as the test result of the sensor system (SS). This does not happen in the operating state if the values are plausible. It is conceivable before using the seventh response signal (S7) as a measurement result or before the use of the values of the seventh response signal (S7) as a measurement result or as measurement results of these signals or the values represented by them for plausibility even in the operating state to check and so recognize errors during operation.
Erster TestzustandFirst test condition
Im ersten Testzustand erzeugt die digitale Signalerzeugung (DSO) ein erstes digitales Signal (S1). Dieses umfasst vorbestimmte Stimuli, die zu vorhersagbaren Reaktionen der Signalkette führen sollen, die dann geprüft werden können. Diese Stimuli können normale Betriebsfälle, Fehlerfälle und Stimuli für Messungen umfassen. Beispielsweise ist es denkbar, im Falle des bereits mehrfach erwähnten Ultraschalltransducers als Sensorteilvorrichtung (TR) den Ultraschalltransducer (TR) zu einer Schwingung bei einer ersten Schwingfrequenz anzuregen und dann die Schwingfrequenz in vorgebbarer Weise bis zu einer zweiten Schwingfrequenz vorzugsweise monoton steigend oder monoton fallend zu ändern. Ein solches Verfahren der Schwingfrequenzänderung wird in dieser Offenlegung als Sweep bezeichnet.In the first test state, digital signal generation (DSO) generates a first digital signal (S1). This includes predetermined stimuli that should lead to predictable signal chain responses that can then be tested. These stimuli may include normal cases of operation, errors and stimuli for measurements. For example, in the case of the ultrasonic transducer as already mentioned several times as a sensor subdevice (TR), it is conceivable to excite the ultrasound transducer (TR) to oscillate at a first oscillation frequency and then change the oscillation frequency in a predeterminable manner to a second oscillation frequency, preferably monotonically increasing or monotonically decreasing , Such a method of oscillation frequency change is referred to as sweep in this disclosure.
Wie im Betriebszustand setzt die Treiberstufe (DR) dieses erste digitale Signal (S1) der digitalen Signalerzeugung (DSO) in ein zweites analoges Signal (S2) um, das die Sensorteilvorrichtung (TR) ansteuert. Dieses zweite analoge Signal (S2) veranlasst dann die Sensorteilvorrichtung (TR), also beispielsweise den besagten Ultraschalltransducer (TR), zum Aussenden eines Messsignals (MS), also beispielsweise eines Ultraschallmesssignals, in einen Messkanal (CN), also beispielsweise einen Ultraschallmesskanal, in einem Außenbereich (ASS) außerhalb des Sensorsystems (SS). Wie zuvor im Betriebszustand empfängt die Sensorteilvorrichtung (TR), also beispielsweise der Ultraschalltransducer (TR), aus dem Messkanal (CN) ein Empfangssignal (ES) in Abhängigkeit von dem zuvor ausgesandten Messsignal (MS). Es kann sich bei dem empfangenen Empfangssignal (ES) z.B. um ein Ultraschallecho (ES) handeln. Die Sensorteilvorrichtung (TR), z.B. der Ultraschalltransducer (TR), erzeugt wie zuvor in Abhängigkeit von dem empfangenen Empfangssignal (ES) ein drittes analoges Signal (S3). Der analoge Multiplexer (AMX) leitet in diesem ersten Testzustand, wie zuvor in dem Betriebszustand, dieses dritte analoge Signal (S3) als viertes analoges Signal (S4) weiter. Der analoge Eingangsschaltkreis (AS) wandelt das vierte analoge Signal (S4) in ein fünftes digitales Signal (S5) um. Hierbei kann es sich aber nun im Gegensatz zum Betriebszustand auch um Messwerte handeln. Beispielsweise ist es denkbar, die Impedanz eines Ultraschalltransducers (TR), der als Sensorteilvorrichtung (TR) dient, zu ermitteln. Diese Impedanz-Ermittlung geschieht bevorzugt in dem analogen Eingangsschaltkreis (AS) und ggf. im Zusammenwirken mit dem nachfolgenden digitalen Eingangsschaltkreis (DSI). Hier können spezielle Schaltungsteile des analogen Eingangsschaltkreises (AS) und des digitalen Eingangsschaltkreises (DSI) benutzt werden, die nur im ersten Testzustand zur Anwendung kommen. Damit dies geschehen kann, leitet der der digitale Multiplexer (DMX) das fünfte digitale Signal (S5) als sechstes digitales Signal (S6) weiter. Der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) empfängt das sechste digitale Signal (S6) und erzeugt ein siebtes Antwortsignal (S7). Nun wird jedoch das siebte Antwortsignal (S7) als Prüfergebnis des Sensorsystems und nicht als Messergebnis verwendet. Die Prüfung auf angeregte Oberwellen und auf Symmetrie der Ansteuerung und Systemantwort kann ebenfalls in diesem ersten Testzustand erfolgen und wird später näher erläutert.As in the operating state, the driver stage (DR) converts this first digital signal (S1) of the digital signal generation (DSO) into a second analog signal (S2) which drives the sensor subdevice (TR). This second analog signal (S2) then causes the sensor subdevice (TR), for example the said ultrasonic transducer (TR), to emit a measurement signal (MS), for example an ultrasound measurement signal, into a measurement channel (CN), for example an ultrasound measurement channel an outdoor area (ASS) outside the sensor system (SS). As before in the operating state, the sensor subdevice (TR), for example the ultrasound transducer (TR), receives from the measuring channel (CN) a received signal (ES) as a function of the previously transmitted measuring signal (MS). For example, the received received signal (ES) may be an ultrasonic echo (ES). The sensor subdevice (TR), for example the ultrasound transducer (TR), generates a third analog signal (S3) as before as a function of the received received signal (ES). The analog multiplexer (AMX) in this first test state, as previously in the operating state, forwards this third analog signal (S3) as the fourth analog signal (S4). The analog input circuit (AS) converts the fourth analog signal (S4) into a fifth digital signal (S5). However, in contrast to the operating state, this can also be measured values. For example, it is conceivable to determine the impedance of an ultrasound transducer (TR), which serves as a sensor subdevice (TR). This impedance determination is preferably done in the analog input circuit (AS) and possibly in conjunction with the subsequent digital input circuit (DSI). Here, special circuit parts of the analog input circuit (AS) and the digital input circuit (DSI) can be used, which are used only in the first test state. For this to happen, the digital multiplexer (DMX) forwards the fifth digital signal (S5) as the sixth digital signal (S6). The digital input circuit (DSI) receives the sixth digital signal (S6) and generates a seventh response signal (S7). Now, however, the seventh response signal (S7) is used as a test result of the sensor system and not as a measurement result. The check for excited harmonics and symmetry of the control and system response can also be done in this first test state and will be explained later.
Zweiter TestzustandSecond test state
Im zweiten Testzustand erzeugt die digitalen Signalerzeugung (DSO) wieder ein erstes digitales Signal (S1) als Stimulus der nachfolgenden Signalkette. Die Treiberstufe (DR) setzt wieder dieses erste digitale Signal (S1) der digitalen Signalerzeugung (DSO) in ein zweites analoges Signal (S2) wie zuvor beschrieben um. Die analoge Kanalsimulationseinheit (ACS) modifiziert nun dieses zweite analoge Signal (S2) in ein drittes analoges Testsignal (S3t). Dabei werden bevorzugt vorgegebene Zustände des Messkanals (CN) und der Sensorteilvorrichtung (TR) simuliert. Der analoge Multiplexer (AMX) leitet dieses dritte analoge Testsignal (S3t) als viertes analoges Signal (S4) an Stelle des dritten analogen Signals (S3) weiter. Die Sensorteilvorrichtung (TR), also beispielsweise der Ultraschalltransducer (TR), und der Messkanal (CN) werden somit definiert und in vorbestimmter Weise überbrückt. Da dies im Analogteil des Sensorsystems (SS) geschieht, erfolgt diese Überbrückung nicht in einer exakt vorherbestimmbaren Weise, da Fertigungsschwankungen und sonstige nicht vollständig beeinflussbare Betriebsparameter, wie z.B. die Schaltkreistemperatur, zu Verhaltensschwankungen der Signalkette innerhalb des Sensorsystems (SS) trotz dieser analogen Überbrückung durch die analoge Kanalsimulationseinheit (ACS) und den analogen Multiplexer (AMX) führen. Der analoge Multiplexer (AMX) kann auch so ausgeführt sein, dass der analoge Eingangsschaltkreis (AS) über zwei Eingänge verfügt, zwischen denen umgeschaltet wird. In dem Fall ist der analogen Multiplexer (AMX) in den analogen Eingangsschaltkreis (AS) dann integriert. Die Ansprüche sollen auch diesen Fall umfassen. Das Verhalten der Signalkette auf vorgegebene Stimuli, die durch die digitale Signalerzeugung (DSO) erzeugt werden, lässt sich aber bereits in vorgebbaren Grenzen überprüfen. Wie im Betriebszustand wandelt wieder der der analoge Eingangsschaltkreis (AS) das vierte analoge Signal (S4) in ein fünftes digitales Signal (S5). Der digitale Multiplexer (DMX) leitet das fünfte digitale Signal (S5) als sechstes digitales Signal (S6) an den digitalen Eingangsschaltkreis (DSI) weiter. Der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) empfängt das sechste digitale Signal (S6) und erzeugt ein siebtes Antwortsignal (S7). Der digitale Multiplexer (DMX) kann auch in der Form realisiert sein, dass der digitalen Eingangsschaltkreis (DSI) über zwei Eingänge verfügt, zwischen denen umgeschaltet wird. Der digitale Multiplexer (DMX) ist dann Teil des digitalen Eingangsschaltkreises (DSI). Der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) empfängt das sechste digitale Signal (S6) und erzeugt ein siebtes Antwortsignal (S7). Nun wird wieder wie im ersten Testzustand das siebte Antwortsignal (S7) als Prüfergebnis des Sensorsystems und nicht als Messergebnis verwendet.In the second test state, digital signal generation (DSO) again generates a first digital signal (S1) as a stimulus of the subsequent signal chain. The driver stage (DR) again converts this first digital signal (S1) of the digital signal generation (DSO) into a second analog signal (S2) as described above. The analog channel simulation unit (ACS) now modifies this second analog signal (S2) into a third analog test signal (S3t). In this case, preferably predefined states of the measuring channel (CN) and the sensor sub-device (TR) are simulated. The analog multiplexer (AMX) forwards this third analog test signal (S3t) as the fourth analog signal (S4) in place of the third analog signal (S3). The sensor sub-device (TR), that is, for example, the ultrasound transducer (TR), and the measuring channel (CN) are thus defined and bridged in a predetermined manner. Since this happens in the analog part of the sensor system (SS), this bridging does not take place in an exactly predictable manner, since manufacturing fluctuations and other operating parameters which can not be completely influenced, such as, for example, the circuit temperature, lead to behavioral fluctuations of the signal chain within the sensor system (SS) in spite of this analog bypass by the analog channel simulation unit (ACS) and the analog multiplexer (AMX). The Analog Multiplexer (AMX) can also be designed so that the Analog Input Circuit (AS) has two inputs to switch between. In that case, the analog multiplexer (AMX) is then integrated into the analog input circuit (AS). The claims should also cover this case. However, the behavior of the signal chain to predetermined stimuli, which are generated by digital signal generation (DSO), can already be checked within predefinable limits. As in the operating state, the analog input circuit (AS) converts the fourth analog signal (S4) into a fifth digital signal (S5) again. The digital multiplexer (DMX) forwards the fifth digital signal (S5) as the sixth digital signal (S6) to the digital input circuit (DSI). The digital input circuit (DSI) receives the sixth digital signal (S6) and generates a seventh response signal (S7). The digital multiplexer (DMX) may also be implemented in such a way that the digital input circuit (DSI) has two inputs to switch between. The digital multiplexer (DMX) is then part of the digital input circuit (DSI). The digital input circuit (DSI) receives the sixth digital signal (S6) and generates a seventh response signal (S7). Now again, as in the first test state, the seventh response signal (S7) is used as the test result of the sensor system and not as the measurement result.
Dritter TestzustandThird test condition
Im dritten Testzustand erzeugt wieder die digitale Signalerzeugung (DSO) ein erstes digitales Signal (S1) als vordefinierten Stimulus zur Überprüfung der nachfolgenden Signalkette. Nun jedoch werden sowohl die Analogteile der Signalkette als auch die Sensorteilvorrichtung (TR) und der Messkanal überbrückt. Diese Überbrückung geschieht digital. Daher sind Stimuli und die Antworten der Signalkette auf diese Stimuli exakt und vorhersagbar. Die digitale Kanalsimulationseinheit (DCS) emuliert die überbrückten Teile des Signalpfades durch bevorzugt mehrere Emulationszustände innerhalb dieses dritten Testzustands. Hierfür verfügt die digitale Kanalkanalsimulationseinheit (DCS) bevorzugt über mehrere Konfigurationen, die durch die Steuereinheit (CTR) eingestellt und konfiguriert werden. Die digitale Kanalsimulationseinheit (DCS) wandelt das erste digitale Signal (S1) in ein fünftes digitales Testsignal (S5t). Der digitale Multiplexer (DMX) leitet das fünfte digitale Testsignal (S5t) an Stelle des fünften digitalen Signals (S5) in diesem dritten Testzustand des Sensorsystems (SS) als sechstes digitales Signal (S6) weiter. Der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) empfängt das sechste digitale Signal (S6) und erzeugt ein dem Stimulus entsprechendes siebtes Antwortsignal (S7). Nun wird wieder wie im ersten und zweiten Testzustand das siebte Antwortsignal (S7) als Prüfergebnis des Sensorsystems und nicht als Messergebnis verwendet. Im Unterschied zum ersten und zweiten Testzustand muss nun jedoch das siebte Antwortsignal (S7) vorbestimmbaren Antworten exakt genügen, da alle Schaltungsteile im aktiven Signalpfad in diesem dritten Testzustand des Sensorsystems (SS) digital sind und alle anderen Teile überbrückt sind.In the third test state, digital signal generation (DSO) again generates a first digital signal (S1) as a predefined stimulus for checking the subsequent signal sequence. Now, however, both the analog parts of the signal chain and the sensor sub-device (TR) and the measuring channel are bridged. This bridging happens digitally. Therefore, stimuli and the responses of the signal chain to these stimuli are accurate and predictable. The digital channel simulation unit (DCS) emulates the bridged portions of the signal path through preferably multiple emulation states within this third test state. For this purpose, the digital channel channel simulation unit (DCS) preferably has a plurality of configurations which are set and configured by the control unit (CTR). The digital channel simulation unit (DCS) converts the first digital signal (S1) into a fifth digital test signal (S5t). The digital multiplexer (DMX) passes the fifth digital test signal (S5t) instead of the fifth digital signal (S5) in this third test state of the sensor system (SS) as the sixth digital signal (S6). The digital input circuit (DSI) receives the sixth digital signal (S6) and generates a seventh response signal (S7) corresponding to the stimulus. Now again, as in the first and second test states, the seventh response signal (S7) is used as the test result of the sensor system and not as the measurement result. In contrast to the first and second test state, however, now the seventh response signal (S7) must exactly meet predeterminable responses, since all circuit parts in the active signal path in this third test state of the sensor system (SS) are digital and all other parts are bridged.
Variante 1
In einer weiteren Ausprägung des Vorschlags, die bevorzugt ein Ultraschallmesssystem betrifft, ist zwischen der Sensorteilvorrichtung (TR), also dem Ultraschalltransducer (TR), und der Treiberstufe (DR) ein Übertrager (UEB) eingefügt. In dem Beispiel der
Variante 2Variant 2
Die Variante 2 betrifft ein vorgeschlagenes Sensorsystem (SS) entsprechend Variante 1, wobei im Betriebszustand mindestens eine Vergleichsvorrichtung, insbesondere ein Komparator (C2, C3), einen Parameterwert des dritten analogen Signals (S3a, S3b) mit zumindest einem Referenzwert (Ref2, Ref3) vergleicht und in Abhängigkeit vom Vergleichsergebnis zumindest ein Vergleichsergebnissignal (v2, v3) erzeugt. Bei diesem Parameterwert kann es sich beispielsweise um einen Spannungs- oder Strompegel handeln.Variant 2 relates to a proposed sensor system (SS) according to
Variante 3Variant 3
Die Variante 3 betrifft ein vorgeschlagenes Sensorsystem (SS) entsprechend Variante 1, wobei im Betriebszustand mindestens eine Vergleichsvorrichtung, insbesondere ein Differenzverstärker (D1), zwei Parameterwerte des dritten analogen Signals (S3a, S3b) miteinander, insbesondere durch Differenzbildung, vergleicht und ein Unterschiedssignal (d1) erzeugt und durch Vergleich des Unterschiedssignals (d1) mit zumindest einem Referenzwert (Ref1) ein Vergleichsergebnissignal (v1), insbesondere mittels eines von der Vergleichsvorrichtung separaten Komparators (C1), erzeugt. Bei diesen Parameterwerten kann es sich beispielsweise um Spannungs- oder Strompegel handeln.Variant 3 relates to a proposed sensor system (SS) according to
Variante 4
Die Variante 4 betrifft ein vorgeschlagenes Sensorsystem (SS) entsprechend Variante 1, wobei im Betriebszustand mindestens eine Vergleichsvorrichtung, insbesondere ein Komparator (C4, C5, C6), einen Parameterwert des zweiten analogen Signals (S2a, S2b, S2c) mit einem Referenzwert (Ref4, Ref5, Ref6) vergleicht und in Abhängigkeit vom Vergleichsergebnis ein Vergleichsergebnissignal (v4, v5, v6) erzeugt. Bei diesem Parameterwert kann es sich beispielsweise um einen Spannungs- oder Strompegel handeln.
Variante 5
Die Variante 5 betrifft ein vorgeschlagenes Sensorsystem (SS) entsprechend Variante 1, wobei im Betriebszustand mindestens eine Vergleichsvorrichtung, insbesondere ein Differenzverstärker (D7, D6, D8), zwei Parameterwerte des zweiten analogen Signals (S2a, S2b, S2c) miteinander, insbesondere durch Differenzbildung, vergleicht und ein Unterschiedssignal (d6, d7, d8) erzeugt und durch Vergleich des Unterschiedssignals (d6, d7, d8) mit einem Referenzwert (Ref6, Ref7, Ref8) ein Vergleichsergebnissignal (v10, v11, v12), insbesondere mittels eines von der Vergleichsvorrichtung separaten Komparators (C10, C11, C12), erzeugt.
Variante 6
Die Variante 6 betrifft ein vorgeschlagenes Sensorsystem entsprechend den Varianten 2, 3, 4, oder 5 oder den nachfolgenden Varianten, die ebenfalls Vergleichsergebnissignale oder Vergleichsergebnisse aus einem Soll- Ist-Vergleich erzeugen, wobei das Sensorsystem (SS) dazu ausgelegt ist, im Betriebszustand eine Fehlermeldung in Abhängigkeit von mindestens einem Vergleichsergebnissignal (v1, v2, v3, v4, v5, v6, v10, v11, v12, v13, v14, v15, v16, v17, v18, v19) zu erzeugen oder nicht zu erzeugen.The
Variante 7
Die Variante 7 betrifft ein vorgeschlagenes Sensorsystem (SS) entsprechend Variante 6, wobei es eine Steuereinrichtung (CTR) aufweist, die das Vergleichsergebnissignal (v1, v2, v3, v4, v5, v6, v10, v11, v12, v13, v14, v15, v16, v17, v18, v19) auswertet und die Fehlermeldung erzeugt.
Variante 8Variant 8
In der Variante 8 handelt es sich bei der Sensorteilvorrichtung (TR) um einen Ultraschalltransducer (TR) handelt, der als Messsignal (MS) ein Ultraschallmesssignal in einen Ultraschallmesskanal als Messkanal (CN) aussendet und als Empfangssignal (ES) das an einem Objekt in dem Ultraschallmesskanal (CN) reflektierte Ultraschallempfangssignal empfängt.In variant 8, the sensor subdevice (TR) is an ultrasound transducer (TR) which emits an ultrasound measurement signal as measurement signal (MS) in an ultrasound measurement channel as a measurement channel (CN) and as a receive signal (ES) on an object in the ultrasound transducer Ultrasound measuring channel (CN) receiving reflected ultrasonic signal.
Variante 9Variant 9
In der Variante 9 weist das vorgeschlagene Sensorsystem (SS) eine Steuereinrichtung (CTR) auf, die im ersten oder zweiten oder dritten Testzustand das siebte Antwortsignal (S7) des digitalen Eingangsschaltkreises (DSI) mit einer vorgegeben Antwort vergleicht und ein Vergleichsergebnis ermittelt.In variant 9, the proposed sensor system (SS) has a control device (CTR) which, in the first or second or third test state, compares the seventh response signal (S7) of the digital input circuit (DSI) with a predetermined response and determines a comparison result.
Variante 10
In der Variante 10 weist das vorgeschlagene Sensorsystem (SS) eine Steuereinrichtung (CTR) auf, die im ersten oder zweiten oder dritten Testzustand mit einem nullten Signal (S0) die digitale Signalerzeugung (DSO) steuert und die im ersten oder zweiten oder dritten Testzustand das siebte Antwortsignal (S7) des digitalen Eingangsschaltkreises (DSI) mit einer vorgegeben Antwort vergleicht und ein Vergleichsergebnis ermittelt. Dabei hängen diese vorgegebene Antworten und das nullte Signal (S0) voneinander ab.In
Variante 11Variant 11
In der Variante 11 weist das vorgeschlagene Sensorsystem (SS) eine Steuereinrichtung (CTR) auf, die im zweiten Testzustand die analoge Kanalsimulationseinheit (ACS) steuert, sodass von dieser Steuerung der analogen Kanalsimulationseinheit (ACS) abhängt, wie die analoge Kanalsimulationseinheit (ACS) das zweite analoge Signal (S2) in das dritte analoge Testsignal (S3t) umsetzt und wobei die Steuereinrichtung (CTR) im zweiten Testzustand das siebte Antwortsignal (S7) des digitalen Eingangsschaltkreises (DSI) mit einer vorgegeben Antwort vergleicht und ein Vergleichsergebnis ermittelt. Dabei hängen diese vorgegebene Antworten und die Steuerung der analogen Kanalsimulationseinheit (ACS) voneinander ab.In variant 11, the proposed sensor system (SS) has a control device (CTR) which controls the analog channel simulation unit (ACS) in the second test state, so that the analog channel simulation unit (ACS) depends on this control, as does the analog channel simulation unit (ACS) second analog signal (S2) into the third analog test signal (S3t) and wherein the control means (CTR) in the second test state, the seventh response signal (S7) of the digital input circuit (DSI) compares with a predetermined response and determines a comparison result. In the process, these predetermined responses and the control of the analog channel simulation unit (ACS) depend on each other.
Variante 12Variant 12
In der Variante 12 weist das vorgeschlagene Sensorsystem (SS) eine Steuereinrichtung (CTR) auf, die im dritten Testzustand die digitale Kanalsimulationseinheit (DCS) steuert, sodass von dieser Steuerung der digitalen Kanalsimulationseinheit (DCS) abhängt, wie die digitale Kanalsimulationseinheit (DCS) das erste digitale Signal (S1) in das fünfte digitale Testsignal (S5t) umsetzt und wobei die Steuereinrichtung (CTR) im dritten Testzustand das siebte Antwortsignal (S7) des digitalen Eingangsschaltkreises (DSI) mit einer vorgegeben Antwort vergleicht und ein Vergleichsergebnis ermittelt. Dabei hängen diese vorgegebene Antworten und die Steuerung der digitalen Kanalsimulationseinheit (DCS) voneinander ab.In variant 12, the proposed sensor system (SS) comprises a control device (CTR), which controls the digital channel simulation unit (DCS) in the third test state, so that the control of the digital channel simulation unit (DCS) depends on the digital channel simulation unit (DCS) first digital signal (S1) is converted into the fifth digital test signal (S5t) and wherein the control device (CTR) in the third test state compares the seventh response signal (S7) of the digital input circuit (DSI) with a predetermined response and determines a comparison result. These depend on the given answers and the control of the digital channel simulation unit (DCS) from each other.
Variante 13Variant 13
In der dreizehnten Variante des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS) verfügt der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) über eine Vorrichtung zur Messung der Schwingfrequenz des sechsten digitalen Signals (S6) in der Sendephase (SP). Diese Messung der Schwingfrequenz ermöglicht die Detektion von Schäden verschiedener Art am Schwingkreis eines Ultraschalltransducers (TR), wenn dieser als Sensorteilvorrichtung (TR) verwendet wird.In the thirteenth variant of the proposed sensor system (SS), the digital input circuit (DSI) has a device for measuring the oscillation frequency of the sixth digital signal (S6) in the transmission phase (SP). This measurement of the oscillation frequency makes it possible to detect damages of various types on the resonant circuit of an ultrasonic transducer (TR) when it is used as a sensor subdevice (TR).
Variante 14Variant 14
In der vierzehnten Variante des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS) verfügt der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) über eine Vorrichtung zur Messung der Ausschwingzeit des sechsten digitalen Signals (S6) in der Ausschwingphase (AP). Diese Messung der Ausschwingzeit ermöglicht die Detektion von Schäden verschiedener Art am Schwingkreis eines Ultraschalltransducers (TR), wenn dieser als Sensorteilvorrichtung (TR) verwendet wird. Für die Messung der Ausschwingzeit wird in dem analogen Eingangsschaltkreis (AS) oder dem digitalen Eingangsschaltkreis bevorzugt ein Hüllkurvensignal aus dem Signalpegelverlauf des dritten analogen Signals (S3) bzw. dem Werteverlauf des sechsten digitalen Signals (S6) gebildet. Unterschreitet dieses in der Ausschwingphase (AP) einen Referenzwert für den Wert dieses Hüllkurvensignals, so kann das Ausschwingen der Sensorteilvorrichtung (TR) bzw. des Ultraschalltransducers (TR) für beendet erklärt werden. Typischerweise endet dann auch die Ausschwingphase (AP). Die Zeit zwischen dem Ende der Sendephase (SP) und dem so definierten Ende des Ausschwingens ist dann die Ausschwingzeit.In the fourteenth variant of the proposed sensor system (SS), the digital input circuit (DSI) has a device for measuring the settling time of the sixth digital signal (S6) in the decay phase (AP). This measurement of the settling time makes it possible to detect damages of various types on the resonant circuit of an ultrasonic transducer (TR) when it is used as a sensor subdevice (TR). For the measurement of the settling time, an envelope signal from the signal level profile of the third analog signal (S3) or the value profile of the sixth digital signal (S6) is preferably formed in the analog input circuit (AS) or the digital input circuit. If this falls below a reference value for the value of this envelope signal in the decay phase (AP), the decay of the sensor subdevice (TR) or of the ultrasound transducer (TR) can be declared terminated. Typically, then also the decay phase (AP) ends. The time between the end of the transmission phase (SP) and the so defined end of the swinging is then the release time.
Variante 15Variant 15
In der fünfzehnten Variante des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS), die auf der dreizehnten und vierzehnten Variante aufbaut, vergleicht der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) oder eine Steuereinheit (CTR) die gemessene Schwingfrequenz mit einem Sollwert oder einem Sollwertbereich für diese Schwingfrequenz sowie die gemessene Ausschwingzeit mit einem Sollwert oder einem Sollwertbereich für die Ausschwingzeit. Die betreffende Teilvorrichtung schließt dann ggf. auf einen Kurzschluss der Sensorteilvorrichtung (TR), insbesondere eines inneren Ultraschalltransducers (TRi) oder einen nicht vorhanden Teil der Sensorteilvorrichtung (TR), insbesondere einen nicht angeschlossenen inneren Ultraschalltransducer (TRi), oder einen sekundärseitig nicht an ein erstes Teilsignal (S3a) des dritten analogen Signals (S3) angeschlossenen Übertrager (UEB) oder einen anderen allgemeinen Fehler. Dies geschieht, wenn die ermittelte Schwingfrequenz höher als der Sollwert der Schwingfrequenz oder wertemäßig oberhalb des Sollwertbereichs der Schwingfrequenz liegt und wenn die ermittelte Ausschwingzeit kürzer als der Sollwert der Ausschwingzeit oder wertemäßig unterhalb des Sollwertbereichs der Ausschwingzeit liegt. Der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) bzw. die Steuereinheit (CTR) erzeugen dann eine Fehlermeldung.In the fifteenth variant of the proposed sensor system (SS), which is based on the thirteenth and fourteenth variants, the digital input circuit (DSI) or a control unit (CTR) compares the measured oscillation frequency with a setpoint or setpoint range for that oscillation frequency and the measured settling time a setpoint or setpoint range for the settling time. The subdevice concerned then optionally includes a short circuit of the sensor subdevice (TR), in particular an internal ultrasound transducer (TRi) or a non-present part of the sensor subdevice (TR), in particular a non-connected internal ultrasound transducer (TRi), or a secondary side not on first sub-signal (S3a) of the third analogue signal (S3) connected to the transmitter (UEB) or another general error. This occurs when the determined oscillation frequency is higher than the nominal value of the oscillation frequency or valuewise above the nominal value range of the oscillation frequency and if the determined decay time is shorter than the nominal value of the decay time or valuewise below the target value range of the decay time. The digital input circuit (DSI) or the control unit (CTR) then generate an error message.
Variante 16Variant 16
In der sechzehnten Variante des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS), die auf der dreizehnten und vierzehnten Variante aufbaut, vergleicht der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) oder die Steuereinheit (CTR) die gemessene Ausschwingzeit mit einem Sollwert oder einem Sollwertbereich für diese Ausschwingzeit und schließt ggf. auf einen nicht vorhanden Teil der Sensorteilvorrichtung (TR), insbesondere einen nicht angeschlossenen inneren Ultraschalltransducer (TRi), oder einen Fehler schließt. Dies geschieht, wenn die ermittelte Ausschwingzeit kürzer als der Sollwert der Ausschwingzeit oder wertemäßig unterhalb des Sollwertbereichs der Ausschwingzeit liegt. In dem Fall erzeugt der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) oder eine Steuereinheit (CTR) eine Fehlermeldung.In the sixteenth variant of the proposed sensor system (SS), which builds on the thirteenth and fourteenth variants, the digital input circuit (DSI) or control unit (CTR) compares the measured settling time to a setpoint or setpoint range for that settling time and eventually closes a non-existing part of the sensor sub-device (TR), in particular an unconnected internal ultrasonic transducer (TRi), or an error closes. This occurs when the determined settling time is shorter than the setpoint of the decay time or valuewise below the setpoint range of the decay time. In that case, the digital input circuit (DSI) or a control unit (CTR) generates an error message.
Variante 17Variant 17
In der siebzehnten Variante des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS) verfügt das Sensorsystem (SS) über eine Vorrichtung zur Ermittlung des Amplitudenwerts eines geraden Signalanteils (A2c_b) in einem zweiten Signal (S2) oder in einem Teilsignal (S2c) des zweiten Signals (S2) sowie über eine Vorrichtung zur Ermittlung des Amplitudenwerts eines ungeraden Signalanteils (A2c_a) in einem zweiten Signal (S2) oder einem Teilsignal (S2c) des zweiten Signals (S2).In the seventeenth variant of the proposed sensor system (SS), the sensor system (SS) has a device for determining the amplitude value of an even signal component (A2c_b) in a second signal (S2) or in a component signal (S2c) of the second signal (S2) and via a device for determining the amplitude value of an odd signal component (A2c_a) in a second signal (S2) or a component signal (S2c) of the second signal (S2).
Eine Vergleichsvorrichtung (arctan, C18), die Teil des Sensorsystems (SS) ist, ist dazu vorgesehen, den Amplitudenwert (s3b) des geraden Signalanteils mit einem Schwellwert (A2c_b) für diesen geraden Amplitudenwert (s3b) zu vergleichen und ein entsprechendes Vergleichsergebnissignal (v18) für den geraden Signalanteil (s3b) zu erzeugen.A comparison device (arctan, C18), which is part of the sensor system (SS), is provided to compare the amplitude value (s3b) of the even signal component with a threshold value (A2c_b) for this even amplitude value (s3b) and a corresponding comparison result signal (v18 ) for the even signal component (s3b).
Eine weitere Vergleichsvorrichtung, die Teil des Sensorsystems (SS) ist, ist dazu vorgesehen, den Amplitudenwert (s3a) des ungeraden Signalanteils (A2c_a) mit einem Schwellwert für diesen ungeraden Amplitudenwert zu vergleichen und ein entsprechendes Vergleichsergebnissignal für den ungeraden Signalanteil zu erzeugen. Eine Teilvorrichtung des Sensorsystems (SS) erzeugt dann eine Fehlermeldung oder gibt ein Fehlersignal aus, wenn das entsprechende Vergleichsergebnissignal für den ungeraden Signalanteil und das entsprechende Vergleichsergebnissignal für den geraden Signalanteil keiner erlaubten Wertekombination entsprechen.A further comparison device, which is part of the sensor system (SS), is provided for comparing the amplitude value (s3a) of the odd signal component (A2c_a) with a threshold value for this odd amplitude value and generating a corresponding comparison signal for the odd signal component. A subsystem of the sensor system (SS) then generates an error message or outputs an error signal if the corresponding comparison result signal for the odd signal component and the corresponding comparison result signal for the even signal component do not correspond to an allowed value combination.
Variante 18Variant 18
In der achtzehnten Variante des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS) umfasst das zweite analoge Signal (S2) mindestens ein erstes Teilsignal (S2a) und ein zweites Teilsignal (S2b). Das Sensorsystem (SS) ist durch Symmetrierung der Sensorteilvorrichtung (TR) bzw. des Ultraschalltransducers (TR) und ggf. des vorhandenen Übertragers (UEB) so gestaltet, dass das erste Teilsignal (S2a) des zweiten analogen Signals (S2) und das zweite Teilsignal (S2b) des zweiten analogen Signals (S2) im fehlerfreien Fall bis auf eine Phasenverschiebung von 180° im zeitlichen Verlauf gleich sind. Die Phasenverschiebung kann um bis zu ±10° abweichen. Bevorzugt sind aber kleinere Abweichungen. Das Sensorsystem weist eine Teilvorrichtung in dieser achtzehnten Variante auf, die dazu vorgesehen ist, die Gleichheit des ersten Teilsignals (S2a) des zweiten analogen Signals (S2) und des zweiten Teilsignals (S2b) des zweiten analogen Signals (S2) zu vermessen und einen Messwert für diese Gleichheit zu ermitteln. Hierbei wird vor dem Vergleich eine Phasenkompensation durchgeführt. Hierzu wird bevorzugt eines der beiden Signale um 180° durch geeignete Zwischenspeicherung in der Steuereinheit (CTR) oder dem digitalen Eingangsschaltkreis (DSI) verzögert. Es wird in dieser Variante nun vorgeschlagen, dass das Sensorsystem (SS) eine Vergleichseinrichtung aufweist, die diesen Messwert für die Gleichheit mit einem Referenzwert vergleicht und ein Fehlersignal erzeugt, wenn der so ermittelte Wert der Gleichheit unterhalb des Referenzwerts für diese Gleichheit liegt. Dieses Messverfahren dieser achtzehnten Variante hat den Vorteil, dass kleinste Störungen der Symmetrie eines Ultraschalltransducer-Schaltkreises erkannt werden können.In the eighteenth variant of the proposed sensor system (SS), the second analog signal (S2) comprises at least a first sub-signal (S2a) and a second sub-signal (S2b). The sensor system (SS) is designed by symmetrizing the sensor subdevice (TR) or the ultrasound transducer (TR) and possibly the existing transmitter (UEB) so that the first sub-signal (S2a) of the second analog signal (S2) and the second sub-signal (S2b) of the second analog signal (S2) in the error-free case are the same except for a phase shift of 180 ° in the time course. The phase shift can deviate by up to ± 10 °. However, smaller deviations are preferred. The sensor system has a sub-device in this eighteenth variant, which is provided to measure the equality of the first sub-signal (S2a) of the second analog signal (S2) and the second sub-signal (S2b) of the second analog signal (S2) and a measured value to determine this equality. In this case, a phase compensation is performed before the comparison. For this purpose, preferably one of the two signals is delayed by 180 ° by suitable intermediate storage in the control unit (CTR) or the digital input circuit (DSI). It is now proposed in this variant that the sensor system (SS) has a comparison device which compares this measured value for equality with a reference value and generates an error signal if the value of equality determined in this way is below the reference value for this equality. This measuring method of this eighteenth variant has the advantage that the smallest disturbances of the symmetry of an ultrasonic transducer circuit can be detected.
Variante 19Variant 19
In der neunzehnten Variante des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS) kann das Sensorsystem (SS) so konfiguriert werden, dass im ersten Testzustand der Impedanz-Wert der Impedanz der Sensorteilvorrichtung (TR) oder der Impedanz eines internen Ultraschalltransducers (TRi), der Teil des Ultraschalltransducers (TR) als Sensorteilvorrichtung ist, bestimmt werden kann. Diese Impedanz-Wertbestimmung erfolgt bevorzugt in dem analogen Eingangsschaltkreis (AS) oder im digitalen Eingangsschaltkreis (DSI). Der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) oder die Systemsteuerung (CTR) vergleichen den ermittelten Impedanz-Wert mit einem Impedanz-Sollwert oder einem Impedanz-Sollwertbereich. Das Sensorsystem (SS) erzeugt eine Fehlermeldung oder stellt diese bereit, wenn der erfasste Impedanz-Wert von dem Impedanz-Sollwert abweicht oder außerhalb des Impedanz-Sollwertbereiches liegt. Dies geschieht ebenfalls bevorzugt in der Steuereinheit (CTR) oder dem digitalen Eingangsschaltkreis (DSI).In the nineteenth variant of the proposed sensor system (SS), the sensor system (SS) can be configured so that in the first test state the impedance value of the impedance of the sensor subdevice (TR) or the impedance of an internal ultrasonic transducer (TRi), the part of the ultrasound transducer ( TR) as a sensor sub-device can be determined. This impedance value determination is preferably carried out in the analog input circuit (AS) or in the digital input circuit (DSI). The digital input circuit (DSI) or the system controller (CTR) compares the detected impedance value with an impedance setpoint or an impedance setpoint range. The sensor system (SS) generates or provides an error message if the detected impedance value deviates from the impedance setpoint or is outside the impedance setpoint range. This is also preferably done in the control unit (CTR) or the digital input circuit (DSI).
Variante 20Variant 20
In der zwanzigsten Variante des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS) kann das Sensorsystem (SS) so konfiguriert werden, dass im Betriebszustand der Werteverlauf und/oder die Werte des siebten Antwortsignals (S7), insbesondere in Form von Messergebnissen und Messwerten, auf Plausibilität, insbesondere durch den Vergleich mit Sollwerten und Sollwertbereichen, durch den digitalen Empfangsschaltkreis (DSI) und/oder die Steuereinrichtung (CTR) geprüft werden. Beispielsweise kann während der Konstruktion des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS) berücksichtigt werden, dass bestimmte Messwerte unter bestimmten Bedingungen physikalisch nicht möglich sind. Das Auftreten solcher Messwerte unter diesen Bedingungen kann daher als Anzeichen für einen Fehler interpretiert werden. Es kann daher vorgesehen werden, dass der digitalen Empfangsschaltkreis (DSI) und/oder die Steuereinrichtung (CTR) in diesem Fall eine Fehlermeldung erzeugen oder bereitstellen.In the twentieth variant of the proposed sensor system (SS), the sensor system (SS) can be configured so that in the operating state the value profile and / or the values of the seventh response signal (S7), in particular in the form of measurement results and measured values, for plausibility, in particular by the comparison with setpoints and setpoint ranges, through the digital receive circuit (DSI) and / or the controller (CTR). For example, it can be taken into account during the construction of the proposed sensor system (SS) that certain measured values are physically impossible under certain conditions. The occurrence of such measurements under these conditions can therefore be interpreted as an indication of an error. It can therefore be provided that the digital receiving circuit (DSI) and / or the control device (CTR) generate or provide an error message in this case.
Variante 21Variant 21
In der einundzwanzigsten Variante des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS) erfolgt eine Weitergabe des Werteverlaufs und/oder der Werte des siebten Antwortsignals (S7), die insbesondere in Form von Messergebnissen und Messwerten vorliegen können, im Betriebszustand durch die Steuereinheit (CTR) und/oder den digitalen Eingangsschaltkreis (DSI) nur dann, wenn die Plausibilitätsprüfung des Werteverlaufs und/oder der Werte des siebten Antwortsignals (S7) erfolgreich war. Wenn die Plausibilitätsprüfung des Werteverlaufs und/oder der Werte des siebten Antwortsignals (S7) nicht erfolgreich war, kann beispielsweise eine Fehlermeldung durch die Steuereinheit (CTR) und/oder den digitalen Eingangsschaltkreis (DSI) erzeugt oder bereitgestellt werden.In the twenty-first variant of the proposed sensor system (SS), the value course and / or the values of the seventh response signal (S7) are passed on, which can be present in particular in the form of measurement results and measured values, in the operating state by the control unit (CTR) and / or the digital input circuit (DSI) only if the plausibility check of the value course and / or the values of the seventh response signal (S7) was successful. For example, if the plausibility check of the value history and / or the values of the seventh response signal (S7) was unsuccessful, an error message can be generated or provided by the control unit (CTR) and / or the digital input circuit (DSI).
Variante 22Variant 22
In der zweiundzwanzigsten Variante des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS) sind der digitale Empfangsschaltkreis (DSI) und/oder der analoge Empfangsschaltkreis (AS) dazu vorgesehen und eingerichtet den Gleichanteil und/oder die Amplitude und/oder die Phase und/oder andere Signalparameter des dritten analogen Signals (S3) bei verschiedenen Signalfrequenzen des durch die digitale Signalerzeugung (DSO) erzeugten ersten digitalen Signals (S1) oder bei verschiedenen zeitlichen Signalverlaufsmustern des durch die digitale Signalerzeugung (DSO) erzeugten ersten digitalen Signals (S1) zu erfassen. Selbstredend ist in diesem Fall die digitale Signalerzeugung (DSO) zur Erzeugung verschiedener Signalfrequenzen des ersten digitalen Signals (S1) und/oder verschiedener zeitlicher Signalverlaufsmuster des ersten digitalen Signals (S1) in der Lage. Besonders geeignet sind Frequenzsweeps, Phasensprungsignale und phasenmodulierte Signale, die durch die digitale Signalerzeugung (DSO) erzeugt werden können.In the twenty-second variant of the proposed sensor system (SS), the digital receiving circuit (DSI) and / or the analog receiving circuit (AS) are provided and set up the DC component and / or the amplitude and / or the phase and / or other signal parameters of the third analog Signal (S3) at different signal frequencies of the digital Signal generation (DSO) generated first digital signal (S1) or at different temporal waveform patterns of the digital signal generation (DSO) generated by the first digital signal (S1). Of course, in this case, digital signal generation (DSO) is capable of producing different signal frequencies of the first digital signal (S1) and / or different temporal signal patterns of the first digital signal (S1). Particularly suitable are frequency sweeps, phase-shift signals and phase-modulated signals that can be generated by digital signal generation (DSO).
Variante 23Variant 23
In der dreiundzwanzigsten Variante des vorgeschlagenen Sensorsystems (SS) weist ein verwendbares Signalverlaufsmuster des ersten digitalen Signals (S1), das durch die digitale Signalerzeugung (DSO) erzeugt wird, eine Signalfrequenz auf und einen Phasensprung in seinem Verlauf auf.In the twenty-third variant of the proposed sensor system (SS), a usable waveform pattern of the first digital signal (S1) generated by the digital signal generation (DSO) has a signal frequency and a phase jump in its course.
Verfahren zum BetriebMethod of operation
Es wird vorgeschlagen die zuvor beschriebene Vorrichtung und ggf. ihre Varianten wie folgt zu betreiben: It is proposed to operate the device described above and possibly its variants as follows:
Als erstes erfolgt bevorzugt das Einnehmen des dritten Testzustands durch das Sensorsystem (SS) und die Simulation mindestens eines Testfalls durch die Erzeugung eines diesem Testfall entsprechenden nullten Signals (S0) durch die Steuereinheit (CTR) und die Erfassung des siebten Antwortsignals (S7) durch die Steuereinheit (CTR) sowie ein Vergleich des siebten Antwortsignals (S7) mit einem vorgegeben Muster des siebten Antwortsignals (S7). Dabei werden vorgegeben Muster des siebten Antwortsignals (S7) zugrunde gelegt, die dem erzeugten nullten Signal (S0) entsprechen. Hierbei sei darauf hingewiesen, dass die digitale Signalerzeugung (DSO), die digitale Kanalsimulationseinheit (DCS) und der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) ggf. unterschiedlich konfiguriert werden können. Diese Konfigurationen werden vorzugsweise auch durch die Steuereinheit (CTR) vorgenommen. Das verwendete nullte Signal (S0) hängt dann von diesen verwendeten Konfigurationen, die bevorzugt durch die Steuereinheit mittels entsprechender, in den Figuren nicht eingezeichneter Steuerleitungen eingestellt werden, und dem jeweiligen Prüfungszweck ab. Dementsprechend hängt dann auch das vorgegeben Muster des siebten Antwortsignals (S7) von dem verwendeten nullten Signal (S0), diesen Konfigurationen, die bevorzugt durch die Steuereinheit (CTR) kontrolliert werden, und dem Prüfungszweck ab. Es erfolgt das Feststellen eines Fehlers, wenn das siebte Antwortsignal (S7) nicht exakt dem vorgegeben Muster des siebten Antwortsignals (S7) entspricht. Diese Feststellung wird bevorzugt durch die Steuereinheit (CTR) getroffen und an eine vorgegebene Stelle in vorgegebener Weise signalisiert. Beispielsweise kann ein Flag bei einem solchen Fehler durch die Steuereinheit (CTR) gesetzt werden. Die Steuereinheit (CTR) vergleicht für diese Überprüfung das siebte Antwortsignal (S7) mit dem vorgegeben Muster des siebten Antwortsignals (S7). Dies geschieht bevorzugt durch bit-weise Überprüfung. Sofern keine weiteren Messungen erforderlich sind, kann der dritte Testzustand dann verlassen werden und ein anderer Testzustand oder der Betriebszustand eingenommen werden. Besonders bevorzugt folgt im fehlerfreien Fall auf das Abprüfen aller Prüffälle im dritten Testzustand das Abprüfen aller Prüffälle (Testfälle) im zweiten Testzustand, da dann die digitale Logik des digitalen Teils der Signalkette als ordnungsgemäß arbeitend bewertet ist.First, the third test state is taken by the sensor system (SS) and the simulation of at least one test case by the generation of a zeroth signal (S0) corresponding to this test case by the control unit (CTR) and the detection of the seventh response signal (S7) Control unit (CTR) and a comparison of the seventh response signal (S7) with a predetermined pattern of the seventh response signal (S7). In this case, predetermined patterns of the seventh response signal (S7) are used, which correspond to the zeroth signal generated (S0). It should be noted that digital signal generation (DSO), digital channel simulation unit (DCS) and digital input circuitry (DSI) may be configured differently. These configurations are also preferably made by the control unit (CTR). The zeroed signal (S0) used then depends on these used configurations, which are preferably set by the control unit by means of corresponding control lines, not drawn in the figures, and the respective test purpose. Accordingly, the predetermined pattern of the seventh response signal (S7) also depends on the zeroed signal (S0) used, these configurations, which are preferably controlled by the control unit (CTR), and the test purpose. An error is detected when the seventh response signal (S7) does not exactly correspond to the predetermined pattern of the seventh response signal (S7). This determination is preferably made by the control unit (CTR) and signaled to a predetermined location in a predetermined manner. For example, a flag at such an error may be set by the control unit (CTR). The control unit (CTR) compares the seventh response signal (S7) with the predetermined pattern of the seventh response signal (S7) for this check. This is preferably done by bit-wise checking. If no further measurements are required, the third test state can then be left and another test state or the operating state can be assumed. In the error-free case, the checking of all test cases in the third test state is particularly preferably followed by checking all test cases (test cases) in the second test condition, since then the digital logic of the digital part of the signal string is rated as working properly.
Bevorzugt folgen somit auf die Prüfungen im dritten Testzustand die Prüfungen im zweiten Testzustand. Der zweite Testzustand kann aber auch direkt aus dem Betriebszustand oder den anderen Testzuständen eingenommen werden.The tests in the second test state thus preferably follow the tests in the third test state. The second test state can also be taken directly from the operating state or the other test states.
Hierzu erfolgen das Einnehmen des zweiten Testzustands durch das Sensorsystem (SS) und die Simulation mindestens eines Testfalls durch Erzeugung eines diesem Testfall entsprechenden nullten Signals (S0) durch die Steuereinheit (CTR) als Stimulus für die nachfolgende Signalkette und die Erfassung des siebten Antwortsignals (S7) durch die Steuereinheit (CTR) sowie der Vergleich des siebten Antwortsignals (S7) mit einem vorgegeben Musterkorridor des siebten Antwortsignals (S7). Im Gegensatz zum dritten Testzustand kann die Reaktion der Signalkette, die nunmehr auch analoge Schaltungsteile (DR, AS) umfasst, nicht mehr exakt vorhergesagt werden. Daher muss ein Signalkorridor (Musterkorridor) für den erlaubten Verlauf der erlaubten Werte des siebten Antwortsignals (S7) vorgegeben werden. Bei dem siebten Antwortsignal (S7) kann es sich um ein eindimensionales, aber auch um ein mehrdimensionales Signal handeln. In dem mehrdimensionalen Zustandsraum müssen daher für jeden Zeitschritt bzw. jeden zu prüfenden Parameter des siebten Antwortsignals (S7) Bereiche angegeben werden, innerhalb dessen sich das siebte Antwortsignal (S7) wertemäßig bewegen darf. Besonders bevorzugt sind einfache Toleranzintervalle für jeden Parameter, die nicht verlassen werden dürfen. Der Musterkorridor sollte bevorzugt ein einfacher linearer Schlauch sein. Es sind aber auch erheblich komplexere Topologien für die erlaubten Wert-/Parameterkombinationen des siebten Antwortsignals (S7) denkbar. Sofern eine Wert-/Parameterkombination des siebten Antwortsignals (S7) den erlaubten Musterkorridor verlässt, kann die Steuereinheit (CTR) einen Fehler feststellen und signalisieren. Dies erfolgt, wenn das siebte Antwortsignal (S7) nicht innerhalb des vorgegeben Musterkorridors des siebten Antwortsignals (S7) liegt. Sobald alle Prüffälle (Testfälle) abgearbeitet sind, erfolgt bevorzugt das Verlassen des zweiten Testzustands.For this purpose, the second test state is taken by the sensor system (SS) and the simulation of at least one test case by generating a zeroth signal (S0) corresponding to this test case by the control unit (CTR) as a stimulus for the subsequent signal sequence and the detection of the seventh response signal (S7 ) by the control unit (CTR) and the comparison of the seventh response signal (S7) with a predetermined pattern corridor of the seventh response signal (S7). In contrast to the third test state, the reaction of the signal chain, which now also includes analog circuit parts (DR, AS), can no longer be predicted accurately. Therefore, a signal corridor (pattern corridor) for the permitted course of the allowed values of the seventh response signal (S7) must be specified. The seventh response signal (S7) can be a one-dimensional, but also a multi-dimensional signal. In the multi-dimensional state space, therefore, regions must be specified for each time step or each parameter of the seventh response signal (S7) to be tested, within which the seventh response signal (S7) may move in terms of value. Particularly preferred are simple tolerance intervals for each parameter that must not be left. The pattern corridor should preferably be a simple linear tube. However, considerably more complex topologies are also conceivable for the permitted value / parameter combinations of the seventh response signal (S7). If a value / parameter combination of the seventh response signal (S7) leaves the allowed pattern corridor, the control unit (CTR) can detect and signal an error. This occurs when the seventh response signal (S7) is not within the predetermined pattern corridor of the seventh response signal (S7). As soon as all test cases (test cases) have been processed, it is preferable to leave the second test state.
Besonders bevorzugt folgt im fehlerfreien Fall auf das Abprüfen aller Prüffälle im dritten und zweiten Testzustand das Abprüfen aller Prüffälle (Testfälle) im ersten Testzustand, da dann die digitale Logik des digitalen Teils der Signalkette und die analogen Schaltungsteile der Signalkette als ordnungsgemäß arbeitend bewertet sind. In the error-free case, the checking of all test cases in the third and second test states is particularly preferably followed by the checking of all test cases in the first test condition, since then the digital logic of the digital part of the signal chain and the analog circuit parts of the signal string are rated as working properly.
Bevorzugt folgen somit auf die Prüfungen im zweiten Testzustand die Prüfungen im ersten Testzustand. Der erste Testzustand kann aber auch direkt aus dem Betriebszustand oder den anderen Testzuständen eingenommen werden.The tests in the first test state thus preferably follow the tests in the second test state. The first test state can also be taken directly from the operating state or the other test states.
Hierzu erfolgen das Einnehmen des ersten Testzustands durch das Sensorsystem (SS) und die Simulation mindestens eines Testfalls durch Erzeugung eines diesem Testfall entsprechenden nullten Signals (S0) durch die Steuereinheit (CTR) und die Erfassung des siebten Antwortsignals (S7) durch die Steuereinheit (CTR) und der Vergleich des siebten Antwortsignals (S7) mit einem vorgegeben Musterkorridor des siebten Antwortsignals (S7). In diesem Testfall ist es von besonderer Bedeutung, dass hier bevorzugt weitere Parameter der Sensorteilvorrichtung (TR) vermessen werden. Insofern betrifft die Erzeugung des nullten Signals (S0) bevorzugt die Erzeugung geeigneter Stimuli für die Vermessung der Sensorteilvorrichtung (TR), also des Ultraschalltransducers (TR), und die Übergabe der ermittelten Messwerte für die Parameter der Sensorteilvorrichtung (TR), also des Ultraschalltransducers (TR), in Form eines siebten Antwortsignals (S7) an die Steuereinheit (CTR). Die Steuereinheit (CTR) stellt bevorzugt einen Fehler fest, wenn das siebte Antwortsignal (S7) nicht innerhalb eines vorgegeben Musterkorridors des siebten Antwortsignals (S7) liegt. Beispielsweise, wenn die Impedanz des beispielhaften Ultraschalltransducers nicht innerhalb eines vorgegebenen Wertebereiches liegt oder wenn eine Asymmetrie bei erwarteter Symmetrie vorliegt. Hierzu werten die Steuereinrichtung (CTR) und/oder der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) typischerweise auch Vergleichsergebnissignale von Vergleichseinrichtungen aus.For this purpose, the first test state is taken by the sensor system (SS) and the simulation of at least one test case by the control unit (CTR) generating a zeroth signal (S0) corresponding to this test case and the control unit (CTR) detecting the seventh response signal (S7) ) and the comparison of the seventh response signal (S7) with a predetermined pattern corridor of the seventh response signal (S7). In this test case, it is of particular importance that further parameters of the sensor subdevice (TR) are preferably measured here. In this respect, the generation of the zeroth signal (S0) preferably relates to the generation of suitable stimuli for the measurement of the sensor subdevice (TR), ie of the ultrasound transducer (TR), and the transfer of the determined measured values for the parameters of the sensor subdevice (TR), ie of the ultrasound transducer ( TR), in the form of a seventh response signal (S7) to the control unit (CTR). The control unit (CTR) preferably detects an error when the seventh response signal (S7) is not within a predetermined pattern corridor of the seventh response signal (S7). For example, if the impedance of the exemplary ultrasound transducer is not within a predetermined range of values or if there is asymmetry in expected symmetry. For this purpose, the control device (CTR) and / or the digital input circuit (DSI) typically also evaluate comparison result signals from comparison devices.
Besonders bevorzugt folgt im fehlerfreien Fall auf das Abprüfen aller Prüffälle im dritten, zweiten und ersten Testzustand die Rückkehr in den Betriebszustand, da dann die digitale Logik des digitalen Teils der Signalkette sowie die analogen Schaltungsteile der Signalkette und die Sensorteilvorrichtung, also der Ultraschalltransducer (TR), als ordnungsgemäß arbeitend bewertet sind. Somit kann dann das Sensorsystem als solches auch als ordnungsgemäß arbeitend bewertet werden. Auch dies kann durch die Steuereinheit (CTR) festgestellt und ggf. Weitersignalisiert werden.In the error-free case, it is particularly preferable to check all test cases in the third, second and first test state to return to the operating state, since then the digital logic of the digital part of the signal chain and the analog circuit parts of the signal chain and the sensor sub-device, ie the ultrasonic transducer (TR) , are considered properly working. Thus, then, the sensor system as such can be rated as working properly. This can also be determined by the control unit (CTR) and possibly further signaled.
Bevorzugt folgt somit auf die Prüfungen im dritten Testzustand die Einnahme des Betriebszustands. Der Betriebszustand kann aber auch direkt aus allen Testzuständen heraus eingenommen werden.Thus, the tests in the third test state are preferably followed by the assumption of the operating state. The operating state can also be taken directly from all test conditions out.
Auch im Betriebszustand kann die Überwachung von Amplitudenpegeln, Differenzen solcher Amplitudenpegel mit und ohne Phasenverschiebungen und die Überwachung, ob eine Asymmetrie bei erwarteter Symmetrie vorliegt, erfolgen. Hierzu werten die Steuereinrichtung (CTR) und/oder der digitale Eingangsschaltkreis (DSI) typischerweise auch Vergleichsergebnissignale von entsprechenden Vergleichseinrichtungen auch während des normalen Betriebs im Betriebszustand aus.Even in the operating state, the monitoring of amplitude levels, differences of such amplitude levels with and without phase shifts and the monitoring of whether there is an asymmetry in expected symmetry, take place. For this purpose, the control device (CTR) and / or the digital input circuit (DSI) typically also evaluate comparison result signals from corresponding comparison devices even during normal operation in the operating state.
Es wird auch ein selbstestfähiges Ultraschallsensorsystem (SS) vorgeschlagen, das einen inneren Ultraschalltransducer (TRi), einen Übertrager (UEB) und einen Transducer-Widerstand (RTR), der Teil des inneren Ultraschalltransducers (TRi) sein kann, und mit einer Transducer-Kapazität (CTR), die Teil des inneren Ultraschalltransducers (TRi) sein kann, umfasst. Ein erstes Teilsignal (S2a) des zweiten analogen Signals (S2) und ein zweites Teilsignal (S2b) des zweiten analogen Signals (S2) und ein erstes Teilsignal (S3a) des dritten analogen Signals (S3) und ein zweites Teilsignal (S3b) des dritten analogen Signals (S3) sind die elektrischen Mindestknoten dieses vorgeschlagenen Teilsystems. Der zeitliche Betrieb des Ultraschalmesssystems (SS) weist dann typischerweise zumindest die Sendephase (SP) auf. Das erste Teilsignal (S2a) des zweiten analogen Signals (S2) ist mit einem ersten primärseitigen Anschluss des Übertragers (UEB) verbunden. Das zweite Teilsignal (S2b) des zweiten analogen Signals (S2) ist mit einem zweiten primärseitigen Anschluss des Übertragers (UEB) verbunden. Das erste Teilsignal (S3a) des dritten analogen Signals (S3) ist mit einem ersten sekundärseitigen Anschluss des Übertragers (UEB) und einem ersten Anschluss des Transducer-Widerstands (RTR) und mit einem ersten Anschluss der Transducer-Kapazität (CTR) und mit einem ersten Anschluss des inneren Ultraschalltransducers (TRi) verbunden. Das zweite Teilsignal (S3b) des dritten analogen Signals (S3) ist mit einem zweiten sekundärseitigen Anschluss des Übertragers (UEB) und einem zweiten Anschluss des Transducer-Widerstands (RTR) und mit zweiten Anschluss der Transducer-Kapazität (CTR) und mit einem zweiten Anschluss des inneren Ultraschalltransducers (TRi) verbunden. Die Topologie des Schaltungsnetzwerks aus inneren Ultraschalltransducer (TRi) und Transducer-Widerstand (RTR) und Transducer-Kapazität (CTR) und Übertrager (UEB) und die Kennwerte dieser Bauelemente und deren Ansteuerung sind so gewählt, dass im Normalbetrieb einer Sendephase (SP) das erste Teilsignal (S2a) des zweiten analogen Signals (S2) einem um 180°+/-10° phasenverschobenen zweiten Teilsignal (S2b) des zweiten analogen Signals (S2) mit einer Amplitudenabweichung von weniger als 10% entspricht und dass im Normalbetrieb einer Sendephase (SP) das erste Teilsignal (S3a) des dritten analogen Signals (S3) einem um 180°+/-10° phasenverschobenen zweiten Teilsignal (S2b) des zweiten analogen Signals (S2) mit einer Amplitudenabweichung von weniger als 10% entspricht. Mindestens diese Teilsignale (S2a, S2b, S3a, S3b) weisen eine gemeinsame Periodizität mit der Periode T in der Sendephase (SP) auf. Die Ultraschallsensorvorrichtung (SS) umfasst zumindest eine Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE). Die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE) analysiert mindestens ein Teilsignal, das zu analysierende Signal (ZA), das aus den Teilsignalen (S2a, S2b, S3a, S3b) gewählt ist, auf Verzerrungen hin und bildet ein zugehöriges Vergleichsergebnissignal (v15, v16, v17, v18, v19) (das Vergleichsergebnissignal v_X).It is also a selbstestfähiges ultrasonic sensor system (SS) is proposed, which may be an inner ultrasound transducer (TR i), a transmitter (UEB) and a transducer resistance (R TR), the part of the inner ultrasound transducer (TRi), and a transducer Capacitance (C TR ), which may be part of the internal ultrasonic transducer (TRi) comprises. A first sub-signal (S2a) of the second analog signal (S2) and a second one Sub-signal (S2b) of the second analog signal (S2) and a first sub-signal (S3a) of the third analog signal (S3) and a second sub-signal (S3b) of the third analog signal (S3) are the minimum electrical nodes of this proposed subsystem. The temporal operation of the ultrasonic measuring system (SS) then typically has at least the transmission phase (SP). The first sub-signal (S2a) of the second analog signal (S2) is connected to a first primary-side terminal of the transmitter (UEB). The second sub-signal (S2b) of the second analog signal (S2) is connected to a second primary-side terminal of the transmitter (UEB). The first sub-signal (S3a) of the third analog signal (S3) is connected to a first secondary-side terminal of the transformer (UEB) and a first terminal of the transducer resistor (R TR ) and to a first terminal of the transducer capacitance (C TR ) and connected to a first terminal of the internal ultrasonic transducer (TRi). The second sub-signal (S3b) of the third analog signal (S3) is connected to a second secondary-side terminal of the transformer (UEB) and a second terminal of the transducer resistor (R TR ) and to the second terminal of the transducer capacitance (C TR ) and connected to a second terminal of the internal ultrasonic transducer (TRi). The topology of the circuit network of internal ultrasonic transducer (TRi) and transducer resistance (R TR ) and transducer capacitance (C TR ) and transformer (UEB) and the characteristics of these components and their control are selected so that in normal operation of a transmission phase (SP ) the first sub-signal (S2a) of the second analog signal (S2) corresponds to a 180 ° +/- 10 ° phase-shifted second sub-signal (S2b) of the second analog signal (S2) with an amplitude deviation of less than 10% and that in normal operation Transmission phase (SP), the first part signal (S3a) of the third analog signal (S3) corresponds to a 180 ° +/- 10 ° phase-shifted second partial signal (S2b) of the second analog signal (S2) with an amplitude deviation of less than 10%. At least these sub-signals (S2a, S2b, S3a, S3b) have a common periodicity with the period T in the transmission phase (SP). The ultrasonic sensor device (SS) comprises at least one coefficient monitoring subdevice (KUE). The coefficient monitoring subdevice (KUE) analyzes for distortion at least a sub-signal, the signal to be analyzed (ZA) selected from the sub-signals (S2a, S2b, S3a, S3b) and forms an associated comparison result signal (v15, v16, v17, v18 , v19) (the comparison result signal v_X).
Eine beispielhafte Ausführung der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE) umfasst eine ersten Teilvorrichtung (M1, s1a, F1, s2a, S&H_Ca) der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE), die ein Skalarprodukt in Form eines ersten internen Koeffizentensignals (s3a) aus einem ersten Analysesignal (A_a) und dem zu analysierenden Signal (ZA) bildet, und eine zweite Teilvorrichtung (M2, s1b, F2, s2b, S&H_Cb), die ein Skalarprodukt in Form eines zweiten internen Koeffizentensignals (s3b) aus einem zweiten Analysesignal (A_b) und dem zu analysierenden Signal (ZA) bildet. Das erste Analysesignal (A_a) und das zweite Analysesignal (A_b) weisen die gleiche Periode (T) auf, wie das zu analysierende Signal (ZA). Das erste Analysesignal (A_a) und das zweite Analysesignal (A_b) sind untereinander verschieden. Das Verhältnis des ermittelten Werts des ersten internen Koeffizentensignals (s3a) zum ermittelten Wert des zweiten internen Koeffizentensignals (s3b) für den Normalbetrieb in der Sendephase (SP) unterscheidet sich dabei vom Verhältnis des ermittelten Werts des ersten internen Koeffizentensignals (s3a) zum ermittelten Wert des zweiten internen Koeffizentensignals (s3b) für den Betrieb in zumindest einem Fehlerfall in der Sendephase (SP). Der Unterschied der beiden Koeffizientensignale (s3a, s3b) wird zur Erzeugung des Vergleichsergebnissignals (v_X) genutzt.An exemplary embodiment of the coefficient monitoring subdevice (KUE) comprises a first subsystem (M1, s1a, F1, s2a, S & H_Ca) of the coefficient monitoring subdevice (KUE) which generates a scalar product in the form of a first internal coefficient signal (s3a) from a first analysis signal (A_a) and the signal (ZA) to be analyzed, and a second sub-device (M2, s1b, F2, s2b, S & H_Cb) comprising a scalar product in the form of a second internal coefficient signal (s3b) of a second analysis signal (A_b) and the signal to be analyzed (ZA ). The first analysis signal (A_a) and the second analysis signal (A_b) have the same period (T) as the signal to be analyzed (ZA). The first analysis signal (A_a) and the second analysis signal (A_b) are different from each other. The ratio of the determined value of the first internal coefficient signal (s3a) to the determined value of the second internal coefficient signal (s3b) for normal operation in the transmission phase (SP) differs from the ratio of the determined value of the first internal coefficient signal (s3a) to the determined value of second internal Koeffizentensignals (s3b) for operation in at least one error case in the transmission phase (SP). The difference between the two coefficient signals (s3a, s3b) is used to generate the comparison result signal (v_X).
Vorteil der ErfindungAdvantage of the invention
Ein solches Ultraschallsensormesssystem ermöglicht zumindest in einigen Realisierungen den effizienten und effektiven Test dieses Systems im Normalbetrieb. Die Vorteile sind hierauf aber nicht beschränkt.Such an ultrasonic sensor measuring system enables, at least in some implementations, the efficient and effective test of this system in normal operation. The advantages are not limited to this.
Figurenlistelist of figures
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1 zeigt schematisch vereinfacht die Grundstruktur des vorgeschlagenen selbsttestfähigen Sensorsystems (SS).1 shows schematically simplified the basic structure of the proposed self-testable sensor system (SS). -
2 entspricht der1 , wobei ein Übertrager (UEB) zwischen Sensorteilvorrichtung (TR) und Treiberstufe (DR) eingefügt ist.2 equals to1 , wherein a transformer (UEB) between sensor subdevice (TR) and driver stage (DR) is inserted. -
3 entspricht der2 mit dem fett markierten aktiven Signalpfad im Betriebszustand und im ersten Testzustand.3 equals to2 with the active signal path marked in bold in the operating state and in the first test state. -
4 entspricht der2 mit dem fett markierten aktiven Signalpfad im zweiten Testzustand.4 equals to2 with the bold labeled active signal path in the second test state. -
5 entspricht der2 mit dem fett markierten aktiven Signalpfad im dritten Testzustand.5 equals to2 with the bold labeled active signal path in the third test state. -
6 entspricht der2 mit dem Unterschied, dass das zweite analoge Signal (S2) mittels einer Vergleichseinheit in Form eines zweiten Komparators (C2) und das dritte analoge Signal (S3) mittels einer Vergleichseinheit in Form eines dritten Komparators (C3) im Betrieb überwacht wird.6 equals to2 with the difference that the second analog signal (S2) is monitored by means of a comparison unit in the form of a second comparator (C2) and the third analog signal (S3) by means of a comparison unit in the form of a third comparator (C3) in operation. -
7 zeigt schematisch eine mögliche Realisierung des Übertragers (UEB) mit einer dreiphasigen Primärseite mit drei Primäranschlüssen (S2a, S2b, S2c) und zwei Sekundäranschlüssen (S3a, S3b) auf der Sekundärseite und einem angeschlossenen Ultraschalltransducer (TR) auf der Sekundärseite.7 shows schematically a possible implementation of the transformer (UEB) with a three-phase primary side with three primary connections (S2a, S2b, S2c) and two secondary connections (S3a, S3b) on the secondary side and a connected ultrasonic transducer (TR) on the secondary side. -
8 entspricht der2 mit dem Unterschied, dass das zweite analoge Signal (S2) dreiphasig ausgeführt ist und das dritte analoge Signal (S3) zweiphasig ausgeführt ist, wobei das das dritte analoge Signal (S3) mittels Vergleichseinheiten im Betrieb überwacht wird.8th equals to2 with the difference that the second analog signal (S2) is designed to be three-phase and the third analog signal (S3) to be two-phase, wherein the third analog signal (S3) is monitored in operation by means of comparison units. -
9 entspricht der2 mit dem Unterschied, dass das zweite analoge Signal (S2) dreiphasig ausgeführt ist und mittels Vergleichseinheiten in Sternkonfiguration im Betrieb überwacht wird und das dritte analoge Signal (S3) zweiphasig ausgeführt ist.9 equals to2 with the difference that the second analog signal (S2) has a three-phase configuration and is monitored during operation by means of comparator units in a star configuration and the third analog signal (S3) has a two-phase design. -
10 entspricht der2 mit dem Unterschied, dass das zweite analoge Signal (S2) dreiphasig ausgeführt ist und mittels Vergleichseinheiten in Dreieckskonfiguration im Betrieb überwacht wird und das dritte analoge Signal (S3) zweiphasig ausgeführt ist.10 equals to2 with the difference that the second analogue signal (S2) has a three-phase design and is monitored in operation by means of comparison units in triangular configuration, and the third analogue signal (S3) has a two-phase design. -
11 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand.11 shows important signals (d1, S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state. -
12 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der11 in der Sendephase (SP).12 corresponds to a temporal enlargement of the11 in the broadcast phase (SP). -
13 13 zeigt wichtige Signale (S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand, wobei nun ein Kurzschluss an dem inneren Ultraschalltransducer (TRi) zwischen dem ersten Teilsignal (S3a) des dritten analogen Signals (S3) und dem zweiten Teilsignal (S3b) des dritten analogen Signals (S3) vorliegt.13 13 shows important signals (S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, wherein now a short circuit on the inner ultrasonic transducer (TRi) between the first part signal (S3a) of the third analog signal (S3) and the second part signal (S3b) of the third analog signal (S3) is present. -
14 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der13 in der Sendephase (SP).14 corresponds to a temporal enlargement of the13 in the broadcast phase (SP). -
15 15 zeigt wichtige Signale (S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand wobei nun der innere Ultraschalltransducer (Tri) nicht angeschlossen ist, also das erste Teilsignal (S3a) des dritten analogen Signals (S3) oder das zweite Teilsignal (S3b) des dritten analogen Signals (S3) nicht mit Ultraschalltransducer (TR) verbunden ist.15 15 shows important signals (S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state wherein now the inner ultrasonic transducer (Tri) is not connected, so the first part signal (S3a) of the third analog signal (S3) or the second partial signal (S3b) of the third analog signal (S3) is not connected to the ultrasonic transducer (TR). -
16 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der15 in der Sendephase (SP).16 corresponds to a temporal enlargement of the15 in the broadcast phase (SP). -
17 17 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand wobei nun der Übertrager (UEB) mit einem Anschluss sekundärseitig nicht an das erste Teilsignal (S3a) des dritten analogen Signals (S3) angeschlossen ist.17 17 shows important signals (d1, S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state wherein now the transmitter (UEB) with a connection on the secondary side is not connected to the first part signal (S3a) of the third analog signal (S3) , -
18 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der17 in der Sendephase (SP).18 corresponds to a temporal enlargement of the17 in the broadcast phase (SP). -
19 19 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand, wobei nun der Übertrager (UEB) mit einem Anschluss sekundärseitig nicht an das zweite Teilsignal (S3b) des dritten analogen Signals (S3) angeschlossen ist.19 19 shows important signals (d1, S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, in which case the transmitter (UEB) with a connection on the secondary side is not connected to the second partial signal (S3b) of the third analog signal (S3) is. -
20 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der19 in der Sendephase (SP).20 corresponds to a temporal enlargement of the19 in the broadcast phase (SP). -
21 21 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand, wobei der Übertrager (UEB) mit einem Anschluss primärseitig nicht an das erste Teilsignal (S2a) des zweiten analogen Signals (S2) angeschlossen ist.21 21 shows important signals (d1, S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, wherein the transmitter (UEB) with a connection on the primary side is not connected to the first part signal (S2a) of the second analog signal (S2) , -
22 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der21 in der Sendephase (SP).22 corresponds to a temporal enlargement of the21 in the broadcast phase (SP). -
23 23 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand, wobei der Übertrager (UEB) mit einem Anschluss primärseitig nicht an das zweite Teilsignal (S2b) des zweiten analogen Signals (S2) angeschlossen ist.23 23 shows important signals (d1, S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, wherein the transmitter (UEB) with a connection on the primary side is not connected to the second part signal (S2b) of the second analog signal (S2) , -
24 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der23 in der Sendephase (SP).24 corresponds to a temporal enlargement of the23 in the broadcast phase (SP). -
25 25 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand, wobei der Übertrager (UEB) mit seinem Mittenanschluss primärseitig nicht an das dritte Teilsignal (S2c) des zweiten analogen Signals (S2) angeschlossen ist.25 25 shows important signals (d1, S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, the transmitter (UEB) with its center terminal on the primary side is not connected to the third sub-signal (S2c) of the second analog signal (S2) , -
26 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der25 in der Sendephase (SP).26 corresponds to a temporal enlargement of the25 in the broadcast phase (SP). -
27 27 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand, wobei primärseitig zwei Anschlüsse des Übertragers (UEB) und zwar das dritte Teilsignal (S2c) des zweiten analogen Signals (S2) und erste Teilsignal (S2a) des zweiten analogen Signals (S2) kurzgeschlossen sind.27 27 shows important signals (d1, S2c, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, wherein primary side two terminals of the transformer (UEB) and that the third partial signal (S2c) of the second analog signal (S2) and first partial signal (S2a ) of the second analog signal (S2) are short-circuited. -
28 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der27 in der Sendephase (SP).28 corresponds to a temporal enlargement of the27 in the broadcast phase (SP). -
29 29 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2a, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand, wobei primärseitig zwei Anschlüsse des Übertragers (UEB) und zwar das dritte Teilsignal (S2c) des zweiten analogen Signals (S2) und zweite Teilsignal (S2b) des zweiten analogen Signals (S2) kurzgeschlossen sind.29 29 shows important signals (d1, S2c, S2a, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, wherein primary side two terminals of the transformer (UEB) and that the third part signal (S2c) of the second analog signal (S2) and second part signal (S2b ) of the second analog signal (S2) are short-circuited. -
30 30 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der29 in der Sendephase (SP).30 30 corresponds to a temporal enlargement of the29 in the broadcast phase (SP). -
31 31 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand, wobei sekundärseitig der Transducer-Widerstand (RTR) nicht angeschlossen ist, also entweder an das erste Teilsignal (S3a) des dritten analogen Signals (S3) oder an das zweite Teilsignal (S3b) des dritten analogen Signals (S3) nicht an den Transducer-Widerstand (RTR) angeschlossen ist.31 31 shows important signals (d1, S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, on the secondary side, the transducer resistor (R TR ) not is connected, so either to the first sub-signal (S3a) of the third analog signal (S3) or to the second sub-signal (S3b) of the third analog signal (S3) is not connected to the transducer resistor (R TR ). -
32 32 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der31 in der Sendephase (SP).32 32 corresponds to a temporal enlargement of the31 in the broadcast phase (SP). -
33 33 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand wobei sekundärseitig die Transducer-Kapazität (CTR) nicht angeschlossen ist, also entweder an das erste Teilsignal (S3a) des dritten analogen Signals (S3) oder an das zweite Teilsignal (S3b) des dritten analogen Signals (S3) nicht an die Transducer-Kapazität (CTR) angeschlossen ist.33 33 shows important signals (d1, S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, where the secondary side, the transducer capacitance (C TR ) is not connected, either to the first part signal (S3a) of the third analog signal ( S3) or to the second sub-signal (S3b) of the third analog signal (S3) is not connected to the transducer capacitance (C TR ). -
34 34 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der33 in der Sendephase (SP).34 34 corresponds to a temporal enlargement of the33 in the broadcast phase (SP). -
35 35 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand, wobei primärseitig keine Ansteuerung des Treibers für das erste Teilsignal (S2a) des zweiten analogen Signals (S2) in der Treiberstufe (DR) vorliegt.35 35 shows important signals (d1, S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, wherein on the primary side there is no control of the driver for the first sub-signal (S2a) of the second analog signal (S2) in the driver stage (DR) , -
36 36 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der35 in der Sendephase (SP).36 36 corresponds to a temporal enlargement of the35 in the broadcast phase (SP). -
37 37 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand, wobei primärseitig der Treiber für das erste Teilsignal (S2a) des zweiten analogen Signals (S2) in der Treiberstufe (DR) gegen Masse kurzgeschlossen ist.37 37 shows important signals (d1, S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, wherein the primary shorted the driver for the first sub-signal (S2a) of the second analog signal (S2) in the driver stage (DR) to ground is. -
38 38 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der37 in der Sendephase (SP).38 38 corresponds to a temporal enlargement of the37 in the broadcast phase (SP). -
39 39 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand, wobei primärseitig keine Ansteuerung des Treibers für das zweite Teilsignal (S2b) des zweiten analogen Signals (S2) in der Treiberstufe (DR) vorliegt.39 39 shows important signals (d1, S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, wherein on the primary side there is no control of the driver for the second sub-signal (S2b) of the second analog signal (S2) in the driver stage (DR) , -
40 40 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der39 in der Sendephase (SP).40 40 corresponds to a temporal enlargement of the39 in the broadcast phase (SP). -
41 41 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand, wobei primärseitig der Treiber für das zweite Teilsignal (S2b) des zweiten analogen Signals (S2) in der Treiberstufe (DR) gegen Masse kurzgeschlossen ist.41 41 shows important signals (d1, S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, wherein the primary shorted the driver for the second sub-signal (S2b) of the second analog signal (S2) in the driver stage (DR) to ground is. -
42 42 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der41 in der Sendephase (SP).42 42 corresponds to a temporal enlargement of the41 in the broadcast phase (SP). -
43 43 zeigt wichtige Signale (d1, S2c, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand, wobei primärseitig keine Ansteuerung des Treibers für das dritte Teilsignal (S2c) des zweiten analogen Signals (S2) in der Treiberstufe (DR) vorliegt.43 43 shows important signals (d1, S2c, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, wherein on the primary side there is no control of the driver for the third sub-signal (S2c) of the second analog signal (S2) in the driver stage (DR) , -
44 44 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der43 in der Sendephase (SP).44 44 corresponds to a temporal enlargement of the43 in the broadcast phase (SP). -
45 45 zeigt wichtige Signale (d1, S2a, S2b, S5) bei Aussendung eines Ultraschall-Bursts im Betriebszustand, wobei primärseitig der Treiber für das dritte Teilsignal (S2c) des zweiten analogen Signals (S2) in der Treiberstufe (DR) gegen Masse kurzgeschlossen ist.45 45 shows important signals (d1, S2a, S2b, S5) when emitting an ultrasonic burst in the operating state, wherein the primary side of the driver for the third sub-signal (S2c) of the second analog signal (S2) in the driver stage (DR) is shorted to ground. -
46 46 entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der45 in der Sendephase (SP).46 46 corresponds to a temporal enlargement of the45 in the broadcast phase (SP). -
47 47 zeigt den bevorzugten Testablauf.47 47 shows the preferred test procedure. -
48 48 zeigt die Vorrichtung unter Nutzung einer Symmetrieprüfung.48 48 shows the device using a symmetry test. -
49 49 zeigt die Vorrichtung entsprechend48 mit konkreter Ausführung einer Symmetrieprüfung für die Sekundärseite des Übertragers (UEB).49 49 shows the device accordingly48 with concrete execution of a symmetry test for the secondary side of the transformer (UEB). -
50 50 zeigt die Vorrichtung entsprechend48 mit konkreter Ausführung einer Symmetrieprüfung für die Primärseite des Übertragers (UEB).50 50 shows the device accordingly48 with concrete execution of a symmetry test for the primary side of the transformer (UEB). -
51 51 vergleicht beispielhaft das ungestörte dritte Teilsignal (S2c) des zweiten analogen Signals (S2) (siehe auch11 ) mit dem gestörten dritten Teilsignal (S2c) des zweiten analogen Signals (S2) bei einem Kondensatorabriss des Transducer-Kondensators (CTR) (siehe34 ) und zweigt beispielhafte Analysesignale.51 51 compares, for example, the undisturbed third partial signal (S2c) of the second analog signal (S2) (see also FIG11 ) with the disturbed third partial signal (S2c) of the second analog signal (S2) in the event of a capacitor breakdown of the transducer capacitor (C TR ) (see34 ) and branches exemplary analysis signals. -
52 52 zeigt beispielhaft eine mögliche innere Struktur einer analogen Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE).52 52 shows by way of example a possible internal structure of an analog coefficient monitoring subdevice (KUE). -
53 53 entspricht der8 , wobei die Pegelüberwachungen nicht eingezeichnet sind. Stattdessen sind mögliche Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen eingezeichnet.53 53 equals to8th , where the level monitors are not drawn. Instead, possible coefficient monitoring sub-devices are shown. -
54 54 entspricht der52 , wobei nun zwei Komparatoren zur zusätzlichen Überwachung der beiden internen Koeffizientensignale vorgesehen sind.54 54 equals to52 , where now two comparators are provided for additional monitoring of the two internal coefficient signals. -
55 55 entspricht der54 , wobei nun das Verhältnis der beiden internen Koeffizientensignale nicht überwacht wird.55 55 equals to54 , where now the ratio of the two internal coefficient signals is not monitored. -
56 56 entspricht der55 , wobei nun nur ein internes Koeffizientensignal überwacht wird.56 56 equals to55 , where now only an internal coefficient signal is monitored.
Beschreibung der FigurenDescription of the figures
Figur 1FIG. 1
Das nullte Signal (
In Abhängigkeit von der Vorgeschichte und dem nullten Signal (
Die Treiberstufe (
Dabei muss es sich nicht unbedingt nur um eine Digital-zu-Analogwandlung eines digitalen Wertes handeln, der mittels des ersten digitalen Signals (
In einer zweiten, zeitlich nachfolgenden Phase, der Ausschwingphase (
In der dritten Phase, der Empfangsphase (
Ein analoger Multiplexer (
Der analoge Eingangsschaltkreis (
Ein digitaler Multiplexer (
Der digitale Eingangsschaltkreis (
Um nun das Sensorsystem (
Der erste Bypass-Signalpfad schließt die Sensorteilvorrichtung (
Der zweite Bypass schließt die analogen Teile des Sensorsystems (
Der digitale Eingangsschaltkreis (
entspricht der
equals to
entspricht der
equals to
entspricht der
equals to
entspricht der
equals to
entspricht der
equals to
Der Momentanwert des zweiten analogen Signals (
Der Momentanwert des dritten analogen Signals (
zeigt schematisch eine mögliche Realisierung des Übertragers (
shows schematically a possible realization of the transformer (
entspricht der
equals to
Ein erster Differenzverstärker (
Ein erster Komparator (
Ein zweiter Komparator (
Ein dritter Komparator (
entspricht der
equals to
Ein vierter Komparator (
Ein fünfter Komparator (
Ein sechster Komparator (
entspricht der
equals to
Ein zweiter Differenzverstärker (
Ein zehnter Komparator (
Ein dritter Differenzverstärker (
Ein elfter Komparator (
Ein vierter Differenzverstärker (
Ein zwölfter Komparator (
zeigt den zeitlichen Ablauf wichtiger Signale (
- 1. die erste Phase der Sendefrequenz, die Sendephase (
SP ), in der die Treiberstufe den Ultraschalltransducer (TR ) antreibt und ein Ultraschallmessignal (MS ) durch den Ultraschalltransducer ausgesendet wird; und - 2. die zweite Phase der Sendesequenz, die Ausschwingphase, in der die Treiberstufe dem Ultraschalltransducer (
TR ) Energie entzieht und dessen mechanische Schwingung dämpft, und - 3. die Empfangsphase (
EP ) in der der Ultraschalltransducer (TR ) ein Echo eines Ultraschallmesssignals (MS ) empfangen kann.
shows the timing of important signals (
- 1. the first phase of the transmission frequency, the transmission phase (
SP ), in which the driver stage the ultrasonic transducer (TR ) and an ultrasonic measuring signal (MS ) is emitted by the ultrasonic transducer; and - 2. the second phase of the transmission sequence, the decay phase, in which the driver stage the ultrasonic transducer (
TR ) Deprives energy and dampens its mechanical vibration, and - 3. the reception phase (
EP ) in which the ultrasound transducer (TR ) an echo of an ultrasonic measurement signal (MS ).
Des Weiteren sind dargestellt:
- 1. das erste Unterschiedssignal (
d1 ), das die differentielle Amplitude der elektrischen Potenzialdifferenz zwischen dem ersten Teilsignal (S3a ) des dritten analogen Signals (S3 ) und dem zweiten Teilsignal (S3b ) des dritten analogen Signals (S3 ), und. - 2. das dritte Teilsignal (
S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ), das den Pegel des elektrischen Potenzials an der Mittenanzapfung des Übertragers (UEB ) widergibt und - 3. das erste Teilsignal (
S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 ), das den Pegel des elektrischen Potenzials an einem ersten Anschluss des Übertragers (UEB ) widergibt und - 4. das zweite Teilsignal (
S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ), das den Pegel des elektrischen Potenzials an einem zweiten Anschluss des Übertragers (UEB ) widergibt und - 5. der digitalisierte Wert des fünften digitalen Signals (
S5 ), das den analog verstärkten, gefilterten und digitalisierten Wert widergibt.
- 1. the first difference signal (
d1 ), which determines the differential amplitude of the electric potential difference between the first partial signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ) and the second sub-signal (s3b ) of the third analog signal (S3 ), and. - 2. the third sub-signal (
S 2 cS2 ), which determines the level of the electrical potential at the center tap of the transformer (UEB ) and - 3. the first sub-signal (
S2a ) of the second analog signal (S2 ), which determines the level of the electrical potential at a first terminal of the transformer (UEB ) and - 4. the second sub-signal (
S 2 cS2 ), which is the level of the electrical potential at a second terminal of the transformer (UEB ) and - 5. the digitized value of the fifth digital signal (
S5 ), which reflects the analogue amplified, filtered and digitized value.
entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der
corresponds to a temporal enlargement of the
Symptomesymptoms
Der Ultraschalltransducer schwingt nicht korrekt. Daher kann eine Frequenzmessung und eine Messung der Ausschwingzeit durch den digitalen Eingangsschaltkreis (
entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der
corresponds to a temporal enlargement of the
Symptomesymptoms
Der Ultraschalltransducer schwingt nicht korrekt. Daher kann eine Messung der Ausschwingzeit durch den digitalen Eingangsschaltkreis (
entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der
corresponds to a temporal enlargement of the
Symptomesymptoms
Das nicht angeschlossene erste Teilsignal (
entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der
corresponds to a temporal enlargement of the
Symptomesymptoms
Das nicht angeschlossene zweite Teilsignal (
entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der
corresponds to a temporal enlargement of the
Symptomesymptoms
Das nicht angeschlossene erste Teilsignal (
Ein sechster Komparator (
entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der
corresponds to a temporal enlargement of the
Symptomesymptoms
Das nicht angeschlossene zweite Teilsignal (
Ein vierter Komparator (
entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der
corresponds to a temporal enlargement of the
Symptomesymptoms
Das nicht angeschlossene dritte Teilsignal (
entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der
corresponds to a temporal enlargement of the
Symptomesymptoms
Der Umstand dass das das dritte Teilsignal (
Die Amplitude am zweiten Teilsignal (
Ein vierter Komparator (
entspricht einer zeitlichen Vergrößerung der
corresponds to a temporal enlargement of the
Symptomesymptoms
Dass das das dritte Teilsignal (
Die Amplitude am ersten Teilsignal (
Ein sechster Komparator (
Der nicht angeschlossene Transducer-Widerstand (
Die nicht angeschlossene Transducer-Kapazität (
Eine Erfassbarkeit kann aber auf anderem Wege erzielt werden. Hierfür ist die Detailbetrachtung der
Der größte Unterschied zwischen dem Normalfall der
Auf diese Weise kann ein erster Wert für den ungeraden Signalanteil in dem dritten Teilsignal (
Eine entsprechende Vergleichsvorrichtung kann den ersten Wert mit einem zugeordneten Referenzwert für den ungeraden Signalanteil vergleichen und die Ausgabe eines Fehlersignals veranlassen, wenn dieser erste Wert über dem zugeordneten Referenzwert für den ungeraden Signalanteil liegt.A corresponding comparator may compare the first value with an associated reference value for the odd signal component and cause the output of an error signal if that first value is above the associated reference value for the odd signal component.
Eine weitere entsprechende Vergleichsvorrichtung kann den zweiten Wert mit einem zugeordneten Referenzwert für den geraden Signalanteil vergleichen und die Ausgabe eines Fehlersignals veranlassen, wenn dieser zweite Wert unter dem zugeordneten Referenzwert für den geraden Signalanteil liegt. Dieses Konzept wird in den Beschreibungen der
Dieser Fehler kann beispielsweise dann auftreten, wenn der Treibertransistor für das erste Teilsignal (
Eine Möglichkeit, diesen Fehler festzustellen, ist, wenige µs nach dem Einschalten dieses Transistors mit Hilfe des sechsten Komparators (
Eine andere Möglichkeit liegt wieder in der Analyse des geraden und ungeraden Signalanteils wie in der Beschreibung der
Eine weitere Möglichkeit liegt darin, dass aufgrund der Symmetrie der Vorrichtung der Signalverlauf des ersten Teilsignals (
Symptomesymptoms
Der primärseitig gegen Masse kurzgeschlossene Treiber für das erste Teilsignal (
Dieser Fehler kann beispielsweise dann auftreten, wenn der Treibertransistor für das zweite Teilsignal (
Eine Möglichkeit diesen Fehler festzustellen ist, wenige µs nach dem Einschalten dieses Transistors mit Hilfe des vierten Komparators (
Eine andere Möglichkeit liegt wieder in der Analyse des geraden und ungeraden Signalanteils wie in der Beschreibung der
Eine weitere Möglichkeit liegt darin, dass aufgrund der Symmetrie der Vorrichtung der Signalverlauf des ersten Teilsignals (
Symptomesymptoms
Der primärseitig gegen Masse kurzgeschlossene Treiber für das zweite Teilsignal (
Das entstehende Fehlerbild kann sowohl durch eine Auswertung der Ausschwingzeit als auch durch eine Vermessung mit Hilfe eines sechsten Komparators (
Bei einem niederohmigen Kurzschluss des Treibertransistors ist der Sendestrom deutlich erhöht. Dies kann anhand der Ausschwingzeit detektiert werden.In the case of a low-resistance short circuit of the driver transistor, the transmission current is significantly increased. This can be detected by the settling time.
Besonders vorteilhaft ist aber die Detektion durch einen sechsten Komparator (
Ebenso vorteilhaft ist die Detektion durch einen vierten Komparator (
Das vorgeschlagene Sensorsystem (
Insofern ist der Einschaltzustand (
Sind jedoch alle Prüfungen im dritten Testzustand (
Sind jedoch alle Prüfungen im zweiten Testzustand (
Die digitale Signalerzeugung (
Darüber hinaus, ist es sinnvoll, gerade in diesem ersten Testzustand (
In der
Des Weiteren ist in der
Sofern das integrierte fünfte Unterschiedssignal (
Sofern das integrierte sechste Unterschiedssignal (
Es ist zu erkennen, dass die symmetrische Form des ungestörten dritten Teilsignals (
Des Weiteren zeigt die
Das alternative erste beispielhafte Analysesignal (A2c_a') für die Koeffizentenüberwachung in der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
Das alternative zweite beispielhafte Analysesignal (A2c_b') für die Koeffizentenüberwachung in der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
Je nach Analysezweck können auch andere Wavelets gewählt werden. Da Fehler an dem Übertrager (
Somit ist es u.a. möglich, weitestgehend symmetrische Übertragerkurzschlüsse des Übertragers (
Diese Abtastungen erfolgen bevorzugt nur in der Sendephase (
Die Winkelberechnungseinheit (
Der interne Komparator (
Die
Natürlich ist es denkbar, mehr als zwei Analysesignale (
Ein zweiter interner Komparator (
Ein dritter interner Komparator (
Die
The
Umkonfiguration der Treiberstufe (
Dämpfung des zweiten Analogen Signals (
Aussparen einer Vorstufe des analogen Eingangsschaltkreises (
Die entsprechende Konfiguration des Sensorsystems (
Zum Abschluss der Figurenbeschreibung sollte noch erwähnt werden, dass insbesondere die Maßnahmen der
Glossarglossary
Frequenz-SweepFrequency sweep
Unter einem Frequenz-Sweep im Sinne dieser Offenlegung wird ein Vorgang verstanden, bei dem die Frequenz eines ersten digitalen Signals (
Ultraschalltransducerultrasound transducer
Ein Ultraschalltransducer im Sinne dieser Offenlegung setzt sich zusammen aus dem optionalen (bevorzugt aber vorhandenen) Transducer-Widerstand (
Testfall / PrüffallTest case / test case
Unter einem Testfall bzw. Prüffall wird im Sinne dieser Offenlegung eine vorbestimmte Konfiguration des Signalpfades und aller seiner Komponenten verstanden. Die Konfiguration erfolgt bevorzugt durch die Steuerungseinheit (
Testzustandtest condition
Unter einem Testzustand wird ein Zustand des Sensorsystems (
Signalkettesignal chain
Unter Signalkette wird die Weitergabe eines Signals innerhalb einer Kette von Vorrichtungsteilen des Sensorsystems (
Digitaler Teil der SignalketteDigital part of the signal chain
Unter dem digitalen Teil der Signalkette werden die Schaltungsteile verstanden, die vorwiegend in digitaler Schaltungstechnik ausgeführt sind. Im vorgelegten Beispiel sind dies die digitale Signalerzeugung (
Analoger Teil der SignalketteAnalog part of the signal chain
Unter dem analogen Teil der Signalkette werden die Schaltungsteile verstanden, die vorwiegend in analoger Schaltungstechnik ausgeführt sind. Im vorgelegten Beispiel sind dies die Treiberstufe (
Fehlermeldungenerror messages
Im Sinne dieser Offenbarung sind Informationen über detektierte Fehler, die über entsprechende Vorrichtungsteile, z.B. Leitungen, übermittelt werden oder an vorbestimmten oder ermittelbaren Stellen in Vorrichtungsteilen bereitgestellt werden. Das Bereitstellen solcher Informationen ist ein Erzeugen im Sinne dieser Offenlegung.For the purposes of this disclosure, information about detected faults transmitted via corresponding device parts, e.g. Lines are transmitted or provided in predetermined or determinable places in device parts. The provision of such information is a generation within the meaning of this disclosure.
Dreieckssignaltriangular wave
Unter einem Dreieckssignal ist ein Signal mit einem zeitlichen Amplitudenverlauf zu verstehen, bei dem dieser zeitliche Amplitudenverlauf durch eine unmittelbare Aufeinanderfolge von dreiecksförmigen Spannungsverläufen des betreffenden Signals gekennzeichnet ist und wobei diese Dreiecke näherungsweise gleichschenklig sein sollten (siehe auch Signal
Sägezahnsignalsawtooth
Unter einem Sägezahnsignal ist ein Signal mit einem zeitlichen Amplitudenverlauf zu verstehen, bei dem dieser zeitliche Amplitudenverlauf durch eine unmittelbare Aufeinanderfolge von dreiecksförmigen Spannungsverläufen des betreffenden Signals gekennzeichnet ist und wobei der eines Schenke eines solchen Dreiecks wesentlich steiler als der andere Schenkel ist (siehe auch Signal
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 1.TZ1.TZ
- erster Testzustand;first test condition;
- 2.TZ2.TZ
- zweiter Testzustand;second test condition;
- 3.TZ3.TZ
- dritter Testzustand;third test condition;
- A2a_aA2a_a
-
erstes beispielhaftes Analysesignal für die Koeffizentenüberwachung in der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE2a ) für das erste Teilsignal (S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 );first exemplary analysis signal for the Coefficient monitoring in the coefficient monitoring subdevice (KUE2a ) for the first sub-signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ); - A2a_bA2a_b
-
zweites beispielhaftes Analysesignal für die Koeffizentenüberwachung in der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE2a ) für das erste Teilsignal (S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 );second exemplary analysis signal for the coefficient monitoring in the coefficient monitoring subdevice (KUE2a ) for the first sub-signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ); - A2b_aA2b_a
-
erstes beispielhaftes Analysesignal für die Koeffizentenüberwachung in der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE2b ) für das zweite Teilsignal (S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 );first exemplary analysis signal for the coefficient monitoring in the coefficient monitoring subdevice (KUE2b ) for the second sub-signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ); - A2b_bA2b_b
-
zweites beispielhaftes Analysesignal für die Koeffizentenüberwachung in der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE2b ) für das zweite Teilsignal (S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 );second exemplary analysis signal for the coefficient monitoring in the coefficient monitoring subdevice (KUE2b ) for the second sub-signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ); - A2c_aA2c_a
-
erstes beispielhaftes Analysesignal für die Koeffizentenüberwachung in der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE2c ) für das dritte Teilsignal (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 );first exemplary analysis signal for the coefficient monitoring in the coefficient monitoring subdevice (KUE2c ) for the third sub-signal (S 2 cS2 ); - A2c_bA2c_b
-
zweites beispielhaftes Analysesignal für die Koeffizentenüberwachung in der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE2c ) für das dritte Teilsignal (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 );second exemplary analysis signal for the coefficient monitoring in the coefficient monitoring subdevice (KUE2c ) for the third sub-signal (S 2 cS2 ); - A2c_a'A2c_a '
-
erstes beispielhaftes Analysesignal für die Koeffizentenüberwachung in der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE2c ) für das dritte Teilsignal (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ), hier in einer alternativen beispielhaften Ausführung;first exemplary analysis signal for the coefficient monitoring in the coefficient monitoring subdevice (KUE2c ) for the third sub-signal (S 2 cS2 ), here in an alternative exemplary embodiment; - A2c_b'A2c_b '
-
zweites beispielhaftes Analysesignal für die Koeffizentenüberwachung in der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE2c ) für das dritte Teilsignal (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ), hier in einer alternativen beispielhaften Ausführung;second exemplary analysis signal for the coefficient monitoring in the coefficient monitoring subdevice (KUE2c ) for the third sub-signal (S 2 cS2 ), here in an alternative exemplary embodiment; - A3a_aA3a_a
-
erstes beispielhaftes Analysesignal für die Koeffizentenüberwachung in der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE3a ) für das erste Teilsignal (S3a ) des dritten analogen Signals (S3 );first exemplary analysis signal for the coefficient monitoring in the coefficient monitoring subdevice (KUE3a ) for the first sub-signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ); - A3a_bA3a_b
-
zweites beispielhaftes Analysesignal für die Koeffizentenüberwachung in der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE3a ) für das erste Teilsignal (S3a ) des dritten analogen Signals (S3 );second exemplary analysis signal for the coefficient monitoring in the coefficient monitoring subdevice (KUE3a ) for the first sub-signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ); - A3b_aA3b_a
-
erstes beispielhaftes Analysesignal für die Koeffizentenüberwachung in der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE3b ) für das zweite Teilsignal (S3b ) des dritten analogen Signals (S3 );first exemplary analysis signal for the coefficient monitoring in the coefficient monitoring subdevice (KUE3b ) for the second sub-signal (s3b ) of the third analog signal (S3 ); - A3b_bA3b_b
-
zweites beispielhaftes Analysesignal für die Koeffizentenüberwachung in der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE3b ) für das zweite Teilsignal (S3b ) des dritten analogen Signals (S3 );second exemplary analysis signal for the coefficient monitoring in the coefficient monitoring subdevice (KUE3b ) for the second sub-signal (s3b ) of the third analog signal (S3 ); - A_aa_a
-
erstes internes Analysesignal der betreffenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ). Dabei kann es sich beispielsweise um eines der folgenden Signale mit den folgenden Bezugszeichen handeln: A2a_a, A2b_a, A2c_a, A3a_a, A3b_a. Andere interne, symmetrische Signale können so auch überwacht werden. Das erste interne Analysesignal muss immer passend zur vorhandenen zeitlichen Symmetrie des zu analysierenden Signals (ZA ) und mit gleicher PeriodendauerT wie das zu analysierende Signal (ZA ) gewählt werden. Soll beispielsweise das erste Teilsignal (S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 ) überwacht werden, so sollte das erste interne Analysesignal nicht, wie in Figur 51 für das dritte Teilsignal (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ) für das entsprechende erste Analysesignal (A2c_a ) dargestellt, in jeder PeriodeT Pulse aufweisen, sondern phasenrichtig nur in jeder zweiten Periode. Bevorzugt wird das erste interne Analysesignal digital durch die digitale Signalerzeugung (DSO ) erzeugt;first internal analysis signal of the relevant coefficient monitoring subdevice (KUE ). This may, for example, be one of the following signals with the following reference symbols: A2a_a, A2b_a, A2c_a, A3a_a, A3b_a. Other internal symmetric signals can also be monitored. The first internal analysis signal must always match the existing temporal symmetry of the signal to be analyzed (ZA ) and with the same periodT like the signal to be analyzed (ZA ) to get voted. For example, if the first sub-signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ), the first internal analysis signal should not, as in FIG. 51, for the third partial signal (FIG.S 2 cS2 ) for the corresponding first analysis signal (A2c_a ), in each periodT Pulse, but in-phase only in every other period. Preferably, the first internal analysis signal is digitally generated by digital signal generation (DSO ) generated; - A_bFrom
-
zweites internes Analysesignal der betreffenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ). Dabei kann es sich beispielsweise um eines der folgenden Signale mit den folgenden Bezugszeichen handeln: A2a_b, A2b_b, A2c_b, A3a_b, A3b_b. Andere interne, symmetrische Signale können so auch überwacht werden. Das zweite interne Analysesignal muss immer passend zur vorhandenen zeitlichen Symmetrie des zu analysierenden Signals (ZA ) und mit gleicher PeriodendauerT wie das zu analysierende Signal (ZA ) gewählt werden. Soll beispielsweise das erste Teilsignal (S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 ) überwacht werden, so sollte das zweite interne Analysesignal nicht, wie in Figur 51 für das dritte Teilsignal (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ) für das entsprechende zweite Analysesignal (A2c_b ) dargestellt, in jeder PeriodeT Pulse aufweisen, sondern phasenrichtig nur in jeder zweiten Periode. Bevorzugt wird das zweite interne Analysesignal digital durch die digitale Signalerzeugung (DSO ) erzeugt;second internal analysis signal of the relevant coefficient monitoring subdevice (KUE ). This may, for example, be one of the following signals with the following reference symbols: A2a_b, A2b_b, A2c_b, A3a_b, A3b_b. Other internal symmetric signals can also be monitored. The second internal analysis signal must always match the existing temporal symmetry of the signal to be analyzed (ZA ) and with the same periodT like the signal to be analyzed (ZA ) to get voted. For example, if the first sub-signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ), the second internal analysis signal should not, as in FIG. 51, for the third partial signal (FIG.S 2 cS2 ) for the corresponding second analysis signal (A2c_b ), in each periodT Pulse, but in-phase only in every other period. Preferably, the second internal analysis signal is digitally generated by digital signal generation (DSO ) generated; - ADCADC
- Analog-zu-Digital-Wandler;Analog-to-digital converter;
- ACSACS
- analoge Kanalsimulationseinheit;analog channel simulation unit;
- AMXAMX
- analoger Multiplexer;analog multiplexer;
- APAP
- Ausschwingphase;decay phase;
- arctanarctan
-
Winkelberechnungseinheit. Bevorzugt weist jede Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) eine Winkelberechnungseinheit auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Die Winkelberechnungseinheit erzeugt aus dem ersten internen Koeffizientensignal (s3a ) und dem zweiten internen Koeffizientensignal (s3b ) das Winkelsignal (sα ). Bevorzugt stellt das Winkelsignal den arctan oder den arccot des Verhältnisses der Pegel des ersten internen Koeffizientensignals (s3a ) und des zweiten internen Koeffizientensignals (s3b ) dar. Näherungen und andere Auswertungen (z.B. einfache Division etc.) sind denkbar;Angle calculation unit. Preferably, each coefficient monitoring subdevice (KUE ) an angle calculation unit when the coefficient monitoring subdevice (KUE ) in the form of52 is realized. The angle calculation unit generates from the first internal coefficient signal (s3a ) and the second internal coefficient signal (s3b ) the angle signal (sα ). Preferably, the angle signal sets the arctan or arccot of the ratio of the levels of the first internal coefficient signal (s3a ) and the second internal coefficient signal (s3b approximations and other evaluations (eg simple division etc.) are conceivable; - ASAS
-
analoger Eingangsschaltkreis (Hat die Funktion eines Analog-zu-Digital-Wandlers (
ADC ));analog input circuit (Has the function of an analog-to-digital converter (ADC )); - ASSASS
-
Außenbereich außerhalb des Sensorsystems (
SS );Outside area outside the sensor system (SS ); - AVAV
- analoges Filter oder analoger Verstärker;analog filter or analog amplifier;
- C_XC_X
-
interner Komparator. Bevorzugt weisen Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen (
KUE ) einen internen Komparator (C_X ) auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Insbesondere kann es sich bezogen auf die53 um Komparatoren mit den BezugszeichenC15 ,C16 ,C17 ,C18 undC19 handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht eingezeichnet sind und sich innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a ,KUE2b ,KUE2c ,KUE3a undKUE3b befinden sollen. Der interne Komparator vergleicht den Pegel des Winkelsignals (sα ) mit dem internen Referenzwert (Ref_X ). Bei dem internen Referenzwert (Ref_X ) kann es sich bezogen auf die53 insbesondere um Referenzwerte mit den Bezugszeichen Ref15, Ref16, Ref17, Ref18 und Ref19 handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht eingezeichnet sind und sich innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b befinden sollen. In Abhängigkeit von dem Ergebnis dieses Vergleiches erzeugt der interne Komparator ein internes Vergleichsergebnissignal (v_X ). Bei dem internen Vergleichsergebnissignal (v_X ). kann es sich bezogen auf die53 insbesondere um Vergleichsergebnissignale mit den Bezugszeichenv15 ,v16 ,v17 ,v18 undv19 handeln, die innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a ,KUE2b ,KUE2c ,KUE3a undKUE3b gebildet werden.internal comparator. Preferably, coefficient monitoring subdevices (KUE ) an internal comparator (C_X ) when the Coefficient monitoring subdevice (KUE ) in the form of52 is realized. In particular, it may be based on the53 to comparators with the reference numeralsC15 .C16 .C17 .C18 andC19 act for simplification in the53 are not shown and within the corresponding coefficient monitoring sub-devices with the reference numeralsKUE2a .KUE2b .KUE2c .KUE3a andKUE3b should be located. The internal comparator compares the level of the angle signal (sα ) with the internal reference value (Ref_X ). For the internal reference value (Ref_X ) It can be related to the53 In particular reference values with reference numerals Ref15, Ref16, Ref17, Ref18 and Ref19 act, which for simplicity in the53 are not shown and within the corresponding coefficient monitoring sub-devices with the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b should be located. Depending on the result of this comparison, the internal comparator generates an internal comparison result signal (v_x ). In the internal comparison result signal (v_x ). can it be relative to the53 in particular to comparison result signals with the reference numeralsv15 .v16 .v17 .v18 andv19 within the corresponding coefficient monitoring subdevices with the reference numeralsKUE2a .KUE2b .KUE2c .KUE3a andKUE3b be formed. - C_YC_Y
-
zweiter interner Komparator. Bevorzugt weisen in einer Implementationsform Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen (
KUE ) einen zweiten internen Komparator (C_Y ) auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der54 realisiert wird. Insbesondere kann es sich bezogen auf die53 um Komparatoren handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht eingezeichnet sind und sich innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b befinden können. Der zweite interne Komparator vergleicht den Pegel ersten internen Koeffizientensignals (s3a ) mit dem zweiten internen Referenzwert (Ref_Y ). Bei dem zweiten internen Referenzwert (Ref_Y ) kann es sich bezogen auf die53 insbesondere um Referenzwerte handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht eingezeichnet sind und sich innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b befinden können. In Abhängigkeit von dem Ergebnis dieses Vergleiches erzeugt der zweite interne Komparator ein zweites internes Vergleichsergebnissignal (v_Y ). Bei dem zweiten internen Vergleichsergebnissignal (v_Y ) kann es sich bezogen auf die53 insbesondere um Vergleichsergebnissignale handeln, die innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a ,KUE2b ,KUE2c ,KUE3a undKUE3b gebildet werden und zur Vereinfachung nicht in der53 eingezeichnet sind.second internal comparator. In one implementation form, coefficient monitoring subdevices (KUE ) a second internal comparator (C_Y ) when the coefficient monitoring subdevice (KUE ) in the form of54 is realized. In particular, it may be based on the53 to act comparators, for simplification in the53 are not shown and within the corresponding coefficient monitoring sub-devices with the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b can be located. The second internal comparator compares the level of the first internal coefficient signal (s3a ) with the second internal reference value (Ref_Y ). For the second internal reference value (Ref_Y ) It can be related to the53 In particular, reference values should be used for simplification purposes53 are not shown and within the corresponding coefficient monitoring sub-devices with the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b can be located. Depending on the result of this comparison, the second internal comparator generates a second internal comparison result signal (v_Y ). In the second internal comparison result signal (v_Y ) It can be related to the53 in particular to compare result signals within the corresponding coefficient monitoring subdevices with the reference numeralsKUE2a .KUE2b .KUE2c .KUE3a andKUE3b be formed and not in the simplification53 are drawn. - C_ZC_Z
-
dritter interner Komparator. Bevorzugt weisen in einer Implementationsform Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen (
KUE ) einen dritten internen Komparator (C_Z ) auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der54 realisiert wird. Insbesondere kann es sich bezogen auf die53 um Komparatoren handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht eingezeichnet sind und sich innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b befinden können. Der dritte interne Komparator vergleicht den Pegel zweiten internen Koeffizientensignals (s3b ) mit dem dritten internen Referenzwert (Ref_Z ). Bei dem dritten internen Referenzwert (Ref_Z ) kann es sich bezogen auf die53 insbesondere um Referenzwerte handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht eingezeichnet sind und sich innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b befinden können. In Abhängigkeit von dem Ergebnis dieses Vergleiches erzeugt der dritte interne Komparator ein drittes internes Vergleichsergebnissignal (v_Z ). Bei dem dritten internen Vergleichsergebnissignal (v_Z ) kann es sich bezogen auf die53 insbesondere um Vergleichsergebnissignale handeln, die innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a ,KUE2b ,KUE2c ,KUE3a undKUE3b gebildet werden und zur Vereinfachung nicht in der53 eingezeichnet sind.third internal comparator. In one implementation form, coefficient monitoring subdevices (KUE ) a third internal comparator (C_Z ) when the coefficient monitoring subdevice (KUE ) in the form of54 is realized. In particular, it may be based on the53 to act comparators, for simplification in the53 are not shown and within the corresponding coefficient monitoring sub-devices with the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b can be located. The third internal comparator compares the level of the second internal coefficient signal (s3b ) with the third internal reference value (REF_Z ). For the third internal reference value (REF_Z ) It can be related to the53 In particular, reference values should be used for simplification purposes53 are not shown and within the corresponding coefficient monitoring sub-devices with the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b can be located. Depending on the result of this comparison, the third internal comparator generates a third internal comparison result signal (V_Z ). In the third internal comparison result signal (V_Z ) It can be related to the53 in particular to compare result signals within the corresponding coefficient monitoring subdevices with the reference numeralsKUE2a .KUE2b .KUE2c .KUE3a andKUE3b be formed and not in the simplification53 are drawn. - C1C1
-
erster Komparator. Der erste Komparator vergleicht das erste Unterschiedssignal (
d1 ) mit dem ersten Referenzwert (Ref1 ) und erzeugt das erste Vergleichsergebnissignal (v1 );first comparator. The first comparator compares the first difference signal (d1 ) with the first reference value (Ref 1 ) and generates the first comparison result signal (v1 ); - C2C2
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zweiter Komparator. Der zweite Komparator vergleicht das erste Teilsignal (
S3a ) des dritten analogen Signals (S3 ) mit dem zweiten Referenzwert (Ref2 ) und erzeugt das zweite Vergleichsergebnissignal (v2 );second comparator. The second comparator compares the first sub-signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ) with the second reference value (Ref2 ) and generates the second comparison result signal (v2 ); - C3C3
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dritter Komparator. Der dritte Komparator vergleicht das zweite Teilsignal (
S3b ) des dritten analogen Signals (S3 ) mit dem dritten Referenzwert (Ref3 ) und erzeugt das dritte Vergleichsergebnissignal (v3 );third comparator. The third comparator compares the second sub-signal (s3b ) of the third analog signal (S3 ) with the third reference value (Ref 3 ) and generates the third comparison result signal (v3 ); - C4C4
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vierter Komparator. Der vierte Komparator vergleicht das zweite Teilsignal (
S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 ) mit dem vierten Referenzwert (Ref4 ) und erzeugt das vierte Vergleichsergebnissignal (v4 );fourth comparator. The fourth comparator compares the second sub-signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ) with the fourth reference value (Ref4 ) and generates the fourth comparison result signal (v4 ); - C5C5
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fünfter Komparator. Der fünfte Komparator vergleicht das dritte Teilsignal (
S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ) mit dem fünften Referenzwert (Ref5 ) und erzeugt das fünfte Vergleichsergebnissignal (v5 );fifth comparator. The fifth comparator compares the third sub-signal (S 2 cS2 ) with the fifth reference value (ref5 ) and generates the fifth comparison result signal (v5 ); - C6C6
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sechster Komparator. Der sechste Komparator vergleicht das erste Teilsignal (
S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 ) mit dem sechsten Referenzwert (Ref6 ) und erzeugt das sechste Vergleichsergebnissignal (v6 );sixth comparator. The sixth comparator compares the first sub-signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ) with the sixth reference value (ref6 ) and generates the sixth comparison result signal (v6 ); - C10C10
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zehnter Komparator. Der zehnte Komparator vergleicht das zweite Unterschiedssignal (
d2 ) mit dem siebten Referenzwert (Ref7 ) und erzeugt das zehnte Vergleichsergebnissignal (v10 );tenth comparator. The tenth comparator compares the second difference signal (d2 ) with the seventh reference value (ref7 ) and generates the tenth comparison result signal (v10 ); - C11C11
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elfter Komparator. Der elfte Komparator vergleicht das dritte Unterschiedssignal (
d3 ) mit dem achten Referenzwert (Ref8 ) und erzeugt das elfte Vergleichsergebnissignal (v11 );eleventh comparator. The eleventh comparator compares the third difference signal (d3 ) with the eighth reference value (Ref8 ) and generates the eleventh comparison result signal (v11 ); - C12C12
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zwölfter Komparator. Der zwölfte Komparator vergleicht das vierte Unterschiedssignal (
d4 ) mit dem neunten Referenzwert (Ref9 ) und erzeugt das zwölfte Vergleichsergebnissignal (v12 );twelfth comparator. The twelfth comparator compares the fourth difference signal (d4 ) with the ninth reference value (Ref9 ) and generates the twelfth comparison result signal (v12 ); - C13C13
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dreizehnter Komparator. Der dreizehnte Komparator vergleicht das integrierte fünfte Unterschiedssignal (
d5i ) mit dem dreizehnten Referenzwert (Ref13 ) und erzeugt das dreizehnte Vergleichsergebnissignal (v13 );thirteenth comparator. The thirteenth comparator compares the integrated fifth difference signal (D5I ) with the thirteenth reference value (Ref13 ) and generates the thirteenth comparison result signal (v13 ); - C14C14
-
vierzehnter Komparator. Der vierzehnte Komparator vergleicht das integrierte fünfte Unterschiedssignal (
d5i ) mit dem vierzehnten Referenzwert (Ref14 ) und erzeugt das vierzehnte Vergleichsergebnissignal (v14 );Fourteenth comparator. The fourteenth comparator compares the integrated fifth difference signal (D5I ) with the fourteenth reference value (Ref14 ) and generated the fourteenth comparison result signal (v14 ); - C15C15
-
fünfzehnter Komparator. Der fünfzehnte Komparator vergleicht das Winkelsignal (
sα ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE3a ) des ersten Teilsignals (S3a ) des dritten analogen Signals (S3 ) mit dem fünfzehnten Referenzwert (Ref15 ) und erzeugt das fünfzehnte Vergleichsergebnissignal (v15 ). Der fünfzehnte Komparator (C15 ) befindet sich innerhalb der fifteenth comparator. The fifteenth comparator compares the angle signal (sα ) within the coefficient monitoring subdevice (KUE3a ) of the first partial signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ) with the fifteenth reference value (Ref15 ) and generates the fifteenth comparison result signal (v15 ). The fifteenth comparator (C15 ) is located within the - C16C16
-
Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE3a ) des ersten Teilsignals (S3a ) des dritten analogen Signals (S3 ); sechzehnter Komparator. Der sechzehnte Komparator vergleicht das Winkelsignal (sα ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE3b ) des zweiten Teilsignals (S3b ) des dritten analogen Signals (S3 ) mit dem sechzehnten Referenzwert (Ref16 ) und erzeugt das sechzehnte Vergleichsergebnissignal (v16 ). Der sechzehnte Komparator (C16 ) befindet sich innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE3b ) des zweiten Teilsignals (S3b ) des dritten analogen Signals (S3 );Coefficient monitoring subdevice (KUE3a ) of the first partial signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ); sixteenth comparator. The sixteenth comparator compares the angle signal (sα ) within the coefficient monitoring subdevice (KUE3b ) of the second partial signal (s3b ) of the third analog signal (S3 ) with the sixteenth reference value (Ref16 ) and generates the sixteenth comparison result signal (v16 ). The sixteenth comparator (C16 ) is within the coefficient monitoring subdevice (KUE3b ) of the second partial signal (s3b ) of the third analog signal (S3 ); - C17C17
-
siebzehnter Komparator. Der siebzehnte Komparator vergleicht das Winkelsignal (
sα ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2b ) des zweiten Teilsignals (S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 ) mit dem siebzehnten Referenzwert (Ref17 ) und erzeugt das siebzehnte Vergleichsergebnissignal (v17 ). Der siebzehnte Komparator (C17 ) befindet sich innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2b ) des zweiten Teilsignals (S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 );seventeenth comparator. The seventeenth comparator compares the angle signal (sα ) within the coefficient monitoring subdevice (KUE2b ) of the second partial signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ) with the seventeenth reference value (Ref17 ) and generates the seventeenth comparison result signal (v17 ). The seventeenth comparator (C17 ) is within the coefficient monitoring subdevice (KUE2b ) of the second partial signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ); - C18C18
-
achtzehnter Komparator. Der achtzehnte Komparator vergleicht das Winkelsignal (
sα ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2c ) des dritten Teilsignals (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ) mit dem achtzehnten Referenzwert (Ref18 ) und erzeugt das achtzehnte Vergleichsergebnissignal (v18 ). Der achtzehnte Komparator (C18 ) befindet sich innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2c ) des dritten Teilsignals (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 );eighteenth comparator. The eighteenth comparator compares the angle signal (sα ) within the coefficient monitoring subdevice (KUE2c ) of the third sub-signal (S 2 cS2 ) with the eighteenth reference value (Ref18 ) and generates the eighteenth comparison result signal (v18 ). The eighteenth comparator (C18 ) is within the coefficient monitoring subdevice (KUE2c ) of the third sub-signal (S 2 cS2 ); - C19C19
-
neunzehnter Komparator. Der neunzehnte Komparator vergleicht das Winkelsignal (
sα ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2a ) des ersten Teilsignals (S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 ) mit dem neunzehnten Referenzwert (Ref19 ) und erzeugt das neunzehnte Vergleichsergebnissignal (v19 ). Der neunzehnte Komparator (C19 ) befindet sich innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2a ) des ersten Teilsignals (S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 );nineteenth comparator. The nineteenth comparator compares the angle signal (sα ) within the coefficient monitoring subdevice (KUE2a ) of the first partial signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ) with the nineteenth reference value (Ref19 ) and generates the nineteenth comparison result signal (v19 ). The nineteenth comparator (C19 ) is within the coefficient monitoring subdevice (KUE2a ) of the first partial signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ); - CNCN
- Messkanal, insbesondere ein Ultraschallmesskanal;Measuring channel, in particular an ultrasonic measuring channel;
- CTRCTR
- Steuereinrichtung;Control means;
- CTR C TR
- Transducer-Kapazität;Transducer capacitance;
- d1d1
-
erstes Unterschiedssignal. Das erste Unterschiedssignal stellt in dem Beispiel der
3 die Differenz der Werte der Signalamplituden (als beispielhafte Parameterwerte) zwischen dem ersten Teilsignal (S3a ) des dritten analogen Signals (S3 ) und dem zweiten Teilsignal (S3b ) des dritten analogen Signals (S3 ) dar;first difference signal. The first difference signal represents in the example of3 the difference of the values of the signal amplitudes (as exemplary parameter values) between the first part signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ) and the second sub-signal (s3b ) of the third analog signal (S3 ); - d2d2
-
zweites Unterschiedssignal. Das zweite Unterschiedssignal stellt in dem Beispiel der
5 die Differenz der Werte der Signalamplituden (als beispielhafte Parameterwerte) zwischen dem zweiten Teilsignal (S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 ) und dem dritten Teilsignal (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ) dar;second difference signal. The second difference signal represents in the example of5 the difference between the values of the signal amplitudes (as exemplary parameter values) between the second partial signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ) and the third sub-signal (S 2 cS2 ); - d3d3
-
drittes Unterschiedssignal. Das dritte Unterschiedssignal stellt in dem Beispiel der
5 die Differenz der Werte der Signalamplituden (als beispielhafte Parameterwerte) zwischen dem dritten Teilsignal (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ) und dem ersten Teilsignal (S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 ) dar;third difference signal. The third difference signal represents in the example of5 the difference of the values of the signal amplitudes (as exemplary parameter values) between the third partial signal (S 2 cS2 ) and the first sub-signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ); - d4 d4
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viertes Unterschiedssignal. Das vierte Unterschiedssignal stellt in dem Beispiel der
5 die Differenz der Werte der Signalamplituden (als beispielhafte Parameterwerte) zwischen dem ersten Teilsignal (S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 ) des und dem zweiten Teilsignal (S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 ) dar;fourth difference signal. The fourth difference signal represents in the example of5 the difference of the values of the signal amplitudes (as exemplary parameter values) between the first part signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ) of the second partial signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ); - d5d5
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fünftes Unterschiedssignal. Das fünfte Unterschiedssignal stellt in dem Beispiel der
49 die Differenz der Werte der Signalamplituden (als beispielhafte Parameterwerte) zwischen dem ersten Teilsignal (S3am ) des dritten zwischengespeicherten Signals (S3m ) und dem zweiten Teilsignal (S3bm ) des dritten zwischengespeicherten Signals (S3m ) dar;fifth difference signal. The fifth difference signal represents in the example of49 the difference of the values of the signal amplitudes (as exemplary parameter values) between the first part signal (S3am ) of the third cached signal (s3m ) and the second sub-signal (S3bm ) of the third cached signal (s3m ); - d5iD5I
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integriertes fünftes Unterschiedssignal. Das integrierte fünfte Unterschiedssignal stellt in dem Beispiel der
49 den Ausgang des zweiten Integrators (INT2 ) dar, der das fünfte Unterschiedssignal (d5 ) über m TaktperiodenT integriert bevor er bevorzugt wieder zurückgesetzt wird. Hierbei ist m eine ganze positive Zahl. Am Ende der m Taktperioden stellt der Wert des integrierten fünften Unterschiedssignals ein Maß für die Asymmetrie der beiden Teilsignale des dritten analogen Signals (S3 ) dar;integrated fifth difference signal. The integrated fifth difference signal represents in the example of49 the output of the second integrator (INT2 ), which is the fifth difference signal (d5 ) over m clock periodsT integrated before he is preferably reset again. Here m is a whole positive number. At the end of the m clock periods, the value of the integrated fifth difference signal is a measure of the asymmetry of the two partial signals of the third analog signal (S3 ); - d6d6
-
sechstes Unterschiedssignal. Das sechste Unterschiedssignal stellt in dem Beispiel der
50 die Differenz der Werte der Signalamplituden (als beispielhafte Parameterwerte) zwischen dem ersten Teilsignal (S2am ) des zweiten zwischengespeicherten Signals (S2m ) und dem zweiten Teilsignal (S2bm ) des zweiten zwischengespeicherten Signals (S2m ) dar;sixth difference signal. The sixth difference signal represents in the example of50 the difference of the values of the signal amplitudes (as exemplary parameter values) between the first part signal (S2am ) of the second buffered signal (S2m ) and the second sub-signal (S2bm ) of the second buffered signal (S2m ); - d6iD6i
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integriertes sechstes Unterschiedssignal. Das integrierte sechste Unterschiedssignal stellt in dem Beispiel der
50 den Ausgang des ersten Integrators (INT1 ) dar, der das sechste Unterschiedssignal (d6 ) über m TaktperiodenT integriert bevor er bevorzugt wieder zurückgesetzt wird. Hierbei ist m eine ganze positive Zahl. Am Ende der m Taktperioden stellt der Wert des integrierten sechsten Unterschiedssignals ein Maß für die Asymmetrie der beiden Teilsignale des zweiten analogen Signals (S3 ) dar;integrated sixth difference signal. The integrated sixth difference signal represents in the example of50 the output of the first integrator (INT1 ) representing the sixth difference signal (d6 ) over m clock periodsT integrated before he is preferably reset again. Here m is a whole positive number. At the end of the m clock periods, the value of the integrated sixth difference signal provides a measure of the asymmetry of the two partial signals of the second analog signal (S3 ); - D1D1
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erster Differenzverstärker. Der erste Differenzverstärker bildet beispielsweise durch Differenzbildung aus einem Parameterwert des ersten Teilsignals (
S3a ) des dritten analogen Signals (S3 ) und aus einem Parameterwert des zweiten Teilsignals (S3b ) des dritten analogen Signals (S3 ) das erste Unterschiedssignal (d1 );first differential amplifier. The first differential amplifier forms, for example, by subtraction from a parameter value of the first partial signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ) and from a parameter value of the second partial signal (s3b ) of the third analog signal (S3 ) the first difference signal (d1 ); - D2D2
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zweiter Differenzverstärker. Der zweite Differenzverstärker bildet beispielsweise durch Differenzbildung aus einem Parameterwert des zweiten Teilsignals (
S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 ) und aus einem Parameterwert des dritten Teilsignals (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ) das zweite Unterschiedssignal (d2 );second differential amplifier. The second differential amplifier forms, for example, by subtraction from a parameter value of the second partial signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ) and from a parameter value of the third partial signal (S 2 cS2 ) the second difference signal (d2 ); - D3D3
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dritter Differenzverstärker. Der dritte Differenzverstärker bildet beispielsweise durch Differenzbildung aus einem Parameterwert des dritten Teilsignals (
S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ) und aus einem Parameterwert des ersten Teilsignals (S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 ) das dritte Unterschiedssignal (d3 );third differential amplifier. The third differential amplifier forms, for example, by subtraction from a parameter value of the third partial signal (S 2 cS2 ) and from a parameter value of the first partial signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ) the third difference signal (d3 ); - D4D4
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vierter Differenzverstärker. Der vierte Differenzverstärker bildet beispielsweise durch Differenzbildung aus einem Parameterwert des ersten Teilsignals (
S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 ) und aus einem Parameterwert des zweiten Teilsignals (S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 ) das vierte Unterschiedssignal (d4 );fourth differential amplifier. The fourth differential amplifier forms, for example, by subtraction from a parameter value of the first partial signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ) and from a parameter value of the second partial signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ) the fourth difference signal (d4 ); - D5D5
-
fünfter Differenzverstärker. Der fünfte Differenzverstärker bildet beispielsweise durch Differenzbildung aus einem Parameterwert des ersten Teilsignals (
S3am ) des dritten zwischengespeicherten Signals (S3m ) und aus einem Parameterwert des zweiten Teilsignals (S3bm ) des dritten zwischengespeicherten Signals (S3m ) das fünfte Unterschiedssignal (d5 );fifth differential amplifier. The fifth differential amplifier forms, for example, by subtraction from a parameter value of the first partial signal (S3am ) of the third cached signal (s3m ) and from a parameter value of the second partial signal (S3bm ) of the third cached signal (s3m ) the fifth difference signal (d5 ); - D6 D6
-
sechster Differenzverstärker. Der sechste Differenzverstärker bildet beispielsweise durch Differenzbildung aus einem Parameterwert des ersten Teilsignals (
S2am ) des zweiten zwischengespeicherten Signals (S2m ) und aus einem Parameterwert des zweiten Teilsignals (S2bm ) des zweiten zwischengespeicherten Signals (S2m ) das sechste Unterschiedssignal (d6 );sixth differential amplifier. The sixth differential amplifier forms, for example, by subtraction from a parameter value of the first partial signal (S2am ) of the second buffered signal (S2m ) and from a parameter value of the second partial signal (S2bm ) of the second buffered signal (S2m ) the sixth difference signal (d6 ); - DCSDCS
- digitale Kanalsimulationseinheit;digital channel simulation unit;
- DMXDMX
- digitaler Multiplexer;digital multiplexer;
- DRDR
- Treiberstufe;Driver stage;
- DSIDSI
- digitaler Eingangsschaltkreis;digital input circuit;
- DSODSO
- digitale Signalerzeugung;digital signal generation;
- EPEP
- Empfangsphase;Reception phase;
- ESIT
- Empfangssignal, insbesondere ein Ultraschallempfangssignal;Receive signal, in particular an ultrasonic receive signal;
- EZEZ
- Einschaltzustand;ON;
- F1F1
-
erster Filter. Bevorzugt weist jede Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) einen ersten Filter auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Der erste Filter filtert das erste interne Filtereingangssignal (s1a ) zu einem ersten Filterausgangssignal (s2a ). Der erste Filter ist bevorzugt ein Integrator oder zumindest ein Tiefpass. Dadurch bildet der erste Filter mit dem ersten Multiplizierer (M1 ) eine erste Skalar-Produkteinheit und bildet also zusammen mit dem ersten Multiplizierer (M1 ) ein Skalarprodukt aus dem zu analysierenden Signal (ZA ) und dem ersten Analysesignal (A_a ). Das erste Filterausgangssignal (s2a ) repräsentiert also dieses so ermittelte Skalarprodukt. Allerdings sind die Grenzen dieses ersten Skalarprodukts noch unbestimmt. Daher ist die nachfolgende erste interne Sample-and-Hold-Einheit (S&H_Ca ) notwendig um die erste Skalar-Produkteinheit zu vervollständigen;first filter. Preferably, each coefficient monitoring subdevice (KUE ) a first filter when the coefficient monitoring subdevice (KUE ) in the form of52 is realized. The first filter filters the first internal filter input signal (s 1a ) to a first filter output (s 2a ). The first filter is preferably an integrator or at least a low pass. As a result, the first filter forms with the first multiplier (M1 ) a first scalar product unit and thus forms together with the first multiplier (M1 ) a scalar product from the signal to be analyzed (ZA ) and the first analysis signal (a_a ). The first filter output signal (s 2a ) thus represents this scalar product thus determined. However, the limits of this first dot product are still undetermined. Therefore, the following first internal sample-and-hold unit (S & H_Ca ) necessary to complete the first scalar product unit; - F2F2
-
zweiter Filter. Bevorzugt weist jede Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) einen zweiten Filter auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Der zweite Filter filtert das zweite interne Filtereingangssignal (s1b ) zu zweiten ersten Filterausgangssignal (s2b ). Der zweite Filter ist bevorzugt ein Integrator oder zumindest ein Tiefpass. Dadurch bildet der zweite Filter mit dem zweiten Multiplizierer (M2 ) eine zweite Skalar-Produkteinheit und bildet also zusammen mit dem zweiten Multiplizierer (M2 ) ein Skalarprodukt aus dem zu analysierenden Signal (ZA ) und dem zweiten Analysesignal (A_b ). Das zweite Filterausgangssignal (s2b ) repräsentiert also dieses so ermittelte Skalarprodukt. Allerdings sind die Grenzen dieses zweiten Skalarprodukts noch unbestimmt. Daher ist die nachfolgende zweite interne Sample-and-Hold-Einheit (S&H_Cb ) notwendig um die Skalar-Produkteinheit zu vervollständigen;second filter. Preferably, each coefficient monitoring subdevice (KUE ) a second filter when the coefficient monitoring subdevice (KUE ) in the form of52 is realized. The second filter filters the second internal filter input signal (s1b ) to second first filter output (s2b ). The second filter is preferably an integrator or at least a low-pass filter. As a result, the second filter forms with the second multiplier (M2 ) a second scalar product unit and thus forms together with the second multiplier (M2 ) a scalar product from the signal to be analyzed (ZA ) and the second analysis signal (From ). The second filter output signal (s2b ) thus represents this scalar product thus determined. However, the limits of this second scalar product are still undetermined. Therefore, the following second internal sample-and-hold unit (S & H_Cb ) necessary to complete the scalar product unit; - FZFZ
- Fehlerzustand;Error condition;
- INT1INT1
- erster Integrator;first integrator;
- INT2INT2
- zweiter Integrator;second integrator;
- IOIO
- Datenschnittstelle;Data interface;
- KUEKUE
- Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung;Coefficient monitoring part device;
- KUE2aKUE2a
-
Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung des ersten Teilsignals (
S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 );Coefficient monitoring sub-device of the first sub-signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ); - KUE2bKUE2b
-
Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung des zweiten Teilsignals (
S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 );Coefficient monitoring sub-device of the second sub-signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ); - KUE2cKUE2c
-
Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung des dritten Teilsignals (
S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 );Coefficient monitoring sub-device of the third sub-signal (S 2 cS2 ); - KUE3aKUE3a
-
Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung des ersten Teilsignals (
S3a ) des dritten analogen Signals (S3 );Coefficient monitoring sub-device of the first sub-signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ); - KUE3bKUE3b
-
Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung des zweiten Teilsignals (
S3a ) des dritten analogen Signals (S3 );Coefficient monitoring sub-device of the second sub-signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ); - mm
- Anzahl der Taktperioden über die integriert wird;Number of clock periods over which is integrated;
- M1 M1
-
erster Multiplizierer. Bevorzugt weist jede Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) einen ersten Multiplizierer auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Der erste Multiplizierer multipliziert innerhalb der betreffenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) das für die betreffende Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) zutreffende erste interne AnalysesignalA_a mit dem für die betreffende Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) zu analysierende Signal (ZA ) um ein erstes internes Filtereingangssignal (s1a ) zu erhalten;first multiplier. Preferably, each coefficient monitoring subdevice (KUE ) comprises a first multiplier when the coefficient monitoring subdevice (KUE ) in the form of52 is realized. The first multiplier multiplies within the respective coefficient monitoring subdevice (KUE ) for the relevant coefficient monitoring subdevice (KUE ) true first internal analysis signala_a with the coefficient monitoring subsystem (KUE ) signal to be analyzed (ZA ) by a first internal filter input signal (s 1a ) to obtain; - M2M2
-
zweiter Multiplizierer. Bevorzugt weist jede Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) einen zweiten Multiplizierer auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Der zweite Multiplizierer multipliziert innerhalb der betreffenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) das für die betreffende Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) zutreffende zweite interne AnalysesignalA_b mit dem für die betreffende Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) zu analysierende Signal (ZA ) um ein zweites internes Filtereingangssignal (s1b ) zu erhalten;second multiplier. Preferably, each coefficient monitoring subdevice (KUE ) a second multiplier when the coefficient monitoring subdevice (KUE ) in the form of52 is realized. The second multiplier multiplies within the relevant coefficient monitoring subdevice (KUE ) for the relevant coefficient monitoring subdevice (KUE ) true second internal analysis signalFrom with the coefficient monitoring subsystem (KUE ) signal to be analyzed (ZA ) by a second internal filter input signal (s1b ) to obtain; - MSMS
- Messsignal, insbesondere ein Ultraschallmesssignal;Measuring signal, in particular an ultrasonic measuring signal;
- Ref_XRef_X
-
interner Referenzwert. Bevorzugt nutzen Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) einen internen Referenzwert, wenn sie in der Form der52 realisiert werden. Bei dem internen Referenzwert (Ref_X ) kann es sich bezogen auf die53 insbesondere um Referenzwerte mit den BezugszeichenRef15 ,Ref16 ,Ref17 ,Ref18 undRef19 handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht eingezeichnet sind und sich innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a ,KUE2b ,KUE2c ,KUE3a undKUE3b befinden sollen.internal reference value. Preferably, coefficient monitoring subdevices (KUE ) an internal reference value, if they are in the form of52 will be realized. For the internal reference value (Ref_X ) It can be related to the53 in particular by reference values with the reference numeralsRef15 .Ref16 .Ref17 .Ref18 andRef19 act for simplification in the53 are not shown and within the corresponding coefficient monitoring sub-devices with the reference numeralsKUE2a .KUE2b .KUE2c .KUE3a andKUE3b should be located. - Ref_YRef_Y
-
zweiter interner Referenzwert. Bevorzugt nutzen Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) einen zweiten internen Referenzwert (Ref_Y ), wenn sie in der Form der54 ,55 oder56 realisiert werden. Bei dem zweiten internen Referenzwert (Ref_Y ) kann es sich bezogen auf die53 um Referenzwerte handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht eingezeichnet sind und sich innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b befinden sollen.second internal reference value. Preferably, coefficient monitoring subdevices (KUE ) a second internal reference value (Ref_Y ), if in the form of54 .55 or56 will be realized. For the second internal reference value (Ref_Y ) It can be related to the53 to act as reference values for simplification in the53 are not shown and within the corresponding coefficient monitoring sub-devices with the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b should be located. - Ref_ZREF_Z
-
dritter interner Referenzwert. Bevorzugt nutzen Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) einen dritten internen Referenzwert (Ref_Z ), wenn sie in der Form der54 ,55 oder56 realisiert werden. Bei dem dritten internen Referenzwert (Ref_Z ) kann es sich bezogen auf die53 um Referenzwerte handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht eingezeichnet sind und sich innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b befinden sollen.third internal reference value. Preferably, coefficient monitoring subdevices (KUE ) a third internal reference value (REF_Z ), if in the form of54 .55 or56 will be realized. For the third internal reference value (REF_Z ) It can be related to the53 to act as reference values for simplification in the53 are not shown and within the corresponding coefficient monitoring sub-devices with the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b should be located. -
Ref1
Ref 1 -
erster Referenzwert. Der erste Referenzwert dient als Vergleichswert für das erste Unterschiedssignal (
d1 ) zur Erzeugung des ersten Vergleichsergebnissignals (v1 ) durch den ersten Komparator (C1 );first reference value. The first reference value serves as comparison value for the first difference signal (d1 ) for generating the first comparison result signal (v1 ) by the first comparator (C1 ); - Ref2Ref2
-
zweiter Referenzwert. Der zweite Referenzwert dient als Vergleichswert für das erste Teilsignal (
S3a ) des dritten analogen Signals (S3 ) zur Erzeugung des zweiten Vergleichsergebnissignals (v2 ) durch den zweiten Komparator (C2 );second reference value. The second reference value serves as comparison value for the first sub-signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ) for generating the second comparison result signal (v2 ) by the second comparator (C2 ); - Ref3Ref 3
-
dritter Referenzwert. Der dritte Referenzwert dient als Vergleichswert für das zweite Teilsignal (
S3b ) des dritten analogen Signals (S3 ) zur Erzeugung des dritten Vergleichsergebnissignals (v3 ) durch den dritten Komparator (C3 );third reference value. The third reference value serves as comparison value for the second sub-signal (s3b ) of the third analog signal (S3 ) for generating the third comparison result signal (v3 ) by the third comparator (C3 ); - Ref4Ref4
-
vierter Referenzwert. Der vierte Referenzwert dient als Vergleichswert für das zweite Teilsignal (
S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 ) zur Erzeugung des vierten Vergleichsergebnissignals (v4 ) durch den vierten Komparator (C4 );fourth reference value. The fourth reference value serves as comparison value for the second partial signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ) for generating the fourth comparison result signal (v4 ) by the fourth comparator (C4 ); - Ref5ref5
-
fünfter Referenzwert. Der fünfte Referenzwert dient als Vergleichswert für das dritte Teilsignal (
S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ) zur Erzeugung des fünften Vergleichsergebnissignals (v5 ) durch den fünften Komparator (C5 );fifth reference value. The fifth reference value serves as comparison value for the third sub-signal (S 2 cS2 ) for generating the fifth comparison result signal (v5 ) by the fifth comparator (C5 ); - Ref6ref6
-
sechster Referenzwert. Der sechste Referenzwert dient als Vergleichswert für das erste Teilsignal (
S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 ) zur Erzeugung des sechsten Vergleichsergebnissignals (v6 ) durch den sechsten Komparator (C6 );sixth reference value. The sixth reference value serves as a comparison value for the first sub-signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ) for generating the sixth comparison result signal (v6 ) by the sixth comparator (C6 ); - Ref7ref7
-
siebter Referenzwert. Der siebte Referenzwert dient als Vergleichswert für das zweite Unterschiedssignal (
d2 ) zur Erzeugung des zehnten Vergleichsergebnissignals (v10 ) durch den zehnten Komparator (C10 );seventh reference value. The seventh reference value serves as a comparison value for the second difference signal (d2 ) for generating the tenth comparison result signal (v10 ) by the tenth comparator (C10 ); - Ref8Ref8
-
achter Referenzwert. Der achte Referenzwert dient als Vergleichswert für das dritte Unterschiedssignal (
d3 ) zur Erzeugung des elften Vergleichsergebnissignals (v11 ) durch den elften Komparator (C11 );eighth reference value. The eighth reference value serves as comparison value for the third difference signal (d3 ) for generating the eleventh comparison result signal (v11 ) by the eleventh comparator (C11 ); - Ref9Ref9
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neunter Referenzwert. Der neunte Referenzwert dient als Vergleichswert für das vierte Unterschiedssignal (
d4 ) zur Erzeugung des zwölften Vergleichsergebnissignals (v12 ) durch den zwölften Komparator (C12 );ninth reference value. The ninth reference value serves as comparison value for the fourth difference signal (d4 ) for generating the twelfth comparison result signal (v12 ) through the twelfth comparator (C12 ); - Ref13Ref13
-
dreizehnter Referenzwert. Der dreizehnte Referenzwert dient als Vergleichswert für das integrierte sechste Unterschiedssignal (
d6i ) zur Erzeugung des dreizehnten Vergleichsergebnissignals (v13 ) durch den dreizehnten Komparator (C13 );thirteenth reference value. The thirteenth reference value serves as a comparison value for the integrated sixth difference signal (D6i ) for generating the thirteenth comparison result signal (v13 ) through the thirteenth comparator (C13 ); - Ref14Ref14
-
vierzehnter Referenzwert. Der vierzehnte Referenzwert dient als Vergleichswert für das integrierte fünfte Unterschiedssignal (
d5i ) zur Erzeugung des vierzehnten Vergleichsergebnissignals (v14 ) durch den vierzehnten Komparator (C14 );fourteenth reference value. The fourteenth reference value serves as a comparison value for the integrated fifth difference signal (D5I ) for generating the fourteenth comparison result signal (v14 ) by the fourteenth comparator (C14 ); - Ref15Ref15
-
fünfzehnter Referenzwert. Der fünfzehnte Referenzwert dient als Vergleichswert für das Winkelsignal (
sα ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE3a ) des ersten Teilsignals (S3a ) des dritten analogen Signals (S3 ) zur Erzeugung des fünfzehnten Vergleichsergebnissignals (v15 ) durch den fünfzehnten Komparator (C15 ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE3a ) des ersten Teilsignals (S3a ) des dritten analogen Signals (S3 );fifteenth reference value. The fifteenth reference value serves as a comparison value for the angle signal (sα ) within the coefficient monitoring subdevice (KUE3a ) of the first partial signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ) for generating the fifteenth comparison result signal (v15 ) by the fifteenth comparator (C15 ) within the coefficient monitoring subdevice (KUE3a ) of the first partial signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ); - Ref16Ref16
-
sechzehnter Referenzwert. Der sechzehnte Referenzwert dient als Vergleichswert für das Winkelsignal (
sα ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE3b ) des zweiten Teilsignals (S3b ) des dritten analogen Signals (S3 ) zur Erzeugung des sechzehnten Vergleichsergebnissignals (v16 ) durch den sechzehnten Komparator (C16 ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE3b ) des zweiten Teilsignals (S3b ) des dritten analogen Signals (S3 );sixteenth reference value. The sixteenth reference value serves as a comparison value for the angle signal (sα ) within the coefficient monitoring subdevice (KUE3b ) of the second partial signal (s3b ) of the third analog signal (S3 ) for generating the sixteenth comparison result signal (v16 ) by the sixteenth comparator (C16 ) within the coefficient monitoring subdevice (KUE3b ) of the second partial signal (s3b ) of the third analog signal (S3 ); - Ref17Ref17
-
siebzehnter Referenzwert. Der siebzehnte Referenzwert dient als Vergleichswert für das Winkelsignal (
sα ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2b ) des zweiten Teilsignals (S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 ) zur Erzeugung des siebzehnten Vergleichsergebnissignals (v17 ) durch den siebzehnten Komparator (C17 ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2b ) des zweiten Teilsignals (S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 );seventeenth reference value. The seventeenth reference value serves as a comparison value for the angle signal (sα ) within the coefficient monitoring subdevice (KUE2b ) of the second partial signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ) for generating the seventeenth comparison result signal (v17 ) by the seventeenth comparator (C17 ) within the coefficient monitoring subdevice (KUE2b ) of the second partial signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ); - Ref18Ref18
-
achtzehnter Referenzwert. Der achtzehnte Referenzwert dient als Vergleichswert für das Winkelsignal (
sα ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2c ) des dritten Teilsignals (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ) zur Erzeugung des achtzehnten Vergleichsergebnissignals (v18 ) durch den achtzehnten Komparator (C18 ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2c ) des dritten Teilsignals (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 );eighteenth reference value. The eighteenth reference value serves as a comparison value for the angle signal (sα ) within the Coefficient monitoring subdevice (KUE2c ) of the third sub-signal (S 2 cS2 ) for generating the eighteenth comparison result signal (v18 ) through the eighteenth comparator (C18 ) within the coefficient monitoring subdevice (KUE2c ) of the third sub-signal (S 2 cS2 ); - Ref19Ref19
-
neunzehnter Referenzwert. Der neunzehnte Referenzwert dient als Vergleichswert für das Winkelsignal (
sα ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2a ) des ersten Teilsignals (S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 ) zur Erzeugung des neunzehnten Vergleichsergebnissignals (v19 ) durch den neunzehnten Komparator (C19 ) innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2a ) des ersten Teilsignals (S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 );nineteenth reference value. The nineteenth reference value serves as a comparison value for the angle signal (sα ) within the coefficient monitoring subdevice (KUE2a ) of the first partial signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ) for generating the nineteenth comparison result signal (v19 ) by the nineteenth comparator (C19 ) within the coefficient monitoring subdevice (KUE2a ) of the first partial signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ); - RTR R TR
- Transducer-Widerstand;Transducer resistance;
- sαsα
-
Winkelsignal. Bevorzugt weist jede Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) ein Winkelsignal auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Das Winkelsignal wird durch die Winkelberechnungseinheit der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) erzeugt. Bevorzugt stellt das Winkelsignal den arctan oder den arccot des Verhältnisses der Pegel des ersten internen Koeffizientensignals (s3a ) und des zweiten internen Koeffizientensignals (s3b ) dar. Näherungen und andere Auswertungen (z.B. einfache Division etc.) sind denkbar;Angle signal. Preferably, each coefficient monitoring subdevice (KUE ) an angle signal when the coefficient monitoring subdevice (KUE ) in the form of52 is realized. The angle signal is detected by the angle calculation unit of the coefficient monitoring subdevice (KUE ) generated. Preferably, the angle signal sets the arctan or arccot of the ratio of the levels of the first internal coefficient signal (s3a ) and the second internal coefficient signal (s3b approximations and other evaluations (eg simple division etc.) are conceivable; - S&H_AaS & H_Aa
- erster Phasenschieber der ersten Symmetrieprüfvorrichtung (SPA);first phase shifter of the first symmetry tester (SPA);
- S&H_AbS & H_Ab
- zweiter Phasenschieber der ersten Symmetrieprüfvorrichtung (SPA);second phase shifter of the first symmetry tester (SPA);
- S&H_BaS & H_Ba
-
erster Phasenschieber der zweiten Symmetrieprüfvorrichtung (
SPB );first phase shifter of the second symmetry tester (SPB ); - S&H_BbS & H_Bb
-
zweiter Phasenschieber der zweiten Symmetrieprüfvorrichtung (
SPB );second phase shifter of the second symmetry tester (SPB ); - S&H_CaS & H_Ca
-
erste interne Sample-and-Hold-Einheit. Bevorzugt weist jede Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) eine erste interne Sample-and-Hold-Einheit auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Am zeitlichen Ende einer oder mehrerer vollständiger PeriodenT des zu analysierenden Signals (ZA ) tastet die erste interne Sample-and-Hold-Einheit das erste interne Filterausgangssignal (S2a ) ab und bildet so das erste interne Koeffizientensignal (S3a ). Die Abtastung erfolgt bevorzugt nur in der Sendephase (SP ) oder zu ausgewählten Zeiträumen innerhalb der Sendephase (SP ). Die Steuerung der ersten internen Sample-and-Hold-Einheit erfolgt bevorzugt durch die digitale Signalerzeugungseinheit (DSO );first internal sample-and-hold unit. Preferably, each coefficient monitoring subdevice (KUE ) a first internal sample and hold unit when the coefficient monitoring subdevice (KUE ) in the form of52 is realized. At the end of one or more complete periodsT the signal to be analyzed (ZA ), the first internal sample-and-hold unit samples the first internal filter output (S2a ) and thus forms the first internal coefficient signal (S3a ). The sampling preferably takes place only in the transmission phase (SP ) or at selected time periods within the transmission phase (SP ). The control of the first internal sample-and-hold unit is preferably carried out by the digital signal generation unit (DSO ); - S&H_CbS & H_Cb
-
zweite interne Sample-and-Hold-Einheit. Bevorzugt weist jede Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) eine zweite interne Sample-and-Hold-Einheit auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Am zeitlichen Ende einer oder mehrerer vollständiger PeriodenT des zu analysierenden Signals (ZA ) tastet die zweite interne Sample-and-Hold-Einheit das zweite interne Filterausgangssignal (S2b ) ab und bildet so das zweite interne Koeffizientensignal (S3b ). Die Abtastung erfolgt bevorzugt nur in der Sendephase (SP ) oder zu ausgewählten Zeiträumen innerhalb der Sendephase (SP ). Die Steuerung der ersten internen Sample-and-Hold-Einheit erfolgt bevorzugt durch die digitale Signalerzeugungseinheit (DSO );second internal sample-and-hold unit. Preferably, each coefficient monitoring subdevice (KUE ) a second internal sample and hold unit when the coefficient monitoring subdevice (KUE ) in the form of52 is realized. At the end of one or more complete periodsT the signal to be analyzed (ZA ), the second internal sample-and-hold unit samples the second internal filter output (S2b ) and thus forms the second internal coefficient signal (s3b ). The sampling preferably takes place only in the transmission phase (SP ) or at selected time periods within the transmission phase (SP ). The control of the first internal sample-and-hold unit is preferably carried out by the digital signal generation unit (DSO ); - S0S0
- nulltes Signal;zeroth signal;
- S1S1
- erstes digitales Signal;first digital signal;
- s1as 1a
-
erstes internes Filtereingangssignal. Bevorzugt weist jede Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) ein erstes internes Filtereingangssignal auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Das erste Filtereingangssignal wird in dem Beispiel der52 durch Multiplikation des zu analysierenden Signals (ZA ) mit dem ersten internen Analysesignal (A_a ) durch den ersten Multiplizierer (M1 ) erzeugt;first internal filter input signal. Preferably, each coefficient monitoring subdevice (KUE ) a first internal filter input signal when the coefficient monitoring sub-device (KUE ) in the form of52 is realized. The first Filter input signal is used in the example of52 by multiplying the signal to be analyzed (ZA ) with the first internal analysis signal (a_a ) by the first multiplier (M1 ) generated; - s1bs1b
-
zweites internes Filtereingangssignal. Bevorzugt weist jede Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) ein zweites internes Filtereingangssignal auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Das zweite Filtereingangssignal wird in dem Beispiel der52 durch Multiplikation des zu analysierenden Signals (ZA ) mit dem zweiten internen Analysesignal (A_a ) durch den zweiten Multiplizierer (M2 ) erzeugt;second internal filter input signal. Preferably, each coefficient monitoring subdevice (KUE ) a second internal filter input signal when the coefficient monitoring subdevice (KUE ) in the form of52 is realized. The second filter input signal is used in the example of52 by multiplying the signal to be analyzed (ZA ) with the second internal analysis signal (a_a ) by the second multiplier (M2 ) generated; - S2S2
- zweites analoges Signal;second analog signal;
- s2as 2a
-
erstes internes Filterausgangssignal. Bevorzugt weist jede Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) ein erstes internes Filterausgangssignal auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Das erste Filterausgangssignal wird in dem Beispiel der52 durch Filterung des ersten Filtereingangssignals (s1a ) in dem ersten internen Filter (F1 ) erzeugt;first internal filter output signal. Preferably, each coefficient monitoring subdevice (KUE ) a first internal filter output signal when the coefficient monitoring sub-device (KUE ) in the form of52 is realized. The first filter output is used in the example of52 by filtering the first filter input signal (s 1a ) in the first internal filter (F1 ) generated; - S2aS2a
-
erstes Teilsignal des zweiten analogen Signals (
S2 );first sub-signal of the second analog signal (S2 ); - S2amS2am
-
erstes Teilsignal des zweiten zwischengespeicherten Signals (
S2m );first sub-signal of the second buffered signal (S2m ); - s2bs2b
-
zweites internes Filterausgangssignal. Bevorzugt weist jede Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) ein zweites internes Filterausgangssignal auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Das zweite Filterausgangssignal wird in dem Beispiel der52 durch Filterung des zweiten Filtereingangssignals (s1b ) in dem zweiten internen Filter (F2 ) erzeugt.second internal filter output. Preferably, each coefficient monitoring subdevice (KUE ) a second internal filter output signal when the coefficient monitoring subdevice (KUE ) in the form of52 is realized. The second filter output is used in the example of52 by filtering the second filter input signal (s1b ) in the second internal filter (F2 ) generated. - S2bS2b
-
zweites Teilsignal des zweiten analogen Signals (
S2 );second sub-signal of the second analog signal (S2 ); - S2bmS2bm
-
zweites Teilsignal des zweiten zwischengespeicherten Signals (
S2m );second sub-signal of the second buffered signal (S2m ); -
S2c
S 2 c -
drittes Teilsignal des zweiten analogen Signals (
S2 );third partial signal of the second analog signal (S2 ); - S2cLCS2cLC
-
drittes Teilsignal des zweiten analogen Signals (
S2 ) bei Abriss der Transducer-Kapazität (CTR ) (gestörtes drittes Teilsignal des zweiten analogen Signals (S2 ));third partial signal of the second analog signal (S2 ) upon demolition of the transducer capacity (C TR ) (disturbed third partial signal of the second analog signal (S2 )); - S2mS2m
- zweites zwischengespeichertes Signal;second buffered signal;
- S3S3
- drittes analoges Signal;third analogue signal;
- S3'S3 '
- verstärktes drittes analoges Signal;amplified third analogue signal;
- s3as3a
-
erstes internes Koeffizientensignal. Bevorzugt weist jede Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) erstes internes Koeffizientensignal auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Die erste interne Sample-and-Hold-Einheit (S&H_Ca ) bildet das erste interne Koeffizientensignal durch Abtastung des ersten internen Filterausgangssignal (s2a ) am zeitlichen Ende einer oder mehrerer vollständiger PeriodenT des zu analysierenden Signals (ZA ). Diese Abtastung erfolgt bevorzugt nur in der Sendephase (SP ) oder zu ausgewählten Zeiträumen innerhalb der Sendephase (SP =. Die Steuerung der Abtastung erfolgt bevorzugt durch die digitale Signalerzeugungseinheit (DSO ).first internal coefficient signal. Preferably, each coefficient monitoring subdevice (KUE ) first internal coefficient signal when the coefficient monitoring sub-device (KUE ) in the form of52 is realized. The first internal sample-and-hold unit (S & H_Ca ) forms the first internal coefficient signal by sampling the first internal filter output (s 2a ) at the end of one or more complete periodsT the signal to be analyzed (ZA ). This sampling is preferably carried out only in the transmission phase (SP ) or at selected time periods within the transmission phase (SP =. The control of the sampling is preferably carried out by the digital signal generation unit (DSO ). - s3bs3b
-
zweites internes Koeffizientensignal. Bevorzugt weist jede Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) zweites internes Koeffizientensignal auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) in der Form der52 realisiert wird. Die zweite interne Sample-and-Hold-Einheit (S&H_Cb ) bildet das erste interne Koeffizientensignal durch Abtastung des zweiten internen Filterausgangssignal (s2b ) am zeitlichen Ende einer oder mehrerer vollständiger PeriodenT des zu analysierenden Signals (ZA ). Diese Abtastung erfolgt bevorzugt nur in der Sendephase (SP ) oder zu ausgewählten Zeiträumen innerhalb der Sendephase (SP ). Die Steuerung der Abtastung erfolgt bevorzugt durch die digitale Signalerzeugungseinheit (DSO );second internal coefficient signal. Preferably, each coefficient monitoring subdevice (KUE ) second internal coefficient signal when the coefficient monitoring sub-device (KUE ) in the form of52 is realized. The second internal sample-and-hold unit (S & H_Cb ) forms the first internal coefficient signal by sampling the second internal filter output (s2b ) at the end of one or more complete periodsT the signal to be analyzed (ZA ). This sampling is preferably carried out only in the transmission phase (SP ) or at selected periods within the broadcast phase (SP ). The control of the sampling is preferably carried out by the digital signal generation unit (DSO ); - S3aS3a
-
erstes Teilsignal des dritten analogen Signals (
S3 );first sub-signal of the third analog signal (S3 ); - S3amS3am
-
erstes Teilsignal des dritten zwischengespeicherten Signals (
S3m );first sub-signal of the third buffered signal (s3m ); - S3bs3b
-
zweites Teilsignal des dritten analogen Signals (
S3 );second partial signal of the third analog signal (S3 ); - S3bmS3bm
-
zweites Teilsignal des dritten zwischengespeicherten Signals (
S3m );second sub-signal of the third buffered signal (s3m ); - S3ms3m
- drittes zwischengespeichertes Signal;third buffered signal;
- S3tS3T
- drittes analoges Testsignal;third analog test signal;
- S3taS3ta
- erstes Teilsignal des dritten analogen Testsignals;first sub-signal of the third analog test signal;
- S3tbS3tb
- zweites Teilsignal des dritten analogen Testsignals;second sub-signal of the third analog test signal;
- S4S4
- viertes analoges Signal;fourth analog signal;
- S5S5
- fünftes digitales Signal;fifth digital signal;
- S5tS5t
- fünftes digitales Testsignal;fifth digital test signal;
- S6S6
- sechstes digitales Signal;sixth digital signal;
- S7S7
- siebtes Antwortsignal;seventh response signal;
- SBASBA
- erste Symmetrieprüfvorrichtung;first symmetry tester;
- SPBSPB
- zweite Symmetrieprüfvorrichtung;second symmetry tester;
- SPSP
- Sendephase;Transmission phase;
- SSSS
- Sensor System;Sensor system;
- TT
- Taktperiode;Clock period;
- TRTR
- Sensorteilvorrichtung, insbesondere ein Ultraschalltransducer;Sensor sub-device, in particular an ultrasonic transducer;
- TRiTRi
- innerer Ultraschalltransducer;internal ultrasonic transducer;
- UEBUEB
- Übertrager;Exchangers;
- v_Xv_x
-
internes Vergleichssignal. Bevorzugt weisen Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) ein internes Vergleichssignal (v_X ) auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen (KUE ) in der Form der52 realisiert werden. Insbesondere kann es sich bezogen auf die53 um Vergleichssignale mit den Bezugszeichenv15 ,v16 ,v17 ,v18 undv19 handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht Ausgangssignale der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a ,KUE2b ,KUE2c ,KUE3a undKUE3b sind. Der jeweilige interne Komparator (C_X ) der jeweiligen Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) vergleicht den Pegel des betreffenden Winkelsignals (sα ) mit dem internen Referenzwert (Ref_X ) der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) (siehe auch52 ). Bei dem internen Referenzwert (Ref_X ) kann es sich bezogen auf die53 insbesondere um Referenzwerte mit den BezugszeichenRef15 ,Ref16 , Ref17, Ref18 und Ref19 handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht eingezeichnet sind und sich innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b befinden sollen. Sie stellen also den internen Referenzwert (Ref_X ) der jeweilige Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) dar. In Abhängigkeit von dem Ergebnis dieses Vergleiches erzeugt der interne Komparator (C_X ) das interne Vergleichsergebnissignal (v_X ). Bei dem internen Vergleichsergebnissignal (v_X ). kann es sich bezogen auf die53 insbesondere um Vergleichsergebnissignale mit den Bezugszeichenv15 ,v16 ,v17 , v18 und v19 handeln, die innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b gebildet werden. Vorzugsweise werten die Steuereinrichtung (CTR ) und/oder der digitale Eingangsschaltkreis (DSI ) das interne Vergleichsergebnissignal (v_X ) aus und erzeugen ggf. eine Fehlermeldung;internal comparison signal. Preferably, coefficient monitoring subdevice (KUE ) an internal comparison signal (v_x ) when the coefficient monitoring subdevices (KUE ) in the form of52 will be realized. In particular, it may be based on the53 to comparison signals with the reference numeralsv15 .v16 .v17 .v18 andv19 act for simplification in the53 not output signals of the corresponding coefficient monitoring sub-apparatuses with the reference numeralsKUE2a .KUE2b .KUE2c .KUE3a andKUE3b are. The respective internal comparator (C_X ) of the respective coefficient monitoring subdevice (KUE ) compares the level of the respective angle signal (sα ) with the internal reference value (Ref_X ) of the corresponding coefficient monitoring subdevice (KUE ) (see also52 ). For the internal reference value (Ref_X ) It can be related to the53 in particular by reference values with the reference numeralsRef15 .Ref16 , Ref17, Ref18 and Ref19, which are to simplify matters in the53 are not shown and within the corresponding coefficient monitoring sub-devices with the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b should be located. They therefore constitute the internal reference value (Ref_X ) the respective coefficient monitoring subdevice (KUE Depending on the result of this comparison, the internal comparator (C_X ) the internal comparison result signal (v_x ). In the internal comparison result signal (v_x ). can it be relative to the53 in particular to comparison result signals with the reference numeralsv15 .v16 .v17 , v18 and v19, those within the corresponding coefficient monitoring sub-apparatuses denoted by the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b be formed. Preferably, the control device (CTR ) and / or the digital input circuit (DSI ) the internal comparison result signal (v_x ) and possibly generate an error message; - v_Yv_Y
-
zweites internes Vergleichssignal. Bevorzugt weisen Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) ein zweites internes Vergleichssignal (v_Y ) auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen (KUE ) in der Form der54 ,55 oder56 realisiert werden. Insbesondere kann es sich bezogen auf die53 um Vergleichssignale handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht Ausgangssignale der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b sind. Der jeweilige zweite interne Komparator (C_Y ) der jeweiligen Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) vergleicht den Pegel des ersten internen Koeffizientensignals (s3a ) mit dem zweiten internen Referenzwert (Ref_Y ) der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) (siehe auch54 ,55 oder56 ). Bei dem zweiten internen Referenzwert (Ref_Y ) kann es sich bezogen auf die53 insbesondere um Referenzwerte handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht eingezeichnet sind und sich innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b befinden können. Sie stellen also den zweiten internen Referenzwert (Ref_Y ) der jeweiligen Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) dar. In Abhängigkeit von dem Ergebnis dieses Vergleiches erzeugt der zweite interne Komparator (C_Y ) das zweite interne Vergleichsergebnissignal (v_Y ). Bei den zweiten internen Vergleichsergebnissignalen (v_Y ) kann es sich bezogen auf die53 insbesondere um Vergleichsergebnissignale handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht eingezeichnet sind und innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b gebildet werden. Vorzugsweise werten die Steuereinrichtung (CTR ) und/oder der digitale Eingangsschaltkreis (DSI ) die zweiten internen Vergleichsergebnissignale (v_Y ) aus und erzeugen ggf. entsprechende Fehlermeldungen;second internal comparison signal. Preferably, coefficient monitoring subdevice (KUE ) a second internal comparison signal (v_Y ) when the coefficient monitoring subdevices (KUE ) in the form of54 .55 or56 will be realized. In particular, it may be based on the53 to act comparison signals that simplify in the53 not output signals of the corresponding coefficient monitoring sub-apparatuses with the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b are. The respective second internal comparator (C_Y ) of the respective coefficient monitoring subdevice (KUE ) compares the level of the first internal coefficient signal (s3a ) with the second internal reference value (Ref_Y ) of the corresponding coefficient monitoring subdevice (KUE ) (see also54 .55 or56 ). For the second internal reference value (Ref_Y ) It can be related to the53 In particular, reference values should be used for simplification purposes53 are not shown and within the corresponding coefficient monitoring sub-devices with the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b can be located. They therefore provide the second internal reference value (Ref_Y ) of the respective coefficient monitoring subdevice (KUE Depending on the result of this comparison, the second internal comparator (C_Y ) the second internal comparison result signal (v_Y ). For the second internal comparison result signals (v_Y ) It can be related to the53 in particular to compare result signals, which for simplicity in the53 are not shown and within the corresponding coefficient monitoring sub-apparatuses with the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b be formed. Preferably, the control device (CTR ) and / or the digital input circuit (DSI ) the second internal comparison result signals (v_Y ) and possibly generate corresponding error messages; - v_ZV_Z
-
drittes internes Vergleichssignal. Bevorzugt weisen Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) ein drittes internes Vergleichssignal (v_Z ) auf, wenn die Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen (KUE ) in der Form der54 ,55 oder56 realisiert werden. Insbesondere kann es sich bezogen auf die53 um Vergleichssignale handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht Ausgangssignale der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b sind. Der jeweilige dritte interne Komparator (C_Z ) der jeweiligen Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) vergleicht den Pegel des zweiten internen Koeffizientensignals (s3b ) mit dem dritten internen Referenzwert (Ref_Z ) der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) (siehe auch54 ,55 oder56 ). Bei dem dritten internen Referenzwert (Ref_Z ) kann es sich bezogen auf die53 insbesondere um Referenzwerte handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht eingezeichnet sind und sich innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b befinden können. Sie stellen also den dritten internen Referenzwert (Ref_Z ) der jeweiligen Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE ) dar. In Abhängigkeit von dem Ergebnis dieses Vergleiches erzeugt der dritte interne Komparator (C_Z ) das dritte interne Vergleichsergebnissignal (v_Z ). Bei den dritten internen Vergleichsergebnissignalen (v_Z ) kann es sich bezogen auf die53 insbesondere um Vergleichsergebnissignale handeln, die zur Vereinfachung in der53 nicht eingezeichnet sind und innerhalb der entsprechenden Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtungen mit den BezugszeichenKUE2a , KUE2b,KUE2c ,KUE3a undKUE3b gebildet werden. Vorzugsweise werten die Steuereinrichtung (CTR ) und/oder der digitale Eingangsschaltkreis (DSI ) die dritten internen Vergleichsergebnissignale (v_Z ) aus und erzeugen ggf. entsprechende Fehlermeldungen;third internal comparison signal. Preferably, coefficient monitoring subdevice (KUE ) a third internal comparison signal (V_Z ) when the coefficient monitoring subdevices (KUE ) in the form of54 .55 or56 will be realized. In particular, it may be based on the53 to act comparison signals that simplify in the53 not output signals of the corresponding coefficient monitoring sub-apparatuses with the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b are. The respective third internal comparator (C_Z ) of the respective coefficient monitoring subdevice (KUE ) compares the level of the second internal coefficient signal (s3b ) with the third internal reference value (REF_Z ) of the corresponding coefficient monitoring subdevice (KUE ) (see also54 .55 or56 ). For the third internal reference value (REF_Z ) It can be related to the53 In particular, reference values should be used for simplification purposes53 are not shown and within the corresponding coefficient monitoring sub-devices with the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b can be located. They therefore constitute the third internal reference value (REF_Z ) of the respective coefficient monitoring subdevice (KUE Depending on the result of this comparison, the third internal comparator (C_Z ) the third internal comparison result signal (V_Z ). For the third internal comparison result signals (V_Z ) It can be related to the53 in particular to compare result signals, which for simplicity in the53 are not shown and within the corresponding coefficient monitoring sub-apparatuses with the reference numeralsKUE2a , KUE2b,KUE2c .KUE3a andKUE3b be formed. Preferably, the control device (CTR ) and / or the digital input circuit (DSI ) the third internal Comparison result signals (V_Z ) and possibly generate corresponding error messages; - v1v1
-
erstes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
3 stellt das erste Vergleichsergebnissignal das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem Wert des ersten Unterschiedssignals (d1 ) und dem ersten Referenzwert (Ref1 ) dar. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;first comparison result signal. In the example of3 the first comparison result signal represents the result of the comparison between the value of the first difference signal (d1 ) and the first reference value (Ref 1 ). The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - v2v2
-
zweites Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
3 stellt das zweite Vergleichsergebnissignal das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem Wert des ersten Teilsignals (S3a ) des dritten analogen Signals (S3 ) und dem zweiten Referenzwert (Ref2 ) dar. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;second comparison result signal. In the example of3 the second comparison result signal represents the result of the comparison between the value of the first partial signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ) and the second reference value (Ref2 ). The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - v3v3
-
drittes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
3 stellt das dritte Vergleichsergebnissignal das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem Wert des zweiten Teilsignals (S3b ) des dritten analogen Signals (S3 ) und dem zweiten Referenzwert (Ref2 ) dar. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;third comparison result signal. In the example of3 the third comparison result signal represents the result of the comparison between the value of the second partial signal (s3b ) of the third analog signal (S3 ) and the second reference value (Ref2 ). The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - v4v4
-
viertes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
4 stellt das vierte Vergleichsergebnissignal das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem Wert des zweiten Teilsignals (S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 ) und dem vierten Referenzwert (Ref4 ) dar. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;fourth comparison result signal. In the example of4 the fourth comparison result signal represents the result of the comparison between the value of the second partial signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ) and the fourth reference value (Ref4 ). The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - v5v5
-
fünftes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
4 stellt das fünfte Vergleichsergebnissignal das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem Wert des dritten Teilsignals (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ) und dem fünften Referenzwert (Ref5 ) dar. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;fifth comparison result signal. In the example of4 the fifth comparison result signal represents the result of the comparison between the value of the third partial signal (S 2 cS2 ) and the fifth reference value (ref5 ). The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - v6v6
-
sechstes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
4 stellt das sechste Vergleichsergebnissignal das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem Wert des ersten Teilsignals (S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 ) und dem sechsten Referenzwert (Ref6 ) dar. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;sixth comparison result signal. In the example of4 the sixth comparison result signal represents the result of the comparison between the value of the first partial signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ) and the sixth reference value (ref6 ). The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - v10v10
-
zehntes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
8 stellt das zehnte Vergleichsergebnissignal das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem Wert des zweiten Unterschiedssignals (d2 ) und dem siebten Referenzwert (Ref7 ) durch den zehnten Komparator (C10 ) dar. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;tenth comparison result signal. In the example of8th the tenth comparison result signal represents the result of the comparison between the value of the second difference signal (d2 ) and the seventh reference value (ref7 ) by the tenth comparator (C10 ). The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - v11v11
-
elftes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
8 stellt das elfte Vergleichsergebnissignal das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem Wert des dritten Unterschiedssignals (d3 ) und dem achten Referenzwert (Ref8 ) durch den elften Komparator (C11 ) dar. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;eleventh comparison result signal. In the example of8th the eleventh comparison result signal represents the result of the comparison between the value of the third difference signal (d3 ) and the eighth reference value (Ref8 ) by the eleventh comparator (C11 ). The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - v12v12
-
zwölftes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
8 stellt das zwölfte Vergleichsergebnissignal das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem Wert des vierten Unterschiedssignals (d4 ) und dem neunten Referenzwert (Ref9 ) durch den zwölften Komparator (C12 ) dar. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;twelfth comparison result signal. In the example of8th the twelfth comparison result signal represents the result of the comparison between the value of the fourth difference signal (d4 ) and the ninth reference value (Ref9 ) through the twelfth Comparator (C12 ). The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - v13v13
-
dreizehntes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
50 stellt das dreizehnte Vergleichsergebnissignal das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem Wert des integrierten sechsten Unterschiedssignals (d6i ) und dem dreizehnten Referenzwert (Ref13 ) durch den dreizehnten Komparator (C13 ) dar. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;thirteenth comparison result signal. In the example of50 the thirteenth comparison result signal represents the result of the comparison between the value of the integrated sixth difference signal (D6i ) and the thirteenth reference value (Ref13 ) through the thirteenth comparator (C13 ). The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - v14v14
-
vierzehntes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
49 stellt das vierzehnte Vergleichsergebnissignal das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem Wert des integrierten fünften Unterschiedssignals (d5i ) und dem vierzehnten Referenzwert (Ref14 ) durch den vierzehnten Komparator (C14 ) dar. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;fourteenth comparison result signal. In the example of49 the fourteenth comparison result signal represents the result of the comparison between the value of the integrated fifth difference signal (D5I ) and the fourteenth reference value (Ref14 ) by the fourteenth comparator (C14 ). The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - v15v15
-
fünfzehntes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
53 stellt das fünfzehnte Vergleichsergebnissignal bevorzugt das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem ermittelten Winkel (z.B. arctan(α)) der beiden Koeffizienten des ersten Teilsignals (S3a ) des dritten analogen Signals (S3 ) und dem fünfzehnten Referenzwert (Ref15 ) durch den fünfzehnten Komparator (C15 ) dar, der sich bevorzugt innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE3a ) für das erste Teilsignal (S3a ) des dritten analogen Signals (S3 ) befindet. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte.fifteenth comparison result signal. In the example of53 the fifteenth comparison result signal preferably represents the result of the comparison between the determined angle (eg arctan (α)) of the two coefficients of the first partial signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ) and the fifteenth reference value (Ref15 ) by the fifteenth comparator (C15 ), preferably within the coefficient monitoring subdevice (KUE3a ) for the first sub-signal (S3a ) of the third analog signal (S3 ) is located. The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values. - v16v16
-
sechzehntes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
53 stellt das sechzehnte Vergleichsergebnissignal bevorzugt das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem ermittelten Winkel (z.B. arctan(α)) der beiden Koeffizienten des zweiten Teilsignals (S3b ) des dritten analogen Signals (S3 ) und dem sechzehnten Referenzwert (Ref16 ) durch den sechzehnten Komparator (C16 ) dar, der sich bevorzugt innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE3b ) für das zweite Teilsignal (S3b ) des dritten analogen Signals (S3 ) befindet. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;sixteenth comparison result signal. In the example of53 the sixteenth comparison result signal preferably represents the result of the comparison between the determined angle (eg arctan (α)) of the two coefficients of the second partial signal (s3b ) of the third analog signal (S3 ) and the sixteenth reference value (Ref16 ) by the sixteenth comparator (C16 ), preferably within the coefficient monitoring subdevice (KUE3b ) for the second sub-signal (s3b ) of the third analog signal (S3 ) is located. The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - v17v17
-
siebzehntes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
53 stellt das siebzehnte Vergleichsergebnissignal bevorzugt das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem ermittelten Winkel (z.B. arctan(α)) der beiden Koeffizienten des ersten Teilsignals (S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 ) und dem siebzehnten Referenzwert (Ref17 ) durch den siebzehnten Komparator (C17 ) dar, der sich bevorzugt innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2a ) für das erste Teilsignal (S2a ) des zweiten analogen Signals (S2 ) befindet. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;seventeenth comparison result signal. In the example of53 the seventeenth comparison result signal preferably represents the result of the comparison between the determined angle (eg arctan (α)) of the two coefficients of the first part signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ) and the seventeenth reference value (Ref17 ) by the seventeenth comparator (C17 ), preferably within the coefficient monitoring subdevice (KUE2a ) for the first sub-signal (S2a ) of the second analog signal (S2 ) is located. The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - v18v18
-
achtzehntes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
53 stellt das achtzehnte Vergleichsergebnissignal bevorzugt das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem ermittelten Winkel (z.B. arctan(α)) der beiden Koeffizienten des zweiten Teilsignals (S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 ) und dem achtzehnten Referenzwert (Ref18 ) durch den achtzehnten Komparator (C18 ) dar, der sich bevorzugt innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2b ) für das zweite Teilsignal (S2b ) des zweiten analogen Signals (S2 ) befindet. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;eighteenth comparison result signal. In the example of53 the eighteenth comparison result signal preferably represents the result of the comparison between the determined angle (eg arctan (α)) of the two coefficients of the second partial signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ) and the eighteenth reference value (Ref18 ) through the eighteenth comparator (C18 ), preferably within the coefficient monitoring subdevice (KUE2b ) for the second sub-signal (S2b ) of the second analog signal (S2 ) is located. The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - v19v19
-
neunzehntes Vergleichsergebnissignal. In dem Beispiel der
53 stellt das neunzehnte Vergleichsergebnissignal bevorzugt das Ergebnis des Vergleichs zwischen dem ermittelten Winkel (z.B. arctan(α)) der beiden Koeffizienten des dritten Teilsignals (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ) und dem neunzehnten Referenzwert (Ref19 ) durch den neunzehnten Komparator (C19 ) dar, der sich bevorzugt innerhalb der Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (KUE2c ) für das dritte Teilsignal (S2c ) des zweiten analogen Signals (S2 ) befindet. Der Vergleich kann ohne oder mit Berücksichtigung des Vorzeichens erfolgen. Bevorzugt ist ein rein betragsmäßiger Vergleich also ein Vergleich der Absolutwerte;Nineteenth comparison result signal. In the example of53 the nineteenth comparison result signal preferably represents the result of the comparison between the determined angle (eg arctan (α)) of the two coefficients of the third partial signal (S 2 cS2 ) and the nineteenth reference value (Ref19 ) by the nineteenth comparator (C19 ), preferably within the coefficient monitoring subdevice (KUE2c ) for the third sub-signal (S 2 cS2 ) is located. The comparison can be made without or with regard to the sign. Preferably, a purely absolute comparison is thus a comparison of the absolute values; - Z1Z1
- erster Zeitpunkt;first time;
- Z2Z2
- zweiter Zeitpunkt;second time;
- z1z1
- erster Zeitpunkt für das Abspeichern der ermittelten Koeffizienten;first time for storing the coefficients determined;
- z2z2
- zweiter Zeitpunkt für das Abspeichern der ermittelten Koeffizienten;second time for storing the coefficients determined;
- z3z3
- dritter Zeitpunkt für das Abspeichern der ermittelten Koeffizienten;third time for storing the coefficients determined;
- z4z4
- vierter Zeitpunkt für das Abspeichern der ermittelten Koeffizienten;fourth time for storing the coefficients determined;
- ZAZA
-
durch die betreffende Koeffizientenüberwachungsteilvorrichtung (
KUE ) zu analysierendes Signal. Dabei kann es sich beispielsweise um eines der folgenden Signale mit den folgenden Bezugszeichen handeln: S2a, S2b, S2c, S3a, S3b. Andere interne, symmetrische Signale können so auch überwacht werden;by the relevant coefficient monitoring subdevice (KUE ) signal to be analyzed. This may be, for example, one of the following signals with the following reference numerals: S2a, S2b, S2c, S3a, S3b. Other internal symmetric signals can thus also be monitored; - znzn
- n-ter Zeitpunkt für das Abspeichern der ermittelten Koeffizienten;nth time for storing the coefficients determined;
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2017
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