DE102008047028B4 - Schaltungsanordnung zur Ansteuerung eines Leistungshalbleiterschalters und Halbleitermodul - Google Patents
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Abstract
Eine Schaltungsanordnung, die folgendes aufweist:
einen Leistungstransistor (2) mit einem Steueranschluss, einem ersten Lastanschluss und einem zweiten Lastanschluss, wobei der zweite Lastanschluss ein gleitendes Potential (VFLOAT) aufweist;
eine Treiberschaltung (4, 5), die dazu ausgebildet ist, für den Steueranschluss des Leistungstransistors (2) Steuersignale zu erzeugen, wobei das für die Treiberschaltung relevante Bezugspotential das gleitende Potential (VFLOAT) des zweiten Lastanschlusses ist;
eine auf oder in einem Bauelementträger (23, 24) flächig angeordnete Metallisierungslage (21), die ein konstantes Bezugspotential (GND) aufweist;
eine gegenüber der Metallisierungslage (21) isolierte Schirmfläche (6), die auf oder in dem Bauelementträger (23, 24) derart flächig angeordnet ist, dass sie mit der Metallisierungslage (21) kapazitiv gekoppelt ist;
eine Spannungsversorgungsschaltung (8, 9, 11) zur Bereitstellung einer auf das gleitende Potential (VFLOAT) des zweiten Lastanschlusses bezogenen Versorgungsspannung für die Treiberschaltung, wobei die Spannungsversorgungsschaltung (8, 9, 10, 11) eine zwischen den zweiten Lastanschluss und die Schirmfläche geschaltete erste Serienschaltung...
einen Leistungstransistor (2) mit einem Steueranschluss, einem ersten Lastanschluss und einem zweiten Lastanschluss, wobei der zweite Lastanschluss ein gleitendes Potential (VFLOAT) aufweist;
eine Treiberschaltung (4, 5), die dazu ausgebildet ist, für den Steueranschluss des Leistungstransistors (2) Steuersignale zu erzeugen, wobei das für die Treiberschaltung relevante Bezugspotential das gleitende Potential (VFLOAT) des zweiten Lastanschlusses ist;
eine auf oder in einem Bauelementträger (23, 24) flächig angeordnete Metallisierungslage (21), die ein konstantes Bezugspotential (GND) aufweist;
eine gegenüber der Metallisierungslage (21) isolierte Schirmfläche (6), die auf oder in dem Bauelementträger (23, 24) derart flächig angeordnet ist, dass sie mit der Metallisierungslage (21) kapazitiv gekoppelt ist;
eine Spannungsversorgungsschaltung (8, 9, 11) zur Bereitstellung einer auf das gleitende Potential (VFLOAT) des zweiten Lastanschlusses bezogenen Versorgungsspannung für die Treiberschaltung, wobei die Spannungsversorgungsschaltung (8, 9, 10, 11) eine zwischen den zweiten Lastanschluss und die Schirmfläche geschaltete erste Serienschaltung...
Description
- Die Erfindung betrifft die Ansteuerung von Leistungshalbleiterschaltern, insbesondere eine Schaltung zur Energieversorgung von Treiberschaltungen für Leistungshalbleiterschalter.
- Spannungsgesteuerte elektronische Leistungsschalter weisen zwei Lastelektroden – üblicherweise bei einem MOSFET als ”Source” und ”Drain”, bei einem IGBT als ”Emitter” und ”Kollektor” bezeichnet – auf, zwischen denen der zu steuernde Laststrom durch die Laststrecke des Halbleiterschalters (d. h. den Drain-Source-Strompfad) fließt, sowie eine Steuerelektrode – üblicherweise als ”Gate” bezeichnet – deren Potentialdifferenz zu dem Potential jener Lastelektrode, die üblicherweise als Source bezeichnet wird, dafür entscheidend ist, ob die Laststrecke des Halbleiterschalters hochohmig (AUS-Zustand des Schalters) oder niederohmig (EIN-Zustand des Schalters) ist, oder sich in einem Zwischenzustand befindet. Das relevante Bezugspotential der Gate-Elektrode ist also das Potential des Source-Elektrode. Wenn das Bezugspotential der Gate-Elektrode (also das Potential der Source-Elektrode) erdfrei (engl. floating: ”gleitend”) ist, sich also gegenüber dem konstanten Bezugspotential ”Masse” je nach Betriebszustand der Schaltung ändern kann, so muss dementsprechend auch die Spannungsversorgung der Treiberschaltung, die die Gate-Elektrode ansteuert, auf diesem gleitenden Bezugspotential betrieben werden. Dies ist z. B. bei sogenannten ”High-Side-Switches”, also Schaltern, die zwischen einem oberen Betriebspotential und Last geschaltet sind, der Fall.
- Bei einer aus gleichartigen, spannungsgesteuerten elektronischen Leistungsschaltern aufgebauten Wechselrichterhalbbrückenschaltung liegen zwei dieser Leistungsschalter zwischen den Polen einer Betriebsspannung so in Serie, dass die Source-Elektrode des ersten ”high-side” Leitungsschalters mit der Drain-Elektrode des zweiten ”low-side” Leistungsschalters in einem gemeinsamen Schaltungsknoten verbunden ist. Das Potential an diesem gemeinsamen Schaltungsknoten schwankt zeitlich zwischen der oberen und der unteren Grenze der Betriebsspannung hin und her. Dieses Potential ist das ”gleitende” Bezugspotential für jene Treiberschaltung, welche die Gate-Elektrode des ersten (oberen) Leistungsschalters ansteuert. Die Versorgungsspannung des Treiberstromkreises, von welchem aus die Gate-Elektrode des ersten Leistungsschalters angesteuert wird, muss dementsprechend auch auf das Potential dieses ”gleitenden” Schaltungsknoten bezogen sein.
- Für diese ”gleitende Spannungsversorgung der Treiberschaltkreise für Brückenschaltungen im Spannungsbereich oberhalb 100 V Zwischenkreisspannung und oberhalb einer Leistung von 0,5 kW wendet man dazu üblicherweise entweder eine sogenannte Bootstrap-Schaltung an, oder man verwendet eine potentialgetrennte Spannungsversorgung, wie z. B Schaltnetzteile bzw. DC/DC-Wandler.
- Bei der Bootstrap-Schaltung wird parallel zum Laststromzweig des Leistungsschalters eine Serienschaltung aus Diode und Kapazität angeordnet. Wenn der Leistungsschalter gesperrt ist, wird die Kapazität aufgeladen. Die Spannung an ihr wird als Versorgungsspannung für den Treiberstromkreis abgegriffen.
- Das in der Publikation
US 6,313,598 B1 beschriebene Leistungshalbleitermodul umfasst eine derartige Bootstrap-Schaltung. Die Grenzen der Bootstrap-Schaltung liegen dort, wo ein Leistungsschalter über relativ lange Zeit in durchgeschaltetem Zustand betrieben wird. Da während dieser Zeit der parallel liegende Kondensator nur entladen wird, ist es nur eine Frage der Zeit, bis er seiner Funktion, die Treiberschaltung mit Spannung zu versorgen, nicht mehr nachkommen kann. - Potentialgetrennte Spannungsversorgungen, beispielsweise Transformatoren oder potentialgetrennte Schaltnetzteile, sind in der Realisierung relativ aufwändig und teuer.
- Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht darin, eine Spannungsversorgungsschaltung für Treiberschaltungen zur Ansteuerung von Leistungshalbleiterschaltern bereit zu stellen, welche aufwandsarm, insbesondere ohne Verwendung von Transformatoren und Drosseln zu realisieren und zusammen mit Leistungshalbleitern und Treibern in einem IPM (”Intelligent Power Module”) integrierbar ist.
- Ein Beispiel der Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung mit folgenden Komponenten: einen Leistungstransistor mit einem Steueranschluss, einem ersten Lastanschluss und einem zweiten Lastanschluss, wobei der zweite Lastanschluss ein gleitendes Potential aufweist; eine Treiberschaltung, die dazu ausgebildet ist, für den Steueranschluss des Leistungstransistors Steuersignale zu erzeugen, wobei das für die Treiberschaltung relevante Bezugspotential das gleitende Potential des zweiten Lastanschlusses ist; eine auf oder in einem Bauelementträger flächig angeordnete Metallisierungslage, die ein konstantes Bezugspotential aufweist; eine gegenüber der Metallisierungslage isolierte Schirmfläche, die auf oder in dem Bauelementträger derart flächig angeordnet ist, dass sie mit der Metallisierungslage kapazitiv gekoppelt ist; eine Spannungsversorgungsschaltung zur Bereitstellung einer auf das gleitende Potential des zweiten Lastanschlusses bezogenen Versorgungsspannung für die Treiberschaltung, wobei die Spannungsversorgungsschaltung eine zwischen den zweiten Lastanschluss und die Schirmfläche geschaltete erste Serienschaltung aufweist, die einen ersten Kondensator und eine erste Diode umfasst.
- Die folgenden Figuren und die weitere Beschreibung sollen helfen, die Erfindung besser zu verstehen. Die Elemente in den Figuren sind nicht unbedingt als Einschränkung zu verstehen, vielmehr wird Wert darauf gelegt, das Prinzip der Erfindung darzustellen. In den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen korrespondierende Teile.
-
1 zeigt eine Querschnittsansicht eines ersten Beispiels der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung. -
2 zeigt das Schaltbild eines ersten Beispiels der erfindungsgemäßen Schaltung. -
3 zeigt das Schaltbild eines weiteren Beispiels der erfindungsgemäßen Schaltung. -
4 zeigt eine Querschnittsansicht eines weiteren Beispiels der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung gemäß dem Schaltbild der2 oder3 . - Gemäß einem Beispiel der Erfindung ist zwischen Schaltungsteilen, deren Bezugspotential VFLOAT sich gegenüber Erdpotential mit hoher Geschwindigkeit (mit hohem dV/dt) ändert, und einer elektrisch leitfähigen Fläche
1 , bzw.21 auf Erdpotential GND eine elektrisch leitfähige Schirmfläche6 (engl. shielding plane) angeordnet. Gegenüber der leitfähigen Fläche1 ,21 auf Erdpotential ist die Schirmfläche6 elektrisch isoliert. Von dem Schaltungsknoten auf gleitendem Potential VFLOAT aus führen zwei zueinander parallel liegende Serienschaltungen, die jeweils eine Kapazität (10 bzw.11 ) und eine Diode (8 bzw.9 ) umfassen, zu der Schirmfläche6 , wobei jeweils die beiden Dioden10 ,11 schirmflächenseitig angeordnet sind und zueinander entgegengesetzt ausgerichtet sind. - Das Potential an der Verbindung zwischen Kapazität
10 und Diode8 bzw. zwischen Kapazität11 und Diode9 ist als positive bzw. negative Versorgungsspannung an jene Schaltungsteile geführt, welche auf dem gleitendem Bezugspotential VFLOAT arbeiten. - In einem Ausführungsbeispiel der Erfindung sind mehrere, zueinander verschiedene, gegenüber Erdpotential GND gleitende Bezugspotentiale in dieser Weise über jeweils zwei Serienschaltungen aus Kapazität und Diode mit einer gemeinsamen Schirmfläche verbunden.
- In einem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung wird das Potential der Schirmfläche gezielt verändert um die Kapazitäten in besagten Serienschaltungen aufzuladen.
- In einem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung ist das gegenüber Erdpotential GND gleitende Bezugspotential das Potential eines Ausgangs eines mit steuerbaren elektronischen Leistungsschaltern aufgebauten Wechselrichters. Dabei bilden das an jeweils einer Verbindungsstelle zwischen einer Kapazität und einer Diode abgegriffenen Potentiale das jeweils positive bzw. negative Versorgungspotential für die Treiberschaltung des elektronischen Leistungshalbleiterschalters.
- Als Leistungshalbleiterschalter können unterschiedliche Typen von Leistungstransistoren, insbesondere MOSFETs und IGBTs eingesetzt werden.
-
1 zeigt beispielhaft den Aufbau eines IPM aus Leistungsteil und Treiberschaltung auf einem gemeinsamen Kühlkörper1 . Der Kühlkörper1 ist typischerweise durch ein Aluminium-Strangpressprofil gebildet und ist aus Sicherheitsgründen und aus Gründen der elektromagnetischen Verträglichkeit (”EMV”) geerdet, d. h. mit dem Massepotential GND verbunden. - Der Kühlkörper
1 ist mit einer unterseitigen Metallisierungslage21 eines Bauelementträgers, z. B. eines Substrates23 und/oder einer Platine24 , elektrisch leitend verbunden, z. B. aufgedrückt. In Spezialfällen kann das Substrat auch auf den Kühlkörper aufgelötet sein. Viele Module besitzen jedoch eine Bodenplatte, auf die das Substrat aufgelötet ist. In diesem Fall ist der Kühlkörper unter Verwendung von Wärmeleitpaste auf die Bodenplatte des Moduls aufgedrückt. Im vorliegenden Beispiel hat diese Metallisierung21 keine wesentliche elektrische Funktion. - Der an der Oberseite des Substrats
23 angeordnete Leistungselektronikteil (rechts in1 ) umfasst z. B. mindestens einen IGBT-Chip2 , und mindestens einen Dioden-Chip3 als Freilaufdiode sowie Bondverbindungen12 . Das Substrat23 , auf dem der Leistungselektronikteil angeordnet ist, besitzt eine hohe Wärmeleitfähigkeit. Das Substrat23 ist typischerweise eine mit den erforderlichen Leitungszügen strukturierte DCB-Keramik. - Die Treiberschaltung (links in
1 ) ist auf einer Mehrlagenleiterplatine24 (engl. multi-layer printed circuit board) als Substrat angeordnet. Dieses Substrat ermöglicht die in der Treiberschaltung erforderliche hohe Verdrahtungsdichte bei dennoch ausreichender Wärmeabfuhr zum Kühlkörper1 . - Eine auf der Mehrlagenplatine angeordnete oberseitigen Metallisierungslage
22 ist zu elektrischen Verbindungen strukturiert, d. h. die oberseitige Metallisierungslage22 bildet die Leiterbahnen zwischen den verschiedenen Komponenten der Treiberschaltung. Für die Komponenten der Treiberschaltung sind hier der Treiberschaltkreis4 und der Gatewiderstand5 beispielhaft dargestellt. - Durch jeweils eine Isolierschicht getrennt ist zwischen der strukturierten oberseitigen Metallisierungslage
22 und der unterseitigen Metallisierungslage21 eine vollflächig ausgeführte, elektrisch leitfähige innenliegende Metallisierungslage6 angeordnet. Diese innenliegende Metallisierungslage6 stellt eine Schirmfläche dar. Funktionen dieser Schirmfläche sind es, Beeinflussungen der Treiberschaltung, d. h. Störungen durch Verschiebungsströme, die durch das gegenüber Masse schwankende Bezugspotential VFLOAT hervorgerufen werden könnten, zu vermeiden sowie die elektromagnetische Verträglichkeit der Gesamtanordnung zu verbessern. - Üblicherweise wäre für diese Funktion die innere Metallisierungslage
6 unmittelbar mit dem Bezugspotential der Treiberschaltung4 elektrisch leitend zu verbinden. Gemäß dem dargestellten Beispiel der Erfindung erfolgt diese Verbindung aber nicht direkt, sondern – wie in2 erkennbar – über zwei zueinander parallel liegende Zweige aus jeweils einer Serienschaltung aus Diode8 ,9 und Kapazität10 ,11 . Mit dieser Schaltung wird die Schirmungswirkung nur unwesentlich verschlechtert. Der besondere Vorteil, der damit erreicht wird, ist, dass an den beiden Verbindungsknoten zwischen Widerstand10 ,11 einerseits und Diode8 ,9 andererseits das positive bzw. negative Versorgungspotential für den Treiberstromkreis4 abgegriffen werden kann. -
2 zeigt die für das Verständnis wesentlichsten Teile des Schaltbildes zu der Anordnung gemäß1 . Die Source-Elektrode des spannungsgesteuerten elektronischen Halbleiterschalters2 (z. B. IGBT) ist – unter Anwendung einer Bondverbindung12 – mit jenem Eingang des Treiberschaltkreises4 (d. h. mit der Treiberschaltung) verbunden durch welchen dessen Bezugspotential definiert ist. Die Treiberschaltung4 steuert über den Widerstand5 die Gate-Elektrode des Halbleiterschalters2 an. - Die unterseitige Metallisierungslage
21 und die innenliegende Metallisierungslage6 bilden gemeinsam mit einer zwischen ihnen liegenden Isolierschicht eine (parasitäre) Kapazität7 . Ströme welche über diese Kapazität zwischen Erdpotential und Innenlage6 fließen, fließen je nach Stromrichtung auch über jeweils eine der beiden Kapazitäten10 ,11 , und laden diese auf. Auf diese Weise wird an den Kondensatoren10 und11 eine positive Versorgungsspannung V+ und eine negative Versorgungsspannung V– für den Treiberschaltkreis4 bereitgestellt. Diese Versorgungsspannungen V+ und V– für die Treiberschaltung4 sind jeweils auf das gleitende Potential VREF = VFLOAT bezogen. - Das in
2 gezeigte Beispiel einer Spannungsversorgung stellt für die Treiberschaltung4 eine bipolare Spannungsversorgung zur Verfügung, d. h. eine in Bezug auf das gleitende Referenzpotenzial VREF positive Versorgungsspannung V+ und in Bezug auf das gleitende Referenzpotenzial VREF negative Versorgungsspannung V–. In manchen Fällen ist jedoch auch eine unipolare Spannungsversorgung ausreichend, z. B. die positive Versorgungsspannung V–+ bezogen auf das Referenzpotenzial VREF. In diesem, in3 dargestellten Fall ist statt der Serienschaltung aus Kondensator10 und Diode8 aus dem in2 gezeigten Beispiel nur die Diode8 vorhanden. Diese ist notwendig, damit die bei einer Schaltflanke von dem Kondensator7 auf den Kondensator11 übertragene Ladung wieder zurückfließen kann und der Kondensator7 sich nicht entlädt. - Die in den
2 und3 dargestellte Schaltungsweise kann dann besonders sinnvoll eingesetzt werden, wenn mehrere (high-side) Leistungshalbleiterschalter vorhanden sind, in denen unterschiedliche Phasen von Wechselspannung erzeugt werden, und wenn alle Treiberstromkreise der jeweiligen Leistungshalbleiterschalter in der dargestellten Weise über jeweils zwei Dioden-Kondensator-Serienschaltungen mit einer einzigen, gemeinsamen innenliegenden Metallisierung6 verbunden sind. Das Schalten an einem Zweigpaar bewirkt dann unabhängig von der parasitären Kapazität7 , das Aufladen der Spannungsversorgung für die Treiberschaltungen anderer Leistungshalbleiterschalter. Eine derartige Anordnung kann z. B. bei einem Dreiphasenwechselrichter zur Ansteuerung von Synchron- oder Asynchronmaschinen eingesetzt werden. - Natürlich ist es auch möglich und in manchen Fällen sinnvoll, das Potential der Schirmfläche
6 durch separat dafür vorgesehene steuerbare elektronische Schalter, welche die Schirmfläche bevorzugt über jeweils eine weitere Kapazität mit der positiven bzw. negativen generellen Versorgungsspannung oder mit Masse verbinden, zu verändern, um Ströme durch Kapazitäten10 ,11 hervorzurufen und diese aufzuladen. - In
4 ist ein weiteres Beispiel eines erfindungsgemäßen Aufbaus eines Leistungshableitermoduls gezeigt, der eine Alternative zu dem in1 gezeigten Beispiel darstellt. Anders als in dem Beispiel aus1 ist in diesem Fall die Platine24 mit der Treiberschaltung4 nicht zusammen mit dem Substrat23 (üblicherweise ein Keramik-Substrat), auf dem sich die Leistungshalbleiter (z. B. IGBT 2, Diode 3) befinden, auf dem Kühlkörper angeordnet. Der Kühlkörper ist lediglich auf dem Substrat23 angeordnet, das im dargestellten Fall als Mehrlagensubstrat ausgebildet sein muss. Die oben erwähnte innenliegende Metallisierung6 (d. h. die Schirmfläche), die zusammen mit der Metallisierung21 den parasitären Kondensator7 bildet (vgl.2 und3 ), befindet sich nicht in einer Multilayer-Platine sondern in dem Mehrlagensubstrat, auf dem auch die Leistungshalbleiterbauelemente2 ,3 angeordnet sind. Die Platine24 mit der Treiberschaltung4 kann dann platzsparend über dem Substrat23 in dem Halbleitermodul angeordnet werden. Die elektrischen Verbindungen zwischen Platine24 und Substrat23 sind nur schematisch als gestrichelte Linien dargestellt. Wenn mehrere unterschiedlich schaltende Leistungshalbliter (z. B. IGBTs2 und2' ) auf dem Substrat angeordnet ist, kann – muss aber nicht zwangsläufig – die Schirmfläche6 so strukturiert sein, dass gegeneinander isolierte Teilflächen61 ,62 , sich jeweils nur unter gleichschaltenden Leistungshalbleiterbauelementen befinden. Bei einer unstrukturierten Schirmfläche6 könnten sich die Verschiebungsströme, von unterschiedlich schaltenden Leistungstransistoren zumindest teilweise aufheben, sodass die Kondensatoren10 und11 (vgl.2 ) nicht mehr ausreichend geladen werden können. Wenn im vorliegenden Fall die Transistoren2 und2' gegenphasig schalten, darf sich die Teilfläche61 der Schirmfläche6 nur unter dem Transistor2' erstrecken und die Teilfläche62 nur unter dem Transistor2 . An jede Teilfläche kann eine Spannungsversorgungsschaltung mit Kondensatoren10 ,11 und Dioden8 ,9 angeschlossen werden, so wie in den2 bzw.3 gezeigt.
Claims (13)
- Eine Schaltungsanordnung, die folgendes aufweist: einen Leistungstransistor (
2 ) mit einem Steueranschluss, einem ersten Lastanschluss und einem zweiten Lastanschluss, wobei der zweite Lastanschluss ein gleitendes Potential (VFLOAT) aufweist; eine Treiberschaltung (4 ,5 ), die dazu ausgebildet ist, für den Steueranschluss des Leistungstransistors (2 ) Steuersignale zu erzeugen, wobei das für die Treiberschaltung relevante Bezugspotential das gleitende Potential (VFLOAT) des zweiten Lastanschlusses ist; eine auf oder in einem Bauelementträger (23 ,24 ) flächig angeordnete Metallisierungslage (21 ), die ein konstantes Bezugspotential (GND) aufweist; eine gegenüber der Metallisierungslage (21 ) isolierte Schirmfläche (6 ), die auf oder in dem Bauelementträger (23 ,24 ) derart flächig angeordnet ist, dass sie mit der Metallisierungslage (21 ) kapazitiv gekoppelt ist; eine Spannungsversorgungsschaltung (8 ,9 ,11 ) zur Bereitstellung einer auf das gleitende Potential (VFLOAT) des zweiten Lastanschlusses bezogenen Versorgungsspannung für die Treiberschaltung, wobei die Spannungsversorgungsschaltung (8 ,9 ,10 ,11 ) eine zwischen den zweiten Lastanschluss und die Schirmfläche geschaltete erste Serienschaltung aufweist, die einen ersten Kondensator (11 ) und eine erste Diode (9 ) umfasst, und eine zweite Diode (8 ) aufweist, die mit der Schirmfläche (6 ) verbunden ist. - Die Schaltungsanordnung aus Anspruch 1, bei der die Spannungsversorgungsschaltung (
8 ,9 ,10 ,11 ) eine zwischen den zweiten Lastanschluss und die Schirmfläche geschaltete zweite Serienschaltung aufweist, die einen zweiten Kondensator (10 ) und die zweite Diode (8 ) umfasst, wobei die Anode der ersten Diode und die Kathode der zweiten Diode mit der Schirmfläche (6 ) verbunden sind. - Die Schaltungsanordnung aus Anspruch 1 oder 2, bei der an der Kathode der ersten Diode ein im Bezug auf das gleitende Potential positives Versorgungspotential für die Treiberschaltung anliegt.
- Die Schaltungsanordnung aus Anspruch 2 oder 3, bei der an der Anode der zweiten Diode ein im Bezug auf das gleitende Potential negatives Versorgungspotential für die Treiberschaltung anliegt.
- Die Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, bei der die Schirmfläche (
6 ) über separat dafür vorgesehene steuerbare elektronische Schalter mittelbar oder unmittelbar mit einer positiven oder negativen Betriebsspannung oder mit Erdpotential verbindbar ist. - Die Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, die weiter aufweist: einen weiteren Leistungstransistors der zusammen mit dem Leistungstransistor eine Halbbrücke bildet, wobei der zweite Lastanschluss des Leistungstransistors mit einem ersten Lastanschluss des weiteren Leistungstransistors verbunden ist.
- Die Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, bei der der Bauelementträger eine Multilayer-Platine (
24 ), auf der die Treiberschaltung (4 ,5 ) angeordnet ist, oder ein Keramiksubstrat ist, auf der der Leistungstransistor (2 ) angeordnet ist. - Ein Leistungshalbleitermodul umfassend: ein Substrat (
23 ); einen darauf angeordneten Leistungstransistor (2 ) mit einem Steueranschluss und einem ersten und einem zweiten Lastanschluss; eine Multilayer-Platine (24 ); eine darauf angeordnete Treiberschaltung (4 ,5 ) zur Ansteuerung des Leistungstransistors (2 ); eine auf der Multilayer-Platine und/oder dem Substrat flächig angeordnete Metallisierungslage (21 ), die ein konstantes Massepotential (GND) aufweist; eine gegenüber dem konstanten Massepotential (GND) isolierte Schirmfläche (6 ), die auf oder in dem Substrat und/oder der Multilayer-Platine derart flächig angeordnet ist, dass sie mit der Metallisierungslage (21 ) kapazitiv gekoppelt ist; eine Spannungsversorgungsschaltung (8 ,9 ,10 ,11 ) zur Bereitstellung einer auf das gleitende Potential (VFLOAT) des zweiten Lastanschlusses bezogenen Versorgungsspannung für die Treiberschaltung, wobei die Spannungsversorgungsschaltung (8 ,9 ,10 ,11 ) eine zwischen den zweiten Lastanschluss und die Schirmfläche geschaltete erste Serienschaltung aufweist, die einen ersten Kondensator (11 ) und eine erste Diode (9 ) umfasst, und eine zweite Diode (8 ) aufweist, die mit der Schirmfläche (6 ) verbunden ist. - Das Leistungshalbleitermodul aus Anspruch 8, bei der die Spannungsversorgungsschaltung (
8 ,9 ,10 ,11 ) eine zwischen den zweiten Lastanschluss und die Schirmfläche geschaltete zweite Serienschaltung aus einem zweiten Kondensator (10 ) und einer zweiten Diode (8 ) aufweist, wobei die Anode der ersten Diode und die Kathode der zweiten Diode mit der Schirmfläche (6 ) verbunden sind. - Das Leistungshalbleitermodul aus Anspruch 8 oder 9, bei der an der Kathode der ersten Diode ein im Bezug auf das gleitende Potential positives Versorgungspotential für die Treiberschaltung anliegt.
- Das Leistungshalbleitermodul nach einem der Ansprüche 8 bis 10, bei dem das Substrat und die Multilayer-Platine nebeneinander angeordnet sind, und bei dem die Schirmfläche (
6 ) in oder auf der Multilayer-Platine angeordnet ist. - Das Leistungshalbleitermodul nach einem der Ansprüche 8 bis 11, bei dem das Substrat und die Multilayer-Platine nebeneinander angeordnet sind, und bei dem die Schirmfläche (
6 ) und die Metallisierungslage (21 ) in oder auf der Multilayer-Platine angeordnet sind. - Das Leistungshalbleitermodul nach einem der Ansprüche 8 bis 10, bei dem die Multilayer-Platine über dem Substrat angeordnet ist, und bei dem die Schirmfläche (
6 ) und die Metallisierungslage (21 ) in dem Substrat angeordnet sind wobei das Substrat als Mehrlagensubstrat ausgebildet ist.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102008047028A DE102008047028B4 (de) | 2008-09-13 | 2008-09-13 | Schaltungsanordnung zur Ansteuerung eines Leistungshalbleiterschalters und Halbleitermodul |
US12/557,026 US8212413B2 (en) | 2008-09-13 | 2009-09-10 | Circuit assembly for gating a power semiconductor switch |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102008047028A DE102008047028B4 (de) | 2008-09-13 | 2008-09-13 | Schaltungsanordnung zur Ansteuerung eines Leistungshalbleiterschalters und Halbleitermodul |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102008047028A1 DE102008047028A1 (de) | 2010-03-25 |
DE102008047028B4 true DE102008047028B4 (de) | 2011-06-09 |
Family
ID=41693669
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102008047028A Expired - Fee Related DE102008047028B4 (de) | 2008-09-13 | 2008-09-13 | Schaltungsanordnung zur Ansteuerung eines Leistungshalbleiterschalters und Halbleitermodul |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8212413B2 (de) |
DE (1) | DE102008047028B4 (de) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102576705B (zh) * | 2009-09-28 | 2015-10-21 | Abb技术有限公司 | 电路装置及其制造方法 |
DE102010002627B4 (de) * | 2010-03-05 | 2023-10-05 | Infineon Technologies Ag | Niederinduktive Leistungshalbleiterbaugruppen |
DE102015105192A1 (de) * | 2015-04-04 | 2016-10-06 | Sma Solar Technology Ag | Treiberschaltung, Schaltungsanordnung umfassend eine Treiberschaltung und Wechselrichter umfassend eine Schaltungsanordnung |
DE102015115271B4 (de) | 2015-09-10 | 2021-07-15 | Infineon Technologies Ag | Elektronikbaugruppe mit entstörkondensatoren und verfahren zum betrieb der elektronikbaugruppe |
US10410952B2 (en) | 2016-12-15 | 2019-09-10 | Infineon Technologies Ag | Power semiconductor packages having a substrate with two or more metal layers and one or more polymer-based insulating layers for separating the metal layers |
US10008411B2 (en) | 2016-12-15 | 2018-06-26 | Infineon Technologies Ag | Parallel plate waveguide for power circuits |
CN108206165A (zh) * | 2016-12-20 | 2018-06-26 | 台达电子企业管理(上海)有限公司 | 抗干扰功率电子组件及其散热器电位的固定方法 |
DE102019104652B4 (de) | 2019-02-25 | 2024-03-14 | Sma Solar Technology Ag | Leistungselektronische Vorrichtung und Verfahren zur elektrischen Spannungsversorgung einer Treiberschaltung eines Leistungshalbleiterschalters |
DE102021106599A1 (de) | 2021-03-18 | 2022-09-22 | Man Truck & Bus Se | Flüssigkeitsgekühlter Wechselrichter zur Ansteuerung eines elektrischen Antriebsmotors eines Fahrzeugs |
JP7406520B2 (ja) * | 2021-03-22 | 2023-12-27 | 株式会社 日立パワーデバイス | 上アーム駆動回路、電力変換装置の駆動回路、電力変換装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6313598B1 (en) * | 1998-09-11 | 2001-11-06 | Hitachi, Ltd. | Power semiconductor module and motor drive system |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6181008B1 (en) * | 1998-11-12 | 2001-01-30 | Sarnoff Corporation | Integrated circuit power supply |
-
2008
- 2008-09-13 DE DE102008047028A patent/DE102008047028B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-09-10 US US12/557,026 patent/US8212413B2/en active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6313598B1 (en) * | 1998-09-11 | 2001-11-06 | Hitachi, Ltd. | Power semiconductor module and motor drive system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102008047028A1 (de) | 2010-03-25 |
US20100066175A1 (en) | 2010-03-18 |
US8212413B2 (en) | 2012-07-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
R082 | Change of representative | ||
R020 | Patent grant now final |
Effective date: 20110910 |
|
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |