-
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Prüfanlage zur Prüfung der Funktionsfähigkeit eines Produkts, beispielsweise im Rahmen einer Herstellung des Produkts, sowie ein entsprechendes Prüfverfahren.
-
Die Prüfanlage umfasst zumindest eine Prüfstation, welche das Produkt im Rahmen der Prüfung zu durchlaufen hat, wobei die Prüfstation eingerichtet ist, die Funktionsfähigkeit des Produkts zu prüfen, beispielsweise hinsichtlich eines ersten Prüfparameters mittels eines ersten Prüfverfahrens. Die Prüfanlage oder die Prüfstation sind eingerichtet ist, das Produkt auszusondern, wenn in einem Schritt des Prüfen des Produkts durch die Prüfstation eine mangelnde Funktionsfähigkeit des Produkts festgestellt wird.
-
In dem Fall, dass eine weitere Prüfstation zum Prüfen des Produkts, beispielsweise hinsichtlich eines zweiten Prüfparameters und/oder mittels eines zweiten Prüfverfahren, bekannt wird, ist es in der Regel problematisch, diese Prüfstation in die Prüfanlage zu integrieren. Dazu wäre eine Modifikation in der Steuerung der Prüfanlage, insbesondere eine Änderung der entsprechenden Steuerungssoftware notwendig. Dies ist jedoch bei dem meisten Anlagen nur mit sehr hohem Aufwand oder überhaupt nicht mehr möglich.
-
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es demnach, den vorstehenden Nachteilen Rechnung zu tragen.
-
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren und eine Prüfanlage mit den Merkmalen der unabhängigen Ansprüche gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben.
-
Eine bevorzugte Ausführungsform eines Verfahrens zur Prüfung der Funktionsfähigkeit eines Produktes, beispielsweise im Rahmen einer Herstellung des Produktes, wobei das Produkt zumindest eine Prüfstation einer Prüfanlage durchläuft, umfasst die folgenden Schritte:
Die Funktionsfähigkeit des Produkts wird durch die zumindest eine Prüfstation geprüft. Die Prüfung kann dabei einen ersten Prüfparameter betreffen und mittels eines ersten Prüfverfahrens durchgeführt werden.
-
Wenn im Schritt des Prüfen des Produkts durch die Prüfstation eine mangelnde Funktionsfähigkeit des Produkts festgestellt worden ist, so wird das Produkt in einem nachfolgenden Schritt durch die Prüfanlage oder die Prüfstation ausgesondert.
-
Das Verfahren zeichnet sich durch die folgenden Schritte aus:
Es wird eine Zusatzprüfstation bereitgestellt, welche ebenfalls eingerichtet ist, das Produkt hinsichtlich Funktionsfähigkeit zu prüfen. In der Regel wird die Zusatzprüfstation eingerichtet sein, das Produkt hinsichtlich eines zweiten Prüfparameters und mittels eines zweiten Prüfverfahrens zu prüfen, welche von dem ersten Prüfparameter bzw. dem ersten Prüfverfahren abweichen.
-
Die Funktionsfähigkeit des Produkts wird durch die Zusatzprüfstation geprüft, und zwar vor dem Schritt des Prüfens des Produktes durch die Prüfstation.
-
In dem Fall, dass im Schritt des Prüfen der Funktionsfähigkeit des Produkts durch die Zusatzprüfstation eine mangelnde Funktionsfähigkeit des Produkts festgestellt wird, wird der Schritt des Prüfen des Produktes durch die Prüfstation, welcher nach dem Schritt des Prüfen des Produkts durch die Zusatzprüfstation stattfindet, derart beeinflusst, vorzugsweise durch die Zusatzprüfstation, dass im Schritt des Prüfen des Produktes durch die Prüfstation eine mangelnde Funktionsfähigkeit des Produktes festgestellt wird – und das Produkt folglich ausgesondert wird.
-
Eine bevorzugte Ausführungsform einer Prüfanlage zur Prüfung der Funktionfähigkeit eines Produktes umfasst demnach zumindest eine Prüfstation, welche das Produkt im Rahmen der Prüfung zu durchlaufen hat, wobei die Prüfstation eingerichtet ist, die Funktionsfähigkeit des Produkts zu prüfen. Die Prüfanlage oder die Prüfstation ist eingerichtet, das Produkt auszusondern, wenn in einem Schritt des Prüfen des Produktes durch die Prüfstation eine mangelnde Funktionsfähigkeit des Produktes festgestellt wird.
-
Die Prüfanlage zeichnet sich durch eine Zusatzprüfstation aus. Diese ist eingerichtet, die Funktionsfähigkeit des Produktes zu prüfen. Die Zusatzprüfstation ist in der Prüfanlage relativ zu der Prüfstation derart angeordnet, dass ein Produkt zuerst von der Zusatzprüfstation und danach von der Prüfstation geprüft wird. Die Zusatzprüfstation ist weiter eingerichtet, wenn im Schritt des Prüfens der Funktionsfähigkeit des Produktes die Zusatzprüfstation eine mangelnde Funktionsfähigkeit des Produktes festgestellt hat, einen Schritt des Prüfens des Produktes durch die Prüfstation derart zu beeinflussen, dass im Schritt des Prüfens des Produktes durch die Prüfstation eine mangelnde Funktionsfähigkeit des Produktes festgestellt wird.
-
Die Erfindung bietet auf diese Weise die Möglichkeit, eine Zusatzprüfstation in die bestehende Prüfanlage zu integrieren, ohne tiefgreifende Eingriffe in die Prüfanlage selbst, insbesondere ohne die Notwendigkeit einer Änderung einer Steuersoftware der Prüfanlage oder der einzelnen Prüfstationen der Prüfanlage. Das zu prüfende Produkt durchläuft die Prüfanlage in unveränderter Art und Weise. Die Information darüber, dass ein Produkt durch die Zusatzprüfanlage als nicht funktionsfähig erkannt worden ist, wird der Prüfanlage indirekt dadurch mitgeteilt, dass dann auch zumindest eine der Prüfstationen das Produkt als nicht funktionsfähig erkennt, aufgrund der durch die Zusatzprüfstation beeinflussten Prüfung des Produkts durch die Prüfstation.
-
Der Schritt des Prüfen des Produktes durch die Prüfstation kann grundsätzlich auf verschiedene Arten beeinflusst werden, um die Prüfstation zu veranlassen, das von der Zusatzprüfstation bereits als nicht funktionsfähig erkannte Produkt ebenfalls als nicht funktionsfähig zu beurteilen.
-
Gemäß einer ersten Variante wird der Schritt des Prüfen des Produktes durch die Prüfstation seitens der Zusatzprüfstation dadurch beeinflusst, dass eine Prüfumgebung der Prüfstation durch externe Einflüsse gestört wird. In dem Fall, dass die Prüfstation beispielsweise eine Prüfung eines Produkts, welches als zur kontaktlosen Datenkommunikation eingerichteter Datenträgers ausgebildet ist, mittels einer kontaktlosen Datenkommunikation mit dem Datenträger durchführt, kann diese Datenkommunikation gestört werden, beispielsweise durch das Anlegen eines Störfeldes oder dergleichen.
-
Gemäß einer zweiten Variante kann der Schritt des Prüfen des Produktes durch die Prüfstation seitens der Zusatzprüfstation dadurch beeinflusst werden, dass in die Hardware der Prüfstation eingegriffen wird. Beispielsweise können ein Kurzschluss von Messleitung, ein Öffnen von Messantennen oder ähnliche Eingriffe stattfinden.
-
Gemäß einer dritten Variante kann der Schritt des Prüfen des Produkts durch die Prüfstation seitens der Zusatzprüfstation dadurch beeinflusst werden, dass das Produkt derart manipuliert wird, dass es seitens der Prüfstation als nicht funktionsfähig beurteilt wird. Mit anderen Worten kann die Zusatzprüfstation ein ihrerseits als nicht funktionsfähig erkanntes Produkt teilweise beschädigen, so dass eine nachfolgende Prüfung des Produkts durch eine der Prüfstationen diesen Schaden erkennt.
-
Die vorstehend beschriebene Prüfanlage ist grundsätzlich in der Lage, ein Verfahren gemäß den vorstehend beschriebenen Varianten auszuführen.
-
Gemäß einer besonders bevorzugten Ausführungsform ist die Prüfanlage eingerichtet, als Produkt einen portablen Datenträger mit einer Antennenspule, insbesondere eine zur kontaktlosen Datenkommunikation eingerichtete Chipkarte, auf Funktionsfähigkeit zu prüfen.
-
Die Prüfanlage kann als Herstellungs- und Prüfanlage zur Herstellung von portablen Datenträgern mit einer Antennenspule, insbesondere zur Herstellung von zur kontaktlosen Datenkommunikation eingerichteten Chipkarten, ausgebildet sein. Eine solche Anlage kann verschiedene Stationen umfassen, beispielsweise zum Fräsen einer Kavität in einen Kartenkörper einer Chipkarte, zum Implementieren eines Chips in die Kavität der Chipkarte und zum Prüfen der Funktionsfähigkeit des Chips der Chipkarte.
-
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist die Zusatzprüfstation der Prüfanlage als eine Station zum Prüfen der Funktionsfähigkeit einer Antennenspule für einen zur kontaktlosen Datenkommunikation eingerichteten portablen Datenträger ausgebildet. Die Zusatzprüfanlage kann dazu insbesondere eine Impulseinrichtung umfassen, die eingerichtet ist, die Antennenspule zur Schwingung anzuregen, sowie eine Auswertungseinrichtung, die eingerichtet ist, eine in Antwort auf die Anregung durch die Impulseinrichtung erfasste Schwingung der Antennenspule auszuwerten.
-
Mittels einer solchen Zusatzprüfanlage können die Resonanzfrequenz und die Güte der Antennenspule auf einfache und zuverlässige Weise bestimmt werden. Eine Auswertung dieser Parameter lässt dann Rückschlüsse auf die Funktionsfähigkeit der Antennenspule zu. Eine entsprechende Vorgehensweise ist beispielsweise in der
DE 10 2011 112 902 A1 im Detail beschrieben.
-
Wie bereits erwähnt, kann zumindest eine der Prüfstationen der Prüfanlage als eine Einrichtung zum Fräsen einer Kavität in einen Kartenkörper einer Chipkarte ausgebildet sein. In diese Kavität kann dann ein Chip eingesetzt werden. Diese Prüfstation kann weiterhin eingerichtet sein, die Funktionsfähigkeit der Chipkarte mittels einer Vermessung der Kavität zu prüfen.
-
Die Prüfstation kann weiter eingerichtet sein, die Funktionsfähigkeit der Chipkarte mittels einer Gleichstrom-Widerstandsmessung der Antennenspule zu prüfen.
-
Zumindest eine Prüfstation der Prüfanlage kann auch als ATS-Teststation ausgebildet sein, welche eingerichtet ist, eine Funktionsfähigkeit eines zur kontaktlosen Datenkommunikation eingerichteten Datenträgers mittels eines ATS-Tests (ATS, „Answer-To-Select”) kontaktlos zu prüfen.
-
Dem Obigen ist zu entnehmen, dass die Prüfstationen das Produkt, hier einen zur kontaktlosen Datenübertragung eingerichteten Datenträger, nach verschiedenen Kriterien hinsichtlich Funktionsfähigkeit prüfen (Abmessungen einer Kavität des Kartenkörpers, ohmscher Widerstand der Antennenspule, Antwort auf ein ATS-Test-Kommando). Das Kriterium, nach welchem die Zusatzprüfstation den Datenträger prüft (Resonanzfrequenz und Güte der Antennenspule) ist von den Kriterien, welche die Prüfstationen untersuchen, ebenfalls verschieden. Grundsätzlich können aber die Zusatzprüfstation und zumindest eine der Prüfstationen die gleichen Kriterien überprüfen und dazu gleiche oder verschiedene Prüfverfahren anwenden.
-
In dem Fall, dass die zumindest eine Prüfstation als eine vorstehend genannte ATS-Teststation ausgebildet ist, welche zum Prüfen des Datenträgers eine kontaktlose Kommunikation mit dem Datenträger aufzunehmen versucht, kann die Zusatzprüfanlage eingerichtet sein, einen Schritt des Prüfen des Datenträgers durch die ATS-Teststation dadurch zu beeinflussen, dass eine Messantenne der ATS-Teststation geöffnet wird oder dass seitens der Zusatzprüfanlage in einer Prüfumgebung der ATS-Teststation ein Störfeld erzeugt wird. Mit anderen Worten kann die Zusatzprüfstation eingerichtet sein, in die Hardware der Prüfstation einzugreifen oder eine Prüfumgebung der Prüfstation durch externe Einflüsse zu stören. In beiden Fällen wird die ATS-Teststation den geprüften Datenträger als nicht funktionsfähig beurteilen.
-
Grundsätzlich kann die Zusatzprüfstation eingerichtet sein, einen Schritt des Prüfen des Datenträgers durch die Prüfstation dadurch zu beeinflussen, dass eine Messleitung der Prüfstation durch die Zusatzprüfanlage unterbrochen oder kurzgeschlossen wird, d. h. dass auf spezifische Weise in die Hardware der Prüfstation eingegriffen wird.
-
Die Zusatzprüfstation kann weiterhin eingerichtet sein, einen Schritt des Prüfen des Datenträgers durch die Prüfstation dadurch zu beeinflussen, dass der Datenträger durch die Zusatzprüfstation zumindest soweit beschädigt wird, dass eine nachfolgend den Datenträger prüfende Prüfstation den Datenträger als nicht funktionsfähig ansieht. Im einfachsten Fall kann der Datenträger beispielsweise mit den Datenträgerkörper vollständig durchsetzenden Aussparungen versehen werden, welche auch die Antennenspule und den Bereich der Kavität erfassen.
-
Die vorliegende Erfindung wird im Folgenden mit Bezug auf die beiliegenden Zeichnungen exemplarisch beschrieben. Darin zeigen:
-
1 eine bevorzugte Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Prüfanlage und
-
2 Schritte einer bevorzugten Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Verfahrens.
-
Die in 1 exemplarisch dargestellte Prüfanlage 100 umfasst eine Mehrzahl von Prüfstationen 30, 32, 34, 36, welche ein Produkt 10, 10' durchläuft, beispielsweise mittels einer geeignet eingerichteten Fördereinrichtung 40, 41, 42, wenn es seitens der Prüfanlage 100 geprüft wird.
-
Die Prüfanlage 100 kann als Herstellungs- und Prüfanlage zur Herstellung des Produktes ausgebildet sein. Exemplarisch wird der Fall betrachtet, dass die Prüfanlage 100 als Anlage zur Herstellung und Prüfung von zur kontaktlosen Datenkommunikation eingerichteten Chipkarten 10, 10' ausgebildet ist.
-
Die Station 30 der Prüfanlage 100 kann beispielsweise eingerichtet sein, eine Kavität in einen Datenträgerkörper der Chipkarte 10 zu fräsen. Eine Prüfung der Funktionsfähigkeit des Datenträgers 10 kann durch die Prüfstation 30 auf verschiedene Weise erfolgen. Zum einen kann die Prüfstation 30 eingerichtet sein, die gefräste Kavität zu vermessen und eine Funktionsfähigkeit nur dann zu attestieren, wenn die vorgegebenen Maße eingehalten werden. Weiterhin kann die Prüfstation 30 eingerichtet sein, einen ohmschen Widerstand einer Antennenspule der Chipkarte 10 zu messen. Nur wenn ein Wert innerhalb eines vorgegebenen Intervalls gemessen wird, wird die Chipkarte 10 als funktionsfähig angesehen.
-
Die Station 32 kann eingerichtet sein, einen Chip in die durch die Station 30 gefräste Kavität einzusetzen.
-
Die Prüfstation 34 kann eingerichtet sein, die Funktionsfähigkeit des Chips in Kombination mit der Antennenspule zu prüfen, indem ein ATS Test durchgeführt wird.
-
Die Prüfanlage kann weitere Stationen 36 umfassen, beispielsweise zur Individualisierung und Personalisierung der Chipkarte 10.
-
Die Prüfanlage 100 umfasst weiterhin eine Zusatzprüfstation 20, die den vorgenannten Prüfstationen 30, 34 vorgelagert ist. Die Zusatzprüfstation 20 ist im gezeigten Beispiel eingerichtet, eine Funktionsfähigkeit einer Antennenspule eines Datenträgers 10 zu prüfen, indem Resonanzfrequenz und Güte der Antennenspule gemessen werden.
-
Allgemein ist die Zusatzprüfstation 20 eingerichtet, wenn Sie einen Datenträger 10 als nicht funktionsfähig erkennt, einen nachfolgenden Schritt des Prüfen des Datenträgers durch eine der weiteren Prüfstationen 30, 34 derart zu beeinflussen oder zu stören, dass die Prüfstationen 30, 34 den Datenträger 10 ebenfalls als nicht funktionfähig beurteilen.
-
Immer dann, wenn eine der Prüfstationen 30, 34 der Prüfanlage 100 im Schritt des Prüfen feststellt, dass der Datenträger 10 nicht funktionsfähig ist, so wird dieser Datenträger 10 von der Prüfanlage 100 ausgesondert, wie dies symbolisch mittels des Behälters 50 illustriert und nachfolgend noch mit Bezug auf 2 beschrieben wird.
-
Die Zusatzprüfstation 20 kann ein Schieberegister umfassen, um darin festzuhalten, welcher der bereits geprüften Datenträger als nicht funktionsfähig erkannt worden sind. Für jeden solchen Datenträger kann beispielsweise ein Fehlerflag gesetzt werden. Auf diese Weise kann die Zusatzprüfstation 20 auch dann, wenn zwischen ihr und einer Prüfstation 30, 34 mehrere seitens der Prüfstation 30, 34 noch zu prüfende Datenträger 10 die Prüfanlage 100 durchlaufen, nur die Prüfung der „richtigen” Datenträger, d. h. der durch die Zusatzprüfstation 20 als nicht funktionsfähig erkannten Datenträger, stören.
-
Eine bevorzugte Ausführungsform eines Verfahrens zur Prüfung der Funktionsfähigkeit eines Produkts, beispielsweise eines zur kontaktlosen Datenübertragung eingerichteten Datenträgers, wie eine Chipkarte 10, umfasst die in 2 dargestellten Schritte.
-
In einem ersten Schritt S1 wird eine Prüfanlage 100 bereitgestellt mit zumindest einer Prüfstation 30, 34 zum Prüfen der Funktionsfähigkeit des Produktes. Ein Beispiel einer solchen Prüfanlage 100 ist in 1 gezeigt und vorstehend exemplarisch beschrieben worden.
-
Wie mit Bezug auf Schritt S2 illustriert, wird insbesondere eine Zusatzprüfstation 20 der Prüfanlage 100 bereitgestellt. Die Zusatzprüfstation 20 kann auch nachträglich in die Prüfanlage 100 integriert werden, ohne dass eine Steuerung, insbesondere eine Steuersoftware, der Prüfanlage 100 und der einzelnen Prüfstationen 30, 32, 34 verändert werden müsste.
-
Im Rahmen einer Prüfung eines Produktes 10 durch die Prüfanlage 100 wird das Produkt in Schritt S3 durch die Zusatzprüfstation 20 hinsichtlich Funktionsfähigkeit geprüft.
-
Wie mit Bezug auf Schritt S4 dargestellt, prüft die Zusatzprüfstation 20, ob das Produkt funktionsfähig ist oder nicht. In dem Fall, dass Funktionsfähigkeit hinsichtlich des seitens der Zusatzprüfstation 20 überprüften Kriteriums festgestellt wird, so wird die Prüfung des Produktes in Schritt S6 fortgeführt, in welchem das Produkt durch eine Prüfstation 30, 34 der Prüfanlage 100 geprüft wird, welche der Zusatzprüfstation 20 nachgeschaltet ist.
-
In dem Fall jedoch, dass in Schritt S4 seitens der Zusatzprüfstation 20 festgestellt wird, dass das Produkt nicht funktionsfähig ist, beeinflusst die Zusatzprüfstation 20, wie mit Bezug auf Schritt S5 dargestellt, die nachfolgende Prüfung des Produktes durch die Prüfstation 30, 34 in Schritt S6 derart, dass die Prüfstation 30, 34 das Produkt als nicht funktionsfähig ansieht.
-
Die Prüfstation 30, 34, nach einer Prüfung des Produkts in Schritt S6, prüft in Schritt S7, ob das Produkt funktionsfähig ist oder nicht. Im positiven Fall können, wie mit Bezug auf Schritt S9 dargestellt, weitere Prüfungen des Produktes durch weitere Prüfstationen 36 erfolgen. Die Prüfung des Produkts kann aber auch an dieser Stelle beendet werden.
-
In dem Fall, dass in Schritt S7 als Ergebnis der Prüfung eine mangelnde Funktionsfähigkeit des Produkts festgestellt wird, wird dieses, wie mit Bezug auf Schritt S8 dargestellt, durch die Prüfanlage 100 oder die Prüfstation 30, 34 ausgesondert.
-
Ein Produkt wird somit als nicht funktionsfähig ausgesondert, wenn entweder die Zusatzprüfstation 20 das Produkt als nicht funktionsfähig ansieht oder wenn zumindest eine der Prüfstationen 30, 34 der Prüfanlage 100 das Produkt als nicht funktionsfähig ansehen. Das Aussondern eines als nicht funktionsfähig angesehenen Produktes erfolgt jedoch immer als Ergebnis einer Prüfung durch eine der Prüfstationen 30, 34, auch wenn eine solche Prüfung durch die Prüfstationen 20, 34 seitens der Zusatzprüfstation 20 beeinflusst worden ist (vgl. Schritt S5).
-
Mit Bezug auf 1 kann in Schritt S3 durch die Zusatzprüfstation 20 beispielsweise eine Antennenspule einer zur kontaktlosen Datenübertragung eingerichteten Chipkarte hinsichtlich ihrer Resonanzfrequenz und ihrer Güte geprüft werden. Sind die gemessenen Werte in einem vorgegebenen Bereich, so wird die Chipkarte seitens der Zusatzprüfstation 20 als funktionsfähig angesehen. Liegen die Messwerte außerhalb eines vorgegebenen Bereiches, so wird mangelnde Funktionsfähigkeit festgestellt.
-
Eine Prüfstation 30, 34, welche die Chipkarte dann in Schritt S6 prüft, kann beispielsweise eine Einrichtung zum Fräsen einer Kavität in den Datenträgerkörper der Chipkarte sein. Ein Kriterium, welches diese Prüfstation 30, 34 mit Blick auf eine Funktionsfähigkeit der Chipkarte prüfen kann, sind die Abmessungen der gefrästen Kavität. Alternativ oder zusätzlich kann die Prüfstation 30, 34 auch einen ohmschen Widerstand der Antennenspule der Chipkarte messen und mit vorgegebenen Werten vergleichen.
-
Eine Störung der Prüfung der Chipkarte durch die Prüfstation 30 in Schritt S6 durch die Zusatzprüfstation 20 in Schritt S5 kann beispielsweise dadurch erfolgen, dass die Zusatzprüfstation 20, wenn sie ihrerseits die Chipkarte bereits als nicht funktionsfähig angesehen hat, die Chipkarte partiell zerstört, beispielsweise durch Stanzen des Kartenkörpers, wodurch die Antennenspule und ein Bereich der Kavität mit erfasst werden. In diesem Fall würde die Prüfstation 30 die Chipkarte 10 in Schritt S6 gemäß beiden Kriterien als nicht funktionsfähig ansehen und daher aussondern.
-
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
-
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
-
Zitierte Patentliteratur
-
- DE 102011112902 A1 [0022]
