DE10144339B4 - Test device for determining the attenuation of an optical waveguide to be tested - Google Patents

Abstract

Prüfeinrichtung zum Bestimmung der Dämpfung eines zu prüfenden Lichtwellenleiters (15) mit: – einer Sendeeinheit (1) zum Aussenden von Sendelicht einer vorbestimmten Intensität, – einer ersten Koppelvorrichtung (11) zum Koppeln der Sendeeinheit (1) an ein erstes Ende des zu prüfenden Lichtwellenleiters (15), – einer Empfangseinheit (2) zum Abgeben einer die Intensität empfangenen Lichts repräsentierenden Ausgangsgröße; – einer zweiten Koppelvorrichtung (12) zum Koppeln der Empfangseinheit (2) an ein zweites Ende des zu prüfenden Lichtwellenleiters (15), – einer ersten Speichervorrichtung (13) zum Speichern vorbestimmter einstellbarer Parameter zum Festlegen des konfigurationsabhängigen Verhaltens der Prüfeinrichtung; – einer zweiten Speichervorrichtung (14) zum Speichern von Information, die von dem Ergebnis einer mit der Prüfeinrichtung an einem Referenzlichtwellenleiter durchgeführten Dämpfungsbestimmung abhängt, – einer Auswertevorrichtung (3) zum Auswerten der Ausgangsgröße der Empfangseinheit (2), und – einer Steuervorrichtung (4; 4a, 4b, 4c) zum derartigen Steuern der Komponenten der Prüfeinrichtung in Abhängigkeit von in der ersten Speichervorrichtung (13) gespeicherten Parametern, dass – die Sendeeinheit (1) bedarfsweise zum Abgeben eines Sendesignals aktiviert und/oder deaktiviert wird; – die Ausgangsgröße der Empfangseinheit (2) zu einem ersten Zeitpunkt ohne Sendesignal ausgewertet wird, um einen Dunkelwert zu bestimmen; – die Ausgangsgröße der Empfangseinheit (2) zu einem zweiten Zeitpunkt mit Sendesignal ausgewertet wird, um einen Hellwert zu bestimmen; – eine Dämpfungsinformation des zu prüfenden Lichtwellenleiters (15) basierend auf einem Unterschied des Dunkelwerts und des Hellwerts ermittelt wird; und – diese Dämpfungsinformation mit der in der zweiten Speichervorrichtung (14) gespeicherten Information verglichen wird, um die Qualität des Lichtwellenleiters (15) zu bewerten.Test device for determining the attenuation of an optical waveguide (15) to be tested with: - a transmitting unit (1) for emitting transmitted light of a predetermined intensity, - a first coupling device (11) for coupling the transmitting unit (1) to a first end of the optical waveguide to be tested (15), - a receiving unit (2) for outputting an output representing the intensity of the received light; - a second coupling device (12) for coupling the receiving unit (2) to a second end of the optical waveguide (15) to be tested, - a first memory device (13) for storing predetermined adjustable parameters for determining the configuration-dependent behavior of the test device; - a second memory device (14) for storing information, which depends on the result of an attenuation determination made with the test device on a reference optical waveguide, - an evaluation device (3) for evaluating the output of the receiving unit (2), and - a control device (4; 4a, 4b, 4c) for controlling the components of the checking device in dependence on parameters stored in the first storage device (13), in that - the sending unit (1) is activated and / or deactivated as required for issuing a transmission signal; - The output of the receiving unit (2) is evaluated at a first time without transmitting signal to determine a dark value; - The output of the receiving unit (2) is evaluated at a second time with the transmission signal to determine a bright value; An attenuation information of the optical waveguide (15) to be tested is determined on the basis of a difference between the dark value and the bright value; and - comparing this attenuation information with the information stored in the second memory device (14) to evaluate the quality of the optical waveguide (15).

Description

Die Erfindung betrifft eine Prüfeinrichtung zum Bestimmen der Dämpfung eines zu prüfenden Lichtwellenleiters und insbesondere zum Bestimmen der Dämpfung eines Lichtwellenleiters in einem konfektionierten Kabel, beispielsweise zum Zweck der Qualitätssicherung.The invention relates to a test device for determining the attenuation of an optical waveguide to be tested, and in particular for determining the attenuation of an optical waveguide in a prefabricated cable, for example for the purpose of quality assurance.

Prüfanordnungen zur Bestimmung der Dämpfung eines zu prüfenden Lichtwellenleiters sind prinzipiell beispielsweise aus der DE 31 27 374 C2 bekannt. Dieses Dokument beschreibt eine Prüfanordnung, bestehend aus einem Lichtsender mit elektro-optischem Wandler und einem Lichtempfänger mit opto-elektrischem Wandler, die jeweils über Koppelvorrichtungen an einem Lichtwellenleiter anschließbar sind, um dessen Dämpfung zu prüfen.Test arrangements for determining the attenuation of an optical waveguide to be tested are in principle, for example, from DE 31 27 374 C2 known. This document describes a test arrangement consisting of a light emitter with electro-optical converter and a light receiver with opto-electrical converter, which are each connected via coupling devices on an optical waveguide to check its attenuation.

Bei solchen Prüfanordnungen wird die Dämpfung aus dem Unterschied der bekannten Sendeleistung und der ermittelten Empfangsleistung bestimmt, wobei gegebenenfalls Koppelverluste zu berücksichtigen sind. Um zu bestimmen, ob ein zu prüfender konfektionierter Lichtwellenleiter vorbestimmte Qualitätsanforderungen bezüglich der Dämpfung, gegebenenfalls auch bezüglich der Koppeldämpfung beim Ankoppeln mittels konfektionierter Steckverbinder erfüllt, wird beispielsweise bei der Fertigung von Lichtwellenleitern enthaltenden Kabelbäumen zuerst ein einen Vergleichswert liefernder Referenzprüfling von der Prüfeinrichtung geprüft und darauf folgend werden weitere Prüflinge geprüft und das ermittelte Dämpfungsergebnis mit dem Vergleichswert des Referenzprüflings verglichen.In such test arrangements, the attenuation is determined from the difference between the known transmission power and the determined received power, wherein, if appropriate, coupling losses must be taken into account. In order to determine whether a prefabricated fiber optic cable to be tested meets predetermined quality requirements with respect to the attenuation, possibly also with respect to the coupling loss when coupling by means of prefabricated connectors, for example, in the manufacture of fiber optic cable harnesses containing a reference value supplying Referenzprüfling first checked by the tester and subsequently Further samples are tested and the determined attenuation result is compared with the reference value of the reference sample.

Um einerseits hohen Qualitätsanforderungen zu genügen und andererseits die Ausschussrate so gering wie möglich zu halten, ist eine hohe Messgenauigkeit erstrebenswert. Daher wird gerne, um sicherzustellen, dass Schwankungen auf der Lichtsenderseite keine Beeinflussung des Prüfergebnisses mit sich bringen, ein zweikanaliger optischer Leistungsmesser verwendet, der neben dem Empfangssignal, das durch den Lichtwellenleiterprüfling empfangen worden ist, noch einen abgespaltenen Anteil des Sendesignals zugeführt erhält, um Leistungsschwankungen auf der Senderseite korrigieren zu können. Solche Konfigurationen sind aber einerseits relativ teuer und erfordern andererseits einen relativ kurzen Abstand zwischen der Sendeeinheit und der Empfangseinheit. Da Lichtwellenleiter möglichst in ihrem räumlichen Betriebszustand geprüft werden sollten, sind solche Prüfeinrichtungen folglich insbesondere für das Testen von Kabelbäumen, die mehrere Meter lang sein können, nicht sonderlich geeignet.On the one hand to meet high quality requirements and on the other hand to keep the reject rate as low as possible, a high measurement accuracy is desirable. Therefore, in order to ensure that fluctuations on the light transmitter side do not affect the test result, a two-channel optical power meter is used which, in addition to the received signal, which is received by the optical fiber under test still receives a split-off portion of the transmission signal to power fluctuations to correct on the sender side. On the one hand, such configurations are relatively expensive and on the other hand require a relatively short distance between the transmitting unit and the receiving unit. Since optical fibers should be tested in their spatial operating state as possible, therefore, such testing devices are not particularly suitable for testing harnesses that can be several meters long.

Andere Prüfeinrichtungen bemühen sich daher, die Sendeleistung des Sendesignals auch unter sich ändernden Betriebsbedingungen konstant zu halten. Neben infolge Versorgungsspannungsschwankungen auftretenden Schwankungen der Sendesignalintensität, die relativ einfach durch Versorgungsspannungsregler vermieden werden können, ist die Temperaturabhängigkeit der abgegebenen Lichtintensität bekannter elektro-optischer Wandler bei unverändertem Arbeitspunkt die größte Störgröße. Hierzu ist es bekannt, in die Arbeitspunktsteuerung eines elektro-optischen Wandlers, wie z. B. eines Lasers oder einer Leuchtdiode eine Temperaturkompensationsschaltung einzuplanen, die den Arbeitspunkt des elektro-optischen Wandlers abhängig von Temperaturschwankungen verlagert, um einer Lichtintensitätsschwankung entgegenzuwirken. Bei entsprechend hohem Aufwand beim Entwurf solcher Schaltungen kann hiermit eine brauchbare Temperaturkompensation für einen bestimmten verwendeten elektro-optischen Wandler erreicht werden. Wenn ein solches Bauelement jedoch durch ein gleichartiges Bauelement aus einer anderen Charge oder sogar durch ein Bauelement von einem anderen Typ ersetzt werden soll, ist die Temperaturkompensation nicht mehr gewährleistet.Therefore, other testing devices strive to keep the transmission power of the transmission signal constant even under changing operating conditions. In addition to fluctuations in the transmission signal intensity which occur due to supply voltage fluctuations, which can be avoided relatively easily by supply voltage regulators, the temperature dependence of the emitted light intensity of known electro-optical converters is the largest disturbance variable with the operating point unchanged. For this purpose, it is known in the operating point control of an electro-optical transducer, such. As a laser or a light emitting diode to schedule a temperature compensation circuit, which shifts the operating point of the electro-optical converter depending on temperature fluctuations, to counteract a light intensity fluctuation. With a correspondingly high expenditure on the design of such circuits, a usable temperature compensation for a particular electro-optical converter used can hereby be achieved. However, if such a device is to be replaced by a similar device from another batch or even by a device of another type, the temperature compensation is no longer guaranteed.

Bekannte Prüfeinrichtungen ermitteln einen Dunkelwert bei ausgeschaltetem Sender und einen Hellwert bei dauerhaft eingeschaltetem Sender. Umwelteinflüsse während einer Messung oder zwischen der Dunkelwertmessung und der Hellwertmessung können hier das Prüfergebnis negativ beeinflussen.Known testing devices detect a dark value with the transmitter switched off and a bright value with permanently switched on transmitter. Environmental influences during a measurement or between the dark value measurement and the light value measurement can negatively influence the test result here.

Bei bekannten Prüfeinrichtungen, bei denen der Prüfvorgang von einer zentralen Steuerung gesteuert wird, ist zur Synchronisation des Schaltzustandes des Senders und einer dem Empfänger nachgeordneten Auswerteeinheit eine Verbindung zwischen der Steuerung des Senders und der Steuerung der Auswerteeinheit erforderlich. Dies kann für größere zu überbrückende Entfernungen störend sein. Insbesondere, wenn diese Verbindung eine relativ langsame Datenverbindung ist, kann dies zu gewissen Verzögerungen des Messablaufs führen, die sich in der Serienfertigung von Lichtwellenleiter enthaltenden Bauteilen störend bemerkbar machen kann.In known test devices, in which the test procedure is controlled by a central controller, a connection between the control of the transmitter and the control of the evaluation is required for synchronization of the switching state of the transmitter and the receiver downstream evaluation. This can be annoying for larger distances to be bridged. In particular, if this connection is a relatively slow data connection, this can lead to certain delays in the measurement process, which can be disturbing in the mass production of components containing optical waveguides.

Aus der EP 02 15 301 A2 ist ein Messverfahren zur Messung einer Glasfaserstrecke bekannt, bei dem am Anfang der Strecke ein Sender und an ihrem Ende ein Empfänger angeschaltet ist. Zur Ermittlung der Sendeleistung wird das optische Sendesignal sinus- oder rechteckförmig moduliert und im Messempfänger mittels eines Korrelationsverfahrens ausgewertet. Zur Messung der Leitungsdämpfung werden zusätzlich Informationen, z. B. eine logische ”1” und eine logische ”0”, codiert und per Frequenzumtastung übertragen. Die beiden Frequenzen dieser Signale werden in geeigneter Weise gewählt, um ein leichtes Auswerten der Kurzzeit-Autokorrelationsfunktionen zu ermöglichen zum Ermitteln der Leitungsdämpfung aus den Signalleistungen.From the EP 02 15 301 A2 a measurement method for measuring a fiber optic link is known in which at the beginning of the route a transmitter and at the end of a receiver is turned on. To determine the transmission power, the optical transmission signal is sinusoidally or rectangularly modulated and evaluated in the measurement receiver by means of a correlation method. To measure the line attenuation additional information, eg. As a logical "1" and a logical "0", coded and transmitted by frequency shift keying. The two frequencies of these signals are suitably chosen to allow easy evaluation of the short-term Allow autocorrelation functions to determine the line attenuation from the signal powers.

EP 03 26 309 A2 beschreibt ein hochpräzises Messverfahren, bei dem eine Kalibrierungsbestimmung des Verhaltens einer Anordnung mit einer kalibrierten Ausführungsform der zu messenden opto-elektrischen oder elektro-optischen Komponente vorgenommen wird, dann diese kalibrierte Ausführungsform für eine weitere Bestimmung das Verhalten der Anordnung durch die zu messende opto-elektrische oder elektro-optische Komponente ersetz wird und ein Lichtwellenkomponentenanalysierer aus den Ergebnisabweichungen der beiden Vorgänge Messergebnisse berechnet. EP 03 26 309 A2 describes a high-precision measurement method in which a calibration determination of the behavior of an arrangement is made with a calibrated embodiment of the opto-electrical or electro-optical component to be measured, then this calibrated embodiment for further determination of the behavior of the arrangement by the opto-electrical to be measured or electro-optical component is replaced and a light wave component analyzer calculated from the result deviations of the two operations measurement results.

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine verbesserte Prüfeinrichtung zum Bestimmen der Dämpfung eines zu prüfenden Lichtwellenleiters, insbesondere eines Lichtwellenleiters in einem konfektionierten Kabelbaum bereitzustellen, die bei geringen Kosten und auch mit Bauelementen realisierbar ist, die keine erhöhten Qualitäts- und Toleranzanforderungen zu erfüllen brauchen.The object of the present invention is to provide an improved test device for determining the attenuation of an optical waveguide to be tested, in particular an optical waveguide in a prefabricated cable harness, which can be realized at low cost and also with components that do not need to meet increased quality and tolerance requirements.

Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Prüfeinrichtung mit einer Sendeeinheit zum Aussenden von Sendelicht einer vorbestimmten Intensität, einer ersten Koppelvorrichtung zum Koppeln der Sendeeinheit an ein erstes Ende des zu prüfenden Lichtwellenleiters, einer Empfangseinheit zum Abgeben einer die Intensität empfangenen Lichts repräsentierenden Ausgangsgröße, einer zweiten Koppelvorrichtung zum Koppeln der Empfangseinheit an ein zweites Ende des zu prüfenden Lichtwellenleiters, einer ersten Speichervorrichtung zum Speichern vorbestimmter einstellbarer Parameter zum Festlegen des konfigurationsabhängigen Verhaltens der Prüfeinrichtung, einer zweiten Speichervorrichtung zum Speichern von Information, die von dem Ergebnis einer an einem Referenzlichtwellenleiter durchgeführten Dämpfungsbestimmung abhängt, einer Auswertevorrichtung zum Auswerten der Ausgangsgröße der Empfangseinheit und einer Steuervorrichtung zum derartigen Steuern der Komponenten der Prüfeinrichtung in Abhängigkeit von in der ersten Speichervorrichtung gespeicherten Parametern, dass die Sendeeinheit bedarfsweise zum Abgeben eines Sendesignals aktiviert/deaktiviert wird, die Ausgangsgröße der Empfangseinheit zu einem ersten Zeitpunkt ohne Sendesignal ausgewertet wird, um einen Dunkelwert zu bestimmen, die Ausgangsgröße der Empfangseinheit zu einem zweiten Zeitpunkt mit Sendesignal ausgewertet wird, um einen Hellwert zu bestimmen, eine Dämpfungsinformation des zu prüfenden Lichtwellenleiters basierend auf dem Dunkelwert und dem Hellwert ermittelt wird und diese Dämpfungsinformation mit der in der zweiten Speichervorrichtung gespeicherten Information verglichen wird.This object is achieved by a testing device having a transmitting unit for emitting transmitted light of a predetermined intensity, a first coupling device for coupling the transmitting unit to a first end of the optical waveguide to be tested, a receiving unit for outputting an intensity representing the received light output, a second coupling device for Coupling the receiving unit to a second end of the optical waveguide to be tested, a first memory device for storing predetermined adjustable parameters for setting the configuration-dependent behavior of the test device, a second memory device for storing information that depends on the result of an attenuation determination performed on a reference optical waveguide, an evaluation device for evaluating the output of the receiving unit and a control device for controlling the components of the checking device in dep In the case of parameters stored in the first memory device such that the transmission unit is activated / deactivated as required for outputting a transmission signal, the output of the reception unit is evaluated at a first time without transmission signal to determine a dark value, the output quantity of the reception unit at a second time Transmit signal is evaluated to determine a bright value, an attenuation information of the optical fiber to be tested is determined based on the dark value and the bright value and this attenuation information is compared with the information stored in the second storage device.

Die erste Speichervorrichtung zum Speichern vorbestimmter einstellbarer Parameter zum Festlegen des konfigurationsabhängigen Verhaltens der Prüfeinrichtung ermöglicht es in Verbindung mit dem Steuern der Komponenten der Prüfeinrichtung in Abhängigkeit von in der ersten Speichervorrichtung gespeicherten Parametern, dass durch Konfigurationsvariationen oder das Ersetzen einzelner, die Messergebnisse der Prüfeinrichtung beeinflussender Bauelemente oder Module bedingte Beeinflussungen der Messgenauigkeit durch Ändern einzelner Parameter und somit durch einfache Softwaremanipulation ausgeglichen werden können.The first memory device for storing predetermined adjustable parameters for determining the configuration-dependent behavior of the test device, in conjunction with controlling the components of the test device in dependence on parameters stored in the first memory device, by configuration variations or the replacement of individual, the measurement results of the test device influencing components or module-related influences on the measurement accuracy by changing individual parameters and thus can be compensated by simple software manipulation.

Eine erste Weiterbildung der Erfindung sieht zusätzlich eine erste Vorrichtung zum temperaturabhängigen Beeinflussen der Abhängigkeit der Ausgangsgröße der Empfangseinheit von der Intensität des empfangenen Lichts vor, um einer Temperaturabhängigkeit eines opto-elektrischen Wandlers der Empfangseinheit entgegenzuwirken.A first development of the invention additionally provides a first device for temperature-dependent influencing of the dependence of the output variable of the receiving unit on the intensity of the received light, in order to counteract a temperature dependence of an opto-electrical converter of the receiving unit.

Eine zweite Weiterbildung der Erfindung sieht zusätzlich eine zweite Vorrichtung zum temperaturabhängigen Beeinflussen der Abhängigkeit der Intensität des Sendelichts eines elektro-optischen, das Sendelicht abgebenden Wandlers von einer Steuerinformation vor, um der Temperaturabhängigkeit dieses elektro-optischen Wandlers entgegenzuwirken.A second development of the invention additionally provides a second device for temperature-dependent influencing of the dependence of the intensity of the transmitted light of an electro-optical, the transmitting light emitting transducer of a control information in order to counteract the temperature dependence of this electro-optical converter.

Bei den genannten ersten und zweiten Weiterbildungen der Erfindung hängt vorzugsweise das temperaturabhängige Beeinflussen von in der ersten Speichervorrichtung gespeicherten Parametern ab, die wiederum von der Art des Wandlers abhängen. So wird beispielsweise der Arbeitspunkt einer lichtemittierenden Sendediode oder einer lichtempfindlichen Empfangsdiode in einer solchen Ausgestaltung der Erfindung durch Überlagerung des normalen, durch die jeweilige Diode fließenden Arbeitsstroms mit dem Ausgangsstrom einer digital steuerbaren Stromquelle oder Stromsenke festgelegt. Eine solche digital steuerbare Stromquelle oder Stromsenke liefert abhängig von einem eingegebenen Digitalwert nach einem vorbestimmten Zusammenhang zwischen Ausgangsstrom und digitaler Steuergröße einen konstanten Ausgangsstrom. Hierbei wird die digitale Steuergröße durch die Umgebungstemperatur festgelegt. Der Zusammenhang zwischen Ausgangsstrom und digitaler Steuergröße wird beispielsweise gemäß dieser Weiterbildung der Erfindung durch in der ersten Speichervorrichtung gespeicherte Parameter bestimmt, die abhängig von der Art der zu verwendenden Diode oder gar abhängig von der Art der für die Realisierung der steuerbaren Stromquelle oder Stromsenke verwendeten Bauelemente vorgegeben werden können.In the aforementioned first and second developments of the invention preferably depends on the temperature-dependent influencing stored in the first memory device parameters, which in turn depend on the type of the converter. For example, the operating point of a light emitting transmitter diode or a light receiving diode in such an embodiment of the invention by overlaying the normal, flowing through the respective diode working current with the output current of a digitally controllable current source or current sink is set. Such a digitally controllable current source or current sink supplies a constant output current depending on an input digital value according to a predetermined relationship between the output current and the digital control variable. Here, the digital control variable is determined by the ambient temperature. The relationship between output current and digital control variable is determined, for example, according to this embodiment of the invention by stored in the first memory device parameters, depending on the type of diode to be used or even depending on the type of components used for the realization of the controllable current source or current sink can be.

Durch diese Ausgestaltungsform der Erfindung können einzelne, für die Prüfergebnisse und somit für die Qualität der Prüfeinrichtung wesentliche Bauelemente oder Baugruppen ohne Qualitätseinbuße durch ähnliche Bauelemente oder Baugruppen ersetzt werden, was die Fertigung und auch die Reparatur entsprechender Prüfeinrichtungen unabhängig macht von der Verfügbarkeit einzelner Teile.By this embodiment of the invention, individual, for the test results and Thus, for the quality of the test equipment essential components or assemblies are replaced without loss of quality by similar components or assemblies, which makes the production and repair of appropriate test facilities independent of the availability of individual parts.

Eine erfindungsgemäße Prüfeinrichtung ist auch nicht darauf festgelegt, teure Bauelemente zu verwenden, die einen relativ großen Bereich mit linearem Zusammenhang zwischen Eingangsgrößen wie Steuergrößen oder Störgrößen wie Temperaturschwankungen und ihren Ausgangsgrößen haben. So sieht eine besonders günstige Variante der genannten ersten und zweiten Weiterbildungen der Erfindung vor, dass die temperaturabhängige Beeinflussung nichtlinear zur Temperatur ist. In einem solchen Fall können mehreren Bereichen der Eingangsgröße unterschiedliche Parameter zugeordnet werden oder es kann eine den nichtlinearen Zusammenhang widerspiegelnde Kennlinie in der ersten Speichervorrichtung abgelegt werden.A test device according to the invention is also not specified to use expensive components that have a relatively large range with a linear relationship between input variables such as control variables or disturbance variables such as temperature fluctuations and their output variables. Thus, a particularly favorable variant of the aforementioned first and second developments of the invention provides that the temperature-dependent influencing is non-linear to the temperature. In such a case, different ranges of the input variable may be assigned different parameters, or a characteristic line reflecting the non-linear relationship may be stored in the first memory device.

Zur Stabilisierung der Messung kann auf der Senderseite durch einen Strahlspalter ein festgelegter Teil des Sendelichtes ausgekoppelt werden und unmittelbar erfasst werden. Ein derart ermittelter Wert kann einer Steuervorrichtung als Parameter zur Verfügung gestellt werden, um Messergebnisse in Abhängigkeit von dieser Größe zu korrigieren. Die entsprechende Größe, die aus dem Signallicht gewonnen wird, kann neben der Intensität des Signallichtes auch dessen Wellenlänge sein. Ein von der Wellenlänge des Signallichtes abhängiger Wert kann einerseits zur Stabilisierung der senderseitigen Wellenlänge, andererseits aber auch zur Berücksichtigung bei der Auswertung des Messergebnisses herangezogen werden.To stabilize the measurement, a fixed part of the transmitted light can be coupled out on the transmitter side by a beam splitter and detected directly. A value determined in this way can be made available to a control device as a parameter in order to correct measurement results as a function of this variable. The corresponding size, which is obtained from the signal light, in addition to the intensity of the signal light and its wavelength. A dependent on the wavelength of the signal light value can be used on the one hand to stabilize the transmitter-side wavelength, on the other hand, but also to take into account in the evaluation of the measurement result.

Gemäß einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Prüfeinrichtung vorgesehen, bei der die Steuervorrichtung die Komponenten der Prüfeinrichtung steuert, um zum Prüfen eines zu prüfenden Lichtwellenleiters die Sendeeinheit mehrmals zu aktivieren und zu deaktivieren und um ein Bestimmen des Hellwertes durch Auswerten der Ausgangsgröße der Empfangseinheit in mindestens zwei Aktivierungsphasen der Sendeeinheit zu veranlassen.According to another aspect of the present invention, a test device is provided in which the control device controls the components of the test device in order to activate and deactivate the transmission unit several times to test an optical waveguide under test and to determine the brightness value by evaluating the output variable of the reception unit to cause at least two activation phases of the transmitting unit.

Eine solche erfindungsgemäße Prüfeinrichtung ermöglicht eine Erhöhung der Messgenauigkeit, da quasi mehrere Messungen ausgeführt werden und die einzelnen Messergebnisse zu einem Gesamtergebnis kombiniert werden können. So kann beispielsweise der Mittelwert aus den einzelnen Messergebnissen als Gesamtergebnis genommen werden. Auch können stark abweichende Einzelmessergebnisse verworfen werden oder zum Veranlassen eines erneuten Prüfvorgangs führen. Hierdurch erzielbare vorteilhafte Effekte sind nicht unbedingt abhängig von einer ersten Speichervorrichtung zum Speichern vorbestimmter einstellbarer Parameter zum Festlegen des konfigurationsabhängigen Verhaltens der Prüfeinrichtung.Such a test device according to the invention makes it possible to increase the measurement accuracy, since virtually several measurements are carried out and the individual measurement results can be combined to form an overall result. For example, the mean value from the individual measurement results can be taken as the overall result. Also strongly deviating individual measurement results can be discarded or lead to the initiation of a new test procedure. This achievable advantageous effects are not necessarily dependent on a first memory device for storing predetermined adjustable parameters for setting the configuration-dependent behavior of the tester.

Eine vorteilhafte Weiterbildung der erfindungsgemäßen Prüfeinrichtung, insbesondere der Prüfeinrichtung der letztgenannten Art, sieht vor, die Steuereinrichtung durch die Flanke des an der Empfangseinheit empfangenen Signallichts zu veranlassen, das Auswerten der Ausgangsgröße der Empfangseinheit zu veranlassen. Diese Maßnahme ermöglicht eine sehr einfache und sehr schnelle Synchronisation der Auswertevorrichtung und der Sendeeinheit, da die Reaktion der empfängerseitigen Auswertevorrichtung nur durch deren Reaktionszeit und nicht zusätzlich durch eine Datenkommunikation verzögert wird. Hierdurch erzielbare vorteilhafte Effekte sind nicht unbedingt abhängig von einer ersten Speichervorrichtung zum Speichern vorbestimmter einstellbarer Parameter zum Festlegen des konfigurationsabhängigen Verhaltens der Prüfeinrichtung.An advantageous development of the test device according to the invention, in particular the test device of the latter type, provides to cause the control device by the edge of the signal received at the receiving unit signal light to cause the evaluation of the output of the receiving unit. This measure enables a very simple and very fast synchronization of the evaluation device and the transmitting unit, since the reaction of the receiver-side evaluation device is delayed only by their reaction time and not additionally by a data communication. This achievable advantageous effects are not necessarily dependent on a first memory device for storing predetermined adjustable parameters for setting the configuration-dependent behavior of the tester.

Neben der beschriebenen flankengesteuerten Synchronisierung zwischen Empfangsseite und Sendeseite kann auch eine signalpegelabhängige Synchronisierung oder eine frequenzgesteuerte Synchronisierung mit Hilfe des Signallichtes erfolgen.In addition to the described edge-triggered synchronization between the receiving side and the transmitting side, it is also possible to carry out a signal-level-dependent synchronization or a frequency-controlled synchronization with the aid of the signal light.

Bei einer anderen günstigen Weiterbildung einer erfindungsgemäßen Prüfeinrichtung führt die Steuervorrichtung ein Bestimmen des Dunkelwertes vor und nach dem Bestimmen des Hellwertes aus.In another favorable development of a test device according to the invention, the control device carries out a determination of the dark value before and after the determination of the bright value.

Alternativ hierzu veranlasst die Steuervorrichtung in einer anderen Weiterbildung einer erfindungsgemäßen Prüfeinrichtung ein Bestimmen des Dunkelwertes zwischen zwei Aktivierungsphasen der Sendeeinheit.Alternatively, in another development of a test device according to the invention, the control device initiates a determination of the dark value between two activation phases of the transmission unit.

Diese beiden Alternativen ermöglichen es, aufgrund starker Umgebungslichtänderungen während des Prüfvorgangs bedingte falsche Prüfergebnisse zu erkennen und ggf. einen neuen Prüfvorgang zu veranlassen oder aus redundanten Messdaten ein unverfälschtes Ergebnis zu ermitteln. Wenn nämlich der Dunkelwert vor dem Hellwert ermittelt wird und zwischen diesen beiden Messvorgängen künstliches Umgebungslicht ein- oder ausgeschaltet wird oder durch Öffnen oder Schließen eines Tors oder einer Tageslichtverdunkelung die Umgebungshelligkeit stark verändert wird, liefert ein solcher Prüfvorgang ein falsches Ergebnis. Dadurch werden bei parallel laufenden Prüfvorgängen etliche Prüflinge verworfen, obwohl sie die gestellten Anforderungen erfüllen würden. Bei Prüfeinrichtungen gemäß einer der beiden vorstehenden Weiterbildungen der Erfindung kann durch Vergleichen der beiden Dunkelwerte oder durch Vergleichen der beiden vor und nach dem Dunkelwert bestimmten Hellwerte ermittelt werden, ob die Differenz der entsprechenden Werte einen vorgegebenen Schwellwert überschreitet, oberhalb dem eine einen zulässigen Prüfvorgang störende Beeinträchtigung der Umgebungshelligkeit angenommen werden kann. Abhängig von diesem Ergebnis kann dann ein erneuter Prüfvorgang veranlasst werden.These two alternatives make it possible to detect conditional false test results due to strong changes in ambient light during the test procedure and, if necessary, to initiate a new test procedure or to determine an unadulterated result from redundant measured data. Namely, if the dark value is determined before the light value and artificial ambient light is switched on or off between these two measuring processes, or if the ambient brightness is greatly changed by opening or closing a door or a daylight darkening, such a test process yields a false result. As a result, a number of test items are rejected in parallel test procedures, although they would meet the requirements. In testing devices according to one of the two preceding developments of the invention, it can be determined by comparing the two dark values or by comparing the two light values determined before and after the dark value, whether the Difference of the corresponding values exceeds a predetermined threshold, above which an impairment of the ambient brightness disturbing a permissible test process can be assumed. Depending on this result, a new test procedure can then be initiated.

In einer besonders günstigen Weiterbildung einer erfindungsgemäßen Prüfeinrichtung prüft die Steuervorrichtung vor dem Durchführen eines Prüfvorgangs zum Bestimmen der Dämpfung eines zu prüfenden Lichtwellenleiters, ob in der zweiten Speichervorrichtung eine Information gespeichert ist. Abhängig hiervon veranlasst sie die Ausgabe einer von einer Bedienperson wahrnehmbaren ersten Information. Eine solche Information kann beispielsweise akustisch durch ein Warnsignal oder eine synthetische Sprachausgabe erfolgen. Sie kann auch optisch wahrnehmbar sein, wie zum Beispiel eine Warnleuchte oder eine Information auf einer Anzeige in Form eines Piktogramms oder einer lesbaren Information. Selbstverständlich sind auch Kombinationen der genannten Informationsausgabeformen möglich. Die Information kann sich auf eine Warnung beschränken. Es ist aber auch möglich, einen Prüfvorgang nicht zuzulassen oder den Bediener zu fragen, ob der nun vorzunehmende Prüfvorgang an einem Referenzlichtwellenleiter durchgeführt wird, um eine in der zweiten Speichervorrichtung zu speichernde Information zu ermitteln.In a particularly favorable further development of a test device according to the invention, before carrying out a test procedure for determining the damping of an optical waveguide to be tested, the control device checks whether information is stored in the second memory device. Depending on this, it causes the output of a first information perceptible by an operator. Such information can for example be acoustically by a warning signal or a synthetic speech output. It may also be visually perceptible, such as a warning light or information on a display in the form of a pictogram or readable information. Of course, combinations of the aforementioned information output forms are possible. The information can be limited to a warning. However, it is also possible not to allow a test procedure or to ask the operator whether the test procedure now to be performed on a reference optical waveguide is carried out in order to determine an information to be stored in the second memory device.

In einer weiteren günstigen Weiterbildung einer erfindungsgemäßen Prüfeinrichtung prüft die Steuervorrichtung vor dem Durchführen eines Prüfvorgangs zum Bestimmen der Dämpfung eines zu prüfenden Lichtwellenleiters, ob die Zeitspanne zwischen dem Einspeichern einer Information in der zweiten Speichervorrichtung und dem Zeitpunkt dieser Überprüfung einen vorbestimmten Schwellwert überschreitet, um abhängig hiervon die Ausgabe einer von einer Bedienperson wahrnehmbaren zweiten Information zu veranlassen. Eine solche zweite Information kann in ähnlicher Weise wie die vorstehend beschriebene erste Information ausgegeben werden. Dieses Merkmal stellt sicher, dass Prüfvorgänge nicht mit veralteten Referenzmessergebnissen ausgeführt werden.In a further favorable development of a test device according to the invention, before carrying out a test procedure for determining the attenuation of an optical waveguide to be tested, the control device checks whether the time span between the storage of information in the second memory device and the time of this test exceeds a predetermined threshold, in dependence thereon to cause the output of a second information perceptible by an operator. Such second information may be output in a manner similar to the first information described above. This feature ensures that test operations are not performed with outdated reference measurement results.

Eine erfindungsgemäße Prüfeinrichtung hat abhängig von der jeweiligen Verwendungsart drei mögliche bevorzugte Ausgestaltungen.A test device according to the invention has three possible preferred embodiments, depending on the respective mode of use.

In einer ersten Ausgestaltung einer solchen Prüfeinrichtung bilden die Sendeeinheit, die erste Koppelvorrichtung, die erste Speichervorrichtung und die Steuervorrichtung eine physikalische Einheit, wobei die Steuervorrichtung über eine Bus-Schnittstelle mit einer übergeordneten Steuerung verbindbar ist.In a first embodiment of such a test device, the transmitting unit, the first coupling device, the first memory device and the control device form a physical unit, wherein the control device can be connected via a bus interface to a higher-level control.

In einer zweiten Ausgestaltung einer solchen Prüfeinrichtung bilden die Empfangseinheit, die zweite Koppelvorrichtung, die erste Speichervorrichtung, die zweite Speichervorrichtung, die Auswertevorrichtung und die Steuervorrichtung eine physikalische Einheit bilden, wobei die Steuervorrichtung über eine Bus-Schnittstelle mit einer übergeordneten Steuerung verbindbar ist.In a second embodiment of such a test device, the receiving unit, the second coupling device, the first memory device, the second memory device, the evaluation device and the control device form a physical unit, wherein the control device can be connected to a higher-level controller via a bus interface.

In einer dritten Ausgestaltung einer solchen Prüfeinrichtung bilden die Sendeeinheit, die erste Koppelvorrichtung, die Empfangseinheit, die zweite Koppelvorrichtung, die erste Speichervorrichtung, die zweite Speichervorrichtung, die Auswertevorrichtung und die Steuervorrichtung eine physikalische Einheit, wobei die Steuervorrichtung über eine Bus-Schnittstelle mit einer Steuerung außerhalb dieser physikalischen Einheit verbindbar ist.In a third embodiment of such a test device, the transmitting unit, the first coupling device, the receiving unit, the second coupling device, the first memory device, the second memory device, the evaluation device and the control device form a physical unit, wherein the control device via a bus interface with a controller is connectable outside of this physical unit.

Nachstehend wird die Erfindung anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Figuren näher erläutert. Hierbei werden in verschiedenen Figuren gleiche oder gleichwirkende Funktionseinheiten mit gleichen oder ähnlichen Bezugszeichen bezeichnet. Es zeigt:The invention will be explained in more detail by means of embodiments with reference to the figures. Here, identical or equivalent functional units are denoted by the same or similar reference numerals in different figures. It shows:

1 in schematischer Darstellung ein Blockschaltbild mit Funktionsblöcken eines ersten Ausführungsbeispiels einer erfindungsgemäßen Prüfeinrichtung; 1 a schematic diagram of a block diagram with function blocks of a first embodiment of a test device according to the invention;

2 in schematischer Darstellung ein Blockschaltbild einer zweiten Ausgestaltungsform einer erfindungsgemäßen Prüfeinrichtung, 2 a schematic diagram of a block diagram of a second embodiment of a test device according to the invention,

3 in schematischer Darstellung das Zusammenspiel verschiedener Funktionsblöcke zur Realisierung von in einer Prüfeinrichtung gemäß 1 verwendeten Vorrichtungen. 3 in a schematic representation of the interaction of various functional blocks for the realization of in a test device according to 1 used devices.

1 zeigt Funktionsblöcke einer ersten Ausgestaltungsform einer erfindungsgemäßen Prüfeinrichtung. Die dargestellte Prüfeinrichtung enthält eine Sendeeinheit 1, eine Empfangseinheit 2, eine Auswertevorrichtung 3, eine Steuervorrichtung 4, eine Busschnittstelle 5, eine Adaptionseinheit 6 mit einer ersten Koppelvorrichtung 11 und einer zweiten Koppelvorrichtung 12 und eine Speichereinheit 10 mit einer ersten Speichervorrichtung 13 zum Speichern vorbestimmter einstellbarer Parameter zum Festlegen des konfigurationsabhängigen Verhaltens der Prüfeinrichtung und mit einer zweiten Speichervorrichtung 14 zum Speichern von Information, die von dem Ergebnis einer an einem Referenzlichtwellenleiter durchgeführten Dämpfungsbestimmung abhängt. Darüber hinaus sind optionale, in der praktischen Anwendung sinnvolle Einrichtungen dargestellt, wie eine Spannungsversorgung 9, Signalausgänge 7 und Signaleingänge 8. 1 zeigt außerdem einen Funktionsblock 26, der die Funktion einer Vorrichtung zum temperaturabhängigen Beeinflussen der Abhängigkeit der Ausgangsgröße der Empfangseinheit 2 von der Intensität des empfangenen Lichts enthält, die dazu dient, eine Temperaturabhängigkeit eines nicht dargestellten opto-elektrischen Wandlers der Empfangseinheit 2 entgegenzuwirken, indem er an einer Ausgangsklemme C1 eine geeignete Ausgangsgröße zur Verfügung stellt. Daneben ist ein Funktionsblock für eine Vorrichtung 27 dargestellt, die zum temperaturabhängigen Beeinflussen der Abhängigkeit der Intensität des Sendelichts eines nicht dargestellten opto-elektrischen, das Sendelicht abgebenden Wandlers von einer Steuerinformation vorgesehen ist, um der Temperaturabhängigkeit dieses opto-elektrischen Wandlers entgegenzuwirken. Diese zweite Vorrichtung zum temperaturabhängigen Beeinflussen stellt eine geeignete Ausgangsgröße an einer Ausgangsklemme C2 zur Verfügung. Eine mögliche Ausgestaltungsform der Vorrichtung 26 sowie der Vorrichtung 27 zum temperaturabhängigen Beeinflussen der Empfangseinheit 2 bzw. der Sendeeinheit 1 wird später unter Bezugnahme auf 3 näher erläutert. 1 shows functional blocks of a first embodiment of a test device according to the invention. The test device shown contains a transmitting unit 1 , a receiving unit 2 , an evaluation device 3 , a control device 4 , a bus interface 5 , an adaptation unit 6 with a first coupling device 11 and a second coupling device 12 and a storage unit 10 with a first storage device 13 for storing predetermined adjustable parameters for determining the configuration-dependent behavior of the checking device and with a second storage device 14 for storing information that depends on the result of an attenuation determination made on a reference optical fiber. In addition, optional, useful in practical application devices are shown as a power supply 9 , Signal outputs 7 and signal inputs 8th , 1 also shows a function block 26 which is the function of a device for Temperature-dependent influencing the dependence of the output of the receiving unit 2 contains the intensity of the received light, which serves a temperature dependence of an unillustrated opto-electrical converter of the receiving unit 2 counteract by providing an appropriate output at an output terminal C1. Next to it is a functional block for a device 27 illustrated, which is provided for temperature-dependent influencing the dependence of the intensity of the transmitted light of an opto-electrical, not shown, the transmitting light emitting transducer of a control information to counteract the temperature dependence of this opto-electrical transducer. This second temperature-dependent influencing device provides a suitable output quantity at an output terminal C2. A possible embodiment of the device 26 as well as the device 27 for temperature-dependent influencing of the receiving unit 2 or the transmitting unit 1 will be referring to later 3 explained in more detail.

Die Sendeeinheit 1 dient als Quelle für ein Prüfsignal, mit dem ein in 1 nicht dargestellter zu prüfender Lichtwellenleiter geprüft werden soll. Der Ausgangspegel, das heißt die abgegebene Lichtintensität der Sendeeinheit 1 wird stabilisiert, wobei abhängig von den Anforderungen der durchzuführenden Messung und abhängig von der Art und der speziellen Ausführung eines nicht dargestellten opto-elektrischen Wandlers unterschiedliche Parameter verwendet werden können, die in der Speichereinheit 10, insbesondere in der Parameterspeichervorrichtung 13 gespeichert werden können. Die Sendeeinheit 1 ist vorzugsweise derart aufgebaut, dass ein Einsatz sowohl mit als auch ohne Vorlauffaser zwischen der Sendeeinheit und der einer Adaption dienenden ersten Koppelvorrichtung 11 vorgesehen sein kann. Als nicht dargestellter elektro-optischer Wandler kann beispielsweise eine Leuchtdiodenanordnung oder eine Laseranordnung verwendet werden. Bei Verwendung einer Leuchtdiode wird diese vorzugsweise über eine Stromquelle gespeist. Die Einstellung der Stromquelle und somit der Arbeitsstrom der Leuchtdiode erfolgt hierbei über die Steuervorrichtung 4. Eine Temperaturkompensation der Sendeeinheit 1, das heißt ein Ausregeln der abgegebenen Lichtintensität bei sich ändernder Umgebungstemperatur, wird vorzugsweise von der Steuereinheit 4 gesteuert. Ein Beispiel einer solchen Steuerung wird später unter Bezugnahme auf 3 näher erläutert. Zusätzlich zur digitalen Temperaturkompensation kann zusätzlich eine analoge Temperaturkompensationsschaltung vorgesehen sein. Eine für viele Anwendungsfälle sinnvoll einsetzbare Sendeeinheit 1 gibt mit Hilfe einer Leuchtdiode eine Lichtleistung von bis zu –10 dBm bei einer Wellenlänge von ca. 650 nm ab.The transmitting unit 1 serves as a source for a test signal with an in 1 not shown to be tested optical fiber to be tested. The output level, that is, the emitted light intensity of the transmitting unit 1 is stabilized, wherein depending on the requirements of the measurement to be performed and depending on the type and specific embodiment of an opto-electrical converter, not shown, different parameters can be used in the memory unit 10 , in particular in the parameter storage device 13 can be stored. The transmitting unit 1 is preferably constructed such that an insert both with and without feed fiber between the transmitting unit and the first coupling device serving an adaptation 11 can be provided. As an unillustrated electro-optical converter, for example, a light emitting diode array or a laser array can be used. When using a light emitting diode, this is preferably powered by a power source. The adjustment of the current source and thus the operating current of the LED takes place via the control device 4 , A temperature compensation of the transmitting unit 1 That is, a compensation of the emitted light intensity with changing ambient temperature, is preferably by the control unit 4 controlled. An example of such control will be described later with reference to FIG 3 explained in more detail. In addition to the digital temperature compensation, an analog temperature compensation circuit may additionally be provided. A useful for many applications sender unit 1 emits a light output of up to -10 dBm at a wavelength of approx. 650 nm with the aid of a light-emitting diode.

Die Empfangseinheit 2 empfängt über die zweite Koppelvorrichtung 12 von dem in 1 nicht dargestellten zu prüfenden Lichtwellenleiter bei eingeschaltetem Sender ein Prüfsignal für einen Hellwert und bei ausgeschaltetem Sender ein Prüfsignal für einen Dunkelwert. Die Empfangseinheit 2 wandelt diese Prüfsignale in Digitalwerte um. Diese Digitalwerte können je nach Anforderung und Ausführung des Messaufbaus unter Berücksichtigung verschiedener Parameter wie der Temperatur, der Wellenlänge etc. korrigiert werden. Die Empfangseinheit 2 ist vorzugsweise derart ausgelegt, dass sie sowohl mit einer Nachlauffaser zwischen der Empfangseinheit 2 und der zweiten Koppelvorrichtung 12 als auch ohne eine solche Nachlauffaser betrieben werden kann. Als opto-elektrischer Wandler wird vorzugsweise eine Photodiode, zum Beispiel eine Silizium- oder Galliumarsenit-Photodiode verwendet, es kann aber auch ein Phototransistor, ein Photowiderstand oder jeder andere geeignete lichtempfindliche Wandler eingesetzt werden. Das opto-elektrische Wandlerelement und gegebenenfalls dessen Steuerschaltung sind vorzugsweise modular mit den übrigen Komponenten, insbesondere mit der Steuervorrichtung 4 verbunden. So kann die Empfangseinheit 2 beispielsweise auf einer steckbaren Platine aufgebaut sein, die ein einfaches Austauschen der opto-elektrischen Wandlerkomponente ermöglicht. Die Steuervorrichtung 4 kann vorzugsweise die Empfangseinheit 2 abhängig von in der ersten Speichervorrichtung 13 enthaltenen Parametern auf zwei Arten beeinflussen. So kann die Steuervorrichtung 4 beispielsweise das Analogwertverhalten der Empfangseinheit 2, das heißt, die Abhängigkeit der von einer opto-elektrischen Wandlereinheit abgegebenen Ausgangsgröße von der optischen Eingangsgröße beeinflussen. Andererseits kann die Steuervorrichtung 4 auch die Auswertung des von der Empfangseinheit 2 abgegebenen, digitalisierten Signales, in Abhängigkeit von in dem Parameterspeicher 13 gespeicherten Parametern beeinflussen.The receiving unit 2 receives via the second coupling device 12 from the in 1 not shown to be tested optical fiber with the transmitter switched on a test signal for a bright value and the transmitter off a test signal for a dark value. The receiving unit 2 converts these test signals into digital values. These digital values can be corrected, depending on the requirements and design of the measurement setup, taking into account various parameters such as temperature, wavelength, etc. The receiving unit 2 is preferably designed such that it can be connected both to a trailing fiber between the receiving unit 2 and the second coupling device 12 as well as without such a tracking fiber can be operated. As the opto-electrical converter is preferably a photodiode, for example, a silicon or gallium arsenite photodiode used, but it can also be a phototransistor, a photoresistor or any other suitable photosensitive transducer can be used. The opto-electrical converter element and optionally its control circuit are preferably modular with the other components, in particular with the control device 4 connected. So can the receiving unit 2 For example, be constructed on a plug-in board, which allows easy replacement of the opto-electrical converter component. The control device 4 may preferably be the receiving unit 2 depending on in the first storage device 13 influence parameters in two ways. So can the control device 4 for example, the analog value behavior of the receiving unit 2 that is, affecting the dependence of the output from an opto-electrical converter unit output from the optical input. On the other hand, the control device 4 also the evaluation of the receiving unit 2 output, digitized signal, as a function of in the parameter memory 13 affect stored parameters.

Die Empfangseinheit 2 liefert abhängig von einer Flanke eines empfangenen Lichtsignals eine Steuerinformation zum Synchronisieren der Empfängerseite, insbesondere der Auswertung in Abhängigkeit von der Senderseite. Eine für viele Anwendungsfälle geeignete Empfangseinheit 2 kann Lichtsignale in einem Bereich zwischen –26 dBm und –10 dBm auswerten.The receiving unit 2 supplies depending on an edge of a received light signal control information for synchronizing the receiver side, in particular the evaluation in dependence on the transmitter side. A suitable reception unit for many applications 2 can evaluate light signals in a range between -26 dBm and -10 dBm.

Die Auswertevorrichtung 3 besteht in erster Linie aus einer Prozessoreinheit und geeigneter Software zum Steuern dieser Einheit. Der in 1 dargestellte Auswertevorrichtungsblock 3 kann am Messplatz, beispielsweise innerhalb eines Prüfgerätes oder in einem am Messplatz mit einem Prüfgerät verbundenen Computer realisiert sein. Da die Auswertung jedoch nicht zeitkritisch ist, kann sie auch in einer zentralen Steuereinheit (4c in 2) realisiert sein, die über einen Datenbus und die Busschnittstelle 5 in die Prüfeinrichtung integrierbar ist. Eine zentrale Steuereinheit (4c in 2) zur Realisierung der Auswertevorrichtung hat den Vorteil, dass beim Einsatz mehrerer Prüfeinrichtungen die Kosten der einzelnen Geräte reduziert werden können und zudem die einzelnen Auswerteergebnisse mehrerer Prüfeinrichtungen leichter zentral erfasst werden können.The evaluation device 3 consists primarily of a processor unit and suitable software for controlling this unit. The in 1 illustrated Auswertevorageungsblock 3 may be implemented at the measuring station, for example within a test device or in a computer connected to a test device at the measuring station. However, since the evaluation is not time-critical, it can also be used in a central control unit ( 4c in 2 ) realized be that over a data bus and the bus interface 5 can be integrated into the test device. A central control unit ( 4c in 2 ) for the realization of the evaluation device has the advantage that when using multiple test equipment, the cost of each device can be reduced and also the individual evaluation results of several test facilities can be easily detected centrally.

Nachdem die Auswertevorrichtung 3 von der Empfangseinheit 2 Prüfinformation empfangen hat, wird diese Information verarbeitet und über einen Rechenalgorithmus in einen Dämpfungswert, vorzugsweise in dB umgerechnet. Dieser Messwert wird dann zur Bewertung der Qualität des jeweiligen Prüflings herangezogen. Die Bewertung eines Prüflings erfolgt hierbei durch Vergleichen des ermittelten Messwertes mit der Information, die von dem Ergebnis einer an einem Referenzlichtwellenleiter durchgeführten Dämpfungsbestimmung abhängig ist und in der zweiten Speichervorrichtung 14 gespeichert ist.After the evaluation device 3 from the receiving unit 2 Received check information, this information is processed and converted by a calculation algorithm into an attenuation value, preferably in dB. This measured value is then used to evaluate the quality of the respective test object. In this case, the evaluation of a test object is carried out by comparing the determined measured value with the information which is dependent on the result of an attenuation determination carried out on a reference optical waveguide and in the second memory device 14 is stored.

Die Steuervorrichtung 4 übernimmt die Steuerung der restlichen Funktionsblöcke und kann auch zur Stabilisierung beziehungsweise Korrektur der geforderten Parameter für die Sende- und Empfangseinheit 1, 2 verwendet werden. Die Steuereinheit sorgt auch für Synchronität zwischen Sende- und Empfangseinheit 1, 2. Sie wird vorzugsweise durch einen Mikrocontroller, aber auch durch eine Kombination analoger und/oder logischer Baugruppen mit einem Mikroprozessor oder Mikrocontroller realisiert, der über einen in 1 nicht dargestellten und über Steuerleitungen und/oder einen in 2 mit 20 bezeichneten Bus mit den einzelnen Komponenten der Prüfeinrichtung zusammenwirkt. Außerdem kommuniziert die Steuervorrichtung 4 über eine Busschnittstelle 5 und eine Kommunikationsverbindung 23 (in 2), z. B. einen Messbus mit einer übergeordneten Steuervorrichtung 4c (in 2). Die Steuervorrichtung 4 steuert insbesondere die Sendeeinheit 1, die Empfangseinheit 2 und die Auswertevorrichtung 3 in Abhängigkeit von in dem Parameterspeicher 13 gespeicherten Parametern. Die Steuervorrichtung 4 steuert vorzugsweise auch die Adaptionsvorrichtung 6 mit der ersten und zweiten Koppelvorrichtung 11, 12, um ein korrektes Ankoppeln eines Prüflings zu kontrollieren und gegebenenfalls, um die erste und zweite Koppelvorrichtung 11 und 12 zu verriegeln und nach Beendigung eines Messablaufes freizugeben.The control device 4 takes over the control of the remaining functional blocks and can also stabilize or correct the required parameters for the transmitting and receiving unit 1 . 2 be used. The control unit also ensures synchronicity between the transmitting and receiving unit 1 . 2 , It is preferably realized by a microcontroller, but also by a combination of analog and / or logical modules with a microprocessor or microcontroller, which has a in 1 not shown and via control lines and / or an in 2 With 20 designated bus interacts with the individual components of the test device. In addition, the control device communicates 4 via a bus interface 5 and a communication connection 23 (in 2 ), z. B. a measuring bus with a higher-level control device 4c (in 2 ). The control device 4 controls in particular the transmitting unit 1 , the receiving unit 2 and the evaluation device 3 depending on in the parameter memory 13 stored parameters. The control device 4 preferably also controls the adaptation device 6 with the first and second coupling device 11 . 12 to control a correct coupling of a test specimen and, where appropriate, to the first and second coupling device 11 and 12 to lock and release after completion of a measurement procedure.

Zur Realisierung der Prüfabläufe kann die Steuereinheit gegebenenfalls auch auf externe Speichervorrichtungen zugreifen. Die Kommunikation mit einem übergeordneten System muss nicht zwangsläufig über einen Messbus 23, sondern kann auch über beliebige andere Kommunikationswege unter Verwendung geeigneter Protokolle wie TCP/IP, CAN-Protokoll, DRX-FCAM-Protokoll etc. ausgeführt werde. Entsprechend ist die Busschnittstelle 5 auszugestalten, die selbstverständlich nicht auf eine Messbus-Schnittstelle gemäß RS485 beschränkt ist.If necessary, the control unit can also access external memory devices in order to implement the test sequences. Communication with a higher-level system does not necessarily have to be via a measuring bus 23 but can also be carried out via any other communication paths using suitable protocols such as TCP / IP, CAN protocol, DRX-FCAM protocol etc. The bus interface is the same 5 of course, which is not limited to a measuring bus interface according to RS485.

Die Adaptionsfunktion 6 sieht das Anpassen eines zu prüfenden Lichtwellenleiters 15 (in 2) an die Sendeeinheit 1 und die Empfangseinheit 2 vor. Hierzu kann die erste Koppelvorrichtung bedarfsweise einen Steckverbinder zum Aufnehmen eines Steckverbinders des zu prüfenden Lichtwellenleiters vorsehen. Darüber hinaus sind abhängig von der Art der Messung und von der Konfiguration der Prüfgeräte und der zu prüfenden Lichtwellenleiteranordnung Koppelvorrichtungen 11 mit oder ohne Vorlauffaser zwischen einem solchen Steckverbinder und der Sendeeinheit 1 möglich. Außerdem ist abhängig von der Art der Messung eine Koppelvorrichtung 11 mit oder ohne Modenmischer möglich.The adaptation function 6 sees the fitting of an optical fiber to be tested 15 (in 2 ) to the transmitting unit 1 and the receiving unit 2 in front. For this purpose, the first coupling device, if necessary, provide a connector for receiving a connector of the optical waveguide to be tested. In addition, depending on the type of measurement and the configuration of the test equipment and the fiber optic device to be tested coupling devices 11 with or without feed fiber between such a connector and the transmitting unit 1 possible. In addition, depending on the type of measurement, a coupling device 11 possible with or without mode mixer.

Die zweite Koppelvorrichtung 12 zum Verbinden der Empfangseinheit 2 mit dem zu prüfenden Lichtwellenleiter 15 kann in analoger Weise wie die erste Koppelvorrichtung 11 aufgebaut sein, das hehlt mit oder ohne Modenmischer bzw. mit oder ohne Rücklauffaser.The second coupling device 12 for connecting the receiving unit 2 with the optical fiber to be tested 15 can in an analogous manner as the first coupling device 11 be built, that includes with or without mode mixer or with or without return fiber.

Durch die Art der Koppelvorrichtung 11 bzw. 12 zum Ankoppeln der Sendeeinheit 1 bzw. der Empfangseinheit 2, durch die Art des zu prüfenden Lichtwellenleiters 15 und durch die optische Ausgestaltung der Sendeeinheit 1 bzw. der Empfangseinheit 2 bedingte Parameter können in dem Parameterspeicher 13 gespeichert werden, um entsprechende Korrekturen der Messergebnisse durch die Steuervorrichtung 4 zu ermöglichen.By the nature of the coupling device 11 respectively. 12 for coupling the transmitting unit 1 or the receiving unit 2 , by the type of optical fiber to be tested 15 and by the optical design of the transmitting unit 1 or the receiving unit 2 conditional parameters can be stored in the parameter memory 13 are stored to corresponding corrections of the measurement results by the control device 4 to enable.

Der Parameterspeicher 13 ist vorzugsweise durch einen nicht flüchtigen Speicher wie zum Beispiel ein EEPROM oder einen Flash-Speicher realisiert. Mögliche Parameter, die im Parameterspeicher 13 gespeichert werden können, um der Steuervorrichtung 4 das Festlegen des konfigurationsabhängigen Verhaltens der Prüfeinrichtung zu ermöglichen, sind beispielsweise, wie vorstehend erwähnt, abhängig von der Adaption und dem zu prüfenden Lichtwellenleiter. Außerdem können sie abhängig sein von Kalibriergrößen und von bestimmten Bauelementen innerhalb der Prüfeinrichtung, deren Verhalten durch die Steuervorrichtung 4 veränderbar ist.The parameter memory 13 is preferably realized by a non-volatile memory such as an EEPROM or a flash memory. Possible parameters in the parameter memory 13 can be stored to the control device 4 For example, as stated above, depending on the adaptation and the optical waveguide to be tested, it is possible to determine the configuration-dependent behavior of the test device. In addition, they can be dependent on calibration variables and on certain components within the test device, their behavior by the control device 4 is changeable.

Solche Bauelemente können beispielsweise opto-elektrische Wandler in der Empfangseinheit 2, elektro-optische Wandler in der Sendeeinheit 1 oder andere Hardwarekomponenten wie zum Beispiel Bauelemente zum Realisieren von Stromquellen sein. Durch das Vorliegen geeigneter Parameter im Parameterspeicher 13 durch die Steuervorrichtung 4 ausgleichbare Effekte können beispielsweise Effekte sein, die durch Alterung von Bauelementen oder durch Temperaturschwankungen, aber auch durch Störlichtschwankungen etc. auftreten.Such components can, for example, opto-electrical converter in the receiving unit 2 , electro-optical converter in the transmitting unit 1 or other hardware components such as devices for realizing power sources. By the presence of suitable parameters in the parameter memory 13 through the control device 4 compensatable effects can be, for example, effects that occur due to aging of components or due to temperature fluctuations, but also due to disturbing light fluctuations, etc.

Durch die Parametrierung in der Prüfeinrichtung ist es möglich, unterschiedliche Arten von Lichtwellenleitern zu prüfen, unterschiedliche Adaptionen zu verwenden, unterschiedliche Sendeeinheiten 1 zu verwenden, unterschiedliche Empfangseinheiten 2 zu verwenden und das Testsystem ohne übergeordnetes Steuersystem 4c zu verwenden. The parameterization in the test device makes it possible to test different types of optical waveguides, to use different adaptations, different transmission units 1 to use different receiving units 2 to use and the test system without higher-level control system 4c to use.

Die Spannungsversorgung 9 stellt die Spannungsversorgung der einzelnen Komponenten der Prüfeinrichtung sicher. Diese Spannungsversorgung 9 ist vorzugsweise galvanisch getrennt ausgeführt, um einen Bezug zur Umgebung auszuschließen. In einer besonders günstigen Ausgestaltungsform einer Prüfeinrichtung sind zwei getrennte Spannungsversorgungen 9 vorgesehen, die wahlweise zur Versorgung der einzelnen Komponenten der Prüfeinrichtung verwendet werden können oder von denen eine zum Versorgen externer Zusatzeinrichtungen vorgesehen sein kann.The power supply 9 ensures the power supply of the individual components of the test device. This power supply 9 is preferably carried out galvanically isolated in order to exclude a reference to the environment. In a particularly favorable embodiment of a test device are two separate power supplies 9 provided, which can be used either to supply the individual components of the test device or one of which can be provided for supplying external auxiliary devices.

Über die Signalausgänge 7, die vorzugsweise galvanisch getrennt sind, können externe Funktionen angesteuert werden, die beispielsweise zur Ablaufsteuerung benötigt werden und von Fall zu Fall variieren können. Solche Ausgänge werden vorzugsweise mit Hilfe von Relais realisiert.About the signal outputs 7 , which are preferably galvanically isolated, external functions can be controlled, which are needed for example for flow control and may vary from case to case. Such outputs are preferably realized by means of relays.

Die Signaleingänge 8 sind ebenfalls vorzugsweise galvanisch getrennt und sind fallweise für die Ablaufsteuerung eines Prüfvorganges erforderlich. Durch diese Eingänge ist die Prüfeinrichtung befähigt, auf bestimmte Zustandsänderungen externer Funktionen zu reagieren.The signal inputs 8th are also preferably electrically isolated and are occasionally required for the flow control of a test procedure. These inputs enable the tester to respond to certain state changes of external functions.

2 zeigt eine zweite Ausgestaltungsform einer Prüfeinrichtung gemäß der Erfindung mit einer sendeseitigen physikalischen Einheit 16, die vorzugsweise abgesehen von Teilen der Koppelvorrichtung 11 in einem Gestell oder einem Gehäuse realisiert ist und mit einer empfangsseitigen physikalischen Einheit 17, die ebenfalls, gegebenenfalls abgesehen von Teilen der zweiten Koppelvorrichtung 12 in einem Gestell oder einem Gehäuse realisiert ist. Die physikalische Einheit 16 enthält eine Steuervorrichtung 4a, eine Busschnittstelle 5, eine erste Speichervorrichtung zum Speichern von Parametern 13, eine Sendeeinheit 1, eine erste Koppelvorrichtung 11 zum Ankoppeln der Sendeeinheit 1 an einen zu prüfenden Lichtwellenleiter 15, Signalausgänge 7, Signaleingänge 8 und eine Spannungsversorgung 9. Die Spannungsversorgung 9 versorgt über ein Leitungsnetz 19 die Koppelvorrichtung 11, die Sendeeinheit 1, die erste Speichervorrichtung 13, die Steuervorrichtung 4a und die Busschnittstelle 5 mit elektrischer Energie. Die Steuervorrichtung 4a ist über interne Steuerleitungen 20 beispielsweise inklusive einem Bus mit den übrigen Funktionsblöcken verbunden, die im physikalischen Aufbau teilweise in der Steuervorrichtung 4a realisiert sein können. Die zweite physikalische Einheit 17 enthält eine Busschnittstelle 5, eine Steuervorrichtung 4b, eine Empfangseinheit 2 und eine zweite Koppelvorrichtung 12 zum Ankoppeln der Empfangseinheit 2 an den zu prüfenden Lichtwellenleiter 15, eine Auswertevorrichtung 3, eine erste Speichervorrichtung 13 zum Speichern von Parametern, eine zweite Speichervorrichtung 14 zum Speichern einer Referenzinformation, eine Spannungsversorgung 9, interne Steuerleitungen 20, ein Leitungsnetz 19, Signalausgänge 7 und Signaleingänge 8. Die Steuervorrichtung 4a der sendeseitigen Anordnung 16 steht mit der Steuervorrichtung 4b der empfangsseitigen Vorrichtung 17 und mit einer externen übergeordneten Steuervorrichtung 4c über die Busschnittstellen 5 der sende- und empfangsseitigen Vorrichtungen 16 und 17 und eine Kommunikationsleitung 23, beispielsweise einen Messbus in Verbindung. 2 shows a second embodiment of a test device according to the invention with a transmitting side physical unit 16 , which are preferably apart from parts of the coupling device 11 is realized in a frame or a housing and with a receiving-side physical unit 17 , which also, if appropriate, apart from parts of the second coupling device 12 realized in a frame or a housing. The physical unit 16 contains a control device 4a , a bus interface 5 a first memory device for storing parameters 13 , a transmitting unit 1 , a first coupling device 11 for coupling the transmitting unit 1 to an optical fiber to be tested 15 , Signal outputs 7 , Signal inputs 8th and a power supply 9 , The power supply 9 supplied via a pipeline network 19 the coupling device 11 , the transmitting unit 1 , the first storage device 13 , the control device 4a and the bus interface 5 with electrical energy. The control device 4a is via internal control lines 20 For example, including a bus connected to the other function blocks, which in the physical structure partially in the control device 4a can be realized. The second physical unit 17 contains a bus interface 5 , a control device 4b , a receiving unit 2 and a second coupling device 12 for coupling the receiving unit 2 to the optical fiber to be tested 15 , an evaluation device 3 , a first storage device 13 for storing parameters, a second storage device 14 for storing a reference information, a power supply 9 , internal control lines 20 , a pipe network 19 , Signal outputs 7 and signal inputs 8th , The control device 4a the transmitting side arrangement 16 is with the control device 4b the receiving-side device 17 and with an external parent control device 4c via the bus interfaces 5 the transmitting and receiving devices 16 and 17 and a communication line 23 , For example, a measuring bus in conjunction.

Die Funktionsweisen der einzelnen Blöcke entsprechen denen mit denselben oder ähnlichen Bezugszeichen gemäß 1 und werden hier nicht noch einmal erläutert. Die übergeordnete Steuervorrichtung 4c startet die einzelnen Prüfvorgänge, synchronisiert die lokalen Steuervorrichtungen 4a und 4b und führt gegebenenfalls unter Verwendung der durch unterbrochene Linien dargestellten Auswertevorrichtung 3a die Auswertung der Messergebnisse aus. Wenn die Auswertevorrichtung 3a der übergeordneten Steuervorrichtung 4c die Auswertung vornimmt, ist die Auswertevorrichtung 3 in der empfängerseitigen Vorrichtung 17 nicht unbedingt erforderlich und auch die zweite Speichervorrichtung 14 kann in die Umgebung der zentralen Steuerung 4c verlagert sein.The functions of the individual blocks correspond to those with the same or similar reference numerals according to 1 and will not be explained again here. The parent control device 4c starts the individual checks, synchronizes the local controllers 4a and 4b and optionally using the evaluation device shown by broken lines 3a the evaluation of the measurement results. If the evaluation device 3a the parent control device 4c the evaluation makes, is the evaluation device 3 in the receiver-side device 17 not essential and also the second storage device 14 can be in the environment of the central control 4c to be relocated.

Eine in 1 oder eine in 2 gezeigte Prüfeinrichtung führt vorzugsweise die nachfolgenden Schritte zur Durchführung eines Prüfvorganges aus.An in 1 or one in 2 The test device shown preferably carries out the subsequent steps for carrying out a test procedure.

Vor Ausführung einer Prüfreihe wird die Prüfeinrichtung kalibriert, wobei der nachstehend beschriebene Prüfvorgang anhand eines Referenzprüflings ausgeführt wird, dessen Dämpfung bekannt ist. Abhängig von diesem Referenzmessvorgang werden Parameter gespeichert, um entweder die Sendeleistung, die Empfängerempfindlichkeit oder beides zu kalibrieren, um ein erwartetes Messergebnis zu erreichen.Prior to performing a test series, the tester is calibrated, with the test procedure described below being performed on a reference test specimen whose attenuation is known. Depending on this reference measurement, parameters are stored to either calibrate the transmit power, receiver sensitivity, or both to achieve an expected measurement result.

Wenn der geplante Prüfvorgang ein relativer Prüfvorgang zum Feststellen eines Qualitätszustandes eines Prüflings 15 sein soll, wird vor dem Prüfen des ersten Prüflings 15 ein Referenzprüfling geprüft, um dessen Dämpfungswert zu bestimmen und eine hiervon abhängige Information in der zweiten Speichereinrichtung 14 zu speichern. Diese Information kann im einfachsten Falle, wenn der Referenzprüfling z. B. eine grenzwertige Dämpfung hat, der ermittelte Dämpfungswert des Referenzprüflings sein. Zusätzlich können auch Toleranzangaben vorgesehen sein, die abhängig von Abweichungen des Referenzprüflings von dem zulässigen Dämpfungsbereich eingegeben sein können. Darüber hinaus kann auch der Zeitpunkt der Referenzmessung erfasst werden.If the scheduled inspection is a relative inspection to determine a quality state of a DUT 15 is to be, before testing the first test specimen 15 a Referenzprüfling tested to determine its attenuation value and dependent thereon information in the second memory device 14 save. This information can in the simplest case, if the Referenzprüfling z. B. has a borderline attenuation, the determined Damping value of the reference sample be. In addition, tolerance information can also be provided, which can be entered as a function of deviations of the reference specimen from the permissible damping range. In addition, the time of the reference measurement can also be detected.

Ein Prüfvorgang wird entweder von einem externen, manuell oder maschinell eingegebenen Signal oder von einem übergeordneten Steuersystem veranlasst. Eine Messung läuft nach einem ganz bestimmten, an den Anwendungsfall angepassten Ablauf ab. Ein solcher Ablauf bezieht sich vor allem auf Fixierung, Transport und Behandlung (Schlechtteilzerstörung) der Lichtwellenleiterfaser und wird normalerweise über die Signalausgänge 7 und Signaleingänge 8 gesteuert. Nachstehend wird der grundsätzliche, im Wesentlichen immer gleiche Ablauf der Dämpfungsbestimmung näher erläutert.A test procedure is initiated either by an external, manually or machine input signal or by a higher level control system. A measurement runs according to a very specific, adapted to the application process. Such a procedure mainly relates to fixation, transport and treatment (bad part destruction) of the optical fiber and is usually via the signal outputs 7 and signal inputs 8th controlled. Below, the basic, essentially always the same sequence of damping determination is explained in more detail.

Zuerst stellt die Steuervorrichtung 4 (4a, 4b, 4c) anhand des Inhaltes der zweiten Speichervorrichtung 14 fest, ob und gegebenenfalls wann eine Referenzmessung ausgeführt worden ist. Abhängig von diesem Prüfergebnis gibt die Steuervorrichtung 4 ein von einer Bedienperson wahrnehmbares Informationssignal, beispielsweise eine Anzeige, eine Ansage oder ein akustisches Signal aus, um darauf hinzuweisen, dass eine Referenzmessung erforderlich ist. Der Grund hierbei kann sein, dass kein Eintrag in der zweiten Speichervorrichtung 14 vorliegt oder dass der Eintrag zu alt ist.First, the control device 4 ( 4a . 4b . 4c ) based on the content of the second storage device 14 determines whether and, if so, when, a reference measurement has been performed. Depending on this test result gives the control device 4 an operator perceivable information signal, such as a display, an announcement, or an acoustic signal to indicate that a reference measurement is required. The reason here may be that no entry in the second storage device 14 present or that the entry is too old.

Dann wird die Sendeeinheit 1 veranlasst, kein Signal abzugeben, während die Auswertevorrichtung 3 das von der Empfangseinheit 2 abgegebene Signal als Dunkelwert auswertet. Daraufhin veranlasst die Steuervorrichtung 4 die Sendeeinheit 1, ein Signallicht abzugeben, das über die Koppelvorrichtung 11 und den Lichtwellenleiter 15 sowie die Koppelvorrichtung 12 zur Empfangseinheit 2 gelangt. Mit dem Aussenden eines Sendesignals durch die Sendeeinheit 1 veranlasst die Steuervorrichtung 4 die Auswertevorrichtung 3, das empfangene Empfangssignal in der Empfangseinheit 2 auszuwerten. Dies erfolgt beispielsweise in oben erwähnter Weise dadurch, dass die Empfangseinheit 2 die steigende Flanke des Signallichtes als Synchronisiergröße vorsieht. Die Auswertevorrichtung 3 wertet das von der Empfangseinheit 2 gelieferte Ergebnis bei eingeschalteter Sendeeinheit 1 aus und die Steuervorrichtung 4 dokumentiert das Testergebnis.Then the transmitting unit becomes 1 causes no signal to be emitted while the evaluation device 3 that of the receiving unit 2 output signal evaluated as dark value. Thereupon, the control device causes 4 the transmitting unit 1 to deliver a signal light via the coupling device 11 and the optical fiber 15 and the coupling device 12 to the receiving unit 2 arrives. With the transmission of a transmission signal by the transmitting unit 1 causes the control device 4 the evaluation device 3 , the received received signal in the receiving unit 2 evaluate. This is done, for example, in the manner mentioned above in that the receiving unit 2 the rising edge of the signal light provides as a synchronizing size. The evaluation device 3 evaluates that from the receiving unit 2 Delivered result when the transmitter unit is switched on 1 off and the control device 4 documents the test result.

Während des gesamten Messvorganges werden die geforderten Parameter unter Berücksichtigung von in der ersten Speichervorrichtung 13 enthaltener Information stabilisiert.During the entire measuring process, the required parameters are taken into account taking into account in the first memory device 13 stabilized information stabilized.

Nun wird unter Bezugnahme auf 3 eine mögliche Realisierung der in 1 als Funktionsblock dargestellten ersten Vorrichtung 26 zum temperaturabhängigen Beeinflussen der Abhängigkeit der Ausgangsgröße der Empfangseinheit 2 von der Intensität des empfangenen Lichtes und zur Realisierung der entsprechenden zweiten Vorrichtung 27 zum temperaturabhängigen Beeinflussen der Abhängigkeit der Intensität des Sendelichtes eines elektro-optischen, das Sendelicht abgebenden Wandlers von einer Steuerinformation näher erläutert.Now, referring to 3 a possible realization of in 1 as a functional block shown first device 26 for temperature-dependent influencing the dependence of the output of the receiving unit 2 from the intensity of the received light and to realize the corresponding second device 27 for temperature-dependent influencing the dependence of the intensity of the transmitted light of an electro-optical, the transmitting light emitting transducer of a control information explained in more detail.

3 zeigt eine digital steuerbare Stromquelle 25, mit einem Eingang A zum Einstellen einer Ausgangsstromänderung in Abhängigkeit von einer Digitalwertänderung am Eingang B und einen Eingang B zum Einspeisen eines von der Umgebungstemperatur abhängigen Digitalwertes. Diese digital steuerbare Stromquelle hat außerdem einen Ausgang C zum Ausgeben eines Stromes, der von dem Digitalwert am Eingang B und somit von der Temperatur abhängt. 3 zeigt außerdem einen Temperaturfühler 24, der die Steuervorrichtung 4 mit Informationen über die Umgebungstemperatur versorgt. Darüber hinaus ist ein Parameterspeicher 13 dargestellt, der die Steuervorrichtung 4 darüber informiert, welche Werte in Abhängigkeit von der Ausgangsgröße des Temperaturfühlers 24 an den Eingängen A und B der steuerbaren Stromquelle 25 anzulegen sind. Die in 3 dargestellte Vorrichtung stellt an dem Ausgang C einen Strom in Abhängigkeit von einem von dem Temperaturfühler 24 gemessenen Temperaturwert ein. Die Größe dieses Stromes und die Änderung dieses Stromes in Abhängigkeit von unterschiedlichen Temperaturwerten werden von der Steuervorrichtung 4 unter Berücksichtigung von in dem Parameterspeicher 13 gespeicherten Parametern festgelegt. Der Ausgang C der Vorrichtung gemäß 3 kann in einer Prüfeinrichtung gemäß 1 sowohl dem Ausgang C1 als auch dem Ausgang C2 der Vorrichtungen 26 bzw. 27 gleichgesetzt werden. 3 shows a digitally controllable power source 25 comprising an input A for adjusting an output current change in response to a digital value change at the input B and an input B for inputting an ambient temperature dependent digital value. This digitally controllable current source also has an output C for outputting a current which depends on the digital value at the input B and thus on the temperature. 3 also shows a temperature sensor 24 who is the control device 4 supplied with information about the ambient temperature. In addition, a parameter memory 13 shown, the control device 4 informed about which values depending on the output of the temperature sensor 24 at the inputs A and B of the controllable current source 25 are to be created. In the 3 The device shown provides at the output C a current as a function of one of the temperature sensor 24 measured temperature value. The magnitude of this current and the variation of this current as a function of different temperature values are determined by the control device 4 taking into account in the parameter memory 13 stored parameters. The output C of the device according to 3 can in a test device according to 1 both the output C1 and the output C2 of the devices 26 respectively. 27 be equated.

Wenn in dem vorstehenden Beispiel eine Stromquelle 25 mit zwei Eingängen A und B gezeigt worden ist, so ist selbstverständlich auch eine Stromquelle mit nur einem Eingang zur Realisierung der gleichen Funktion möglich, wobei die Steuervorrichtung 4 in einem solchen Fall die in der beschriebenen Ausführungsform am Eingang A bereitgestellte Information bei der Ermittlung der am Eingang B bereitzustellenden Information berücksichtigt.If in the example above, a power source 25 has been shown with two inputs A and B, so of course, a power source with only one input to realize the same function is possible, wherein the control device 4 in such a case, the information provided at the input A in the described embodiment is taken into account in the determination of the information to be provided at the input B.

Die vorstehenden Beispiele dienen nur zum Erläutern der Erfindung und zum Erleichtern der Realisierung erfindungsgemäßer Gegenstände. Sie wirken in keine Weise beschränkend auf den Umfang der Erfindung, der durch den Schutzbereich der Patentansprüche festgelegt wird.The above examples are only to illustrate the invention and to facilitate the realization of inventive objects. They do not in any way limit the scope of the invention, which is defined by the scope of the claims.

Claims (14)

Prüfeinrichtung zum Bestimmung der Dämpfung eines zu prüfenden Lichtwellenleiters (15) mit: – einer Sendeeinheit (1) zum Aussenden von Sendelicht einer vorbestimmten Intensität, – einer ersten Koppelvorrichtung (11) zum Koppeln der Sendeeinheit (1) an ein erstes Ende des zu prüfenden Lichtwellenleiters (15), – einer Empfangseinheit (2) zum Abgeben einer die Intensität empfangenen Lichts repräsentierenden Ausgangsgröße; – einer zweiten Koppelvorrichtung (12) zum Koppeln der Empfangseinheit (2) an ein zweites Ende des zu prüfenden Lichtwellenleiters (15), – einer ersten Speichervorrichtung (13) zum Speichern vorbestimmter einstellbarer Parameter zum Festlegen des konfigurationsabhängigen Verhaltens der Prüfeinrichtung; – einer zweiten Speichervorrichtung (14) zum Speichern von Information, die von dem Ergebnis einer mit der Prüfeinrichtung an einem Referenzlichtwellenleiter durchgeführten Dämpfungsbestimmung abhängt, – einer Auswertevorrichtung (3) zum Auswerten der Ausgangsgröße der Empfangseinheit (2), und – einer Steuervorrichtung (4; 4a, 4b, 4c) zum derartigen Steuern der Komponenten der Prüfeinrichtung in Abhängigkeit von in der ersten Speichervorrichtung (13) gespeicherten Parametern, dass – die Sendeeinheit (1) bedarfsweise zum Abgeben eines Sendesignals aktiviert und/oder deaktiviert wird; – die Ausgangsgröße der Empfangseinheit (2) zu einem ersten Zeitpunkt ohne Sendesignal ausgewertet wird, um einen Dunkelwert zu bestimmen; – die Ausgangsgröße der Empfangseinheit (2) zu einem zweiten Zeitpunkt mit Sendesignal ausgewertet wird, um einen Hellwert zu bestimmen; – eine Dämpfungsinformation des zu prüfenden Lichtwellenleiters (15) basierend auf einem Unterschied des Dunkelwerts und des Hellwerts ermittelt wird; und – diese Dämpfungsinformation mit der in der zweiten Speichervorrichtung (14) gespeicherten Information verglichen wird, um die Qualität des Lichtwellenleiters (15) zu bewerten.Test device for determining the attenuation of an optical waveguide to be tested ( 15 ) with: - a transmitting unit ( 1 ) for emitting transmitted light of a predetermined intensity, - a first coupling device ( 11 ) for coupling the transmitting unit ( 1 ) to a first end of the optical fiber to be tested ( 15 ), - a receiving unit ( 2 ) for outputting an output representing the intensity of the received light; A second coupling device ( 12 ) for coupling the receiving unit ( 2 ) to a second end of the optical fiber to be tested ( 15 ), - a first storage device ( 13 ) for storing predetermined adjustable parameters for setting the configuration-dependent behavior of the checking device; A second storage device ( 14 ) for storing information which depends on the result of an attenuation determination carried out with the test device on a reference optical waveguide, - an evaluation device ( 3 ) for evaluating the output of the receiving unit ( 2 ), and - a control device ( 4 ; 4a . 4b . 4c ) for controlling the components of the test device in dependence on in the first memory device ( 13 ) stored parameters that - the transmitting unit ( 1 ) is activated and / or deactivated as required for issuing a transmission signal; The output size of the receiving unit ( 2 ) is evaluated at a first time without transmit signal to determine a darkness value; The output size of the receiving unit ( 2 ) is evaluated at a second time with transmit signal to determine a bright value; An attenuation information of the optical waveguide to be tested ( 15 ) is determined based on a difference of the dark value and the bright value; and - this attenuation information with that in the second memory device ( 14 ) is compared to the quality of the optical waveguide ( 15 ) to rate. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine erste Vorrichtung (26) zum temperaturabhängigen Beeinflussen der Abhängigkeit der Ausgangsgröße der Empfangseinheit (2) von der Intensität des empfangenen Lichts, um einer Temperaturabhängigkeit eines opto-elektrischen Wandlers der Empfangseinheit (2) entgegenzuwirken.Test device according to claim 1, characterized by a first device ( 26 ) for temperature-dependent influencing the dependence of the output of the receiving unit ( 2 ) of the intensity of the received light to a temperature dependence of an opto-electrical transducer of the receiving unit ( 2 ) counteract. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch eine zweite Vorrichtung (27) zum temperaturabhängigen Beeinflussen der Abhängigkeit der Intensität des Sendelichts eines elektrooptischen, das Sendelicht abgebenden Wandlers der Sendeeinheit (1) von einer Steuerinformation, um der Temperaturabhängigkeit dieses elektrooptischen Wandlers entgegenzuwirken.Test device according to claim 1 or 2, characterized by a second device ( 27 ) for temperature-dependent influencing the dependence of the intensity of the transmitted light of an electro-optical, the transmitting light emitting transducer of the transmitting unit ( 1 ) of control information to counteract the temperature dependence of this electro-optical converter. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass das temperaturabhängige Beeinflussen von in der ersten Speichervorrichtung (13) gespeicherten Parametern abhängt, die wiederum von der Art des Wandlers abhängen.Test device according to one of claims 2 or 3, characterized in that the temperature-dependent influencing of in the first memory device ( 13 ) dependent parameters, which in turn depend on the type of converter. Prüfeinrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die temperaturabhängige Beeinflussung nichtlinear zur Temperatur ist.Test device according to claim 4, characterized in that the temperature-dependent influence is non-linear to the temperature. Prüfeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuervorrichtung (4; 4a, 4b, 4c) die Komponenten der Prüfeinrichtung steuert, um zum Prüfen eines zu prüfenden Lichtwellenleiters die Sendeeinheit (1) mehrmals zu aktivieren und zu deaktivieren und um ein Bestimmen des Hellwertes durch Auswerten der Ausgangsgröße der Empfangseinheit (2) in mindestens zwei Aktivierungsphasen der Sendeeinheit (1) zu veranlassen.Test device according to one of the preceding claims, characterized in that the control device ( 4 ; 4a . 4b . 4c ) controls the components of the test device in order to test the optical unit to be tested ( 1 ) and to determine the brightness value by evaluating the output quantity of the receiving unit ( 2 ) in at least two activation phases of the transmitting unit ( 1 ). Prüfeinrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuereinrichtung (4; 4b, 4c) durch die Flanke des an der Empfangseinheit (2) empfangenen Signallichts veranlasst wird, das Auswerten der Ausgangsgröße der Empfangseinheit (2) zu veranlassen.Test device according to claim 6, characterized in that the control device ( 4 ; 4b . 4c ) by the flank of the at the receiving unit ( 2 received signal light, the evaluation of the output of the receiving unit ( 2 ). Prüfeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuervorrichtung (4; 4a, 4b, 4c) ein Bestimmen des Dunkelwertes vor und nach dem Bestimmen des Hellwertes ausführt.Test device according to one of the preceding claims, characterized in that the control device ( 4 ; 4a . 4b . 4c ) performs a determination of the dark value before and after the determination of the bright value. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuervorrichtung (4; 4a, 4b, 4c) ausgestaltet ist, um ein Bestimmen des Dunkelwertes zwischen zwei Aktivierungsphasen der Sendeeinheit (1) zu veranlassen.Test device according to one of claims 6 or 7, characterized in that the control device ( 4 ; 4a . 4b . 4c ) is configured to determine the dark value between two activation phases of the transmitting unit ( 1 ). Prüfeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuervorrichtung (4; 4a, 4b, 4c) ausgestaltet ist, um vor dem Durchführen eines Prüfvorgangs zum Bestimmen der Dämpfung eines zu prüfenden Lichtwellenleiters (15) zu prüfen, ob in der zweiten Speichervorrichtung (14) eine Information gespeichert ist und abhängig hiervon die Ausgabe einer von einer Bedienperson wahrnehmbaren ersten Information zu veranlassen.Test device according to one of the preceding claims, characterized in that the control device ( 4 ; 4a . 4b . 4c ) is configured to perform a test to determine the attenuation of a test to be tested Fiber optic cable ( 15 ) to check whether in the second memory device ( 14 ) and, depending thereon, causing the output of a first information perceptible by an operator. Prüfeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuervorrichtung (4; 4a, 4b, 4c) ausgestaltet ist, um vor dem Durchführen eines Prüfvorgangs zum Bestimmen der Dämpfung eines zu prüfenden Lichtwellenleiters (15) zu prüfen, ob die Zeitspanne zwischen dem Einspeichern einer Information in der zweiten Speichervorrichtung (14) und dem Zeitpunkt dieser Überprüfung einen vorbestimmten Schwellwert überschreitet, um abhängig hiervon die Ausgabe einer von einer Bedienperson wahrnehmbaren zweiten Information zu veranlassen.Test device according to one of the preceding claims, characterized in that the control device ( 4 ; 4a . 4b . 4c ) in order to determine, before carrying out a test procedure for determining the attenuation of an optical waveguide to be tested ( 15 ) to check whether the time interval between the storage of information in the second memory device ( 14 ) and the time of this check exceeds a predetermined threshold value to cause, dependent thereon, the output of an operator-perceivable second piece of information. Prüfeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Sendeeinheit (1) die erste Koppelvorrichtung (11), die erste Speichervorrichtung (13) und die Steuervorrichtung (4a) eine physikalische Einheit (16) bilden, wobei die Steuervorrichtung über eine Bus-Schnittstelle (5) mit einer übergeordneten Steuerung (4c) verbindbar ist.Test device according to one of the preceding claims, characterized in that the transmitting unit ( 1 ) the first coupling device ( 11 ), the first storage device ( 13 ) and the control device ( 4a ) a physical unit ( 16 ), wherein the control device via a bus interface ( 5 ) with a higher-level control ( 4c ) is connectable. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Empfangseinheit (2), die zweite Koppelvorrichtung (12), die erste Speichervorrichtung (13), die zweite Speichervorrichtung (14), die Auswertevorrichtung (3) und die Steuervorrichtung (4b) eine physikalische Einheit (17) bilden, wobei die Steuervorrichtung (4b) über eine Bus-Schnittstelle (5) mit einer übergeordneten Steuerung (4c) verbindbar ist.Test device according to one of claims 1 to 12, characterized in that the receiving unit ( 2 ), the second coupling device ( 12 ), the first storage device ( 13 ), the second storage device ( 14 ), the evaluation device ( 3 ) and the control device ( 4b ) a physical unit ( 17 ), wherein the control device ( 4b ) via a bus interface ( 5 ) with a higher-level control ( 4c ) is connectable. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Sendeeinheit (1), die erste Koppelvorrichtung (11), die Empfangseinheit (2), die zweite Koppelvorrichtung (12), die erste Speichervorrichtung (13), die zweite Speichervorrichtung (14), die Auswertevorrichtung (3) und die Steuervorrichtung (4; 4a, 4b) eine physikalische Einheit bilden, wobei die Steuervorrichtung über eine Bus-Schnittstelle (5) mit einer Steuerung (4c) außerhalb dieser physikalischen Einheit verbindbar ist.Test device according to one of claims 1 to 11, characterized in that the transmitting unit ( 1 ), the first coupling device ( 11 ), the receiving unit ( 2 ), the second coupling device ( 12 ), the first storage device ( 13 ), the second storage device ( 14 ), the evaluation device ( 3 ) and the control device ( 4 ; 4a . 4b ) form a physical unit, wherein the control device via a bus interface ( 5 ) with a controller ( 4c ) is connectable outside this physical unit.

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