DE102013200368A1 - Kollektorspiegeleinheit für die Halbleiterlithographie - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Kollektorspiegeleinheit (1) für die EUV-Lithographie, mit einem Kollektorspiegel (11) zur Reflexion von durch eine Plasmaquelle emittierte elektromagnetische Strahlung, wobei die Kollektorspiegeleinheit (1) mit Referenzflächen (141) zur Ausrichtung gegenüber einem bestimmten Punkt im Raum versehen ist. Ferner betrifft die Erfindung ein Gehäuse (2) zur Aufnahme der Kollektorspiegeleinheit sowie ein Verfahren zum Wechsel der Kollektorspiegeleinheit (1) und einen zum Wechsel der Kollektorspiegeleinheit verwendbaren Transportwagen (50).
Description
- Die Erfindung betrifft eine Kollektorspiegeleinheit für die Halbleiterlithographie, insbesondere für die EUV-Halbleiterlithographie, ein Gehäuse zur Aufnahme einer derartigen Kollektorspiegeleinheit sowie einen Transportwagen zum Wechsel der Kollektorspiegeleinheit.
- Kollektorspiegel für die Halbleiterlithographie haben die Funktion, das von einer Plasmaquelle im Beleuchtungssystem beispielsweise einer EUV-Projektionsbelichtungsanlage emittierte, extrem kurzwellige Licht möglichst effizient zu bündeln und in die zur späteren Verwendung als Belichtungsstrahlung der Lithographieanlage optimale Richtung abzulenken. Die Qualität der gewonnenen elektromagnetischen Strahlungen hängt dabei einerseits von einer möglichst exakten Ausrichtung des Kollektorspiegels zur Plasmaquelle und andererseits vom Zustand der Oberfläche des Kollektorspiegels ab. Der Kollektorspiegel ist im Einsatz einerseits hohen thermischen Belastungen ausgesetzt und andererseits besteht die Möglichkeit der Verschmutzung der Oberfläche des Spiegels, wodurch die Reflektivität vermindert und die Ausbeute an nutzbarer optischer Strahlung verringert wird. Somit wird in regelmäßigen Abständen ein Austausch zur Wartung bzw. Reinigung des Kollektorspiegels erforderlich, was insbesondere beim Einbau des neuen bzw. des Ersatzkollektorspiegels nach dem Stand der Technik mit einem erheblichen Justageaufwand verbunden war.
- Hier setzt die Erfindung an und stellt sich die Aufgabe, Vorrichtungen anzugeben, mittels welcher der Wechsel eines Kollektorspiegels im Beleuchtungssystem einer Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie, insbesondere einer EUV-Projektionsbelichtungsanlage, insbesondere dahingehend erleichtert wird, dass die erforderliche Zeit für eine Neujustage möglichst minimiert wird. Diese Aufgabe wird durch die Vorrichtungen mit den in den unabhängigen Ansprüchen aufgeführten Merkmalen gelöst. Die Unteransprüche betreffen vorteilhafte Ausführungsformen und Weiterbildungen der Erfindung.
- Die erfindungsgemäße Kollektorspiegeleinheit für die EUV-Lithographie zeigt einen Kollektorspiegel zur Reflexion von durch eine Plasmaquelle emittierte elektromagnetische Strahlung und ist erfindungsgemäß mit Referenzflächen zur Ausrichtung gegenüber einem bestimmten Punkt im Raum versehen.
- Dabei können die Referenzflächen als ebene, zylindermantelförmige oder kugelförmige Flächen ausgebildet sein; insbesondere können drei ebene Referenzflächen auf scheibenförmigen Elementen, sogenannten Planspacern angeordnet sein, während zwei zylinderförmige Referenzflächen auf stiftförmigen Elementen angeordnet sein können.
- Dadurch, dass drei kugelschalensegementförmige Referenzflächen auf kugelförmigen Elementen angeordnet sind, kann eine besonders stabile Lagerung der Kollektorspiegeleinheit erreicht werden.
- In einer Variante der Erfindung kann die Kollektorspiegeleinheit einen Spiegelträger aufweisen, auf welchem mindestens eine der Referenzflächen angeordnet ist.
- Das Gehäuse, welches für die Aufnahme der Kollektorspiegeleinheit für die EUV-Lithographie vorgesehen ist, ist zumindest mittelbar mit Referenzflächen zur Ausrichtung der Kollektorspiegeleinheit gegenüber einem bestimmten Punkt im Raum versehen. Dabei korrespondieren die Referenzflächen des Gehäuses denjenigen der Kollektorspiegeleinheit.
- Zur Fixierung der Kollektorspiegeleinheit kann das Gehäuse mit Haltevorrichtungen versehen sein.
- In einer vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung sind die Haltevorrichtungen als federvorgespannte pneumatisch lösbare Klammern oder Klemmen ausgebildet.
- Insbesondere kann das Gehäuse mit mindestens einem Aktuator zur Positionierung mindestens einer gehäuseseitigen Referenzfläche ausgestattet sein.
- Dadurch, das Gehäuse mit Führungselementen für eine Wechseleinrichtung der Kollektorspiegeleinheit ausgestattet ist, kann ein Wechsel der Kollektorspiegeleinheit erheblich erleichtert werden.
- Ein Verfahren zum Wechsel einer Kollektorspiegeleinheit einer EUV-Lithographieanlage zeigt die folgenden Schritte:
- – Entfernen einer Alt-Kollektorspiegeleinheit aus einem Gehäuse
- – Ausrichtung mindestens einer Referenzfläche an einer Neu-Kollektorspiegeleinheit gegenüber einem bestimmten Punkt im Raum
- – Einbringen der Neu-Kollektorspiegeleinheit in das Gehäuse
- Dabei kann die Ausrichtung der Neu-Kollektorspiegeleinheit in vorteilhafter Weise bereits außerhalb des Gehäuses in einer Umgebung erfolgen, die im Hinblick auf die geometrischen Gegebenheiten und insbesondere der Anordnung der Referenzflächen dem Gehäuse entspricht. Auf diese Weise wird es möglich, den Justageaufwand in demjenigen Gehäuse, in welchem der Kollektorspiegel für den späteren Einsatz angeordnet wird, zu minimieren und insbesondere nach einem Wechsel eines Kollektorspiegels wieder eine schnelle Betriebsbereitschaft der zugehörigen Projektionsbelichtungsanlage herzustellen.
- Der Wechsel kann insbesondere dadurch erleichtert werden, dass zum Einbringen der Neu-Kollektorspiegeleinheit in das Gehäuse ein Transportwagen verwendet wird.
- Insbesondere kann der Transportwagen mit einer ausfahrbaren Vorrichtung zum Wechsel der Kollektorspiegeleinheiten ausgestattet sein, bei welcher es sich um einen Wagen mit einer absenkbaren bzw. anhebbaren Aufnahme für eine Kollektorspiegeleinheit handelt.
- Ferner kann der der Transportwagen mit einem nach außen abgeschlossenen Raum zur Aufnahme einer Kollektorspiegeleinheit ausgestattet sein.
- Nachfolgend werden Varianten und Ausführungsformen der Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert.
- Es zeigen:
-
1 eine erste exemplarische Ausführungsform der Erfindung; -
2 ein Konzept zur Fixierung der Kollektorspiegeleinheit auf einer Basisplatte; -
3 eine Alternative zu der in2 gezeigten Lösung; und -
4 einen Transportwagen zum Wechsel der Kollektorspiegeleinheit. -
1 zeigt in einer schematischen Schnittdarstellung eine erste exemplarische Ausführungsform der Erfindung. Die Kollektorspiegeleinheit1 ist dabei in dem Gehäuse2 angeordnet, wie es für den Betrieb in einer Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie, beispielsweise einer EUV-Projektionsbelichtungsanlage vorgesehen ist. Die Kollektorspiegeleinheit1 umfasst dabei den Kollektorspiegel11 , welcher über Spiegelhalter12 auf einem Spiegelträger13 angeordnet ist. Bei dem Kollektorspiegel11 kann es sich insbesondere um einen bedampften Körper in Form eines Rotationsellipsoides handeln, wobei der genannte Rotationskörper um die große Halbachse einer Ellipse rotiert ist. Dabei ist der Kollektorspiegel11 derart angeordnet, dass sein erster Fokus mit dem Ort einer Plasmaquelle3 zusammenfällt. Die Plasmaquelle3 wird üblicherweise im Kreuzungspunkt eines Laserstrahls und eines Tröpfchenstrahls von Zinntröpfchen gebildet. Durch die Lasereinwirkung bildet sich dort, wo der Laser auf den nicht dargestellten Zinntröpfchenstrahl trifft, lokal ein Plasma, welches elektromagnetische Strahlung üblicherweise insbesondere auch im Röntgenbereich als Nutzstrahlung für eine übergeordnete Projektionsbelichtungsanlage emittiert. Ein wesentlicher Punkt bei der Anordnung der Kollektorspiegeleinheit1 im Gehäuse2 besteht nun darin, dass einerseits der erste Fokus des Kollektorspiegels11 mit dem Ort des Plasmas bzw. der Plasmaquelle3 zusammenfällt. Hierzu muss die korrekte Ausrichtung des Kollektorspiegels11 gegenüber dem Gehäuse2 gewährleistet sein. Im vorliegenden Fall wird diese Ausrichtung dadurch sichergestellt, dass die Kollektorspiegeleinheit1 über Referenzflächen141 bzw.241 in mechanischen Kontakt mit dem Gehäuse2 steht. Dabei sind mit dem Bezugszeichen141 die spiegelseitigen Referenzflächen bezeichnet, wohingegen mit dem Bezugszeichen241 die gehäuseseitigen Referenzflächen bezeichnet sind. Die spiegelseitigen Referenzflächen141 sind im vorliegenden Beispiel auf scheibenförmigen Elementen, sogenannten Planspacern14 , angeordnet, welche ihrerseits mit dem Spiegelträger13 verbunden sind. Die gehäuseseitigen Referenzflächen241 sind auf einer Basisplatte24 angeordnet, welche im vorliegenden Beispiel über Aktuatoren25 mit dem Gehäuse2 bzw. der Gehäusewandung21 verbunden sind; es versteht sich von selbst, dass die Aktuatoren25 auch als passive Halter ausgebildet sein können und somit keine Justagefunktion ermöglichen können. Für eine Einstellung der Verkippung der Kollektorspiegeleinheit1 gegenüber dem Gehäuse2 sind drei Planspacer14 erforderlich, wobei aufgrund des Schnittes im vorliegenden Beispiel lediglich zwei gezeigt sind; der dritte Planspacer14 liegt außerhalb der Schnittebene. Zur Fixierung der Kollektorspiegeleinheit1 in lateraler Richtung, also in einer zur Ebene des Spiegelträgers13 bzw. der Basisplatte24 parallelen Richtung sind stiftförmige Elemente142 vorgesehen, welche zylindrisch ausgebildet sein können und mit ihrer Zylindermantelfläche mit entsprechenden, gehäuseseitigen Nuten (in1 nicht dargestellt) in Verbindung stehen können. Damit ist die Ausrichtung der Kollektorspiegeleinheit1 gegenüber dem Gehäuse2 und damit auch gegenüber der Plasmaquelle3 gewährleistet. Eine mechanische Fixierung der Kollektorspiegeleinheit1 kann im gezeigten Beispiel mittels der Haltevorrichtungen26 erreicht werden; dabei sind die Haltevorrichtungen26 als federvorbelastete pneumatisch bedienbare Elemente ausgebildet, welche in drucklosem Zustand eine Klemmung des Spiegelträgers13 gegenüber der Basisplatte24 gewährleisten. Ein Lösen des Spiegelträgers13 von der Basisplatte24 kann dadurch erfolgen, dass die Haltevorrichtungen26 mit Pressluft beaufschlagt werden, wobei sie sich gegen die Federkraft lösen; dieses Konzept hat den Vorteil, dass es selbsthemmend, also bei Abwesenheit von pneumatischem Druck klemmend ausgeführt ist. - Ebenfalls gut erkennbar in
1 ist die Klappe22 in der Gehäusewandung21 , welche über das Scharnier23 geöffnet werden kann, wodurch ein Aus- bzw. Einfahren der Kollektorspiegeleinheit1 in das bzw. aus dem Gehäuse2 ermöglicht wird. Die Positionierung bzw. Bewegung der Kollektorspiegeleinheit1 in das Gehäuse2 oder aus diesem heraus kann dabei durch die Führungselemente27 , die im vorliegenden Beispiel als Schienen ausgebildet sind, erleichtert werden. Auf den konkreten Mechanismus zum Wechsel der Kollektorspiegeleinheit1 wird in den nachfolgenden Figuren noch detaillierter eingegangen werden. -
2 zeigt als Detailansicht in einer Schnittdarstellung mit horizontalem Schnittverlauf ein erstes Konzept zur Fixierung der Kollektorspiegeleinheit1 auf einer Basisplatte24 . Gut erkennbar sind dabei die Planspacer14 , mittels welcher die Einjustage der Ausrichtung der optischen Achse der Kollektorspiegeleinheit1 erreicht wird. Die laterale Fixierung der Kollektorspiegeleinheit1 erfolgt über die beiden stiftförmigen Elemente142 , von welchen ein erstes zwischen zwei Klemmbacken einer Klemme145 gehalten ist. Dabei sind die beiden Klemmflächen als ebene Flächen ausgebildet. - Im Unterschied hierzu ist eine weitere Klemme
144 derart ausgebildet, dass eine ihrer Klemmflächen als vertikal verlaufende V-Nut ausgebildet ist, in welcher das zugehörige stiftförmige Element142 fixiert wird. Auf diese Weise wird eine verbesserte laterale Positionierung der Kollektorspiegeleinheit1 ermöglicht. - Ein alternatives Konzept hierzu ist in
3 dargestellt.3 zeigt dabei einen Vertikalschnitt durch eine alternativ ausgebildete Lagereinrichtung, mittels derer der Spiegelträger13 auf der Basisplatte24 gelagert ist. Dabei ist die Lagereinheit als eine in horizontaler Richtung verlaufende V-Nut231 ausgebildet, in welcher ein mit dem Spiegelträger13 verbundener Halbkugelabschnitt131 ruht. Die Referenzflächen sind dabei als Oberflächen231 der V-Nut bzw. als Kugelabschnittsoberfläche ausgebildet. Für eine definierte Ausrichtung des Spiegelträgers13 und damit der Kollektorspiegeleinheit1 gegenüber der Basisplatte24 sind drei der in3 gezeigten Lagereinheiten erforderlich. Vorteilhaft bei dieser Ausführungsform ist insbesondere, dass aufgrund der Gravitation die Kollektorspiegeleinheit1 praktisch automatisch ihre korrekte Ausrichtung gegenüber der Basisplatte24 einnimmt. Um lokale Druckdeformation zu vermeiden, sind die für die V-Nuten und die Kugelabschnitte verwendete Materialien vergleichsweise hart und die Radien der Kugelabschnitte groß zu wählen. Zur mechanischen Sicherung dient im vorliegenden Beispiel die Schraube134 . -
4 zeigt eine als Transportwagen50 ausgebildete Hilfsvorrichtung zum Wechsel einer Kollektorspiegeleinheit1 . Die Kollektorspiegeleinheit1 ist dabei auf dem Transportwagen50 auf einer als absenkbarer Auszug51 ausgebildeten ausziehbaren Vorrichtung, welche mit nicht bezeichneten Rollen versehen ist, gelagert. Beim Wechsel wird der Transportwagen50 über entsprechende Ausrichtelemente an dem Gehäuse2 angedockt und die Kollektorspiegeleinheit1 wird in angehobenem Zustand über den Auszug51 derart in das Innere des Gehäuses2 eingeführt, dass der Auszug51 im Gehäuse2 auf den Führungselementen27 geführt wird. Sobald der Auszug51 grob die passende Position innerhalb des Gehäuses2 erreicht, wird die Kollektorspiegeleinheit1 abgesenkt und mittels der insbesondere in den1 bis3 geschilderten Komponenten zum Gehäuse2 ausgerichtet und fixiert. Der Auszug51 wird dann aus dem Inneren des Gehäuses2 beispielsweise mittels eines Seilzugs wieder entfernt. Das Gehäuse2 wird verschlossen und der Betrieb der Lichtquelle kann wieder aufgenommen werden. Selbstverständlich ist auch analog ein Entfernen einer wartungsbedürftigen Kollektorspiegeleinheit aus dem Inneren des Gehäuses2 denkbar. Nicht dargestellt in4 ist eine Abdeckhaube für den Transportwagen50 , mittels derer eine definierte und staubarme Umgebung für neue, aber auch wartungsbedürftige Kollektorspiegeleinheiten1 geschaffen werden kann.
Claims (17)
- Kollektorspiegeleinheit (
1 ) für die EUV-Lithographie, mit einem Kollektorspiegel (11 ) zur Reflexion von durch eine Plasmaquelle emittierte elektromagnetische Strahlung, dadurch gekennzeichnet, dass die Kollektorspiegeleinheit (1 ) mit Referenzflächen (141 ) zur Ausrichtung gegenüber einem bestimmten Punkt im Raum versehen ist. - Kollektorspiegeleinheit (
1 ) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Referenzflächen (141 ) als ebene, zylindermantelförmige oder kugelförmige Flächen ausgebildet sind. - Kollektorspiegeleinheit (
1 ) nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass drei ebene Referenzflächen (141 ) auf scheibenförmigen Elementen (14 ) und zwei zylinderförmige Referenzflächen auf stiftförmigen Elementen (142 ) angeordnet sind. - Kollektorspiegeleinheit (
1 ) nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass drei kugelschalensegmentförmige Referenzflächen auf kugelförmigen Elementen (131 ) angeordnet sind. - Kollektorspiegeleinheit (
1 ) nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Kollektorspiegeleinheit (1 ) einen Spiegelträger (13 ) aufweist, auf welchem mindestens eine der Referenzflächen (141 ) angeordnet ist. - Gehäuse (
2 ) für eine Kollektorspiegeleinheit (1 ) für die EUV-Lithographie, dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse (2 ) zumindest mittelbar mit Referenzflächen (241 ) zur Ausrichtung der Kollektorspiegeleinheit (1 ) gegenüber einem bestimmten Punkt im Raum versehen ist. - Gehäuse (
2 ) nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse (2 ) mit Haltevorrichtungen (26 ) zur Fixierung der Kollektorspiegeleinheit (1 ) versehen ist. - Gehäuse (
2 ) nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Haltevorrichtungen (26 ) als federvorgespannte pneumatisch lösbare Klammern oder Klemmen ausgebildet sind. - Gehäuse (
2 ) nach einem der vorangehenden Ansprüche 6–8, dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse (2 ) mit mindestens einem Aktuator (25 ) zur Positionierung mindestens einer gehäuseseitigen Referenzfläche (241 ) ausgestattet ist. - Gehäuse (
2 ) nach einem der vorangehenden Ansprüche 6–9, dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse (2 ) mit Führungselementen (27 ) für eine Wechseleinrichtung der Kollektorspiegeleinheit (1 ) ausgestattet ist. - Verfahren zum Wechsel einer Kollektorspiegeleinheit (
1 ) einer EUV-Lithographieanlage, mit den folgenden Schritten: – Entfernen einer Alt-Kollektorspiegeleinheit (1 ) aus einem Gehäuse (2 ) – Ausrichtung mindestens einer Referenzfläche (241 ) an einer Neu-Kollektorspiegeleinheit (1 ) gegenüber einem bestimmten Punkt im Raum – Einbringen der Neu-Kollektorspiegeleinheit (1 ) in das Gehäuse (2 ) - Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass zum Einbringen der Neu-Kollektorspiegeleinheit (
1 ) in das Gehäuse (2 ) ein Transportwagen (50 ) verwendet wird. - Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass der Transportwagen (
50 ) mit einer ausfahrbaren Vorrichtung zum Wechsel der Kollektorspiegeleinheiten (1 ) ausgestattet ist. - Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei der ausfahrbaren Vorrichtung um einen Wagen mit einer absenkbaren bzw. anhebbaren Aufnahme für eine Kollektorspiegeleinheit (
1 ) handelt. - Transportwagen (
50 ) zum Wechsel einer Kollektorspiegeleinheit (1 ) einer EUV-Lithographieanlage, wobei der Transportwagen (50 ) mit einer ausfahrbaren Vorrichtung (51 ) zum Wechsel der Kollektorspiegeleinheiten (1 ) ausgestattet ist. - Transportwagen (
50 ) nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei der ausfahrbaren Vorrichtung (51 ) um einen Wagen mit einer absenkbaren bzw. anhebbaren Aufnahme für eine Kollektorspiegeleinheit (1 ) handelt. - Transportwagen (
50 ) nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass der Transportwagen (50 ) mit einem nach außen abgeschlossenen Raum zur Aufnahme einer Kollektorspiegeleinheit (1 ) ausgestattet ist.
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