DE10140041B4 - Procedure for determining the area of an engraved cell - Google Patents
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Abstract
Verfahren
zur Ermittlung der Flächen eines
gravierten Näpfchens
bei der Herstellung von Druckformen in einer elektronischen Graviermaschine,
dadurch gekennzeichnet, daß
– um die
zu ermittelnde Fläche
(FN) mindestens eines gravierten Näpfchens
(2) ein Oberflächenbereich
der Druckform (1) als Bezugsfläche
(FB) festgelegt wird, wobei der Detektionsfaktor
(r1 ) der Oberfläche der Druckform (1), der den
Anteil eines Lichtstrahls angibt, der von der Oberfläche der
Druckform (1) in einen Lichtempfänger
(11) zurückgeworfen
wird, und der Detektionsfaktor (r2) der
Näpfchenfläche (FN) unterschiedlich groß sind,
– ein Lichtbündel (9)
der Lichtleistung (P) erzeugt und auf die Oberfläche der Druckform (1) fokussiert
wird,
– die
Bezugsfläche
(FB) mit dem Lichtbündel (9) beleuchtet wird,
– die in
den Lichtempfänger
(11) zurückgeworfene
Lichtleistung (Pr) über die Bezugsfläche (FB) gemessen und integriert wird und
– die Näpfchenfläche (FN) aus der Lichtleistung (P) des Lichtbündels (9),
aus der gemessenen in den Lichtempfänger (11)...Method for determining the areas of an engraved cell in the production of printing forms in an electronic engraving machine, characterized in that
- Around the surface to be determined (F N ) of at least one engraved cell (2), a surface area of the printing form (1) is defined as the reference surface (F B ), the detection factor (r 1 ) of the surface of the printing form (1), which is the Indicates the proportion of a light beam which is thrown back from the surface of the printing form (1) into a light receiver (11) and the detection factor (r 2 ) of the well area (F N ) are of different sizes,
A light beam (9) of the light output (P) is generated and focused on the surface of the printing form (1),
- The reference surface (F B ) is illuminated with the light beam (9),
- The light power (P r ) reflected in the light receiver (11) is measured and integrated over the reference surface (F B ) and
- The well area (F N ) from the light output (P) of the light beam (9), from the measured in the light receiver (11) ...
Description
Die Erfindung bezieht sich auf das Gebiet der elektronischen Reproduktionstechnik und betrifft ein Verfahren und eine Meßvorrichtung zur Ermittlung der Fläche eines gravierten Näpfchens bei der Herstellung von Druckformen in einer elektronischen Graviermaschine.The Invention relates to the field of electronic reproduction technology and relates to a method and a measuring device for determining the area of an engraved cup in the production of printing forms in an electronic engraving machine.
Aus
der
Es ist bekannt, die Abmessungen von gravierten Näpfchen mittels eines Meßmikroskops zu bestimmen.It is known, the dimensions of engraved cells using a measuring microscope to determine.
Aus der WO 94/19900 A ist es auch schon bekannt, die Abmessungen von gravierte Näpfchen in einem mit einer Videokamera aufgenommenen Videobild auszumessen.Out WO 94/19900 A it is also known to measure the dimensions of engraved cups to be measured in a video image recorded with a video camera.
In der WO 98/55302 A ist angegeben, wie die Abmessungen eines gravierten Näpfchens in einem Videobild anhand der Kontur des Näpfchens mit Hilfe einer im Videobild verschiebbaren elektronischen Meßbandes mit mindestens einer aus Pixeln gebildeten Meßzeile ermittelt werden. In dem Videobild wird zunächst eine Konturensuche durchgeführt, bei der auf der Kontur des zu vermessenden Näpfchens liegende Pixel als Konturpunkte markiert werden. Anschließend wird mittels des Meßbandes die Abmessung eines Näpfchens als Anzahl von Pixeln zwischen den markierten Konturpunkten auf der Näpfchenkontur festgestellt. Die Fläche eines Näpfchens wird in diesem Fall berechnet, indem die in den einzelnen Meßzeilen des Meßbandes zwischen den markierten Konturpunkten liegenden Pixel aufaddiert werden.In WO 98/55302 A specifies how the dimensions of an engraved small bowl in a video image based on the contour of the well using an im Video image of movable electronic measuring tape with at least one measurement line formed from pixels be determined. A contour search is first carried out in the video image at the pixel lying on the contour of the well to be measured as Contour points are marked. Then using the measuring tape the dimension of a well as the number of pixels between the marked contour points the well contour detected. The area of a well is calculated in this case by the in the individual measuring lines the measuring tape pixels lying between the marked contour points are added become.
Aus der noch nicht veröffentlichten deutschen Patentanmeldung 100 55 030.4 ist ein Verfahren zur Ermittlung der Abmessungen von gravierten Näpfchen in einem Videobild bekannt, bei dem zur Erhöhung der Meßgenauigkeit eine "rauhe" Näpfchenkontur vor der Ermittlung der Abmessungen des Näpfchens durch mathematische Funktionen nachgebildet wird und die Näpfchenfläche als Fläche zwischen den die Näpfchenkontur nachbildenden mathematischen Funktionen ermittelt wird.Out the not yet released German patent application 100 55 030.4 is a method for the determination the dimensions of engraved cells known in a video image in which a "rough" well contour to increase the measuring accuracy before determining the dimensions of the well by mathematical Functions is reproduced and the cell surface as the surface between which the cell contour simulating mathematical functions is determined.
Damit die gravierten Isttonwerte auch den durch die Graviersignalwerte vorgegebenen Solltonwerten entsprechen, werden die Istabmessungen, in der Regel die Querdiagonalen und die Längsdiagonalen, der bei einer Probegravur gravierten Näpfchen ausgemessen, mit den entsprechenden Sollabmessungen verglichen und dann das Graviersteuersignal anhand von beim Vergleich gewonnenen Einstellwerten kalibriert.In order to the engraved actual tone values also those from the engraving signal values correspond to the specified target tone values, the actual dimensions, as a rule, the transverse diagonals and the longitudinal diagonals, which in a Trial engraving of engraved cells measured, compared with the corresponding nominal dimensions and then the engraving control signal based on those obtained from the comparison Adjusted values calibrated.
Die Genauigkeit der Kalibrierung des Graviersignals kann gesteigert und die zur Kalibrierung benötigte Zeit verkürzt werden, wenn zum Vergleich von Istabmessungen und Sollabmessungen der gravierten Näpfchen nicht die Längs- und Querdiagonalen, sondern die Flächen oder Volumina der Näpfchen herangezogen werden.The Accuracy of the calibration of the engraving signal can be increased and the time required for calibration shortened when comparing actual dimensions and target dimensions of the engraved cells not the longitudinal and transverse diagonals, but the areas or volumes of the cells are used.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein Verfahren zur Ermittlung der Fläche eines gravierten Näpfchens bei der Herstellung von Druckformen in einer elektronischen Graviermaschine sowie eine entsprechende Meßvorrichtung derart zu verbessern, daß ein weitestgehend automatischer Ablauf bei hoher Genauigkeit und geringem Aufwand gewährleistet ist.task The present invention is therefore a method for determination the area of an engraved cup in the production of printing forms in an electronic engraving machine and a corresponding measuring device to improve so that a largely automatic process with high accuracy and low Effort guaranteed is.
Diese Aufgabe wird bezüglich des Verfahrens durch die Merkmale des Anspruchs 1 und bezüglich der Meßvorrichtung zur Ermittlung der Flächen gravierter Näpfchen durch die Merkmale des Anspruchs 16 gelöst.This Task is regarding of the method by the features of claim 1 and with respect to the measuring device to determine the areas engraved cup solved by the features of claim 16.
Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen angegeben.advantageous Further developments are specified in the subclaims.
Die
Erfindung wird nachfolgend anhand der
Es zeigen:It demonstrate:
Das
Näpfchen
(
Die
Näpfchenfläche FN des Näpfchens
(
In
einem Verfahrensschritt [A] wird in der Rastermasche (
Die
minimale Ausdehnung xmin der Bezugsfläche FB beträgt
in Gravierrichtung (
Die
aus der Differenz zwischen Bezugsfläche FB und
Näpfchenfläche FN gebildete Restfläche FR hat einen
Detektionsfaktor r1, der dem Anteil des
eingestrahlten Lichtes entspricht, der von der Oberfläche der Druckform
(
In
einer in
Die
Länge des
Lichtbandes (
Alternativ
kann das Lichtband (
Die
Meßvorrichtung
(
In
einem Verfahrensschritt [B] wird die Bezugsfläche FB auf
der Druckform (
Dabei überstreicht
das Lichtband (
In
einem Verfahrensschritt [C] wird die innerhalb des Meßintervalls ΔT von der
Bezugsfläche
FB zurückgeworfene
Lichtenergie Er mit einem Lichtempfänger (
Die
von der Bezugsfläche
FB in den Lichtempfänger (
E
= auf die Bezugsfläche
auftreffende Lichtenergie
Er = von
der Bezugsfläche
bzw. Restfläche
in den Lichtempfänger
(
FB = Bezugsfläche
FR = Restfläche
FN =
Näpfchenfläche
r1 = Detektionsfaktor der Bezugsfläche und
r2 = Detektionsfaktor der NäpfchenflächeThe from the reference surface F B in the light receiver (
E = light energy striking the reference surface
E r = from the reference surface or remaining surface into the light receiver (
F B = reference surface
F R = residual area
F N = cell area
r 1 = detection factor of the reference surface and
r 2 = detection factor of the well area
Ist
die Näpfchenfläche FN = 0, beträgt die in den Lichtempfänger (
In einem Verfahrensschritt [D] wird die Näpfchenfläche FN gemäß Gleichung (III) berechnet.In a method step [D] the well area F N is calculated according to equation (III).
Aus
Gleichung (I) ergibt sich zunächst
die Näpfchenfläche FN zu: mit E
= P × ΔT und x =
v × ΔT errechnet
sich die Näpfchenfläche FN dann anhand der bekannten Größen zu: mit:
FN = Näpfchenfläche
P
= Lichtleistung des Lichtbandes
Er =
von der Bezugsfläche
bzw. Restfläche
in den Lichtempfänger
(
r1 = Detektionsfaktor
der Bezugsfläche
bzw. Restfläche
r2 = Detektionsfaktor der Näpfchenfläche
y
= Ausdehnung der Bezugsfläche
in Vorschubrichtung
v = Relativgeschwindigkeit zwischen Bezugsfläche und
Lichtband in Gravierrichtung und
ΔT = Meßintervall für Bezugsfläche bzw.
RestflächeFrom equation (I), the cell area F N is given by: with E = P × ΔT and x = v × ΔT, the well area F N is then calculated using the known variables: With:
F N = cell area
P = light output of the light band
E r = from the reference surface or remaining surface into the light receiver (
r 1 = detection factor of the reference surface or residual surface
r 2 = detection factor of the well area
y = extension of the reference surface in the feed direction
v = relative speed between the reference surface and the light band in the engraving direction and
ΔT = measurement interval for reference surface or remaining surface
Bei
einer ersten Annahme, daß die
Druckform (
Näpfchen (
Somit
vereinfacht sich die Gleichung (III) zur Ermittlung der Näpfchenfläche FN mit r1 = 1 und
r2 = zu: mit:
FN = Näpfchenfläche
P
= Lichtleistung des Lichtbandes
Er =
von der Bezugsfläche
bzw. Restfläche
in den Lichtempfänger
(
y = Ausdehnung der Bezugsfläche in Vorschubrichtung
v
= Relativgeschwindigkeit zwischen Bezugsfläche und Lichtband in Gravierrichtung
und
ΔT
= Meßintervall
für Bezugsfläche bzw.
RestflächeThus, equation (III) for determining the cell area F N with r 1 = 1 and r 2 = is simplified: With:
F N = cell area
P = light output of the light band
E r = from the reference surface or remaining surface into the light receiver (
y = extension of the reference surface in the feed direction
v = relative speed between the reference surface and the light band in the engraving direction and
ΔT = measurement interval for reference surface or remaining surface
Die
Bestimmung der Näpfchenfläche FN nach den Verfahrensschritten [A] bis [D]
kann bei mindestens einem ausgewählten
Näpfchen
(
Bei Kenntnis der Näpfchenfläche FN kann das Näpfchenvolumen unter Berücksichtigung des Schneidwinkels des Gravierstichels berechnet werden.If the well area F N is known , the well volume can be calculated taking into account the cutting angle of the engraving stylus.
Nachfolgend wird eine vorteilhafte Weiterbildung des Verfahrens beschrieben, die darin besteht, daß bei der Bestimmung der Näpfchenfläche FN ein Detektionsfaktor r1 < 1 berücksichtigt wird.An advantageous development of the method is described below, which consists in that a detection factor r 1 <1 is taken into account when determining the well area F N.
In der Praxis ist die erste Annahme, daß die Oberfläche wie ein Spiegel wirkt, nicht immer gegeben, so daß der Detektionsfaktor der Bezugsfläche FB bzw. der Rest fläche FR r1 < 1 ist, wobei angenommen werden kann, daß der Detektionsfaktor des Näpfchenfläche nach wie vor r2 = 0 ist.In practice, the first assumption that the surface acts like a mirror is not always given, so that the detection factor of the reference area F B or the remaining area F R r 1 <1, it can be assumed that the detection factor of Well area is still r 2 = 0.
Mit
r1 < 1
und r2 = 0 ergibt sich aus Gleichung (III): mit:
FN = Näpfchenfläche
P
= Lichtleistung des Lichtbandes
Er =
von der Bezugsfläche
bzw. Restfläche
in den Lichtempfänger
(
r1 = Detektionsfaktor
der Bezugsfläche
bzw. Restflüche
y
= Ausdehnung der Bezugsfläche
in Vorschubrichtung
v = Relativgeschwindigkeit zwischen Bezugsfläche und
Lichtband in Gravierrichtung und
ΔT = Meßintervall für Bezugsfläche bzw.
RestflächeWith r 1 <1 and r 2 = 0, the following results from equation (III): With:
F N = cell area
P = light output of the light band
E r = from the reference surface or remaining surface into the light receiver (
r 1 = detection factor of the reference surface or residual curses
y = extension of the reference surface in the feed direction
v = relative speed between the reference surface and the light band in the engraving direction and
ΔT = measurement interval for reference surface or remaining surface
In
diesem Fall erfolgt erfindungsgemäß vor den Verfahrensschritten
[A] bis [D] zur Bestimmung der Näpfchenfläche FN eine Referenzmessung nach einem Verfahrensschritt
[A0], in dem der tatsächliche Detektionsfaktor r1 der Oberfläche der Druckform (
Für die Referenzmessung
wird zunächst
in einem Schritt [A01] ein Oberflächenbereich,
der kein Näpfchen
enthält,
als Referenzfläche
F0 definiert. Die Referenzfläche F0 kann innerhalb oder außerhalb der Restfläche FR liegen. Die Größe der Referenzfläche F0 ist prinzipiell unabhängig von der Größe der Bezugsfläche FB. In
In
einem zweiten Schritt [A02] wird die Referenzfläche F0 mit dem Lichtband (
In
einem dritten Schritt [A0 3]
wird innerhalb des Meßintervalls ΔT0 die von der Referenzfläche F0 in
den Lichtempfänger
(
Die
von der Referenzfläche
F0 in den Lichtempfänger (
Gleichung
(VI) in Gleichung (V) eingesetzt ergibt: mit:
FN = Näpfchenfläche
Er = von der Bezugsfläche bzw. Restfläche in den
Lichtempfänger
(
Er0 = von der Referenzfläche in den
Lichtempfänger
(
y = Ausdehnung der Bezugsfläche in Vorschubrichtung
v
= Relativgeschwindigkeit zwischen Bezugsfläche und Lichtband in Gravierrichtung
und
ΔT0 = Meßintervall
für Referenzfläche und
ΔT = Meßintervall
für Bezugsfläche bzw.
RestflächeEquation (VI) inserted in equation (V) yields: With:
F N = cell area
E r = from the reference surface or remaining surface into the light receiver (
E r0 = from the reference surface into the light receiver (
y = extension of the reference surface in the feed direction
v = relative speed between the reference surface and the light band in the engraving direction and
ΔT 0 = measuring interval for reference surface and
ΔT = measurement interval for reference surface or remaining surface
Wenn ΔT = ΔT0 vereinfacht sich Gleichung (VII) zu: If ΔT = ΔT 0 , equation (VII) simplifies to:
Falls
Druckform (
Nachfolgend wird eine weitere vorteilhafte Weiterbildung des Verfahrens beschrieben, die darin besteht, daß die ermittelten Näpfchenflächen FN korrigiert werden, um eventuelle Ungenauigkeiten zu kompensieren.A further advantageous development of the method is described below, which consists in correcting the well areas F N determined in order to compensate for possible inaccuracies.
Dazu
werden in einer Graviermaschine für den Tonwertbereich zwischen "Licht" und "Tiefe" Probenäpfchen mit
den Tonwerten entsprechenden unterschiedlich großen Näpfchenflächen FN in
die Druckform (
Die
Graviermaschine ist beispielsweise ein HelioKlischograph® der
Firma Hell Gravure Systems GmbH, Kiel, DE. Ein Druckzylinder (
Die
Meßvorrichtung
(
Die
beispielsweise als Laserdiode ausgebildete Lichtquelle (
Das
von der Referenzfläche
F0 und der Bezugsfläche FB zurückgeworfene
Lichtbündel
(
Kurztitel: "Näpfchenflächen-Messung mit Laserstrahl" Short title: "Cell area measurement with laser beam"
Claims (16)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2001140041 DE10140041B4 (en) | 2001-08-16 | 2001-08-16 | Procedure for determining the area of an engraved cell |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2001140041 DE10140041B4 (en) | 2001-08-16 | 2001-08-16 | Procedure for determining the area of an engraved cell |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10140041A1 DE10140041A1 (en) | 2003-03-13 |
DE10140041B4 true DE10140041B4 (en) | 2004-11-04 |
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ID=7695511
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE2001140041 Expired - Fee Related DE10140041B4 (en) | 2001-08-16 | 2001-08-16 | Procedure for determining the area of an engraved cell |
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Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10140041B4 (en) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5831746A (en) * | 1993-02-25 | 1998-11-03 | Ohio Electronic Engravers, Inc. | Engraved area volume measurement system and method using pixel data |
-
2001
- 2001-08-16 DE DE2001140041 patent/DE10140041B4/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5831746A (en) * | 1993-02-25 | 1998-11-03 | Ohio Electronic Engravers, Inc. | Engraved area volume measurement system and method using pixel data |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JP2000-177089 A[Abstract] In: Patent Abstracts of Japan [DEPATIS DOKIDX] * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE10140041A1 (en) | 2003-03-13 |
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