DE102007055104A1 - Circuit arrangement for balancing a resistance circuit - Google Patents
Circuit arrangement for balancing a resistance circuit Download PDFInfo
- Publication number
- DE102007055104A1 DE102007055104A1 DE102007055104A DE102007055104A DE102007055104A1 DE 102007055104 A1 DE102007055104 A1 DE 102007055104A1 DE 102007055104 A DE102007055104 A DE 102007055104A DE 102007055104 A DE102007055104 A DE 102007055104A DE 102007055104 A1 DE102007055104 A1 DE 102007055104A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- effect transistor
- resistor
- circuit
- field effect
- current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R17/00—Measuring arrangements involving comparison with a reference value, e.g. bridge
- G01R17/02—Arrangements in which the value to be measured is automatically compared with a reference value
- G01R17/06—Automatic balancing arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R17/00—Measuring arrangements involving comparison with a reference value, e.g. bridge
- G01R17/10—AC or DC measuring bridges
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Abstract
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung (200) zum Abgleich einer Widerstandsschaltung (100), die einen Feldeffekttransistor (M1) als steuerbaren Widerstand aufweist und eine Ansteuerschaltung (AMP), über die der Feldeffekttransistor (M1) mit einer Gate-Source-Spannung so ansteuerbar ist, dass ein Widerstand zwischen einer Drainelektrode (D) und einer Sourceelektrode (S) des Feldeffekttransistors (M1) in einem vorgebbaren Verhältnis steht zu einem Referenzwiderstand (R). Die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung (200) ist dadurch gekennzeichnet, dass in einer Abgleichbetriebsart ein Referenzstrom (I1, I2) durch die Drain-Source-Strecke des Feldeffekttransistors (M1) und durch den Referenzwiderstand (R) einstellbar ist, der abhängig ist von einer Differenzspannung (dU) zwischen einem von dem Referenzstrom (I1) verursachten Spannungsabfall an dem Referenzwiderstand (R) und einem von l an der Drain-Source-Strecke des Feldeffekttransistors (M1).The invention relates to a circuit arrangement (200) for adjusting a resistance circuit (100) having a field effect transistor (M1) as a controllable resistor and a drive circuit (AMP), via which the field effect transistor (M1) with a gate-source voltage is so controlled in that a resistance between a drain electrode (D) and a source electrode (S) of the field-effect transistor (M1) is in a predeterminable relationship to a reference resistance (R). The circuit arrangement (200) according to the invention is characterized in that, in a calibration mode, a reference current (I1, I2) can be set by the drain-source path of the field-effect transistor (M1) and by the reference resistor (R), which is dependent on a differential voltage ( dU) between one of the reference current (I1) caused voltage drop across the reference resistor (R) and one of l at the drain-source path of the field effect transistor (M1).
Description
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung.The The invention relates to a circuit arrangement.
Eine
Schaltungsanordnung ist beispielsweise in der in
Abgleichschaltungen
des in
Eine Möglichkeit, den vorstehend genannten Abgleichfehler zu verringern, besteht darin, einen verhältnismäßig großen Arbeitspunkt zu wählen, d. h. größere Drain-Source-Spannungsabfälle während des Abgleichs, so dass der relative Anteil der den Abgleichfehler verursachenden Offsetspannung geringer wird. Dadurch wird der Abgleich genauer.A Possibility, to reduce the aforementioned mismatch error is to a relatively large operating point to choose, d. H. larger drain-source voltage drops during the Balancing, so that the relative proportion of the adjustment error causing Offset voltage is lower. This makes the adjustment more accurate.
Das Verhältnis des Widerstandswerts des MOS-Widerstands zu dem Referenzwiderstand hängt von dem für die Herstellung des MOS-Widerstands gewählten Herstellungsprozess, von der Temperatur und von weiteren Parametern ab, weswegen das Abgleichergebnis nicht ohne weiteres auf den für den Normalbetrieb verwendeten kleinen Arbeitspunkt übertragen werden kann.The relationship the resistance of the MOS resistor to the reference resistor depends on for the fabrication of the MOS resistance selected manufacturing process, from the temperature and other parameters, which is why Adjustment result does not readily match that used for normal operation transfer small operating point can be.
Dementsprechend ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Schaltungsanordnung anzugeben, die möglichst präzise abgleichbar ist.Accordingly It is an object of the present invention, a circuit arrangement specify the possible precise is adjustable.
Diese Aufgabe wird durch die Schaltungsanordnung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den abhängigen Ansprüchen und in der Beschreibung enthalten. Demzufolge ist in einer Abgleichbetriebsart ein Referenzstrom durch die Drain-Source-Strecke des Feldeffekttransistors und durch den Referenzwiderstand einstellbar ist, der abhängig ist von einer Differenzspannung zwischen einem von dem Referenzstrom verursachten Spannungsabfall an dem Referenzwiderstand und einem von dem Referenzstrom verursachten Spannungsabfall an der Drain-Source-Strecke des Feldeffekttransistors.These The object is achieved by the circuit arrangement with the characteristics of Patent claim 1 solved. Advantageous developments are in the dependent claims and included in the description. As a result, in a calibration mode, a Reference current through the drain-source path of the field effect transistor and adjustable by the reference resistance that is dependent from a difference voltage between one of the reference current caused a voltage drop across the reference resistor and a caused by the reference current voltage drop at the drain-source path of the field effect transistor.
Im
Gegensatz zu Abgleichschaltungen gemäß der
Der erfindungsgemäße Referenzstrom durch beide Schaltungszweige weist eine Abhängigkeit auf von dem Regelsignal des Abgleichprozesses, d. h. der Differenzspannung des Brückenverstärkers AMP, das seinerseits technologieabhängig ist wie die Betriebsparameter des MOS-Widerstands. Dies führt vorteilhaft dazu, dass der MOS-Widerstand bei der erfindungsgemäßen Wahl des Referenzstroms stets derart abgeglichen wird, dass sich ein technologieunabhängiger Abgleich ergibt.Of the Reference current according to the invention through both circuit branches has a dependence on the control signal the reconciliation process, d. H. the differential voltage of the bridge amplifier AMP, the in turn technology-dependent is like the operating parameters of the MOS resistor. This leads to advantage to that the MOS resistor in the inventive choice the reference current is always adjusted so that a technology independent Match results.
Die erfindungsgemäße Wahl des Referenzstroms ermöglicht also die Einstellung eines solchen Arbeitspunkts des MOS-Widerstands, der zu einem technologieunabhängigen Verhältnis des Widerstandswerts des MOS-Widerstands zu dem Referenzwiderstand führt.The inventive choice of the reference current allows ie the setting of such a working point of the MOS resistance, the to a technology independent relationship of the Resistance value of the MOS resistor leads to the reference resistor.
Bei einer besonders vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung ist eine steuerbare Stromquelle wie z. B. ein Feldeffekttransistor vorgesehen, die in einem Abgleichzweig einen Abgleichstrom in Abhängigkeit der Differenzspannung erzeugt.at a particularly advantageous embodiment of the invention a controllable power source such. B. a field effect transistor is provided, the in a balancing branch, a balancing current in dependence the difference voltage generated.
Bei einer weiteren besonders vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung ist eine Stromspiegelschaltung vorgesehen, mittels der der Referenzstrom in Abhängigkeit des Abgleichstroms bzw. der Differenzspannung erzeugbar ist.at Another particularly advantageous embodiment of the invention a current mirror circuit is provided, by means of which the reference current dependent on of the trimming current or the differential voltage can be generated.
Die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung eignet sich insbesondere zum Einsatz in Digital-Analog-Wandlerschaltungen, die mindestens einen Feldeffekttransistor als steuerbaren Widerstand aufweisen, der insbesondere Bestandteil eines Widerstandsnetzwerks ist. Der Feldeffekttransistor kann dabei auch in einen ausgeschalteten Zustand geschaltet werden, in dem die Drain-Source-Strecke des Feldeffekttransistors sehr hochohmig ist. Um einen Abgleich des Feldeffekttransistors mit einem Referenzwiderstand zu realisieren, kann der abzugleichende Feldeffekttransistor z. B. temporär mit der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung verbunden werden, oder es kann ein separater, identisch aufgebauter Feldeffekttransistor vorgesehen sein, der permanent mit der erfindungsgemäßen Abgleichschaltung verbunden ist, und der eine dem abgeglichenen Zustand entsprechende Ansteuerspannung für den abzugleichenden Feldeffekttransistor bereitstellt.The inventive circuit arrangement is particularly suitable for use in digital-to-analog converter circuits, having at least one field effect transistor as a controllable resistor, which is in particular part of a resistor network. Of the Field effect transistor can also be switched to a switched-off state in which the drain-source path of the field effect transistor is very high impedance. To a balance of the field effect transistor can be realized with a reference resistor, which can be adjusted Field effect transistor z. B. temporarily with the circuit arrangement according to the invention or it can be a separate, identically constructed one Field effect transistor may be provided which is permanently connected to the trimming circuit according to the invention is connected, and the one corresponding to the balanced state Drive voltage for provides the field effect transistor to be adjusted.
Weitere Merkmale, Anwendungsmöglichkeiten und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen der Erfindung, die in den Figuren der Zeichnung dargestellt sind. Dabei bilden alle beschriebenen oder dargestellten Merkmale für sich oder in beliebiger Kombination den Gegenstand der Erfindung, unabhängig von ihrer Zusammenfassung in den Patentansprüchen oder deren Rückbeziehung sowie unabhängig von ihrer Formulierung bzw. Darstellung in der Beschreibung bzw. in der Zeichnung.Further Features, applications and advantages of the invention will become apparent from the following description of exemplary embodiments of the invention, which are illustrated in the figures of the drawing. All described or illustrated features form for themselves or in any combination, the subject matter of the invention, regardless of their summary in the claims or their dependency as well as independently from their formulation or presentation in the description or in the drawing.
In der Zeichnung zeigt:In the drawing shows:
Der erfindungsgemäße Abgleichvorgang hat das Ziel, den Widerstandswert des MOS-Widerstands M1 in Übereinstimmung mit demjenigen des Referenzwiderstands R zu bringen.Of the inventive adjustment process the goal is to set the resistance of the MOS resistor M1 in accordance with that of the reference resistor R to bring.
Hierzu
ist erfindungsgemäß vorgesehen, dass – im Gegensatz
zu dem Stand der Technik gemäß
Dadurch
wird für
den erfindungsgemäßen Abgleich
vorteilhaft jeweils ein solcher Arbeitspunkt des MOS-Widerstands
M1 flexibel eingestellt, der Untersuchungen der Anmelderin zufolge
zu einem technologieunabhängigen
Verhältnis
des jeweiligen Widerstandswerts des MOS-Widerstands M1 zu dem Referenzwiderstand
R führt,
so dass unter Verwendung der erfindungsgemäßen Abgleichschaltung
Gemäß
Die
Spannungsdifferenz dU ergibt sich, wie aus
In Abhängigkeit des Abgleichstroms I3 wird durch den Stromspiegel SS einerseits der Referenzstrom I1 für den Abgleichbetrieb des Referenzwiderstands R gebildet. Andererseits wird durch den Stromspiegel SS auch der Referenzstrom I2 für den Abgleichbetrieb des MOS-Widerstands M1 gebildet.In dependence of the trimming current I3 is by the current mirror SS on the one hand the reference current I1 for formed the adjustment operation of the reference resistor R. on the other hand is also the reference current I2 for the adjustment operation by the current mirror SS formed of the MOS resistor M1.
Bei einer bevorzugten Erfindungsvariante sind beide Referenzströme I1, I2 identisch.at In a preferred variant of the invention, both reference currents I1, I2 are identical.
Aufgrund
der vorstehend beschriebenen Ermittlung des Abgleichstroms I3 bzw.
der Referenzströme
I1, I2 wird für
den erfindungsgemäßen Abgleich
vorteilhaft jeweils ein solcher Arbeitspunkt des MOS-Widerstands
M1 eingestellt, der zu einem technologieunabhängigen Verhältnis des jeweiligen Widerstandswerts
des MOS-Widerstands
M1 zu dem Referenzwiderstand R führt,
so dass unter Verwendung der erfindungsgemäßen Abgleichschaltung
Die sich im Wege des vorstehend beschriebenen Abgleichprozesses ergebende Gate-Source-Spannung des MOS-Widerstands M1 kann vorteilhaft anderen MOS-Transistoren zugeführt werden, damit diese einen zu dem Referenzwiderstand R vergleichbaren Widerstandswert annehmen.The resulting from the adjustment process described above Gate-source voltage of the MOS resistor M1 may be advantageous to other MOS transistors supplied to be comparable to the reference resistor R Accept resistance value.
Die
erfindungsgemäße Schaltungsanordnung
Aufgrund der Technologieunabhängigkeit des erfindungsgemäßen Abgleichs kann vorteilhaft u. a. auch ein verhältnismäßig großer Arbeitspunkt des MOS-Widerstands M1 gewählt werden, so dass der relative Anteil der einen Abgleichfehler verursachenden Offsetspannung des Differenzverstärkers AMP geringer wird.by virtue of the technology independence of the according to the invention can advantageously u. a. also a relatively large operating point of the MOS resistor M1 selected so that the relative proportion of those causing a mismatch error Offset voltage of the differential amplifier AMP is lower.
Claims (4)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102007055104A DE102007055104A1 (en) | 2007-11-16 | 2007-11-16 | Circuit arrangement for balancing a resistance circuit |
US12/272,240 US7888952B2 (en) | 2007-11-16 | 2008-11-17 | Circuit arrangement for balancing a resistance circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102007055104A DE102007055104A1 (en) | 2007-11-16 | 2007-11-16 | Circuit arrangement for balancing a resistance circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102007055104A1 true DE102007055104A1 (en) | 2009-07-30 |
Family
ID=40752356
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102007055104A Withdrawn DE102007055104A1 (en) | 2007-11-16 | 2007-11-16 | Circuit arrangement for balancing a resistance circuit |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7888952B2 (en) |
DE (1) | DE102007055104A1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20210380060A1 (en) * | 2020-06-04 | 2021-12-09 | Veoneer Us, Inc. | Sensor communication discrete control considering emc compliance for restraint control module |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0204135B1 (en) * | 1985-05-22 | 1989-07-05 | LGZ LANDIS & GYR ZUG AG | Device including a hall element for integration into an integrated circuit |
EP0971279B1 (en) * | 1998-07-07 | 2003-09-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Calibrating method of a resistor in an integrated circuit and apparatus for executing this method |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3706515B2 (en) * | 1998-12-28 | 2005-10-12 | 矢崎総業株式会社 | Power supply control device and power supply control method |
DE102007054191A1 (en) * | 2007-11-14 | 2009-05-28 | Sitronic Gesellschaft für elektrotechnische Ausrüstung mbH. & Co. KG | Electronic control device |
-
2007
- 2007-11-16 DE DE102007055104A patent/DE102007055104A1/en not_active Withdrawn
-
2008
- 2008-11-17 US US12/272,240 patent/US7888952B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0204135B1 (en) * | 1985-05-22 | 1989-07-05 | LGZ LANDIS & GYR ZUG AG | Device including a hall element for integration into an integrated circuit |
EP0971279B1 (en) * | 1998-07-07 | 2003-09-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Calibrating method of a resistor in an integrated circuit and apparatus for executing this method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090153179A1 (en) | 2009-06-18 |
US7888952B2 (en) | 2011-02-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE60114051T2 (en) | SELF-ROLLING POWER SOURCE AND METHOD FOR A DAW WITH SWITCHED POWER SOURCES | |
DE10251308B4 (en) | Integrated switched capacitor circuit and method | |
EP1704452B1 (en) | Transistor arrangement with temperature compensation and method for temperature compensation | |
DE102015101837B4 (en) | Apparatus and method for improving common mode rejection | |
DE102009054113A1 (en) | Process, voltage and temperature control for high-speed, high-gain amplifiers with variable gain and low power consumption based on Mosfet resistors | |
DE69411217T2 (en) | Delay circuit for delaying differential signals | |
DE2425973A1 (en) | COMPLEMENTARY FET AMPLIFIER | |
DE112018002307T5 (en) | METHOD FOR CORRECTING A GAIN ERROR IN INSTRUMENT AMPLIFIERS | |
DE60213094T2 (en) | PROGRAMMABLE LOGARITHMIC GAIN ADJUSTMENT FOR AMPLIFIERS WITH OPEN CONTROL LOOP | |
DE69221999T2 (en) | Reference current loop | |
EP1497703A1 (en) | Circuit arrangement for voltage regulation by means of a voltage divider | |
EP0482392A2 (en) | Circuit arrangement for providing an output current for a data driver | |
DE69121124T2 (en) | Current limiting method and device | |
DE102008005312B4 (en) | Optimized resistor network for programmable transconductance stage | |
DE69132219T2 (en) | REPETATIVE CELL ADJUSTMENT TECHNOLOGY FOR INTEGRATED CIRCUITS | |
DE2240971A1 (en) | GATE CONTROL | |
DE102010012688B4 (en) | Switching arrangement with temperature compensation | |
DE102014107349B4 (en) | Device for providing an output voltage | |
DE102015122521A1 (en) | Voltage reference circuit | |
DE102017118798A1 (en) | A Miller compensation circuit and corresponding controller, system and method | |
DE102014110672B4 (en) | Circuit with an RC filter | |
DE102007055104A1 (en) | Circuit arrangement for balancing a resistance circuit | |
DE102023105212A1 (en) | Techniques for externally controlling the gain of an amplifier | |
WO2004019149A1 (en) | Circuit and method for adjusting the operating point of a bgr circuit | |
DE102013111083A1 (en) | Base-emitter voltage difference circuit for forming resistorless proportional to absolute temperature unit cell in cascading voltage reference circuit, has metal-oxide semiconductor transistor for controlling collector voltage of transistor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: ATMEL AUTOMOTIVE GMBH, 74072 HEILBRONN, DE |
|
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee | ||
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: ATMEL CORP., SAN JOSE, US Free format text: FORMER OWNER: ATMEL AUTOMOTIVE GMBH, 74072 HEILBRONN, DE Effective date: 20130529 Owner name: ATMEL CORP., US Free format text: FORMER OWNER: ATMEL AUTOMOTIVE GMBH, 74072 HEILBRONN, DE Effective date: 20130529 |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: GRUENECKER PATENT- UND RECHTSANWAELTE PARTG MB, DE Effective date: 20130529 Representative=s name: GRUENECKER, KINKELDEY, STOCKMAIR & SCHWANHAEUS, DE Effective date: 20130529 |
|
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20130601 |