DE102007046444A1 - Organischer Photodetektor mit reduziertem Dunkelstrom - Google Patents
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- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims abstract description 12
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims abstract description 12
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 80
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 22
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 claims description 9
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 8
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 claims description 8
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 claims description 8
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 8
- 125000004108 n-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 claims description 8
- 125000004123 n-propyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 claims description 8
- 125000002914 sec-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 claims description 8
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims description 7
- 125000000999 tert-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 claims description 7
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 5
- 238000004768 lowest unoccupied molecular orbital Methods 0.000 claims description 5
- 239000002356 single layer Substances 0.000 claims description 5
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 4
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 claims description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 3
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000002202 Polyethylene glycol Substances 0.000 claims description 2
- 150000001722 carbon compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 125000000951 phenoxy group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(O*)C([H])=C1[H] 0.000 claims description 2
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 claims description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims 2
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 10
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 7
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- CXWXQJXEFPUFDZ-UHFFFAOYSA-N tetralin Chemical compound C1=CC=C2CCCCC2=C1 CXWXQJXEFPUFDZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 5
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N Chloroform Chemical compound ClC(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N Pentane Chemical compound CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 description 4
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 4
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 4
- NNBZCPXTIHJBJL-UHFFFAOYSA-N decalin Chemical compound C1CCCC2CCCCC21 NNBZCPXTIHJBJL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- USIUVYZYUHIAEV-UHFFFAOYSA-N diphenyl ether Chemical compound C=1C=CC=CC=1OC1=CC=CC=C1 USIUVYZYUHIAEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004770 highest occupied molecular orbital Methods 0.000 description 4
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N propan-1-ol Chemical compound CCCO BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- NEAQRZUHTPSBBM-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxy-3,3-dimethyl-7-nitro-4h-isoquinolin-1-one Chemical compound C1=C([N+]([O-])=O)C=C2C(=O)N(O)C(C)(C)CC2=C1 NEAQRZUHTPSBBM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 4-Butyrolactone Chemical compound O=C1CCCO1 YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 3
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 3
- 229920000301 poly(3-hexylthiophene-2,5-diyl) polymer Polymers 0.000 description 3
- 238000000682 scanning probe acoustic microscopy Methods 0.000 description 3
- 239000013545 self-assembled monolayer Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 3
- -1 tert-butyl Butyl Chemical group 0.000 description 3
- VZGDMQKNWNREIO-UHFFFAOYSA-N tetrachloromethane Chemical compound ClC(Cl)(Cl)Cl VZGDMQKNWNREIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 2-methylphenol;3-methylphenol;4-methylphenol Chemical compound CC1=CC=C(O)C=C1.CC1=CC=CC(O)=C1.CC1=CC=CC=C1O QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ABLZXFCXXLZCGV-UHFFFAOYSA-N Phosphorous acid Chemical compound OP(O)=O ABLZXFCXXLZCGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCEWYIDBDVPMES-UHFFFAOYSA-N [60]pcbm Chemical compound C123C(C4=C5C6=C7C8=C9C%10=C%11C%12=C%13C%14=C%15C%16=C%17C%18=C(C=%19C=%20C%18=C%18C%16=C%13C%13=C%11C9=C9C7=C(C=%20C9=C%13%18)C(C7=%19)=C96)C6=C%11C%17=C%15C%13=C%15C%14=C%12C%12=C%10C%10=C85)=C9C7=C6C2=C%11C%13=C2C%15=C%12C%10=C4C23C1(CCCC(=O)OC)C1=CC=CC=C1 MCEWYIDBDVPMES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 229930003836 cresol Natural products 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 229960004132 diethyl ether Drugs 0.000 description 2
- 229960001760 dimethyl sulfoxide Drugs 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N octane Chemical compound CCCCCCCC TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 239000002094 self assembled monolayer Substances 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002174 soft lithography Methods 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000003573 thiols Chemical class 0.000 description 2
- PXXNTAGJWPJAGM-UHFFFAOYSA-N vertaline Natural products C1C2C=3C=C(OC)C(OC)=CC=3OC(C=C3)=CC=C3CCC(=O)OC1CC1N2CCCC1 PXXNTAGJWPJAGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N (2r,3r,4s,5r)-2-[6-[[2-(3,5-dimethoxyphenyl)-2-(2-methylphenyl)ethyl]amino]purin-9-yl]-5-(hydroxymethyl)oxolane-3,4-diol Chemical compound COC1=CC(OC)=CC(C(CNC=2C=3N=CN(C=3N=CN=2)[C@H]2[C@@H]([C@H](O)[C@@H](CO)O2)O)C=2C(=CC=CC=2)C)=C1 BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N 0.000 description 1
- RFFLAFLAYFXFSW-UHFFFAOYSA-N 1,2-dichlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=CC=C1Cl RFFLAFLAYFXFSW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OCJBOOLMMGQPQU-UHFFFAOYSA-N 1,4-dichlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=C(Cl)C=C1 OCJBOOLMMGQPQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910014456 Ca-Ag Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000007487 Calathea allouia Nutrition 0.000 description 1
- 244000278792 Calathea allouia Species 0.000 description 1
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000144 PEDOT:PSS Polymers 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XSTXAVWGXDQKEL-UHFFFAOYSA-N Trichloroethylene Chemical group ClC=C(Cl)Cl XSTXAVWGXDQKEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 108010038083 amyloid fibril protein AS-SAM Proteins 0.000 description 1
- 239000010405 anode material Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- GNHQSAUHXKRQMC-UHFFFAOYSA-N benzene;chlorine Chemical compound [Cl].C1=CC=CC=C1 GNHQSAUHXKRQMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001732 carboxylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 150000008280 chlorinated hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N chlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=CC=C1 MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004292 cyclic ethers Chemical class 0.000 description 1
- 229940117389 dichlorobenzene Drugs 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 1
- 229940052303 ethers for general anesthesia Drugs 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 150000002527 isonitriles Chemical class 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002835 noble gases Chemical class 0.000 description 1
- 150000007530 organic bases Chemical class 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 150000002923 oximes Chemical class 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 1
- 229910000073 phosphorus hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002098 polyfluorene Polymers 0.000 description 1
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
- 150000003254 radicals Chemical class 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 150000004756 silanes Chemical class 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/80—Constructional details
- H10K30/81—Electrodes
- H10K30/82—Transparent electrodes, e.g. indium tin oxide [ITO] electrodes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/80—Constructional details
- H10K30/81—Electrodes
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/30—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising bulk heterojunctions, e.g. interpenetrating networks of donor and acceptor material domains
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Abstract
Die Erfindung betrifft einen organischen Photodetektor mit reduziertem Dunkelstrom durch Einbringen einer Elektronenblockierschicht oder Barriereschicht zwischen der unteren Elektrode und der organischen photoaktiven Schicht. Als Material für die Barriereschicht wird eine SAM-Schicht vorgeschlagen.
Description
- Die Erfindung betrifft einen organischen Photodetektor mit reduziertem Dunkelstrom durch Einbringen einer Elektronenblockierschicht oder Barriereschicht zwischen der unteren Elektrode und der organischen photoaktiven Schicht.
- Organische Photodetektoren auf der Basis von organischen Halbleitermaterialien bieten die Möglichkeit, pixelierte Flachdetektoren mit hohen Quanteneffizienzen (50 bis 85%) im sichtbaren Bereich des Spektrums herzustellen. Die hierbei eingesetzten dünnen organischen Schichtsysteme können mit bekannten Herstellungsverfahren wie Spin-Coating, Kakeln oder Druckverfahren kostengünstig hergestellt werden und ermöglichen so einen Preisvorteil, vor allem für größerflächige Devices. Vielversprechende Anwendungen solcher organischer Detektorarrays finden sich z. B. in der medizinischen Bilderkennung als Röntgen-Flachdetektoren, da hier das Licht einer Szintillatorschicht typischerweise auf relativ großen Flächen von mindestens einigen Zentimetern detektiert wird.
- Die organischen Photodioden bestehen z. B. aus einem vertikalen Schichtsystem: Au-Elektrode/P3HT-PCBMBlend/Ca-Ag-Elektrode. Der Blend aus den beiden Komponenten P3HT (Absorber- und Lochtransportkomponente) und PCBM (Elektronenakzeptor und -transportkomponente) wirkt hierbei als so genannte „Bulk Heterojunction", d. h. die Trennung der Ladungsträger erfolgt an den Grenzflächen der beiden Materialien, die sich innerhalb des gesamten Schichtvolumens ausbilden.
- Ein Nachteil solcher Detektor-Arrays mit großflächigen, unstrukturierten organischen Halbleiterschichten besteht darin, dass der Dunkelstrom vor allem bei Verwendung polymerer Materialen (wie z. B. P3HT-PCBM-Blend) deutlich höher ist als z. B. bei anorganischen Flachdetektoren. Typische Dunkelströme der organischen Photodioden bei einer Biasspannung von –5 V liegen im Bereich von 10–2 bis 10–3 mA/cm2, typische Ströme für Detektoren auf Basis von amorphem Silizium liegen dagegen unterhalb von 10–5 mA/cm2.
- Ein niedriger Dunkelstrom ist insbesondere dann wichtig, wenn wie z. B. bei Röntgendetektoren ein hoher Dynamikbereich abgedeckt werden muss, d. h. wenn auch sehr geringe Lichtintensitäten über dem Rauschlevel detektiert werden müssen. Ein Dunkelstrombeitrag kann zwar grundsätzlich vom Signal subtrahiert werden, führt aber immer zu einem Rauschbeitrag, der bei Messungen mit niedrigen Röntgendosen den Dynamikbereich limitiert. Bisher werden daher kommerziell anorganische Röntgen-Flachdetektoren auf der Basis von amorphem Silizium eingesetzt, die einen sehr geringen Dunkelstrom von weniger als 10–5 mA/cm2 aufweisen.
- Stand der Technik für effiziente organische Photodioden sind entweder Einschichtsysteme mit einem Bulk Heterojunction Elend zwischen einer Anode (ITO, Gold, Palladium, Platin, Silber etc.) und einer Kathode (z. B. Ca, Ba, Mg, LIF, ITO etc. mit anschließender Deckschicht aus Ag oder Al) oder Zweischichtsysteme, bei denen zwischen dem Elend und der Anode noch eine zusätzliche Lochtransporterschicht oder Elektronenblockierschicht (typischerweise Pedot:PSS; Pani:PSS oder einem Polyfluorenderivat) aufgebracht ist. Die Lochtransportschicht bzw. Blockierschicht wird normalerweise als „Buffer" Schicht mit elektrischen Eigenschaften verwendet um Kurzschlüsse durch mögliche „spikes" in der unteren Elektrode zu vermeiden. Die elektrischen Eigenschaften bestehen aus einer Elektron blockierende Funktion in Sperrichtung und gleichzeitig einer nicht verminderter Löcherextraktion von der unteren Elektrode.
- Als Substrat kann Glas, eine Polymerfolie, Metall oder ähnliches eingesetzt werden. Schließlich ist meistens noch ei ne Passivierungsschicht oder eine Verkapselung mit einer transparenten Folie oder Glassubstrat vorgesehen.
- Die organischen Materialien werden üblicherweise mittels Spin Coating oder Rakeln aufgebracht. Bei diesen Verfahren besteht bei der Herstellung von Mehrschichtsystemen die Problematik, dass beim Aufbringen einer organischen Schicht auf eine bereits vorhandene organische Schicht, das Lösungsmittel des aufzubringenden Materials die vorhandene Schicht an- oder auflöst mit der Folge einer Durchmischung der Materialien. Bisher sind in der Literatur keine polymerbasierten Photodetektor-Systeme mit ausreichend niedrigen Dunkelstrom-Niveaus bekannt.
- Zur Reduzierung des Dunkelstroms in Sperrrichtung wurden bereits Lösungen in der
DE 10 2005 037 421 , derDE 10 2006 046 210 und derDE 10 2005 037 421 vorgeschlagen. Diese beruhen auf dem Ansatz, die Schicht zwischen Anode und photoaktiver Schicht entsprechend so zu modifizieren, dass die Ladungsträger, die den Dunkelstrom verursachen, blockiert werden. - Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, einen Photodetektor auf organischer Basis zur Verfügung zu stellen, dessen Dunkelstrom reduziert ist.
- 1. Gegenstand der Erfindung ist daher ein organischer Photodetektor, eine obere und eine untere Elektrode mit dazwischen zumindest einer photoaktiven Schicht umfassend, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen der photoaktiven Schicht und der Anode eine Elektronenblockierschicht angeordnet ist, die zumindest eine selbstorganisiert SAM-Schicht umfasst. Außerdem ist Gegenstand der Erfindung die Verwendung einer selbstorganisierenden SAM-Schicht zwischen Anode und photoaktiver Schicht eines organischen Photodetektors, zumindest eine Monolage zumindest einer selbst organisierenden Molekülart enthaltend, wobei die Moleküle jeweils zumindest eine Kopf und eine Ankergruppe sowie ein dazwischen angeordnetes Gerüst enthalten.
- Selbstorganisierte Schichten im Folgenden auch SAM(Self Assambled Monolayers)-Schichten genannt, wie sie gemäß der vorliegenden Erfindung anwendbar sind, sind bereits aus den Dokumenten
DE 10328 811 A1 ,DE 10328810 A1 ,DE 10 2004 025 423 A1 ,DE 10 2004 022 603 A1 ,US 02005 01 89536 A1 - Die Eignung der SAM-Schichten als Elektronenblockierschicht in Photodetektoren ist insofern überraschend, als die dort beschriebenen selbstorganisierten Schichten zwar als Dielektrika eingesetzt wurden, jedoch durch ihre spezifische, zweidimensionale Anordnung, als sehr dichte Schichten bekannt waren, so dass bislang nicht vermutet wurde, die SAM-Schichten würden sich als lochleitende und aufgrund ihrer geringen Dicke vollständig transparente Schichten, wie es zwischen unterer Elektrode und photoaktiver Schicht im Photodetektor gefordert ist, einsetzen lassen.
- Die vorliegende Erfindung löst das Problem der hohen Dunkelströme durch Einfügen einer zusätzlichen Elektronen-Blockierschicht oder Barriereschicht, die den durch negative Ladungsträger verursachten Dunkelstrom effizient reduziert. Dabei wird diese Schicht durch SAMs realisiert. Die Monolagen werden kovalent auf der Elektrodenoberfläche aus der Gasoder Flüssigphase gebunden. Im Falle von Thiolmonolagen werden dadurch Barrierehöhen von 4–5 eV erreicht (Ackermann et al., PNAS, 104, 11161 (2007)). Zusätzlich wurde am Beispiel von alkylsubstituierten Oligothiophenen gezeigt, wie die Injektionseigenschaften in einem organischen Halbleiter von der Länge der Alkykette abhängen (M. Halik et. al. Adv. Mater. 15, 917 (2003)). Die hier diskutierten Verbindungen sind durch eine kovalente Bindung an das Substrat „geheftet", und besitzen dadurch im Gegensatz zu den Thiolen viel höhere Bindungsenergien.
- Damit kann die Barrierehöhe der Sperrschicht durch Längenvariation der Alkylkette in SAMs beeinflusst werden. Über SAMS mit leitfähigem aromatischem Gerüst lassen sich die Kennlinien in Durchlassrichtung bzw. Sperr-Richtung beeinflussen, je nachdem, ob die Aromatenfunktion elektronenziehende oder elektronenschiebende Substituenten enthält.
- Die Abscheidung einer selbstorganisierenden Monolage auf Metallen erfolgt beispielsweise über eine chemische Reaktion, die zur Bildung einer kovalenten Bindung zwischen der Ankergruppe des SAM-Moleküls und der Metallschicht führt. Deswegen ist die Haftung der SAM-Schicht auf der Elektrodenoberfläche exzellent. Die SAM Moleküle sind lineare Moleküle, die an einem Ende mit einer substratspezifischen Ankergruppe versehen sind. Sie bilden auf Oberflächen dünne, monomolekuare Schichten aus. Die Schichtdicke liegt im Bereich einer Moleküllänge und damit zwischen 0.5–5 nm. Die SAMs bilden chemisch und thermisch äußerst widerstandsfähige Schichten aus, sofern Ankergruppe und Oberfläche optimal angepasst sind, siehe dazu auch [1] Halik, M.; Klauk, H.; Zschieschang, U., Schmid, G.; Dehm, C., Schütz, M.; Maisch, S.; Effenberger, F.; Brunnbauer, M.; Stellacci, F.; "Low-voltage organic transistors with an amorphous molecular gate dielectric", Nature 431 (2004) 963–966 und [2] Xia, Y.; Whitesides G. M.; "Softlithography", Angew. Chem. 110 (1998) 568–594.
- Beispielhafte Strukturen für SAM Moleküle sind unten gezeigt. Die Kopfgruppe kann auch aus der Menge der Ankergruppen ausgewählt sein.
- Folgende Reste für die gezeigten Strukturen 1, 2, 3 und 4 seien beispielhaft und bevorzugt genannt:
In 1 können unabhängig voneinander R1, R2, R3 = H, Cl, Br, J, OH, O-Alkyl, wobei Alkyl = Methyl, Ethyl, n-Propyl, i-Propyl, n-Butyl, sec-Butyl, tert-Butyl, sowie deren verzweigte und/oder unverzweigte höhere Homologen sein. Im Sinne der Erfindung sind auch Gruppen wie Benzyl, oder ungesättigte Alkenylgruppen. Einschränkend ist beispielsweise wenigstens ein R1, R2 und R3 nicht H. - In 2 können unabhängig voneinander R4 = H, Cl, Br, J, OH, O-SiR1R2R3; O-Alkyl, wobei Alkyl = Methyl, Ethyl, n-Propyl, i-Propyl, n-Butyl, sec-Butyl, tert-Butyl, sowie deren verzweigte und/oder unverzweigte höhere Homologen sein. Im Sinne der Erfindung sind auch Gruppen wie Benzyl, oder ungesättigte Alkenylgruppen. R1, R2 R3 analog in 1. Für den Fall O-SiR1R2R3 sollte R1, R2, R3 nur Alkyl oder H sein
- In 3 können unabhängig voneinander R5, R6 = H, Cl, Br, J, OH, O-Alkyl, wobei Alkyl = Methyl, Ethyl, n-Propyl, i-Propyl, n-Butyl, sec-Butyl, tert-Butyl, sowie deren verzweigte und/oder unverzweigte höhere Homologen sein. Im Sinne der Erfindung sind auch Gruppen wie Benzyl, oder ungesättigte Alkenylgruppen. Der Phosphonsäureanker stellt die besonders bevorzugte Variante dar.
- In 4 können unabhängig voneinander R7 = Cl, Br, J, OH; O-Alkyl, wobei Alkyl = Methyl, Ethyl, n-Propyl, i-Propyl, n-Butyl, sec-Butyl, tert-Butyl, sowie deren verzweigte und/oder unverzweigte höhere Homologen sein. Im Sinne der Erfindung sind auch Gruppen wie Benzyl, oder ungesättigte Alkenylgruppen.
- Im Sinne der Erfindung sind aber auch komplexere Ankersysteme, wie beispielsweise Hydroxamsäure-[2, 3], Oxim- [2], Iso-Nitril- und Phosphin-basierte [2] Ankergruppen (siehe Folkers J. P; Gorman C. B.; Laibinis, P. E.; Buchholz, S; Whitesides G. M.; Nuzzo R. G.; "Self-Assembled Monolagers of Long-Chain Hydroxamic Acids on the Native Oxide of Metals"; Langmiur 11 (1995) 813–824).
- Die Molekülkette bestimmt die elektrischen Eigenschaften der selbstorganisierenden Monolage. Insbesondere der Einsatz als Dielektrikum wurde intensiv untersucht
DE 10328 811 A1 ,DE 10328810 A1 ,DE 10 2004 025 423 A1 ,DE 10 2004 022 603 A1 ,US 02005 01 89536 A1 - In den oben zitierten Druckschriften sind die selbstorganisierenden Schichten offenbart, die gemäß der vorliegenden Erfindung bevorzugt eingesetzt werden.
- Beispiele für Molekülketten
-
- a. Alkylketten mit 2–20 Kohlenstoffatomen in der Kette, besonders bevorzugt 10–18.
- b. Fluorierte Alkylketten mit 2–20 Kohlenstoffatomen in der Kette, besonders bevorzugt 10–18.
- c. Alkylketten mit 2–20 Kohlenstoffverbindungen und
Arylgruppen als Kopfgruppen analog (
DE 103 28 811A1 , undDE 103 28 810 A1 ). Besonders bevorzugt 10–18. Die Arylgruppen wirken sich besonders vorteilhaft durch die Ausbildung von π-π-Wechselwirkungen auf die Stabilität der SAM auf der Metalloberfläche aus. Die Arylgruppen können substituiert oder unsubstituiert sein. Als Substituenten kommen wiederum Alkylgruppen (fluoriert, ungesättigt, Halogene, S, N, P haltig). - d. Anstelle einer Alkylkette kann auch eine Polyethylenglykol oder Polyethylendiaminkette Verwendung finden.
- e. Gemischte Varianten aus a–e.
- Durch die Mischung verschiedener Moleküle in der SAM-Schicht können die physikalischen Eigenschaften der SAM-Schicht wie Leitfähigkeit, Barrierewirkung, Lage der HOMO/LUMO-Levels, Transparenz etc. gezielt eingestellt werden.
- Die Varianten der Alkylketten und der fluorierten Alkylketten tragen als Kopfgruppe eine Methyl-, oder fluorierte Alkylkette. Folgende, die SAM stabilisierende aromatischen Kopfgruppen sind Ausführungsbeispiele im Sinne der Erfindung. Besonders bevorzugt ist die Phenoxy-Gruppe. Die Aromaten können entweder direkt oder über O, S, N, P, C=C, C≡C, an die Molekülkette angebunden sein. Besonders vorteilhaft ist es, wenn die Kopfgruppen zusätzlich ankergruppenhaltige Substituenten tragen, die die nachfolgende Metallschicht wieder kovalent in den Stack einbinden können.
- Für den Aufbau des Multilagensystems ist die Möglichkeit der Abscheidung aus der Gasphase besonders vorteilhaft. Zur Abscheidung aus der Gasphase wird das Substrat in einem Vakuumrezipienten den verdünnten bzw. unverdünnten Dämpfen der entsprechenden Verbindung für 0.1–10 min ausgesetzt. Der bevorzugte Druck liegt zwischen 10–8–1000 mbar. Zur Verdünnung dienen Edelgase wie He, Ne, Ar, Kr oder Xe bzw. inerte Gase wie N2. Die bevorzugte Temperatur liegt unterhalb 200°C. Die Silane können im Allgemeinen direkt verdampft werden. Im Falle der Phosphonsäure, Carbonsäure und Sulfonsäureanker sind deren Ester oder reaktiven Derivate besonders bevorzugt, da sich diese leichter verdampfen lassen. Im Anschluss an die Abscheidung wird überschüssiges Material durch Abpumpen bzw. Heizen des Substrates und ggf. durch nachträgliches Spülen entfernt. Die Abscheidung der nächsten Metallschicht kann dann im gleichen Vakuumrezipienten erfolgen.
- Alternativ kann die SAM-Verbindung auch aus Lösung aufgebracht werden. Im Anschluss an die Deposition wird optional ein Temperaturschritt und/oder Belichtungsschritt eingefügt, um die chemische Reaktion zu vervollständigen. Anschließend wir das beschichtete Substrat mit Lösungsmittel gespült um ggf. überschüssiges und nicht an die Oberfläche gebundene SAM-Materialien abzuspülen.
- Die SAM-Verbindung wird zur Abscheidung aus Lösung in einer Konzentration von 0.01–1000 mMol in einem Lösungsmittel bzw. Mischungen aus diesen gelöst.
- a. Kohlenwasserstoffe, wie Pentan, Hexan, Heptan, Octan etc., Benzol, Toluol, Xylol, Cresol, Tetralin, Decalin etc.
- b. Chlorierte Kohlenwasser, wie Dichlormethan, Chloroform, Tetrachlorkohlenstoff, Trichlorethylen, Chlorbenzol, Dichlorbenzol etc.
- c. Alkohole wie Methanol, n-Propanol, i-Propanol, Butanol etc.
- d. Ether und cyclische Ether wie Diethylether, Diphenylether, Tetrahydrofuran, Dioxan
- e. Ester wie Essigsäureethylester
- f. Dimethylformamid, Dimethylsulfoxid, N-Methylpyrrolidinon, γ-Butyrolacton, Cyclohexanon etc.
- Die Ablagerung der SAM auf der Oberfläche erfolgt praktisch spontan.
- Die Reduktion des Dunkelstroms von organischen Photodetektoren, speziell bei Polung in Sperrrichtung ist eine wichtige Notwendigkeit, um organischen Photodetektoren in industrielle Anwendungen zu bringen. Selbstorganisierende Schichten (Self Assambled Monolayers – SAM) scheinen dabei eine sehr gute Möglichkeit zu sein, dies zu erreichen.
-
1 zeigt ein Standard-Schichtsystem eines organischen Photodetektors. Auf einem Substrat1 liegt die untere Elektrode2 , die beispielsweise die Anode bildet und aus Gold ist. Darauf bei dem hier als Einschichtsystem gezeigten Photodetektor liegt die organische photoaktive Schicht3 , beispielsweise aus einem Blend von zwei Materialien, Polymer und Ful leren. Den Abschluss bildet die obere Elektrode4 , beispielsweise die Kathode aus Calcium mit einer Aluminium-Deckschicht. - In
2 ist das dazugehörige Potentialniveau-Diagramm nach dem Stand der Technik für den Aufbau aus1 skizziert. Dies gilt für den Fall einer negativen Bias-Spannung. Da die aktive Schicht aus einem Blend von zwei Materialien besteht, sind die HOMO- und LUMO-Niveaus der beiden Komponenten parallel gezeichnet. -
3 zeigt schließlich ein Potentialniveau-Diagramm für den erfindungsgemäßen Device-Aufbau mit einer zusätzlichen Elektronenblockier-Schicht, beispielsweise zwischen der unteren Elektrode und der Lochtransportschicht oder der organischen photoaktiven Schicht. Der HOMO-Level der Elektronenblockierschicht liegt dabei nahe dem HOMO-Level der Lochtransport-Komponente und gleichzeitig nahe dem Energieniveau des Anodenmaterials, so dass möglichst keine zusätzliche Barriere zur Loch-Extraktion entsteht. Der HOMO-LUMO-Abstand ist gleichzeitig so hoch (> 2.5 eV), dass das LUMO-Niveau eine Barriere für die negativen Ladungsträger darstellt. Mit Pfeilen gezeigt sind die beiden unerwünschten Prozesse, Elektroneninjektion an der Anode und Lochinjektion an der Kathode, die beide zum Dunkelstrom beitragen können und von denen der erste durch die zusätzliche Elektronenblockierschicht oder Barriereschicht wesentlich reduziert wird. - Der organische Photodetektor kann auch invers aufgebaut sein, so dass die SAM-Schicht, wenn sie auf der unteren Elektrode angebracht ist, an die Kathode anschließt. Ebenso gut kann eine SAM-Schicht, beispielsweise auch zusätzlich, zwischen photoaktiver Schicht und oberen Elektrode angeordnet sein.
- Die Erfindung zeigt erstmals die Anwendbarkeit von SAM-Schichten in organischen Photodetektoren.
- ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
- Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
- Zitierte Patentliteratur
-
- - DE 102005037421 [0009, 0009]
- - DE 102006046210 [0009]
- - DE 10328811 A1 [0012, 0023, 0024]
- - DE 10328810 A1 [0012, 0023, 0024]
- - DE 102004025423 A1 [0012, 0023]
- - DE 102004022603 A1 [0012, 0023]
- - US 020050189536 A1 [0012, 0023]
- Zitierte Nicht-Patentliteratur
-
- - Ackermann et al., PNAS, 104, 11161 (2007) [0014]
- - M. Halik et. al. Adv. Mater. 15, 917 (2003) [0014]
- - Halik, M.; Klauk, H.; Zschieschang, U., Schmid, G.; Dehm, C., Schütz, M.; Maisch, S.; Effenberger, F.; Brunnbauer, M.; Stellacci, F.; "Low-voltage organic transistors with an amorphous molecular gate dielectric", Nature 431 (2004) 963–966 [0016]
- - Xia, Y.; Whitesides G. M.; "Softlithography", Angew. Chem. 110 (1998) 568–594 [0016]
- - siehe Folkers J. P; Gorman C. B.; Laibinis, P. E.; Buchholz, S; Whitesides G. M.; Nuzzo R. G.; "Self-Assembled Monolagers of Long-Chain Hydroxamic Acids on the Native Oxide of Metals"; Langmiur 11 (1995) 813–824 [0022]
Claims (11)
- Organischer Photodetektor, eine obere (
4 ) und eine untere Elektrode (2 ) mit dazwischen zumindest einer photoaktiven Schicht (3 ) umfassend, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen der photoaktiven Schicht (3 ) und der unteren Elektrode (2 ), eine Elektronenblockierschicht angeordnet ist, die zumindest eine selbstorganisierte SAM-Schicht umfasst. - Photodetektor nach Anspruch 1, wobei die SAM-Schicht Moleküle enthält, die jeweils eine Kopf-Gruppe mit pi-pi-Wechselwirkung, eine Ankergruppe sowie dazwischen eine Molekülkette haben.
- Photodetektor nach Anspruch 1, wobei die SAM-Schicht Moleküle enthält, die jeweils eine Kopf-Gruppe ohne Wechselwirkung, eine Ankergruppe sowie dazwischen eine Molekülkette haben.
- Photodetektor nach einem der vorstehenden Ansprüche mit inversem Aufbau, wobei die Kathode die untere Elektrode bildet, auf der die zumindest eine SAM-Schicht angeordnet ist.
- Photodetektor nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei der Photodetektor Moleküle enthält, deren Ankergruppen ausgewählt sind aus der Gruppe folgender Verbindungen: mit folgenden Resten: R1, R2, R3 = H, Cl, Br, J, OH, O-Alkyl, wobei Alkyl = Methyl, Ethyl, n-Propyl, i-Propyl, n-Butyl, sec-Butyl, tert-Butyl, R4 = H, Cl, Br, J, OH, O-SiR1R2R3; O-Alkyl, wobei Alkyl = Methyl, Ethyl, n-Propyl, i-Propyl, n-Butyl, sec-Butyl, tert-Butyl, R5, R6 = H, Cl, Br, J, OH, O-Alkyl, wobei Alkyl = Methyl, Ethyl, n-Propyl, i-Propyl, n-Butyl, sec-Butyl, tert-Butyl, R7 = Cl, Br, J, OH; O-Alkyl, wobei Alkyl = Methyl, Ethyl, n-Propyl, i-Propyl, n-Butyl, sec-Butyl, tert-Butyl sowie deren verzweigte und/oder unverzweigte höhere Homologe.
- Photodetektor nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die SAM-Schicht Molekülen enthält, deren Molekülkette ausgewählt ist aus der Gruppe folgender Molekülketten: -Alkylkette mit 2–20 Kohlenstoffatomen in der Kette; -fluorierte Alkylkette mit 2–20 Kohlenstoffatomen in der Kette; Alkylkette mit 2–20 Kohlenstoffverbindungen und/oder Arylgruppen als Kopfgruppen und/oder Polyethylenglykol oder eine Polyethylendiaminkette oder eine beliebige Mischung aus diesen Molekülketten.
- Photodetektor nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die SAM-Schicht Moleküle enthält, deren Kopfgruppe ausgewählt ist aus der Gruppe folgender Gruppen: Methyl-, fluorierte Alkyl-kette; Phenoxy-Gruppe und/oder wobei die Aromaten entweder direkt oder über O, S, N, P, C=C, C≡C, an die Molekülkette angebunden sind und beliebige Substituenten tragen können.
- Photodetektor nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die SAM-Schicht erhältlich ist durch Abscheidung aus der Gasphase oder durch Aufbringung aus der Lösung.
- Verwendung einer selbstorganisierenden SAM-Schicht zwischen Anode und photoaktiver Schicht eines organischen Photodetektors, zumindest eine Monolage zumindest einer selbst organisierenden Molekülart enthaltend, wobei die Moleküle jeweils zumindest eine Kopf und eine Ankergruppe sowie ein dazwischen angeordnetes Gerüst enthalten.
- Verwendung einer selbstorganisierenden SAM-Schicht zwischen Anode und photoaktiver Schicht eines organischen Photodetektors, wobei die SAM-Schicht ausgewählt ist aus den in den Ansprüchen 3 bis 6 beanspruchten SAM-Schichten.
- Verwendung nach einem der Ansprüche 7 oder 8, wobei die SAM-Schicht eine Mischung von Molekülen enthält, so dass sie in ihrer Barrierewirkung dem Dunkelstrom und von der Lage ihrer HOMO-LUMO Niveau den Potentialniveau der sie umgebenden Schichten optimal angepasst ist.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102007046444A DE102007046444A1 (de) | 2007-09-28 | 2007-09-28 | Organischer Photodetektor mit reduziertem Dunkelstrom |
US12/680,586 US20100207112A1 (en) | 2007-09-28 | 2008-09-05 | Organic photodetector having a reduced dark current |
EP08803709A EP2206172A1 (de) | 2007-09-28 | 2008-09-05 | Organischer photodetektor mit reduziertem dunkelstrom |
PCT/EP2008/061739 WO2009043683A1 (de) | 2007-09-28 | 2008-09-05 | Organischer photodetektor mit reduziertem dunkelstrom |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102007046444A DE102007046444A1 (de) | 2007-09-28 | 2007-09-28 | Organischer Photodetektor mit reduziertem Dunkelstrom |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102007046444A1 true DE102007046444A1 (de) | 2009-04-02 |
Family
ID=40014346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102007046444A Ceased DE102007046444A1 (de) | 2007-09-28 | 2007-09-28 | Organischer Photodetektor mit reduziertem Dunkelstrom |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20100207112A1 (de) |
EP (1) | EP2206172A1 (de) |
DE (1) | DE102007046444A1 (de) |
WO (1) | WO2009043683A1 (de) |
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