DE102016107249B4 - Printed circuit board with a recess for an electrical component, system with the printed circuit board and method for manufacturing the printed circuit board - Google Patents
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Abstract
Leiterplatte (111), die umfasst:- eine erste Außenfläche (112),- eine der ersten Außenfläche (112) gegenüberliegende zweite Außenfläche (113),- eine Aussparung (121) mit einem Boden (122), wobei sich die Aussparung (121) weg von der ersten Außenfläche (112) und hin zu der zweiten Außenfläche (113) erstreckt,- Lötpads (191, 192), die auf dem Boden (122) der Aussparung (121) angeordnet sind und die geeignet sind, um eine Verbindung mit einem Bauelement (180) herzustellen, und- mindestens einen Dickmetall-Leiter (171), der in der Aussparung (121) angeordnet ist, wobei der mindestens eine Dickmetall-Leiter (171) als Inlay der Leiterplatte (111) ausgebildet ist und eine Dicke von mehr als 250 um aufweist.Printed circuit board (111), which comprises: - a first outer surface (112), - a second outer surface (113) opposite the first outer surface (112), - a recess (121) with a base (122), the recess (121 ) extending away from the first outer surface (112) and towards the second outer surface (113),- soldering pads (191, 192) arranged on the bottom (122) of the recess (121) and suitable for making a connection to produce with a component (180), and- at least one thick metal conductor (171), which is arranged in the recess (121), wherein the at least one thick metal conductor (171) is designed as an inlay of the circuit board (111) and a thickness greater than 250 µm.
Description
TECHNISCHES GEBIETTECHNICAL AREA
Verschiedene Ausführungsformen betreffen eine Leiterplatte, die eine Aussparung und Lötpads, die auf einem Boden der Aussparung angeordnet sind, umfasst.Various embodiments relate to a printed circuit board that includes a recess and solder pads that are arranged on a bottom of the recess.
Die
Die
HINTERGRUNDBACKGROUND
Typischerweise werden Halbleiterbauelemente durch Ausbilden von Halbleiterstrukturen, beispielsweise Schalter als Metalloxid Feldeffekttransistoren (MOSFET), auf einem Chip und anschließendes Anordnen des Chips in einem Gehäuse hergestellt. Das Halbleiterbauelement umfasst typischerweise ein oder mehrere Anschlüsse, die geeignet sind, um eine elektrische und / oder thermische Verbindung mit Leiterbahnen einer Leiterplatte herzustellen. Typischerweise werden solche Anschlüsse zumindest teilweise als Pins ausgestaltet.Typically, semiconductor devices are manufactured by forming semiconductor structures, such as metal oxide field effect transistors (MOSFET) switches, on a chip and then placing the chip in a package. The semiconductor component typically includes one or more terminals that are suitable for establishing an electrical and/or thermal connection with conductor tracks of a printed circuit board. Typically, such connections are designed at least partially as pins.
Je nach Typ des Halbleiterbauelements können vergleichsweise hohe Ströme fließen. Besonders hohe Ströme, zum Beispiel mehr als 10 A, können bei sog. Leistungs-Halbleiterbauelementen fließen. In einem solchen Zusammenhang kann es einerseits erstrebenswert sein, die Leiterplatte derart auszugestalten, dass niederohmige Stromzuführungen an die Anschlüsse des Halbleiterbauelements implementiert werden; andererseits kann es erstrebenswert sein, im Bereich des Halbleiterbauelements entstehende Wärme effizient abzuleiten.Depending on the type of semiconductor component, comparatively high currents can flow. Particularly high currents, for example more than 10 A, can flow in so-called power semiconductor components. In such a context, it can be desirable on the one hand to design the printed circuit board in such a way that low-impedance power supplies are implemented at the connections of the semiconductor component; on the other hand, it can be desirable to efficiently dissipate heat generated in the area of the semiconductor component.
Bei herkömmlichen Leiterplatten werden typischerweise Kühlkörper als Wärmesenken eingesetzt. Typischerweise sind die Kühlkörper in einem gewissen Abstand in Bezug auf das Halbleiterbauelement angeordnet. Zur besseren Wärmeleitung zwischen dem Halbleiterbauelement und dem Kühlkörper werden häufig metallische Durchleitungen, häufig als Vias bezeichnet, verwendet. Trotzdem können solche Architekturen eine Wärmeableitung von Halbleiterbauelement mit beschränkter Leistungsfähigkeit bereitstellen.In conventional printed circuit boards, heat sinks are typically used as heat sinks. Typically, the heatsinks are arranged at a certain distance in relation to the semiconductor device. Metallic passages, frequently referred to as vias, are often used to improve heat conduction between the semiconductor component and the heat sink. Nevertheless, such architectures can provide heat dissipation from semiconductor devices with limited performance.
ZUSAMMENFASSUNGSUMMARY
Deshalb besteht ein Bedarf für verbesserte Techniken zur Wärmeableitung in Leiterplatten. Diese Aufgabe wird von den Merkmalen der unabhängigen Patentansprüche gelöst. Die abhängigen Patentansprüche definieren Ausführungsformen.Therefore, there is a need for improved techniques for heat dissipation in printed circuit boards. This object is solved by the features of the independent patent claims. The dependent claims define embodiments.
In einem Beispiel umfasst eine Leiterplatte eine erste Außenfläche und eine zweite Außenfläche. Die zweite Außenfläche liegt gegenüber von der ersten Außenfläche. Die Leiterplatte umfasst auch eine Aussparung mit einem Boden. Die Aussparung erstreckt sich weg von der ersten Außenfläche und hin zu der zweiten Außenfläche. Die Leiterplatte umfasst auch Lötpads, die auf dem Boden der Aussparung angeordnet sind. Die Lötpads sind geeignet, um eine Verbindung mit einem Bauelement herzustellen. Beispielsweise kann das Bauelement ein elektrisches Bauelement, wie z.B. ein Halbleiterbauelement, sein. Z.B. kann eine elektrische Verbindung mit dem Bauelement hergestellt werden. Dabei umfasst die Leiterplatte auch mindestens einen Dickmetall-Leiter, der in der Aussparung angeordnet ist. Dieser mindestens eine Dickmetall-Leiter ist als Inlay der Leiterplatte ausgebildet und weist eine Dicke von mehr als 250 um auf.In one example, a circuit board includes a first face and a second face. The second exterior surface is opposite the first exterior surface. The circuit board also includes a cavity with a bottom. The recess extends away from the first exterior surface and toward the second exterior surface. The circuit board also includes solder pads located on the bottom of the recess. The solder pads are suitable for making a connection with a component. For example, the device may be an electrical device such as a semiconductor device. For example, an electrical connection can be made to the device. In this case, the printed circuit board also includes at least one thick metal conductor, which is arranged in the cutout. This at least one thick metal conductor is designed as an inlay of the printed circuit board and has a thickness of more than 250 μm.
In einem weiteren Beispiel umfasst ein Verfahren zur Herstellung einer Leiterplatte das Erzeugen eine Aussparung mit einem Boden. Die Aussparung erstreckt sich weg von einer ersten Außenfläche der Leiterplatte und hin zu einer zweiten Außenfläche. Die zweite Außenfläche liegt gegenüber von der ersten Außenfläche. Das Verfahren umfasst weiterhin das Erzeugen von Lötpads auf einem Boden der Aussparung. Die Lötpads sind geeignet, um eine Verbindung mit einem Bauelement herzustellen. Dabei ist mindestens ein Dickmetall-Leiter der Leiterplatte in der Aussparung angeordnet. Dieser mindestens eine Dickmetall-Leiter ist als Inlay der Leiterplatte ausgebildet und weist eine Dicke von mehr als 250 um auf.In another example, a method of manufacturing a printed circuit board includes creating a cavity having a bottom. The recess extends away from a first exterior surface of the circuit board and toward a second exterior surface. The second exterior surface is opposite the first exterior surface. The method further includes creating solder pads on a bottom of the recess. The solder pads are suitable for making a connection with a component. At least one thick metal conductor of the printed circuit board is arranged in the recess. This at least one thick metal conductor is designed as an inlay of the printed circuit board and has a thickness of more than 250 μm.
Die oben dargelegten Merkmale und Merkmale, die nachfolgend beschrieben werden, können nicht nur in den entsprechenden explizit dargelegten Kombinationen verwendet werden, sondern auch in weiteren Kombinationen oder isoliert, ohne den Schutzumfang der vorliegenden Erfindung zu verlassen.The features set out above and features described below can be used not only in the corresponding combinations explicitly set out, but also in further combinations or in isolation without departing from the protective scope of the present invention.
Figurenlistecharacter list
Die oben beschriebenen Eigenschaften, Merkmale und Vorteile dieser Erfindung sowie die Art und Weise, wie diese erreicht werden, werden klarer und deutlicher verständlich im Zusammenhang mit der folgenden Beschreibung der Ausführungsbeispiele, die im Zusammenhang mit den Zeichnungen näher erläutert werden.
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1 illustriert schematisch eine Leiterplatte und ein darauf angebrachtes Halbleiterbauelement gemäß verschiedener Referenzimplementierungen. -
2A ist eine schematische Aufsicht auf eine Leiterplatte gemäß verschiedener Ausführungsformen, die Aussparungen für Halbleiterbauelemente umfasst. -
2B ist eine schematische Schnittzeichnung der Leiterplatte gemäß2A im Bereich einer Aussparung. -
3A ist eine schematische Schnittzeichnung einer Leiterplatte gemäß verschiedener Ausführungsformen, die eine Aussparung für ein Halbleiterbauelement umfasst. -
3B ist eine schematische Schnittzeichnung einer Leiterplatte gemäß verschiedener Ausführungsformen, die eine gestufte Aussparung für ein Halbleiterbauelement umfasst. -
4 ist eine schematische Schnittzeichnung einer Leiterplatte gemäß verschiedener Ausführungsformen, die eine Aussparung für ein Halbleiterbauelement umfasst. -
5 ist eine schematische Schnittzeichnung einer Leiterplatte gemäß verschiedener Ausführungsformen, die eine Aussparung für ein Halbleiterbauelement umfasst. -
6 ist eine perspektivische Aufsicht einer Leiterplatte gemäß verschiedener Ausführungsformen, die Aussparungen für Halbleiterbauelemente umfasst. -
7 ist eine rückwärtige perspektivische Ansicht der Leiterplatte der6 . -
8 ist ein Flussdiagramm eines Verfahrens gemäß verschiedener Ausführungsformen. -
9 ist ein Flussdiagramm eines Verfahrens gemäß verschiedener Ausführungsformen.
-
1 12 schematically illustrates a printed circuit board and a semiconductor device mounted thereon according to various reference implementations. -
2A 12 is a schematic plan view of a printed circuit board including recesses for semiconductor devices, according to various embodiments. -
2 B is a schematic sectional drawing of the printed circuit board according to FIG2A in the area of a recess. -
3A 12 is a schematic sectional drawing of a printed circuit board including a recess for a semiconductor device, according to various embodiments. -
3B 12 is a schematic cross-sectional view of a printed circuit board including a stepped recess for a semiconductor device, according to various embodiments. -
4 12 is a schematic sectional drawing of a printed circuit board including a recess for a semiconductor device, according to various embodiments. -
5 12 is a schematic sectional drawing of a printed circuit board including a recess for a semiconductor device, according to various embodiments. -
6 12 is a top perspective view of a printed circuit board including recesses for semiconductor devices, according to various embodiments. -
7 12 is a rear perspective view of the circuit board of FIG6 . -
8th -
9 1 is a flow chart of a method according to various embodiments.
DETAILLIERTE BESCHREIBUNG VON AUSFÜHRUNGSFORMENDETAILED DESCRIPTION OF EMBODIMENTS
Nachfolgend wird die vorliegende Erfindung anhand bevorzugter Ausführungsformen unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher erläutert. In den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche oder ähnliche Elemente. Die Figuren sind schematische Repräsentationen verschiedener Ausführungsformen der Erfindung. In den Figuren dargestellte Elemente sind nicht notwendigerweise maßstabsgetreu dargestellt. Vielmehr sind die verschiedenen in den Figuren dargestellten Elemente derart wiedergegeben, dass ihre Funktion und genereller Zweck dem Fachmann verständlich wird. In den Figuren dargestellte Verbindungen und Kopplungen zwischen funktionellen Einheiten und Elementen können auch als indirekte Verbindung oder Kopplung implementiert werden. Eine Verbindung oder Kopplung kann drahtgebunden oder drahtlos implementiert sein. Funktionale Einheiten können als Hardware, Software oder eine Kombination aus Hardware und Software implementiert werden.The present invention is explained in more detail below on the basis of preferred embodiments with reference to the drawings. In the figures, the same reference symbols designate the same or similar elements. The figures are schematic representations of various embodiments of the invention. Elements depicted in the figures are not necessarily drawn to scale. Rather, the various elements shown in the figures are presented in such a way that their function and general purpose can be understood by those skilled in the art. Connections and couplings between functional units and elements shown in the figures can also be implemented as an indirect connection or coupling. A connection or coupling can be implemented wired or wireless. Functional units can be implemented in hardware, software, or a combination of hardware and software.
Nachfolgend werden Techniken in Bezug auf Leiterplatten beschrieben, die geeignet sind, um eine elektrische und/oder thermische Verbindung mit einem Bauelement, beispielsweise einem elektrischen Bauelement wie z.B. einem Halbleiterbauelement, herzustellen. Leiterplatten werden manchmal auch als printed circuit boards (PCB-Boards) bezeichnet. Dazu kann die Halbleiterplatte zum Beispiel ein oder mehrere Lötpads umfassen. Über die Lötpads kann eine Verbindung mit Pins und/oder einem Leadframe des Bauelements hergestellt werden. Nachfolgend werden verschiedene Aspekte beispielhaft in Bezug auf ein Halbleiterbauelement beschrieben; entsprechende Techniken können aber auch für andere Bauelemente angewendet werden.Techniques relating to circuit boards suitable for making an electrical and/or thermal connection to a device, for example an electrical device such as a semiconductor device, are described below. Printed circuit boards are sometimes also referred to as printed circuit boards (PCB boards). For this purpose, the semiconductor board can comprise one or more soldering pads, for example. A connection to pins and/or a leadframe of the component can be established via the soldering pads. Various aspects are described below by way of example in relation to a semiconductor component; however, corresponding techniques can also be used for other components.
Gemäß verschiedener hierin beschriebenen Techniken kann insbesondere eine besonders gute Wärmeableitung weg von dem Halbleiterbauelement erzielt werden. Zum Beispiel kann eine gute Wärmeleitfähigkeit zwischen dem Halbleiterbauelements und einer Wärmesenke, wie beispielsweise einem Kühlkörper, implementiert werden. Deshalb können mittels hierin beschriebenen Techniken verschiedene Halbleiterbauelemente mit vergleichsweise hoher Leistungsaufnahme/Wärmeentwicklung betrieben werden. Insbesondere kann es gemäß verschiedener hierin beschriebenen Techniken möglich sein, Leistungs-Halbleiterbauelemente zu betreiben. Die Leiterplatte kann als Hochstrom-Leiterplatte ausgebildet sein.According to various techniques described herein, particularly good heat dissipation away from the semiconductor device can be achieved. For example, good thermal conductivity can be implemented between the semiconductor device and a heat sink, such as a heat sink. Therefore, using the techniques described herein, various semiconductor components can be operated with comparatively high power consumption/heat generation. In particular, it may be possible to operate power semiconductor devices according to various techniques described herein. The printed circuit board can be designed as a high-current printed circuit board.
Die hierin beschriebenen Techniken betreffen Leiterplatten, die eine Aussparung mit einem Boden umfassen. Die Aussparung kann eine lokale Vertiefung in der Topologie einer Außenfläche der Leiterplatte darstellen. Die Aussparung kann zum Beispiel auch als Kavität oder Sackloch bezeichnet werden. Die Aussparung kann Abmessungen aufweisen, die es ermöglichen, das Halbleiterbauelement in der Aussparung anzuordnen. Dazu können Lötpads auf dem Boden der Aussparung vorgesehen sein, die geeignet sind, um eine Verbindung mit dem Halbleiterbauelement herzustellen. Beispielsweise können die Lötpads eingerichtet sein, um eine elektrische und/oder thermische Verbindung mit dem Halbleiterbauelement herzustellen.The techniques described herein relate to printed circuit boards that include a cavity with a bottom. The recess can represent a local indentation in the topology of an outer surface of the printed circuit board. The recess can also be referred to as a cavity or a blind hole, for example. The recess can have dimensions that make it possible to arrange the semiconductor component in the recess. For this purpose, soldering pads can be provided on the bottom of the cutout, which are suitable for establishing a connection with the semiconductor component. For example, the soldering pads can be set up to provide an elec produce ric and / or thermal connection with the semiconductor device.
Verschiedenen hierin beschriebenen Techniken liegt die Erkenntnis zugrunde, dass eine besonders gute Wärmeableitung von dem Halbleiterbauelements erzielt werden kann, wenn eine Entfernung zwischen dem Halbleiterbauelement und einer Wärmesenke, beispielsweise einem Kühlkörper, vergleichsweise gering ist. Durch das Vorsehen der Aussparung und die Möglichkeit der Anordnung des Halbleiterbauelements in der Aussparung kann ein Abstand zwischen dem Halbleiterbauelement und einer Wärmesenke, beispielsweise einem Kühlkörper, vergleichsweise gering dimensioniert werden. Ein kleiner Abstand kann realisiert werden.Various techniques described herein are based on the knowledge that a particularly good heat dissipation from the semiconductor component can be achieved if a distance between the semiconductor component and a heat sink, for example a heat sink, is comparatively small. By providing the recess and the possibility of arranging the semiconductor component in the recess, a distance between the semiconductor component and a heat sink, for example a heat sink, can be dimensioned to be comparatively small. A small distance can be realized.
In den verschiedenen hierin beschriebenen Beispielen kann die Aussparung flexibel ausgestaltet werden. Zum Beispiel können laterale Dimensionen der Aussparung, d.h. in einer Ebene parallel zu der entsprechenden Außenfläche der Leiterplatte, geeignet sein, um ein oder mehrere Halbleiterbauelemente aufzunehmen. Ein lateraler Querschnitt der Aussparung kann unterschiedlichste Formen aufweisen: zum Beispiel rechtecksförmig, quadratisch, kreisförmig, etc. Die Tiefe der Aussparung, d.h. senkrecht zu der entsprechenden Außenfläche der Leiterplatte, kann in verschiedenen Beispielen unterschiedliche Werte annehmen. Zum Beispiel könnte die Tiefe - relativ in Bezug auf die Dicke der Leiterplatte - signifikante Ausmessungen aufweisen, d.h. mehr als 10 % der Dicke der Leiterplatte betragen, oder mehr als 50 %, oder mehr als 80 %, oder mehr als 90 %. Die Aussparung kann ein oder mehrere Lagen der Leiterplatte, beispielsweise Metalllagen und/oder Isolatorlagen, ganz oder teilweise durchdringen. Es können unterhalb der Aussparung eine unterschiedliche Anzahl von Lagen der Leiterplatte stehen bleiben, z.B. eine Lage oder mehr als eine Lage oder drei Lagen, etc.In the various examples described herein, the recess can be configured flexibly. For example, lateral dimensions of the recess, i.e. in a plane parallel to the corresponding outer surface of the circuit board, may be suitable for receiving one or more semiconductor devices. A lateral cross-section of the recess can have the most varied of shapes: for example rectangular, square, circular, etc. The depth of the recess, i.e. perpendicular to the corresponding outer surface of the printed circuit board, can assume different values in different examples. For example, the depth - relative to the thickness of the circuit board - could have significant dimensions, i.e. be more than 10% of the thickness of the circuit board, or more than 50%, or more than 80%, or more than 90%. The recess can completely or partially penetrate one or more layers of the printed circuit board, for example metal layers and/or insulator layers. A different number of layers of the printed circuit board can remain below the recess, e.g. one layer or more than one layer or three layers, etc.
Auch die Isolatorlagen 161-163 können unterschiedliche Dicken aufweisen. In dem Beispiel der
In dem Beispiel der
Eine Leiterplatte 111, wie sie in Bezug auf
In dem Beispiel der
Das Lötpad 191 kann einer Leiterbahn 157-1 zugeordnet sein, die durch laterale Strukturierung der Metalllage 151 auf der Oberseite 112 der Leiterplatte 111 ausgebildet ist. Zum Beispiel kann die Leiterbahn 157-1 über die Vias 176 mit dem in
Das Lötpad 192 kann einer Leiterbahn 157-2 zugeordnet sein, die durch laterale Strukturierung der Metalllage 151 auf der Oberseite 112 der Leiterplatte 111 ausgebildet ist. Zum Beispiel könnte über die Leiterbahn 157-2 ein Gatekontakt-Strom eines MOSFET-Logikelement, das auf dem Chip 183 ausgebildet ist, fließen. Der Gatekontakt-Strom kann einem Logiksignal entsprechen und um viele Größenordnungen kleiner sein als der Quellenkontakt-Strom, der einem Leistungssignal entsprechen kann. Ein weiteres Lötpad (in
Die verschiedenen Lötpads 191, 192 können voneinander durch entsprechende Strukturierung der Metalllage 151 getrennt sein und eine sogenannte Inselstruktur ausbilden. Typischerweise hat das Lötpad 191, welches zur Kontaktierung des Leadframes 182 dient, eine vergleichsweise große laterale Ausmessung, zum Beispiel im Vergleich zu einem Lötpad 192, welches zur Kontaktierung eines Pins 184 des Halbleiterbauelements 180 dient.The
Grundsätzlich ist es möglich, die Stromzuführung zu dem Halbleiterbauelement 180 zumindest teilweise durch ein oder mehrere der Metalllagen 151-154 zu implementieren. Bei vergleichsweise hohen Strömen - wie sie z.B. in Bezug auf Leistungssignale vorliegen können, die z.B. mehr als 100 A betragen können - kann dies jedoch wenig praxisgerecht sein, da eine Dicke der verschiedenen Metalllagen 151-154 begrenzt ist. Eine solche Situation kann für Hochstrom-Leiterplatten auftreten.In principle, it is possible to implement the power supply to the
Typischerweise wird die Leiterplatte 111 als Hochstrom-Leiterplatte bezeichnet, wenn Ströme von zum Beispiel mehr als 10 A, mehr als 20 A oder mehr als 50 A fließen und/oder wenn zumindest eine Metalllage der Leiterplatte 111 eine Dicke aufweist, die mindestens 18 µm oder mindestens70 pm beträgt oder mindestens 105 pm beträgt oder mindestens 140 µm oder mehr beträgt.
Um die Stromzuführung zu verbessern werden typischerweise ein oder mehrere Dickmetall-Leiter 171 an der Unterseite 113 der Leiterplatte 111 angebracht. Zum Beispiel können Dickmetall-Leiter 171 an der Metalllage 154, die die Unterseite 113 ausbildet, durch Löten fixiert werden. Die Dickmetall-Leiter 171 können eine vergleichsweise große Dicke einer Metallschicht, z.B. Kupfer, aufweisen, zum Beispiel nicht weniger als 1 mm oder nicht weniger als 2 mm. Der Strom kann von den Dickmetall-Leitern 171 zu dem Halbleiterbauelement 180 durch Durchkontaktierungen, sogenannte Vias 176, zu dem Halbleiterbauelement 180 geleitet werden.One or more
Die Vias 176 verlaufen senkrecht zu den Außenflächen 112,113. Die Vias können z.B. durch mechanisches Bohren oder Laserbohren hergestellt werden. Mittels galvanischer Materialdeposition können metallische Hülsen in den Vias ausgebildet werden. Die Vias können z.B. einen Durchmesser von ca. 50 pm - 1 mm aufweisen. Vias mit besonders kleinem Durchmesser werden manchmal auch als pVias bezeichnet. Die Vias können in einem besonders engen Raster angeordnet sein; beispielsweise mit einem Abstand zwischen Nachbarn von 250 pm - 1 mm.The
Die Vias 176 können neben der Funktionalität als Stromleiter weiterhin Funktionalität als Wärmeleiter aufweisen. Insbesondere können die Vias 176 Verlustwärme von dem Halbleiterbauelement 180 hin zu der Unterseite 113 und den Dickmetall-Leitungen 171 bzw. dem Kühlkörper 173 ableiten. Dies gilt besonders, wenn die metallische Hülse der Vias 176 komplett mit einem Metall wie beispielsweise Kupfer gefüllt ist.In addition to the functionality as a current conductor, the
Der Kühlkörper 173 kann zum Beispiel mit einer Kammstruktur und/oder als Hohlkörper ausgebildet sein. Der Kühlkörper 173 kann über ein thermisch leitendes, elektrisch isolierendes Material, ein sogenanntes thermisches Zwischenphasen-Material 172 (engl. thermal interphase material, TIM) mit den Dickmetall-Leitungen 171 verbunden sein.The
In den verschiedenen hierin beschriebenen Beispielen können grundsätzlich Konzepte angewendet werden, die in Bezug auf eine Referenzimplementierung der Leiterplatte 111 bzw. des Systems 100 im Zusammenhang mit der
Zum Beispiel kann das Halbleiterbauelement 180 gemäß der Norm DPAK oder D2PAK ausgebildet sein. Typische Außenmaße 181A des Halbleiterbauelements 180 können zum Beispiel 10,5 mm x 10,4 mm betragen; typische Außenmaße inklusive Pins können zum Beispiel 15,5 mm x 10,4 mm betragen. Zum Beispiel können die lateralen Seitenlängen 121A der Aussparung 121 nicht kleiner als 5 mm sein, bevorzugt nicht kleiner als 10 mm, besonders bevorzugt nicht kleiner als 20 mm.For example, the
Wie in
Diesbezüglich ist es zum Beispiel möglich, dass pro Aussparung 121 jeweils ein einzelnes Halbleiterbauelement 180 vorgesehen ist. Es wäre aber auch möglich, dass pro Aussparung 121 mehr als ein einzelnes Halbleiterbauelement 180, zum Beispiel zwei oder drei Halbleiterbauelemente 180, vorgesehen sind.In this regard, it is possible, for example, for a
Dadurch können verschiedene Effekte erzielt werden. Zum Beispiel kann eine besonders niederohmige Zuleitung von den Dickmetall-Leitern 171 zu dem Halbleiterbauelement 180 über die Vias 176 erreicht werden; dies ist der Fall, da die Entfernung zwischen dem Boden 122 der Aussparung 121 und der Unterseite 113 im Vergleich zu der Referenzimplementierung der
Als weiterer Effekt kann aufgrund dieser reduzierten Entfernung auch eine bessere Ableitung von Wärme von dem Halbleiterbauelement 180 hin zu der Unterseite 113, den Dickmetall-Leitern 171 und dem Kühlkörper 173 erzielt werden.As a further effect, a better dissipation of heat from the
Als weiterer Effekt kann eine verbesserte Wärmespreizung erzielt werden. Insbesondere kann aufgrund der kürzeren Vias 176 eine verbesserte Wärmespreizung erzielt werden. Dadurch kann die Wärmekapazität der Dickmetall-Leiter 171 verbessert wirksam werden.An improved heat spread can be achieved as a further effect. In particular, due to the
In dem Beispiel der
Durch eine solche Anordnung, bei welcher die Isolatorlage 163 durch die Aussparung 121 nicht durchdrungen wird und zwischen dem Boden 122 und der Unterseite 113 stehen bleibt, kann eine vergleichsweise hohe mechanische Stabilität gewährleistet werden. Insbesondere kann eine vergleichsweise hohe mechanische Stabilität während der Herstellung der Leiterplatte 111 bzw. der Herstellung des Systems 100, zum Beispiel während des Anbringens des Dickmetall-Leiters 171 und/oder des Kühlkörpers 173, gewährleistet werden.Such an arrangement, in which the
Eine solche Anordnung weist weiterhin die Möglichkeit auf, durch Strukturierung der Metalllage 153 eine flexible Kontaktierung des Halbleiterbauelements 180 zu gewährleisten. Zum Beispiel können durch Strukturierung der Metalllage 153 Logiksignale und/oder Leistungssignale ohne hohe Komplexität zu den Lötpads 191,192 geleitet werden. Insbesondere wird dadurch die Strukturierung der Metalllage 154, welche die Unterseite 113 der Leiterplatte 111 ausbildet, nicht durch Erfordernisse der Lötpads 191, 192 beeinträchtigt. Zum Beispiel kann dadurch eine einfache Gestaltung der Dickmetall-Leiter 171 gewährleistet werden; derart kann zum Beispiel ein Quellenkontakt-Anschluss (bitte Source und D arain) und/oder ein Gatekontakt-Anschluss des Halbleiterbauelements 180 besonders einfach kontaktiert werden.Such an arrangement also has the option of ensuring flexible contacting of the
In verschiedenen Beispielen kann es möglich sein, die Entfernung zwischen dem Boden 122 der Aussparung 121 und der Unterseite 113 der Leiterplatte 111 weiter zu reduzieren.In various examples, it may be possible to further reduce the distance between the bottom 122 of the
In dem Beispiel der
Um in dem Beispiel der
Dadurch kann ein weiterer Pin 184 mit der Metalllage 153 über ein entsprechendes Lötpad 192 verbunden werden. Derart kann eine besonders einfache elektrische Trennung des Gatekontakt-Anschlusses gegenüber den weiteren Anschlüssen erreicht werden.As a result, a
In den verschiedenen hierin beschriebenen Beispielen können grundsätzlich unterschiedlichste Typen von Isolatorlagen 161-163 eingesetzt werden. Beispiele von Isolatorlagen umfassen: einen Glasfaser-Harz und ein Gewebe-Epoxid-Laminat. Manchmal werden entsprechende Isolatorlagen auch als Prepreg-Lage bezeichnet.In principle, the most varied types of insulator layers 161-163 can be used in the various examples described herein. Examples of insulator sheets include: a fiberglass resin and a fabric epoxy laminate. Corresponding insulator layers are sometimes also referred to as prepreg layers.
Die Dickmetall-Leiter 171 sind gemäß dem Beispiel der
Anschließend werden auf dem Boden 122 der Aussparung 121 die Lötpads 191,192, zum Beispiel als Inselstruktur, erzeugt. Diese Lötpads 191, 192 können eine elektrische Verbindung mit dem Halbleiterbauelement 180 herstellen, z.B. mit ein oder mehreren Pins 184 und / oder dem Leadframe 182. Z.B. können die Lötpads 191, 192 mittels Litographie-Techniken hergestellt werden, die z.B. ein oder mehrere der folgenden Elemente umfassen: Beschichten mit einem Fotolack; Belichten; Entwickeln; Ätzen; Reinigen; Fräsen; Schneiden; Stanzen; etc..The
Dann kann die Aussparung 121 erzeugt werden, 1014. 1014 entspricht 1001. Anschließend werden die Lötpads 191, 192 auf dem Boden 122 der Aussparung 121 erzeugt, 1015. 1015 entspricht 1002.Then the
Anschließend wird das Halbleiterbauelement 180 auf die Lötpads 191,192 aufgebracht, zum Beispiel mittels Löten, 1016.The
In dem Beispiel der
In dem Beispiel der
Optional kann auch ein Kühlkörper 173 angebracht werden (in
Zusammenfassend wurden obenstehend Techniken beschrieben, die es ermöglichen, einen Abstand zwischen einem Leadframe eines Halbleiterbauelements und einer Wärmesenke vergleichsweise gering zu dimensionieren. Dies wird erzielt durch eine Aussparung, die in einer Leiterplatte vorgesehen wird. Dadurch kann die Entfernung zwischen einem Boden der Leiterplatte und einer Unterseite der Leiterplatte, an welche der Kühlkörper direkt oder indirekt gekoppelt wird, vergleichsweise gering dimensioniert werden. Zum Beispiel kann die Entfernung zwischen dem Boden der Aussparung und der Unterseite der Leiterplatte auf eine einzige Metalllage von zum Beispiel 35 µm oder 70 µm Dicke reduziert werden. In verschiedenen Beispielen beträgt die Entfernung zwischen dem Boden der Aussparung und der Unterseite der Leiterplatte nicht mehr als 500 pm, bevorzugt nicht mehr als 200 µm, besonders bevorzugt nicht mehr als 100 pm.In summary, techniques have been described above which make it possible to dimension a distance between a leadframe of a semiconductor component and a heat sink to be comparatively small. This is achieved by a recess provided in a printed circuit board. As a result, the distance between a base of the printed circuit board and an underside of the printed circuit board, to which the heat sink is coupled directly or indirectly, can be dimensioned to be comparatively small. For example, the distance between the bottom of the recess and the underside of the circuit board can be reduced to a single sheet of metal, for example 35 µm or 70 µm thick. In various examples, the distance between the bottom of the recess and the underside of the printed circuit board is no more than 500 μm, preferably no more than 200 μm, particularly preferably no more than 100 μm.
Über den Boden der Aussparung kann es möglich sein, Strom zu dem Halbleiterbauelement zuzuführen und/oder von dem Halbleiterbauelement abzuführen. Alternativ oder zusätzlich kann es über den Boden der Aussparung möglich sein, Wärme von dem Halbleiterbauelement abzuführen. Zum Beispiel kann eine Isolatorlage, die zwischen dem Boden der Aussparung und der Unterseite der Leiterplatte angeordnet ist, eine elektrische Isolation zwischen dem Halbleiterbauelement und einem Kühlkörper bereitstellen.It may be possible to supply current to the semiconductor component and/or to draw current away from the semiconductor component via the bottom of the cutout. Alternatively or additionally, it may be possible to dissipate heat from the semiconductor component via the bottom of the cutout. For example, an insulator layer placed between the bottom of the recess and the underside of the circuit board can provide electrical isolation between the semiconductor device and a heat sink.
Mittels solcher Techniken kann eine besonders gute Zuführung von Strom zum Beispiel von Dickmetall-Leitern zum Halbleiterbauelement erreicht werden. Außerdem kann eine besonders gute Wärmespreizung durch einen besonders engen Kontakt des Halbleiterbauelements zu den Dickmetall-Leitern erreicht werden. Außerdem kann die Wärmekapazität der Dickmetall-Leiter und/oder eines Kühlkörpers durch den besonders engen Kontakt des Halbleiterbauelements zu den Dickmetall-Leitern und/oder den Kühlkörpern erzielt werden. A particularly good supply of current, for example from thick metal conductors to the semiconductor component, can be achieved by means of such techniques. In addition, particularly good heat spreading can be achieved by particularly close contact between the semiconductor component and the thick-metal conductors. In addition, the thermal capacity of the thick-metal conductors and/or a heat sink can be achieved by the particularly close contact of the semiconductor component with the thick-metal conductors and/or the heat sinks.
Leiterplatten, die gemäß solcher Techniken hergestellt werden, können eine besonders gute mechanische Stabilität aufweisen; dies kann durch den Verbund der Leiterplatte mit Dickmetall-Leitern erzielt werden.Printed circuit boards manufactured according to such techniques can have particularly good mechanical stability; this can be achieved by connecting the printed circuit board with thick metal conductors.
Leiterplatten, die gemäß solcher Techniken hergestellt werden, können besonders gute thermische Eigenschaften aufweisen.Printed circuit boards made according to such techniques can exhibit particularly good thermal properties.
Mittels der hierin beschriebenen Techniken kann auch eine definierte Platzierung und Lötung eines Halbleiterbauelements auf Lötpads, die auf einem Boden der Aussparung vorgesehen sind, erzielt werden. Insbesondere können standardisierte Gehäuse für die Halbleiterbauelemente verwendet werden. Es wäre aber auch möglich, ein ungehäustes Bauelement, z.B. auf einem Chip, in der Aussparung anzuordnen.A defined placement and soldering of a semiconductor component on soldering pads provided on a bottom of the recess can also be achieved by means of the techniques described herein. In particular, standardized housings can be used for the semiconductor components will. However, it would also be possible to arrange an unhoused component, for example on a chip, in the recess.
Die hierin beschriebenen Techniken ermöglichen die Bereitstellung der Aussparung in der Leiterplatte mittels Standardprozessen, wie sie in Bezug auf Referenzimplementierungen zur Herstellung von Leiterplatten bereits etabliert sind. Zum Beispiel können solche Standardprozess umfassen: Löten und Platzieren, sowie Positionieren.The techniques described herein allow for the provision of the cavity in the printed circuit board using standard processes already established with respect to reference implementations for manufacturing printed circuit boards. For example, such standard processes may include: soldering and placement, and positioning.
Mittels der hierin beschriebenen Techniken kann eine besonders variable und flexible Anpassung der verwendeten Materialien ermöglicht werden. Insbesondere kann es möglich sein, die verwendeten Materialien hinsichtlich deren thermischer Ausdehnung bzw. Wärmeleitfähigkeit auszuwählen.Using the techniques described herein, a particularly variable and flexible adaptation of the materials used can be made possible. In particular, it may be possible to select the materials used with regard to their thermal expansion or thermal conductivity.
Selbstverständlich können die Merkmale der vorab beschriebenen Ausführungsformen und Aspekte der Erfindung miteinander kombiniert werden. Insbesondere können die Merkmale nicht nur in den beschriebenen Kombinationen, sondern auch in anderen Kombinationen oder für sich genommen verwendet werden, ohne das Gebiet der Erfindung zu verlassen. Of course, the features of the embodiments and aspects of the invention described above can be combined with one another. In particular, the features can be used not only in the combinations described, but also in other combinations or taken on their own, without departing from the field of the invention.
Während voranstehend z.B. verschiedene Variationen in Bezug auf den Kühlkörper beschrieben wurden, kann es möglich sein, in weiteren Beispielen weitere Variationen in Bezug auf den Kühlkörper zu implementieren. Zum Beispiel wäre es möglich, dass der Kühlkörper und/oder ein Dickmetallleiter innerhalb der Aussparung angeordnet ist.For example, while various variations related to the heat sink have been described above, in other examples it may be possible to implement further variations related to the heat sink. For example, it would be possible for the heat sink and/or a thick metal conductor to be arranged within the recess.
Während voranstehend verschiedene Aspekte in Bezug auf ein Halbleiterbauelement beschrieben wurden, kann es in anderen Beispielen auch möglich sein, dass die hierin beschriebenen Techniken in Bezug auf ein nicht-halbleiterbasiertes Bauelement eingesetzt werden. Zum Beispiel könnten die verschiedenen hierin beschriebenen Techniken in Bezug auf passive Komponenten, wie beispielsweise Spulen oder Kondensatoren, eingesetzt werden. Die verschiedenen Bauelemente, die im Zusammenhang mit den hierin beschriebenen Techniken verwendet werden können, können z.B. in SMD-Technik oder in THT-Technik ausgebildet sein.While various aspects have been described above in relation to a semiconductor device, in other examples it may also be possible for the techniques described herein to be employed in relation to a non-semiconductor-based device. For example, the various techniques described herein could be used with respect to passive components such as inductors or capacitors. The various components that can be used in connection with the techniques described herein can be implemented, for example, in SMD technology or in THT technology.
Während voranstehend verschiedene Beispielen Bezug auf eine 2-lagen und eine 4-Lagen Leiterplatte beschrieben wurden, können entsprechende Techniken auch angewendet werden auf Leiterplatten mit einer anderen Anzahl von Lagen. Z.B. können Metalllagen unterschiedlichster Dicke verwendet werden. Beispielsweise kann die Dicke der Metalllagen aus der Gruppe ausgewählt werden, die umfasst: mindestens 18 µm; mindestens 55 µm; mindestens 70 µm; mindestens 100 µm; mindestens 105 µm; mindestens 130 µm; und mindestens 140 pm.While various examples have been described above with reference to a 2-layer and a 4-layer printed circuit board, corresponding techniques can also be applied to printed circuit boards with a different number of layers. For example, metal layers of different thicknesses can be used. For example, the thickness of the metal layers can be selected from the group consisting of: at least 18 µm; at least 55 µm; at least 70 µm; at least 100 µm; at least 105 µm; at least 130 µm; and at least 140 pm.
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