DE102017116095B4 - Method and device for measuring a height profile of a surface along a measuring direction - Google Patents
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Abstract
Verfahren zum Vermessen eines Höhenprofils einer Oberfläche (4) entlang einer Vermessungsrichtung (7),- wobei eine bewegliche Einheit (2) gegenüber einer stationären Einheit (1) ohne mechanische Führung an der stationären Einheit (1) in der Vermessungsrichtung (7) über die Oberfläche (4) verfahren wird,- wobei von einer der Einheiten zu der anderen der Einheiten mindestens ein Lichtstrahl (6) längs der Oberfläche (4) ausgesandt wird, der in Höhenrichtung eine definierte Ausrichtung zu der Vermessungsrichtung (7) aufweist,- wobei der Lichtstrahl (6) von der anderen der Einheiten mit einem in der Höhenrichtung ausgedehnten optischen Positionssensor (10) empfangen wird,- wobei eine Höhenlage der Oberfläche (4) gegenüber dem Lichtstrahl (6) an der beweglichen Einheit (2) festgehalten oder erfasst wird, und- wobei der Lichtstrahl (6) von der anderen der Einheiten direkt mit dem Positionssensor (10) empfangen wird, so dass der Positionssensor (10) für eine Relativlage der anderen der Einheiten und des Lichtstrahls (6) in der Höhenrichtung empfindlich ist, wobei der Positionssensor (10) in der Höhenrichtung über mindestens 10 cm ausgedehnt ist, dadurch gekennzeichnet, dass von der einen der Einheiten mehrere unterscheidbare Lichtstrahlen (6, 8, 9) zu der anderen der Einheiten ausgesandt werden, die in der Höhenrichtung übereinander angeordnet sind.Method for measuring a height profile of a surface (4) along a measuring direction (7), - wherein a movable unit (2) compared to a stationary unit (1) without mechanical guidance on the stationary unit (1) in the measuring direction (7) over the Surface (4) is moved, - wherein at least one light beam (6) is emitted along the surface (4) from one of the units to the other of the units, which beam has a defined height direction to the measuring direction (7), - the Light beam (6) is received by the other of the units with an optical position sensor (10) extended in the height direction, - a height position of the surface (4) in relation to the light beam (6) on the movable unit (2) being held or detected, and - wherein the light beam (6) from the other of the units is received directly with the position sensor (10), so that the position sensor (10) for a relative position of the other of the unit en and the light beam (6) is sensitive in the height direction, the position sensor (10) being extended in the height direction over at least 10 cm, characterized in that several distinguishable light beams (6, 8, 9) from one of the units to the other of the units are sent out, which are superposed in the height direction.
Description
TECHNISCHES GEBIET DER ERFINDUNGTECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Vermessen eines Höhenprofils einer Oberfläche entlang einer Vermessungsrichtung. Insbesondere bezieht sich die vorliegende Erfindung auf ein Verfahren mit den Merkmalen des Oberbegriffs des unabhängigen Patentanspruchs 1 und auf eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Oberbegriffs des unabhängigen Patentanspruchs 10.The invention relates to a method and a device for measuring a height profile of a surface along a measuring direction. In particular, the present invention relates to a method having the features of the preamble of independent claim 1 and to a device having the features of the preamble of
Bei Roll-, Start- und Landeoperationen eines Luftfahrzeugs wird dieses durch Unebenheiten des Bodens Belastungen ausgesetzt. Bei großen Unebenheiten können diese Belastungen so groß werden, dass die Struktur des Luftfahrzeugs überlastet wird. Um dies zu vermeiden, wird die Längswelligkeit aller Start- und Landebahnen vermessen. Dies gilt insbesondere für unbefestigte Start- und Landebahnen ohne Asphalt- und/oder Betonoberfläche, da sich solche Start- und Landebahnen durch Umwelteinflüsse verändern können. Daher muss ihre Vermessung regelmäßig wiederholt werden.During taxi, take-off and landing operations, an aircraft is exposed to stresses due to unevenness in the ground. In the case of large bumps, these loads can become so great that the structure of the aircraft is overloaded. To avoid this, the longitudinal undulation of all runways is measured. This applies in particular to unpaved runways without asphalt and / or concrete surface, since such runways can change due to environmental influences. Therefore, their measurement must be repeated regularly.
Für militärische Operationen ist es zudem wichtig, dass eine Start- und Landebahn von Einheiten vermessen werden kann, die in der Regel nachts durch Fallschirmsprung ausgesetzt werden, um die Vermessung aus taktischen Gründen unentdeckt durchzuführen. In diesem Fall ist auch eine schnelle Vermessung erstrebenswert, um zeitnah nach dem Absetzen der Einheiten eine Entscheidung darüber treffen zu können, ob eine Operation mit einem Flugzeug auf der vermessenen Start- und Landebahn möglich ist. Ein entscheidender Aspekt dieser Vermessung ist die Längswelligkeit der Oberfläche. Die Längswelligkeit einer Start- und Landebahn ist aber nur ein Beispiel für ein relevantes Höhenprofil einer Oberfläche entlang einer Vermessungsrichtung, dessen Vermessung von Interesse ist.For military operations, it is also important that a runway can be surveyed by units that are usually skydive at night in order to carry out the survey undetected for tactical reasons. In this case, a quick measurement is also desirable in order to be able to make a decision promptly after the units have been set down as to whether an operation with an aircraft is possible on the measured runway. A decisive aspect of this measurement is the longitudinal waviness of the surface. The longitudinal undulation of a runway is only one example of a relevant height profile of a surface along a measurement direction, the measurement of which is of interest.
STAND DER TECHNIKSTATE OF THE ART
Die
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Aus der US 2010 / 0 131 237 A1 ist eine Laserabstandsmess- und -ausrichteinrichtung bekannt.A laser distance measuring and aligning device is known from US 2010/0 131 237 A1.
Aus der WO 2002/ 010 681 A1 sind eine Messanordnung und ein Messverfahren zur Entfernungs- und/oder Positionsbestimmung bekannt. Die Messanordnung umfasst einen Messsender und einen messbar beabstandeten Messempfänger. Der Messsender ist zur Emission von mindestens zwei in bestimmter Beziehung zueinander eine Fläche überstreichenden Sendemessstrahlen ausgebildet. Der Messempfänger ist zum zeitaufgelösten Empfang von Messstrahlen ausgebildet, um aus der Zeitsignatur des Messstrahlenempfangs die Sender-Empfänger-Entfernung zu bestimmen.A measuring arrangement and a measuring method for determining distance and / or position are known from WO 2002/010 681 A1. The measuring arrangement comprises a measuring transmitter and a measurably spaced measuring receiver. The test transmitter is designed to emit at least two in certain relationship to one another formed an area sweeping transmission measuring beams. The measuring receiver is designed for the time-resolved reception of measuring beams in order to determine the transmitter-receiver distance from the time signature of the measuring beam reception.
Aus der
Aus der JP 2000- 9 463 A sind ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Vermessen eines Höhenprofils einer Oberfläche bekannt, die die Merkmale des Oberbegriffs des unabhängigen Patentanspruchs 1 bzw. des Oberbegriffs des unabhängigen Patentanspruchs 10 aufweisen. Ein Laserleuchtturm strahlt einen Laserstrahl als Höhenreferenz ab, die auf einer Installationshöhe basiert, welche mit einem GPS-Empfänger gemessen wird. Auf einem Fahrzeug ist ein Lichtempfänger zum Empfangen des Laserstrahls montiert, um eine Fahrzeughöhenlage zu bestimmen. Eine Entfernungsmesseinrichtung misst die Entfernung zwischen dem Fahrzeug und einer Bodenoberfläche, während das Fahrzeug fährt. Diese Entfernung wird von der Fahrzeughöhenlage abgezogen, die von dem Lichtempfänger bestimmt wurde, um das Höhenprofil der Bodenoberfläche zu erhalten.From JP 2000- 9 463 A a method and a device for measuring a height profile of a surface are known which have the features of the preamble of independent claim 1 and the preamble of
Aus der
AUFGABE DER ERFINDUNGOBJECT OF THE INVENTION
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Vermessen eines Höhenprofils einer Oberfläche entlang einer Vermessungsrichtung aufzuzeigen, das einfach durchzuführen bzw. die robust aufgebaut ist, um das Vermessen mit großer Bandbreite der erfassbaren Höhenlagen der Oberfläche auch unter schwierigen Randbedingungen sicher durchführen zu können.The invention is based on the object of providing a method and a device for measuring a height profile of a surface along a measuring direction, which can be carried out easily or which is robust in order to reliably carry out the measurement with a wide range of the ascertainable heights of the surface even under difficult boundary conditions to be able to.
LÖSUNGSOLUTION
Die Aufgabe der Erfindung wird erfindungsgemäß mit den Merkmalen der unabhängigen Patentansprüche 1 und 10 gelöst. Weitere bevorzugte erfindungsgemäße Ausgestaltungen sind den abhängigen Patentansprüchen zu entnehmen.The object of the invention is achieved according to the invention with the features of the independent patent claims 1 and 10. Further preferred embodiments according to the invention can be found in the dependent claims.
BESCHREIBUNG DER ERFINDUNGDESCRIPTION OF THE INVENTION
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren zum Messen eines Höhenprofils einer Oberfläche entlang einer Vermessungsrichtung wird eine bewegliche Einheit gegenüber einer stationären Einheit ohne mechanische Führung an der stationären Einheit in der Vermessungsrichtung über die Oberfläche verfahren. Von einer der Einheiten wird zu der anderen der Einheiten mindestens ein Lichtstrahl längs der Oberfläche ausgesandt, der in Höhenrichtung eine definierte Ausrichtung zu der Vermessungsrichtung aufweist und insbesondere in der Vermessungsrichtung oder parallel dazu verläuft. Der Lichtstrahl wird von der anderen Einheit mit einem optischen Positionssensor empfangen, der in der Höhenrichtung über mindestens 10 cm ausgedehnt ist. Dabei wird der Lichtstrahl an der anderen der Einheiten direkt, d.h. nicht etwa unter Zwischenschaltung einer Linse, mit dem Positionssensor empfangen, so dass der Positionssensor für eine Relativlage der anderen der Einheiten und des Lichtstrahls in der Höhenrichtung unmittelbar empfindlich ist. An der beweglichen Einheit wird eine Höhenlage der Oberfläche gegenüber dem Lichtstrahl festgehalten oder erfasst. Festgehalten werden kann die Höhenlage der Oberfläche gegenüber dem Lichtstrahl an der beweglichen Einheit allerdings nur dann, wenn die eine der Einheiten, von der der mindestens eine Lichtstrahl ausgesandt wird, die bewegliche Einheit ist. Bevorzugt ist es jedoch, wenn die eine der Einheiten, von der der mindestens eine Lichtstrahl ausgesandt wird, die stationäre Einheit ist. Dann ist der Auftreffpunkt des Lichtstrahls auf den Positionssensor, d. h. die Relativlage der anderen der Einheiten und des Lichtstrahls in der Höhenrichtung, für die der Positionssensor empfindlich ist, ein Maß für die Höhenlage der Oberfläche gegenüber dem Lichtstrahl, das an der beweglichen Einheit einfach erfassbar ist. Die stationäre Einheit gibt dabei mit dem Lichtstrahl nur eine Achse für das Bezugssystem vor, in dem das Höhenprofil der Oberfläche vermessen wird. Die Auflösung dieser Vermessung hängt unmittelbar von dem Aufbau des Positionssensors ab. Dieser Aufbau kann grundsätzlich jedem bekannten Position Sensitive Device (PSD) entsprechen.In the method according to the invention for measuring a height profile of a surface along a measuring direction, a movable unit is moved over the surface in the measuring direction with respect to a stationary unit without mechanical guidance on the stationary unit. At least one light beam is emitted from one of the units to the other of the units along the surface, which in the height direction has a defined alignment to the measuring direction and in particular runs in the measuring direction or parallel thereto. The light beam is received by the other unit with an optical position sensor that is expanded in the height direction over at least 10 cm. The light beam is received at the other of the units directly, i.e. not with the interposition of a lens, with the position sensor, so that the position sensor is directly sensitive to a relative position of the other of the units and the light beam in the height direction. The height of the surface in relation to the light beam is recorded or recorded on the movable unit. However, the height of the surface with respect to the light beam on the movable unit can only be recorded if one of the units from which the at least one light beam is emitted is the movable unit. However, it is preferred if one of the units from which the at least one light beam is emitted is the stationary unit. Then the point of incidence of the light beam on the position sensor, i. H. the relative position of the other of the units and the light beam in the height direction to which the position sensor is sensitive, a measure of the height of the surface in relation to the light beam, which can be easily detected on the movable unit. With the light beam, the stationary unit only provides one axis for the reference system in which the height profile of the surface is measured. The resolution of this measurement depends directly on the structure of the position sensor. This structure can basically correspond to any known position sensitive device (PSD).
Von der einen der Einheiten werden mehrere unterscheidbare Lichtstrahlen zu der anderen der Einheiten ausgesandt, die in der Höhenrichtung übereinander angeordnet sind, um die Bandbreite der erfassbaren Höhenlagen der Oberfläche zu vergrößern.A plurality of distinguishable light beams are emitted from one of the units to the other of the units, which light beams are arranged one above the other in the height direction in order to enlarge the bandwidth of the detectable height positions of the surface.
Konkret kann der Positionssensor ein Sensorarray mit in der Höhenrichtung übereinander angeordneten Teilsensoren aufweisen, wobei die Teilsensoren dann über mindestens 10 cm über eine Vielzahl von Höhen, d. h. mindestens fünf oder zehn Höhen, verteilt sind. Dabei hängt die Auflösung der Vermessung des Höhenprofils der Oberfläche von der Anzahl und der Dichte der Teilsensoren in der Höhenrichtung ab. Die einzelnen Teilsensoren des Sensorarrays sollten in der Höhenrichtung zumindest so dicht angeordnet sein, dass der Lichtstrahl auf mindestens immer einen, vorzugsweise mindestens immer zwei der Teilsensoren fällt, soweit er innerhalb des Sensorarrays auf die andere der Einheiten auftrifft.Specifically, the position sensor can be a sensor array with one above the other in the height direction arranged sub-sensors, the sub-sensors then being distributed over at least 10 cm over a plurality of heights, ie at least five or ten heights. The resolution of the measurement of the height profile of the surface depends on the number and density of the partial sensors in the height direction. The individual partial sensors of the sensor array should be arranged at least so densely in the height direction that the light beam always falls on at least one, preferably at least always two of the partial sensors, insofar as it strikes the other of the units within the sensor array.
Die Ausdehnung des Positionssensors in der Höhenrichtung gibt an, wie groß der aktive Bereich des Positionssensors in der Höhenrichtung ist, d. h., wie weit die Höhenlage der Oberfläche schwanken kann, um immer noch mit Hilfe des Positionssensors erfassbar zu sein. Für die praktische Ausmessung des Höhenprofil potentieller Rollbahnen ist es bevorzugt, dass der Positionssensor in der Höhenrichtung über mindestens 20 cm, mindestens 30 cm, mindestens 40 cm oder etwa einen halben Meter ausgedehnt ist.The extent of the position sensor in the height direction indicates how large the active area of the position sensor is in the height direction, i. That is, how far the altitude of the surface can fluctuate in order to still be detectable with the aid of the position sensor. For the practical measurement of the height profile of potential taxiways, it is preferred that the position sensor is extended in the height direction over at least 20 cm, at least 30 cm, at least 40 cm or about half a meter.
Die von der einen der Einheiten ausgesandten mehreren Lichtstrahlen können parallel zueinander und dabei in gleichen Abständen in der Höhenrichtung übereinander angeordnet werden. Weiterhin können die mehreren Lichtstrahlen codiert werden, um sie an der anderen der Einheiten unterscheiden zu können. Dies ist beispielsweise durch Amplitudenmodulation und/oder Pulsweitenmodulation und/oder Frequenzmodulation und/oder unterschiedliche Wellenlängen möglich.The multiple light beams emitted by one of the units can be arranged parallel to one another and at the same intervals one above the other in the vertical direction. Furthermore, the plurality of light beams can be coded in order to be able to distinguish them on the other of the units. This is possible, for example, by amplitude modulation and / or pulse width modulation and / or frequency modulation and / or different wavelengths.
Grundsätzlich kann der mindestens eine Lichtstrahl und auch jeder weitere Lichtstrahl mit einer Wellenlänge im sichtbaren oder unsichtbaren Wellenlängenbereich erzeugt werden und/oder als Laserlichtstrahl erzeugt werden und/oder quer zu der Höhenrichtung parallel oder fächerförmig aufgeweitet werden. Ein sichtbarer Laserstahl erleichtert die Durchführung des Verfahrens, weil er leicht längs der Oberfläche ausgerichtet und leicht auf dem Positionssensor gehalten werden kann. Umgekehrt wird dadurch auch die Durchführung des Verfahrens sichtbar. Es kann also bevorzugt sein, dass die jeweils andere der Einheiten signalisiert, wenn die Gefahr besteht, dass der Lichtstrahl den Positionssensor verlässt und dabei auch die Richtung ausgibt, in der dies wahrscheinlich passiert.In principle, the at least one light beam and also every further light beam with a wavelength in the visible or invisible wavelength range can be generated and / or generated as a laser light beam and / or widened parallel or fan-shaped transversely to the height direction. A visible laser beam facilitates the implementation of the method because it can be easily aligned along the surface and easily held on the position sensor. Conversely, the implementation of the process is also visible. It can therefore be preferred that the respective other of the units signals when there is a risk that the light beam will leave the position sensor and also outputs the direction in which this is likely to happen.
Wenn der Lichtstrahl quer zu der Höhenrichtung aufgeweitet wird, kann auch dies das Halten des Lichtstrahls auf dem Positionssensor erleichtern. Wenn dann der Positionssensor auch quer zu der Höhenrichtung ausgedehnt ist, indem beispielsweise sein Sensorarray in mehrere Einzelsensoren unterteilt ist, kann zudem eine Querneigung der anderen der Einheiten gegenüber dem mindestens einen Lichtstrahl um die Vermessungsrichtung herum erfasst werden, weil je nach dieser Querneigung der Lichtstrahl in einer geneigten Linie über den Positionssensor verläuft.If the light beam is widened transversely to the height direction, this can also make it easier to hold the light beam on the position sensor. If the position sensor is then also extended transversely to the height direction, for example by subdividing its sensor array into several individual sensors, a lateral inclination of the other of the units relative to the at least one light beam around the measurement direction can also be detected because, depending on this lateral inclination, the light beam in an inclined line across the position sensor.
Konkret kann die bewegliche Einheit ein Tastrad aufweisen, das in der Vermessungsrichtung über die Oberfläche gerollt wird. Alternativ kann sie auch ein Paar von Tasträdern aufweisen, die um eine quer zu der Vermessungsrichtung verlaufende Drehachse umlaufend gelagert sind und die in der Vermessungsrichtung über die Oberfläche gerollt werden. In jedem Fall kann das Tastrad oder können die Tasträder einen Drehwinkelgeber aufweisen, mit dem ein von der beweglichen Einheit in der Vermessungsrichtung zurückgelegter Weg erfasst wird. Wenn dann die bewegliche Einheit auch die andere der Einheiten ist, an der der Lichtstrahl mit dem Positionssensor empfangen wird, fallen alle zum Vermessen des Höhenprofils benötigten Daten in der beweglichen Einheit an, und die stationäre Einheit gibt mit dem Lichtstrahl und den Lichtstrahlen ausschließlich die eine Achse des Bezugssystems vor, in dem die Vermessung des Höhenprofils erfolgt. Der mit dem Drehwinkelgeber erfasste, von der beweglichen Einheit in der Vermessungsrichtung zurückgelegte Weg gibt die x-Position an, an der durch den Auftreffpunkt des Lichtstrahls auf den Positionssensor die x-Position der Oberfläche gegenüber dem Lichtstrahl bestimmt wird.Specifically, the movable unit can have a feeler wheel that is rolled over the surface in the measuring direction. Alternatively, it can also have a pair of feeler wheels which are mounted around an axis of rotation running transversely to the measuring direction and which are rolled over the surface in the measuring direction. In any case, the feeler wheel or the feeler wheels can have a rotary encoder with which a path covered by the movable unit in the measuring direction is recorded. If the movable unit is then also the other of the units at which the light beam is received with the position sensor, all of the data required for measuring the height profile are generated in the movable unit, and the stationary unit only provides one with the light beam and the light beams Axis of the reference system in which the height profile is measured. The path covered with the rotary encoder and covered by the movable unit in the measuring direction indicates the x-position at which the x-position of the surface relative to the light beam is determined by the point of impact of the light beam on the position sensor.
Statt die x-Position der beweglichen Einheit mit Hilfe eines Tastrads und eines Drehwinkelgebers zu erfassen, ist auch eine Erfassung des sich ändernden Abstands zwischen der stationären Einheit und der beweglichen Einheit in der Vermessungsrichtung durch Messung der Laufzeit des Lichtstrahls möglich. Dabei kann es sich um eine Messung der Laufzeit von der stationären Einheit bis zu der beweglichen Einheit an der beweglichen Einheit oder um eine Messung der Laufzeit des von der beweglichen Einheit noch einmal zurück zu der stationären Einheit reflektierten Lichtstrahls an der stationären Einheit handeln. Es kann auch die Laufzeit eines anderen Signals als der Lichtstrahl zwischen den beiden Einheiten zur Messung des Abstands der beiden Einheiten verwendet werden. Die Messung der Laufzeit eines reflektierten Signals an der aussendenden Einheit hat in jedem Fall den Vorteil, dass die beiden Einheiten nicht mit exakt synchronisierten Uhren ausgestattet sein müssen.Instead of detecting the x-position of the movable unit with the aid of a feeler wheel and a rotary encoder, it is also possible to detect the changing distance between the stationary unit and the movable unit in the measuring direction by measuring the transit time of the light beam. This can be a measurement of the transit time from the stationary unit to the movable unit on the movable unit or a measurement of the transit time of the light beam reflected from the movable unit back to the stationary unit on the stationary unit. The transit time of a signal other than the light beam between the two units can also be used to measure the distance between the two units. Measuring the transit time of a reflected signal at the emitting unit always has the advantage that the two units do not have to be equipped with precisely synchronized clocks.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren kann die bewegliche Einheit oder ein relevanter Teil davon immer exakt in der Höhenrichtung ausgerichtet werden, dies kann durch Schwerkraft gegenüber einem Chassis der beweglichen Einheit, das über die Oberfläche verfahren wird, erreicht werden. Ein besonders einfache Handhabung der beweglichen Einheit ergibt sich jedoch, wenn hingenommen wird, dass ein Neigungswinkel der beweglichen Einheit gegenüber der Höhenrichtung auftritt, dieser aber erfasst und bei der Ermittlung der Höhenlage der Oberfläche aus dem jeweiligen Auftreffpunkt des Lichtstrahls auf den Positionssensor berücksichtigt wird. Dazu kann die bewegliche Einheit beispielsweise einen Neigungssensor aufweisen.In the method according to the invention, the movable unit or a relevant part thereof can always be aligned exactly in the height direction; this can be achieved by gravity with respect to a chassis of the movable unit which is moved over the surface. A particularly simple handling of the movable unit results however, if it is accepted that an angle of inclination of the movable unit occurs with respect to the height direction, but this is detected and taken into account when determining the height of the surface from the respective point of incidence of the light beam on the position sensor. For this purpose, the movable unit can have an inclination sensor, for example.
Eine erfindungsgemäße Vorrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens weist eine stationäre Einheit, eine bewegliche Einheit, die gegenüber der stationären Einheit ohne mechanische Führung an der stationären Einheit in einer Vermessungsrichtung über eine Oberfläche verfahrbar ist, eine Lichtquelle an einer der Einheiten, mit der mindestens ein Lichtstrahl längs der Oberfläche so zu der anderen der Einheiten aussendbar ist, dass er in Höhenrichtung eine definierte Ausrichtung zu der Vermessungsrichtung aufweist, einen den Lichtstrahl empfangenden Sensor an der anderen der Einheiten und Einrichtungen auf, die eine Höhenlage der Oberfläche gegenüber dem Lichtstrahl an der beweglichen Einheit festhalten oder erfassen. Dabei ist der Positionssensor in der Höhenrichtung über mindestens 10 cm ausgedehnt und weist beispielsweise ein Sensorarray mit einer Vielzahl von in der Höhenrichtung übereinander angeordneten Teilsensoren auf. Darüber hinaus empfängt der Positionssensor an der anderen der Einheiten den Lichtstrahl direkt und ist so für eine Relativlage der anderen der Einheiten und des Lichtstrahls in der Höhenrichtung empfindlich.A device according to the invention for carrying out the method according to the invention has a stationary unit, a movable unit which can be moved across a surface in a measuring direction in relation to the stationary unit without mechanical guidance on the stationary unit, a light source on one of the units with which at least one light beam can be emitted along the surface to the other of the units in such a way that it has a defined alignment in height direction to the measuring direction, a sensor receiving the light beam on the other of the units and devices, which has a height position of the surface in relation to the light beam on the movable unit hold or capture. The position sensor is extended over at least 10 cm in the height direction and has, for example, a sensor array with a plurality of partial sensors arranged one above the other in the height direction. In addition, the position sensor on the other of the units receives the light beam directly and is thus sensitive to a relative position of the other of the units and the light beam in the height direction.
Die Lichtquelle an der einen der Einheiten sendet mehrere unterscheidbare Lichtstrahlen zu der anderen der Einheiten aus, die in der Höhenrichtung übereinander angeordnet sind, um die Bandbreite der erfassbaren Höhenlagen der Oberfläche zu vergrößern.The light source on one of the units emits a plurality of distinguishable light beams to the other of the units, which are arranged one above the other in the height direction in order to increase the bandwidth of the detectable height positions of the surface.
Auch wenn der Lichtstrahl von der beweglichen der beiden Einheiten ausgesandt wird, die dem Höhenprofil der Oberfläche bei ihrem Verfahren über die Oberfläche folgt, bedeutet, dass der Lichtstrahl in Höhenrichtung eine definierte Ausrichtung zu der Vermessungsrichtung aufweist, insbesondere, dass er immer parallel zu der Vermessungsrichtung verläuft. Wenn der Lichtstrahl von der stationären Einheit ausgesandt wird, weist er vorzugsweise einen festen Verlauf in der Vermessungsrichtung auf.Even if the light beam is emitted by the movable one of the two units, which follows the height profile of the surface as it moves across the surface, this means that the light beam has a defined alignment in height with the measurement direction, in particular that it is always parallel to the measurement direction runs. When the light beam is emitted from the stationary unit, it preferably has a fixed course in the measuring direction.
Hinsichtlich der weiteren bevorzugten Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Vorrichtung wird auf die voranstehenden Erläuterungen der bevorzugten Ausführungsformen des erfindungsgemäßen Verfahrens sowie die nachfolgende Figurenbeschreibung verweisen.With regard to the further preferred embodiments of the device according to the invention, reference is made to the above explanations of the preferred embodiments of the method according to the invention and the following description of the figures.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Patentansprüchen, der Beschreibung und den Zeichnungen. Die in der Beschreibung genannten Vorteile von Merkmalen und von Kombinationen mehrerer Merkmale sind lediglich beispielhaft und können alternativ oder kumulativ zur Wirkung kommen, ohne dass die Vorteile zwingend von erfindungsgemäßen Ausführungsformen erzielt werden müssen. Ohne dass hierdurch der Gegenstand der beigefügten Patentansprüche verändert wird, gilt hinsichtlich des Offenbarungsgehalts der ursprünglichen Anmeldungsunterlagen und des Patents Folgendes: weitere Merkmale sind den Zeichnungen - insbesondere den dargestellten Geometrien und den relativen Abmessungen mehrerer Bauteile zueinander sowie deren relativer Anordnung und Wirkverbindung - zu entnehmen. Die Kombination von Merkmalen unterschiedlicher Ausführungsformen der Erfindung oder von Merkmalen unterschiedlicher Patentansprüche ist ebenfalls abweichend von den gewählten Rückbeziehungen der Patentansprüche möglich und wird hiermit angeregt. Dies betrifft auch solche Merkmale, die in separaten Zeichnungen dargestellt sind oder bei deren Beschreibung genannt werden. Diese Merkmale können auch mit Merkmalen unterschiedlicher Patentansprüche kombiniert werden. Ebenso können einzelne der in einem der abhängigen Patentansprüche aufgeführte Merkmale für weitere Ausführungsformen der Erfindung entfallen.Advantageous further developments of the invention emerge from the patent claims, the description and the drawings. The advantages of features and of combinations of several features mentioned in the description are merely exemplary and can come into effect alternatively or cumulatively without the advantages necessarily having to be achieved by embodiments according to the invention. Without changing the subject matter of the attached claims, the following applies with regard to the disclosure content of the original application documents and the patent: Further features can be found in the drawings - in particular the illustrated geometries and the relative dimensions of several components to one another and their relative arrangement and operative connection. The combination of features of different embodiments of the invention or of features of different patent claims is also possible in a way deviating from the selected back-references of the patent claims and is hereby suggested. This also applies to features that are shown in separate drawings or mentioned in their description. These features can also be combined with features of different patent claims. Likewise, some of the features listed in one of the dependent claims can be omitted for further embodiments of the invention.
Die in den Patentansprüchen und der Beschreibung genannten Merkmale sind bezüglich ihrer Anzahl so zu verstehen, dass genau diese Anzahl oder eine größere Anzahl als die genannte Anzahl vorhanden ist, ohne dass es einer expliziten Verwendung des Adverbs „mindestens“ bedarf. Wenn also beispielsweise von einem Lichtstrahl die Rede ist, ist dies so zu verstehen, dass genau ein Lichtstrahl, zwei Lichtstrahlen oder mehr Lichtstrahlen vorhanden sind. Die in den Patentansprüchen angeführten Merkmale können durch andere Merkmale ergänzt werden oder die einzigen Merkmale sein, die der jeweiligen Anspruchsgegenstand aufweist.The number of features mentioned in the claims and the description are to be understood in such a way that precisely this number or a greater number than the specified number is present without the explicit use of the adverb “at least” being required. For example, when a ray of light is mentioned, it is to be understood that there is exactly one ray of light, two rays of light or more rays of light. The features cited in the claims can be supplemented by other features or be the only features that the respective subject matter of the claim has.
Die in den Patentansprüchen enthaltenen Bezugszeichen stellen keine Beschränkung des Umfangs der durch die Patentansprüche geschützten Gegenstände dar. Sie dienen lediglich dem Zweck, die Patentansprüche leichter verständlich zu machen.The reference signs contained in the claims do not restrict the scope of the subject matter protected by the claims. They only serve the purpose of making the claims easier to understand.
FigurenlisteFigure list
Im Folgenden wird die Erfindung anhand in den Figuren dargestellter bevorzugter Ausführungsbeispiele weiter erläutert und beschrieben.
-
1 ist eine schematische Darstellung des erfindungsgemäßen Verfahrens in einer Seitenansicht. -
2 zeigt eine bewegliche Einheit einer erfindungsgemäßen Vorrichtung in einer axialen Draufsicht; und -
3 ist eine1 entsprechende Darstellung zu Details bei der Bestimmung des Höhenprofils bei dem erfindungsgemäßen Verfahren.
-
1 is a schematic representation of the method according to the invention in a side view. -
2 shows a movable unit of a device according to the invention in an axial plan view; and -
3 is a1 corresponding representation of details in determining the height profile in the method according to the invention.
FIGURENBESCHREIBUNGFIGURE DESCRIPTION
Zumindest einer der Lichtstrahlen
Hierbei ist I2 ist die Entfernung des Auftreffpunkts des Lichtstrahls
Bei der Verwendung der erfindungsgemäßen Vorrichtung
BezugszeichenlisteList of reference symbols
- 11
- stationäre Einheitstationary unit
- 22
- bewegliche Einheitmovable unit
- 33
- Vorrichtungcontraption
- 44th
- Oberflächesurface
- 55
- LichtquelleLight source
- 66th
- LichtstrahlBeam of light
- 77th
- VermessungsrichtungSurveying direction
- 88th
- LichtstrahlBeam of light
- 99
- LichtstrahlBeam of light
- 1010
- PositionssensorPosition sensor
- 1111
- Stativtripod
- 1212th
- TastradFeeler wheel
- 1313th
- HandgriffHandle
- 1414th
- DrehachseAxis of rotation
- 1515th
- BezugspunktReference point
- I1I1
-
Höhe des Lichtstrahls
6 über dem Bezugspunkt15 Height of the light beam6th above the reference point15th - x1x1
-
Entfernung zwischen der stationären Einheit
1 und dem Positionssensor 10Distance between the stationary unit1 and theposition sensor 10 - I2I2
-
Abstand zwischen dem Auftreffpunkt des Lichtstrahls
6 auf den Positionssensor10 und der Drehachse 14Distance between the point of incidence of the light beam6th on theposition sensor 10 and the axis ofrotation 14 - ϕϕ
-
Neigungswinkel der beweglichen Einheit 2Movable
unit inclination angle 2 - PP
-
Aufstandspunkt des Tastrads
12 auf der Oberfläche 4Contact point of the jockey wheel12th on thesurface 4 - xPxP
-
Entfernung des Aufstandspunkts
P von der stationären Einheit 1Removal of the point of uprisingP from the stationary unit 1 - zPzP
- Höhenlage des Aufstandspunkts PAltitude of the point of contact P
- rr
-
Radius des Tastrads
12 um die Drehachse 14Radius of the feeler wheel12th about the axis ofrotation 14
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