DE102013103253A1 - Laser light-section sensor with improved accuracy due to reduction of speckles - Google Patents
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Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Vermessung einer Oberfläche (20) eines Prüflings mit einem Lichtschnittsensor (1) und dem Lichtschnittsensor dazu, folgende Schritte umfassend: a) Erzeugen einer Lichtschnittebene durch ein erstes Laser-Lichtstrahlbündel (11) zur Projektion auf die Oberfläche (20) des Prüflings; b) messtechnisches Erfassen des Lichtschnitts auf der Oberfläche (20) mit einem Kamerasensor (53) des Lichtschnittsensors (1) und dabei Erzeugen von ersten Bilddaten; gekennzeichnet durch c) Erzeugen der gleichen Lichtschnittebene durch ein vom ersten Laser-Lichtstrahlbündel (11) unterschiedliches zweites Laser-Lichtstrahlbündel (12) zur Projektion auf die Oberfläche (20); d) Erfassen des durch das zweite Laser-Lichtstrahlbündel (12) erzeugten Lichtschnitts auf der Oberfläche (20) durch den Kamerasensor (53) und dabei Erzeugen von zweiten Bilddaten; und e) durch einen Algorithmus Bestimmen von resultierenden Bilddaten aus den ersten und den zweiten Bilddaten durch eine Recheneinheit, wobei der Algorithmus ausgebildet ist, den vermessenen Lichtschnitt, der in den ersten und zweiten Bilddaten mit Speckles überlagert abgebildet ist, in den resultierende Bilddaten mit weniger stark ausgeprägten Speckles abzubilden.The present invention relates to a method for measuring a surface (20) of a test object with a light section sensor (1) and the light section sensor for it, comprising the following steps: a) Generating a light section plane by a first laser light beam (11) for projection onto the surface ( 20) of the test item; b) metrological recording of the light section on the surface (20) with a camera sensor (53) of the light section sensor (1) and thereby generating first image data; characterized by c) generating the same light section plane by a second laser light beam (12) different from the first laser light beam (11) for projection onto the surface (20); d) detecting the light section generated by the second laser light beam (12) on the surface (20) by the camera sensor (53) and thereby generating second image data; and e) using an algorithm to determine the resulting image data from the first and second image data by a computing unit, the algorithm being designed to convert the measured light section, which is superimposed with speckles in the first and second image data, into the resulting image data with less show pronounced speckles.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Vermessung eines Prüflings oder Strangprofils mit einem Lichtschnittsensor nach dem Triangulationsprinzip. Dabei wird vom Lichtschnittsensor eine Lichtschnittebene durch ein erstes und durch ein anderes zweites Lichtstrahlbündel erzeugt und deren Lichtschnitte jeweils vermessen, wobei jeweilige Bilddaten zu resultierenden Bilddaten so verarbeitet werden, dass die resultierenden Bilddaten weniger stark ausgeprägte Speckles aufweisen.The present invention relates to a method and a device for measuring a test piece or extruded profile with a light section sensor according to the triangulation principle. In this case, the light-section sensor generates a light-section plane through a first and another second light beam and measures their light sections, with respective image data being processed into resulting image data such that the resulting image data has less pronounced speckles.
Durch das vom Lichtschnittsensor kohärent emittierte Laser-Licht treten bei der Reflektion am Lichtschnitt in den reflektierte Lichtwellen Interferenzen auf, die teilweise zu einer Intensitätserhöhung und teilweise zu einer Auslöschung führen. Das Speckle Muster überlagert sich dabei dem eigentlichen Bild. Bei einer Vermessung des Querschnitts des Strangprofils durch den Lichtschnitt wird in einem Kamerasensor im Lichtschnittsensor anstelle einer Linie eine gepunktete Linie abgebildet, die entsprechend schlecht oder ungenau automatisch messbar ist.Due to the laser light emitted coherently by the light section sensor, interferences occur in the reflection at the light section in the reflected light waves, which in part lead to an increase in intensity and in part to an extinction. The speckle pattern is superimposed on the actual image. In a measurement of the cross section of the extruded profile by the light section is shown in a camera sensor in the light section sensor instead of a line a dotted line, which is correspondingly poor or inaccurate automatically measured.
Zusammenfassung der ErfindungSummary of the invention
Daher besteht eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, um die Nachteile aus dem Stand der Technik zu vermeiden, in der Bereitstellung eines Verfahrens und eines Lichtschnittsensors zur Vermessung einer Oberfläche oder eines Teils eines Querschnitts eines Prüflings, mit dem die Oberfläche des Prüflings gleich oder ähnlich wie mit einem bekannten Laser-Lichtschnittsensor vermessen werden kann, jedoch mit höherer Messgenauigkeit und insbesondere mit weniger Störung durch Speckles.Therefore, it is an object of the present invention, in order to avoid the disadvantages of the prior art, to provide a method and a light section sensor for measuring a surface or part of a cross section of a specimen with which the surface of the specimen is the same or similar as with a known laser light-section sensor can be measured, but with higher accuracy and in particular with less interference by speckles.
Die vorstehende Aufgabe sowie weitere der Beschreibung zu entnehmende Aufgaben werden von einem Verfahren und einer Messvorrichtung zur Vermessung eines Prüflings oder eines Strangprofils gemäß den kennzeichnenden Merkmalen der unabhängigen Ansprüche 1 bzw. 10 gelöst.The above object and other objects to be taken from the description are achieved by a method and a measuring device for measuring a test piece or an extruded profile according to the characterizing features of the
Indem eine Lichtschnittebene zur Vermessung einer Oberfläche eines Prüfling nicht nur mit einem ersten Laser-Lichtstrahlbündel, sondern auch mit einem anderen, zweiten Laser-Lichtstrahlbündel erzeugt wird, werden in ersten Bilddaten, die durch das erste Laser-Lichtstrahlbündel gewonnen werden, andere Speckles erfasst als in zweiten Bilddaten, die durch das zweite Laser-Lichtstrahlbündel erzeugt werden. Somit können die Speckles der zweiten Bilddaten durch einen Vergleich mit den ersten Bilddaten erkannt und kompensiert oder herausgefiltert werden. Durch einen Algorithmus oder eine entsprechende Bildverarbeitung der ersten mit den zweiten Bilddaten lassen sich die Speckles, die Störungen in der Vermessung darstellen, reduzieren oder kompensieren. Durch den Algorithmus der Bildverarbeitung werden somit bereinigte, resultierende Bilddaten erzeugt, die nur noch ein Speckles-Muster mit wesentlich geringerer Ausprägung aufweisen. Dadurch lassen sich Messfehler, die durch die Speckles erzeugt werden, zu einem hohen Grad reduzieren oder vermeiden.By generating a light slicing plane for measuring a surface of a specimen not only with a first laser light beam but also with another second laser light beam, other speckles are detected in first image data obtained by the first laser light beam in second image data generated by the second laser light beam. Thus, the speckles of the second image data can be detected and compensated or filtered out by comparison with the first image data. By an algorithm or a corresponding image processing of the first image data with the second, the speckles that represent disturbances in the survey, reduce or compensate. The image processing algorithm thus generates cleaned, resulting image data which only has a speckles pattern with a significantly lower expression. As a result, measurement errors generated by the speckles can be reduced or avoided to a high degree.
In einer ersten Ausführungsform werden das erste und das andere, zweite Laser-Lichtstrahlbündel durch verschiedene Wellenlängen des jeweiligen Laserlichts erzeugt. In einer zweiten Ausführungsform werden das erste und das andere, zweite Laser-Lichtstrahlbündel durch verschiedene Polarisationsebenen des jeweiligen Laserlichts erzeugt. In einer dritten Ausführungsform werden das erste und das andere, zweite Laser-Lichtstrahlbündel durch verschiedene Lichtausbreitungsrichtungen des jeweiligen Laserlichts erzeugt. In einer vierten Ausführungsform werden das erste und das andere, zweite Laser-Lichtstrahlbündel durch verschiedene Phasenlagen des jeweiligen Laserlichts erzeugt. In einer fünften Ausführungsform werden das erste und das andere, zweite Laser-Lichtstrahlbündel durch verschieden gemischte Phasen und/oder Polarisationen des jeweiligen Laserlichts erzeugt. Ebenso kann die Erzeugung der verschiedenen Lichtstrahlbündel der obigen Ausführungsformen auch kombiniert werden, indem beispielsweise das erste Laser-Lichtstrahlbündel mit der ersten Wellenlänge und der ersten Phase und das zweite Laser-Lichtstrahlbündel mit der zweiten Wellenlänge und der zweiten Phase erzeugt werden. Allen Verfahren und Vorrichtungen ist dabei gemein, dass das erste und das zweite Lichtstrahlbündel die gleiche Lichtschnittebene bilden, um den gleichen Lichtschnitt am Prüfling zu erzeugen und zu erfassen, und dass durch das erste und das zweite Lichtstrahlbündel zueinander möglichst unterschiedliche Speckles-Muster in den jeweiligen Bilddaten erzeugen.In a first embodiment, the first and the second, second laser light beam bundles are generated by different wavelengths of the respective laser light. In a second embodiment, the first and the second, second laser light beam bundles are generated by different polarization planes of the respective laser light. In a third embodiment, the first and the second, second laser light beam bundles are generated by different light propagation directions of the respective laser light. In a fourth embodiment, the first and the second, second laser light beam bundles are generated by different phase angles of the respective laser light. In a fifth embodiment, the first and the second, second laser light beam bundles are generated by differently mixed phases and / or polarizations of the respective laser light. Also, the generation of the various light beams of the above embodiments may also be combined by, for example, generating the first laser light beam having the first wavelength and the first phase and the second laser light beam having the second wavelength and the second phase. Common to all methods and devices is that the first and the second light beam form the same light section plane in order to produce and detect the same light section on the test object, and that by the first and the second light beam as possible different Speckles pattern in the respective Create image data.
Solche Vorrichtungen sind relativ einfach und kostengünstig umsetzbar, wenn beispielsweise ein farblich steuerbarer Laser verwendet wird. Auch die Verwendung eines steuerbaren Polarisators in einer Optik ist einfach und kostengünstig realisierbar. Die Erzeugung einer steuerbaren oder umschaltbaren Lichtausbreitungsrichtung beispielsweise durch eine zweite Laser-Lichtquelle oder eine optische Umlenkung ist ebenso einfach umsetzbar und kostengünstig. Piezo-Aktuatoren sind ebenfalls kostengünstig, um eine Verschiebung oder Veränderung des Laser-Lichts zu erzeugen. Ebenso ist eine Ansteuerung und Auswertung durch eine Recheneinheit oder Mikroprozessoreinheit einfach und steigert die Messgenauigkeit insgesamt durch den Vergleich der ersten und der zweiten Bilddaten. Such devices are relatively simple and inexpensive to implement, for example, when a color-controllable laser is used. The use of a controllable polarizer in an optic is easy and inexpensive to implement. The generation of a controllable or reversible light propagation direction, for example by a second laser light source or an optical deflection is just as easy to implement and inexpensive. Piezo actuators are also inexpensive to produce a shift or change in laser light. Likewise, a control and evaluation by a computing unit or microprocessor unit is simple and increases the measurement accuracy in total by comparing the first and the second image data.
Insbesondere durch die bevorzugte fünfte Ausführungsform mit einem Hadamard Diffusor lassen sich Speckles sehr effektiv in den resultierenden Bilddaten reduzieren. Indem bevorzugt die Speckles in den ersten Bilddaten ausgewertet werden und daraufhin eine zweite Konfiguration des Hadamard Diffusors für die Erzeugung des zweiten Lichtstrahlbündels vorgenommen wird, können Speckles noch besser unterdrückt oder gemittelt werden.In particular, by the preferred fifth embodiment with a Hadamard diffuser, speckles can be very effectively reduced in the resulting image data. By preferably evaluating the speckles in the first image data and then making a second configuration of the Hadamard diffuser for the generation of the second light beam, speckles can be even better suppressed or averaged.
Ins besondere wird durch die Reduktion der Speckles in den resultierenden Bilddaten oder Messwertdaten der Laserlichtschnitt bzw. die auf dem Prüfling projizierte Laserlinie wesentlich genauer vermessen. Dadurch wird auch eine genauere Messung von Referenzen oder Referenzmarkern möglich, wodurch Vermessungen von benachbarten Positionen um den Prüfling herum aufeinander abgeglichen werden können. Indem von einer ersten und einer zweiten Position um den Prüfling herum und im Wesentlichen in einer gleichen Lichtschnittebene der Prüfling vermessen wird und dabei gemeinsame Referenzen in einem gemeinsamen Messbereich enthalten sind, können die Messdaten der ersten Position mit den Messdaten der zweiten Position abgeglichen oder aufeinander bezogen kalibriert werden. Dabei werden die Messwerte der gemeinsamen Referenzen in dem gemeinsamen Messbereich zur Überlappung gebracht und dabei ebenso die übrigen Bilddaten durch eine entsprechende Verdrehung und Verschiebung zur Überlappung gebracht.In particular, by reducing the speckles in the resulting image data or measured value data, the laser light section or the laser line projected on the test object is measured much more accurately. This also allows a more accurate measurement of references or reference markers, allowing measurements from adjacent positions around the sample to be matched. By measuring the test object from a first and a second position around the test object and essentially in a same light section plane and thereby common references are contained in a common measuring range, the measured data of the first position can be compared or related to the measured position of the second position be calibrated. In this case, the measured values of the common references are overlapped in the common measuring range, and the other image data are also overlapped by a corresponding rotation and displacement.
Bevorzugt werden beispielsweise durch den Algorithmus punktartige Minima in den jeweiligen ersten Bilddaten erkannt und an den Stellen der punktartigen Minima durch Werte aus den zweiten Bilddaten ersetzt. Bevorzugt kann der Algorithmus auch einen Mittelwert der jeweiligen Pixel der ersten und der zweiten Bilddaten berechnen und als die resultierenden Bilddaten erzeugen.By way of example, punctiform minima in the respective first image data are preferably recognized by the algorithm and replaced by values from the second image data at the points of the point-like minima. Preferably, the algorithm may also calculate an average of the respective pixels of the first and second image data and generate it as the resulting image data.
Bevorzugt kann das Verfahren auch dadurch weiter verbessert werden, indem eine dritte und/oder weitere Wellenlänge und/oder eine weitere Polarisation und/oder eine weitere Phase oder Lichtausbreitungsrichtung erzeugt, erfasst verarbeitet wird.Preferably, the method can also be further improved by producing a third and / or further wavelength and / or a further polarization and / or a further phase or light propagation direction, which is processed in a detected manner.
Weitere bevorzugte Verbesserungen können durch eine Nano-Verschiebung des Lichtschnittsensors oder eines darin enthaltenen Kamerasensors oder der Laser-Lichtquelle und eine nachfolgende weitere Vermessung und Verrechnung durch den Algorithmus erzeugt werden.Further preferred enhancements may be produced by nano-shifting the light-section sensor or a camera sensor or laser light source contained therein, and subsequently further measuring and billing by the algorithm.
Ebenso können weitere Verbesserungen durch eine Nano-Verschiebung in Längs- oder in Querrichtung zum ausgesendeten Strahlengang und eine nachfolgende weitere Vermessung und Verrechnung durch den Algorithmus erzeugt werden.Likewise, further improvements can be produced by a nano-displacement in the longitudinal or in the transverse direction to the emitted beam path and a subsequent further measurement and calculation by the algorithm.
Auch die Nano-Verschiebungen lassen sich einfach und kostengünstig durch beispielsweise Piezo-Aktuatoren, auf denen der Kamerasensor oder die Laser-Lichtquelle montiert ist, erzeugen. Auf dem entsprechenden Piezo-Aktuator kann bevorzugt auch der wesentliche Teil des Lichtschnittsensors im Inneren desselben, umfassend den Kamerasensor und die Laser-Lichtquelle, angeordnet und damit bewegt werden. Auch kann durch mehrere parallel angeordnete Piezo-Aktuatoren eine Platte leicht in einer Richtung geschwenkt werden, wodurch der Lichtstrahl sich um die Nano-Verschiebung entlang dem strangprofil bewegen kann.Also, the nano-shifts can be easily and inexpensively by, for example, piezo actuators on which the camera sensor or the laser light source is mounted generate. The essential part of the light section sensor in the interior of the same, comprising the camera sensor and the laser light source, can also be arranged and thus moved on the corresponding piezo actuator. Also, a plate can be easily pivoted in one direction by a plurality of piezo actuators arranged in parallel, whereby the light beam can move by the nano-displacement along the extruded profile.
Bevorzugte Nano-Verschiebungen liegen im Bereich von 0,5–1 Wellenlängen. Andere bevorzugte Nano-Verschiebungen liegen im Bereich von 1–5 Wellenlängen oder im Bereich von 1–20 Wellenlängen.Preferred nano-shifts are in the range of 0.5-1 wavelengths. Other preferred nano-shifts are in the range of 1-5 wavelengths or in the range of 1-20 wavelengths.
Bevorzugt kann eine Vermessung mit dem ersten und dem zweiten Laser-Lichtstrahlbündel gleichzeitig vorgenommen werden, wobei beispielsweise durch einen Farbkamerasensor die ersten und die zweiten Bilddaten zugleich erfasst werden, beispielsweise von einem roten oder grünen oder blauen Laser-Licht. Solche Farbbilddaten können also die ersten und die zweiten Bilddaten umfassen. Ebenso können auch beide Polarisationsebenen gleichzeitig ausgesendet und vermessen werden, wobei der Kamerasensor dabei bevorzugt zwei unterschiedliche Polarisationsebenen diskriminiert und detektiert, ähnlich einer Farbkamera, jedoch mit unterschiedlichen Polarisationspixeln.Preferably, a measurement can be carried out simultaneously with the first and the second laser light beam bundles, whereby the first and the second image data are detected by a color camera sensor at the same time, for example by a red or green or blue laser light. Such color image data may thus comprise the first and the second image data. Likewise, both polarization planes can also be transmitted and measured simultaneously, wherein the camera sensor preferably discriminates and detects two different polarization planes, similar to a color camera, but with different polarization pixels.
Erzielt wird durch die erfindungsgemäßen Verfahren eine höhere Messgenauigkeit bzw. geringere Messfehler, die bei zunehmender Miniaturisierung und dementsprechend zunehmend höheren Anforderungen an Vermessungsvorrichtungen immer relevanter werden.The method according to the invention achieves a higher accuracy of measurement or lower measurement errors, which become more and more relevant with increasing miniaturization and accordingly increasingly higher demands on surveying devices.
Weitere vorteilhafte Ausbildungen der Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben. Further advantageous embodiments of the invention are specified in the dependent claims.
Eine bevorzugte Ausführungsform gemäß der vorliegenden Erfindung ist in nachfolgenden Zeichnungen und in einer detaillierten Beschreibung dargestellt, soll aber die vorliegende Erfindung nicht darauf begrenzen.A preferred embodiment according to the present invention is illustrated in the following drawings and detailed description, but is not intended to limit the present invention thereto.
Kurzbeschreibung der ZeichnungenBrief description of the drawings
Detaillierte Beschreibung eines AusführungsbeispielsDetailed description of an embodiment
Dabei liegen das erste Lichtstrahlbündel
Zur Erzeugung unterschiedlicher Speckles Muster zwischen dem ersten
Bevorzugt wird dabei das erste Lichtstrahlbündel
Indem durch den Algorithmus die Speckles in den resultierenden Bilddaten weitgehend reduziert sind, haben die Messwerte darin eine höhere Genauigkeit. Somit können beispielsweise Kanten in Abbildungen oder der Lichtschnitt bzw. die Lichtlinie, die auf die Oberfläche
Die ersten Bilddaten und die zweiten Bilddaten werden bevorzugt pixelweise verglichen, die Minima verworfen und bereinigte resultierende Bilddaten mit reduzierten Speckles daraus gewonnen. Bevorzugt können dabei auch arithmetische oder quadratische Mittelwerte berechnet und für die resultierenden Bilddaten verwendet werden.The first image data and the second image data are preferably compared pixel-by-pixel, the minima discarded, and cleaned-up resulting image data with reduced speckles obtained therefrom. Arithmetic or quadratic averages can also be calculated and used for the resulting image data.
Bevorzugt ist der Algorithmus so ausgebildet, dass typische Speckles-Muster als Hell-Dunkel-Verteilung in den ersten und zweiten Bilddaten erkannt und durch Mittelungsverfahren reduziert werden. Bevorzugt werden auf die ersten und zweiten Bilddaten ein Kantenfilter angewendet und dabei die Minima unterbrochener Kanten durch eine Interpolation überbrückt. Bevorzugt können ebenso oder zusätzlich maximum likelihood estimation Methoden als Algorithmus eingesetzt werden, um Speckles und die eigentliche Lichtlinie, die gemessen werden soll, in einem jeweiligen Bild zu schätzen und entsprechend die eigentliche Lichtlinie zu bestimmen.Preferably, the algorithm is designed so that typical speckles patterns are recognized as a light-dark distribution in the first and second image data and reduced by averaging methods. Preferably, an edge filter is applied to the first and second image data, and the minima of broken edges are bridged by interpolation. Preferably, also or additionally, maximum likelihood estimation methods can be used as an algorithm in order to estimate speckles and the actual light line to be measured in a respective image and to determine the actual light line accordingly.
Dabei ist es vorstellbar, auch ein drittes Lichtstrahlbündel mit einer dritten Wellenlänge zu erzeugen, wobei dabei gewonnene dritte Bilddaten von dem Algorithmus in analoger Weise zu den ersten und den zweiten Bilddaten ausgewertet werden.It is conceivable to also generate a third light beam with a third wavelength, wherein thereby obtained third image data are evaluated by the algorithm in an analogous manner to the first and the second image data.
Alternativ wird das erste Lichtstrahlbündel
Alternativ wird das erste Lichtstrahlbündel
Bevorzugt werden das erste
Bevorzugt werden zusätzlich weitere Bilddaten erfasst, wobei die weiteren Bilddaten durch eine Aktuator-Vorrichtung
Alternativ oder kombiniert kann auch eine Nano-Verschiebung des Strangprofils
Durch eine ansteuerbare und bevorzugt schwingend angesteuerte longitudinale Ausdehnung des Aktuators
Bei entsprechend anderer Anordnung des Aktuators
In
Bevorzugt ist das Laufzeitelement
Alternativ kann die Optik
Bevorzugt ist im Strahlengang des Lichtschnittsensors zur Erzeugung des ersten
Dabei sind die unterschiedlichen Laufzeiten und/oder Polarisationen der Teile des Laser-Lichts bevorzugt steuerbar. Die Zusammensetzung des aus dem Hadamard Diffusor emittierten Laser-Lichts mit den unterschiedlichen Laufzeiten und/oder Polarisationsanteilen wird durch eine Konfiguration des Hadamard Diffusors bestimmt. Dabei ist die Konfiguration des Hadamard Diffusors bevorzugt durch die Recheneinheit steuerbar.In this case, the different transit times and / or polarizations of the parts of the laser light are preferably controllable. The composition of the laser light emitted from the Hadamard diffuser with the different transit times and / or polarization fractions is determined by a configuration of the Hadamard diffuser. The configuration of the Hadamard diffuser is preferably controllable by the arithmetic unit.
Bei einer bevorzugten Ausführung wird das erste Lichtstrahlbündel
Bevorzugt wird die zweite Konfiguration durch den Algorithmus aus den ersten Bilddaten so bestimmt, dass die Speckles in den zweiten Bilddaten ein Minimum annehmen. Entsprechend werden in diesem Fall vom Algorithmus daraufhin nur hauptsächlich die zweiten Bilddaten als die resultierenden Bilddaten ausgegeben oder ausgewertet. Alternativ kann der Algorithmus bevorzugt aber auch so ausgebildet sein, anhand der ersten Bilddaten mit ersten Speckles die zweite Konfiguration des Hadamard Diffusors so zu bestimmen, um das zweite Lichtstrahlbündel
Bevorzugt erfolgt die Erzeugung der Lichtschnittebene in der Optik
Bevorzugt sind die Kamerasensoren
Wenn in der Messvorrichtung entweder der eine verfahrbare oder mehrere Lichtschnittsensoren
Eine weitere bevorzugte Ausführungsform der Messvorrichtung umfasst einen Drehtisch oder Dreheller, auf dem der Prüfling positionierbar ist, um ihn in bestimmte Drehpositionen zur Vermessung bringen zu können.A further preferred embodiment of the measuring device comprises a turntable or turntable on which the test object can be positioned so that it can be brought into certain rotational positions for measurement.
Der Klarheit wegen soll festgehalten werden, dass unter dem jeweiligen Lichtstrahlbündel ein jeweiliges Laser-Lichtstrahlbündel verstanden wird.For the sake of clarity, it should be noted that a respective laser light beam is understood by the respective light beam.
Der Klarheit wegen wird festgehalten, dass die Bezeichnung Strangprofil
Der Klarheit wegen wird festgehalten, dass unter den resultierenden Bilddaten die von Speckles weitgehend bereinigten resultierenden Bilddaten verstanden werden.For the sake of clarity, it is stated that the resulting image data is understood to mean the resulting image data which is largely cleaned up by Speckle.
Weitere mögliche Ausbildungsformen sind in den folgenden Ansprüchen beschrieben.Further possible embodiments are described in the following claims.
Die In den Ansprüchen genannten Bezugszeichen dienen der besseren Verständlichkeit, beschränken aber die Ansprüche nicht auf die in den Figuren dargestellten Formen.The reference numerals mentioned in the claims are for better understanding, but do not limit the claims to the shapes shown in the figures.
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 11
- LichtschnittsensorLight section sensor
- 22
- Strangprofilextruded profile
- 1111
- erstes Laser-Lichtstrahlbündelfirst laser beam
- 1212
- zweites Laser-Lichtstrahlbündelsecond laser beam
- 1313
- reflektiertes Lichtreflected light
- 2020
- Oberfläche des StrangprofilsSurface of the extruded profile
- 5050
- Grundplatte (des Lichtschnittsensors)Base plate (of the light section sensor)
- 5151
- Piezo-AktuatorPiezo actuator
- 5252
- Laser-LichtquelleLaser light source
- 52b52b
- weitere Laser-Lichtquelleanother laser light source
- 5353
- Kamerasensorcamera sensor
- 5454
- optisches Laufzeitelementoptical delay element
- 5555
- Optikoptics
- X, Y, ZX, Y, Z
- Koordinatenrichtungcoordinate direction
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
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