DE102015215634A1 - Halter zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine auf einen Prüfadapter in einer Prüfanordnung - Google Patents

Halter zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine auf einen Prüfadapter in einer Prüfanordnung Download PDF

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Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft einen Halter zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine auf einen Prüfadapter in einer Prüfanordnung, wobei der Halter Halteelemente einer zu prüfenden Platine aufweist, wobei die Halterelemente jeweils einen parallel zur Richtung der Krafteinwirkung auf die Platine federnd gelagerten Kolben umfassen.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft einen Halter zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine auf einen Prüfadapter in einer Prüfanordnung, wobei die Halter Halteelemente zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine aufweist.
  • Bei der Produktion von mit elektronischen bzw. elektrischen Baugruppen und Schaltungen bestückten Platinen ist es üblich, diese mit Hilfe verschiedener Prüfverfahren wie z.B. InCircuit-Test oder Funktionstest auf Funktionalität zu prüfen. Hierzu wird die zu prüfende Platine in einer Prüfanordnung an bestimmten Prüfpunkten mit einer Schnittstelle eines Prüfgerätes elektrisch verbunden. Über diese Prüfpunkte werden elektrische Signale und/oder Betriebsspannungen zu der Platine geleitet und die dort generierten Spannungen und/oder Ströme gemessen, um das einwandfreie Funktionieren oder Fehler in den Baugruppen bzw. Schaltungen der Platine zu bestimmen. Prüfgeräte umfassen i.d.R. an ihrer Schnittstelle eine standardisierte Anordnung von Kontaktstellen. Um diese Kontaktstellen mit den Prüfpunkten der Platine zu verbinden, werden i.d.R. sog. Prüfadapter verwendet. Diese Prüfadapter leiten die elektrischen Signale von der Schnittstelle des Prüfgerätes zu der zu prüfenden Platine und umgekehrt. Die Prüfadapter weisen i.d.R. eine Anzahl von Kontaktstiften, sog. Prüffedern oder Prüfnadeln auf, über die das Prüfgerät mit den zu prüfenden Elementen auf der Platine in Kontakt tritt. Diese Prüffedern oder Prüfnadeln sind oft federnd gelagert und die zu prüfende Platine wird i.d.R. mittels an einem Halter befestigten Halteelementen auf diese Prüfnadeln bzw. Prüffedern gedrückt. In Prüfadaptern werden u.U. mehrere Tausend Prüfnadeln gleichzeitig kontaktiert, so dass in der Summe große Federkräfte auftreten können. Eine beispielhafte Ausgestaltung gemäß dem Stand der Technik ist in der DE 102 25 028 B3 beschrieben.
  • Problematisch ist, dass bei immer enger platzierten Bauteilen und/oder dünneren Platinen immer weniger Platz und immer kleinere Bereiche für die Halteelemente des (Nieder-)Halters auf der Platine zur Verfügung stehen. Andererseits muss aber die mechanische Belastung auf die Platine begrenzt werden, um die aufgelöteten Bauteile und vor allem die Lötstellen nicht zu gefährden. Grenzwerte für die durch die mechanische Belastung entstehende Dehnung sind aus Richtlinien bekannt, wobei typische Dehnungsgrenzen je nach Dicke der Platine zwischen 500 und 1200 µm/m liegen.
  • Bisher sind die Halteelemente des (Nieder-)Halters beispielsweise durch eingeschraubte, runde Elemente, durch individuell gefräste Masken, bei denen die Bauteile freigestellt sind, oder auch durch individuell gefräste Niederhalter-Elemente gebildet. Derartige gefräste Elemente sind beispielsweise aus der DE 20 2013 101 614.4 bekannt. Die Kraft, die auf ein einzelnes Niederhalterelemente wirkt, ist jedoch durch Fertigungstoleranzen und den dynamischen Bewegungsablauf bei einem Zusammenfahren des Prüfadapters, oder auch in Verbindung mit Vakuumhauben nicht genau definiert, so dass bis jetzt eine gewisse Mindestkontaktfläche für ein Niederhalterelement von z.B. 2 mm2 erforderlich war, um die Platine an der Kontaktstelle nicht zu beschädigen. Weiterhin ist es bei Niederhaltern nach dem Stand der Technik erforderlich, einen größeren Sicherheitsabstand zu den benachbarten Bauteilen auf der Platine einzuhalten, damit die Niederhalterelemente selbst bei Bauteilen- und/oder Montagetoleranzen unter keinen Umständen auf das Bauteilgehäuse, die Bauteilanschlüsse oder die Lötstellen treffen, um die Beschädigung der Bauteile oder Lötstellen zu vermeiden.
  • Ziel der Erfindung ist es daher, einen Halter zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine auf einen Prüfadapter in einer Prüfanordnung so weiter zu entwickeln, dass kleinere Kontaktflächen und auch kleinere Sicherheitsabstände zwischen Bauteilen auf der Platine erlaubt sind, um auch unter Berücksichtigung der zulässigen Dehnung eine Prüfadaptierung bei dünneren Platinen und geringerem für die Niederhalterelemente zur Verfügung stehenden Platz auf der Platine zu gewährleisten.
  • Erreicht wird das Ziel durch einen Halter zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine auf einen Prüfadapter in einer Prüfanordnung gemäß Anspruch 1. Der Halter weist Halteelemente zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine auf, wobei die Halteelemente jeweils einen parallel zur Richtung der Krafteinwirkung auf die Platine federnd gelagerten Kolben umfassen.
  • Die Verwendung von federnd gelagerten Kolben in den Halteelementen ermöglicht es in vorteilhafter Weise, durch geeignete Wahl der Federkraft den auf die Platine einwirkenden Gegendruck so zu begrenzen und zu dosieren, dass auch bei geringer Kontaktfläche keine Beschädigung der Platine erfolgt. Ebenso wird die Kraft begrenzt, wenn bei unerwartet großen Maß- und Positionstoleranzen der Bauteile auf der Platine ein Halteelemente doch einmal ein Bauteil berühren würde, da das Halteelemente, d.h. der Kolben dann einfedern würde und die Kraft begrenzt bleibt.
  • Vorteilhafter Weise sind die Kolben jeweils in einer Hülse federnd gelagert. Weiter vorteilhafter Weise hat zumindest einer der Kolben einen abgesetzten Kopf, der einen kleineren Durchmesser als der Kolben hat. Weiterhin vorteilhafter Weise weist zumindest einer der Kolben eine angefaste Spitze auf. Weiterhin vorteilhafter Weise weist zumindest einer der Kolben eine abgeflachte Spitze auf. Alternativ kann zumindest einer der Kolben auch eine abgerundete Spitze aufweisen. Vorteilhafter Weise weisen die Kolben einen Durchmesser zwischen 0,2 und 0,7 mm auf. Vorteilhafter Weise können die Kolben hierbei einen Durchmesser zwischen 0,3 und 0,6 mm aufweisen. Vorteilhafter Weise weisen die Kolben der Halteelemente hierbei jeweils einen Federhub von 3 bis 7 mm auf. In einer weiteren alternativen vorteilhaften Ausgestaltung weisen die Kolben einen Durchmesser von 2 bis 40 mm auf. Hierbei können die Kolben der Halteelemente vorteilhafter Weise jeweils einen Federhub von 7 bis 10 mm aufweisen. Weiter vorteilhafter Weise haben zumindest zwei der Kolben unterschiedliche Durchmesser. Weiter vorteilhafter Weise ist zumindest einer der Kolben auswechselbar ausgestaltet. Weiter vorteilhafter Weise sind zumindest zwei der Halteelemente gemeinsam an einer auswechselbaren Halteeinheit befestigt. Weiter vorteilhafter Weise weisen zumindest zwei der Halteelemente unterschiedliche Kennlinien der federnden Lagerung auf. Weiter vorteilhafter Weise weist der erfindungsgemäße Halter weiterhin Prüfelemente zum Prüfen der zu prüfenden Platine auf, wobei die Prüfelemente jeweils einen parallel zur Richtung der Krafteinwirkung auf die Platine federnd gelagerten Kolben aufweisen. Weiter vorteilhafter Weise haben zumindest zwei der Kolben der Halte- bzw. Prüfelemente unterschiedliche Ausgangsniveaus in Bezug auf die Ebenen der zu prüfenden Platine. Weiter vorteilhafter Weise weist der erfindungsgemäße Halter weiterhin eine Führungsplatte in einer Ebene parallel zur Ebene einer zu Prüfenden Platine auf, durch die sich die Halteelemente hindurch erstrecken und von ihr geführt sind. Weiterhin vorteilhafter Weise umfasst der erfindungsgemäße Halter nicht federnd gelagerte Halteelemente. Weiter vorteilhafter Weise besteht der Kolben der Halteelemente aus gehärtetem Metall. Weiter vorteilhafter Weise weist der Kolben der Halteelemente eine elektrische Isolierung in Bezug auf die restlichen Teile des Halteelementes auf. Weiter vorteilhafter Weise ist die elektrische Isolierung durch eine Lackierung oder Beschichtung gebildet. Alternativ vorteilhafter Weise ist die elektrische Isolierung durch ein elektrisch isolierendes Kopfteil am Kolben gebildet. Alternativ vorteilhafter Weise ist der Kolben vollständig aus einem elektrisch isolierenden Material gebildet.
  • Die vorliegende Erfindung wird im Folgenden anhand von Ausführungsbeispielen in Bezug auf die beigefügten Figuren näher erläutert, in denen
  • 1 eine schematische Seitenansicht einer Prüfanordnung mit einem erfindungsgemäßen Halter, sowie mit zu prüfender Platine und Prüfadapter im Ausschnitt zeigt,
  • 2 eine schematische Seitenansicht eines Ausschnittes eines erfindungsgemäßen Halters und an einer auswechselbaren Halteeinheit befestigten Halteelementen zeigt,
  • 3 eine schematische Seitenansicht eines Beispiels für ein erfindungsgemäßes Halteelement mit einem federnd gelagerten Kolben zeigt,
  • 4a, b, c, d und e verschiedene schematische Ansichten erfindungsgemäßer Halteelemente zeigen, und
  • 5a und 5b schematische Seitenansichten eines Ausschnittes eines erfindungsgemäßen Halters mit Führungsplatten in unterschiedlichen Positionen zeigen.
  • 1 zeigt eine schematische Seitenansicht eines Ausschnitts einer Prüfanordnung mit einem erfindungsgemäßen Halter 1, einer Platine 2 und einem Prüfadapter 3. Die Platine 2 wird durch eine Anzahl von Halteelementen 11a, b, c, 12 und 13, die an einer Halterplatte 10 angeordneten sind und somit ein Beispiel eines erfindungsgemäßen Halters 1 bilden, von oben auf federnd gelagerte Prüfnadeln bzw. Prüfstifte 7 eines Prüfadapters 3 gedrückt. In dem in der 1 gezeigten Zustand befindet sich die Platine 2 in der Prüfposition, in der die federnd gelagerten Prüfnadeln 7 zu prüfende Kontaktstellen auf der Unterseite der Platine 2 unter Druck und daher elektrisch zuverlässig kontaktieren. Es gibt Ausgestaltungen, in denen sich der Prüfadapter 3, die Platine 2 und der erfindungsgemäße Halter 1 in einem Vakuum befinden, um bessere Prüfergebnisse zu erzielen Weiterhin kann die in 1 gezeigte Situation mechanisch umgekehrt sein, d.h. der Prüfadapter 3 kann oben liegend sein und die Platine 2 wird von unten durch den erfindungsgemäßen Halter 1 gegen die federnd gelagerten Prüfstifte bzw. Prüfnadeln 7 gedrückt, bis die Platine 2 auf den Lagerelementen 9 des Prüfadapters 2 aufliegt. In 1 ist weiterhin ein Pfeil KE eingezeichnet, der die Druckrichtung der Platine 2 auf die Halteelemente 11a, b, c, 12 und 13 des erfindungsgemäßen Halters 1 angibt, d.h. die Richtung der Krafteinwirkung. I.d.R. verlaufen die Ebenen der Halterplatte 10 und der zu prüfenden Platine 2 (d.h. deren Substrates 5) parallel, wobei die Krafteinwirkung KE senkrecht zu diesen Ebenen gerichtet ist.
  • Der in 1 ausschnittsweise und schematisch dargestellte Halter 1 gemäß der vorliegenden Erfindung wird gelegentlich auch als Niederhalter bezeichnet. Der Halter 1 umfasst eine Halterplatte 10, bestehend beispielsweise aus einem isolierenden Substratmaterial oder einem anderen geeigneten Material, und mehreren Halteelementen 11a, b, c, 12 und 13, die an einer Seitenfläche der Halterplatte 10 dergestalt befestigt sind, dass sie im Wesentlichen parallel zueinander in Richtung der Krafteinwirkung KE erstrecken. In dem in der 1 gezeigten Beispiel umfasst der erfindungsgemäße Halter mehrere verschiedene Halteelemente 11a, b, c, 12 und 13, jedoch sind erfindungsgemäß zwei oder mehr Halteelemente 11a, b, c vorgesehen, die jeweils ein parallel zur Richtung der Krafteinwirkung KE auf die Platine 2 federnd gelagerten Kolben 15 aufweisen. Diese Halteelemente 11a, b, c mit federnd gelagerten Kolben 15 dienen ausschließlich zum Niederhalten der Platine 2 auf dem Prüfadapter 3 und sind vorzugsweise nicht leitend ausgebildet. Die erfindungsgemäßen Halteelemente 11a, b, c können verschieden ausgestaltete Kolben 15 aufweisen, wie weiter unten in Bezug auf die 4 näher erläutert wird. An dieser Stelle soll erwähnt werden, dass beispielsweise das Halteelemente 11a einen Kolben 15a aufweist, der eine Spitze 22 umfasst, welche einen geringeren Durchmesser (z.B. 0,2 bis 0,4 mm) als der Kolben 15a hat (vgl. 4a). Hierdurch kann das Halteelement 11a in sehr kleine Zwischenräume zwischen die Bauteile 4 der Platine 2 eingreifen. Die Halteelemente 11b hingegen haben einen Kolben 15b (vgl. 4b), der einen konstanten Durchmesser (z.B. 0,4 bis 0,7 mm) aufweist und der geeignet ist, in etwas größere Zwischenräume zwischen Bauteilen 4 der Platine einzugreifen. Das Halteelement 11c umfasst einen Kolben 15 mit einer noch größeren Querschnittsfläche (z.B. 2 bis 40 mm), so dass das Halteelement 11c direkt auf Bauteile 4A drücken kann, die eine größere Querschnittsfläche aufweisen. In dem in der 1 dargestellten Beispiel umfasst die Platine 2 ein Substrat 5 mit Bauteilen 4a, b, c, d, e, f mit verschiedenen Ausgestaltungen.
  • Wie in 1 dargestellt ist, kann der erfindungsgemäße Halter 1 weiterhin Halteelemente 12 umfassen, die nicht federnd gelagert sondern starr sind und beispielsweise wie in dem gezeigten Beispiel, zulaufende Spitzen aufweisen und daher zum Niederhalten von Teilen des Substrates 5 mit größerer Auflagefläche dienen. Der erfindungsgemäße Halter 1 kann weiterhin Halteelemente 13 aufweisen, die ein Kopfteil aufweisen, welches aus einem faserverstärkten Kunststoff gefräst ist, aus dem soz. Masken entsprechende Anordnungen der Bauteile 4 auf dem Substrat 5 ausgefräst sind, und das gleichzeitig in verschiedene Zwischenräume zwischen Bauteilen 4 eingreifen kann.
  • Weiterhin optional kann der erfindungsgemäße Halter 1, wie in 1 dargestellt, Prüfelemente 7 zum Prüfen der zu prüfenden Platine umfassen, wobei die Prüfelemente 7 jeweils einen parallel zur Richtung der Krafteinwirkung KE auf die Platine 2 federnd gelagerten Kolben aufweisen. Die Prüfelemente 7 entsprechend in diesem Fall denjenigen Prüfelementen 7, die Teil des Prüfadapters 3 sind. Es können die identischen Prüfelemente 7 wie im Prüfadapter, oder auch anders ausgestaltete Prüfelemente im erfindungsgemäßen Halter 1 verwendet werden.
  • Ergänzend wird in Bezug auf 1 noch kurz erläutert, dass der Prüfadapter 3 neben den Prüfstiften 7, die jeweils federnd gelagerte Kolben mit Spitzen zum Kontaktieren der zu prüfenden Stellen aufweisen, eine Adapterplatte 6 aufweist, an der die Prüfstifte 7 befestigt sind, sowie starre Halteelemente 9, auf die die zu prüfende Platine 2 vom erfindungsgemäßen Halter 1 aufgedrückt wird.
  • Für den Fall, dass die Platine 2 oder genauer gesagt deren Substrat 5 auf beiden Seiten mit Bauteilen 4a, b, c, d, e, f bestückt ist, können die erfindungsgemäßen Halteelemente 11a, b, c auch an der Adapterplatte 6 des Prüfadapters 3 vorgesehen sein, um in ähnlicher Weise wie die Halteelemente 11a, b, c des erfindungsgemäßen Halters 1, jedoch von der entgegengesetzten Seite, auf die zu prüfende Platine 2 zu drücken.
  • 2 zeigt einen schematischen Ausschnitt einer weiteren möglichen Ausgestaltung eines erfindungsgemäßen Halters 1, bei der die Halteelemente 11a, b, c und 12 gemeinsam an einer separaten Haltereinheit 14 befestigt sind, wobei die Haltereinheit 14, die beispielsweise in Form einer kurzen Platte oder dgl. geformt ist, auswechselbar an der Halterplatte 10 angeordnet ist. Falls eines der Halteelemente 11a, b, c, 12 kaputt geht oder nicht mehr richtig funktioniert, kann somit die gesamte Halteeinheit 14 einfach ausgetauscht werden. Anstelle einzelne Halteelemente austauschen zu müssen, kann beispielsweise ein ungeschulter Bediener auf einfache Weise die Halteeinheit 14 insgesamt austauschen. Im gezeigten Beispiel umfasst die Haltereinheit 14 entsprechende Ausnehmungen für Prüfstifte 7, die in der Halterplatte 10 des erfindungsgemäßen Halters 1 befestigt sind.
  • In 3 ist eine schematische Schnittansicht einer möglichen Ausgestaltung eines erfindungsgemäßen Halteelementes 11 mit federnd gelagertem Kolben 15 dargestellt. Im gezeigten Beispiel umfasst das Halteelement 11 eine Hülse 16, in der eine Feder 17 angeordnet ist, die auf ein Druckelemente 18 drückt, das ebenso wie der Kolben 15 auf einer geeigneten Stange oder dgl. sitzt. Die Hülse 16 weist im unteren Bereich eine innen liegende Verjüngung, beispielsweise Rollierung 19 auf, die einen geringeren Durchmesser hat, als der Kolben 15 und das Druckelement 18, so dass der Federweg des Kolbens 15 durch den Abstand der Oberseite 20 des Kolbens 15 und der entsprechend gegenüber liegenden Unterseite 21 des Druckelementes 18 definiert ist. Es ist jedoch anzumerken, dass der Kolben 15 auch auf jede andere technisch mögliche und vernünftige Art und Weise federnd gelagert werden kann, beispielsweise durch längliche Federelemente wie Schaumstoff oder dgl. Es ist weiterhin hervorzuheben, dass es von Vorteil sein kann, wenn zumindest zwei der erfindungsgemäßen Halteelemente 11 des erfindungsgemäßen Halters 1 unterschiedliche Kennlinien der federnden Lagerung aufweisen, hierdurch kann die Belastung der zu prüfenden Platine 2 flexibel an die Erfordernisse angepasst werden. Weiterhin können zumindest zwei der Kolben 15 der Halteelemente 11 oder auch der Prüfelemente 7 (wenn vorhanden) des erfindungsgemäßen Halters 1 unterschiedliche Ausgangsniveaus in Bezug auf die Ebene der zu prüfenden Platine 2 haben. In dem in 2 dargestellten Beispiel haben die Halteelemente 11a, 11b und die optional vorhandenen Prüfstifte 7 das gleiche Ausgangsniveau, d.h. sie sitzen auf einer gemeinsamen Ebene in Bezug auf die Ebene der zu prüfenden Platine (oder auch in Bezug auf die Ebene der Halterplatte 10). Es kann jedoch von Vorteil sein, die Halteelemente 11a, 11b und ggf. die Prüfstifte 7 so einzustellen, dass die federnd gelagerten Kolben 15 (bzw. 8) verschiedene Ausgangsniveaus haben, um sich auf die Erfordernisse der Druckverteilung auf der zu prüfenden Platine 2 flexibel einstellen zu können.
  • 4 zeigt verschiedene mögliche Variationen a, b, c, d und e der erfindungsgemäßen Halteelemente 11a, b, c, d und e, nämlich mit unterschiedlichen Ausgestaltungen des in der Hülse 16 federnd gelagerten Kolbens 15. In 4a umfasst der Kolben 15a einen abgesetzten Kopf 22, der einen kleineren Durchmesser als der Kolben 15a hat. Das in 4b gezeigte Halteelement 11b umfasst einen Kolben 15b, der einen konstanten Durchmesser mit einer abgeflachten Spitze 23 aufweist. Das in 4c gezeigte Halteelement 11c umfasst einen Kolben 15c, der eine verbreiterte Spitze 24 mit einer flachen Unterseite aufweist, d.h. eine Spitze 24, die einen wesentlich größeren Durchmesser hat als der Kolben 15c, und beispielsweise zum Drücken direkt auf Bauteile 4 der Platine 2 geeignet sein könnte, wie in 1 schematisch dargestellt. In dem in 1 dargestellten Beispiel hat das Halteelement 11c einen breiten Kolben 15c, jedoch könnte auch eine Spitze 24 wie in 1c gezeigt ist, verwendet werden. Allgemein ist hervorzuheben, dass der zu prüfenden Platine 2 zugewandte Ende des Kolbens 15 bzw. des abgesetzten Kopfes 22 des Kolbens 15a eine geeignete Form aufweisen kann. Beispielsweise kann der Kolben 15 an der der Platine 2 zugewandten Seite eine angefaste Spitze, eine abgerundete Spitze oder eine abgeflachte Spitze aufweisen. Weiterhin kann der Kolben 15 einen Durchmesser zwischen 0,2 und 0,7 mm aufweisen, vorzugsweise einen Durchmesser von 0,3 bis 0,6 mm. Der Federhub des Kolbens 15 des erfindungsgemäßen Halteelementes 11 kann beispielsweise 3 bis 7 mm aufweisen, oder auch einen Federhub von 7 bis 10 mm. Generell gilt, dass je breiter der Durchmesser des Kolbens 15 bzw. dessen Spitze ist, desto größer sollte der Federhub sein, um eine Anpassung an verschiedene Höhen der Bauteile 4 der Platine 2 zu ermöglichen. Weiterhin kann der Kolben 15 beispielsweise aus gehärtetem Metall, wie beispielsweise Stahl oder Kupfer-beryllium bestehen. Hierbei ist der Kolben 15 in diesem Fall in Bezug auf denjenigen Teil, der die zu prüfende Platine 2 kontaktiert, elektrisch isoliert. Beispielsweise kann der Kolben 15, wie in den 4d und 4e dargestellt, ein aus elektrisch isolierendem Material bestehendes Kopfteil 26, das in einer entsprechenden Hülse 25 des Kolbens 15 angeordnet ist aufweisen, oder auch ein elektrisch isolierendes Kopfteil 27 mit einer entsprechenden elektrisch isolierenden Spitze 28 aufweisen. Alternativ kann die elektrische Isolierung auch durch eine entsprechende elektrisch isolierende Lackierung oder Beschichtung des Kolbens 15 an der der Platine 2 zugewandten Seite gebildet sein. Weiter alternativ kann der Kolben 15 vollständig aus einem elektrisch isolierenden Material gebildet sein.
  • In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung kann der erfindungsgemäße Halter 1 eine zusätzliche Führungsplatte 29 zur Führung der erfindungsgemäßen Halteelemente 11a, b, c aufweisen, wie in den beiden Ausführungsbeispielen 5a und 5b dargestellt ist. Die Führungsplatte 29 weist Ausnehmungen auf, um die Halteelemente 11a, b, c (und ggf. die weiterhin optional vorgesehenen starren Halteelemente 12 und/oder Prüfstifte 7) in entsprechenden Ausnehmungen zu führen. Die Führungsplatte 29 ist an geeigneten Befestigungselementen 30 an der Halterplatte 10 des erfindungsgemäßen Halters 1 so befestigt, dass sie sich parallel zur Ebene der Halterplatte 10 erstreckt. Die Führungsplatte 29 ermöglicht eine zusätzliche genaue Führung und Positionierung der erfindungsgemäßen Halterlelemente 11a, b, c auf der zu prüfenden Platine 2. Wie in den 5a und 5b weiterhin beispielsweise dargestellt, können die erfindungsgemäßen Halterelemente 11a, b, c in zusätzlichen Befestigungshülsen 31 an der Halterplatte 10 befestigt sein. Das bedeutet, dass die weiter oben erläuterten Hülsen 16 der erfindungsgemäßen Halterelemente fest in einer weiteren Hülse, nämlich der Befestigungshülse 31 befestigt sind, wodurch sie ggf. leichter ausgewechselt werden können. Gemäß dem Ausführungsbeispiel von 5a erstreckt sich die Führungsplatte 29 in einer Ebene, die die Position der Hülsen 16 kreuzt. Im Ausführungsbeispiel von 5b ist die Führungsplatte 29 etwas weiter weg von der Halterplatte 10 angeordnet, so dass die Ebene der Führungsplatte 29 die Kolben 15a, 15b kreuzt. Die Anordnung der Führungsplatte 29 wie in 5b gezeigt, bietet die höhere Führungsgenauigkeit als das in 5a gezeigte Ausführungsbeispiel, wobei das in 5a gezeigte Ausführungsbeispiel eine geringere Gefahr einer Verklemmung und auch den Einsatz bei höheren Bauteilen 4 auf der zu prüfenden Platine 2 bietet, ohne dass ggf. Platz für diese Bauteile 4 in der Führungsplatte 29 ausgefräst werden muss.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • DE 10225028 B3 [0002]
    • DE 202013101614 [0004]

Claims (21)

  1. Halter (1) zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine (2) auf einen Prüfadapter (3) in einer Prüfanordnung, wobei der Halter (1) Halteelemente (11a, b, c) zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine (2) aufweist, wobei die Halteelemente (11a, b, c) jeweils einen parallel zur Richtung der Krafteinwirkung auf die Platine (2) federnd gelagerten Kolben (15) umfassen.
  2. Halter (1) gemäß Anspruch 1, wobei die Kolben (15) jeweils in einer Hülse (16) federnd gelagerten sind.
  3. Halter (1) gemäß Anspruch 1 oder 2, wobei zumindest einer der Kolben (15a) einen abgesetzten Kopf (22) aufweist, der einen kleineren Durchmesser als der Kolben (15a) hat.
  4. Halter (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei zumindest einer der Kolben (15) eine angefaste Spitze aufweist.
  5. Halter (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei zumindest einer der Kolben (15) eine abgeflachte Spitze aufweist.
  6. Halter (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei die Kolben (15) einen Durchmesser zwischen 0,2 und 0,7 mm aufweisen.
  7. Halter (1) gemäß Anspruch 6, wobei die Kolben (15) der Halteelemente jeweils einen Federhub von 3 bis 7 mm aufweisen.
  8. Halter (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei die Kolben (15) einen Durchmesser von 2 bis 40 mm aufweisen.
  9. Halter (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 8, wobei zumindest zwei der Kolben (15) unterschiedliche Durchmesser haben.
  10. Halter (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 9, wobei zumindest einer der Kolben (15) auswechselbar ausgestaltet ist.
  11. Halter (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 10, wobei zumindest zwei der Halteelemente (11a, b, c) gemeinsam an einer auswechselbaren Halteeinheit befestigt sind.
  12. Halter (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 11, wobei zumindest zwei der Halteelemente (11a, b, c) unterschiedliche Kennlinien der federnden Lagerung aufweisen.
  13. Halter (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 12, weiterhin aufweisend Prüfelemente (7) zum Prüfen der zu prüfenden Platine (2), wobei die Prüfelemente (7) jeweils einen parallel zur Richtung der Krafteinwirkung auf die Platine federnd gelagerten Kolben umfassen.
  14. Halter (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 13, wobei zumindest zwei der Kolben (15) der Halte- bzw. Prüfelemente unterschiedliche Ausgangsniveaus in Bezug auf die Ebene der zu prüfenden Platine (2) haben.
  15. Halter (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 14, weiterhin aufweisend eine Führungsplatte (29) in einer Ebene parallel zur Ebene einer zu prüfenden Platine (2), durch die sich die Halteelemente (11a, b, c) hindurch erstrecken und von ihr geführt sind.
  16. Halter (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 15, weiterhin aufweisend nicht federnd gelagerte Halteelemente (12, 13).
  17. Halter (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 16, wobei der Kolben (15) aus gehärtetem Metall besteht.
  18. Halter (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 17, wobei der Kolben (15) eine elektrische Isolierung in Bezug auf die restlichen Teile des Halteelementes aufweist.
  19. Halter (1) gemäß Anspruch 18, wobei die elektrische Isolierung durch eine Lackierung oder Beschichtung gebildet ist.
  20. Halter (1) gemäß Anspruch 18, wobei die elektrische Isolierung durch ein elektrisch isolierendes Kopfteil (26, 27) am Kolben gebildet ist.
  21. Halter (1) gemäß Anspruch 18, wobei der Kolben (15) vollständig aus einem elektrisch isolierenden Material gebildet ist.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200078560A (ko) * 2017-10-26 2020-07-01 자일링크스 인코포레이티드 집적 회로 패키지 워크프레스 테스팅 시스템들에 대한 밸런싱된 합치력 메커니즘

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10225028B3 (de) 2002-06-06 2004-01-15 Ratzky, Bruno Kugelgelenk-Führungsstifte mit Einrastung-Modularer, haubenloser, höhenselbsteinstellender, von oben genau kontaktierbarer Vakuum-Prüfadapter
DE202013101614U1 (de) 2013-04-16 2014-07-18 Atx Hardware Gmbh Halter zum Niederhalten oder Auflegen einer zu prüfenden Platine in einer Prüfanordnung

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10225028B3 (de) 2002-06-06 2004-01-15 Ratzky, Bruno Kugelgelenk-Führungsstifte mit Einrastung-Modularer, haubenloser, höhenselbsteinstellender, von oben genau kontaktierbarer Vakuum-Prüfadapter
DE202013101614U1 (de) 2013-04-16 2014-07-18 Atx Hardware Gmbh Halter zum Niederhalten oder Auflegen einer zu prüfenden Platine in einer Prüfanordnung

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200078560A (ko) * 2017-10-26 2020-07-01 자일링크스 인코포레이티드 집적 회로 패키지 워크프레스 테스팅 시스템들에 대한 밸런싱된 합치력 메커니즘
JP2021501317A (ja) * 2017-10-26 2021-01-14 ザイリンクス インコーポレイテッドXilinx Incorporated 集積回路パッケージのワークプレス検査システムの平衡適合力機構
JP7247177B2 (ja) 2017-10-26 2023-03-28 ザイリンクス インコーポレイテッド 集積回路パッケージのワークプレス検査システムの平衡適合力機構
KR102657145B1 (ko) 2017-10-26 2024-04-11 자일링크스 인코포레이티드 집적 회로 패키지 워크프레스 테스팅 시스템들에 대한 밸런싱된 합치력 메커니즘

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