DE102006018287A1 - Spectrometer for evaluating e.g. paper, has halogen lamps strung in line in defined distances and transverse to material or object stream, and light receiving optics arranged such that optic axis lies in symmetrical plane of light radiation - Google Patents

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Abstract

The spectrometer has halogen lamps (1) strung in a line in defined distances and transverse to a material or object stream. Light receiving optics (3, 4) alternate to the halogen lamps are arranged such that an optic axis of the light receiving optics lies in a symmetrical plane of a light radiation (8). The optics have a light guiding cable that is arranged between the halogen lamps. The material or object stream runs through an one-dimensional focus of an elliptical cylindrical mirror (2) and the optic axis runs perpendicular to the focus, such that the focus is aligned to the stream. An independent claim is also included for a method for spectrum-analysis evaluation of raw material or objects.

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur spektralanalytischen Bewertung von Materialien oder Objekten in einem Material- oder Objektstrom, mit mehreren Lichtquellen und mehreren Optiken, mit welchen von den Materialien oder Objekten transmittiertes, remittiertes oder reflektiertes Licht an einen Spektrographen übertragen wird. Hierbei und im folgenden wird unter dem von den Materialien oder Objekten transmittierten Licht das Licht verstanden, das durch die Materialien oder Objekte infolge Transmission hindurchgelassen wird.The The invention relates to a device and a method for spectral analytical Evaluation of materials or objects in a material or Object current, with multiple light sources and multiple optics, with which remits transmitted by the materials or objects or reflected light is transmitted to a spectrograph. Here and below is under the of the materials or Objects transmitted light understood the light that passes through the Materials or objects is transmitted due to transmission.

Spektrometer zur Bewertung von Rohmaterialien und Produkten sind aus dem Stand der Technik bekannt. Einen guten Überblick über dieses Verfahren gibt das Buch „IR-Spektroskopie" von H. Günzler und H. M. Heise, das 1996 in der VCH Verlagsgesellschaft mbH erschienen ist. Bei der Messung der spektralen Eigenschaften von Proben ist zu beachten, dass die Spektrometer selbst spektral nicht neutral sind. Wesentliche Bestandteile der Spektrometer sind die Lichtquellen, die Optiken und die Sensoren, die jeweils ein eigenes spektrales Verhalten zeigen. Misst man mit einem Spektrometer die spektrale Eigenschaften einer Probe, so hat man stets den Einfluss des Spektrometers zu berücksichtigen. In der Regel erfolgt das durch Messung gegen eine bekannte Referenzprobe.spectrometer for the evaluation of raw materials and products are up to date known to the art. A good overview of this procedure gives that Book "IR Spectroscopy" by H. Günzler and H. M. Heise, published in 1996 in the VCH Verlagsgesellschaft mbH is. When measuring the spectral properties of samples is Note that the spectrometers themselves are not spectrally neutral are. Essential components of the spectrometers are the light sources, the optics and the sensors, each with its own spectral Show behavior. If one measures the spectral with a spectrometer Properties of a sample, one always has the influence of the spectrometer to take into account. As a rule, this is done by measurement against a known reference sample.

Unter dem Kapitel „Spektralzerlegung" werden in dem genannten Buch auf den Seiten 58 bis 61 derartige Anordnungen beschrieben, wobei die Referenzprobe in einem Vergleichsstrahlengang gemessen wird. Der Vergleichsstrahlengang muss gleiche optische Eigenschaften wie der Messstrahlengang besitzen und das Licht muss über optische Umschalter abwechselnd zur Messprobe und zur Referenzprobe gelenkt werden. Das ist technisch sehr aufwendig und für den Einsatz bei der Bewertung von Rohmaterialien und Produkten im Produktionsprozess ungeeignet.Under the chapter "Spectral decomposition" are mentioned in the Book on pages 58 to 61 such arrangements described wherein the reference sample is measured in a comparison beam path becomes. The comparison beam path must have the same optical properties like the measuring beam path own and the light must have optical Switch alternately directed to the sample and to the reference sample become. This is technically very complicated and for use in the evaluation unsuitable for raw materials and products in the production process.

Nach dem Stand der Technik erfolgt ferner die Anordnung der Probe in dem Strahlengang stets in einer definierten Position. Die Messung der Probe aus einiger Entfer nung oder in schneller Bewegung wird gänzlich unmöglich. Das ist jedoch für viele Aufgaben der Qualitätskontrolle im Prozess unerlässlich.To The state of the art is also the arrangement of the sample in the beam path always in a defined position. The measurement the sample from some distance or in rapid motion completely impossible. That is however for many tasks of quality control essential in the process.

Zur Messung der Remission oder Reflexion von Proben wird die spektrale Verteilung der Intensität des eingestrahlten Lichtes mit der spektralen Verteilung der Intensität des remittierten Lichtes verglichen. Dabei wird nach dem Stand der Technik auf ein mit einer bekannten Remission diffus streuendes, spektral neutrales Medium Bezug genommen. Für die Remission an der Probe wird eine Kosinus-Verteilung vorausgesetzt.to Measuring the remission or reflection of samples is the spectral Distribution of intensity of the incident light with the spectral distribution of the intensity of the remitted Light compared. It is based on the prior art on with a known remission diffuse scattering, spectrally neutral Medium reference. For the Remission at the sample is assumed to be a cosine distribution.

Die Eichung des Spektrometers erfolgt mit Eichstandards, deren Remission angegeben ist und die am Ort der Probe gemessen wird. Die Kalibrierung des Messsystems erfolgt dabei durch Abarbeitung einer Eichroutine. Da sowohl die Lichtquellen als auch die Sensoren über die Zeit in ihrer Funktion nicht konstant bleiben, muss die Kalibrierung des Systems möglichst zeitnah zur Probenmessung erfolgen, was durch das aufwändige Handling umständlich ist.The Calibration of the spectrometer is done with calibration standards whose remission and measured at the location of the sample. The calibration The measuring system is carried out by processing a calibration routine. Since both the light sources and the sensors on the Time does not remain constant in its function, the calibration must the system as possible promptly for sample measurement, which is due to the complex handling laborious is.

Für den Einsatz im Produktionsprozess sind geeignete Kalibrierungsmethoden bisher nur in der Patentschrift DE 102 33 375 beschrieben. Dabei wird das Messlicht zur Probe durch ein das Licht streuendes Messfenster gelenkt. Das in den Strahlengang dort zurückgestreute Licht wird bei fehlender Probe zur Kalibrierung des Messsystems genutzt. Das von der Probe remittierte Messlicht sowie das am Messfenster direkt gestreute Licht wird über Umlenkspiegel aus der Symmetrieachse oder Symmetrieebene der Einstrahlung seitlich ausgekoppelt. Linsen oder Linsenkombinationen sammeln das Licht für die Erfassung in einem Spektrographen.Up to now, suitable calibration methods for use in the production process are only in the patent specification DE 102 33 375 described. The measuring light is directed to the sample through a measuring window that scatters the light. The light scattered back into the beam path is used to calibrate the measuring system if there is no sample. The measuring light remitted by the sample and the light directly scattered at the measuring window are coupled out laterally via deflecting mirrors from the symmetry axis or plane of symmetry of the irradiation. Lenses or lens combinations collect the light for detection in a spectrograph.

Diese Anordnung zeigt gute Ergebnisse bei Messobjekten unmittelbar hinter dem streuenden Messfenster. Bei größerer Entfernung wird das Messsystem sehr lichtschwach und eine sichere analytische Bewertung der Proben wird unmöglich. Die seitliche Auskopplung des Messlichtes wird besonders bei Messkopfzeilen mit einer hohen Anzahl an Messspuren durch die seitliche Anordnung von vielen Messoptiken sehr aufwändig und hat sich auf Grund der hohen Kosten bisher nicht durchgesetzt. Auch fehlt eine geeignete Lösung der Messung von Produkten auf bewegten Bändern von oben, wobei eine Messung durch ein streuendes Messfenster auf Grund der geringen Lichtstärke des Messsystems nicht möglich ist.These Arrangement shows good results for DUTs immediately behind the scattering measurement window. At a greater distance the measuring system becomes very faint and a safe analytical evaluation of the samples becomes impossible. The lateral decoupling of the measuring light becomes especially with measuring head lines with a high number of measuring tracks due to the lateral arrangement very complex from many measuring optics and has not yet prevailed because of the high cost. Also lacks a suitable solution the measurement of products on moving belts from above, wherein a Measurement by a scattering measuring window due to the low luminous intensity of the measuring system not possible is.

Ferner ist aus der Patentschrift DE 695 08 594 ein Verfahren und eine Vorrichtung bekannt, bei der Material auf unterschiedliche Zusammensetzung geprüft wird. Dabei wird Messlicht auf einen breiten Materialstrom gerichtet und das von dem Material remittierte Licht über die gesamte Breite des Stromes von einer Empfangseinrichtung aufgenommen und zur Bewertung des Materials genutzt. In der 1 dieser Patentschrift sind dazu einer Reihe von Detektionspunkten, bestehend aus Linsen und optischen Fasern, Lichtquellen zugeordnet. Die Lichtquellen strahlen direkt auf die Materialien, wobei die Brennweite der Lichtquellen als nicht besonders kritisch angesehen wird.Furthermore, from the patent DE 695 08 594 a method and apparatus is known in which material is tested for different composition. In this case, measuring light is directed to a broad material flow and the light remitted by the material is received over the entire width of the current by a receiving device and used to evaluate the material. In the 1 This patent is assigned to a number of detection points, consisting of lenses and optical fibers, light sources. The light sources radiate directly onto the materials, with the focal length of the light sources not being considered particularly critical.

Das Licht an den Detektionspunkten wird einer Empfangseinrichtung zugeführt und letztlich in einer Datenberechnungseinrichtung die Materialzusammensetzung bestimmt. Mangelhaft an dieser Messweise ist, dass die Spektren bedingt durch die schlechten optischen Eigenschaften der beschriebenen Anordnung und das Fehlen einer geeigneten Kalibrierung systematische Fehler besitzen und bereits eine grobe Identifizierung der Materialien schwierig ist. In der genanten Patentschrift werden daher zur Verbesserung der Messergebnisse in der Datenberechnungseinrichtung die Daten von den einzelnen Detektionspunkten zur Ausbildung einer zweidimensionalen Simulation des durch die Detektionsstation hindurchbewegten Materials benutzt und damit die Zuverlässigkeit der Materialbestimmung verbessert. Auch mit diesem zusätzlichen Aufwand bleiben die Ergebnisse bei der Materialbestimmung auf eine reine Identifizierung der Materialien beschränkt. Eine Bestimmung der Materialzusammensetzung und möglicher Zusätze bis in den Spurenbereich kann nicht geleistet werden.The light at the detection points is fed to a receiving device and, finally, the material composition is determined in a data calculating device. Poor at this Measurement is that the spectra due to the poor optical properties of the described arrangement and the lack of a suitable calibration have systematic errors and even a rough identification of the materials is difficult. In the cited patent document, therefore, in order to improve the measurement results in the data calculation device, the data from the individual detection points are used to form a two-dimensional simulation of the material moving through the detection station, thereby improving the reliability of the material determination. Even with this additional effort, the results in material determination remain limited to a pure identification of the materials. A determination of the material composition and possible additives up to the trace range can not be done.

Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zur spektralanalytischen Messung und ein Spektrometer zur Verfügung zu stellen, mit welchen eine zuverlässige spektralanalytische Bewertung von Materialien oder Objekten in einem Objektstrom mit einem kompakten Aufbau und geringem Aufwand realisiert werden kann.It The object of the present invention is a method for spectral analytical To provide measurement and a spectrometer with which a reliable one Spectral analysis of materials or objects in a stream of objects be realized with a compact design and little effort can.

Die Aufgabe wird durch eine Vorrichtung der oben genannten Art gelöst, wobei in definierten Abständen und quer zum Objektstrom Lichtquellen in einer Zeile aufgereiht sind, und abwechselnd zu den Lichtquellen Lichtaufnahmeoptiken derart angeordnet sind, dass die optischen Achsen der Lichtaufnahmeoptiken in der Symmetrieebene der Lichteinstrahlung liegen.The The object is achieved by a device of the type mentioned above, wherein at defined intervals and transverse to the object current light sources lined up in a row are, and alternately to the light sources Lichtaufnahmeoptiken such are arranged such that the optical axes of the light-receiving optics lie in the plane of symmetry of the light irradiation.

Mit der erfindungsgemäßen Anordnung kann der Zwischenraum zwischen den Lichtquellen effektiv durch die Lichtaufnahmeoptiken genutzt werden. Infolge der Platzersparnis entsteht ein einfacher, kompakter Aufbau eines Spektrometers. Zudem können durch die abwechselnde Anordnung von Lichtaufnahmeoptiken und Lichtquellen, durch welche die Lichtaufnahmeoptiken im Bezug auf die optischen Achsen zwischen bzw. neben den Lichtquellen platzierbar sind, geringe optische Wege für das von den Materialien oder Objekten transmittierte, remittierte oder reflektierte Licht erzielt werden. Im Vergleich zu herkömmlichen, oben beschriebenen Vorrichtungen können die Lichtaufnahmeoptiken der erfindungsgemäßen Vorrichtung damit dicht an den zu bewertenden Materialien oder Objekten angeordnet werden, wodurch das aufgenommene Licht bei gleicher Bestrahlung der Materialien oder Objekte eine stärkere Intensität als bei den Vorrichtungen im Stand der Technik besitzt, bei welchen das Licht durch Umlenkspiegel seitlich aus der Vorrichtung auf eine Lichtaufnahmeoptik geleitet wird. Infolgedessen kann die Intensität des Lichtes, das von den Lichtquellen auf die Materialien oder Objekte gerichtet wird, verringert werden, wodurch die Temperaturbelastung der Vorrichtung als auch der Materialien oder Objekte reduziert werden kann.With the inventive arrangement the space between the light sources can effectively through the Photographic optics are used. As a result of saving space creates a simple, compact construction of a spectrometer. furthermore can through the alternating arrangement of light-receiving optics and light sources, through which the light-receiving optics with respect to the optical axes can be placed between or next to the light sources, low optical Ways for that transmitted or remitted from the materials or objects reflected light can be achieved. Compared to conventional, As described above, the light-receiving optics can be used the device according to the invention thus arranged close to the materials or objects to be evaluated become, whereby the received light with same irradiation the materials or objects have a stronger intensity than at the devices in the prior art, in which the Light by deflecting mirror laterally out of the device on a Light receiving optics is passed. As a result, the intensity of the light, that is directed from the light sources to the materials or objects will be reduced, reducing the temperature load on the device as well as the materials or objects can be reduced.

Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung sind die Lichtquellen in einem ersten Fokus eines elliptischen Zylinderspiegels angeordnet. Auf diese Weise kann eine hohe Tiefenschärfe der Messanordnung realisiert werden.According to one advantageous embodiment of the Invention are the light sources in a first focus of an elliptical Cylinder mirror arranged. In this way, a high depth of field of the Measuring arrangement can be realized.

In einem besonders günstigen Beispiel der Erfindung verläuft der Material- oder Objektstrom durch einen zweiten eindimensionalen Fokus des Zylinderspiegels und die optischen Achsen der Lichtaufnahmeoptiken verlaufen senkrecht durch den zweiten eindimensionalen Fokus. Entsprechend kann der Fokus genau auf den Objektstrom ausgerichtet werden, wodurch eine besonders zuverlässige Bewertung der Materialien oder Objekte, zumindest in qualitativer Hinsicht, erzielbar ist.In a particularly favorable Example of the invention runs the material or object stream through a second one-dimensional Focus of the cylindrical mirror and the optical axes of the light-receiving optics are perpendicular through the second one-dimensional focus. Accordingly the focus can be precisely aligned to the object stream, thereby a particularly reliable rating the materials or objects, at least in qualitative terms, is achievable.

Vorzugsweise umfassen die Lichtaufnahmeoptiken Lichtleitkabel. Lichtleitkabel besitzen den Vorteil, dass sie flexibel zwischen den Lichtquellen platziert werden können. Zudem ist es möglich, bei Einsatz von Lichtleitkabeln die Abstände zwischen den Lichtaufnahmeoptiken flexibel einzustellen. Entsprechend kann die Vorrichtung in Abhängigkeit von dem jeweiligen Einsatzfall mit geringem Aufwand flexibel aus- bzw. umgerüstet werden.Preferably The light-receiving optics include optical cables. optical cable have the advantage that they are placed flexibly between the light sources can be. It is also possible When using fiber optic cables, the distances between the light receiving optics flexible. Accordingly, the device depending on flexibly from the respective application with little effort or converted become.

Es hat sich zudem als vorteilhaft erwiesen, wenn die Eintrittsöffnungen der Lichtleitkabel direkt oder mit wenigstens einer davor angeordneten Linse oder Linsenkombination auf den zweiten eindimensionalen Fokus gerichtet sind. Somit können entweder durch die Lichtleitkabel selbst oder mittels des von der Linse oder Linsenkombination zur Verfügung gestellten Lichtsammeleffektes die von den Materialien oder Objekten remittierten oder reflektierten Lichtstrahlen genau, auf direktem optischen Weg erfasst werden.It has also proven to be advantageous if the inlet openings the light guide cable directly or with at least one arranged in front of it Lens or lens combination on the second one-dimensional focus are directed. Thus, you can either by the optical cable itself or by means of the Lens or lens combination provided light-collecting effect those remitted or reflected from the materials or objects Light beams are accurately detected by direct optical path.

Entsprechend einer möglichen Variante der Erfindung sind die Lichtquellen und der Zylinderspiegel unterhalb eines in einer Transporteinrichtung für den Objektstrom vorgesehenen Messfensters derart angeordnet, dass Licht durch das Messfenster verläuft und der zweite Fokus des Zylinderspiegels in dem Messfenster liegt. Diese Anordnung besitzt den Vorteil, dass ein definierter Abstand der Lichtquellen und der Lichtaufnahmeoptiken der erfindungsgemäßen Vorrichtung zu den zu bewertenden Materialien oder Objekten vorliegt. Auf diese Weise kann nicht nur eine sehr genaue qualitative Auswertung sondern auch eine präzise quantitative Bewertung der zu messenden Materialien oder Objekte erfolgen. Beispielsweise könnte hiermit bei in dem Material- oder Objektstrom befindlichen Materialien aus Papier ermittelt werden, welche Anteile an Lignin und Mineralien im Papier enthalten sind.According to a possible variant of the invention, the light sources and the cylindrical mirror are arranged below a measuring window provided in a transport device for the object flow such that light passes through the measuring window and the second focus of the cylindrical mirror lies in the measuring window. This arrangement has the advantage that there is a defined distance of the light sources and the light-receiving optics of the device according to the invention to the materials or objects to be evaluated. In this way, not only a very accurate qualitative evaluation but also a precise quantitative assessment of the materials or objects to be measured can take place. By way of example, it would be possible to determine in the material or object stream of paper materials which shares of lignin and minera contained in the paper.

Anstelle des Einsatzes eines Messfensters können in einer anderen, ebenfalls geeigneten Ausführungsform der Erfindung Messungen und Bewertungen von Materialien oder Objekten im freien Fall durch eine seitliche Messung erfolgen.Instead of the use of one measurement window can be in another, as well suitable embodiment Invention Measurements and Evaluations of Materials or Objects in free fall by a lateral measurement.

Gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung ist das Messfenster in einer Rutsche für die Materialien oder Objekte vorgesehen. Durch diese Konstruktion ist ein genau definierter Abstand zwischen den Lichtquellen und Lichtaufnahmeoptiken der Vorrichtung und den Materialien oder Objekten einstellbar.According to one embodiment In the invention, the measurement window is in a chute for the materials or objects provided. This construction is exactly one defined distance between the light sources and light receiving optics of Device and the materials or objects adjustable.

Dabei ist es von Vorteil, wenn das Messfenster Licht streuende Eigenschaften hat. Somit kann Licht, das von dem Messfenster gestreut wird, wenn keine Materialien oder Objekte über das Messfenster laufen oder darauf liegen, zur Kalibrierung der Messvorrichtung eingesetzt werden.there it is advantageous if the measurement window light scattering properties Has. Thus, light scattered by the measurement window can be ignored if none Materials or objects over the measurement window run or lie on it, to calibrate the Measuring device can be used.

Entsprechend einer anderen Variante der Erfindung sind die Lichtquellen über einer Transporteinrichtung für den Material- oder Objektstrom oder über einer Abwurfkurve der Transporteinrichtung angeordnet, wobei die Transporteinrichtung derart angeordnet ist oder die Flugbahn so verläuft, das oben liegende Flächen oder Bereiche der Materialien oder Objekte im Mittel in dem zweiten eindimensionalen Fokus des Zylinderspiegels liegen. Diese Form der Anordnung ermöglicht eine möglichst genaue Messung der Objekte oder Materialien von oben und reicht in der Regel zur qualitativen Bewertung der Objekte oder Materialien bzw. zu deren Identifikation aus.Corresponding In another variant of the invention, the light sources are above one Transport device for the material or object stream or over a discharge curve of the transport device arranged, wherein the transport device is arranged or the trajectory is so, the overhead surfaces or portions of the materials or objects in the middle in the second one-dimensional focus of the cylinder mirror lie. This form of Arrangement allows one possible accurate measurement of objects or materials from above and enough usually for qualitative evaluation of objects or materials or for their identification.

Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsvariante der Erfindung sind die Lichtaufnahmeoptiken über der Transporteinrichtung für den Material- oder Objektstrom oder über der Abwurfkurve der Transporteinrchtung angeordnet, wodurch eine Messung der Objekte oder Materialien in Reflexion möglich ist.According to one advantageous embodiment The invention relates to the light-receiving optics over the transport device for the Material or object stream or over arranged the discharge curve of the Transportbeirchtung, creating a Measurement of objects or materials in reflection is possible.

Es ist jedoch gemäß einer weiteren Ausbildung der Erfindung auch möglich, die Lichtquellen oberhalb des Material- oder Objektstroms und die Lichtaufnahmeoptiken unterhalb eines in der Transporteinrichtung, wie beispielsweise einer einem Transportband für den Material- oder Objektstrom nachgeordneten Rutsche, vorgesehenen Messfensters anzuordnen, wodurch eine Messung der Materialien oder Objekte in Transmission möglich ist.It is however according to a further embodiment of the invention also possible, the light sources above of the material or object stream and the light receiving optics below one in the transport device, such as a conveyor belt for the Material or object stream downstream chute, provided Measuring window, whereby a measurement of the materials or Objects in transmission possible is.

Die Aufgabe der Erfindung wird ferner durch ein Verfahren der oben genannten Art gelöst, bei welchem Licht von in definierten Abständen und quer zum Material- oder Objektstrom aufgereihten Lichtquellen auf den Material- oder Objektstrom gestrahlt wird, und abwechselnd zu den Lichtquellen angeordnete Lichtaufnahmeoptiken von dem Material- oder Objektstrom transmittiertes, remittiertes oder reflektiertes Licht aufnehmen, wobei die optischen Achsen der Lichtaufnahmeoptiken in der Symmetrieebene der Lichteinstrahlung liegen.The The object of the invention is further achieved by a method of the above Sort of solved, in which light from at defined distances and across the material or object stream lined up light sources on the material or Object current is blasted, and alternately to the light sources arranged light-receiving optics of the material or object stream record transmitted, remitted or reflected light, wherein the optical axes of the light receiving optics in the plane of symmetry of Lichteinstrahlung lie.

Mit diesem Verfahren ist es möglich, das von den Materialien oder Objekten transmittierte, remittierte oder reflektierte Licht direkt, auf einem kurzen optischen Weg zu empfangen. Da die Lichtaufnahmeoptiken dicht an den zu messenden Proben sind, ist die Intensität des aufgenommenen Lichtes stärker als bei bekannten Vorrichtungen im Stand der Technik. Zudem führt das erfindungsgemäße Verfahren dazu, dass ein das Verfahren nutzendes Spektrometer einfach und kompakt gestaltet werden kann.With this method it is possible that transmitted from the materials or objects remitted or reflected light directly, on a short optical path too receive. Since the light-receiving optics close to the measured Samples are, is the intensity the recorded light stronger as in known devices in the prior art. In addition, that leads inventive method to make a spectrometer using the method simple and easy can be made compact.

Gemäß einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens wird das von den Lichtquellen abgestrahlte Licht mit einem elliptischen Zylinderspiegel auf den Material- oder Objektstrom oder die Transporteinrichtung gerichtet. Die von den Lichtquellen ausgesendeten Lichtstrahlen werden in einem zweiten Fokus des Zylinderspiegels fokussiert, durch welchen die Materialien oder Objekte bewegt werden. Auf diese Weise ist es möglich, die Materialien oder Objekte mit einer hohen Lichteffektivität zu messen und zumindest qualitativ präzise zu bewerten.According to one embodiment the method according to the invention becomes the light emitted by the light sources with an elliptical Cylindrical mirror on the material or Object stream or the transport device directed. The of the Light sources emitted light beams are in a second Focus of the cylinder mirror, through which the materials or objects are moved. In this way it is possible the Measure materials or objects with high light efficiency and at least qualitatively precise to rate.

Gemäß einer günstigen Variante der Erfindung wird von den Materialien oder Objekten transmittiertes, remittiertes oder reflektiertes Licht von Lichtleitkabeln direkt oder mit wenigstens einer davor angeordneten Linse oder Linsenkombination aufgenommen und an den Spektrographen geleitet. Die Lichtleitkabel ermöglichen eine räumliche Trennung der Messanordnung mit den Lichtquellen und Aufnahmeoptiken von dem Spektrographen mit der Auswerteelektronik. Das ist für den Einsatz im Produktionsprozess ein wesentlicher Vorteil, da man sich den besonderen Bedingungen des jeweiligen Prozesses besser anpassen kann.According to one Great Variant of the invention is transmitted from the materials or objects, remitted or reflected light from fiber optic cables directly or with at least one lens or lens combination arranged in front of it taken and directed to the spectrograph. The fiber optic cables enable a spatial Separation of the measuring arrangement with the light sources and recording optics from the spectrograph to the transmitter. That's for use In the production process a significant advantage, since you are the special Conditions of the respective process better.

Es ist besonders von Vorteil, wenn das Licht der Lichtquellen so auf die Transporteinrichtung oder eine Abwurfkurve der Transporteinrichtung abgestrahlt wird, dass obenliegende Flächen oder Bereiche der Materialien oder Objekte im Mittel in der Brennebene des Zylinderspiegels liegen. Mit Hilfe dieser Verfahrensvariante können die Materialien oder Objekte von oben zumindest qualitativ genau erfasst werden.It is particularly beneficial when the light from the light sources so on the transport device or a discharge curve of the transport device is emitted, that overhead surfaces or areas of materials or objects lie in the middle in the focal plane of the cylinder mirror. With the help of this process variant, the materials or objects from the top, at least qualitatively accurately.

Gemäß einer anderen Variante der Erfindung wird das Licht der Lichtquellen durch ein in der Transporteinrichtung für den Material- oder Objektstrom vorgesehenes Messfenster gerichtet. Mit Hilfe dieses Verfahrens kann ein genauer Abstand zwischen dem Spektrometer und den zu messenden Objekten oder Materialien eingestellt werden, wodurch neben der quantitativen auch eine sehr genaue qualitative spektralanalytische Auswertung der Materialien oder Objekte erfolgen kann.According to another variant of the invention, the light of the light sources is directed through a measuring window provided in the transport device for the material or object stream. With the help of this method, a precise distance between the spectrometer and the objects to be measured or Be set materials, which can be done in addition to the quantitative and a very accurate qualitative spectral analysis of the materials or objects.

Entsprechend einer weiteren Variante des erfindungsgemäßen Verfahrens wird wenigstens ein Remissionsnormal in dem zweiten Fokus des Zylinderspiegels angeordnet, werden die spektralen Transmissions-, Remissions- oder Reflexionswerte von Materialien oder Objekten mit den Messwerten des Remissionsnormals normiert und werden die normierten spektralen Messwerte einzelner Messkanäle zur spektralanalytischen Bewertung der in den Messkanälen erfassten Materialien oder Objekte verwendet. Beispielsweise kann dann, wenn keine Materialien oder Objekte auf der Transporteinrichtung geführt werden, ein Remissionsnormal oder eine Mehrzahl von Remissionsnormalen in den Strahlengang einzelner Messkanäle eingeschwenkt oder auf eine andere geeignete Art und Weise eingebracht werden, so dass das zugehörige Spektrometer kalibriert werden kann.Corresponding a further variant of the method according to the invention is at least a remission normal arranged in the second focus of the cylinder mirror, are the spectral transmission, remission or reflection values of Materials or objects with the measured values of the remission standard normalized and become the normalized spectral measurements of individual measuring channels for the spectral-analytical evaluation of those recorded in the measuring channels Materials or objects used. For example, if no materials or objects are carried on the transport equipment, a remission normal or a plurality of remission normals in the beam path of individual measuring channels swung in or on a other suitable manner be introduced, so that the associated spectrometer can be calibrated.

Gemäß einer anderen möglichen Variante der Erfindung wird das Licht, das an dem Messfenster gestreut wird, über die Lichtleitkabel zu dem Spektrographen geführt, dort erfasst und bei fehlenden Materialien oder Objekten auf dem Messfenster zur Normierung der gemessenen spektralen Transmission, Remission oder Reflexion der Materialien oder Objekte als Remissionsnormal in einzelnen Messkanälen verwendet. Diese Ausführungsform bietet sich dann an, wenn ein Spektrometer unterhalb eines Messfensters in der Transporteinrichtung oder einer danach angeordneten Rutsche vorgesehen ist und sich keine Gegenstände auf dem Messfenster befinden, wobei das an dem Messfenster gestreute Licht sehr gut für eine Kalibrierung des Spektrometers geeignet ist.According to one other possible Variant of the invention is the light scattered at the measuring window will, over the light guide led to the spectrograph, there detected and missing Materials or objects on the measurement window for normalizing the measured spectral transmission, remission or reflection of the Materials or objects used as reflectance standard in individual measurement channels. This embodiment offers Then, if a spectrometer below a measurement window in the transport device or a slide arranged thereafter is provided and there are no objects on the measuring window, the light scattered on the measuring window is very good for calibration of the spectrometer is suitable.

Nachfolgend werden Ausführungsbeispiele anhand von Zeichnungen erläutert. Es zeigen:following Be exemplary embodiments explained by drawings. Show it:

1 eine schematisierte Darstellung einer erfindungsgemäßen Ausgestaltung des Spektrometers mit einer Zeile von Lampen, einer Zeile von Messoptiken bei der Messung von Produkten auf einem Transportband in einem Schnitt von oben nach unten durch die Bewegungsrichtung eines Materialstromes; 1 a schematic representation of an inventive embodiment of the spectrometer with a row of lamps, a line of measuring optics in the measurement of products on a conveyor belt in a section from top to bottom through the direction of movement of a material flow;

2 eine schematisierte Darstellung einer erfindungsgemäßen Ausgestaltung des Spektrometers wie unter 1 in einem Schnitt von oben nach unten senkrecht zur Bewegungsrichtung des Materialstromes; 2 a schematic representation of an inventive embodiment of the spectrometer as under 1 in a section from top to bottom perpendicular to the direction of movement of the material flow;

3 eine schematisierte Darstellung einer erfindungsgemäßen Ausgestaltung des Spektrometers mit einer Zeile von Lampen, einer Zeile von Messoptiken bei der Messung von Produkten auf einer Rutsche in einem Schnitt von oben nach unten durch die Bewegungsrichtung des Materialstromes; 3 a schematic representation of an inventive embodiment of the spectrometer with a row of lamps, a line of measuring optics in the measurement of products on a slide in a section from top to bottom through the direction of movement of the material flow;

4 eine schematisierte Darstellung einer erfindungsgemäßen Ausgestaltung des Spektrometers wie unter 3 in einem Schnitt von oben nach senkrecht zur Bewegungsrichtung des Materialstromes; 4 a schematic representation of an inventive embodiment of the spectrometer as under 3 in a section from top to vertical to the direction of movement of the material flow;

5 eine schematisierte Darstellung des Spektrographen mit einer Zeilenkamera; 5 a schematic representation of the spectrograph with a line scan camera;

6 eine Darstellung von mit dem Spektrographen gemessenen Signalen; 6 a representation of signals measured with the spectrograph;

7 eine Darstellung einer Remission für zwei unterschiedliche Papiersorten; 7 a representation of a remission for two different types of paper;

8 eine Darstellung einer Remission für zwei unterschiedliche Papiersorten in der zweiten Ableitung; und 8th a representation of a remission for two different types of paper in the second derivative; and

9 eine schematisierte Darstellung einer erfindungsgemäßen Ausgestaltung des Spektrometers mit einer Zeile von Lampen, einer Zeile von Messoptiken bei der Messung von Produkten in Transmission auf einer Rutsche in einem Schnitt von oben nach unten durch die Bewegungsrichtung des Materialstromes. 9 a schematic representation of an inventive embodiment of the spectrometer with a row of lamps, a line of measuring optics in the measurement of products in transmission on a slide in a section from top to bottom through the direction of movement of the material flow.

Bei der Ausführungsform gemäß 1 und 2 ist eine Zeile von Halogenlampen 1 in einer ersten Brennlinie eines elliptischen Zylinderspiegels 2 angeordnet. Die von diesen Lichtquellen 1 ausgesendeten Lichtstrahlen 8 werden in einer zweiten Brennlinie des Konkavspiegels 2 fokussiert, durch die Materialien oder Objekte 12, auf einem Transportband 13 liegend und einen Material- oder Objektstrom ausbildend, bewegt werden. Beide Brennlinien verlaufen senkrecht zur Zeichenebene durch die in 1 gezeichneten Kreuzungspunkte der Messstrahlung. Bei der Fokussierung in die zweite Brennlinie entsteht eine Strahlungstaille, die in dem vorliegenden Beispiel eine Ausdehnung von etwa 3 cm hat.In the embodiment according to 1 and 2 is a line of halogen lamps 1 in a first focal line of an elliptical cylinder mirror 2 arranged. The of these light sources 1 emitted light rays 8th be in a second focal line of the concave mirror 2 focused, through the materials or objects 12 , on a conveyor belt 13 lying and forming a material or object stream, be moved. Both focal lines are perpendicular to the plane through the in 1 drawn crossing points of the measuring radiation. Focusing on the second focal line produces a radiation waist, which in the present example has an extension of about 3 cm.

In dem in den 1 und 2 dargestellten Beispiel sind Kunststoffbehälter aus dem Hausmüll dargestellt, deren Materialzusammensetzung für eine nachfolgende Sortierung gemessen werden soll. Das von den Materialien oder Objekten 12 remittierte Licht 9 ist in der Zusammensetzung charakteristisch verändert und gelangt über eine Reihe von Messoptiken, bestehend aus Linsen 4 und nachgeschalteten Lichtleitkabeln 3, zu einem hier nicht dargestellten optischen Multiplexer.In the in the 1 and 2 shown example, plastic containers are presented from household waste, the material composition is to be measured for subsequent sorting. That of the materials or objects 12 remitted light 9 is characteristically changed in composition and passes through a series of measuring optics consisting of lenses 4 and downstream optical cables 3 , to an optical multiplexer, not shown here.

Der optische Multiplexer ist in der DE 198 60 284 detailliert beschrieben. Der Multiplexer hat 64 Eingänge für Lichtleitkabel und vier Eingänge, die zur Dunkelsignalmessung genutzt werden. Der optische Multiplexer schaltet mit hoher Geschwindigkeit alle Lichtleitkabel 3 nacheinander auf den Eingang 20 des Spektrographen, dargestellt in 5.The optical multiplexer is in the DE 198 60 284 described in detail. The multiplexer has 64 inputs for fiber optic cables and four inputs, which are used for dark signal measurement. The optical multiplexer switches all optical cables at high speed 3 one after the other on the entrance 20 of the spectrograph, presented in 5 ,

In anderen, nicht gezeigten Ausführungsformen der Erfindung können die Lichtleitkabel 3 auch ohne davor angeordnete Linsen 4 als Lichtaufnahmeoptiken 3, 4 für das gezeigte Spektrometer Verwendung finden.In other, not shown embodiments of the invention, the light guide 3 even without lenses arranged in front of it 4 as light-receiving optics 3 . 4 be used for the spectrometer shown.

Die Lichtaufnahmeoptiken 3, 4 sind, wie in 2 dargestellt, in einem Abstand von 5 cm in einer Zeile quer zur Richtung des Transportbandes 13 bzw. des Objektstromes 12 aufgereiht. Dabei sind die Lichtaufnahmeoptiken 3, 4 und die Lichtquellen 1, welche ebenfalls eine Zeile quer zum Objektstrom 12 ausbilden, einander abwechselnd angeordnet. Die optischen Achsen der Lichtaufnahmeoptiken verlaufen dabei senkrecht durch den Objektstrom. Zur Vermeidung von Reflektionen an der Oberfläche der zu messenden Objekten kann es vorteilhaft sein, diese optischen Achsen sowie die Symmetrieebene des elliptischen Zylinderspiegels zum Materialstrom zu verkippen. Dabei sollte ein Winkel zur senkrechten Einstrahlung von größer als 1/4 der Öffnung der Einstrahlung eingestellt werden.The light-receiving optics 3 . 4 are, as in 2 represented, at a distance of 5 cm in a line transverse to the direction of the conveyor belt 13 or the object stream 12 lined up. The light-receiving optics are 3 . 4 and the light sources 1 which also has a line across the object stream 12 form, alternately arranged. The optical axes of the light-receiving optics run perpendicularly through the object stream. To avoid reflections on the surface of the objects to be measured, it may be advantageous to tilt these optical axes and the plane of symmetry of the elliptical cylinder mirror to the material flow. In this case, an angle to the vertical irradiation of greater than 1/4 of the opening of the irradiation should be set.

Beispielsweise können die Lichtaufnahmeoptiken wie in 2 alternierend mit den Lichtquellen 1 angeordnet sein, wobei jeweils im Zwischenraum zwischen zwei Lichtquellen 1 ein Lichtleitkabel 3 vorgesehen ist. In anderen Ausführungsformen der Erfindung könnten jedoch auch jeweils zwei oder mehr Lichtquellen 1 nebeneinander angeordnet sein und danach erst eine oder mehrere Lichtaufnahmeoptiken 3, 4 vorgesehen sein. Es ist ebenso möglich, dass mehrere Lichtaufnahmeoptiken 3, 4 zwischen einzelnen Lichtquellen 1 vorgesehen sind. Je nach Bedarf kann selbst innerhalb der Reihen die Anordnung von Lichtquellen 1 und Lichtaufnahmeoptiken 3, 4 unterschiedlich sein, wobei jedoch insgesamt eine abwechselnde Anordnung zu realisieren ist.For example, the light-receiving optics as in 2 alternating with the light sources 1 be arranged, each in the space between two light sources 1 a fiber optic cable 3 is provided. However, in other embodiments of the invention, two or more light sources could also be used 1 be arranged next to each other and then only one or more Lichtaufnahmeoptiken 3 . 4 be provided. It is also possible that several light-receiving optics 3 . 4 between individual light sources 1 are provided. Depending on requirements, even within the rows, the arrangement of light sources 1 and light-receiving optics 3 . 4 be different, but in total an alternate arrangement is to be realized.

Dadurch, dass die Lichtaufnahmeoptiken 3, 4 abwechselnd mit den Lichtquellen 1 aufgereiht sind, kann das von den Materialien oder Objekten remittierte oder reflektier te Licht 9 direkt ohne Umlenkspiegel auf die Lichtaufnahmeoptiken 3, 4 auftreffen und von dort direkt an dem Spektrographen übertragen werden. Es ergibt sich damit für das remittierte oder reflektierte Licht 9 ein kurzer optischer Weg, wodurch die Intensität des von den Lichtaufnahmeoptiken 3, 4 aufgenommenen Lichtes 9 entsprechend hoch ist. Die Lichtquellen 1 müssen daher im Vergleich zum Stand der Technik Licht 8 mit einer geringeren Intensität auf die Materialien oder Objekte 12 des Objektstromes abstrahlen, wodurch sich die spektralanalytische Vorrichtung beim Betrieb deutlich weniger aufheizt, als dies bei bekannten Vorrichtungen der Fall ist.Because of the light-receiving optics 3 . 4 alternating with the light sources 1 lined up, the light reflected or reflected from the materials or objects can be 9 directly without deflecting mirror on the light-receiving optics 3 . 4 and from there are transmitted directly to the spectrograph. It thus results for the remitted or reflected light 9 a short optical path, reducing the intensity of the light-receiving optics 3 . 4 recorded light 9 is correspondingly high. The light sources 1 therefore have to light compared to the prior art 8th with a lower intensity on the materials or objects 12 of the object stream radiate, whereby the spectral analyte device heats up significantly less during operation, as is the case with known devices.

In der vorliegenden Darstellung von 2 ist ein Ausschnitt mit 5 Messoptiken von insgesamt 32 Messoptiken dargestellt, die über ein etwa 1,60 m breites Band angeordnet sind. Die Messkopfzeile kontrolliert das gesamte Band mit einem Raster von 5 cm. Die Messspurbreite dabei ist etwa 2,5 cm. Wenn die zu messenden Objekte kleiner als etwa 5 cm werden, ist es notwendig, das Raster auf die Messspurbreite zu reduzieren. In diesem Fall werden 64 Messoptiken in einer Zeile mit einem Raster von etwa 2,5 cm quer über das 1,60 m breite Band angeordnet.In the present presentation of 2 is a section with 5 measuring optics of a total of 32 measuring optics shown, which are arranged over a band about 1.60 m wide. The measuring head line controls the entire band with a grid of 5 cm. The measuring track width is about 2.5 cm. If the objects to be measured become smaller than about 5 cm, it is necessary to reduce the pitch to the measuring track width. In this case, 64 measurement optics are arranged in a row with a grid of about 2.5 cm across the 1.60 m wide band.

Der Multiplexer schaltet mit 80 Hz repetierend nacheinander die einzelnen 32 oder 64 Lichtleitkabel 3 auf den Spektrographen. So können Bänder mit einer Geschwindigkeit von etwa 2,00 m pro Sekunde noch lückenlos gemessen werden. Die Zeilen von Halogenlampen 1 und Messoptiken 3, 4 sind in einem Gehäuse eingebaut, das unten ein Messfenster 5 und seitlich Kühlrippen 7 besitzt. Bei fehlender Bandbelegung kann zur Kalibrierung des Messsystems ein Schwenkarm 10 um eine Drehachse 7 eingeschwenkt werden, so dass am Ort der zu messenden Produkte eine Eichkeramik 11 angeordnet wird. Im Ausführungsbeispiel wird eine Al2O3-Keramik mit einer Remission von etwa 70 % genutzt.The multiplexer switches the individual 32 or 64 optical cables in succession at 80 Hz 3 on the spectrograph. Thus, tapes can still be measured gap-free at a speed of about 2.00 m per second. The lines of halogen lamps 1 and measuring optics 3 . 4 are installed in a housing, the bottom of a measuring window 5 and laterally cooling fins 7 has. If the band allocation is missing, a swivel arm can be used to calibrate the measuring system 10 around a rotation axis 7 be swung so that at the location of the products to be measured a calibration ceramics 11 is arranged. In the exemplary embodiment, an Al 2 O 3 ceramic with a remission of about 70% is used.

Bei der Ausführungsform gemäß 3 und 4 ist eine Zeile von Halogenlampen 1 in der ersten Brennlinie eines elliptischen Zylinderspiegels 2 angeordnet. Die von diesen Lichtquellen 1 ausgesendeten Lichtstrahlen 8 werden in der zweiten Brennlinie des Konkavspiegels fokussiert, der in dem Messfenster 17 liegt, über das Materialien oder Objekte, wie die Produkte 16, die in dem gezeigten Beispiel Papierprodukte aus dem Abfall enthalten, rutschen. Die Strahlungstaille oder Fokusbreite in dem Messfenster 17 beträgt etwa 3 cm. Die Rutsche 18 schließt sich einem hier nicht dargestellten Transportband 13 an, das die Produkte in einem breiten Materialstrom auf die Rutsche 18 fördert.In the embodiment according to 3 and 4 is a line of halogen lamps 1 in the first focal line of an elliptical cylinder mirror 2 arranged. The of these light sources 1 emitted light rays 8th are focused in the second focal line of the concave mirror, which is in the measurement window 17 lies about which materials or objects, such as the products 16 that in the example shown contain paper products from the waste, slip. The radiation waist or focus width in the measurement window 17 is about 3 cm. The slide 18 joins a conveyor belt, not shown here 13 the products in a wide flow of material onto the chute 18 promotes.

In dem gezeigten Beispiel besteht die Rutsche 18 aus Edelstahl und weist eine Aufnahme für das Messfenster 17 auf. In anderen, nicht gezeigten Ausführungsformen der Erfindung kann die Rutsche 18 auch aus einem anderen Material oder mit bereits integriertem Messfenster 17 gefertigt sein.In the example shown, the chute is made 18 made of stainless steel and has a receptacle for the measuring window 17 on. In other, not shown embodiments of the invention, the chute 18 also from another material or with already integrated measurement window 17 be made.

In 3 und 4 ist als ein Bespiel für die mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung bzw. dem entsprechenden Verfahren zu bewertenden Materialien oder Objekten Altpapier dargestellt, das nach der Papierqualität bewertet und sortiert werden soll. Das von den Objekten 16 remittierte Licht 9 ist in der Zusammensetzung charakteristisch verändert und gelangt über die Reihe von Messoptiken, bestehend den Eintrittsöffnungen von Lichtleitkabeln 3, zu dem optischen Multiplexer.In 3 and 4 is represented as an example of the waste paper to be evaluated by the device according to the invention or the corresponding method, which is to be evaluated and sorted according to the paper quality. That of the objects 16 remitted light 9 is in the to Characteristic changed composition and passes through the series of measuring optics, consisting of the inlet openings of optical cables 3 to the optical multiplexer.

In der Darstellung von 4 ist ein Ausschnitt mit 4 Messoptiken von insgesamt 64 Messoptiken dargestellt, die unter einer etwa 3,20 m breiten Rutsche 18 angeordnet sind. Die Messkopfzeile kontrolliert die Breite der Rutsche 18 mit einer Messspurbreite von 5 cm. Der optische Multiplexer schaltet dem nachfolgenden Spektrographen mit 40 Hz repetierend nacheinander die einzelnen 64 Lichtleitkabel 3 auf. So kann das Altpapier mit einer Geschwindigkeit von etwa 2,00 m pro Sekunde noch lückenlos gemessen werden.In the presentation of 4 is a section with 4 measuring optics from a total of 64 measuring optics shown under a slide about 3.20 m wide 18 are arranged. The measuring head line controls the width of the chute 18 with a measuring track width of 5 cm. The optical multiplexer switches the following 64 optical fiber cables sequentially in succession to the following spectrograph at 40 Hz 3 on. Thus, the waste paper can still be measured without gaps at a speed of about 2.00 m per second.

Die Zeilen von Halogenlampen 1 und Messoptiken 3 sind in einem Gehäuse eingebaut, das nicht dargestellt ist. Das Messfenster 17 hat auf der den Produkten 16 abgewandten Seite eine raue Oberfläche 19, so dass ein Anteil von wenigen Prozent der Messstrahlung 8 an dieser Oberfläche 19 gestreut wird. Ein Anteil dieser gestreuten Strahlung gelangt über die Reihe der Messoptiken 3 und den optischen Multiplexer in den Spektrographen, dargestellt in 5. Bei fehlenden Objekten oder Materialien auf der dem Messfenster 17, was im laufenden Produktionsprozess in gewissen Abständen auftritt, wird dieses gestreute Licht zur Kalibrierung des Messsystems genutzt.The lines of halogen lamps 1 and measuring optics 3 are installed in a housing, which is not shown. The measurement window 17 has on the products 16 opposite side a rough surface 19 , so that accounted for a few percent of the measuring radiation 8th on this surface 19 is scattered. A portion of this scattered radiation passes through the series of measuring optics 3 and the optical multiplexer in the spectrograph shown in 5 , Missing objects or materials on the measurement window 17 What occurs in the ongoing production process at intervals, this scattered light is used for calibration of the measuring system.

Der Ausgang des optischen Multiplexers ist direkt an die Eintrittsöffnung 20 des Spektrographen gekoppelt. Es besteht auch die Möglichkeit, diese über ein Lichtleitkabel zu verbinden.The output of the optical multiplexer is directly to the inlet 20 Coupled with the spectrograph. It is also possible to connect them via a fiber optic cable.

Wie in 5 dargestellt ist, gelangt das Licht von den Objekten von dieser Eintrittsöffnung 20 auf ein holographisches Konkavgitter 21, das in der Austrittsebene 22 des Spektrographen das nach der Wellenlänge zerlegte Licht als Spektrum abbildet. In dem vorliegenden Beispiel wird ein Spektrum in dem Wellenlängenbereich zwischen 1400 und 2400 nm erzeugt. Generell ist die beschriebene Anordnung für einen Wellenlängenbereich von 190 nm bis 2500 nm geeignet. In der Austrittsebene des Spektrographen ist eine Kamera 23 mit einer InGaAs-Photodiodenzeile angeordnet, die das Lichtspektrum in elektrische Messsignale umwandelt. Die Messsignale werden in einem zum Spektrometer gehörenden Rechner gespeichert, normiert und ausgewertet. Aus den Messergebnissen werden die die Proben kennzeichnenden Merkmale abgeleitet. In dem vorliegenden Fall wird eine Zeilenkamera mit 256 Photodioden in einer Reihe genutzt, die einen Wellenlängenbereich von 1404 bis 1914 nm erfasst.As in 5 is shown, the light passes from the objects of this inlet opening 20 on a holographic concave grating 21 that in the exit plane 22 of the spectrograph, the light decomposed according to the wavelength as a spectrum. In the present example, a spectrum is generated in the wavelength range between 1400 and 2400 nm. In general, the arrangement described is suitable for a wavelength range from 190 nm to 2500 nm. In the exit plane of the spectrograph is a camera 23 arranged with an InGaAs photodiode array, which converts the light spectrum into electrical measurement signals. The measuring signals are stored, normalized and evaluated in a computer belonging to the spectrometer. From the measurement results, the characteristics characterizing the samples are derived. In the present case, a line camera with 256 photodiodes in a row is used, which detects a wavelength range of 1404 to 1914 nm.

6 zeigt ein Diagramm, wobei Beispiele von mit der Zeilenkamera gemessenen Spektren als Photodetektorsignale über der Wellenlänge aufgetragen sind. Die Signale der Photodioden sind in Counts angegeben, wie sie bei einer Wandlung eines analogen in ein digitales Signal entstehen. Wird Licht von dem Spektrographen fern gehalten, so misst man das Dunkelsignal, das durch den Dunkelstrom der Photodioden und dem eingestellten Offset der nachfolgenden analogen Elektronik entsteht. Das Dunkelsignal wird bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel repetierend gemessen und von den Messsignalen abgezogen. 6 shows a diagram, wherein examples of measured by the line scan spectra are plotted as photodetector signals versus the wavelength. The signals of the photodiodes are given in counts, as they arise in a conversion of an analog to a digital signal. If light is kept away from the spectrograph, one measures the dark signal, which results from the dark current of the photodiodes and the set offset of the following analog electronics. The dark signal is repetitively measured in the present embodiment and subtracted from the measurement signals.

Die Messkurve 24 zeigt die Messsignale der Anordnung zu 3 bei fehlendem Papier auf dem Messfenster 17. Sie werden aus dem von dem Fenster 17 an der Oberfläche 19 in den Messkanal gestreuten Licht gebildet. Legt man eine Eichkeramik mit einer Remission von 65 % in dem gesamten Spektralbereich auf das Messfenster, so erhält man die Messkurve 25, die durch die spektralen Eigenschaften des Spektrometers der sogenannten Gerätefunktion dominiert werden.The trace 24 shows the measurement signals to the arrangement 3 if there is no paper on the measuring window 17 , They will be out of the window 17 on the surface 19 formed in the measuring channel scattered light. If one applies a calibration ceramic with a remission of 65% in the entire spectral range to the measurement window, one obtains the measurement curve 25 , which are dominated by the spectral properties of the spectrometer of the so-called device function.

Das an dem Messfenster 17 gestreute Licht hat eine angenäherte Kosinusverteilung, die, mit der Eichkeramik kalibriert, in dem genutzten Wellenlängenbereich einen Remissionswert von 15 % ergibt und ebenfalls die Gerätefunktion des Spektrometers beschreibt.The at the measurement window 17 Scattered light has an approximate cosine distribution which, calibrated with the calibration ceramics, gives a reflectance value of 15% in the wavelength range used and also describes the device function of the spectrometer.

Die Messkurven 26 und 27 zeigen die Signale von Zeitungspapier und Büropapier, die über das Messfenster 17 gerutscht sind. Sie sind für die Remission von Papier nicht aussagekräftig, da die Messkurven durch die Gerätefunktion dominiert werden.The measured curves 26 and 27 show the signals from newsprint and office paper passing through the measurement window 17 slipped. They are not meaningful for the remission of paper, since the measurement curves are dominated by the device function.

Die charakteristische Remission von den Objekten, im vorliegenden Fall von Papier, muss durch mathematische Operationen von der Gerätefunktion getrennt werden. Die Signale von dem streuenden Fenster 24 werden als IS(λ), die Signale von dem Keramikstandard 25 als IK(λ) und die Signale von den Produkten 26, 27 als Ip(λ) bezeichnet. Die Remission der Probe kann man in guter Näherung nach der folgenden Beziehung berechnen: Rp(λ) = K·Ip(λ)/IS(λ) angegeben in % The characteristic remission of the objects, in this case of paper, must be separated from the device function by mathematical operations. The signals from the scattering window 24 are referred to as I S (λ), the signals from the ceramic standard 25 as I K (λ) and the signals from the products 26 . 27 as I p (λ). The remission of the sample can be calculated in a good approximation according to the following relationship: R p (λ) = K · I p (Λ) / I S (λ) expressed in%

Da der Remissionswert der Keramik im gesamten Spektralbereich mit 65 % bekannt ist, lässt sich K nach der folgenden Beziehung berechnen: K = 65 %·IS(λ)/[IK(λ) – IS(λ)] Since the remission value of the ceramic in the entire spectral range is known to be 65%, K can be calculated according to the following relationship: K = 65% · I S (Λ) / [I K (λ) - I S (Λ)]

7 zeigt die in dieser Weise berechnete Remission des gemessenen Zeitungs- und Büropapiers 28 und 29 als Funktion der Wellenlänge, angegeben in %. 7 shows the calculated in this way remission of the measured newspaper and office paper 28 and 29 as a function of wavelength, expressed in%.

Da sich die Streueigenschaften des Fensters 17 mit der Zeit nicht ändern und das Fenster 17 sich spektral völlig neutral verhält, kann nach erfolgter Bestimmung des Faktors K das Gerät sich zeitnahe bei fehlender Probe über das Streulicht an dem Fenster 17 selbst kalibrieren. Ein zur Messung der Proben zeitnahes aufwändiges und fehlerhaftes Kalibrieren mit Standards kann entfallen. Die dargestellten Remissionsspektren sind durch die starken Absorptionsbanden des Wassergehaltes im Papier bei 1460 und 1920 nm dominiert und lassen unbearbeitet keine Absorptionsbanden anderer Papierbestandteile erkennen.Because the scattering properties of the window 17 do not change over time and the window 17 When the factor K is completely spectrally neutral, after determination of the factor K, the device can be timely in the absence of a sample via the scattered light on the window 17 calibrate yourself. A time-consuming and erroneous calibration with standards for measuring the samples can be dispensed with. The reproduced reflectance spectra are dominated by the strong absorption bands of the water content in the paper at 1460 and 1920 nm and, unprocessed, show no absorption bands of other paper constituents.

Zu deren Visualisierung wird die zweite Ableitung der Spektren gebildet, die in 8 dargestellt ist. Die Absorptionsbanden bilden in der zweiten Ableitung schmale Maxima. Die Remissionsspektren von Zeitungspapier 30 und von Büropapier 31 zeigen Absorptionsbanden von Cellulose bei Wellenlängen von 1428, 1482, 1500, 1587, 1704, 1773 und 1831 nm. Das Zeitungspapier zeigt ferner eine starke Bande bei 1677 nm, die auf einen hohen Gehalt an Lignin weist. Eine starke Bande bei 1410 nm wird durch einen hohen Gehalt an Calcit verursacht. Der Ligningehalt weist auf ein holzhaltiges Papier. Der hohe Calcitgehalt zeigt, dass gestrichenes Papier vorliegt. Ausgehend von diesen Informationen wird das Papier für eine Wiederverarbeitung sortiert.For their visualization, the second derivative of the spectra formed in 8th is shown. The absorption bands form narrow maxima in the second derivative. The remission spectra of newsprint 30 and of office paper 31 show absorption bands of cellulose at wavelengths of 1428, 1482, 1500, 1587, 1704, 1773 and 1831 nm. The newsprint also shows a strong band at 1677 nm, which has a high content of lignin. A strong band at 1410 nm is caused by a high content of calcite. The lignin content points to a wood-containing paper. The high calcite content indicates that coated paper is present. Based on this information, the paper is sorted for reprocessing.

In 9 sind als ein Bespiel für die mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung bzw. dem entsprechenden Verfahren zu bewertenden Materialien oder Objekten transparente Plastikfolien 32 dargestellt, deren Schichtzusammensetzung bestimmt werden soll und die entsprechend dem Schichtaufbau und sortiert werden sollen. Die Messung der Folien erfolgt dabei in Transmission.In 9 are transparent plastic films as an example of the materials or objects to be evaluated with the device according to the invention or the corresponding method 32 whose layer composition is to be determined and which should be sorted according to the layer structure and. The measurement of the films is carried out in transmission.

Ein Transportband 33 fördert die zu sortierende Plastikfolien 32 auf eine Rutsche 18, in der ein Messfenster 34 eingebaut ist. Das von der Reihe der Lichtquellen 1 ausgestrahlte Licht 8 wird über einen elliptischen Zylinderspiegel 2 auf eine Reihe von Lichtleitkabeln 3 fokussiert. Dabei durchdringt die Strahlung die zu messenden transparenten Folien 32 sowie das Messfenster 34. Das von den Objekten 32 durch Absorption veränderte Licht gelangt über die Lichtleitkabel 3 zu einem optischen Multiplexer. Der Vorteil dieser Messanordnung gegenüber den oben erörterten Anordnungen in Reflexion ist eine besondere Unempfindlichkeit der Messung gegenüber von Interferenzen, die bei dünnen transparenten Folien die Absorptionsspektren überlagern und eine sichere Bestimmung der Objekte unmöglich machen. Ein weiterer Vorteil ist eine geringe Abhängigkeit der Messergebnisse von der Lage der Objekte, da die Strahlungscharakteristik nicht durch die Objekte verändert wird und die Lichtweglänge in dem Objekt unabhängig von der Lage ist.A conveyor belt 33 promotes the plastic films to be sorted 32 on a slide 18 in which a measurement window 34 is installed. That from the row of light sources 1 emitted light 8th is about an elliptical cylindrical mirror 2 on a set of fiber optic cables 3 focused. The radiation penetrates the transparent films to be measured 32 as well as the measurement window 34 , That of the objects 32 Absorption-modified light passes through the optical cables 3 to an optical multiplexer. The advantage of this measuring arrangement over the above-discussed arrangements in reflection is a particular insensitivity of the measurement to interferences, which superimpose the absorption spectra with thin transparent films and make a reliable determination of the objects impossible. A further advantage is a low dependence of the measurement results on the position of the objects, since the radiation characteristic is not changed by the objects and the light path length in the object is independent of the position.

In einer anderen, nicht gezeigten Ausführungsform der Erfindung kann die oben beschriebene Messung in Transmission auch durchgeführt werden, wenn die Lichtquellen 1 oberhalb einer Abwurfkurve für den Objektstrom und Lichtaufnahmeoptiken 3, 4 unterhalb dieser Abwurfkurve für den Objektstrom vorgesehen sind.In another, not shown embodiment of the invention, the above-described measurement in transmission can also be performed when the light sources 1 above a discharge curve for the object current and light-receiving optics 3 . 4 are provided below the discharge curve for the object stream.

Das erfindungsgemäße Verfahren und die entsprechende Vorrichtung eignen sich insbesondere, um die Zusammensetzung von schnell bewegten Rohmaterialien oder Produkten in einem breiten Materialstrom zu ermitteln. Das Verfahren und die Vorrichtung können beispielsweise bei der Sortierung von Abfall, bei der Qualitätskontrolle in der Produktion sowie bei der Bewertung von Rohstoffen und Naturprodukten einge setzt werden. Mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung und dem entsprechenden Verfahren können Produkte in einem breiten Materialstrom und in schneller Bewegung durch eine Messung von oben auf eine Transporteinrichtung, durch eine Messung von unten durch ein Messfenster in einer Rutsche oder im freien Flug gemessen werden.The inventive method and the corresponding device are particularly suitable for the Composition of fast moving raw materials or products to determine in a wide material flow. The procedure and the Device can for example, in the sorting of waste, in quality control in production as well as in the evaluation of raw materials and natural products be set. With the device according to the invention and the corresponding Procedures can Products in a wide flow of material and in rapid motion by a measurement from above on a transport device, by a Measurement from below through a measuring window in a chute or in the be measured free flight.

Insgesamt ist die erfindungsgemäße Vorrichtung so aufgebaut, dass die genutzte Messkopfzeile räumlich kompakt ist und bezüglich der Technik sowie der Kosten mit geringem Aufwand gefertigt werden kann.All in all is the device according to the invention designed in such a way that the used measuring head row is spatially compact and with respect to the Technology and costs can be made with little effort.

Die Erfindung ermöglicht ferner, dass die eingesetzte Messtechnik ohne großen Aufwand zeitnah kalibriert werden kann. Zudem kann die spektrale Verteilung der Messkurven unabhängig von den spektralen Eigenschaften des Spektrometers exakt bestimmt werden. Trotz des kompakten und einfachen Aufbaus der erfindungsgemäßen Vorrichtung können die Materialien oder Objekte in einem Objektstrom sicher identifiziert bzw. die Materialzusammensetzung von Objekten sicher bestimmt werden. Durch die oben beschriebenen speziellen Anordnungsmöglichkeiten der Erfindung ist es zudem möglich, das Zusätze zu den Materialien der Objekte in einem Objektstrom bis in den Spurenbereich sicher gemessen werden können.The Invention allows Furthermore, that the measuring technology used without much effort can be calibrated promptly. In addition, the spectral distribution independent of the measured curves exactly determined by the spectral properties of the spectrometer become. Despite the compact and simple construction of the device according to the invention, the Materials or objects safely identified in a stream of objects or the material composition of objects can be determined safely. By the above-described special arrangement possibilities of the invention is it also possible the additives to the materials of the objects in a stream of objects down to the trace area can be measured safely.

Claims (19)

Vorrichtung zur spektralanalytischen Bewertung von Materialien oder Objekten (12, 16) in einem Material- oder Objektstrom, mit mehreren Lichtquellen (1) und mehreren Optiken, mit welchen von den Materialien oder Objekten transmittiertes, remittiertes oder reflektiertes Licht (9) an einen Spektrographen übertragen wird, dadurch gekennzeichnet, dass in definierten Abständen und quer zum Materal- oder Objektstrom (12, 16) Lichtquellen (1) in einer Zeile aufgereiht sind, und dass abwechselnd zu den Lichtquellen (1) Lichtaufnahmeoptiken (3, 4) derart angeordnet sind, dass die optischen Achsen der Lichtaufnahmeoptiken (3, 4) in der Symmetrieebene der Lichteinstrahlung (8) liegen.Device for the spectral-analytical evaluation of materials or objects ( 12 . 16 ) in a material or object stream, with multiple light sources ( 1 ) and several optics, with which of the materials or objects transmitted, remitted or reflected light ( 9 ) is transmitted to a spectrograph, characterized in that at defined intervals and transversely to the lateral or object stream ( 12 . 16 ) Light sources ( 1 ) are lined up in a row, and that alternately to the light sources ( 1 ) Light-receiving optics ( 3 . 4 ) are arranged such that the optical axes of the light-receiving optics ( 3 . 4 ) in the plane of symmetry of the light irradiation ( 8th ) lie. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquellen (1) in einem ersten Fokus eines elliptischen Zylinderspiegels (2) angeordnet sind.Device according to claim 1, characterized in that the light sources ( 1 ) in a first focus of an elliptical cylindrical mirror ( 2 ) are arranged. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Material- oder Objektstrom durch einen zweiten eindimensionalen Fokus des Zylinderspiegels (2) verläuft; und dass die optischen Achsen der Lichtaufnahmeoptiken (3, 4) senkrecht durch den zweiten eindimensionalen Fokus verlaufen.Apparatus according to claim 2, characterized in that the material or object flow through a second one-dimensional focus of the cylinder mirror ( 2 ) runs; and that the optical axes of the light-receiving optics ( 3 . 4 ) are perpendicular through the second one-dimensional focus. Vorrichtung nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtaufnahmeoptiken (3, 4) Lichtleitkabel (3) umfassen.Device according to at least one of the preceding claims, characterized in that the light-receiving optics ( 3 . 4 ) Optical fiber cable ( 3 ). Vorrichtung nach Anspruch 3 und 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Eintrittsöffnungen der Lichtleitkabel (3) direkt oder mit wenigstens einer davor angeordneten Linse oder Linsenkombination (4) auf den zweiten eindimensionalen Fokus gerichtet sind.Apparatus according to claim 3 and 4, characterized in that the inlet openings of the light guide ( 3 ) directly or with at least one lens or lens combination ( 4 ) are directed to the second one-dimensional focus. Vorrichtung nach Anspruch 3 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquellen (1) und der Zylinderspiegel (2) unterhalb eines in einer Transporteinrichtung (13) für den Material- oder Objektstrom vorgesehenen Messfensters (17) derart angeordnet sind, dass Licht (8) durch das Messfenster (17) verläuft und der zweite Fokus des Zylinderspiegels (2) in dem Messfenster (17) liegt.Apparatus according to claim 3 or 5, characterized in that the light sources ( 1 ) and the cylindrical mirror ( 2 ) below one in a transport device ( 13 ) for the material or object stream provided measuring window ( 17 ) are arranged such that light ( 8th ) through the measurement window ( 17 ) and the second focus of the cylinder mirror ( 2 ) in the measurement window ( 17 ) lies. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass das Messfenster (17) Licht streuende Eigenschaften hat.Apparatus according to claim 6, characterized in that the measuring window ( 17 ) Has light-scattering properties. Vorrichtung nach Anspruch 3 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquellen (1) über einer Transporteinrichtung (13) für den Material- oder Objektstrom oder über einer Abwurfkurve der Transporteinrichtung (13) angeordnet sind, wobei die Transporteinrichtung (13) derart angeordnet ist oder die Flugbahn so verläuft, dass oben liegende Flächen oder Bereiche der Materialien oder Objekte (12, 16) im Mittel in dem zweiten eindimensionalen Fokus des Zylinderspiegels (2) liegen.Apparatus according to claim 3 or 5, characterized in that the light sources ( 1 ) above a transport device ( 13 ) for the material or object flow or over a discharge curve of the transport device ( 13 ) are arranged, wherein the transport device ( 13 ) or the trajectory is such that overhead surfaces or regions of the materials or objects ( 12 . 16 ) on average in the second one-dimensional focus of the cylinder mirror ( 2 ) lie. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtaufnahmeoptiken (3, 4) über der Transporteinrichtung (13) für den Material- oder Objektstrom oder über der Abwurfkurve der Transporteinrichtung (13) angeordnet sind.Apparatus according to claim 8, characterized in that the light receiving optics ( 3 . 4 ) above the transport device ( 13 ) for the material or object flow or over the discharge curve of the transport device ( 13 ) are arranged. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtaufnahmeoptiken (3, 4) unterhalb eines in der Transporteinrichtung für den Material- oder Objektstrom vorgesehenen Messfensters (34) angeordnet ist.Apparatus according to claim 8, characterized in that the light receiving optics ( 3 . 4 ) below a measuring window provided in the transport device for the material or object stream ( 34 ) is arranged. Vorrichtung nach Anspruch 6 oder 10, dadurch gekennzeichnet, dass das Messfenster (17, 34) in einer Rutsche (18) für die Materialien oder Objekte (12, 16) vorgesehen ist.Apparatus according to claim 6 or 10, characterized in that the measuring window ( 17 . 34 ) in a slide ( 18 ) for the materials or objects ( 12 . 16 ) is provided. Verfahren zur spektralanalytischen Bewertung von Materialien oder Objekten (12, 16) in einem Material- oder Objektstrom, mit mehreren Lichtquellen (1) und mehreren Optiken, mit welchen von den Materialien oder Objekten (12, 16) transmittiertes, remittiertes oder reflektiertes Licht (9) an einen Spektrographen übertragen wird, dadurch gekennzeichnet, dass Licht von in definierten Abständen und quer zum Material- oder Objektstrom aufgereihten Lichtquellen (1) auf den Material- oder Objektstrom (12, 16) gestrahlt wird, und abwechselnd zu den Lichtquellen (1) angeordnete Lichtaufnahmeoptiken (3, 4) von dem Material- oder Objektstrom transmittiertes, remittiertes oder reflektiertes Licht (9) aufnehmen, wobei die optischen Achsen der Lichtaufnahmeoptiken (3, 4) in der Symmetrieebene der Lichteinstrahlung (8) liegen.Method for the spectral analytical evaluation of materials or objects ( 12 . 16 ) in a material or object stream, with multiple light sources ( 1 ) and several optics, with which of the materials or objects ( 12 . 16 ) transmitted, remitted or reflected light ( 9 ) is transmitted to a spectrograph, characterized in that light from at defined intervals and transverse to the material or object stream lined up light sources ( 1 ) on the material or object stream ( 12 . 16 ) and alternately to the light sources ( 1 ) arranged light receiving optics ( 3 . 4 ) transmitted, remitted or reflected light from the material or object stream ( 9 ), wherein the optical axes of the light receiving optics ( 3 . 4 ) in the plane of symmetry of the light irradiation ( 8th ) lie. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass das von den Lichtquellen (1) abgestrahlte Licht (8) mit einem elliptischen Zylinderspiegel (2) auf den Material- oder Objektstrom oder die Transporteinrichtung (13) gerichtet wird.Method according to claim 12, characterized in that that of the light sources ( 1 ) radiated light ( 8th ) with an elliptical cylindrical mirror ( 2 ) on the material or object stream or the transport device ( 13 ). Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die von den Lichtquellen (1) ausgesendeten Lichtstrahlen (8) in einem zweiten Fokus des Zylinderspiegels (2) fokussiert werden, durch welchen die Materialien oder Objekte (12, 16) bewegt werden.Method according to claim 13, characterized in that the light sources ( 1 ) emitted light beams ( 8th ) in a second focus of the cylinder mirror ( 2 ) through which the materials or objects ( 12 . 16 ) are moved. Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 12 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass von den Materialien oder Objekten (12, 16) transmittiertes, remittiertes oder reflektiertes Licht von Lichtleitkabeln (3) direkt oder mit wenigstens einer davor angeordneten Linse oder Linsenkombination (4) aufgenommen und an den Spektrographen geleitet wird.Method according to at least one of claims 12 to 14, characterized in that of the materials or objects ( 12 . 16 ) transmitted, remitted or reflected light from optical cables ( 3 ) directly or with at least one lens or lens combination ( 4 ) and directed to the spectrograph. Verfahren nach Anspruch 13 oder 14, dadurch gekennzeichnet, dass das Licht (8) der Lichtquellen (1) so auf die Transporteinrichtung (13) oder eine Abwurfkurve der Transporteinrichtung (13) abgestrahlt wird, dass oben liegende Flächen oder Bereiche der Materialien oder Objekte (12, 16) im Mittel in der Brennebene des Zylinderspiegels (2) liegen.Method according to claim 13 or 14, characterized in that the light ( 8th ) of the light sources ( 1 ) so on the transport device ( 13 ) or a discharge curve of the transport device ( 13 ) is emitted, that overhead surfaces or areas of materials or objects ( 12 . 16 ) on average in the focal plane of the cylinder mirror ( 2 ) lie. Verfahren nach Anspruch 13 oder 14, dadurch gekennzeichnet, dass das Licht (8) der Lichtquellen (1) durch ein in der Transporteinrichtung (13) für den Material- oder Objektstrom vorgesehenes Messfenster (17) gerichtet wird.Method according to claim 13 or 14, characterized in that the light ( 8th ) the light sources ( 1 ) by a in the transport device ( 13 ) provided for the material or object current measuring window ( 17 ). Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens ein Remissionsnormal (11) in dem zweiten Fokus des Zylinderspiegels (2) angeordnet wird, dass spektrale Transmissions-, Remissions- oder Reflexionswerte von Materialien oder Objekten (12, 16) mit Messwerten des Remissionsnormals (11) normiert werden, und dass die normierten spektralen Messwerte einzelner Messkanäle zur spektralanalytischen Bewertung der in den Messkanälen erfassten Materialien oder Objekte (12) verwendet werden.Method according to claim 14, characterized in that at least one remission standard ( 11 ) in the second focus of the cylinder mirror ( 2 ), that spectral transmission, remission or reflection values of materials or objects ( 12 . 16 ) with measured values of the remission standard ( 11 ) and that the normalized spectral measured values of individual measuring channels are used for the spectral-analytical evaluation of the materials or objects detected in the measuring channels ( 12 ) be used. Verfahren nach Anspruch 15 und 17, dadurch gekennzeichnet, dass Licht, das an dem Messfenster (17) gestreut wird, über die Lichtleitkabel (3) zu dem Spektrographen geführt wird, dort erfasst wird und bei fehlenden Materialien oder Objekten (16) auf dem Messfenster (17) zur Normierung der gemessenen spektralen Transmission, Remission oder Reflexion der Materialien oder Objekte (16) als Remissionsnormal in einzelnen Messkanälen verwendet wird.Method according to claim 15 and 17, characterized in that light which is emitted at the measuring window ( 17 ) is spread over the fiber optic cables ( 3 ) is guided to the spectrograph, is detected there and in the case of missing materials or objects ( 16 ) on the measurement window ( 17 ) for the normalization of the measured spectral transmission, remission or reflection of the materials or objects ( 16 ) is used as remission standard in individual measurement channels.
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