DE102008032784A1 - Zusammensetzung mit pastöser Konsistenz für die Ausbildung elektrischer Kontakte auf einem Silicium-Solarwafer und damit hergestellter Kontakt - Google Patents

Zusammensetzung mit pastöser Konsistenz für die Ausbildung elektrischer Kontakte auf einem Silicium-Solarwafer und damit hergestellter Kontakt Download PDF

Info

Publication number
DE102008032784A1
DE102008032784A1 DE102008032784A DE102008032784A DE102008032784A1 DE 102008032784 A1 DE102008032784 A1 DE 102008032784A1 DE 102008032784 A DE102008032784 A DE 102008032784A DE 102008032784 A DE102008032784 A DE 102008032784A DE 102008032784 A1 DE102008032784 A1 DE 102008032784A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
glass
mass
mol
composition
electrical contacts
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE102008032784A
Other languages
English (en)
Inventor
Jochen Dr.-Ing. Schilm
Mihails Dr. Kusnezoff
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV
Original Assignee
Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV filed Critical Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV
Priority to DE102008032784A priority Critical patent/DE102008032784A1/de
Priority to PCT/DE2009/000908 priority patent/WO2010000234A1/de
Publication of DE102008032784A1 publication Critical patent/DE102008032784A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/02Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/14Glass frit mixtures having non-frit additions, e.g. opacifiers, colorants, mill-additions
    • C03C8/18Glass frit mixtures having non-frit additions, e.g. opacifiers, colorants, mill-additions containing free metals
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/24Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions, i.e. for use as seals between dissimilar materials, e.g. glass and metal; Glass solders
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/20Conductive material dispersed in non-conductive organic material
    • H01B1/22Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Zusammensetzung mit pastöser Konsistenz, die für die Ausbildung elektrischer Kontakte auf einem Silicium-Solarwafer eingesetzt werden kann, und damit hergestellte elektrische Kontakte. Aufgabe der Erfindung ist es, Möglichkeiten für eine kostengünstige Herstellung elektrischaffen, wobei auch das Gesundheitsgefährdungspotential reduziert werden kann. Die erfindungsgemäße Zusammensetzung ist mit 60 bis 90 Masse-% Ag oder Au, 5 bis 15 Masse-% eines Glases, die in Partikelform enthalten sind, und 5 bis 25 Masse-% an organischen Komponenten, gebildet. Das Glas, das mit mindestens 30 Mol-% SnO und mindestens 10 Mol-% SiO2 gebildet ist, enthält dabei aber kein Pb und kein Bi.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Zusammensetzung mit pastöser Konsistenz, die für die Ausbildung elektrischer Kontakte auf einem Silicium-Solarwafer eingesetzt werden kann und damit hergestellte elektrische Kontakte.
  • Silicium-Solarwafer müssen an ihrer Vorder- und Rückseite mit elektrischen Kontakten versehen werden. Dabei ist zu beachten, dass vor der Ausbildung solcher elektrischer Kontakte, die Vorderseite mit einer antireflektierenden Oberflächenschicht, die üblicherweise mit Siliciumnitrid gebildet ist, versehen worden ist.
  • Dabei wird in der Regel so vorgegangen, dass eine Paste, mit einer für die Dickschichttechnik geeigne ten Viskosität, selektiv auf die Oberfläche des mit der antireflektierenden Oberflächenschicht versehenen Silicium-Solarwafer aufgebracht wird. Überwiegend wird hier das Siebdrucken eingesetzt.
  • Bei der Ausbildung von elektrischen Kontakten an der Rückseite kann ähnlich vorgegangen werden, wobei die gesamte Oberfläche genutzt werden kann und dabei aber die dortige p-Dotierung berücksichtigt werden soll.
  • Die Pasten enthalten dabei hohe Anteile elektrisch leitender Metallpartikel, ein Glas und organische Bestandteile. Die Metallpartikel sind für die erforderliche elektrische Leitfähigkeit der herzustellenden Kontakte und das Glas als Binder sowie für die Haftung enthalten. Die organischen Komponenten sind für die Verarbeitbarkeit beim Auftrag enthalten und werden nach dem Auftrag bei einer Wärmebehandlung ausgetrieben bzw. teilweise für eine Redoxreaktion genutzt.
  • Als bevorzugtes Metall kommt für an der Vorderseite der Silicium-Solarwafer auszubildenden elektrischen Kontakte Ag zum Einsatz.
  • Das eingesetzte Glas soll dabei ein Erweichungs- und Schmelzverhalten aufweisen, das die Eigenschaften des Siliciums berücksichtigt und dabei bei der ohnehin durchzuführenden Wärmebehandlung ein Durchätzen der antireflektierenden Oberflächenbeschichtung bewirken können.
  • Bisher werden in der Regel bleihaltige Gläser aus diesem Grunde eingesetzt, wobei der Anteil an Blei hoch ist.
  • Bei der Wärmebehandlung für die Ausbildung der elektrischen Kontakte ist aber nicht nur das enthaltene Silber für die gewünschte elektrische Leitfähigkeit von Bedeutung, sondern das im Glas enthaltene Bleioxid beteiligt. Bei Kontakt mit dem Silicium wird dieses teilweise reduziert und Silicium aus dem Wafersubstrat herausgeätzt. Dabei bilden sich pyramidale Strukturen an der Waferoberfläche aus. Ag und Pb bilden eine flüssige Mischphase, aus der bei der an die Wärmebehandlung nachfolgenden Abkühlung Ag-Kristallite in die Vertiefungen der pyramidalen Struktur hinein kristallisieren, wodurch die elektrisch leitende Verbindung zum Wafersubstrat verbessert ist.
  • Da aber Pb und auch Cd Schwermetalle sind, und von ihnen eine erhebliche gesundheitsschädigende Wirkung ausgehen kann, ist deren Einsatz unerwünscht und wird auch durch gesetzliche Bestimmungen vermieden bzw. behindert.
  • Aus diesem Grunde wurde in EP 1 713 094 A2 vorgeschlagen, bleifreies Glas einzusetzen. Das bis dahin enthaltene PbO wurde durch etwa gleich hohe Anteile an Bi2O3 ersetzt. Ansonsten sind nur geringfügige Anpassungen vorgenommen worden. In EP 1 713 094 A2 wird auch vorgeschlagen, dass neben dem partikelförmigen Ag und dem Glas auch anorganische Additive zusätzlich, als gesonderte Bestandteile enthalten sein können. Es handelt sich dabei um verschiedene Metalle, chemische Verbindungen und Oxide dieser Metalle, die aber nicht im Glas enthalten sein sollen.
  • Eine ähnliche technische Lösung ist auch aus WO 2006/132766 A2 bekannt.
  • Nun ist aber auch die Wirkung von Bi auf Organismen und die Umwelt noch nicht vollständig geklärt und es daher auch nicht sicher inwieweit sich dies zukünftig nachteilig auch für ggf. neu zu erlassende gesetzliche Bestimmungen auswirken kann. Außerdem sind die Beschaffungskosten von Wismut deutlich höher als dies bei dem bisher eingesetzten Blei der Fall war.
  • Es ist daher Aufgabe der Erfindung Möglichkeiten für eine kostengünstige Herstellung elektrisch leitender Kontakte für Silicium-Solarwafer zu schaffen, wobei auch das Gesundheitsgefährdungspotential reduziert werden kann.
  • Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe mit einer Zusammensetzung gemäß Anspruch 1 gelöst. Ein elektrisch leitender Kontakt, der mit dieser Zusammensetzung hergestellt werden kann, ist mit Anspruch definiert. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung können mit in untergeordneten Ansprüchen bezeichneten Merkmalen erreicht werden.
  • Die erfindungsgemäße Zusammensetzung mit pastöser Konsistenz, weicht im Wesentlichen vom Stand der Technik dadurch ab, dass ein Glas enthalten ist, in dem weder PB noch Bi enthalten ist. Das eingesetzte Glas ist dabei mit mindestens 30 Mol.-% SnO und mindestens 10 Mol.-% SiO2 gebildet.
  • Neben den mindestens 5 und maximal 15 Masse-% dieses Glases ist die Zusammensetzung mit 60 bis 90 Masse-% Ag oder Au gebildet. Diese sind in Partikelform enthalten und sollten eine mittlere Partikelgröße d50 von 1 bis 5 μm aufweisen. Für die Verarbeitbarkeit in Dickschichttechnologie sind 5 bis 25 Masse-% organi sche Komponenten enthalten, wobei der größere Anteil ein organisches Lösungsmittel ist. Dabei können 2 bis 50 Masse-% Feststoff/Polymer in 50 bis 98 Masse-% Lösungsmittel und 0 bis 5 Masse-% Zusatzstoff(e), z. B. Tenside oder Benetzungsmittel eingesetzt werden. So können darin beispielsweise 30 Masse-% Acrylat und 70 Masse-% Terpineol enthalten sein.
  • Da der Anteil an Sn im Glas für die erreichbare elektrische Leitfähigkeit im Kontaktbereich Waferoberfläche und dem herzustellenden elektrischen Kontakt von Bedeutung ist und dabei eine bei der Wärmebehandlung auftretende Reduktion von Zinnoxid ausgenutzt werden kann, um ebenfalls eine flüssige Mischphase von Zinn und dem Edelmetall in zumindest ähnlicher Form, wie beim bisher eingesetzten PbO, ausnutzen zu können, sollte der Anteil an SnO im Glas möglichst hoch bevorzugt mindestens 50 Mol.-%, besonders bevorzugt mindestens 60 Mol.-% betragen.
  • Neben den beiden bereits erwähnten Oxiden kann im in der erfindungsgemäßen Zusammensetzung enthaltenen Glas auch mindestens ein weiteres Oxid eines Metalls enthalten sein, das ausgewählt ist aus B, Al, P, V, Na, Ca und Zn. Dadurch kann weiter Einfluss auf das Erweichungs- und Schmelzverhalten des Glases bei der Wärmebehandlung genommen werden. Eine weitergehende Einflussmöglichkeit besteht für die Kristallitbildung des Glases bei der nachfolgenden Abkühlung, da diese möglichst vermieden werden soll. Die Kristallisation von Ag oder Au unmittelbar auf der Siliciumoberfläche des Wafers soll aber nicht ver- oder behindert werden.
  • Das bei der Erfindung einsetzbare Glas mit dem SnO lässt sich gut erschmelzen und dann in Wasser frit ten. Aus der Glasfritte kann ein Pulver hergestellt und mit den Ag- oder Au-Partikeln gut vermischt sowie mit organischem Binder und Lösungsmittel zu einer Paste verarbeitet werden, die dann einfach auf die jeweilige Oberfläche des Silicium-Solarwafers aufgebracht werden kann.
  • Ein bei der erfindungsgemäßen Zusammensetzung einsetzbares Glas kann neben den beiden wesentlichen Bestandteilen SnO und SiO2 auch 1 bis 30 Mol.-% B2O3, 0,5 bis 20 Mol.-% Al2O3, 1 bis 55 Mol.-% P2O5, 0,5 bis 10 Mol.-% V2O5, 1 bis 40 Mol.-% ZnO, 1 bis 15 Mol.-% Na2O oder 1 bis 15 Mol.-% CaO enthalten.
  • Bevorzugte Glaszusammensetzungen sind mit
    30 Mol.-% SiO2, 69 Mol.-% SnO, 1,0 Mol.-% und Al2O3
    oder
    19 Mol.-% SiO2, 60 Mol.-% SnO, 19 Mol.-% B2O3 und 2,0 Mol.-% Al2O3
    oder
    17 Mol.-% SiO2, 62 Mol.-% SnO, 10 Mol.-% B2O3, 9,0 Mol.-% Na2O und 2,0 Mol.-% Al2O3
    oder
    17 Mol.-% SiO2, 62 Mol.-% SnO, 10 Mol.-% B2O3, 10,0 Mol.-% CaO und 1,0 Mol.-% Al2O3 gebildet.
  • Eine solche Glaszusammensetzung kann bevorzugt mit insgesamt 10 Masse-% neben 70 Masse-% Ag oder Au und 20 Masse-% organischer Bestandteile eine erfindungsgemäße Zusammensetzung bilden.
  • Damit kann bei der Wärmebehandlung nach dem Auftrag auf die Slicium-Solarwaferoberfläche ein elektrischer Kontakt hergestellt werden, der mit mindestens 90 Masse-% Ag oder Au und mindestens 3 Masse-% des Gla ses gebildet ist.
  • Nachfolgend soll die Erfindung mit Hilfe von Beispielen weitergehend erläutert werden.
  • Für die Herstellung eines bei der Erfindung einsetzbaren Glases sollten folgende Bemerkungen berücksichtigt werden.
  • Das Mischen der Ausgangsstoffe sollte in geeigneten Behältnissen, Mahlaggregaten und Mahlhilfsmitteln erfolgen, um eine homogene Mischung eines Glasversatzes zu erreichen. Ein Glasversatz kann in ein Glasschmelzaggregat gegeben werden, dessen Aufbau die Durchführung des Schmelzprozesses beeinflusst. Dabei ist generell darauf zu achten, dass die Schmelze in einer inerten Atmosphäre (Wasserstoff, Argon, Helium), bevorzugt einer reduzierenden Atmosphäre (Wasserstoff, Ammoniak, Formiergas, Varigon, Kohlenmonoxid) gehalten wird. Bei der Temperatursteuerung sollte die jeweilige Glaszusammensetzung beachtet werden. Für das Schmelzen sollten bevorzugt keramische Behältnisse (Al2O3, SiO2, ZrO2, Mullit u. a.) oder ein Glasofen mit feuerfester keramischer Auskleidung eingesetzt werden. Im Falle des Einsatzes metallischer Behältnisse soll gesichert sein, dass es unter den reduzierenden Bedingungen beim Schmelzen nicht zu einer Legierungsbildung zwischen dem metallischen Zinn und dem Metall des Behältnisses kommen kann.
  • Daraus ergeben sich verschiedene Varianten für ein einsetzbares Glasschmelzaggregat und der Durchführung des Schmelzprozesses.
  • Beim Einsatz eines Tiegels als Behältnis kann der Glasversatz in einen kleineren Tiegel eingefüllt wer den, der in einen größeren Tiegel gestellt werden kann. Der größere Tiegel wird abgedeckt, um einen geschlossenen Schmelzraum zu bilden. In den größeren Tiegel wird ein fester oder flüssiger Stoff gegeben, mit dem in Folge von Zersetzungsprozessen eine reduzierende oder inerte Atmosphäre im Schmelzraum gebildet wird. Zusätzlich oder alternativ dazu kann bei Einsatz von SnC2O4 als Rohstoff dessen Zersetzung eine reduzierende Atmosphäre über der Schmelze bilden kann.
  • Das Schmelzen kann auch in einem Ofenaggregat durchgeführt werden, in dem eine inerte oder reduzierende Atmosphäre durch Zuführung eines geeigneten Gases oder einer Gasmischung erhalten werden kann.
  • In einer weiteren Alternative kann auch ein Glasschmelzaggregat eingesetzt werden, das über die Oxidation von Kohlenwasserstoffverbindungen beheizt werden kann. Und in dem sich durch λ-Regelung eine reduzierende Atmosphäre einstellen lässt.
  • Im Anschluss an den Schmelzprozess kann die Glasschmelze abgegossen werden oder im Behältnis erstarren. Das Abgießen kann in Wasser oder auf eine andere geeignete feste Unterlage (Stahl, Graphit) erfolgen.
  • Bei der Erfindung können nachfolgend in der Tabelle angeführte Zusammensetzungen genutzt werden. Die Angaben sind jeweils in mol
    Komponente Glas 1 Glas 2 Glas 3 Glas 4
    SiO2 13 19 15 15
    SnO 60 60 50 50
    Al2O3 1 1 5 5
    ZnO 5 10
    B2O3 20 20 30 20
  • Für die jeweiligen Komponenten können folgende Verbindungen bzw. Stoffe eingesetzt werden:
    SiO2 Quarzmehl, das unter der Handelsbezeichnung Millisi W8 von Quarzwerk Frechen erhältlich ist
    Al2O3 Al(OH)3 fein gepulvert rein Hydrargillit (Fa. VWR – 1.01093.1000)
    SnO SnO 99,9% metals (Alfa Aesar) oder SnC2O4 p. A. (Merck)
    ZnO ZnO z. A. ACS, VWR (1.08849.1000)
    B2O3 H3BO3 gepulvert reinst EMPROVE® (FA. VWR – 1.00162.5000)
  • Diese Komponenten werden als Rohstoffe in verschraubbaren Kunststoffbehältern auf einem Topfroller über 60 min homogenisiert. Dabei kann dies durch Zugabe von Mahlkugeln aus Al2O3 unterstützt werden.
  • Der homogenisierte Versatz wird in einen Korund-Tiegel gegeben, der in einen größeren Korund-Tiegel gestellt wird. Der Füllgrad im kleinen Tiegel sollte 60% des Tiegelgesamtvolumens nicht überschreiten. In den größeren Tiegel wird eine 1:1 – Mischung aus Graphit- und Ruß als Opfermaterial gegeben. Damit kann eine ausreichende reduzierende Atmosphäre über der Glasschmelze ausgebildet werden. Beim Schmelzen soll der größere Tiegel mit einem passenden Deckel aus Korund verschlossen werden. Das Schmelzen des Glases erfolgt in einem Kammerofen an Luft bei 1300°C bis 1350°C über einen Zeitraum von 3 h. Anschließend werden beide Tiegel dem Ofen entnommen und die Glasschmelze auf eine Stahlplatte oder in Wasser gefrittet. Bei Fritten in Wasser wird das Glas für 24 h bei 200°C an Luft getrocknet. Nachfolgend wird die Glasfritte in einer Scheibenschwingmühle auf eine mittlere Partikelgröße d50 kleiner 100 μm vorzerkleinert. Die vorzerkleinerte Glasfritte wird dann in einer Planetenkugelmühle mit einem Achat-Behälter und Achat-Mahlkugeln weiter gemahlen, bis eine mittlere Partikelgröße d50 kleiner 10 μm erreicht ist. Das so gemahlene Glaspulver soll in einem geschlossenen Behälter und in einem Exsicator aufbewahrt werden.
  • Alternativ dazu kann die Glasschmelze auch in einem Kammerofen hergestellt werden, in dem eine reduzierende Gasatmosphäre durch Zuführung von Formiergas oder Varigon eingestellt werden kann. Die weitere Verabeitung von Schmelze und Fritte kann wie vorab erläutert auch dann so durchgeführt werden.
  • Die pastöse Zusammensetzung und deren Einbrand zur Ausbildung von Kontakten können erhalten und erreicht werden, wenn ein organischer Binder durch Lösung eines Polymers mit einem Lösungsmittel eingesetzt wird. Feststoffkomponenten werden eingewogen und mit Tubular homogenisiert. Die homogenisierten Feststoffe werden in den organischen Binder mit einem Dissolver oder einer Mörsermühle eingearbeitet.
  • Die letztendliche Homogenisierung erfolgt mit mehreren Walzengängen (Dreizahlwerk) und Bestimmung der Mahlfeinheit. Die Anzahl der Walzengänge ist von der zu erreichenden Mahlfeinheit (< 10 μm) abhängig. Es sollten mindestens 1 und nicht mehr als 6 Walzengänge sein.
  • Mit der pastösen Zusammensetzung kann durch Siebdruck eine elektrisch leitfähige Schicht für Kontakte auf eine Substratoberfläche aufgebracht werden. Das Lösungsmittel kann bei einer Trocknung mit leicht erhöhter Temperatur (z. B. zwischen 100 und 200°C) entfernt werden. Die Schichtdicke beeinflusst dabei die Trocknungszeit und die jeweilige erforderliche Temperatur. Organische Bestandteile (Polymer) werden während des Brennprozesses oxidiert oder zersetzt. Diese Wärmebehandlung kann mit einem Infrarotofen, bei einer kurzen Zeit mit einer Heizrate bis zu 75 K/s und bis zu einer Maximaltemperatur von 1000°C durchgeführt werden.
  • In einer erfindungsgemäßen Zusammensetzung können enthalten sein:
    Elektrisch leitfähige Komponenten (Al, Au, Ag, Cu, Pd, Pt), Glasfritte, anorganische Komponenten (Oxide), organische Binder
  • Der Feststoffanteil soll zwischen 60 bis 95 Masse-% liegen. Dabei elektrisch leitfähige Komponenten mit 80 bis 97 Masse-%, Glasfritte mit 3 bis 20 Masse-%, anorganische Komponenten mit 0 bis 3 Masse-% und organischer Binder mit 5 bis 40 Masse-% enthalten sein.
  • Als Lösungsmittel kann allein oder in einer Mischung hochsiedendes Terpinöl, Butylcarbitol oder Dibuthylphthalat eingesetzt werden. Geeignete Polymere für den Binder sind Ethylcellulose, Acrylate, Hydroxypropylcellulose, Methylcellulose jeweils allein oder in Mischung. Ihr Anteil sollte bei 3 bis 10 Masse-% liegen.
  • Als weitere Zusätze können Thixotropie- oder Benetzungsmittel (Fischöl, Troisol, Campher) eingesetzt werden.
  • Das eingesetzte Edelmetall, wie z. B. Silber sollte fein vermahlen, sphärisch oder in Form von Flakes mit einheitlicher Partikelgröße oder bimodal mit einer Partikelgröße < 15 μm eingesetzt werden.
  • In nachfolgender Tabelle sind zwei geeignete Beispiele für eine erfindungsgemäße Zusammensetzung enthalten.
    Zusammensetzung Ag Glasfritte Acrylat in Terpinöl gelöst
    1 83,5 Masse-% 5,5 Masse-% 11 Masse-%
    Zusammensetzung Ag Glasfritte Hydroxypropylcellulose
    2 81,6 Masse-% 4,8 Masse-% 13,6 Masse-%
  • Bei der Wärmebehandlung zur Ausbildung von Kontakten (Einbrand) kann nach einem Durchätzen der Antireflexionsschicht, SnO zumindest teilweise in der flüssigen Glasschmelze durch eine Redox-Reaktion mit dem Silicium eines Wafers als Substrat zu metallischem Sn reduziert werden. Das so gebildete Sn kann gemeinsam mit Ag oder Au eine flüssige Mischphase bilden, aus der bei der Abkühlung metallische Verbindungen auf der Oberfläche des Wafers auskristallisieren. Bei dem binären Phasensystem Ag-Sn können folgende Verbindungen auftreten:
    Ag in dem maximal 11,5 Atom-% Sn gelöst sein können;
    ζ-Phase bestehend aus Sn (11,8–22,85 Atom-%) und Ag (77,15–88,2 Atom-%)
    ε-Phase bestehend aus Ag3Sn
    β-Sn
  • Diese Kristallisationsprodukte ermöglichen die elektrisch leitenden Eigenschaften für Kontakte beispielsweise an Solar-Wafern. Anteile und Zusammensetzungen der kristallisierten Phasen hängen von der eingesetzten Zusammensetzung des eingesetzten Glases, dem Anteil an Glasphase in der pastösen Zusammensetzung sowie dem Regime der Wärmebehandlung zur Ausbildung der Kontakte ab.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - EP 1713094 A2 [0011, 0011]
    • - WO 2006/132766 A2 [0012]

Claims (5)

  1. Zusammensetzung mit pastöser Konsistenz für die Ausbildung elektrischer Kontakte auf einem Silicium-Solarwafer, die mit 60 bis 90 Masse-% Ag oder Au, 5 bis 15 Masse-% eines Glases, die in Partikelform enthalten sind und 5 bis 25 Masse-% an organischen Komponenten, gebildet ist, dadurch gekennzeichnet, dass das Glas mit mindestens 30 Mol-% SnO und mindestens 10 Mol.-% SiO2 gebildet ist und dabei kein Pb und kein Bi im Glas enthalten sind.
  2. Zusammensetzung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass im Glas mindestens ein weiteres Metalloxid eines Metalls, das ausgewählt ist aus B, Al, P, V, Na, Ca und Zn, enthalten ist.
  3. Zusammensetzung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Partikel eine mittlere Partikelgröße d50 von 1 bis 5 μm aufweisen.
  4. Zusammensetzung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass im Glas mindestens 50 Mol.-% SnO enthalten ist.
  5. Elektrisch leitender Kontakt auf einem Silicium-Solar-Wafer, der mit einer Zusammensetzung nach einem der vorhergehenden Ansprüche hergestellt ist, dadurch gekennzeichnet, dass er mit mindestens 90 Masse-% Ag oder Au und mindestens 3 Masse-% des Glases gebildet ist.
DE102008032784A 2008-07-02 2008-07-02 Zusammensetzung mit pastöser Konsistenz für die Ausbildung elektrischer Kontakte auf einem Silicium-Solarwafer und damit hergestellter Kontakt Withdrawn DE102008032784A1 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102008032784A DE102008032784A1 (de) 2008-07-02 2008-07-02 Zusammensetzung mit pastöser Konsistenz für die Ausbildung elektrischer Kontakte auf einem Silicium-Solarwafer und damit hergestellter Kontakt
PCT/DE2009/000908 WO2010000234A1 (de) 2008-07-02 2009-06-29 Zusammensetzung mit pastöser konsistenz für die ausbildung elektrischer kontakte auf einem silicium-solarwafer und damit hergestellter kontakt

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102008032784A DE102008032784A1 (de) 2008-07-02 2008-07-02 Zusammensetzung mit pastöser Konsistenz für die Ausbildung elektrischer Kontakte auf einem Silicium-Solarwafer und damit hergestellter Kontakt

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102008032784A1 true DE102008032784A1 (de) 2010-03-18

Family

ID=41161356

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102008032784A Withdrawn DE102008032784A1 (de) 2008-07-02 2008-07-02 Zusammensetzung mit pastöser Konsistenz für die Ausbildung elektrischer Kontakte auf einem Silicium-Solarwafer und damit hergestellter Kontakt

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE102008032784A1 (de)
WO (1) WO2010000234A1 (de)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010037088A1 (de) * 2010-08-20 2012-02-23 Roth & Rau Ag Verfahren zum Erzeugen eines verbesserten Kontaktes zwischen einer silberhaltigen Leitbahn und Silizium
DE102016206345A1 (de) * 2016-04-15 2017-10-19 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Pastöse Zusammensetzung sowie ein Verfahren zum Herstellen von dreidimensionalen Strukturen oder Strukturelementen auf Substratoberflächen

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030047735A1 (en) * 2001-06-28 2003-03-13 Takeshi Kyoda Photoelectric conversion device, glass composition for coating silicon, and insulating coating in contact with silicon
EP1713094A2 (de) 2005-04-14 2006-10-18 E.I.Du pont de nemours and company Leitfähige Dickschichtzusammensetzung(en), Elektrode(n) und daraus hergestellte Halbleitervorrichtung(en)
WO2006132766A2 (en) 2005-06-03 2006-12-14 Ferro Corporation Lead free solar cell contacts

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7435361B2 (en) * 2005-04-14 2008-10-14 E.I. Du Pont De Nemours And Company Conductive compositions and processes for use in the manufacture of semiconductor devices
US20060231802A1 (en) * 2005-04-14 2006-10-19 Takuya Konno Electroconductive thick film composition, electrode, and solar cell formed therefrom
US7462304B2 (en) * 2005-04-14 2008-12-09 E.I. Du Pont De Nemours And Company Conductive compositions used in the manufacture of semiconductor device
JP4182174B2 (ja) * 2006-03-07 2008-11-19 株式会社村田製作所 導電性ペースト及び太陽電池
ES2611937T3 (es) * 2006-08-31 2017-05-11 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Sustrato semiconductor, procedimiento de formación de electrodo, y procedimiento de fabricación de célula solar

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030047735A1 (en) * 2001-06-28 2003-03-13 Takeshi Kyoda Photoelectric conversion device, glass composition for coating silicon, and insulating coating in contact with silicon
EP1713094A2 (de) 2005-04-14 2006-10-18 E.I.Du pont de nemours and company Leitfähige Dickschichtzusammensetzung(en), Elektrode(n) und daraus hergestellte Halbleitervorrichtung(en)
WO2006132766A2 (en) 2005-06-03 2006-12-14 Ferro Corporation Lead free solar cell contacts

Also Published As

Publication number Publication date
WO2010000234A1 (de) 2010-01-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE602004006951T2 (de) Leitfähige paste
DE112012001576T5 (de) Wismut-Tellur-Oxid enthaltene Dickfilmpaste und ihre Verwendung bei der Herstellung von Halbleitervorrichtungen
DE3111808C2 (de) Elektrisch leitende Paste, ihr Herstellungsverfahren und ihre Verwendung
US11161775B2 (en) Conductive composition, method for producing conductor, and method for forming wire of electronic component
JP2013089600A (ja) 厚膜銀ペーストと半導体デバイスの製造においてのその使用
DE2655085A1 (de) Metallisierungspraeparate, enthaltend elektrisch leitfaehige metalle
DE112015000424T5 (de) Leitfähige Paste und Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung, worin diese verwendet wird
CN1129340A (zh) 粘着力增强的厚膜导体组合物
DE2610303C2 (de) Siebdruckpaste für dicke, elektrisch leitende, Leiterbahnen bildende Schichten auf einem keramischen Substrat
DE102013009241B4 (de) Kupferpastenzusammensetzung und ihre Verwendung in einem Verfahren zum Bilden von Kupferleitern auf Substraten
DE3203826A1 (de) Verfahren zur wiedergewinnung vom edelmetallen
DE1011348B (de) Verglasbares Flussmittel sowie keramischer Gegenstand
EP1647352B1 (de) Lotmaterial
DE102008032784A1 (de) Zusammensetzung mit pastöser Konsistenz für die Ausbildung elektrischer Kontakte auf einem Silicium-Solarwafer und damit hergestellter Kontakt
CN106448802A (zh) 导电糊料组合物及由其制成的半导体装置
DE60212950T2 (de) Verwendung von leiterzusammensetzungen in elektronischen schaltungen
DE112014006907T5 (de) Kupfer enthaltende leitfähige Pasten und daraus hergestellte Elektroden
DE112014006903B4 (de) Solarzellen mit Kupferelektroden
DE60013868T2 (de) Leitfähige zusammensetzung
DE102009013919B4 (de) Lotmaterial mit einem Zusatzwerkstoff, Trägerbauteil oder Bauelement mit einem solchen Lotmaterial sowie Verwendung eines Flussmittels
DE102008052339B4 (de) Verfahren zur Färbung von temperaturbeständigen Substraten
DE1007689B (de) Verglasbares Flussmittel sowie keramischer Gegenstand
DE1433158A1 (de) Loetmaterial zur vakuumdichten Verbindung von aus Keramik,Glas und Metall bestehenden Bauteilen und Verfahren zur Herstellung derselben
DE102017003604A1 (de) Leitfähige Pastenzusammensetzung und damit angefertigte Halbleitervorrichtungen
DE102011016034A1 (de) Metallhaltige Zusammensetzung, Verfahren zur Herstellung einer elektrischen Kontaktstruktur sowie Verwendung eines Oxidationsmittels

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R016 Response to examination communication
R002 Refusal decision in examination/registration proceedings
R006 Appeal filed
R008 Case pending at federal patent court
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20150203