DE102004020419B3 - Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Form und der lokalen Oberflächennormalen spiegelnder Oberflächen - Google Patents

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Es wird beschrieben, wie man - auch stark gekrümmte - spiegelnde Oberflächen vermessen kann. Mit dem Verfahren können sowohl die Form als auch die lokalen Oberflächennormalen der Oberfläche absolut gemessen werden. Dies geschieht durch die Beobachtung und Auswertung von Mustern, die an der Oberfläche gespiegelt werden. Die gespiegelten Muster werden erfindungsgemäß aus mehreren Richtungen beobachtet. Die Auswertung erfolgt durch Bestimmung derjenigen Orte im Messraum, an denen die für die verschiedenen Beobachtungsrichtungen bestimmten Oberflächennormalen die geringsten Abweichungen gegeneinander haben.
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