DE102016220573A1 - Method and device for determining a position and / or orientation of a free-floating element - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (101) und ein Verfahren zum Bestimmen einer Position und/oder Orientierung eines über einer Fläche (108) einer statischen Einrichtung (105) frei schwebenden Elements (106) mit einem optischen Bilderfassungssystem (110), wobei das optische Bilderfassungssystem (110) dazu vorgesehen ist, an und/oder in der statischen Einrichtung (105) angeordnet zu werden, und wobei die Vorrichtung (101) dazu eingerichtet ist, unter Verwendung des optischen Bilderfassungssystems (110) von dem Element wenigstens eine Abbildung (170) zu erzeugen, die ein charakteristisches Muster (120), das auf dem Element (106) angebracht ist, und/oder Umrisse des Elements umfasst, und anhand einer Position und/oder Orientierung der wenigstens einen Abbildung (170) innerhalb eines Erfassungsbereichs (150) des optischen Bilderfassungssystems und/oder anhand von Bildinformationen der wenigstens einen Abbildung (170) die Position und/oder Orientierung des Elements (106) relativ zu der statischen Einrichtung (105) zu ermitteln.The invention relates to a device (101) and a method for determining a position and / or orientation of a free-floating element (106) over a surface (108) of a static device (105) with an optical image acquisition system (110), wherein the optical image acquisition system (110) is arranged to be arranged on and / or in the static device (105), and wherein the device (101) is adapted to generate at least one image (170) of the element using the image acquisition optical system (110). having a characteristic pattern (120) mounted on the element (106) and / or outlines of the element, and based on a position and / or orientation of the at least one image (170) within a detection area (150). of the optical image acquisition system and / or based on image information of the at least one image (170), the position and / or orientation of the element (106) relative to de static device (105).
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Bestimmen einer Position und/oder einer Orientierung eines über einer Fläche einer statischen Einrichtung frei schwebenden Elements sowie eine Anordnung mit einer solchen Vorrichtung, einer statischen Einrichtung und einem Element.The present invention relates to a method and an apparatus for determining a position and / or an orientation of a free-floating element over a surface of a static device and an arrangement comprising such a device, a static device and an element.
Stand der TechnikState of the art
Zur Verwendung in verschiedenen Gebieten, beispielsweise in der Automatisierungstechnik, gibt es Einrichtungen, mittels welcher Werkstückträger oder andere Elemente frei schwebend gehalten werden können. Bei einer solchen Einrichtung wird auch von einer sog. Levitationsvorrichtung gesprochen, wobei das schwebende Element auch als Mover bezeichnet wird. Hierzu können beispielsweise in einem statischen Teil der Einrichtung entsprechende Magnetfelder erzeugt und in dem Werkstück bzw. Element entsprechende ferromagnetische oder diamagnetische Stoffe vorgesehen werden.For use in various fields, for example in automation technology, there are devices by means of which workpiece carriers or other elements can be kept free floating. In such a device is also spoken of a so-called. Levitation device, wherein the floating element is also referred to as a mover. For this purpose, for example, corresponding magnetic fields can be generated in a static part of the device and corresponding ferromagnetic or diamagnetic substances can be provided in the workpiece or element.
Bei solchen Levitationsvorrichtungen ist es in aller Regel sehr wichtig, die genaue Position bzw. Orientierung des beweglichen Elements zu kennen, um ggf. das Magnetfeld anzupassen und so das Element schwebend zu halten, insbesondere auch an einer bestimmten Position. Daneben ist die genaue Kenntnis der Position bzw. Orientierung aber auch wichtig im Rahmen eines Produktionsprozesses oder dergleichen, bei dem die Levitationsvorrichtung verwendet wird, um beispielsweise mittels des Werkstückträgers ein Werkstück in eine bestimmte Position zu bringen.In such levitation devices, it is usually very important to know the exact position or orientation of the movable element, if necessary to adjust the magnetic field and so to keep the element floating, especially at a certain position. In addition, the exact knowledge of the position or orientation is also important in the context of a production process or the like, in which the levitation device is used, for example, to bring a workpiece into a specific position by means of the workpiece carrier.
Aus der
Aus der
Offenbarung der ErfindungDisclosure of the invention
Erfindungsgemäß werden Verfahren und eine Vorrichtung zum Bestimmen einer Position und/oder einer Orientierung eines frei schwebenden Elements sowie eine entsprechende Anordnung mit den Merkmalen der unabhängigen Patentansprüche vorgeschlagen. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind Gegenstand der Unteransprüche sowie der nachfolgenden Beschreibung.According to the invention, methods and an apparatus for determining a position and / or an orientation of a freely levitated element as well as a corresponding arrangement with the features of the independent patent claims are proposed. Advantageous embodiments are the subject of the dependent claims and the following description.
Die Erfindung dient dem Bestimmen einer Position und/oder Orientierung eines über einer Fläche einer statischen Einrichtung frei schwebenden Elements mit einem optischen Bilderfassungssystem. Insbesondere kann sich das Element dabei in drei translatorischen und drei rotatorischen Dimensionen frei bewegen. Als statische Einrichtung kommt hier beispielsweise eine eingangs erwähnte Levitationsvorrichtung in Betracht. Die genaue Funktionsweise einer solchen Einrichtung bzw. die Art und Weise, wie das Element zum freien Schweben gebracht wird, ist im Rahmen der vorliegenden Erfindung jedoch nicht von Bedeutung.The invention is for determining a position and / or orientation of a free-floating element over a surface of a static device with an optical image capture system. In particular, the element can move freely in three translational and three rotational dimensions. As a static device comes here, for example, a levitation device mentioned above into consideration. However, the exact functioning of such a device or the manner in which the element is brought to free floating is not significant in the context of the present invention.
Es wird hierzu ein optisches Bilderfassungssystems verwendet, das dazu vorgesehen ist, an und/oder in der statischen Einrichtung angeordnet zu werden. Als optisches Bilderfassungssystem kommen insbesondere verschiedene Arten von Kameras oder Laserabtasteinrichtungen in Frage, worauf später im Rahmen möglicher Ausführungsformen noch näher eingegangen werden soll. Unter Verwendung dieses optischen Bilderfassungssystems wird nun von dem Element wenigstens eine Abbildung erzeugt, die ein charakteristisches Muster, das auf dem Element angebracht ist, und/oder Umrisse des Elements umfasst. Während das charakteristische Muster, das auf dem Element angebracht sein kann, ein auf das Element aufgemaltes, aufgedrucktes oder beispielsweise mittels eines Etiketts oder dergleichen aufgeklebtes Muster sein kann, können die Umrisse einfach durch die Kanten bzw. Ränder des Elements gebildet werden.For this purpose, an optical image acquisition system is used, which is intended to be arranged on and / or in the static device. In particular, various types of cameras or laser scanning devices come into question as an optical image acquisition system, which will be discussed in more detail later in the context of possible embodiments. Using this optical imaging system, the element will now produce at least one image that includes a characteristic pattern attached to the element and / or outlines of the element. While the characteristic pattern that may be applied to the element may be a pattern painted, printed, or glued by, for example, a label or the like, the outlines may simply be formed by the edges of the element.
Anhand einer Position und/oder Orientierung der wenigstens einen Abbildung des Elements innerhalb eines Erfassungsbereichs des optischen Bilderfassungssystems und/oder anhand von Bildinformationen der wenigstens einen Abbildung kann nun die Position und/oder Orientierung des Elements relativ zu der statischen Einrichtung ermittelt werden. Als Bildinformationen kommen insbesondere Schärfeninformationen und/oder Abmessungen bzw. Größeninformationen der Abbildung des Elements in Betracht, wie später noch näher erläutert werden soll. Diese Ermittlung bzw. Berechnung kann beispielsweise in einer geeigneten Recheneinheit, die Teil einer Vorrichtung zum Bestimmen der Position und/oder Orientierung sein kann, erfolgen.Based on a position and / or orientation of the at least one image of the element within a detection range of the optical image acquisition system and / or based on image information of the at least one image, the position and / or orientation of the element relative to the static device can now be determined. In particular sharpening information and / or dimensions or size information of the image of the element come into consideration as image information, as will be explained in more detail later. This determination or calculation can take place, for example, in a suitable arithmetic unit, which may be part of a device for determining the position and / or orientation.
Die Erfindung macht sich hierbei zunutze, dass durch verhältnismäßig einfache optische Abbildungen sowohl die Position, d.h. eine Position in einer x-, y- und/oder z-Richtung (entsprechend einem kartesischen Koordinatensystem) als auch eine Drehung um die x-, y- und/oder z-Achse Richtung (entsprechend einem kartesischen Koordinatensystem) (also Roll-, Nick- und Gierwinkel) ermittelt werden kann. Für eine genauere Erläuterung, wie anhand der wenigstens einen Abbildung, d.h. der Position und/oder Orientierung der Abbildung selbst bzw. der in der wenigstens einen Abbildung enthaltenen Bildinformationen, die Position bzw. Orientierung des Elements ermittelt werden kann, sei auf die nachfolgenden Erläuterungen verwiesen. The invention makes use of the fact that by relatively simple optical images both the position, ie a position in an x-, y- and / or z-direction (corresponding to a Cartesian coordinate system) and a rotation about the x-, y- and / or z-axis direction (corresponding to a Cartesian coordinate system) (ie roll, pitch and yaw) can be determined. For a more detailed explanation of how the position or orientation of the element can be determined on the basis of the at least one image, ie the position and / or orientation of the image itself or the image information contained in the at least one image, reference should be made to the following explanations ,
Sowohl die Verwendung eines optischen Musters auf dem Element als auch die Verwendung der erfassten Umrisse des Elements zur Bestimmung der Position bzw. Orientierung bieten den Vorteil, dass das Gewicht des Elements kaum bis gar nicht verändert wird und so eine Nutzlast, wenn das Element beispielsweise als Werkstückträger verwendet wird, nicht oder zumindest nicht spürbar eingeschränkt wird. Da das Element bei der Bestimmung der Position bzw. Orientierung rein passiv ist, ist auch keine Strom- bzw. Energieversorgung im Element für etwaige Sensoren oder dergleichen nötig. Da optische Bilderfassungssysteme wie Kameras oder Laserabtastungseinrichtungen große Erfassungsbereiche aufweisen, ist zudem nur eine geringe Anzahl an Kameras bzw. Laserabtastungseinrichtungen nötig, was beispielsweise den Herstellungs- und Wartungsaufwand reduziert, insbesondere beispielsweise gegenüber Systemen mit einer sehr großen Anzahl an einzelnen Sensoren. Im Vergleich zu kapazitiven Systemen zur Bestimmung der Position bzw. Orientierung sind optische Systeme, insbesondere solche einfache wie Kameras oder Laserabtasteinrichtungen, unempfindlich gegen Einflüsse von Magnetfeldern, die beispielsweise verwendet werden, um das Element zum Schweben zu bringen.Both the use of an optical pattern on the element and the use of the detected contours of the element for determining the position or orientation offer the advantage that the weight of the element is little or not changed and thus a payload, if the element as Workpiece carrier is used, not or at least not noticeably restricted. Since the element in the determination of the position or orientation is purely passive, no power or energy supply in the element for any sensors or the like is necessary. In addition, since optical imaging systems such as cameras or laser scanning devices have large detection ranges, only a small number of cameras or laser scanning devices is required, which reduces, for example, the production and maintenance costs, in particular, for example, compared to systems with a very large number of individual sensors. Compared to capacitive systems for determining the position or orientation, optical systems, in particular such simple ones as cameras or laser scanning devices, are insensitive to influences of magnetic fields, which are used, for example, to levitate the element.
Vorzugsweise weist das optische Bilderfassungssystem ein oder mehrere Kameras oder Laserabtasteinrichtungen auf. Unter Verwendung des optischen Bilderfassungssystems, d.h. der ein oder mehreren Kameras bzw. Laserabtasteinrichtungen, kann dann von dem Element wenigstens eine Abbildung erzeugt werden, die ein charakteristisches Muster, das auf dem Element angebracht ist, aufweist. Die Anzahl der Kameras bzw. Laserabtasteinrichtungen kann dabei je nach der Größe der Fläche, über welcher das Element schwebt, und nach Erfassungsbereich und Auflösung der Kameras bzw. Laserabtasteinrichtungen gewählt werden. Es versteht sich, dass die Anordnung der Kameras bzw. Laserabtasteinrichtungen derart erfolgen sollte, dass sich das charakteristische Muster an dem Element immer im Erfassungsbereich wenigstens einer Kamera bzw. Laserabtasteinrichtung befindet. Je nach Größenverhältnissen kann hier auch eine Kamera bzw. Laserabtasteinrichtung ausreichend sein. Ein optisches Muster an dem Element lässt sich dann sehr einfach durch die Kameras bzw. Laserabtasteinrichtungen erfassen und die erzeugte wenigstens eine Abbildung entsprechend auswerten.Preferably, the image acquisition optical system comprises one or more cameras or laser scanning devices. Using the image acquisition optical system, i. of the one or more cameras or laser scanning devices, at least one image may then be produced by the element which has a characteristic pattern which is applied to the element. The number of cameras or laser scanning devices can be selected depending on the size of the area over which the element floats and on the detection area and resolution of the cameras or laser scanning devices. It is understood that the arrangement of the cameras or laser scanning devices should be such that the characteristic pattern on the element is always in the detection range of at least one camera or laser scanning device. Depending on the size ratios, a camera or laser scanning device may be sufficient here as well. An optical pattern on the element can then be detected very simply by the cameras or laser scanning devices and the generated at least one image can be evaluated accordingly.
Bei der Verwendung von Kameras kommen insbesondere Hochgeschwindigkeitskameras in Frage, so dass die Position bzw. Orientierung möglichst zeitnah und aktuell ermittelt werden können. Für das charakteristische Muster kommen dabei insbesondere solche in Frage, die in der Abbildung gut analysierbar sind. Denkbar ist beispielsweise, dass das Muster in schwarz/weiß gehalten wird, beispielsweise in Form eines QR-Codes oder dergleichen.When using cameras, in particular high-speed cameras come into question, so that the position or orientation can be determined as promptly and up-to-date as possible. For the characteristic pattern, in particular those in question, which are well analyzable in the figure. It is conceivable, for example, that the pattern is kept in black and white, for example in the form of a QR code or the like.
Bei der Verwendung von Laserabtasteinrichtungen, also beispielsweise Einrichtungen, die einen Laserstrahl entlang einer vorgegebenen Abtastkurve (z.B. kreis- oder spiralförmig) aussenden und einen reflektierten Strahl erfassen können (auch unter dem Begriff Laserscanning bekannt) sollte darauf geachtet werden, dass das charakteristische Muster entsprechend an die Abtastkurve angepasst ist, um beispielsweise jeder Abtastung eine eindeutige Position zuordnen zu können. Bei dem charakteristischen Muster kann zusätzlich berücksichtigt werden, dass solche Farben verwendet werden, die eine möglichst deutliche Abbildung des Musters erlauben, beispielsweise kann hier ebenfalls schwarz/weiß verwendet werden.When using laser scanning devices, that is to say devices which emit a laser beam along a predetermined scanning curve (eg circular or spiral) and can detect a reflected beam (also known by the term laser scanning), care should be taken to match the characteristic pattern accordingly the sampling curve is adapted, for example, to be able to assign a unique position to each sampling. In the case of the characteristic pattern, it is additionally possible to take into account that those colors are used which allow the illustration of the pattern to be as clear as possible, for example black / white can also be used here.
Besonders zweckmäßig ist dabei, wenn das Element mittels der optischen Erfassungseinrichtung unabhängig von der Position des Elements relativ zur Fläche von wenigstens zwei Kameras oder Laserabtasteinrichtungen gleichzeitig erfassbar ist. Dies ermöglicht eine redundante Ermittlung der Position bzw. Orientierung anhand zweier Abbildungen. Somit kann ein genauerer Wert für die Position bzw. Orientierung ermittelt werden.It is particularly expedient if the element can be detected simultaneously by means of the optical detection device, independently of the position of the element relative to the surface of at least two cameras or laser scanning devices. This allows a redundant determination of the position or orientation with reference to two figures. Thus, a more accurate value for the position or orientation can be determined.
Das optische Bilderfassungssystem kann vorteilhafterweise dazu vorgesehen sein, wenigstens teilweise unter und/oder in der Fläche der statischen Einrichtung angeordnet zu werden. Die Kameras bzw. Laserabtasteinrichtungen können hierzu in der statischen Einrichtung versenkt angeordnet werden. Dann kann das charakteristische Muster an der Unterseite, d.h. der der Fläche zugewandten Seite, des Elements angebracht werden. Je nach durchschnittlicher Höhe, in welcher das Element über der Fläche schwebt, kann hier ein entsprechender Winkelbereich pro Kamera bzw. Laserabtasteinrichtung erfasst werden müssen. Jedoch variiert der vertikale Abstand des Elements zu der Kamera bzw. der Laserabtasteinrichtung verhältnismäßig wenig. Dies bedeutet, dass wenig Schärfentiefe nötig ist, wenngleich jedoch eine Laserabtasteinrichtung beispielsweise eine deutlich höhere Schärfentiefe als eine Kamera ermöglicht.The optical image acquisition system can advantageously be provided to be arranged at least partially below and / or in the surface of the static device. The cameras or laser scanning devices can be arranged sunk in the static device for this purpose. Then, the characteristic pattern on the bottom, ie the surface facing side, of the element can be attached. Depending on the average height at which the element floats above the surface, a corresponding angular range per camera or laser scanning device may have to be detected here. However, the vertical distance of the element to the camera or the laser scanner varies relatively little. This means that little depth of field is needed although a laser scanner, for example, allows a much higher depth of field than a camera.
Das optische Bilderfassungssystem kann vorzugsweise auch dazu vorgesehen sein, wenigstens teilweise an die Fläche der statischen Einrichtung angrenzend und sich über die Fläche erhebend angeordnet zu werden. Das optische Bilderfassungssystem kann hierzu beispielsweise in einer Wandung oder in Türmen neben der Fläche angeordnet sein. Dann kann das charakteristische Muster an den Seitenflächen, d.h. der den Wandungen bzw. Türmen zugewandten Seiten, (senkrecht zur Bewegungsrichtung) des Elements angebracht werden. In diesem Fall sollte sichergestellt werden, dass die Anzahl der Seitenflächen an dem Element, die das charakteristische Muster umfasst, und die Anzahl der Wandungen bzw. Türme, an denen das optische Bilderfassungssystem vorgesehen ist, derart aufeinander abgestimmt sind, dass unabhängig von einer Drehung des Elements um die vertikale Achse immer das Muster erfasst werden kann. Ein zu erfassender Winkelbereich pro Kamera bzw. Laserabtasteinrichtung kann hier zumindest in der Richtung senkrecht zu Fläche der statischen Einrichtung gering sein.The optical imaging system may also be preferably provided to be at least partially adjacent to the surface of the static device and to be elevationally disposed over the surface. For this purpose, the optical image acquisition system can be arranged, for example, in a wall or in towers next to the surface. Then, the characteristic pattern on the side surfaces, i. the walls or towers facing sides, (perpendicular to the direction of movement) of the element are attached. In this case, it should be ensured that the number of side surfaces on the element comprising the characteristic pattern and the number of walls or towers on which the image acquisition optical system is provided are coordinated with each other so that regardless of rotation of the Elements around the vertical axis can always capture the pattern. An angular range to be detected per camera or laser scanning device can be low here, at least in the direction perpendicular to the surface of the static device.
Es sei angemerkt, dass es zwar ausreichend ist, wenn das optische Bilderfassungssystem entweder in der Fläche oder seitlich angeordnet wird, jedoch kann durch Verwendung beider Varianten gleichzeitig die Ermittlung der Position bzw. Orientierung genauer erfolgen.It should be noted that although it is sufficient if the image acquisition optical system is arranged either in the surface or laterally, by using both variants, the determination of the position or orientation can be made more accurately at the same time.
Die Position des Elements kann nun vorzugsweise anhand einer Position der wenigstens einen Abbildung innerhalb eines Erfassungsbereichs des optischen Bilderfassungssystems und/oder anhand einer Größe der wenigstens einen Abbildung ermittelt werden. Wenn das optische Bilderfassungssystem in der Fläche der statischen Einrichtung angeordnet ist, kann die Position in den Richtungen parallel zur Fläche, d.h. der x- und y-Richtung, einfach anhand der x- und y-Position der wenigstens einen Abbildung in dem Erfassungsbereich des optischen Systems, ggf. unter Berücksichtigung des Erfassungsbereichs der einzelnen Kamera bzw. Laserabtasteinrichtung relativ zur gesamten statischen Einrichtung ermittelt werden. Die Position in Richtung senkrecht zur Ebene, d.h. die z-Position, kann dann einfach anhand der Größe der wenigstens einen Abbildung ermittelt werden, da die Abbildung des Elements bzw. des charakteristischen Musters umso kleiner wird, je weiter das Element von der optischen Erfassungseinrichtung und damit in z-Richtung entfernt ist.The position of the element can now be determined preferably based on a position of the at least one image within a detection range of the optical image acquisition system and / or on the basis of a size of the at least one image. When the image-sensing optical system is disposed in the surface of the static device, the position in the directions parallel to the surface, i. the x- and y-direction, based on the x and y position of the at least one image in the detection range of the optical system, possibly taking into account the detection range of the individual camera or laser scanning relative to the entire static device determined. The position in the direction perpendicular to the plane, i. The z-position can then be determined simply from the size of the at least one image, since the further the element is from the optical detection device and thus in the z-direction, the smaller the image of the element or the characteristic pattern becomes.
Wenn das optische Bilderfassungssystem in der Wandung der statischen Einrichtung angeordnet ist, kann die Position in einer der Richtungen parallel zur Fläche und der Richtung senkrecht zur Fläche, also der x- oder y-Richtung und der z-Richtung, anhand der Position der wenigstens einen Abbildung innerhalb des Erfassungsbereichs ermittelt werden. Die Position in der anderen Richtung parallel zur Fläche, also der y- oder x-Richtung, kann dann anhand der Größe der wenigstens einen Abbildung ermittelt werden.When the optical imaging system is disposed in the wall of the static device, the position in one of the directions parallel to the surface and the direction perpendicular to the surface, that is, the x or y direction and the z direction, can be determined by the position of the at least one Figure within the coverage area. The position in the other direction parallel to the surface, ie the y or x direction, can then be determined on the basis of the size of the at least one image.
Die Orientierung des Elements kann vorteilhafterweise anhand einer Orientierung des charakteristischen Musters relativ zu dem optischen Bilderfassungssystem und/oder anhand einer Verzerrung des charakteristischen Musters ermittelt werden. Wenn das optische Bilderfassungssystem in der Fläche der statischen Einrichtung angeordnet ist, kann die Orientierung hinsichtlich einer Drehung um die Achse senkrecht zur Fläche, also der z-Achse, sehr einfach durch eine Orientierung des charakteristischen Musters in dem Erfassungsbereich des optischen Bilderfassungssystems ermittelt werden. Eine Drehung des Musters um die z-Achse bedeutet eine entsprechende Drehung des Musters bzw. der Abbildung in dem Erfassungsbereich. Es versteht sich, dass dabei ein geeignetes Musters, d.h. kein rotationsymmetrisches, Muster gewählt werden sollte. Eine Drehung um eine der zur Fläche parallelen Achsen, d.h. der x- oder y-Achse lässt sich anhand einer Verzerrung des charakteristischen Musters ermitteln. Da sich die Abstände der auf beiden Seiten der entsprechenden Achse gelegenen Anteile des Musters zur optischen Erfassungseinrichtung bei einer Drehung um diese Achse unterschiedlich ändern, entsteht eine Verzerrung, d.h. ein Rechteck erscheint beispielsweise als Trapez. Bei entsprechender Auflösung der optischen Erfassungseinrichtung lässt sich auf diese Weise also sehr einfach auch die Orientierung bezüglich der x- und y-Achse ermitteln.The orientation of the element can advantageously be determined based on an orientation of the characteristic pattern relative to the optical image acquisition system and / or on the basis of a distortion of the characteristic pattern. When the image-sensing optical system is disposed in the surface of the static device, the orientation with respect to rotation about the axis perpendicular to the surface, that is, the z-axis, can be easily determined by an orientation of the characteristic pattern in the detection range of the image sensing optical system. A rotation of the pattern about the z-axis means a corresponding rotation of the pattern or the image in the detection area. It is understood that a suitable pattern, ie no rotationally symmetric, pattern should be selected. A rotation about one of the axes parallel to the surface, ie the x- or y-axis can be determined by means of a distortion of the characteristic pattern. Since the distances of the portions of the pattern located on both sides of the corresponding axis to the optical detection device change differently during a rotation about this axis, a distortion arises, ie a rectangle appears for example as a trapeze. With a corresponding resolution of the optical detection device, the orientation with respect to the x and y axes can thus be determined very simply in this way.
Wenn das optische Bilderfassungssystem in der Wandung der statischen Einrichtung angeordnet ist, kann die Orientierung hinsichtlich einer Drehung um die Achse parallel zur Fläche und senkrecht zur entsprechenden Wandungsseite, also beispielsweise der x-Achse, sehr einfach durch eine Orientierung des charakteristischen Musters in dem Erfassungsbereich des optischen Bilderfassungssystems ermittelt werden. Eine Drehung des Musters um die x-Achse bedeutet eine entsprechende Drehung des Musters bzw. der Abbildung in dem Erfassungsbereich. Es versteht sich, dass dabei ein geeignetes Musters, d.h. kein rotationsymmetrisches, Muster gewählt werden sollte. Eine Drehung um die andere Achse parallel zur Fläche und um die Achse senkrecht zur Fläche, also y- und z-Achse, lässt sich anhand einer Verzerrung des charakteristischen Musters ermitteln. Da sich die Abstände der auf beiden Seiten der entsprechenden Achse gelegenen Anteile des Musters zur optischen Erfassungseinrichtung bei einer Drehung um diese Achse unterschiedlich ändern, entsteht eine Verzerrung, d.h. ein Rechteck erscheint beispielsweise als Trapez. Bei entsprechender Auflösung der optischen Erfassungseinrichtung lässt sich auf diese Weise also sehr einfach auch die Orientierung bezüglich der y- und z-Achse ermitteln.When the image acquisition optical system is disposed in the wall of the static device, the orientation with respect to rotation about the axis parallel to the surface and perpendicular to the corresponding wall side, eg, the x-axis, can be easily determined by an orientation of the characteristic pattern in the detection area of the be determined optical imaging system. A rotation of the pattern about the x-axis means a corresponding rotation of the pattern or the image in the detection area. It will be understood that there is a suitable pattern, i. no rotationally symmetric, pattern should be selected. A rotation about the other axis parallel to the surface and about the axis perpendicular to the surface, ie y- and z-axis, can be determined by means of a distortion of the characteristic pattern. Since the distances of the portions of the pattern on either side of the corresponding axis to the optical detection means change differently when rotated about this axis, distortion, i. E. For example, a rectangle appears as a trapezoid. With a corresponding resolution of the optical detection device, the orientation with respect to the y-axis and z-axis can thus be determined very simply in this way.
Eine weitere bevorzugte Möglichkeit für das optische Bilderfassungssystem sind sog. Zeilenkameras. Hierbei handelt es sich um Kameras oder Sensoren, die sich linear in eine Richtung erstrecken und verhältnismäßig schmal sind. Im vorliegenden Fall können diese Zeilenkameras dazu vorgesehen sein, in der Fläche der statischen Einrichtung angeordnet zu werden. Auf diese Weise kann eine Art Gitter aus Kameras gebildet werden, die sich in einer ersten Richtung und einer zweiten, von der ersten verschiedenen, Richtung, insbesondere senkrecht dazu, erstrecken. Dann kann unter Verwendung des optischen Bilderfassungssystems, also der Zeilenkameras, von dem Element wenigstens eine Abbildung erzeugt werden, die Umrisse des Elements umfasst. Dies ist möglich, da das Element auf die Fläche einen Schatten wirft, so dass die Kanten des Elements mittels der Zeilenkameras erfasst werden können. Eine Anbringung eines Musters an dem Element ist hierbei nicht nötig.Another preferred option for the optical image capture system are so-called line scan cameras. These are cameras or sensors that extend linearly in one direction and are relatively narrow. In the present case, these line scan cameras can be designed to be arranged in the surface of the static device. In this way, a kind of grating may be formed of cameras extending in a first direction and a second direction different from the first, in particular perpendicular thereto. Then, using the image acquisition optical system, that is, the line scan cameras, at least one image may be generated from the element that includes outlines of the element. This is possible because the element casts a shadow on the surface so that the edges of the element can be detected by the line scan cameras. An attachment of a pattern on the element is not necessary here.
Zweckmäßig kann es hierbei sein, dass das Element unabhängig von der Position des Elements relativ zur Fläche von wenigstens zwei Zeilenkameras in der ersten Richtung und/oder von wenigstens zwei Zeilenkameras in der zweiten Richtung jeweils gleichzeitig erfassbar ist. Damit lassen sich Position und Orientierung genauer ermitteln, wie noch erläutert werden soll.It may be expedient hereby that the element can be detected simultaneously in each case simultaneously, independently of the position of the element relative to the surface of at least two line scan cameras in the first direction and / or of at least two line scan cameras in the second direction. This position and orientation can be determined more accurately, as will be explained.
Die Position des Elements kann dann vorzugsweise anhand einer Position der wenigstens einen Abbildung innerhalb eines Erfassungsbereichs des optischen Bilderfassungssystems und/oder anhand einer Schärfeninformation der wenigstens einen Abbildung ermittelt werden.The position of the element can then preferably be determined on the basis of a position of the at least one image within a detection area of the optical image acquisition system and / or based on a sharpness information of the at least one image.
Die Position in den Richtungen parallel zur Fläche, d.h. der x- und y-Richtung, kann einfach anhand der x- und y-Position der wenigstens einen Abbildung in dem Erfassungsbereich der Zeilenkameras relativ zur gesamten statischen Einrichtung ermittelt werden. Die Position in der Richtung senkrecht zur Ebene, d.h. die z-Position, kann dann einfach anhand der Schärfeninformation der wenigstens einen Abbildung ermittelt werden, da die Abbildung des Elements umso unschärfer wird, je weiter das Element von der optischen Erfassungseinrichtung und damit in z-Richtung entfernt ist. In diesem Fall kann auch darauf geachtet werden, dass ein minimal möglicher Abstand in z-Richtung noch scharf abgebildet wird, da andernfalls eine Unschärfe auch bei kleiner werdendem Abstand auftreten kann. Es versteht sich, dass entsprechend auch ein maximal möglicher Abstand scharf abgebildet werden kann und dass ein kleiner werdender Abstand anhand der Schärfeninformation ermittelt wird.The position in the directions parallel to the surface, i. x and y direction, can be easily determined from the x and y position of the at least one image in the detection range of the line scan cameras relative to the entire static device. The position in the direction perpendicular to the plane, i. The z-position can then be determined simply from the sharpness information of the at least one image, since the further the element is from the optical detection device and thus in the z-direction, the less blurred the image of the element becomes. In this case, it is also possible to ensure that a minimum possible distance in the z-direction is still sharply displayed, since otherwise a blur may occur even as the distance becomes smaller. It is understood that correspondingly, a maximum possible distance can be sharply displayed and that a decreasing distance is determined on the basis of the sharpness information.
Die Orientierung des Elements kann vorteilhafterweise anhand einer Orientierung der Abbildung relativ zu dem optischen Bilderfassungssystem und/oder anhand von Schärfeninformationen der wenigstens einen Abbildung an verschiedenen Stellen innerhalb der wenigstens einen Abbildung ermittelt werden. Hierzu sollten jeweils zwei Zeilenkameras das Element erfassen. Eine Drehung um die z-Achse lässt sich somit anhand der unterschiedlichen Kantenpositionen auf zwei nebeneinander liegenden Zeilenkameras in x- und/oder y-Richtung ermitteln. Es versteht sich, dass das Element in diesem Fall keinen kreisrunden Umriss haben sollte. Bei genügend hoher Auflösung kann jedoch auch bei nur einer Zeilenkamera eine Drehung der Kante erkannt werden. Eine Drehung um eine der beiden anderen Achsen, also die x- bzw. y-Achse, lässt sich anhand unterschiedlicher Schärfeninformationen in den Stellen, die durch die beiden nebeneinander liegenden Zeilenkameras in der Abbildung erzeugt werden, ermitteln.The orientation of the element can advantageously be determined on the basis of an orientation of the image relative to the optical image acquisition system and / or on the basis of sharpness information of the at least one image at different locations within the at least one image. For this purpose, two line scan cameras should each detect the element. A rotation about the z-axis can thus be determined on the basis of the different edge positions on two adjacent line scan cameras in the x and / or y direction. It is understood that the element in this case should not have a circular outline. With sufficiently high resolution, however, a rotation of the edge can be detected even with only one line scan camera. A rotation about one of the other two axes, ie the x- or y-axis, can be determined by means of different sharpening information in the places that are generated by the two adjacent line scan cameras in the figure.
Es ist von Vorteil, wenn das optische Bilderfassungssystem Beleuchtungsmittel aufweist, die dazu eingerichtet sind, das Element zu beleuchten. Hierzu können beispielsweise geeignete Lampen, insbesondere LEDs, vorgesehen sein. Damit kann auch bei schlechter Umgebungsbeleuchtung eine möglichst gute Abbildung des Elements bzw. des charakteristischen Musters erzeugt werden.It is advantageous if the optical image acquisition system has illumination means which are set up to illuminate the element. For this purpose, for example, suitable lamps, in particular LEDs, can be provided. Thus, the best possible imaging of the element or the characteristic pattern can be generated even in poor ambient lighting.
Es ist auch von Vorteil, wenn das charakteristische Muster optisch aktiv erzeugbar ist, bspw. durch LEDs oder ein Display. Zwar ist hierzu eine Stromversorgung nötig (die sich bei LEDs jedoch in Grenzen hält), jedoch kann damit, insbesondere bei schlechten Lichtverhältnissen, eine bessere Erfassung des Musters durch das optische Bilderfassungssystem erreicht werden.It is also advantageous if the characteristic pattern can be generated optically active, for example by LEDs or a display. Although this requires a power supply (which, however, is limited in the case of LEDs), better detection of the pattern by the optical image acquisition system can be achieved, in particular in poor light conditions.
Vorzugsweise kann auch eine Position und/oder Orientierung wenigstens eines weiteren Elements, das über der Fläche frei schwebt, ermittelt werden. Hierzu kann unter Verwendung des optischen Bilderfassungssystems von dem wenigstens einen weiteren Element wenigstens eine Abbildung erzeugt werden, die ein charakteristisches Muster, das auf dem wenigstens einen weiteren Element angebracht und von demjenigen des (ersten) Elements verschieden ist, und/oder Umrisse des wenigstens einen weiteren Elements, die sich von denjenigen des (ersten) Elements unterscheiden, abbildet. Durch die Verwendung unterschiedlicher Muster bzw. unterschiedlicher Umrisse können also sehr einfach mehrere Elemente hinsichtlich ihrer Position bzw. Orientierung auf die gleiche Weise wie für ein Element beschrieben ermittelt werden.Preferably, a position and / or orientation of at least one further element which floats above the surface can also be determined. For this purpose, at least one image may be generated using the image acquisition optical system of the at least one further element, which has a characteristic pattern attached to the at least one further element and different from that of the (first) element, and / or outlines of the at least one another element that differs from those of the (first) element maps. By using different patterns or different outlines, it is thus very easy to determine a plurality of elements with regard to their position or orientation in the same way as described for an element.
Weitere Vorteile und Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung und der beiliegenden Zeichnung. Further advantages and embodiments of the invention will become apparent from the description and the accompanying drawings.
Es versteht sich, dass die vorstehend genannten und die nachfolgend noch zu erläuternden Merkmale nicht nur in der jeweils angegebenen Kombination, sondern auch in anderen Kombinationen oder in Alleinstellung verwendbar sind, ohne den Rahmen der vorliegenden Erfindung zu verlassen.It is understood that the features mentioned above and those yet to be explained below can be used not only in the particular combination indicated, but also in other combinations or in isolation, without departing from the scope of the present invention.
Die Erfindung ist anhand von Ausführungsbeispielen in der Zeichnung schematisch dargestellt und wird im Folgenden unter Bezugnahme auf die Zeichnung ausführlich beschrieben.The invention is illustrated schematically by means of exemplary embodiments in the drawing and will be described in detail below with reference to the drawing.
Figurenlistelist of figures
-
1a zeigt schematisch eine erfindungsgemäße Anordnung in einer bevorzugten Ausführungsform.1a schematically shows an inventive arrangement in a preferred embodiment. -
1b zeigt eine Abbildung entsprechend der Anordnung gemäß1a .1b shows an image according to the arrangement according to1a , -
2a zeigt schematisch eine erfindungsgemäße Anordnung in einer weiteren bevorzugten Ausführungsform.2a schematically shows an inventive arrangement in a further preferred embodiment. -
2b zeigt eine Abbildung entsprechend der Anordnung gemäß2a .2 B shows an image according to the arrangement according to2a , -
3a zeigt schematisch eine erfindungsgemäße Anordnung in einer weiteren bevorzugten Ausführungsform.3a schematically shows an inventive arrangement in a further preferred embodiment. -
3b zeigt eine Abbildung entsprechend der Anordnung gemäß3a .3b shows an image according to the arrangement according to3a ,
Detaillierte Beschreibung der ZeichnungDetailed description of the drawing
In
In der statischen Einrichtung
Weiterhin ist eine Recheneinheit
An dem Element
In
Weiterhin ist beispielhaft ein einzelner Erfassungsbereich
In dem Erfassungsbereich ist nun auch eine
Je nach Verarbeitung der mittels der Kameras aufgenommenen Bilder in der Recheneinheit
Anhand der
Weiterhin ist zu sehen, dass die Orientierung des Elements bezüglich einer Drehung um die z-Achse anhand der Orientierung des charakteristischen Musters
Eine Drehung um die x- und/oder y-Achse lässt sich ebenfalls anhand des charakteristischen Musters
Durch eine geeignete Bildverarbeitung der von den Kameras
In
Vom grundlegenden Aufbau her, insbesondere hinsichtlich der Funktionsweise, um das Element
In der statischen Einrichtung
An dem Element
Weiterhin ist eine Recheneinheit
In
In dem Erfassungsbereich sind nun auch zwei Abbildung
Anhand der
Die Position in x-Richtung hingegen lässt sich anhand der Größe der Abbildungen
Weiterhin ist zu sehen, dass die Orientierung des Elements bezüglich einer Drehung um die x-Achse anhand der Orientierung des charakteristischen Musters
Eine Drehung um die y- und/oder z-Achse lässt sich ebenfalls anhand des charakteristischen Musters
Durch eine geeignete Bildverarbeitung der von den Kameras
Wie insbesondere bei einem Vergleich mit der Anordnung gemäß
Ebenso ist eine Kombination von Kameras in der Fläche gemäß
In
Vom grundlegenden Aufbau her, insbesondere hinsichtlich der Funktionsweise, um das Element
In der statischen Einrichtung
Weiterhin ist eine Recheneinheit
In
Die einzelnen Zeilenkameras sind vorliegend zumindest in der Lage, ein Hell-Dunkel-Bild zu erzeugen. Die
Anhand der
Weiterhin ist zu sehen, dass die Orientierung des Elements bezüglich einer Drehung um die z-Achse anhand der Orientierung der
Eine Drehung um die x- und/oder y-Achse lässt sich anhand von Schärfeninformationen in der
Durch eine geeignete Bildverarbeitung der von den Kameras
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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