DE10122917A1 - Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Eigenschaften von reflektierenden Körpern - Google Patents
Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Eigenschaften von reflektierenden KörpernInfo
- Publication number
- DE10122917A1 DE10122917A1 DE10122917A DE10122917A DE10122917A1 DE 10122917 A1 DE10122917 A1 DE 10122917A1 DE 10122917 A DE10122917 A DE 10122917A DE 10122917 A DE10122917 A DE 10122917A DE 10122917 A1 DE10122917 A1 DE 10122917A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- measuring
- detector
- lighting
- devices
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung der Eigenschaften von reflektierenden und insbesondere heterogen reflektierenden Körpern mit wenigstens einer Beleuchtungseinrichtung, mit welcher Licht auf eine Meßfläche ausstrahlbar ist, wenigstens einer Detektoreinrichtung, mit welcher das von dieser Meßfläche reflektierte Licht erfaßbar ist, wobei die Detektoreinrichtung eine Vielzahl von lichtempfindlichen Sensoreinrichtungen umfaßt, und von im wesentlichen jeder dieser Sensoreinrichtungen jeweils ein Meßwert ausgebbar ist, welcher für das von der jeweiligen Sensoreinrichtung aufgenommene Licht charaketristisch ist. In einer Speichereinrichtung ist ein erster vorbestimmter Schwellwert vorgesehen. Eine Steuereinrichtung dient zur Steuerung des Meßablaufs und umfaßt eine Recheneinrichtung. Die Steuereinrichtung steuert den Meßvorgang, derart, daß ein Meßwert einer Sensoreinrichtung einem ersten Flächentyp zugeordnet wird, wenn er diesen ersten Schwellwert übersteigt. Die Steuereinrichtung ist derart gestaltet, daß wenigstens eine statistische Kenngröße bestimmbar ist, welche diesen ersten Flächentyp charakterisiert.
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur
Bestimmung der Eigenschaften von reflektierenden Körpern und
insbesondere von heterogen reflektierenden Körpern. Die
visuellen Eigenschaften eines Körpers bzw. einer Oberfläche
sind bei zahlreichen Produkten ein wichtiges Merkmal für den
Gesamteindruck des Produktes. Um ein hohe Reproduzierbarkeit
bei der Fertigung oder Reparatur von Gegenständen zu erzielen,
werden deshalb Messungen zur Qualitätskontrolle an Prototypen
oder Produkten durchgeführt, bei denen eine oder mehrere
Kenngrößen bestimmt werden.
Insbesondere, aber nicht nur, bei lackierten Oberflächen können
sich die visuellen Eigenschaften in Abhängigkeit vom
Blickwinkel bzw. Beleuchtungswinkel ändern. Derartige
Oberflächen werden goniochromatisch genannt. Beispiele für
solche Oberflächen sind Oberflächen mit Effekt-, Metallic- oder
Perlglanzlacken, beschichtete Oberflächen mit Interferenzfarb
oberflächen oder auch Kunststoffoberflächen oder sonstiger
Körper mit eingelagerten transparenten oder reflektierenden
Partikeln oder dergleichen.
Heterogen reflektierende Körper sind z. B. lackierte
Oberflächen mit eingelagerten Metallpartikeln. Dabei sind die
Oberflächen oft glatt und strukturlos.
Die Oberflächen können z. B. sogenannte FLOP-Effekte aufweisen,
so daß eine Farb- oder Glanzänderung in Abhängigkeit vom
Betrachtungswinkel beobachtbar ist. Solche Effekte können
beispielsweise durch eingelagerte Aluminiumteilchen ausgelöst
werden, die in der Oberfläche oder im Körper selbst eingebettet
sind und als Materialeinschlüsse spiegelnd wirken.
Im Stand der Technik sind Meßgeräte bekannt geworden, bei denen
eine Meßfläche unter einem Winkel ausgeleuchtet wird, und bei
denen das von der Meßfläche reflektierte Licht in z. B. zwei
festgelegten Winkelbereichen gemessen wird, um die Farbe der zu
untersuchenden Oberfläche unter diesen zwei Beobachtungswinkeln
zu bestimmen.
Weiterhin sind goniometrische Meßgeräte im Stand der Technik
bekannt geworden, bei denen z. B. unter einem festen Winkel die
Oberfläche ausgeleuchtet wird, und ein beweglicher Fotosensor
über den gesamten Winkelbereich verfahren wird, um die Farbe
der Oberfläche als Funktion des Beobachtungswinkels zu
erhalten.
Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine verbesserte
Vorrichtung und ein verbessertes Verfahren der eingangs
genannten Art zur Verfügung zu stellen, so daß wenigstens eine
Eigenschaft von heterogen reflektierenden Körpern bestimmt
werden kann.
Ein weiterer Aspekt der Aufgabe ist es, eine Vorrichtung zur
Verfügung zu stellen, mit der wenigstens eine statistische
Eigenschaft des heterogen reflektierenden Körpers bestimmt
werden kann.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Vorrichtung
gelöst, wie sie in Anspruch 1 definiert ist. Das
erfindungsgemäße Verfahren ist Gegenstand des Anspruchs 73.
Zu bevorzugende Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand
der Unteransprüche. Eine erfindungsgemäße Vorrichtung zur
Bestimmung der Eigenschaften von heterogen reflektierenden
Körpern umfaßt wenigstens eine Beleuchtungseinrichtung, mit
welcher Licht auf eine Meßfläche ausstrahlbar ist.
Wenigstens eine Detektoreinrichtung ist vorgesehen, mit welcher
wenigstens ein Teil des von der Meßfläche reflektierten Lichts
erfaßbar ist. Wenigstens eine dieser wenigstens einen Detektor
einrichtung umfaßt eine Vielzahl von lichtempflindlichen
Sensoreinrichtungen, wobei von im wesentlichen jeder dieser
Sensoreinrichtungen jeweils ein Meßwert, vorzugsweise separat
bestimmbar ist, welcher für das von der jeweiligen
Sensoreinrichtung aufgenommene Licht charakteristisch ist.
Wenigstens eine Speichereinrichtung ist an der erfindungs
gemäßen Vorrichtung vorgesehen, in der wenigstens ein erster
vorbestimmter Schwellwert vorgesehen ist. Vorzugsweise ist der
Schwellwert fest, aber vom Benutzer veränderbar gespeichert.
Wenigstens eine Steuereinrichtung dient zur Steuerung des
Meßablaufs und umfaßt wenigstens eine Recheneinrichtung, die
vorzugsweise als handelsüblicher Mikroprozessor ausgeführt ist.
Mit der Steuervorrichtung ist der Meßvorgang derart steuerbar,
daß ein Meßwert einer Sensoreinrichtung einem ersten Flächentyp
zugeordnet wird, wenn der Meßwert den ersten Schwellwert
übersteigt. Die Steuereinrichtung ist derart gestaltet, daß
wenigstens eine statistische Kenngröße bestimmbar ist, welche
den ersten Flächentyp charakterisiert.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung hat viele Vorteile.
Diese Vorteile werden im folgenden anhand von heterogen
reflektierenden Körpern erläutert. Sie treffen in entsprechend
angewandter Weise auch auf andere Körper und Oberflächen zu.
Bei der Messung von heterogen reflektierenden Körpern, bei
denen z. B. Effektpigmente, Metall- oder Aluminiumpartikel oder
dergleichen in der Oberfläche oder dem Körper selbst
eingelagert sind, wird der optische Eindruck der Oberfläche
wesentlich durch die Verteilung der Partikel, Pigmente oder
dergleichen mitbestimmt.
Um einen solchen Körper bzw. eine solche Oberfläche zu
beurteilen, ist die Bestimmung einer statistischen Verteilung
eines ersten Flächentyps, der. z. B. die Pigmentreflexion
charakterisieren kann, von Vorteil.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist ein
zweiter vorbestimmter Schwellwert vorgesehen, wobei
vorzugsweise ein Meßwert einem zweiten Flächentyp zugeordnet
wird, wenn der Meßwert den zweiten Schwellwert unterschreitet.
Es ist auch möglich, daß ein zweiter Flächentyp Meßwerten
zugeordnet wird, die kleiner als der erste Schwellwert sind.
Ebenso ist es möglich, den Meßwertbereich in wenigstens drei
Teile aufzuteilen. Wenn ein zweiter vorbestimmter Schwellwert
kleiner als der erste vorbestimmte Schwellwert ist, können sich
drei Bereiche zur Klassifikation ergeben.
Die Klassifizierung der Oberfläche in wenigstens zwei
Oberflächentypen ist vorteilhaft, da die statistischen
Eigenschaften des Körpers bzw. der Oberfläche genauer
bestimmbar sind.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung sind die
Sensoreinrichtungen wenigtens einer Detektoreinrichtung in
Reihen und/oder Spalten angeordnet. Bevorzugt ist dabei, daß
die Sensoreinrichtungen einer Detektoreinrichtung auf einem
gemeinsamen Substrat angeordnet sind. Weiterhin ist es
bevorzugt, daß wenigstens eine Detektoreinrichtung als CCD-
Array (Charge-Coupled Device) ausgeführt ist oder eine oder
mehrere Diodenzeilen umfaßt, was unter anderem den Vorteil
bietet, daß eine sehr hohe Zahl von Sensoreinrichtungen
vorgesehen sein kann.
Vorzugsweise ist wenigstens einem Teil der Sensoreinrichtungen
wenigstens einer Detektoreinrichtung jeweils ein unterschied
licher Meßort auf der Meßfläche zugeordnet. Besonders bevorzugt
wird wenigstens ein Teil der Meßfläche auf die Sensorein
richtungen wenigstens einer Detektoreinrichtung abgebildet.
Detektoreinrichtungen sind heute mit bis zu einigen Millionen
Sensoreinrichtungen bekannt. Bei Verwendung von
Detektoreinrichtungen mit einer Vielzahl von tausenden oder
noch mehr Sensoreinrichtungen ist dann eine hohe Ortsauflösung
über der Meßfläche möglich. Eine hoch ortsauflösende Bestimmung
der Meß- und Kennwerte wird ermöglicht.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist wenigstens
ein dritter Schwellwert und wenigstens ein dritter Flächentyp
vorgesehen und eine Zuordnung der Meßwerte zu diesen
Flächentypen ist vornehmbar.
In einer bevorzugten Weiterbildung ist wenigstens eine
statistische Kenngröße für den statistischen Anteil wenigstens
eines Flächentyps an der Meßfläche bestimmbar. Dabei ist es
möglich, daß der prozentuale Anteil eines oder mehrerer
Flächentypen an der Meßfläche über der gesamten Meßfläche oder
über Teilbereiche der Meßfläche getrennt bestimmbar ist.
So kann die statistische Kenngröße für eine örtliche Verteilung
wenigstens eines Flächentyps oder einer Meßfläche ableitbar
sein.
Dies ist vorteilhaft, da für den optischen Eindruck einer
Meßfläche bzw. eines heterogen reflektierenden Körpers die
örtliche Verteilung von Effektpigmenten, metallischen Partikeln
wie Aluminiumeinschlüssen oder sogenannten Flakes von hoher
Bedeutung ist.
Vorzugsweise ist aus den Meßwerten eine Vielzahl von
Flächenbereichen ableitbar. Meßwerte benachbarter
Sensoreinrichtungen mit dem gleichen Flächentyp werden
demselben Flächenbereich zugeordnet. Durch die Vielzahl der
abgeleiteten Flächenbereiche kann somit eine Verteilung für den
entsprechenden Flächentyp bestimmt werden.
Aus den Flächenbereichen wenigstens einer oder aller
Flächentypen wird dann vorzugsweise eine statistische Kenngröße
für die Größenverteilung der Flächenbereiche des jeweiligen
Flächentyps abgeleitet. Eine solche Bestimmung ist sehr
vorteilhaft, da auch die Größenverteilung von z. B.
hochreflektierenden Flächen Einfluß auf die visuellen
Eigenschaften einer Oberfläche hat. Eine Kenngröße für die
Größenverteilung erleichtert die Klassifizierung und
Beurteilung einer derartigen Oberfläche.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung wird aus den
Flächenbereichen (wenigstens) eines Flächentyps eine
statistische Kenngröße für die örtliche Verteilung der
Flächenbereiche dieses Flächentyps auf der Meßfläche
abgeleitet.
Vorzugsweise ist eine Abbildungseigenschaft wenigstens einer
Detektoreinrichtung veränderbar, so daß ein Ausschnitt der
Meßfläche vergrößert darstellbar ist. Vorzugsweise ist dazu die
Detektoreinrichtung zoombar. Es kann auch sein, daß z. B. eine
Abbildungslinse gegenüber der Oberfläche verschiebbar
angeordnet ist, so daß ein Abbildungsmaßstab änderbar ist.
Die Vergrößerung eines Ausschnitts der Meßfläche ist sehr
vorteilhaft, da feinere Strukturen mit besserer Auflösung
beobachtbar sind. Während in einem kleineren Abbildungsmaßstab
größere Strukturen untersucht werden können, können in einem
zweiten Schritt (oder auch noch mehr Schritten) dann mit
vergrößertem Ausschnitt feinere Strukturen statistisch
untersucht werden.
Die optischen Eigenschaften einer heterogen reflektierenden
Oberfläche können sich erheblich mit dem Abbildungsmaßstab
ändern. Man denke z. B. an Farbdrucke bzw. Farbplakate, bei
denen die einzelnen Farben durch das Nebeneinandersetzen einer
Vielzahl von Farbpunkten der Grundfarben entsteht.
Bei großem Abstand wird nur der integrale Eindruck von einem
Beobachter festgestellt werden, während aus der Nähe die
einzelnen Punkte wahrnehmbar sind. Bei großem Abstand ist bei
Mischfarben der integrale Eindruck bestimmend, während bei
geringem Beobachtungsabstand die jeweiligen Punkte für die
Qualität bestimmend sind.
In einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist
wenigstens eine optische Kenngröße des zu untersuchenden
Körpers bestimmbar, welche wenigstens eine optische Eigenschaft
der Meßfläche charakterisiert. Diese optische Kenngröße kann
eine der im Stand der Technik bekannte Kenngröße sein;
insbesondere ist bevorzugt, daß der Glanz, die Farbe, Haze,
Glanzschleier, die Abbildungsschärfe, Distinctness of Image
(DoI) oder ein Maß für die Welligkeit der Oberfläche bzw. den
Orange Peel bestimmbar ist. Besonders bevorzugt ist es, daß
wenigstens zwei oder mehr unterschiedliche optische Kenngrößen
der Meßfläche bestimmbar sind.
Ebenfalls ist es besonders bevorzugt, daß für wenigstens einen
Flächentyp wenigstens eine optische Kenngröße getrennt
bestimmbar ist, wobei es bevorzugt ist, daß die Bestimmung der
optischen Kenngröße für einen bestimmten Flächentyp über die
Flächenbereiche des entsprechenden Flächentyps erfolgt. Es kann
auch eine integrale Bestimmung erfolgen.
Bevorzugt ist es auch, daß wenigstens eine optische Kenngröße
für wenigstens einen Flächenbereich wenigstens eines
Flächentyps getrennt erfolgt. Besonders bevorzugt ist es dann,
daß für eine Vielzahl von Flächenbereichen eines Flächentyps
eine optische Kenngröße bestimmbar ist, so daß auch eine
statistische Verteilung der optischen Kenngröße über die
Flächenbereiche eines Flächen ableitbar ist.
Vorzugsweise ist die Summe der Anzahl von Detektoreinrichtungen
und der Anzahl der Beleuchtungseinrichtungen 3, 4, 5, 6, 7, 8,
9, 10 oder mehr und die Anzahl der Detektoreinrichtungen 1, 2,
3, 4, 5, 6 oder größer als 6. Vorzugsweise sind wenigstens 2,
3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10 oder mehr Beleuchtungseinrichtungen
vorgesehen.
Mit einer hohen Zahl von Beleuchtungs- und/oder Detektor
einrichtungen ist eine hohe Auflösung möglich.
In einer bevorzugten Weiterbildung ist wenigstens eine zweite
Detektoreinrichtung und/oder wenigstens eine zweite
Beleuchtungseinrichtung außerhalb einer ersten Meßebene
angeordnet, wobei diese erste Meßebene durch eine erste
Beleuchtungseinrichtung, eine erste Detektoreinrichtung und die
Meßfläche verläuft. Bevorzugt ist es dann, daß die zweite
Detektoreinrichtung und/oder die zweite Beleuchtungseinrichtung
in einem vorbestimmten Azimutwinkel oder auch Flächenwinkel zu
dieser ersten Meßebene angeordnet ist.
Dadurch, daß wenigstens eine Detektor- und/oder
Beleuchtungseinrichtung außerhalb der ersten Meßebene
angeordnet ist, wird eine dreidimensionale Erfassung der
Meßfläche ermöglicht. Dies ist sehr vorteilhaft, da viele
heterogene reflektierende Körper bzw. Oberflächen optische
Eigenschaften aufweisen, die nicht nur in einer Ebene, sondern
über dem Raumwinkel variieren. Die dreidimensionale Vermessung
einer derartigen Oberfläche kann zur Beurteilung wichtig sein.
Vorzugsweise sind die Beleuchtungseinrichtungen und
Detektoreinrichtungen jeweils unter einem vorbestimmten
Höhenwinkel zur Meßfläche angeordnet, und zwar derart, daß eine
dreidimensionale Vermessung der Oberfläche ermöglicht wird.
In einer vorteilhaften Weiterbildung der erfindungsgemäßen
Vorrichtung ist wenigstens eine Meßeinrichtung vorgesehen,
welche wenigstens eine Beleuchtungseinrichtung und wenigstens
eine Detektoreinrichtung umfaßt.
Dann ist mit der Meßeinrichtung Strahlung auf die zu messende
Oberfläche emittierbar und mit der gleichen Meßeinrichtung von
der Oberfläche reflektierte Strahlung detektierbar. Die
detektierte Strahlung kann dabei Strahlung sein, die in den
gleichen Raumwinkel zurückreflektiert oder zurückgestreut wird,
aus der die Strahlung kam. Es kann aber auch Strahlung sein,
die von einer anderen Beleuchtungseinrichtung ausgestrahlt und
an der Oberfläche (auch spiegelnd) reflektiert wurde.
Vorzugsweise strahlt die Beleuchtungseinrichtung der Meßein
richtung Strahlung unter einem vorbestimmten Meßeinrichtungs
winkel auf die Meßfläche und die Detektoreinrichtung nimmt
unter demselben vorbestimmten Meßeinrichtungswinkel von der
Meßfläche reflektierte Strahlung auf.
In einer bevorzugten Weiterbildung umfaßt die Meßeinrichtung
wenigstens einen Strahlteiler.
Ein Strahlteiler der Meßeinrichtung kann dabei emittierte
Strahlung der Beleuchtungseinrichtung in Richtung dieser
Meßfläche transmittieren oder umlenken.
Vorteilhafterweise ist ein Strahlteiler derart angeordnet, daß
von der Meßeinrichtung aufgenommene Strahlung dieser Meßfläche
zu der Detektoreinrichtung der Meßeinrichtung geleitet oder
transmittiert wird.
Besonders bevorzugt lenkt der gleiche Strahlteiler Licht der
Beleuchtungseinrichtung auf die Meßfläche und lenkt
aufgenommene Strahlung zu der Detektoreinrichtung.
In einer oder allen zuvor beschriebenen Ausgestaltungen der
Erfindung kann eine Detektoreinrichtung bzw. Referenzdetektor
einrichtung vorgesehen sein, welche das emittierte Licht
wenigstens einer Beleuchtungseinrichtung kontrolliert. Dadurch
wird eine Leistungskontrolle der Beleuchtungseinrichtungen
ermöglicht. Es kann auch eine spektrale Leistungskontrolle der
emittierten Strahlung erfolgen. Möglich ist dazu der Einsatz
einer Filterradeinrichtung, eines brechenden oder beugenden
oder auch Gitterspektrometers sowie die Verwendung separater
Farbfilter.
Vorzugsweise ist durch die Steuereinrichtung der Meßablauf
derart steuerbar, daß wenigstens ein Teil der Beleuch
tungseinrichtungen bei einem Meßvorgang im wesentlichen
nacheinander angesteuert wird, so daß das von den einzelnen
Beleuchtungseinrichtungen ausgestrahlte Licht von den
Detektoreinrichtungen jeweils getrennt erfaßbar ist.
Eine solche Messung ist vorteilhaft, da sich die von unter
schiedlichen Beleuchtungseinrichtungen ergebenden Reflexionen
nicht überlagern, sondern für jede Beleuchtungseinrichtung die
Meßsignale getrennt erfassen lassen.
Dies ist z. B. vorteilhaft, wenn - durch die spezielle
Geometrie bedingt - die Signale einer Beleuchtungseinrichtung
auf einer Sensoreinrichtung besonders stark sind. Dann kann für
die Messung dieser Beleuchtungseinrichtung eine entsprechend
geringe Verstärkung gewählt werden. Für die Messung des Signals
anderer Beleuchtungseinrichtungen wird dann eine entsprechend
höhere Verstärkung gewählt werden, so daß der Signal-/Rausch
abstand bzw. die Auflösung insgesamt höher ist.
Vorzugsweise kann die Steuereinrichtung einen Meßvorgang auch
derart steuern, daß wenigstens ein Teil der oder auch alle
Beleuchtungseinrichtungen bei einem Meßvorgang im wesentlichen
zeitgleich angesteuert werden. Dann ist das von den
Beleuchtungseinrichtungen ausgestrahlte Licht von den
Detektoreinrichtungen gleichzeitig erfaßbar.
Möglich ist es auch, daß die eine oder andere Beleuchtungs
einrichtung zeitversetzt angesteuert wird, während, je nach
Meßbedingung, eine gewisse Anzahl von Beleuchtungseinrichtungen
zeitgleich angesteuert wird.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist ein
Aufsetzwinkel der Vorrichtung auf dieser Meßfläche veränderbar.
Durch unterschiedliche Aufsetzwinkel auf die Oberfläche können
ebenfalls zwei- oder dreidimensionale Oberflächenmessungen
durchgeführt werden, selbst wenn alle Beleuchtungseinrichtungen
und Detektoreinrichtungen im wesentlichen in einer Ebene
angeordnet sind.
Eine solche dreidimensionale Vermessung ist nämlich dann
möglich, wenn die Vorrichtung in einer Ebene senkrecht zur
Meßebene verkippt wird. Der Aufsetzwinkel kann dabei
kontinuierlich oder auch in vorbestimmten Schritten veränderbar
sein. Die Veränderung des Aufsetzwinkels kann automatisch oder
per Hand erfolgen, wobei vorzugsweise der Aufsetzwinkel
(automatisch) erfaßbar ist.
Möglich ist es auch, daß z. B. die Vorrichtung von Hand auf den
zu messenden Körper aufgesetzt wird und dann ein Winkelbereich
von Hand abgefahren wird.
In einer bevorzugten Weiterbildung ist wenigstens für zwei oder
mehr unterschiedliche Meßgeometrien jeweils wenigstens eine
Kenngröße bestimmbar. Eine Meßgeometrie ist dabei charakte
ristisch für den jeweiligen Beleuchtungs- und den jeweiligen
Meßwinkel. Eine Meßgeometrie kann daher einerseits durch
unterschiedliche Beleuchtungswinkel und andererseits durch
unterschiedliche Detektorwinkel erzeugt werden. Es ist möglich,
daß eine oder mehrere optische oder statistische Kenngrößen für
die unterschiedlichen Meßgeometrien bestimmbar sind.
Dabei ist es bevorzugt, daß für wenigstens 2, 3 oder mehr
Meßgeometrien jeweils wenigstens eine statistische Kenngröße
ableitbar ist. Dies kann z. B. die statistische Verteilung des
ersten Flächentyps über unterschiedliche Meßgeometrien sein.
Insbesondere ist es bevorzugt, daß für eine Vielzahl von
Meßgeometrien eine statistische Verteilung wenigstens einer
statistischen oder optischen Kenngröße wenigstens eines
Flächentyps ableitbar ist.
Eine solche Bestimmung ist besonders vorteilhaft, da z. B. die
Zahl der Flakes, Effektpigmente oder reflektierenden Partikel
in der Oberfläche des Körpers über den Ausleuchtungs- oder auch
den Detektionswinkel erfaßbar ist.
Eine solche Analyse ist in vielen Fällen sehr vorteilhaft, da
die Anordnung von Effektpigmenten und dergleichen in der
Oberfläche eines Körpers oder in einem Lack von hoher Bedeutung
für den Farbeindruck ist.
Einerseits gibt es Körper, bei denen Metallpartikel oder
ähnliches als Materialeinschlüsse vorliegen, die als Spiegel
wirken. Die Verteilung der Spiegel über den Winkel relativ zur
Oberfläche kann dabei auf einen engen Winkelbereich begrenzt
oder sogar komplett zufällig verteilt sein.
In beiden Fällen ist eine Analyse der statistischen Verteilung
sehr wünschenswert, um einerseits die Qualität des Körpers bzw.
der Oberfläche zu beurteilen und andererseits Rückschlüsse auf
den Produktionsprozeß zu gewinnen.
Vorzugsweise sind 2, 3 oder mehr Beleuchtungseinrichtungen
und/oder 2, 3 oder mehr Detektoreinrichtungen vorgesehen, die
im wesentlichen in einer Ebene senkrecht zur Meßfläche
angeordnet sind.
Vorzugsweise sind 2, 3 oder mehr Beleuchtungseinrichtungen
und/oder 2, 3 oder mehr Detektoreinrichtungen vorgesehen,
welche vorzugsweise in unterschiedlichen Winkeln zur Meßfläche
angeordnet sind. Derartige Anordnungen ermöglichen eine zwei-
oder auch dreidimensionale Vermessung des zu untersuchenden
Körpers bzw. der Meßfläche.
Vorzugsweise werden unterschiedliche (Flächen-) Winkel der
Beleuchtungs-/Detektoreinrichtungen in einer Ebene parallel zur
Meßfläche realisiert. Einige Beleuchtungs-/Detektoreinrich
tungen können dabei unter unterschiedlichen Winkeln in einer
Ebene parallel zur Meßfläche angeordnet sein. Die verschiedenen
Beleuchtungs-/Detektoreinrichtungen können auch derart
angeordnet sein, daß in einer Projektion der jeweiligen
Strahlen auf eine Ebene parallel zur Meßfläche unterschiedliche
Winkel vorliegen. Durch solche vorstehend genannten Anordnun
gen, bei denen Detektor- und Beleuchtungseinrichtungen drei
dimensional angeordnet sind, können verbesserte Messergebnisse
erzielt werden.
Besonders bevorzugt ist auch, daß wenigstens eine dieser
Detektoreinrichtungen als Farb-LCD-Chip oder dergleichen
ausgeführt ist, um so eine direkte Farbmessung oder wenigstens
eine Farbeinschätzung zu ermöglichen.
Es ist aber auch möglich, daß wenigstens eine Detektoreinrich
tung drei CCD-Chips oder dergleichen umfaßt. Strahlteiler in
der Detektoreinrichtung können den einfallenden Strahl auf die
einzelnen CCD-Chips aufteilen. Vor den einzelnen Meßchips sind
unterschiedliche Farbfilter vorgesehen, so daß eine Messung der
Farbe des in die Detektoreinrichtung fallenden Lichtes
ermöglicht wird.
In einer bevorzugten Weiterbildung einer oder mehrerer Weiter
bildungen ist vorzugsweise wenigstens eine Blendeneinrichtung
im Strahlengang zwischen wenigstens einer Beleuchtungseinrich
tung und wenigstens einer Detektoreinrichtung angeordnet. Dabei
kann wenigstens eine Blendeneinrichtung zwischen der
Beleuchtungseinrichtung und der Meßfläche und/oder zwischen der
Meßfläche und der Detektoreinrichtung angeordnet sein.
Ebenso ist es möglich, daß zwischen Beleuchtungseinrichtung und
Meßfläche eine erste Blendeneinrichtung und zwischen Meßfläche
und Detektoreinrichtung wenigstens eine zweite Blendenein
richtung vorgesehen ist.
Besonders bevorzugt ist zwischen im wesentlichen jeder
Strahlungsquelle und der Meßfläche jeweils wenigstens eine
Blende angeordnet.
Besonders bevorzugt ist, daß wenigstens eine Blendeneinrichtung
eine veränderbare und vorzugsweise steuerbare Blendenöffnung
aufweist.
Die veränderbare Blendeneinrichtung kann eine steuerbare
Blendenöffnung mit punkt-, spalten-, zeilenförmigem und/oder
abgerundetem Querschnitt oder dergleichen aufweisen. Besonders
bevorzugt ist wenigstens eine linienartige Steuerung der
Blendenöffnung möglich. Dabei ist auch ein mechanisch bewegter
Schlitz möglich.
Besonders bevorzugt ist, daß wenigstens eine steuerbare
Blendeneinrichtung als elektrisch steuerbare Blendeneinrichtung
und, besonders bevorzugt, als LCD-Blendeneinrichtung oder
dergleichen ausgeführt ist. Besonders bevorzugt ist die
Blendeneinrichtung in Transmission wirksam, und es können
einzelne Bereiche der Blendeneinrichtung gezielt in ihrer
Transmissionseigenschaft gesteuert bzw. abgeschaltet werden.
Eine steuerbare Blendeneinrichtung, insbesondere im Strahlen
gang zwischen Beleuchtungseinrichtung und Meßfläche, ist sehr
vorteilhaft. Dann ist der Beleuchtungswinkel der Meßfläche in
sehr kleinen Winkelschritten besonders genau steuerbar.
Wird die Oberfläche nur in einem kleinen Winkelintervall
beleuchtet, so spiegeln eingeschlossene Metallpartikel nur in
einem entsprechenden Winkelintervall Licht auf eine
Detektoreinrichtung. Über eine feine Variation des
Einfallswinkels im Bereich < 1°, 2,5° oder 5° kann eine hohe
Auflösung der Metallpartikel über dem Einfallswinkel erzielt
werden. Das ist insbesondere bei der Beurteilung von Körpern
mit eingeschlossenen (Metall-)Partikeln wichtig, deren
Ausrichtung nahezu gleich sein soll.
Werden andererseits Oberflächen mit zufällig verteilten
Einschlüssen vermessen, ist ein hoher Winkelmeßbereich von
Vorteil.
In einer weiteren bevorzugten Weiterbildung einer oder aller
zuvor beschriebenen Weiterbildungen umfaßt wenigstens eine
Beleuchtungseinrichtung wenigstens eine Strahlungsquelle,
welche als eine der im Stand der Technik bekannten
Strahlungsquellen ausgeführt ist. Dies kann z. B. ein
herkömmlicher thermischer Strahler wie eine Glüh-, Halogen-,
Kryptonstrahlungsquelle oder eine Halbleiter- oder
Laserlichtquelle oder dergleichen sein. Auch Gasdrucklampen und
dergleichen können vorgesehen sein.
In allen Weiterbildungen ist es bevorzugt, daß im Strahlengang
zwischen wenigstens einer Strahlungsquelle und der Meßfläche
wenigstens eine Linseneinrichtung vorgesehen ist, um die
Divergenz bzw. Konvergenz des ausstrahlbaren Lichts zu
beeinflussen.
Bei der Messung kann die Oberfläche auf den Sensor bzw. die
Detektoreinrichtung abgebildet werden. Es ist auch möglich, daß
die Strahlungsquellen auf eine Blendeneinrichtung oder die
Detektoreinrichtung(en) abgebildet werden.
Zur Messung kann die emittierte Strahlung auch auf die
Meßfläche oder die Detektoreinrichtung fokussiert werden.
Bevorzugt ist wenigstens eine Linseneinrichtung oder ein Teil
der Linseneinrichtungen verschiebbar angeordnet, um die
Divergenz/Konvergenz emittierter Strahlung zu variieren. In
einem einfachen Fall ist eine Linse dabei entlang der optischen
Achse verschiebbar.
Besonders vorteilhaft ist auch eine steuerbare Linsenstellung,
um eine gewünschte Divergenz oder Konvergenz einzustellen oder
um paralleles Licht auszustrahlen, wobei die Steuerung auch
automatisch erfolgen kann, um z. B. mit unterschiedlichen
Fokussierungen getrennte Messungen durchzuführen.
Besonders bevorzugt ist für im wesentlichen jede
Beleuchtungseinrichtung jeweils wenigstens eine
Blendeneinrichtung und wenigstens eine Linseneinrichtung
vorgesehen.
Besonders bevorzugt ist von wenigstens einer Beleuchtungsein
richtung die Frequenz des ausgestrahlten Lichtes steuerbar, und
zwar derart, daß vorzugsweise die Farbe des ausgestrahlten
Lichtes gezielt veränderbar ist. Dies kann z. B. durch einen
durchstimmbaren Laser verwirklicht sein. Ebenso ist es möglich,
daß eine thermische Strahlungsquelle entsprechend ihrer Strom-/
Spannungskennlinie gezielt gesteuert wird, um die
Farbtemperatur der emittierten Strahlung zu variieren.
Eine gezielte Steuerung der Frequenz des ausgestrahlten Lichts
ist sehr vorteilhaft, da dann bei der Aufnahme der Meßwerte die
entsprechende Frequenz, Wellenlänge bzw. Farbe des Lichtes
berücksichtigt werden kann, so daß eine Farbmessung ermöglicht
wird.
Vorzugsweise ist im Strahlengang zwischen wenigstens einer
Beleuchtungseinrichtung und wenigstens einer Detektorein
richtung wenigstens eine Filtereinrichtung angeordnet, die die
spektrale Charakteristik einfallenden Lichtes entsprechend der
Filtercharakteristik verändert.
Vorzugsweise ist die spektrale Charakteristik der Filterein
richtung veränderbar und, besonders bevorzugt, gezielt steuer
bar.
In einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung umfaßt
wenigstens eine Filtereinrichtung eine Filterradeinrichtung,
die vorzugsweise drehbar gelagert ist. Die Filterradeinrichtung
weist vorzugsweise über den Umfang bzw. über die Fläche des
Filterrades unterschiedliche spektrale Charakteristiken auf.
Bei der Transmission von Strahlung an einer ortsfesten Stelle
ändert sich bei Drehung des Filterrades die Transmissions
charakteristik.
Besonders bevorzugt ist es, daß das Filterrad über den Umfang
in eine Vielzahl von drei oder mehr unterschiedlichen
Filterbereichen aufgeteilt ist, die jeweils eine
unterschiedliche Filtercharakteristik bzw. Farbe aufweisen.
Bevorzugt sind wenigstens 3, 4, 5, 6, 7, 8 oder mehr
unterschiedliche Filtersegmente vorhanden.
Die Filtercharakteristik kann sich auch kontinuierlich über dem
Umfangswinkel von 0 bis 360 Grad ändern. Fest definierte
Winkelsegmente bieten den Vorteil, daß an jeder Stelle des
Filters klar definierte Filtereigenschaften vorliegen, während
bei einer kontinuierlichen Filteränderung die Filtereigenschaft
vom Umfangswinkel abhängt.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung umfaßt
wenigstens eine Detektoreinrichtung spektral unterschiedlich
empfindliche Sensoreinrichtungen, wobei hier besonders
bevorzugt wenigstens drei spektral unterschiedlich empfindliche
Sensoreinrichtungen vorgesehen sind. Dann ist es bevorzugt, daß
die drei spektral unterschiedlich empfindlichen Sensoreinrich
tungen Licht im wesentlichen gleicher Meßorte der Meßfläche
erfassen, so daß auch bei relativ inhomogenen Oberflächen die
Farbe einzelner Punkte der Oberfläche erfaßbar ist.
In der Druckindustrie werden oft Poster, Plakate bzw.
Farbdrucke im allgemeinen nur mit einer bestimmten Anzahl von
Grundfarben gedruckt. Mischfarben werden durch Druck von
mehreren Farbpunkte unterschiedlicher Grundfarben nebeneinander
oder auch übereinander hergestellt.
Beim Mischen von Farben durch den Druck von Farbpunkten
nebeneinander entsteht der gewünschte Farbeindruck bei einem
Beobachter erst mit einem genügenden Abstand. Bei geringem
Beobachtungsabstand nimmt ein Beobachter (noch) die einzelnen
Farbpunkte wahr, die bei einem genügend großen Abstand zu einer
Farbfläche mit einer Mischfarbe verschmelzen. Der dafür
erforderliche Abstand hängt von der Größe der einzelnen
Farbpunkte ab.
Zur Qualitätskontrolle ist es in der Druckindustrie üblich
geworden, ein Muster aus Farbpunkten der Grundfarben oder auch
bestimmter Mischfarben auf spezielle Bereiche von Testdrucken
oder auf vorbestimmte Flächen bzw. Stellen beim Seriendruck zu
drucken.
Die Farbpunkte sind dabei in einem vorbestimmten Muster
zueinander angeordnet. Durch Messung der Farben der einzelnen
Druckpunkte bzw. Druckflächen oder auch der Farbverteilung über
dem Testmuster kann bestimmt werden, ob die Druckmaschine
richtig eingestellt ist bzw. ob der Druck mit den richtigen
Farben oder auf dem passenden bzw. vorgesehenen Substrat
abläuft, denn die resultierende Farbe hängt neben den
Druckfarben auch vom Grundmaterial und dergleichen ab.
Dann kann beim Seriendruck nach einer vorbestimmten Anzahl von
Druckbögen, in bestimmten Zeitabständen oder nach vorgegebenen
Druckflächen ein Druckbogen zur Qualitätsbestimmung und
-kontrolle vermessen werden. Dabei genügt es dann, das
mitgedruckte Testmuster auf seine Farbbeschaffenheit zu
überprüfen.
Mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist eine solche Messung
sehr einfach. Die Farbe der einzelnen Druckpunkte kann schnell
und zuverlässig bestimmt werden.
Der erste Schwellwert oder auch alle Schwellwerte können in
einer Weiterbildung der Erfindung oder in allen Weiterbildungen
der Erfindung farbsensitiv vorgegeben sein, so daß ein
Schwellwert (in der Art eines Vektors) beispielsweise 3
Komponenten für Rot, Grün und Blau umfaßt. Oder es können
unterschiedliche Schwellwerte für unterschiedlichen Farben oder
Wellenlängenbereiche vorgesehen sein.
Eine solche Farbmessung kann insbesondere in einer mit einer
Filterradeinrichtung versehenen Weiterbildung besonders
zuverlässig erfolgen.
Zur Messung kann ein Abbild des zu messenden Testmusters in der
Speichereinrichtung abgelegt sein. Durch Mustervergleich kann
der entsprechende Bereich der Sensoreinrichtungen auf der
Detektoreinrichtung bestimmt werden. Dann ist eine besonders
einfache Auswertung möglich, da dazu nur für jeden Farbpunkt
der Testfläche die bestimmte gemessene Istfarbe mit der
zugehörigen Sollfarbe verglichen werden muß.
Bei Überschreitung einzelner absoluter oder relativer Farbab
weichungen und/oder der Summe der Farbabweichungen kann ein
Kennwert, Warnsignal, Hinweis oder dgl. ausgegeben werden.
Bei einer Anzahl unterschiedlich farbiger Meßpunkte kann jede
unterschiedliche Farbe einen Oberflächentyp charakterisieren.
Für einen, mehrere oder alle Oberflächentypen kann dann
(jeweils) eine statistische Kenngröße ermittelt werden, die den
jeweiligen Oberflächentyp charakterisiert.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist die
Vorrichtung relativ zur Meßfläche verschiebbar, und es ist
wenigstens eine Wegstreckenmeßeinrichtung vorgesehen, welche
diese relative Verschiebung quantitativ erfaßt. Dabei ist es
möglich, daß die Wegstreckenmeßeinrichtung elektrisch,
mechanisch oder optisch vorgesehen ist.
Vorzugsweise umfaßt die Wegstreckenmeßeinrichtung wenigstens
ein Meßrad, welches während der Messung auf der zu messenden
Oberfläche aufgesetzt ist und sich während des relativen
Verschiebung von Meßfläche zu Meßvorrichtung dreht.
Vorzugsweise umfaßt die Wegstreckenmeßeinrichtung wenigstens
einen Drehwinkelgeber, der ein elektrisches Signal ausgibt,
welches für die relative Verschiebung repräsentativ ist.
Die Erfassung der relativen Verschiebung der Vorrichtung auf
der zu messenden Oberfläche hat viele Vorteile. Durch die
Erfassung der relativen Verschiebung ist es möglich, auf der
Oberfläche in vorbestimmten oder frei wählbaren Abständen
Messungen zu wiederholen.
Möglich ist auch eine Vermessung eines Großteils oder auch der
gesamten Oberfläche, so daß sich die Meßflächen
unterschiedlicher Meßvorgänge genau aneinander anschließen.
Möglich ist z. B. dabei, daß nach Erreichen einer gewissen
Verschiebung das Gerät einen Signalton ausgibt und der Benutzer
einen weiteren Meßvorgang durchführen kann, oder daß das Gerät
automatisch nach einer gewissen Relativverschiebung eine
weitere Messung durchführt.
Mit der Vermessung über einen größeren Bereich der zu messenden
Oberfläche können insbesondere statistische Eigenschaften über
der zu messenden Oberfläche besser bestimmt werden. Oft ist es
durch eine großflächige Vermessung möglich, eine Wolkigkeit in
einer lackierten Oberfläche zu detektieren, die beim Lackieren
durch ein zu langes Verweilen der Spritzdüsen auf einer Stelle
hervorgerufen wird.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist eine
Gestelleinrichtung vorgesehen, an der die Wegstreckenmeß
einrichtung angeordnet ist. Besonders bevorzugt ist diese
Gestelleinrichtung separat vorgesehen und kann die
Meßvorrichtung mit Beleuchtungs- und Detektoreinrichtungen
aufnehmen. Werden hingegen nur Einzelmessungen durchgeführt,
kann die Gestelleinrichtung separat von der sonstigen
Vorrichtung aufbewahrt werden.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung kann die
Meßfläche auf den zu messenden Körper durch Veränderung des
Systemwinkels gewählt werden, wobei es auch möglich ist, daß
durch eine Variierung des Beobachtungswinkels z. B. die
Meßfläche auf dem zu messenden Körper variierbar ist.
Ebenso ist es möglich, daß eine Roboterarmeinrichtung
vorgesehen ist, welcher die optische Meßvorrichtung automatisch
zu- und vorzugsweise entlang einer Meßfläche führt. Dann kann
eine automatische Vermessung gesamter Bauteile erfolgen.
Vorzugsweise werden bei einer Relativverschiebung nacheinander
erfolgende Messungen bzw. die ausgewerteten optischen und/oder
statistischen Kenngrößen ortsabhängig gespeichert, so daß eine
Auswertung der Messungen oder der ausgewerteten Kenngrößen
ortsabhängig erfolgen kann.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung einer oder
mehrerer der zuvor beschriebenen Weiterbildungen ist wenigstens
eine Detektoreinrichtung und wenigstens eine Beleuchtungsein
richtung derart angeordnet, daß wenigstens eine optische
Transmissionseigenschaft der Meßfläche bestimmbar ist. Die
optischen Transmissionseigenschaften derartiger Meßflächen sind
ebenfalls wichtig für den optischen Eindruck vieler heterogen
reflektierender Oberflächen und Körper.
Es ist möglich, daß eine separate Beleuchtungseinrichtung
vorgesehen ist, die auf die andere Seite einer zu messenden
Probe bewegt werden kann. Ebenso ist es möglich, daß in der
erfindungsgemäßen Vorrichtung eine Einschubmöglichkeit, ein
Schlitz oder dergleichen vorgesehen ist, so daß eine Probe in
das erfindungsgemäße Meßgerät bringbar ist bzw. hinein- oder
hindurchragt, um wenigstens eine optische Transmissions
eigenschaft der Meßfläche zu bestimmen.
In einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist
eine Spektralfiltereinrichtung an wenigstens einer
Beleuchtungseinrichtung vorgesehen, welche das von der
Beleuchtungseinrichtung ausgestrahlte Spektrum einer
vorbestimmten Spektralverteilung annähert, wie sie z. B. eine
Normlichtart aufweist.
Ebenso ist es möglich, daß eine derartige Spektralfilter
einrichtung im Strahlengang vor der Detektoreinrichtung
angeordnet ist, um bei der ideal reflektierenden Oberfläche mit
der entsprechenden Beleuchtungseinrichtung wieder das
gewünschte Spektrum zu erhalten.
Besonders bevorzugt ist es auch, daß wenigstens eine Detektor
einrichtung wenigstens ein Spektrometer bzw. Spektraleinrich
tung umfaßt, so daß eine spektrale Charakteristik und insbe
sondere ein Spektrum des aufgenommenen Lichtes erfaßbar ist.
Bevorzugt ist in einer Weiterbildung der erfindungsgemäßen
Vorrichtung eine Vielzahl von Halteeinrichtungen vorgesehen,
die jeweils zur Aufnahme von Meß- oder Beleuchtungseinrich
tungen dienen können, während tatsächlich nur eine kleinere
Anzahl von Meß- oder Beleuchtungseinrichtungen angeordnet ist.
Eine größere Anzahl an Halteeinrichtungen gegenüber der Summe
aus Beleuchtungs- und Meßeinrichtungen ist vorteilhaft, da es
einfach ermöglicht wird, die Position einer Meßeinrichtung von
einer ersten Halteeinrichtung zu einer zweiten Halteein
richtung, an der zuvor keine Meß- oder Beleuchtungseinrichtung
angeordnet war, zu verändern.
Mit einer solchen Vorrichtung können die einzelnen Positionen
der Meß-/Beleuchtungseinrichtungen im wesentlichen jederzeit
verändert werden, so daß es ermöglicht wird, die Vorrichtung an
veränderte Meßbedingungen anzupassen. Bevorzugt ist es, daß der
Winkelabstand der Halteeinrichtungen 2, 2,5, 3, 4, 5, 6, 10,
15, 20 oder 30 Grad beträgt. Der Winkelabstand kann auch noch
kleiner oder größer sein. Die Meß-/Beleuchtungseinrichtungen
können auch dreidimensional über z. B. eine Halbkugel, einem
Kubus oder dergleichen verteilt angeordnet sein.
Bevorzugt ist es, daß eine Beleuchtungseinrichtung und eine
Detektoreinrichtung unter derartigen Winkeln zur Oberfläche
ausgerichtet sind, daß die Detektoreinrichtung das direkt von
der Oberfläche reflektierte Licht der entsprechenden
Beleuchtungseinrichtungen aufnimmt.
Bevorzugt ist weiterhin, daß wenigstens eine
Beleuchtungseinrichtung und/oder Detektoreinrichtung unter
einem solchen Winkel zur Oberfläche ausgerichtet ist, daß die
Detektoreinrichtung das direkt reflektierte Licht nicht
aufnimmt.
In einer Weiterbildung der Erfindung ist wenigstens eine
Halteeinrichtung derart gestaltet, daß diese zur Aufnahme einer
optischen Einrichtung geeignet ist, wobei die optische
Einrichtung als Detektor-, Beleuchtungs-, Meßeinrichtung oder
dergleichen ausgeführt sein kann.
Wenn eine beliebige optische Einrichtung gehalten bzw.
aufgenommen werden kann bieten sich vielfache Erweiterungs- und
Anpassungsmöglichkeiten der Erfindung.
Vorzugsweise ist in wenigstens einer Meßebene eine Vielzahl
solcher Halteeinrichtungen vorgesehen, welche jeweils den
gleichen Winkelabstand zueinander aufweisen.
Der Winkelabstand kann zwischen 0 und 45 Grad betragen, ist
aber vorzugsweise zwischen 1 und 5 Grad.
Zur mehrdimensionalen Vermessung ist es in einer Weiterbildung
vorgesehen, daß in wenigstens einer zweiten Meßebene eine
zweite Vielzahl von Halteeinrichtungen vorgesehen ist.
Die Strahlungsquelle wenigstens einer Beleuchtungseinrichtung
der Vorrichtung weist vorzugsweise ein ausgestrahltes Spektrum
auf, daß im wesentlichen wenigstens den gesamten sichtbaren
Bereich des Spektrums abdeckt. Bevorzugt ist der Einsatz von
Leuchtdioden, wobei besonders bevorzugt wenigstens eine
Weißlicht-Leuchtdiode in der erfindungsgemäßen Vorrichtung
eingesetzt wird. Es können auch andere Lichtquellen eingesetzt
werden.
Es können auch mehrere unterschiedlich farbige Leuchtdioden
Verwendung finden, die gleichzeitig Licht ausstrahlen und deren
Strahlungen überlagert werden. Mehrere einfarbige Leuchtdioden
können auch nacheinander betrieben werden, um eine Farbmessung
durchzuführen.
Bei allen beschriebenen Weiterbildungen kann wenigstens eine
Kontrollmeßeinrichtung vorgesehen sein, die ein Maß für das von
der Beleuchtungseinrichtung ausgestrahlte Licht bestimmt.
Außerdem kann auch eine Temperaturmeßeinrichtung vorgesehen
sein, die die Temperatur der Beleuchtungs- und/oder
Detektoreinrichtung bei der Messung bestimmt. Durch diese
Maßnahmen kann die Reproduzierbarkeit der Messung erhöht
werden, da Schwankungen in der Lichtintensität und/oder
Temperatur der Einrichtungen berücksichtigt werden können.
Das erfindungsgemäße Verfahren insbesondere zur Bestimmung der
Eigenschaften von heterogen reflektierenden Körpern wird unter
Benutzung einer Vorrichtung durchgeführt, welche wenigstens
eine Beleuchtungseinrichtung und eine Detektoreinrichtung
umfaßt. Die Beleuchtungseinrichtung dient dazu, Licht auf die
Meßfläche auszustrahlen und die Detektoreinrichtung wird
verwendet, um wenigstens einen Teil des von der Meßfläche
reflektierten Lichtes zu erfassen.
Wenigstens eine Detektoreinrichtung umfaßt eine Vielzahl von
lichtempfindlichen Sensoreinrichtungen, wobei im wesentlichen
jede dieser Sensoreinrichtungen jeweils einen Meßwert ausgibt,
der für das von der jeweiligen Sensoreinrichtung aufgenommene
Licht charakteristisch ist.
Wenigstens eine Speichereinrichtung ist in der Vorrichtung
vorgesehen und wenigstens ein vorbestimmter Schwellwert ist in
der Speichereinrichtung gespeichert.
Wenigstens eine Steuereinrichtung mit wenigstens einer
Recheneinrichtung dient zum Steuern des Meßablaufes.
Das erfindungsgemäße Verfahren wird anhand der folgenden
Verfahrensschritte durchgeführt, wobei die Reihenfolge der
Verfahrensschritte nicht in der genannten Reihenfolge ablaufen
muß, sondern auch in einer beliebigen anderen Reihenfolge
erfolgen kann, sofern dies sinnvoll ist.
Das Verfahren umfaßt wenigstens die folgenden Schritte:
- a) Ansteuern von wenigstens einer Beleuchtungseinrichtung, um die Meßfläche zu beleuchten.
- b) Ansteuern wenigstens einer Detektoreinrichtung bzw. der Sensoreinrichtungen wenigstens einer der Detektor einrichtungen, um die Meßsignale der Sensoreinrichtungen wenigstens einer Detektoreinrichtung zu erfassen und in Meßwerte umzuwandeln.
- c) Speichern wenigstens eines Teils der aufgenommenen Meßwerte in der Speichereinrichtung.
- d) Vergleichen der Größe jedes Meßwerts mit dem in der Speichereinrichtung abgelegten ersten Schwellwert, um dem jeweiligen Meßwert einem ersten Oberflächentyp zuzuordnen, wenn der Meßwert größer als der erste Schwellwert ist.
- e) Ausgabe einer statistischen Kenngröße, welche diesen ersten Flächentyp charakterisiert.
Das erfindungsgemäße Verfahren hat viele Vorteile.
Gemäß einer Weiterbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens ist
wenigstens ein zweiter Schwellwert vorgesehen, wobei Meßwerte
kleiner als der zweite Schwellwert einem zweiten Oberflächentyp
zugeordnet werden. Ebenso kann ein dritter Oberflächentyp
zugeordnet werden.
In einer Weiterbildung wird die Anzahl der Meßwerte, die dem
ersten Oberflächentyp entsprechen, bestimmt und im Vergleich
zur Anzahl des Meßwerte insgesamt gesetzt.
Vorzugsweise charakterisiert die Kenngröße eine statistische
Verteilung des ersten Flächentyps.
Gemäß einer Weiterbildung wird das Verfahren mit einer
Vorrichtung durchgeführt, bei der wenigstens eine
Detektoreinrichtung im wesentlichen ein Abbild der Meßfläche
erfaßt, so daß es ermöglicht wird, wenigstens eine statistische
Kenngröße der statistischen Ortsverteilung des ersten
Oberflächentyps auf der Meßfläche zu bestimmen.
Eine derartige statistische Kenngröße könnte z. B. in der
Ausgabe eines Wertes zwischen 0 und 1 liegen, wobei dann der
Wert 0 einer besonders homogen verteilten Ortsverteilung
zukommen könnte, während der Wert 1 für eine hohe Lokalisierung
sprechen könnte.
Es ist allerdings auch möglich, daß ein hoher Wert die
Kenngröße einer homogenen Verteilung beschreibt. Eine solche
statistische Auswertung ist vorteilhaft, da die makroskopische
Homogenität der Oberfläche für den visuellen Eindruck wichtig
ist.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung werden für
wenigstens einen oder alle Oberflächentypen Flächenbereiche
abgeleitet. Die Ausdehnung jedes einzelnen Flächenbereichs wird
dadurch bestimmt, daß die Meßwerte benachbarter Sensorein
richtungen des gleichen Oberflächentyps bestimmt werden. Ein
einzelner Flächenbereich beschreibt deshalb direkt eine
zusammenhängende Fläche mit gleichem Oberflächentyp auf der
Detektoreinrichtung. Durch die abbildenden Eigenschaften der
Detektoreinrichtung bedingt, kann jedem Flächenbereich ein
definierter Bereich der zu messenden Oberfläche zugeordnet
werden.
Vorzugsweise werden die Größe und Lage der einzelnen Flächen
bereiche in der Speichereinrichtung abgelegt. Dann ist es
bevorzugt, daß für im wesentlichen jeden der Flächenbereiche
die jeweilige Größe bestimmt wird. Die Größenbestimmung kann
dabei durch einfaches Zählen der relevanten Sensoreinrichtungen
erfolgen. Es können auch weitere statistische Kenngrößen
abgeleitet werden, die charakteristisch für eine statistische
Größenverteilung der Flächenbereiche wenigstens eines
Oberflächentyps sind. Eine weitere Möglichkeit ist die
Bestimmung der Zahl der Partikel oder dergleichen pro
Oberflächeneinheit oder die Verteilung der Häufigkeit.
In einer weiteren bevorzugten Weiterbildung des erfindungs
gemäßen Verfahrens wird wenigstens ein Maß für eine Form der
Flächenbereiche bestimmt, und vorzugsweise wird wenigstens eine
statistische Formkenngröße abgeleitet, welche charakteristisch
für eine statistische Formverteilung der Flächenbereiche
wenigstens eines Oberflächentyps ist.
Bei z. B. im wesentlichen langgestreckten Materialeinschlüssen
im zu messenden Körper bzw. dessen Oberfläche kann die
Formkenngröße ein Maß für die Längenverteilung der einzelnen
Materialeinschlüsse sein, während bei eher runden oder
abgerundeten und flächigen Materialeinschlüssen bzw. -partikeln
die Formkenngröße ein Maß für die Rundheit oder dergleichen
sein kann.
In einer bevorzugten Weiterbildung des erfindungsgemäßen
Verfahrens werden einzelne oder alle Verfahrensschritte für
wenigstens zwei unterschiedliche Meßgeometrien durchgeführt.
Dabei wird eine Meßgeometrie durch den Beleuchtungswinkel zu
der Meßfläche und den jeweiligen Detektorwinkel zu der
Meßfläche bestimmt wird. Beleuchtungs- und Detektorwinkel
können jeweils einen Azimutalwinkel und einen Höhenwinkelanteil
aufweisen.
Besonders bevorzugt erfolgt die Auswertung über nicht nur zwei,
sondern drei, vier oder eine Vielzahl von Meßgeometrien, so daß
eine statistische Verteilung einer optischen oder statistischen
Kenngröße über der Meßgeometrie bestimmt werden kann. Dies kann
z. B. dadurch realisiert werden, daß eine Vielzahl von
Beleuchtungseinrichtungen unter unterschiedlichen Winkeln zur
Meßfläche ausgerichtet ist.
Bevorzugt ist in einer Weiterbildung der Erfindung, daß, um
dreidimensionale Messungen der Oberfläche zu erlauben, die
Beleuchtungseinrichtungen nicht nur in einer Ebene, sondern im
Raum verteilt angeordnet sind. Ebenso ist es allerdings
möglich, daß eine Anzahl von Detektoreinrichtungen vorgesehen
ist, die nicht nur in einer Ebene, sondern dreidimensional
angeordnet sind.
Mit einer Weiterbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens werden
Meßwerte des ersten Oberflächentyps einem ersten Typ von
Materialeinschluß des zu messenden Körpers zugeordnet, so daß
eine statistische Kenngröße für die Verteilung der
Materialeinschlüsse über der Meßfläche bzw. im zu messenden
Körper bestimmt werden wird.
Bei einer Variante des Meßverfahrens wird zur Messung
emittierte Strahlung auf die Meßfläche fokussiert. In einer
anderen Ausgestaltung wird im wesentlichen paralleles Licht auf
die zu untersuchende Meßfläche ausgestrahlt.
Dabei können sich zwei Meßgeometrien um solche Beleuchtungs-
/Detektionswinkel unterscheiden, daß der direkte Reflex eines
bestimmten Flakes oder eines bestimmten Materialeinschlusses
unter der ersten Geometrie vom Detektor erfaßt wird, während
der gerichtete Reflex desselben Flakes bzw. desselben
Materialeinschlusses bei einer anderen Meßgeometrie nicht mehr
vom Detektor erfaßt wird. Ob der gerichtete Reflex eines Flakes
oder dgl. bei einer zweiten Meßgeometrie noch vom Detektor
aufgenommen wird hängt u. a. von der Form und Größe der Flakes
bzw. Materialeinschlüsse oder dgl., dem Unterschied der
Beleuchtungs-/Detektionswinkel, der Form und der
Beschaffenheit des zu untersuchenden Körpers und weiteren
Faktoren ab.
Bei kleinen bzw. sehr kleinen Änderungen der Beleuchtungs-
/Detektionswinkel (z. B. in der Größenordnung von 0,1°) wird man
den gerichteten Reflex z. B. Lines Flakes unter Umständen
weiterhin auf der Detektorfläche erfassen können.
Wird hingegen der Beleuchtungs- und/oder Detektionswinkel um
größere Winkelbeträge verändert, so wird der gerichtete Reflex
desselben Flakes nicht mehr erfaßt werden. Dafür können dann
die Reflexe anderer Materialeinlagerungen aufgenommen und
ausgewertet werden. Dies kann z. B. bei Winkeländerungen der
Beleuchtung von 5° und herkömmlichen Flakes der Fall sein. Eine
Auswertung der dreidimensionalen Form von Einschlüssen ist dann
unter Umständen nur eingeschränkt möglich.
Die in vielen Fällen wichtige und auch ausreichende
statistische Auswertung der Verteilung über der
zweidimensionalen Fläche ist hingegen auch ohne Formanalyse
möglich. Der optische Eindruck von Oberflächen hängt stark von
einer homogenen Verteilung ab, so daß eine statistische
Auswertung der (zweidimensionalen) Verteilung über der
Meßfläche sehr vorteilhaft ist.
Durch den Vergleich der Flächenbereiche bei zwei, drei oder
mehr unterschiedlichen Meßgeometrien wird in einer
Weiterbildung des Verfahrens ein charakteristisches Maß für
eine dreidimensionale Form der ersten Materialeinschlüsse
abgeleitet.
Dies kann dadurch erfolgen, daß z. B. bei kleinen
Beleuchtungswinkeländerungen (hervorgerufen z. B. durch eine
steuerbare Blendeneinrichtung) durch eine Bildanalyse die
Verschiebung einzelner Flächenbereiche bei Messung unter einem
ersten Winkel gegenüber der Messung unter einem zweiten Winkel
abgeleitet wird.
Bleiben einzelne Flächenbereiche unter unterschiedlichen
Winkeln annähernd gleich groß, spricht dies für eine ebene
Struktur der Materialeinschlüsse, während eine ab- oder
zunehmende Größe eine konvexe oder konkave Form der
Materialeinschlüsse bedeutet. Durch diese Art der Auswertung
können auch runde und kugelförmige Formen der Materialein
schlüsse bestimmt werden.
Für die Formbestimmung einzelner Fremdkörper, Farbpigmente oder
Materialeinschlüsse ist es bevorzugt, daß sich die Winkel einer
Meßgeometrie nur um einen kleinen Betrag von einer Messung zur
nächsten ändern. So kann die Änderung im Bereich eines oder
mehrerer Winkelgrade liegen oder noch darunter.
Für die Beurteilung von über alle Winkelbereiche zufällig
verteilten Materialeinschlüssen in einem zu messenden Körper
ist es bevorzugt, daß ein großer Winkelbereich bei der
Beleuchtung bzw. Detektion verwirklicht wird, um über einen
großen Winkelbereich Aufschluß über die Erteilung zu erhalten.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren ist es bevorzugt möglich,
daß für wenigstens einen Flächentyp wenigstens eine
charakteristische optische Kenngröße bestimmt wird. Dazu werden
bei der Bestimmung der charakteristischen optischen Kenngröße
nur Meßwerte des entsprechenden Flächentyps berücksichtigt.
Ebenso ist es möglich, daß zur Bestimmung einer
charakteristischen optischen Kenngröße nur Meßwerte
berücksichtigt werden, die nicht zu einem bestimmten oder
mehreren bestimmten Flächentypen gehören.
Bei heterogen reflektierenden Körpern wird ein bestimmter
Farbeindruck häufig wesentlich nur durch einen speziellen
Oberflächentyp hervorgerufen. Durch ein derartiges Meßverfahren
kann sichergestellt werden, daß bei der Messung im wesentlichen
die Oberflächenbereiche der zu messenden Oberfläche berücksich
tigt werden, die den entsprechenden Flächentyp aufweisen.
Beispielsweise kann bei Oberflächen, die mit Effektpigmenten,
Perlglanzpigmenten, Metallpartikeln und dergleichen versehen
sind, der bzw. die dazugehörigen Flächentypen bei
Berücksichtigung eines Farb- oder Glanzkennwertes
unberücksichtigt bleiben.
Bei Aluminium- oder Metalleinschlüssen weisen diese oft ein
hohes Reflexionsvermögen auf, das weit über dem typischen Glanz
einer Oberfläche liegt. Werden bei der Messung der Farbe oder
des Glanzes nun die Reflexionen dieser Partikel im wesentlichen
nicht berücksichtigt, so kann die Farbe der Oberfläche
zuverlässig bestimmt werden.
Weiterhin ist es bevorzugt, daß für das erfindungsgemäße
Verfahren eine der zuvor beschriebenen Ausgestaltungen der
erfindungsgemäßen Vorrichtung Verwendung findet.
Weitere Vorteile, Merkmale und Anwendungsmöglichkeiten der
vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden
Beschreibung von Ausführungsbeispielen im Zusammenhang mit den
Figuren.
Darin zeigen:
Fig. 1 den prinzipiellen Aufbau einer Vorrichtung gemäß
einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung in einem Seitenschnitt;
Fig. 2 den prinzipiellen Aufbau einer Vorrichtung gemäß
Fig. 1 in einer Strukturansicht von oben;
Fig. 3a die Darstellung der Verteilung eines Oberflächentyps
über einer Detektorfläche unter einem ersten
Meßwinkel;
Fig. 3b die Darstellung der Verteilung eines ersten
Oberflächentyps über einer Detektorfläche unter einem
zweiten Meßwinkel;
Fig. 3c die Darstellung der Verteilung eines ersten
Oberflächentyps über einer Detektorenfläche unter
einem dritten Meßwinkel;
Fig. 4 den prinzipiellen schaltungstechnischen Aufbau des
Ausführungsbeispiels gemäß Fig. 1;
Fig. 5 den Verlauf des Flächenanteils des ersten
Oberflächentyps an der Gesamtfläche über dem
Beleuchtungswinkel;
Fig. 6a Materialeinschlüsse in einer lackierten Oberfläche
bei einem ersten Beispiel eines zu untersuchenden
Körpers;
Fig. 6b Materialeinschlüsse in einer lackierten Oberfläche
bei einem anderen Beispiel eines zu untersuchenden
Körpers;
Fig. 7 die Homogenität einer Verteilung der
Materialeinschlüsse über dem Meßwinkel;
Fig. 8 einen Vergleich der Reflexionsintensität eines
Materialeinschlusses mit der Lackoberfläche über dem
Meßwinkel;
Fig. 9a ein zweites Ausführungsbeispiel einer
erfindungsgemäßen Vorrichtung;
Fig. 9b ein drittes Ausführungsbeispiel einer
erfindungsgemäßen Vorrichtung;
Fig. 10 ein viertes Ausführungsbeispiel einer
erfindungsgemäßen Vorrichtung;
Fig. 11 eine perspektivische Ansicht eines weiteren
Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung; und
Fig. 12 eine Seitenansicht der Vorrichtung gemäß Fig. 11.
Ein erstes Ausführungsbeispiel wird nun mit Bezug auf die
Fig. 1 bis 8 beschrieben.
In Fig. 1 ist ein Querschnitt durch ein erstes Ausführungs
beispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung dargestellt.
In einem Gehäuse 1 sind mehrere (hier sieben) Beleuchtungsein
richtungen bzw. Lichtquellen 2, 3, 4, 5, 6, 7 und 8 vorgesehen,
die Licht auf die zu messende Oberfläche 9 richten. Es können
auch weniger oder deutlich mehr sein, so z. B. 10, 12, 15, 20,
oder auch nur 4 oder 6.
Zur Begrenzung der Lichtstrahlen ist eine Mehrfachblende 13
vorgesehen, die für jede Lichtquelle jeweils den Strahl
begrenzt. Eine Linse 14 (oder für jede Beleuchtungseinrichtung
jeweils eine Linse, oder auch zusätzlich für jede
Beleuchtungseinrichtung zusätzlich zur Linse 14 noch jeweils
eine Linse) kann vorgesehen sein, um die Divergenz des
ausgestrahlten Lichtes zu beeinflussen, so daß es auch möglich
ist, ein im wesentlichen paralleles Lichtbündel auf die zu
messende Oberfläche 9 auszurichten.
Die einzelnen Beleuchtungseinrichtungen 2, 3 und 6 sind unter
unterschiedlichen Höhenwinkeln 28 zur Meßfläche ausgerichtet,
während eine Detektoreinrichtung 17 das unter einem Meßwinkel
27 von der Oberfläche reflektierte Licht aufnimmt.
Ein Detektor 16 ist als CCD-Chip ausgeführt, dessen einzelne
photosensitive Elemente 30 flächig in Zeilen 40 und Spalten 41
angeordnet sind. Eine Linse 18 im Strahlengang zwischen zu
messender Oberfläche und Detektor 16 dient dazu, die
Lichtquellen oder die Meßfläche oder einen Teil derselben auf
den Detektor 16 oder dergleichen abzubilden.
Obwohl in Fig. 1 nicht dargestellt, kann auch eine größere
Anzahl von Detektoren vorgesehen sein, die dann beispielsweise
unter unterschiedlichen Winkeln zur Meßfläche ausgerichtet
sind. Ebenso können mehr oder weniger Lichtquellen 2 bis 8
vorgesehen sein.
Die als Leuchtdioden ausgeführten Lichtquellen 2, 3 und 6 sind
in der Meßebene 24 angeordnet. Die Meßebene 24 ist die Ebene,
die im Ausführungsbeispiel durch die Beleuchtungseinrichtung 6,
die Meßfläche 9 und den Detektor 16 verläuft.
Die ebenfalls als Leuchtdioden ausgeführten Leuchtdioden 4, 5,
6, 7 und 8 sind in einer Ebene parallel zur Meßfläche 9 und
senkrecht zur gerade definierten Meßebene 24 angeordnet. Die
einzelnen Leuchtdioden sind unter unterschiedlichen
Azimutalwinkeln zur Meßebene 24 angeordnet.
Die Leuchtdiode 7 ist ebenfalls unter dem Höhenwinkel 28
gegenüber der Meßfläche ausgerichtet, weist jedoch zusätzlich
dazu einen Azimutalwinkel 29 zur Meßebene 24 auf. Durch diese
dreidimensionale Anordnung von Lichtquellen gegenüber der
Meßfläche wird es ermöglicht, die Meßfläche 9 dreidimensional
zu erfassen, um somit die heterogenen Eigenschaften der
Meßfläche genauer bestimmen zu können.
Im Strahlengang zwischen Lichtquellen 2 bis 8 und Detektor 16
kann eine steuerbare Blende 17 vorgesehen sein. Im
Ausführungsbeispiel ist die steuerbare Blende 17 als LCD-Blende
ausgeführt, bei der einzelne Bereiche, Zeilen, Spalten oder
Pixel gezielt angesteuert werden können, so daß durch gezielte
Ansteuerung nur bestimmte Winkelbereiche von der Meßfläche
durch den Detektor 16 erfaßbar sind, während andere
abgeschattet oder abgedunkelt werden.
Die steuerbare Blende kann auch im Strahlengang zwischen den
Beleuchtungseinrichtungen und der Meßfläche angeordnet sein, um
so den Beleuchtungswinkel zur Meßfläche in besonders kleinen
Schritten einstellen zu können.
Die steuerbare Blende 17 hat den Vorteil, daß über kleine und
kleinste Winkeländerungen Abbilder der Oberfläche 9 erfaßbar
sind, um kleine und kleinste Änderungen zu detektieren.
Zusätzlich zu den Leuchtdioden 4 bis 8 können weitere Licht-
oder Strahlungsquellen unter anderen Höhenwinkeln oder
Azimutalwinkeln 29 zur Meßebene 24 vorgesehen sein, um für
viele Raumwinkel die Oberfläche 9 zu vermessen.
Den prinzipiellen schaltungstechnischen Aufbau der erfindungs
gemäßen Vorrichtung zeigt Fig. 4. Die Steuereinrichtung 20
umfaßt eine als Mikroprozessor ausgeführte Recheneinrich
tung 23, einen Speicher 25, Eingabe- und Bedienungselemente 21
und ein Display 22. Beispielhaft ist nur eine Lichtquelle 5 und
eine CCD-Chip als Detektoreinrichtung 16 dargestellt. Zu einem
externen Computer 26 kann vom Benutzer über eine Schnittstelle
eine Datenverbindung aufgenommen werden.
Es wird nun ein Meßvorgang eines ersten Beispiels eines
heterogen reflektierenden Körpers 80, wie er in Fig. 6a
dargestellt ist, im folgenden erläutert.
Die lackierte Oberfläche 81 des Körpers 80 weist neben dem
normalen Lack 82 Materialeinschlüsse 83 bis 86 auf, die im hier
gewählten Beispiel als kleine reflektierende Metallplättchen
ausgeführt sind und sind im gewählten Beispiel im wesentlichen
parallel zur Oberfläche ausgerichtet.
Der normale Lack 82 reflektiert entsprechend seiner Farbe und
sonstigen Eigenschaften einen entsprechenden Teil des
auftreffenden Lichts direkt an der Oberfläche, während ein
weiterer Teil in die Lackschicht eintritt. Das in die
Lackschicht eintretende Licht kann auf einen der
Materialeinschlüsse 83 bis 86 treffen, von denen das Licht dann
effizient reflektiert wird.
Wird ein Lichtstrahl von einem der Materialanschlüsse 83 bis 86
reflektiert, so wird die Farbe dieses Reflexes wesentlich durch
den Farbton des Materialeinschlusses bestimmt. Ein Lichtstrahl
der an der Oberfläche der Lackschicht 82 reflektiert wird, kann
eine andere Farbe und eine deutlich unterschiedliche Intensität
aufweisen.
Der Farbeindruck bzw. der visuelle Eindruck der gesamten
Oberfläche setzt sich aus dem Reflex an der Oberfläche des
Lacks und dem Reflex an den Metallpartikeln 83 bis 86 zusammen.
Der Gesamteindruck ist einerseits eine Mischung aus den
unterschiedlichen Farbeindrücken und hängt andererseits von der
statistischen Verteilung und auch der statistischen
Größenverteilung der einzelnen Materialeinschlüsse 83 bis 86
ab. Der Eindruck hängt aber auch vom Beobachtungsabstand und
-winkel ab.
Kleine und kleinste Materialeinschlüsse in der Oberfläche
können unter Umständen vom menschlichen Auge nicht mehr separat
unterschieden werden, während großflächigere Materialein
schlüsse als eigenständige Komponenten vom menschlichen Auge
erfaßbar sein können. Bei großflächigen Komponenten ist das
menschliche Auge in der Lage, nicht nur einen, sondern zwei
(getrennte) Farbeindrücke der zu messenden Oberfläche zu
gewinnen.
In einem solchen Fall ist zur Beurteilung der Oberfläche die
Bestimmung eines integralen Gesamteindrucks nicht ausreichend,
sondern es ist wichtig, für die unterschiedlichen
Oberflächentypen (also die normale Lackschicht 82 und die
Materialeinschlüsse 83 bis 83) jeweils Werte für die
optische(n) Eigenschaft(en) zu bestimmen.
Der optische Gesamteindruck kann somit erheblich von der
statistischen Verteilung der Materialeinschlüsse in der
Meßfläche und der statistischen Größenverteilung der
Materialeinschlüsse in der Meßfläche abhängen.
Zu den beeinflußten optischen Eigenschaften zählen z. B. der
Glanz, die Farbe der Meßfläche, Schleier, Schleierglanz Haze,
und auch der Eindruck der Welligkeit der zu untersuchenden
Oberfläche und weitere im Stand der Technik bekannte optische
Kenngrößen, die zur Charakterisierung von Oberflächen bekannt
geworden sind und die dem Fachmann geläufig sind.
In Fig. 6b ist ein Beispiel eines anderen Körpers 80
dargestellt, der ebenfalls eine lackierte Oberfläche mit einer
Lackschicht 82 aufweist. In dieser Oberfläche sind
Materialeinschlüsse 87 bis 91 vorgesehen, die im Unterschied
zur Darstellung gemäß Fig. 6a jedoch von ihrer winkelmäßigen
Ausrichtung gegenüber der Oberfläche zufällig und unregelmäßig
verteilt sind.
In Fig. 3a ist eine prinzipielle Darstellung des Detektors 16
dargestellt, dessen einzelne lichtempfindliche Elemente 30 in
Zeilen 40 und Spalten 41 angeordnet sind. Obwohl in Fig. 3 nur
insgesamt 100 photosensitive Elemente (10 pro Zeile, 10 pro
Spalte) dargestellt sind, sei hier darauf hingewiesen, daß dies
nur eine prinzipielle Darstellung ist und daß der im
Ausführungsbeispiel verwendete Detektor ein handelsüblicher
CCD-Chip ist, der eine Vielzahl von bis zu einigen Millionen
unterschiedlichen photosensitiven Flächen aufweisen kann.
Zur Beleuchtung bzw. Erfassung werden geeignete Sende- bzw.
Empfangsoptiken gewählt, wobei diese auch variabel gestaltet
sein können. Insbesondere kann das ausgestrahlte Licht im
wesentlichen parallel ausgerichtet sein. Auch divergente oder
konvergente Strahlung kann an den (Sende-)Optiken einstellbar
sein. Es kann eine Bündelung oder auch Fokussierung auf die
Meßfläche oder auch auf eine Blende in der Beleuchtungs- oder
Empfangsoptik erfolgen.
Zu Änderung der Abbildungseigenschaft kann wenigstens eine
Linse wenigstens einer Lichtquelle verschiebbar angeordnet
sein, um z. B. eine wahlweise Fokussierung auf die Meßfläche
oder eine Blende zu ermöglichen.
Bei der Messung werden für die einzelnen photosensitiven
Elemente 30 des CCD-Chips 16 die Meßsignale 33 erfaßt. Durch
Vergleich der einzelnen Meßsignale mit dem im Speicher
abgelegten Schwellwert 32 wird entschieden, ob der Meßwert zur
normalen Lackoberfläche 82 oder zu einem der hochreflek
tierenden Metallpartikel 83 bis 86 gehört. Die im Beispiel zu
diesem Oberflächentyp 81 gehörenden Detektorelemente sind in
Fig. 3 als schraffierte Flächen 50 dargestellt.
Die in Fig. 3a dargestellte Oberflächenverteilung wurde mit
einem ersten Beleuchtungswinkel erzielt. Die in Fig. 3b
dargestellte Oberflächenverteilung wurde mit einem im Vergleich
zu dem in Fig. 3a dargestellten Meßergebnis mit einem leicht
unterschiedlichen zweiten Beleuchtungswinkel gemessen.
Durch die geringe Winkeländerung bei der Beleuchtung bedingt,
können die einzelnen Flächenbereiche 50, die zu den gleichen
hochreflektierenden Materialeinschlüssen gehören, detektiert
werden.
So erzeugt z. B. ein Materialeinschluß 83 in der Fig. 3a den
Flächenbereich 51, der die Sensorelemente 1 bis 4 in der
dritten Spalte entsprechend ausleuchtet. In dem Meßergebnis bei
der leicht veränderten Geometrie gemäß Fig. 3b ist der Reflex
des Materialeinschlusses 83 nun auf den Elementen 2 bis 5 der
dritten Spalte detektierbar. Genauso wandern die
Flächenbereiche 52, 53 und 54 in der gleichen Spalte jeweils
ein Sensorelement nach oben, so wie auch das L-förmige
Flächenmuster 56 in den gleichen Spalten 9 und 10 ein
Sensorelement 30 höher wandert.
Im Unterschied dazu sind die Flächenmuster 57 und 58 in dem
Meßergebnis gemäß Fig. 3b nicht mehr vorhanden. Die Flächen
bereiche 57 und 58 finden keine Entsprechung in der Darstellung
gemäß Fig. 3b. Die Ursache dafür ist hier, daß die zugehörigen
Materialeinschlüsse unter dem neuen Beleuchtungswinkel gemäß
Fig. 3b nicht mehr nennenswert reflektieren bzw. deren Reflex
vom Detektor nicht mehr erfaßt wird.
Der Flächenbereich 55 (Zeile 10, Spalte 9) in Fig. 3a kann
seine Entsprechung im Flächenbereich 65 (Zeile 10, Spalte 9)
gemäß Fig. 3b haben. Die Ursache dafür, daß keine Änderung der
Sensorelemente bei der Winkeländerung aufgetreten ist, kann
daraus resultieren, daß die Winkeländerung nicht ausreichte, um
das entsprechende Sensorelement nicht mehr auszuleuchten.
Um die Genauigkeit der Meßergebnisse zu steigern, kann nicht
nur die Berücksichtigung eines Schwellwertes 32 erfolgen,
sondern es kann auch die absolute Größe des Meßwertes
berücksichtigt werden, indem z. B. die Flächenbereiche 50 nicht
durch den Schwellwert 32 begrenzt werden, sondern durch einen
Abfall auf einen bestimmten Anteil des Maximalwertes, der
unter- oder oberhalb des Schwellwertes liegt, oder dergleichen
mehr.
Die einzelnen Flächenbereiche 51 bis 58 und 61 bis 66 sowie 71
und 73 bis 79 werden dadurch bestimmt, daß für Meßwerte eines
bestimmten Oberflächentyps 83 bis 86 die Meßwerte der
benachbarten photosensitiven Elemente abgefragt werden.
Erfüllen auch diese Meßwerte die Bedingungen (z. B. größer als
Schwellwert 32), so wird der Flächenbereich entsprechend
vergrößert, so daß die in den Fig. 3a bis 3c dargestellten
Flächenbereiche erhalten werden.
Ein erstes Auswertungsergebnis kann durch Aufsummierung des
Flächenanteils des ersten Flächentyps erzielt werden, indem der
Flächenanteil des ersten Flächentyps in Verhältnis zur
Gesamtfläche gesetzt wird.
Die statistische Verteilung eines derartigen Flächenanteils
über einer Beleuchtungswinkelabweichung ist in Fig. 5 als
Flächenanteilsverlauf 38 dargestellt. Aus dem dargestellten
Verlauf ergibt sich, daß die einzelnen Partikel 83 bis 86 in
einem engen Winkelintervall zur Oberfläche ausgerichtet sind.
Bei einer regellosen Verteilung der Ausrichtung der einzelnen
Materialeinschlüsse 87 bis 91, wie sie in Fig. 6b angedeutet
ist, ergibt sich eher eine Verteilung, wie in Fig. 7
dargestellt. Dort ist die Verteilung 39 über der Beleuchtungs
winkelabweichung im wesentlichen konstant.
Auch für die Messung einer solchen Oberfläche können die
Abbildungseigenschaften der Sende-/Empfangsoptiken angepaßt
werden, indem die Position der jeweiligen Linse zu
Lichtquelle/Sensor veränderbar ist.
Ebenso kann eine Auswertung der Größen der Flächenanteile des
Oberflächentyps der Materialeinschlüsse erfolgen, die
beispielsweise ebenfalls die Form entsprechend Fig. 5 oder 7
aufweisen können.
Weiterhin kann eine Analyse bezüglich der Ortsverteilung der
Materialanschlüsse über der Meßfläche erfolgen.
In den Fig. 3a und 3b ist das Meßergebnis einer Oberfläche
dargestellt, wobei der Beleuchtungswinkel für die Fig. 3b
gegenüber der Fig. 3a in einer ersten Ebene verändert wurde.
Wird der Beleuchtungswinkel in einer zweiten Ebene senkrecht zu
der ersten Ebene variiert, so erhält man z. B. das in Fig. 3c
dargestellte Ergebnis, bei welchem die entsprechenden
Flächenbereiche 51 bis 58 im wesentlichen horizontal in der
Orientierung gemäß Fig. 3c verschoben sind. Durch die
Auswertung der horizontalen und vertikalen Verschiebung
einzelner Flächenbereiche (Verschiebung der Spalten und Zeilen)
ist die dreidimensionale Bestimmung der Verteilung der
Materialeinschlüsse in dem zu messenden Körper möglich.
Bei dem in Fig. 3c dargestellten Abbild der Detektoreinrichtung
wurde die Oberfläche unter einem veränderten Azimutalwinkel im
Vergleich zu dem Ergebnis der. Fig. 3a beleuchtet.
Im Vergleich zur Fig. 3a wurden in Fig. 3b die einzelnen
Flächenbereiche 50 des ersten Oberflächentyps, also der
Materialeinschlüsse, im wesentlichen in einer Spalte zur
Zurichtung höherer Zeilennummern verschoben. So bedeckte in
Fig. 3a der Flächenbereich 52 in Spalte 1 die Zeilen 7 bis 9,
und der gleiche Flächenbereich bedeckte in Fig. 3b in Zeile 1
die Zeilenelemente 8 bis 10.
In Fig. 3c wird durch die geänderte Azimutalausleuchtung ein
Versatz der Spalten beobachtet. Der Flächenbereich 52 ist in
Fig. 3c aus dem Meßfeld gewandert und nicht mehr sichtbar. Der
Flächenbereich 51, der in Fig. 3a in Spalte 3 die Zeilenele
mente 1 bis 4 umfaßte, umfaßt in 28431 00070 552 001000280000000200012000285912832000040 0002010122917 00004 28312Fig. 3c als Flächenbereich 71
in Spalte 2 die Zeilenelemente 1 bis 4. Der Flächenbereich 51
in Fig. 3c, der aus der Reflexion eines Flakes oder dergleichen
resultiert, ist gegenüber dem Flächenbereich 51 in Fig. 3a, der
durch Reflexion am gleichen Flake resultierte, gemäß der Orien
tierung von Fig. 3c ein Sensorelement nach links verschoben.
Die Verschiebung kann je nach Differenz des Ausleuchtungs
winkels auch mehr als ein Sensorelement betragen. Werden zwei
Aufnahmen unter Beobachtungswinkeln gemacht, die sich stärker
voneinander unterscheiden, so kann es schwierig oder nahezu
unmöglich werden, die Flächenbereiche der einzelnen Aufnahmen
jeweils den gleichen Flakes oder Metallpartikeln oder
dergleichen zuzuordnen. Auch in einem solchen Fall kann
allerdings eine Auswertung der statistischen Verteilung über
der Meßfläche erfolgen.
Aus den durch eine Anzahl von Flakes hervorgerufenen Flächen
bereichen 53 bis 58 in Fig. 3a werden in Fig. 3c entsprechende
Flächenbereiche 73 bis 78. Zusätzlich wird in Fig. 3c noch ein
Flächenbereich 79 detektiert, dem ein Metallpartikel,
Farbpigment oder Flake zuzuordnen ist, das bei der Ausleuchtung
gemäß Fig. 3a noch nicht vom Detektor 16 erfaßt wurde.
Nicht dargestellt ist ein Beispiel für die Meßergebnisse mit
dem in Fig. 6b dargestellten Körper.
Bei einem Körper entsprechend Fig. 6a oder auch gemäß Fig. 6b
können sich Meßergebnisse ergeben, bei denen eine Zuordnung
einzelner Flakes von einer Meßgeometrie zur nächsten nicht oder
nur schwer möglich ist.
Dies kann z. B. dann der Fall sein, wenn bei gegebener
Oberfläche und Flakegröße, Flakeform und Flakeverteilung der
Beleuchtungswinkel um einen so großen Betrag verändert wird,
daß der gerichtete Reflex nicht mehr vom Detektor erfaßt wird.
Bei Änderungen des Beleuchtungswinkels von 5 Grad oder mehr
trifft dies in vielen Fällen zu.
Eine Bestimmung der Verteilung der Flakes über der Fläche und
auch eine Bestimmung der Verteilung über unterschiedliche
Meßgeometrien ist hingegen möglich, auch wenn bei verschiedenen
Meßgeometrien die Zuordnung bzw. "Verfolgung" einzelner Flakes
nicht gelingt.
In Fig. 8 ist die Intensität des Meßergebnisses über den
Sensorelementen eines Fotodetektors bzw. über dem Winkel
aufgetragen, da jedes photosensitive Element 30 eines
Fotosensors 16 jeweils einen unterschiedlichen Meßwinkel
repräsentiert.
Für den Beobachtungswinkel ergibt sich eine Verteilung des
Reflexionsvermögens über dem Winkel entsprechend der Kurve, auf
der der Meßwert 33 eingezeichnet ist. Die Kurve mit deutlich
höherer Intensität, auf der der Meßwert 34 eingezeichnet ist,
ist die Kurve, die sich durch Spiegelreflexion an einem
Metallteilchen bei diesem Winkel ergibt. Bei dem gleichen
Winkel würde sich ohne den spiegelnden Anteil des Metallteil
chens nur ein Meßwert 34a ergeben, dessen Intensität deutlich
niedriger ist, als die Intensität des wirklichen Meßwerts 34.
Dabei ist zu beachten, daß die gesamte Kurve des normalen
Reflexionsvermögens (durch den Meßwert 33) unterhalb des ersten
vorbestimmten Schwellwerts 32 liegt, während die Meßwerte für
den spiegelnden Glanz des Metallteilchens deutlich oberhalb des
ersten Schwellwerts liegen. Dadurch wird eine Unterscheidung in
spiegelnden Glanz durch Metallteilchen und normalen Glanz der
Lackschicht 82 ermöglicht.
Bei der Beurteilung und der Bestimmung eines ersten
Oberflächenkenntyps für die eingelagerten Metall- oder
Pigmentpartikel 83 bis 86 können Meßwerte berücksichtigt
werden, deren Intensität höher als der Schwellwert 32 ist,
während bei der Beurteilung des anderen Oberflächentyps,
nämlich im hier dargestellten Falle der normalen Lackschicht
Meßwerte berücksichtigt werden, die durch den normalen Glanz
hervorgerufen werden, die unterhalb des ersten vorbestimmten
Schwellwerts 32 liegen.
Durch dieses Vorgehen kann einerseits ein Kennwert für die
eingelagerten Partikel bestimmt und andererseits auch ein
Kennwert für die sonstige Lackoberfläche ausgewertet werden.
Die getrennte Bestimmung der optischen Kennwerte erhöht die
Präzision der Meßergebnisse.
Wird z. B. ein lackierter Körper, in dessen Lackschicht farbige
Metallpartikel eingelagert sind, vermessen, so werden der Farbe
der Metallpartikel entsprechende Wellenlängen in gewisse Winkel
in weitaus verstärktem Maße reflektiert.
Eine normale Farbbestimmung bzw. Farbauswertung würde die Farbe
des Metallpartikels deutlich überbewerten, während die
Bestimmung von optischen Kenngrößen einerseits für einen ersten
Typ eingelagerter Einschlüsse und andererseits für die
restliche Oberfläche sowie eine statistische Verteilung der
entsprechenden Kennwerte zu deutlich verbesserten
Meßergebnissen führen. Eine integrale Messung über alle Pixel
kann zu verfälschten Meßergebnissen führen.
In Fig. 9a ist ein weiteres Ausführungsbeispiel eines
erfindungsgemäßen Meßgeräts dargestellt. Gleiche Komponenten
wie bei dem Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 1 haben die gleichen
Bezugszeichen.
Das von einer ersten Lichtquelle 5 ausgestrahlte Licht fällt
unter 45 Grad auf die Meßfläche 9 und der gerichtete Reflex
wird ebenfalls unter 45 Grad reflektiert und durch ein
Filterrad 10 auf den Sensor 16 geleitet, der, wie im vorigen
Ausführungsbeispiel, als CCD-Chip ausgeführt ist.
Das Filterrad 10 ist über den Winkel in acht 45-Grad-Segmente
aufgeteilt, wobei jedes 45-Grad-Segment eine unterschiedliche
Färbung aufweist, so daß transmittiertes Licht in der
Wellenlängencharakteristik beeinflußt wird. Statt 8 sind auch
16, 32 oder 64 Filtersegmente bevorzugt.
Bei der Messung wird das Filterrad 10 in vorbestimmten Zeitab
ständen oder kontinuierlich gedreht, wobei für jedes Filter
segment wenigstens eine Meßwertaufnahme erfolgt. Dadurch wird
gewährleistet, daß der Sensor mit gezielten Wellenlängenbe
reichen beleuchtet wird, so daß eine Farbe der Meßfläche 9 auch
mit nur einem einzigen Sensor bzw. CCD-Chip 16 erfaßbar wird.
Wichtig ist bei dem Filterrad 10, daß die Anzahl der Filterseg
mente genügend hoch ist, um eine im wesentlichen zuverlässige
Farbbestimmung zu erlauben. Deshalb kann die Anzahl der
einzelnen Filtersegmente nahezu beliebig sein. Wenigstens
sollten es drei sein. Es kann auch ein (oder mehrere) Filter
mit durchstimmbarer Filtereigenschaft verwendet werden. Die
(spektrale) Filtercharakteristik kann dann z. B. elektrisch
steuerbar sein.
Weiterhin ist in dem Meßgehäuse 100 noch eine weitere
Beleuchtungseinrichtung 130 vorgesehen, die drei getrennt
ansteuerbare Leuchtdioden 132, 133 und 134 aufweist, die Licht
unter leicht unterschiedlichen Winkeln auf die Meßfläche 9
ausstrahlen. Durch die unterschiedlichen Winkel, mit der die
Leuchtdioden 132, 133, 134 auf die Meßfläche ausgerichtet sind,
kann eine Ausrichtung von Materialeinschlüssen in der zu
messenden Oberfläche 9 bestimmt werden.
In diesem Beispiel weist das Gehäuse 100 Meßräder 103 und 104
auf, wobei wenigstens eines der Räder einen Drehwinkelgeber
umfaßt, der Signale beim Rollen über die Oberfläche abgibt, die
der relativen Verschiebung entsprechen. Dadurch wird es
ermöglicht, daß beim Fahren über eine Oberfläche in bestimmten
zeitlichen Abständen oder fortwährend oder in bestimmten
örtlichen Abständen eine neue Messung durchgeführt wird, so daß
ein größeres Meßgebiet erfaßt werden kann. Dabei erfolgt die
Beleuchtung durch eine Öffnung 101 im Meßgerät auf die
Oberfläche 9, von der das Licht reflektiert wird.
In Fig. 9b ist ein weiteres Ausführungsbeispiel eines
erfindungsgemäßen Meßgeräts dargestellt. Gleiche Komponenten
wie bei dem Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 9a haben die
gleichen Bezugszeichen.
Das von einer Lichtquelle 5 ausgestrahlte Licht trifft auf eine
steuerbare Blende 17, bei der entsprechend der Ansteuerung
durch den Prozessor 23 punkt-, zeilen-, spalten- oder sonstige
Bereiche auf Transmission geschaltet werden, während die
sonstige Fläche abgeschattet wird. Es kann auch die gesamte
Fläche auf Transmission oder Abschattung geschaltet werden. Die
steuerbare Blende ist hier eine LCD-Blende.
Das transmittierte Licht trifft unter näherungsweise 45 Grad
auf die Meßfläche 9, wobei der genaue Winkel von der
Transmissionsstellung der steuerbaren Blende 17 abhängt. Das
reflektierte Licht wird dementsprechend ebenfalls unter ca.
45 Grad reflektiert und auf den Sensor 16 geleitet, der, wie im
vorigen Ausführungsbeispiel, als CCD-Chip ausgeführt ist. Ein
Filterrad kann ebenfalls vorgesehen sein.
In dem Gehäuse 100 sind noch weitere Strahlungsquellen 130
vorgesehen. Die drei getrennt ansteuerbaren Lichtquellen 132,
133 und 134 haben hier unterschiedlich farbige Leuchtdioden, so
daß durch nacheinander erfolgende Beleuchtung eine Farbe der
Meßfläche erfaßbar ist. Weiterhin weisen die Lichtquellen 132,
133 und 134 jeweils Blenden und Linsen auf, um das
ausgestrahlte Licht den gewünschten Bedingungen anzupassen.
Auch in diesem Beispiel weist das Gehäuse 100 Meßräder 103 und
104 auf, um die relative Verschiebung des Geräts zu bestimmen.
In Fig. 10 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel einer
erfindungsgemäßen Vorrichtung dargestellt, bei der hier eine
Beleuchtungseinrichtung 5 zwei farblich unterschiedliche
Leuchtdioden umfaßt, deren ausgestrahltes Licht durch
Strahlteiler überlagert und auf die zu messende Oberfläche 9
gerichtet wird. Auch hier könnte nur eine Weißlicht-LED
Verwendung finden. Genauso kann auch in den vorhergehenden
Ausführungsbeispielen eine größere Anzahl an unterschiedlich
farbigen LEDs vorgesehen sein.
Ein Kleinspektrometer 48 dient zur Kontrolle des ausgestrahlten
Spektrums und der ausgestrahlten Intensität. Das von der
Beleuchtungseinrichtung ausgestrahlte Licht wird in einem
Winkel 46 zur Senkrechten der Meßfläche auf die Oberfläche
ausgerichtet. Im dargestellten Ausführungsbeispiel wurde 45
Grad als Winkel 46 gewählt. Es kann auch ein anderer Winkel
vorgesehen sein. Ein solches Kleinspektrometer 48 kann auch in
den Ausführungsbeispielen gem. Fig. 1 und 9 eingesetzt werden,
um das ermittelte Spektrum zu kontrollieren.
In dem Halbraum über der Meßfläche ist eine Vielzahl von
Halteeinrichtungen 45 angeordnet, die im gewählten
Ausführungsbeispiel jeweils einen festen Abstand von 5 Grad
aufweisen. Die in Fig. 10 dargestellten Halteeinrichtungen sind
in einer Ebene angeordnet, die durch die
Beleuchtungseinrichtung 5 und die Meßfläche 9 verläuft.
Zusätzlich dazu sind analog zu dem Ausführungsbeispiel gemäß
Fig. 1 weitere Halteeinrichtungen in einer dazu senkrechten
Ebene vorgesehen. Es kann auch der gesamte Halbraum über der
Meßfläche 9 mit Halteeinrichtungen versehen sein.
In wenigstens drei der Halteeinrichtungen 45 in dem Meßgerät 43
sind Detektoren 16a, 16b und 16c angeordnet, wobei hier
wenigstens ein Detektor 16b außerhalb einer Ebene angeordnet
ist, die durch den Detektor 16a, die Meßfläche 9 und die
Beleuchtungseinrichtung 5 verläuft.
Durch die mehrdimensionale Anordnung der Beleuchtungseinrich
tungen und der Sensoreinrichtungen kann ein dreidimensionales
Abbild der Oberfläche erfaßt werden, und nicht nur ein ein-
bzw. zweidimensionales Abbild der Oberfläche.
Typischerweise stehen eine Vielzahl von Halteeinrichtungen zur
Verfügung, während nur einige Detektoreinrichtungen Verwendung
finden. Dann ist es bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung
möglich, einen oder mehrere Detektoren von einer
Halteeinrichtung zu einer anderen zu bewegen, so daß
beispielsweise der Meßwinkel 47a zwischen der Senkrechten der
Meßfläche und dem Detektor 16a einstellbar ist.
Die einzelnen Detektoren 16a, 16b und 16c sind ebenfalls als
CCD-Chips ausgeführt, die über Lichtleiter das von der
Oberfläche aufgenommene Licht zugeführt bekommen.
Es ist auch möglich, daß ein Detektor bzw. Monochromator das
Signal mehrerer Halteeinrichtungen 45 nacheinander aufnimmt.
Das Licht kann von Lichtleitern in den Halteinrichtungen
aufgenommen und zu einem Monochromator oder Kleinspektrometer
geleitet werden. Dabei wird unter Umständen der Ortsbezug nicht
aufrecht erhalten. Über die Signalverteilung und Signalhöhe
kann ein statistisches Maß der Flakeverteilung bestimmt werden.
Allerdings kann ein Lichtleiter in allen Ausführungsbeispielen
auch als ortserhaltender Lichtleiter ausgeführt sein.
Beispielsweise kann der Lichtleiter ein Faserbündel umfassen,
bei dem dann jede Einzelfaser einen bestimmten Ort oder auch
einen bestimmten Flächenbereich der Oberfläche repräsentiert.
Durch Erfassung der Signale der Einzelfasern im Faserbündel ist
eine Ortsauflösung möglich. Durch gezielte Beleuchtung
einzelner erster Faserenden des Faserbündels kann das jeweils
zugehörige zweite Faserende detektiert werden, wenn die
einzelnen Fasern im Bündel nicht "sortiert" vorliegen. Dadurch
kann auch bei derartigen Lichtleitern mit "ungeordneten"
Faserbündeln eine exakte Ortsbestimmung und Ortsauflösung
durchgeführt werden.
Es kann auch an jeder Halteeinrichtung ein Detektor vorgesehen
sein.
Anstelle von Detektoren können auch Lichtleiter das
reflektierte Licht aufnehmen und zu einem oder mehreren
Detektoren weiterleiten. Die einzelnen Kanäle können dann
nacheinander geschaltet und die Signale gemultiplext von einem
Detektor erfaßt werden. Um eine spektrale Charakteristik zu
erfassen, kann ein (Gitter-)Spektrometer oder ein Filterrad im
Strahlengang vorgesehen sein.
In Fig. 11 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel eines
erfindungsgemäßen Meßgeräts in perspektivischer Ansicht
dargestellt. Das Gerät 120 weist einen ersten Teilrahmen bzw.
ersten Meßkreis 121 auf, der sich halbkreisförmig über der
Meßfläche 9 erstreckt. In dem Meßkreis 121 ist eine Vielzahl
von Halteeinrichtungen in Form von Bohrungen 123 vorgesehen, in
die Belichtungs- oder Sensortuben eingeführt werden können.
In die einzelnen Bohrungen 123 kann dabei - je nach Wunsch -
ein Belichtungstubus oder ein Sensortubus eingeführt werden.
Ebenso kann auch ein Kombinationstubus eingesetzt werden. Auch
ein Austausch bzw. Wechsel der Tuben ist für unterschiedliche
Messungen möglich, so daß eine hohe Flexibilität mit der
erfindungsgemäßen Vorrichtung erzielbar ist.
Der Winkelabstand 124 von einer Bohrung 123 zu einer nächsten
Bohrung 123 ist im dargestellten Ausführungsbeispiel fest und
beträgt 5°. Es sei allerdings darauf hingewiesen, daß auch
andere Winkelabstände wie 2,5° oder 3° oder 10° oder
dergleichen möglich sind. Es kann auch sein, daß nicht über den
gesamten Winkelbereich von 180° des Halbkreises Bohrungen bzw.
Aufnahmen für Meß- bzw. Belichtungstuben vorgesehen sind,
sondern nur in einem oder mehreren Winkelbereichen.
Zur Bestimmung gängiger optischer Kenngrößen, wie Farbe, Glanz
und dergleichen, sind bestimmte Beobachtungs- bzw.
Belichtungswinkel vorgesehen, die üblicherweise durch 5 glatt
teilbar sind. Deshalb ist es bevorzugt, daß die Bohrungen
derart winkelmäßig angeordnet sind, daß sich Ausrichtungswinkel
zur Meßfläche 9 ergeben, die durch 5 teilbar sind. Im
Ausführungsbeispiel wird dies dadurch realisiert, daß alle 5°
eine Halteeinrichtung vorgesehen ist.
Der erste Meßkreis (bzw. Meßhalbkreis) 121, der sich senkrecht
über der Meßfläche 9 erstreckt, weist ein erstes Segment und
ein zweites Segment auf, wobei im gewählten Ausführungsbeispiel
sich jedes Segment über einen Winkelbereich von 90° erstreckt.
Im ersten und zweiten Segment 128 und 129 sind die Bohrungen
123 so ausgerichtet, daß die zentrale Achse der Bohrungen 123
jeweils auf die Mitte der Meßfläche 9 ausgerichtet ist.
Im zweiten Segment 129 sind zusätzlich Aufnahmen bzw. Bohrungen
125 vorgesehen, deren Achse sich jeweils parallel zur Meßfläche
bzw. senkrecht zu den Bohrungen 123 erstreckt.
Weiterhin umfaßt das erfindungsgemäße Gerät 120 einen zweiten
Meßkreis 122, der ebenfalls Aufnahmeeinrichtungen bzw.
Bohrungen 123 aufweist, die hier ebenfalls unter einem
Winkelabstand 124 von 5° zueinander angeordnet sind. Wie auch
beim ersten Meßkreis weisen die zentralen Achsen der Bohrungen
123 im zweiten Meßkreis auf die Mitte der Meßfläche 9.
Im Unterschied zum ersten Meßkreis ist der zweite Meßkreis
nicht in einer Ebene senkrecht zur Meßfläche ausgerichtet,
sondern unter einem Winkel 126 zur Senkrechten der Meßfläche 9.
Der Winkel 126 beträgt im Ausführungsbeispiel 45°. Der Winkel
kann allerdings auch 10°, 15°, 20°, 25°, 30°°, 60 oder 75°
betragen. Weiterhin kann der Winkel 126 des zweiten Meßkreises
in festen Schritten oder kontinuierlich einstellbar sein.
Zur Messung kann das Meßgerät 120 in jeder Aufnahme 123 des
ersten Segments 128 des ersten Meßkreises 121 und in jeder
Bohrung 123 des zweiten Meßkreises mit einem Belichtungstubus
und/oder mit einem Sensortubus bestückt sein.
Im zweiten Segment 129 des ersten Meßkreises können in den
Aufnahmen 123 und 125 wahlweise Belichtungstuben, Sensortuben
oder Meßtuben bzw. Kombinationstuben Verwendung finden.
Der in Fig. 12 sichtbare Meßtubus bzw. Kombinationstubus 140
weist einen Sensortubus 146 auf, der einen Sensor 142 und eine
Linse 147 umfaßt. Weiterhin ist ein Belichtungstubus 145
vorgesehen, der eine Lichtquelle 141 aufweist. Die Lichtquelle
141 ist im Ausführungsbeispiel eine sogenannte
Weißlichtleuchtdiode. Es ist auch möglich, andere Lichtquellen
oder zwei oder drei oder mehr unterschiedlich farbige
Leuchtdioden im Belichtungstubus 145 einzusetzen, deren Licht
dann örtlich überlagert wird.
Die optischen Achsen von Belichtungs- und Sensortubus 145 und
146 schneiden sich an einem Strahlteiler 143 des Kombinations
tubus und sind unter 90° zueinander angeordnet.
Das von der Leuchtdiode 141 ausgestrahlte Licht fällt im
Ausführungsbeispiel unter 45° auf den Strahlteiler 143. Ein
Teil des von der Leuchtdiode 141 ausgestrahlten Lichts wird
durch den Strahlteiler 143 transmittiert und trifft auf die
Referenzmeßzelle 144, so daß die Intensität der Leuchtdiode 141
kontrollierbar ist.
Es ist auch möglich, daß über eine Lichtfaser das
Referenzsignal zu einem Spektrometer oder dergleichen geführt
wird und so nicht nur die Intensität, sondern auch die
spektrale Verteilung des von der Leuchtdiode 141 ausgestrahlten
Lichts bestimmt wird.
Das Spektrometer kann dann nicht nur Licht einer Leuchtdiode
141 detektieren, sondern über z. B. einen optischen Multiplexer
das Licht einer Vielzahl vor Fasern, die Licht der Lichtquellen
141 weiterleiten.
Ein weiterer Anteil des von der Lichtquelle 141 ausgestrahlten
Lichts wird von dem Strahlteiler 143 reflektiert. Der unter 45°
angeordnete Strahlteiler 143 reflektiert diesen Anteil entlang
der optischen Achse der Bohrung 123 auf die Meßfläche 9.
Dort wird das auftreffende Licht in den Halbraum über der
Meßfläche 9 reflektiert. Ein Anteil dieses Lichts wird in sich
selbst zurück reflektiert, gelangt in den Kombinationstubus 140
und trifft wiederum auf den Strahlteiler 143.
Von dem nun zurückkommenden Licht wird wiederum ein Anteil
durch den Strahlteiler 143 transmittiert und gelangt entlang
der optischen Achse des Sensortubus 146 durch eine Linse 147
und trifft auf den Sensor 142.
Der Sensor 142 ist als CCD-Sensor ausgeführt und detektiert auf
den einzelnen Flächenelementen 30 die Intensitätsverteilung des
auftreffenden Lichts.
Ein Sensor 142 kann bzw. die Sensoren 142 können je nach
Ausführungsform auch integral oder auch nur integral über der
jeweiligen Sensorfläche das aufgenommene Licht detektieren.
Für eine Farbmessung kann der Sensor 142 als Farb-CCD-Sensor
ausgeführt sein. Ebenso ist es möglich, daß im Sensortubus 146
im Strahlengang eine Filterradeinrichtung 10 vorgesehen ist,
wie sie im Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 9 beschrieben wurde.
Mit einer derartigen Filterradeinrichtung 10 im Meßtubus 146
kann die Farbe des von der Meßfläche reflektierten Lichts
zuverlässig bestimmt werden.
Möglich ist auch, daß im Sensor 142 Strahlteiler und Farbfilter
vorgesehen sind, die das in den Sensor eintretende Licht
separieren und in seine Farbbestandteile aufspalten. Durch
getrennte Sensorelemente kann dann die Farbe der Meßfläche
bestimmt werden.
Der Meß- bzw. Kombinationstubus 142 ist sehr vorteilhaft, da es
durch diesen Kombinationstubus erlaubt wird, unter dem gleichen
Winkel die Oberfläche auszuleuchten und gleichzeitig das
Meßergebnis zu detektieren.
Das im Sensortubus 146 des Kombinationstubus 140 einfallende
Licht kann auch durch Lichtleiter zu einem getrennten Sensor
geführt werden, dem beispielsweise über eine Vielzahl von
Lichtleitern die Signale von weiteren Sensortuben nacheinander
zugeführt werden.
Es ist auch möglich, daß die Aufnahmen 123 im ersten Segment
wie die Aufnahmen 123 im zweiten Segment 129 ausgestaltet sind
und daß auch im ersten Segment 128 des ersten Meßkreises 121
Aufnahmen bzw. Bohrungen 125 vorgesehen sind, so daß
Kombinationstuben 140 im ersten und zweiten Segment eingesetzt
werden können.
Werden unter gleichen Winkeln zur Senkrechten der Meßfläche
jeweils Kombinationstuben eingesetzt, so können beide
Beleuchtungstuben 141 der beiden Kombinationstuben 140
gleichzeitig Licht auf die Oberfläche strahlen, und es kann
jeweils gleichzeitig das direkt reflektierte Licht im Meßtubus
142 des anderen Kombinationstubus 140 detektiert werden.
Ein zweiter Meßkreis 122 weist Bohrungen 123 auf, die ebenfalls
zur Aufnahme von Meßtuben oder Beleuchtungstuben ausgelegt
sind. Im dargestellten Ausführungsbeispiel sind Meßtuben 151 in
den Aufnahmen 123 des zweiten Meßkreises 122 vorgesehen, die
hier vom Aufbau den Meßtuben 146 des Kombinationstubus
entsprechen. Sie weisen ebenfalls einen Sensor 142 und eine
Linse 152 auf.
Durch den Winkel 126 bedingt, mit dem der zweite Meßkreis 122
zur Senkrechten der Meßfläche 9 ausgerichtet ist, kann die
Meßfläche 9 eines zu messenden Körpers dreidimensional
vermessen werden.
Bei der Auswertung der Meßergebnisse wird so vorgegangen, wie
dies mit Bezug auf die Fig. 1 bis 10 beschrieben wurde.
Die Anmelderin möchte in diesem Zusammenhang darauf hinweisen,
daß sie sich vorbehält, für die dreidimensionale Anordnung von
Meß- und Beleuchtungseinrichtungen bzw. Kombinationstuben auch
ohne statistische Auswertung getrennt Schutz zu beantragen.
In dieser Ausgestaltung könnten in Anspruch 1 die Merkmale
entfallen, daß in einer Speichereinrichtung wenigstens ein
erster vorbestimmter Schwellwert vorgesehen ist, daß ein
Meßwert einer Sensoreinrichtung einem ersten Flächentyp
zugeordnet wird, wenn er diesen ersten Schwellwert übersteigt;
und daß wenigstens eine statistische Kenngröße bestimmbar ist,
welche diesen ersten Flächentyp charakterisiert.
Dafür könnte ein solcher unabhängiger Anspruch die Merkmale
umfassen, daß wenigstens eine zweite Detektoreinrichtung
und/oder wenigstens eine zweite Beleuchtungseinrichtung
außerhalb einer ersten Meßebene angeordnet ist, welche durch
eine erste Beleuchtungseinrichtung, eine erste
Detektoreinrichtung und die Meßfläche verläuft. Dadurch wird
eine mehrdimensionale Messung möglich.
Die Anmelderin behält sich weiterhin vor, einen weiteren
unabhängigen Anspruch auf eine Ausgestaltung auszurichten, bei
der eine erfindungsgemäße Vorrichtung zur Bestimmung der
Eigenschaften von reflektierenden Körpern folgendes umfaßt:
Wenigstens eine Meßeinrichtung, welche wenigstens eine Beleuchtungseinrichtung und wenigstens eine Detektoreinrichtung umfaßt;
wobei mit dieser wenigstens einen Beleuchtungseinrichtung Licht auf eine Meßfläche ausstrahlbar ist; und
wobei mit dieser wenigstens einen Detektoreinrichtung wenigstens ein Teil des von dieser Meßfläche reflektierten Lichts erfaßbar ist;
wenigstens eine dieser wenigstens einen Detektoreinrichtung umfaßt eine Vielzahl von lichtempfindlichen Sensoreinrichtungen, wobei von im wesentlichen jeder dieser Sensoreinrichtungen jeweils ein Meßwert ausgebbar ist, welcher für das von der jeweiligen Sensoreinrichtung aufgenommene Licht charakteristisch ist;
wenigstens eine Speichereinrichtung;
wenigstens einer Steuereinrichtung zur Steuerung des Meßablaufs, welche wenigstens eine Recheneinrichtung umfaßt; wobei mit dieser Steuereinrichtung ein Meßvorgang steuerbar ist;
wobei wenigstens eine dieser wenigstens einen Meßeinrichtung derart gestaltet ist, daß diese Beleuchtungseinrichtung dieser Meßeinrichtung Strahlung unter einem vorbestimmten Winkel auf diese Meßfläche ausrichtet und daß diese Detektoreinrichtung dieser Meßeinrichtung unter im wesentlichen demselben vorbestimmten Winkel reflektierte Strahlung dieser Meßfläche aufnimmt.
Wenigstens eine Meßeinrichtung, welche wenigstens eine Beleuchtungseinrichtung und wenigstens eine Detektoreinrichtung umfaßt;
wobei mit dieser wenigstens einen Beleuchtungseinrichtung Licht auf eine Meßfläche ausstrahlbar ist; und
wobei mit dieser wenigstens einen Detektoreinrichtung wenigstens ein Teil des von dieser Meßfläche reflektierten Lichts erfaßbar ist;
wenigstens eine dieser wenigstens einen Detektoreinrichtung umfaßt eine Vielzahl von lichtempfindlichen Sensoreinrichtungen, wobei von im wesentlichen jeder dieser Sensoreinrichtungen jeweils ein Meßwert ausgebbar ist, welcher für das von der jeweiligen Sensoreinrichtung aufgenommene Licht charakteristisch ist;
wenigstens eine Speichereinrichtung;
wenigstens einer Steuereinrichtung zur Steuerung des Meßablaufs, welche wenigstens eine Recheneinrichtung umfaßt; wobei mit dieser Steuereinrichtung ein Meßvorgang steuerbar ist;
wobei wenigstens eine dieser wenigstens einen Meßeinrichtung derart gestaltet ist, daß diese Beleuchtungseinrichtung dieser Meßeinrichtung Strahlung unter einem vorbestimmten Winkel auf diese Meßfläche ausrichtet und daß diese Detektoreinrichtung dieser Meßeinrichtung unter im wesentlichen demselben vorbestimmten Winkel reflektierte Strahlung dieser Meßfläche aufnimmt.
Gegenüber dem Anspruch 1 wurden hier die Merkmale weggelassen,
daß ein erster Schwellwert vorgesehen ist und daß ein Meßwert
einer Sensoreinrichtung einem ersten Flächentyp zugeordnet
wird, wenn er diesen ersten Schwellwert übersteigt; und eine
statistische Kenngröße bestimmbar ist, welche den ersten
Flächentyp charakterisiert. Dafür wurden die auf die
Meßeinrichtung gerichteten Merkmale aufgenommen, wonach
wenigstens eine Meßeinrichtung wenigstens eine
Beleuchtungseinrichtung und wenigstens eine Detektoreinrichtung
umfaßt.
Dann ist es allerdings auch möglich, daß mit den in den
Ausführungsbeispielen beschriebenen Meßgeräten nur integrale
Kenngrößen der zu messenden Oberflächen bestimmt werden. Eine
solche Bestimmung ist für viele Oberflächen ausreichend.
Claims (85)
1. Vorrichtung zur Bestimmung der Eigenschaften von
reflektierenden Körpern und insbesondere von heterogen
reflektierenden Körpern mit:
wenigstens einer Beleuchtungseinrichtung, mit welcher Licht auf eine Meßfläche ausstrahlbar ist;
wenigstens einer Detektoreinrichtung, mit welcher das von dieser Meßfläche reflektierte Licht erfaßbar ist;
wobei wenigstens eine dieser wenigstens einen Detektoreinrichtung eine Vielzahl von lichtempfindlichen Sensoreinrichtungen umfaßt, und von im wesentlichen jeder dieser Sensoreinrichtungen jeweils ein Meßwert ausgebbar ist, welcher für das von der jeweiligen Sensoreinrichtung aufgenommene Licht charakteristisch ist;
wenigstens eine Speichereinrichtung, in welcher wenigstens ein erster vorbestimmter Schwellwert vorgesehen ist;
wenigstens einer Steuereinrichtung zur Steuerung des Meßablaufs, welche wenigstens eine Recheneinrichtung umfaßt;
wobei mit dieser Steuereinrichtung ein Meßvorgang derart steuerbar ist, daß ein Meßwert einer Sensoreinrichtung einem ersten Flächentyp zugeordnet wird, wenn er diesen ersten Schwellwert übersteigt; und
wobei diese Steuereinrichtung derart gestaltet ist, daß wenigstens eine statistische Kenngröße bestimmbar ist, welche diesen ersten Flächentyp charakterisiert.
wenigstens einer Beleuchtungseinrichtung, mit welcher Licht auf eine Meßfläche ausstrahlbar ist;
wenigstens einer Detektoreinrichtung, mit welcher das von dieser Meßfläche reflektierte Licht erfaßbar ist;
wobei wenigstens eine dieser wenigstens einen Detektoreinrichtung eine Vielzahl von lichtempfindlichen Sensoreinrichtungen umfaßt, und von im wesentlichen jeder dieser Sensoreinrichtungen jeweils ein Meßwert ausgebbar ist, welcher für das von der jeweiligen Sensoreinrichtung aufgenommene Licht charakteristisch ist;
wenigstens eine Speichereinrichtung, in welcher wenigstens ein erster vorbestimmter Schwellwert vorgesehen ist;
wenigstens einer Steuereinrichtung zur Steuerung des Meßablaufs, welche wenigstens eine Recheneinrichtung umfaßt;
wobei mit dieser Steuereinrichtung ein Meßvorgang derart steuerbar ist, daß ein Meßwert einer Sensoreinrichtung einem ersten Flächentyp zugeordnet wird, wenn er diesen ersten Schwellwert übersteigt; und
wobei diese Steuereinrichtung derart gestaltet ist, daß wenigstens eine statistische Kenngröße bestimmbar ist, welche diesen ersten Flächentyp charakterisiert.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß ein zweiter vorbestimmter Schwellwert vorgesehen ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Meßwert einem zweiten Flächentyp zugeordnet wird,
wenn er diesen zweiten Schwellwert unterschreitet.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 und/oder Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet, daß dieser zweite vorbestimmte
Schwellwert kleiner als der erste vorbestimmte Schwellwert
ist.
5. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß die Sensoreinrichtungen wenigstens einer Detektor
einrichtung in Reihen und/oder Spalten angeordnet sind.
6. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens einem Teil der Sensoreinrichtungen jeweils
ein unterschiedlicher Meßort auf dieser Meßfläche
zugeordnet ist.
7. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens ein dritter Schwellwert und ein dritter
Flächentyp vorgesehen sind und eine Zuordnung dieser
Meßwerte zu diesen Flächentypen vornehmbar ist.
8. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine statistische Kenngröße für den
statistischen Anteil eines Flächentyps an der Meßfläche
bestimmbar ist.
9. Vorrichtung nach mindest es einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine statistische Kenngröße für eine
örtliche Verteilung wenigstens eines Flächentyps über der
Meßfläche ableitbar ist.
10. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Vielzahl von Flächenbereichen ableitbar ist, wobei
Meßwerte benachbarter Sensoreinrichtungen mit dem gleichen
Flächentyp dem gleichen Flächenbereich zugeordnet werden.
11. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß aus den Flächenbereichen wenigstens eines Flächentyps
wenigstens eine statistische Kenngröße für die
Größenverteilung der Flächenbereiche dieses Flächentyps
ableitbar ist.
12. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß aus den Flächenbereichen wenigstens eines Flächentyps
wenigstens eine statistische Kenngröße für die örtliche
Verteilung der Flächenbereiche wenigstens dieses
Flächentyps auf dieser Meßfläche ableitbar ist
13. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Abbildungseigenschaft wenigstens einer Detektor
einrichtung veränderbar ist, so daß ein Ausschnitt dieser
Meßfläche in einem veränderten Maßstab darstellbar ist.
14. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine optische Kenngröße bestimmbar ist,
welche wenigstens eine optische Eigenschaft dieser
Meßfläche charakterisiert, wobei diese optische Kenngröße
aus einer Gruppe von Kenngrößen entnommen ist, welche
Glanz, Farbe, Orange Peell, Haze, Glanzschleier,
Abbildungsschärfe (DOI) und dergleichen umfaßt.
15. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens zwei oder mehr unterschiedliche optische
Kenngrößen dieser Meßfläche bestimmbar sind.
16. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß für wenigstens einer Flächenbereich wenigstens eines
Flächentyps wenigstens eine optische Kenngröße bestimmbar
ist.
17. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß für wenigstens einen Flächentyp wenigstens eine
optische Kenngröße bestimmbar ist.
18. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß die Summe der Anzahl von Detektoreinrichtungen und
Anzahl der Beleuchtungseinrichtungen drei, vier, fünf oder
mehr beträgt.
19. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens drei Detektoreinrichtungen vorgesehen sind.
20. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens drei Beleuchtungseinrichtungen vorgesehen
sind.
21. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine zweite Detektoreinrichtung und/oder
wenigstens eine zweite Beleuchtungseinrichtung außerhalb
einer ersten Meßebene angeordnet ist, welche durch eine
erste Beleuchtungseinrichtung, eine erste
Detektoreinrichtung und die Meßfläche verläuft.
22. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese zweite Detektoreinrichtung und/oder zweite
Beleuchtungseinrichtung in einem vorbestimmten Azimutwinkel
zu dieser ersten Meßebene angeordnet ist.
23. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß jede Beleuchtungseinrichtung und jede Detektor
einrichtung im wesentlichen unter jeweils einem vorbe
stimmten Höhenwinkel zu dieser Meßfläche angeordnet ist.
24. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Meßeinrichtung vorgesehen ist, welche
wenigstens eine Beleuchtungseinrichtung und wenigstens eine
Detektoreinrichtung umfaßt.
25. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese Beleuchtungseinrichtung dieser Meßeinrichtung
Strahlung unter einem vorbestimmten Meßeinrichtungswinkel
auf diese Meßfläche ausrichtet und daß diese
Detektoreinrichtung unter im wesentlichen demselben
vorbestimmten Meßeinrichtungswinkel reflektierte Strahlung
dieser Meßfläche aufnimmt.
26. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese Meßeinrichtung wenigstens einen Strahlteiler
umfaßt.
27. Vorrichtung nach mindest es einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß dieser Strahlteiler dieser Meßeinrichtung von dieser
Beleuchtungseinrichtung emittierte Strahlung in Richtung
dieser Meßfläche umlenkt.
28. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß dieser Strahlteiler dieser Meßeinrichtung aufgenommene
Strahlung von dieser Meßfläche zu dieser
Detektoreinrichtung durchläßt.
29. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Detektoreinrichtung vorgesehen ist,
welche das emittierte Licht wenigstens einer
Beleuchtungseinrichtung kontrolliert.
30. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens ein Teil dieser Beleuchtungseinrichtungen
bei einem Meßvorgang im wesentlichen nacheinander ange
steuert wird, derart, daß deren ausgestrahltes Licht von
den Detektoreinrichtungen jeweils getrennt erfaßbar ist.
31. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens ein Teil dieser Beleuchtungseinrichtungen
bei einem Meßvorgang im wesentlichen zeitgleich angesteuert
wird, derart, daß deren ausgestrahltes Licht von den
Detektoreinrichtungen gleichzeitig erfaßbar ist.
32. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Aufsetzwinkel dieser Vorrichtung auf diese
Meßfläche veränderbar ist.
33. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekenzeichnet,
daß dieser Aufsetzwinkel kontinuierlich und/oder in
vorbestimmten Schritten veränderbar ist.
34. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß dieser Aufsetzwinkel erfaßbar ist.
35. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß für wenigstens zwei oder mehr unterschiedliche
Meßgeometrien jeweils wenigstens eine Kenngröße bestimmbar
sind, wobei ein Meßgeometrie charakteristisch für den
jeweiligen Beleuchtungswinkel und den jeweiligen Meßwinkel
ist.
36. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß für wenigstens zwei Meßgeometrien jeweils wenigstens
eine statistische Kenngröße ableitbar ist.
37. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß über eine Vielzahl von Meßgeometrien eine statistische
Verteilung wenigstens einer statistischen Kenngröße
und/oder optischen Kenngröße wenigstens eines Flächentyps
ableitbar ist.
38. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens zwei oder mehr Beleuchtungseinrichtungen
vorgesehen sind, welche im wesentlichen in einer Ebene
senkrecht zur Meßfläche angeordnet sind.
39. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Beleuchtungseinrichtung vorgesehen ist,
welche im wesentlichen außerhalb einer Ebene senkrecht zur
Meßfläche angeordnet ist, wobei diese Ebene senkrecht zur
Meßfläche durch die Meßfläche und eine Detektoreinrichtung
verläuft.
40. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens zwei oder mehr Detektoreinrichtungen
vorgesehen sind, welche im wesentlichen in einer Ebene
senkrecht zur Meßfläche angeordnet sind.
41. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Detektoreinrichtung vorgesehen ist,
welche im wesentlichen außerhalb einer Ebene senkrecht zur
Meßfläche angeordnet ist, wobei diese Ebene senkrecht zur
Meßfläche durch die Meßfläche und eine Beleuchtungsein
richtung verläuft.
42. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens die Sensoreinrichtungen einer
Detektoreinrichtung auf einem gemeinsamen Substrat
angeordnet sind, wobei die Detektoreinrichtung vorzugsweise
als CCD-Chip oder dergleichen ausgeführt ist.
43. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Detektoreinrichtung als Farb-CCD-Chip
oder dergleichen ausgeführt ist.
44. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Blendeneinrichtung im Strahlengang
zwischen wenigstens einer Beleuchtungseinrichtung und
wenigstens einer Detektoreinrichtung angeordnet ist.
45. Vorrichtung nach mindest es einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Blendeneinrichtung zwischen einer
Beleuchtungseinrichtung und der Meßfläche angeordnet ist.
46. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine dieser wenigstens einen
Blendeneinrichtung zwischen der Meßfläche und wenigstens
einer Detektoreinrichtung angeordnet ist.
47. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine dieser wenigstens einen
Blendeneinrichtung eine steuerbare Blendenöffnung aufweist.
48. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese steuerbare Blendeneinrichtung einer Gruppe von
Blendeneinrichtungen entnommen ist, welche wenigstens eine
steuerbare Blendenöffnung mit punkt-, spalten-,
zeilenförmigen und/oder abgerundetem Querschnitt und
dergleichem mehr aufweisen, umfaßt.
49. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese Blendeneinrichtung als LCD-Blendeneinrichtung
oder dergleichen ausgeführt ist.
50. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Beleuchtungseinrichtung wenigstens eine
Strahlungsquelle umfaßt, welche einer Gruppe von
Strahlungsquellen entnommen ist, welche Leuchtdioden (LED),
Laser und thermische Strahler, wie Halogen-, Krypton- und
Glüh-Strahlungsquellen, und dergleichen umfaßt.
51. Vorrichtung nach mindest es einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß von wenigstens einer Beleuchtungseinrichtung die
Frequenz des ausgestrahlten Lichts steuerbar ist, wobei
vorzugsweise eine Farbe ausgestrahlten Lichts veränderbar
ist.
52. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Beleuchtungseinrichtung einen
durchstimmbaren Laser umfaßt.
53. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß im Strahlengang zwischen wenigstens einer Beleuchtungs
einrichtung und wenigstens einer Detektoreinrichtung
wenigstens eine Filtereinrichtung angeordnet ist.
54. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß eine spektrale Charakteristik dieser Filtereinrichtung
veränderbar ist.
55. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Filtereinrichtung eine
Filterradeinrichtung umfaßt, welche über den Umfang
unterschiedliche spektrale Charakteristiken aufweist und
vorzugsweise drehbar ist.
56. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Detektoreinrichtung spektral
unterschiedlich empfindliche Sensoreinrichtungen umfaßt.
57. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens in einer Detektoreinrichtung wenigstens drei
spektral unterschiedlich empfindliche Sensoreinrichtungen
vorgesehen sind.
58. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese wenigstens drei spektral unterschiedlich
empfindlichen Sensoreinrichtungen Licht im wesentlichen
gleicher Meßorte dieser Meßfläche erfassen.
59. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese Vorrichtung relativ zu dieser Meßfläche
verschiebbar ist und daß eine Wegstreckenmeßeinrichtung
vorgesehen ist, welche diese relative Verschiebung
quantitativ erfaßt.
60. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese Wegstreckenmeßeinrichtung wenigstens ein Meßrad
umfaßt, welches während der Messung auf der zu messenden
Oberfläche aufgesetzt ist und sich während dieser relativen
Verschiebung dreht.
61. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Gestelleinrichtung vorgesehen ist, an welcher
diese Wegstreckenmeßeinrichtung angeordnet ist.
62. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese Wegstreckenmeßeinrichtung wenigstens einen
Drehwinkelgeber umfaßt, der ein elektrisches Signal
ausgibt, welches für diese relative Verschiebung
repräsentativ ist.
63. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese Meßfläche auf diesem zu messenden Körper durch
Veränderung des Systemwinkels wählbar ist.
64. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Trägereinrichtung vorgesehen ist, an welcher diese
Beleuchtungseinrichtungen und Detektoreinrichtungen
angeordnet sind, und daß eine Robotorarmeinrichtung
vorgesehen ist, welche diese Trägereinrichtung automatisch
zu und vorzugsweise entlang einer Meßfläche führt.
65. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß bei dieser Relativverschiebung ortsabhängig Messungen
durchführbar sind und daß wenigstens eine optische und/oder
statistische Kenngröße ortsabhängig speicherbar ist.
66. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Detektoreinrichtung und wenigstens eine
Beleuchtungseinrichtung derart angeordnet sind, daß
wenigstens eine optische Transmissionseigenschaft der
Meßfläche bestimmbar ist.
67. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Spektralfiltereinrichtung an wenigstens einer
Beleuchtungseinrichtung vorgesehen ist, welches das
ausgestrahlte Spektrum einer vorbestimmten
Spektralverteilung annähert.
68. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Detektoreinrichtung wenigstens eine
Spektrometereinrichtung umfaßt, so daß eine spektrale
Charakteristik des aufgenommenen Lichts erfaßbar ist.
69. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Halteeinrichtung vorgesehen ist, welche
zur Aufnahme einer optischen Einrichtung dient, wobei diese
optische Einrichtung einer Gruppe von optischen
Einrichtungen entnommen ist, welche Detektoreinrichtungen,
Beleuchtungseinrichtungen, Meßeinrichtungen und dergleichen
umfaßt.
70. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß in wenigstens einer Meßebene eine Vielzahl von
Halteeinrichtungen vorgesehen ist, welche jeweils den
gleichen Winkelabstand zueinander aufweisen.
71. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß dieser Winkelabstand dieser Halteeinrichtungen einer
Gruppe von Winkeln entnommen ist, welche die Winkelabstände
1 Grad, 2 Grad, 2,5 Grad, 3 Grad, 4 Grad, 5 Grad, 10 Grad,
15 Grad und dergleichen umfaßt.
72. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß in wenigstens einer zweiten Meßebene eine Vielzahl von
Halteeinrichtungen vorgesehen ist.
73. Verfahren zur Bestimmung der Eigenschaften von
reflektierenden Körpern und insbesondere von heterogen
reflektierenden Körpern
mit einer Vorrichtung, welche umfaßt:
wenigstens eine Beleuchtungseinrichtung, welche Licht auf eine Meßfläche ausstrahlt,
wenigstens eine Detektoreinrichtung, welche das von dieser Meßfläche reflektierte Licht erfaßt; wobei wenigstens eine dieser wenigstens einen Detektoreinrichtung eine Vielzahl von lichtempfindlichen Sensoreinrichtungen umfaßt, und im wesentlichen jede dieser Sensoreinrichtungen jeweils ein Meßwert ausgibt, welcher für das von der jeweiligen Sensoreinrichtung aufgenommene Licht charakteristisch ist;
wenigstens eine Speichereinrichtung, in welcher wenigstens ein erster vorbestimmter Schwellwert vorgesehen ist;
wenigstens einer Steuereinrichtung, welche wenigstens eine Recheneinrichtung umfaßt, und den Meßablauf steuert;
wobei das Verfahren wenigstens die folgende Schritte umfaßt:
wenigstens eine Beleuchtungseinrichtung, welche Licht auf eine Meßfläche ausstrahlt,
wenigstens eine Detektoreinrichtung, welche das von dieser Meßfläche reflektierte Licht erfaßt; wobei wenigstens eine dieser wenigstens einen Detektoreinrichtung eine Vielzahl von lichtempfindlichen Sensoreinrichtungen umfaßt, und im wesentlichen jede dieser Sensoreinrichtungen jeweils ein Meßwert ausgibt, welcher für das von der jeweiligen Sensoreinrichtung aufgenommene Licht charakteristisch ist;
wenigstens eine Speichereinrichtung, in welcher wenigstens ein erster vorbestimmter Schwellwert vorgesehen ist;
wenigstens einer Steuereinrichtung, welche wenigstens eine Recheneinrichtung umfaßt, und den Meßablauf steuert;
wobei das Verfahren wenigstens die folgende Schritte umfaßt:
- a) ansteuern von wenigstens einer Beleuchtungseinrichtung, um die Meßfläche zu beleuchten;
- b) ansteuern der Sensoreinrichtungen wenigstens einer Detektoreinrichtung; um die Meßsignale der Sensor einrichtungen wenigstens einer Detektoreinrichtung zu erfassen und in Meßwerte umzuwandeln;
- c) speichern wenigstens eines Teils der aufgenommenen Meßwerte;
- d) vergleichen der Größe jedes Meßwertes mit einem in der Speichereinrichtung abgelegten ersten Schwellwert, um den jeweiligen Meßwert einem ersten Oberflächentyp zuzuordnen, wenn dieser größer als der erste Schwellwert ist; und
- e) Ausgabe einer statistischen Kenngröße, welche diesen ersten Flächentyp charakterisiert.
74. Verfahren nach Anspruch 73, dadurch gekennzeichnet,
daß die Anzahl der Meßwerte des ersten Oberflächentyps
bestimmt wird und in Verhältnis zur Anzahl der Meßwerte
insgesamt gesetzt wird.
75. Verfahren nach Anspruch 73 und/oder Anspruch 74,
dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens ein zweiter
Schwellwert vorgesehen ist und Meßwerte kleiner als der
zweite Schwellwert einem zweiten Oberflächentyp zugeordnet
werden.
76. Verfahren mindestens einem der Ansprüche 73 bis 75, mit
einer Vorrichtung, welche mit wenigstens einer
Detektoreinrichtung ein Abbild der Meßfläche erfaßt,
dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens eine statistische
Kenngröße der statistischen Ortsverteilung des ersten
Oberflächentyps auf der Meßfläche abgeleitet wird.
77. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 73 bis 76,
dadurch gekennzeichnet, daß Flächenbereiche für wenigstens
einen Oberflächentyp abgeleitet werden, wobei die
Ausdehnung eines Flächenbereichs durch die Meßwerte
benachbarter Sensoreinrichtungen des gleichen
Oberflächentyps bestimmt wird.
78. Verfahren nach Anspruch 77, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Maß für die Größe der einzelnen Flächenbereiche
bestimmt wird und wenigstens eine statistische Kenngröße
abgeleitet wird, welcher charakteristisch für eine
statistische Größenverteilung der Flächenbereiche
wenigstens eines Oberflächentyps ist.
79. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 77 bis 78,
dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens ein Maß für die Form
der einzelnen Flächenbereiche bestimmt wird und
vorzugsweise wenigstens eine statistische Formkenngröße
abgeleitet wird, welcher charakteristisch für eine
statistische Formverteilung der Flächenbereiche wenigstens
eines Oberflächentyps ist.
80. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 73 bis 79,
dadurch gekennzeichnet, daß die einzelnen Verfahrenschritte
für wenigstens zwei Meßgeometrien durchgeführt werden,
wobei eine Meßgeometrie durch einen Beleuchtungswinkel zu
der Meßfläche und einen Detektorwinkel zu der Meßfläche
bestimmt wird.
81. Verfahren nach Anspruch 80, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Verteilung wenigstens einer statisti
schen Kenngröße über der Meßgeometrie abgeleitet wird.
82. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 73 bis 81,
dadurch gekennzeichnet, daß Meßwerte des ersten
Oberflächentyps einem ersten Typ von Materialeinschluß des
zu messenden Körpers zugeordnet werden, und daß eine
statistische Kenngröße der Ortsverteilung des ersten Typs
von Materialeinschluß über der Meßfläche bestimmt wird.
83. Verfahren nach Anspruch 82, dadurch gekennzeichnet,
daß durch einen Vergleich der Flächenbereiche bei
wenigstens drei unterschiedlichen Meßgeometrien ein
charakteristisches Maß für eine dreidimensionale Form der
ersten Materialeinschlüsse abgeleitet wird.
84. Verfahren nach Anspruch 82, dadurch gekennzeichnet,
daß durch einen Vergleich der Flächenbereiche bei
wenigstens drei unterschiedlichen Meßgeometrien ein
charakteristisches Maß für eine dreidimensionale Lage der
ersten Materialeinschlüsse abgeleitet wird.
85. Verfahren nach Anspruch 82, dadurch gekennzeichnet,
daß für wenigstens einen Flächentyp wenigstens eine
charakteristische optische Kenngröße bestimmt wird, indem
bei der Bestimmung der charakteristischen optischen
Kenngröße nur Meßwerte des zugehörigen Flächentyps
berücksichtigt werden.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10122917A DE10122917A1 (de) | 2001-05-11 | 2001-05-11 | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Eigenschaften von reflektierenden Körpern |
US10/140,385 US6975404B2 (en) | 2001-05-11 | 2002-05-06 | Device and process for the determination of the properties of reflective bodies |
JP2002137514A JP4377107B2 (ja) | 2001-05-11 | 2002-05-13 | 反射体の特性を決定する装置及びその方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10122917A DE10122917A1 (de) | 2001-05-11 | 2001-05-11 | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Eigenschaften von reflektierenden Körpern |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10122917A1 true DE10122917A1 (de) | 2002-11-14 |
Family
ID=7684411
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10122917A Ceased DE10122917A1 (de) | 2001-05-11 | 2001-05-11 | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Eigenschaften von reflektierenden Körpern |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6975404B2 (de) |
JP (1) | JP4377107B2 (de) |
DE (1) | DE10122917A1 (de) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004046461A1 (de) * | 2004-09-24 | 2006-03-30 | Audi Ag | Verfahren zur Ermittlung der Lackqualität einer lackierten Oberfläche, insbesondere eines lackierten Fahrzeugkarosserieteils, und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
DE102007014735A1 (de) * | 2007-03-24 | 2008-09-25 | Massen Machine Vision Systems Gmbh | Überwachung des Farbeindrucks von mehrfarbig gemusterten Flächen |
DE102008022013A1 (de) * | 2008-05-02 | 2009-11-12 | Basf Coatings Ag | Verfahren zur Messung der Wolkigkeit von Lackierungen auf Prüftafeln |
EP2551663A1 (de) * | 2011-07-27 | 2013-01-30 | BYK-Gardner GmbH | Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung von Beschichtungen mit Effektpigmenten |
DE10324104B4 (de) * | 2003-05-27 | 2014-01-16 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften |
EP2728342A1 (de) | 2012-11-06 | 2014-05-07 | X-Rite Europe GmbH | Handmessgerät zur Erfassung des visuellen Eindrucks eines Messobjekts |
DE102006032404B4 (de) | 2006-07-13 | 2019-05-09 | Byk-Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften |
DE102014105746C5 (de) * | 2013-12-05 | 2020-12-24 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung glänzender Objekte |
DE102006032405B4 (de) | 2006-07-13 | 2021-08-12 | Byk-Gardner Gmbh | Bestimmung von Oberflächeneigenschaften mit Neigungskorrektur |
US20220120680A1 (en) * | 2019-02-22 | 2022-04-21 | Technische Universität Wien | Method and apparatus for determining optical properties of a sample material |
DE102007014474B4 (de) | 2007-03-22 | 2022-12-29 | Byk-Gardner Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur quantitativen Bestimmung von Oberflächeneigenschaften |
DE102007014475B4 (de) | 2007-03-22 | 2023-04-13 | Byk-Gardner Gmbh | Bestimmung von Oberflächeneigenschaften |
Families Citing this family (48)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19930688A1 (de) * | 1999-07-02 | 2001-01-04 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Qualität von Oberflächen |
DE10252523A1 (de) * | 2001-11-16 | 2003-07-03 | Ccs Inc | Beleuchtungsvorrichtung zur optischen Prüfung |
US8171567B1 (en) | 2002-09-04 | 2012-05-01 | Tracer Detection Technology Corp. | Authentication method and system |
US20040135995A1 (en) * | 2002-12-02 | 2004-07-15 | Hendrix James Lee | Spectroscopic ellipsometer wafer mapper for DUV to IR |
TWI274843B (en) * | 2002-12-25 | 2007-03-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | System and method for obtaining measurement data on objects via processing images thereof |
US20040218182A1 (en) * | 2003-04-30 | 2004-11-04 | Alman David H. | Method for identifying effect pigments in a paint film for field color matching |
US7068363B2 (en) * | 2003-06-06 | 2006-06-27 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Systems for inspection of patterned or unpatterned wafers and other specimen |
US6952265B2 (en) * | 2003-06-12 | 2005-10-04 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Method of characterization of surface coating containing metallic flakes and device used therein |
EP1671107A1 (de) * | 2003-10-07 | 2006-06-21 | E.I. Dupont De Nemours And Company | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der effekt-partikel-orientierung in einem film oder einer beschichtung |
WO2005089039A2 (en) * | 2004-02-06 | 2005-09-29 | Daniel Barolet | Method and device for the treatment of mammalian tissues |
US7671988B2 (en) * | 2004-02-18 | 2010-03-02 | American Ecotech Llc | Detection of particles |
ATE433164T1 (de) * | 2004-03-12 | 2009-06-15 | Ingenia Technology Ltd | Verfahren und vorrichtungen zur erzeugung authentifizierbarer gegenstände und ihrer nachfolgenden überprüfung |
JP4607947B2 (ja) | 2004-03-12 | 2011-01-05 | インジェニア・ホールディングス・(ユー・ケイ)・リミテッド | 真正性検証の方法、製品および機器 |
US20060008919A1 (en) * | 2004-07-09 | 2006-01-12 | Boay Yoke P | Method and apparatus for detecting gas/radiation that employs color change detection mechanism |
DE102004034167A1 (de) * | 2004-07-15 | 2006-02-09 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung zur goniometrischen Untersuchung optischer Oberflächeneigenschaften |
DE102004034160A1 (de) * | 2004-07-15 | 2006-02-09 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung zur Untersuchung optischer Oberflächeneigenschaften |
DE202004011811U1 (de) * | 2004-07-28 | 2005-12-08 | Byk-Gardner Gmbh | Vorrichtung zur goniometrischen Untersuchung optischer Oberflächeneigenschaften |
US7342657B2 (en) * | 2004-11-03 | 2008-03-11 | Gretagmacbeth, Llc | Dual illumination angle goniometric spectrophotometer |
DE102004058408B4 (de) * | 2004-12-03 | 2013-10-31 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften |
CA2594701A1 (en) * | 2005-01-13 | 2006-07-20 | David H. Alman | A method to specify acceptable surface appearance of a coated article |
US7375812B2 (en) * | 2005-02-22 | 2008-05-20 | Axsun Technologies, Inc. | Method and system for reducing parasitic spectral noise in tunable semiconductor source spectroscopy system |
US7456955B2 (en) * | 2005-03-14 | 2008-11-25 | Datacolor Holding Ag | Spectrophotometer with light emitting diode illuminator |
EP1880196B1 (de) * | 2005-04-25 | 2019-10-16 | X-Rite, Inc. | Messung einer aussehenseigenschaft einer oberfläche unter verwendung einer räumlich unterabgetasteten bidirektionalen reflexionsverteilungsfunktion |
US7944561B2 (en) * | 2005-04-25 | 2011-05-17 | X-Rite, Inc. | Measuring an appearance property of a surface using a bidirectional reflectance distribution function |
US8345252B2 (en) * | 2005-04-25 | 2013-01-01 | X-Rite, Inc. | Method and system for enhanced formulation and visualization rendering |
EP1760453A1 (de) * | 2005-08-31 | 2007-03-07 | GretagMacbeth AG | Fotoelektrisches Handmessgerät und optische Messeinheit dafür |
US8017927B2 (en) * | 2005-12-16 | 2011-09-13 | Honeywell International Inc. | Apparatus, system, and method for print quality measurements using multiple adjustable sensors |
EP2041642A2 (de) * | 2006-06-28 | 2009-04-01 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Verfahren und vorrichtung zur erfassung und wiedererkennung von objekten auf basis optischer parameter |
MX2009003465A (es) * | 2006-10-02 | 2009-04-14 | Du Pont | Metodo para medir la apariencia del revestimiento y uso de este. |
JP2009058360A (ja) * | 2007-08-31 | 2009-03-19 | Konica Minolta Sensing Inc | 表面状態測定装置 |
SG157977A1 (en) * | 2008-06-23 | 2010-01-29 | Semiconductor Tech & Instr Inc | System and method for inspection of semiconductor packages |
DE102008051513A1 (de) * | 2008-10-14 | 2010-04-15 | Byk Gardner Gmbh | Oberflächenmessgerät mit zwei Messeinheiten |
TW201100787A (en) * | 2009-02-18 | 2011-01-01 | Nikon Corp | Surface examining device and surface examining method |
EP2226653B1 (de) * | 2009-03-02 | 2012-10-03 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor |
GB2476226B (en) | 2009-11-10 | 2012-03-28 | Ingenia Holdings Ltd | Optimisation |
DE102010044956B4 (de) * | 2010-09-10 | 2012-05-24 | Merck Patent Gmbh | Goniochromatisches Messverfahren zur Charakterisierung von Pigmenten und Füllstoffen |
US9449427B1 (en) * | 2011-05-13 | 2016-09-20 | Amazon Technologies, Inc. | Intensity modeling for rendering realistic images |
US9041734B2 (en) | 2011-07-12 | 2015-05-26 | Amazon Technologies, Inc. | Simulating three-dimensional features |
JP5685513B2 (ja) * | 2011-09-30 | 2015-03-18 | 富士フイルム株式会社 | 散乱光検出装置および散乱光検出方法 |
JP5685514B2 (ja) * | 2011-09-30 | 2015-03-18 | 富士フイルム株式会社 | 散乱光検出装置および散乱光検出方法 |
CN104303041B (zh) * | 2012-02-21 | 2017-03-22 | 涂料外国Ip有限公司 | 通过湿法颜色测量来预测涂料组合物中粗大薄片的量的装置 |
US9269012B2 (en) | 2013-08-22 | 2016-02-23 | Amazon Technologies, Inc. | Multi-tracker object tracking |
JP6267550B2 (ja) * | 2014-03-12 | 2018-01-24 | キヤノン株式会社 | 測定装置および測定方法 |
JP6384183B2 (ja) * | 2014-08-05 | 2018-09-05 | 株式会社リコー | 試料測定装置および試料測定プログラム |
FR3036246B1 (fr) * | 2015-05-12 | 2018-01-26 | Safran | Systeme optique d'acquisition d'informations sur une surface |
EP3467475B1 (de) | 2015-12-22 | 2020-04-22 | X-Rite Switzerland GmbH | Sparkle-messung |
US10928327B2 (en) | 2016-12-22 | 2021-02-23 | Axalta Coating Systems Ip Co., Llc | Apparatuses and methods for measuring spatial properties of surface coating containing flake pigment |
KR20210003273A (ko) | 2018-05-08 | 2021-01-11 | 솔라 라이트 컴퍼니, 인코포레이티드 | 체외 확산 반사 분광법 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4479718A (en) * | 1982-06-17 | 1984-10-30 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Three direction measurements for characterization of a surface containing metallic particles |
US4629319A (en) * | 1984-02-14 | 1986-12-16 | Diffracto Ltd. | Panel surface flaw inspection |
US4711580A (en) * | 1985-01-28 | 1987-12-08 | Hunter Associates Laboratory, Inc. | Modeling properties of flake finishes using directional resolution and statistical flake orientation distribution function |
JPH0776751B2 (ja) * | 1987-08-07 | 1995-08-16 | 倉敷紡績株式会社 | メタリック製品の表面欠点検出方式 |
JPH05288690A (ja) * | 1992-04-10 | 1993-11-02 | Kansai Paint Co Ltd | メタリツク塗膜の塗装ムラ決定方法 |
JP2541735B2 (ja) * | 1992-10-09 | 1996-10-09 | 日本道路公団 | 塗膜劣化診断方法及び装置 |
JPH07139930A (ja) * | 1993-11-18 | 1995-06-02 | Tokai Rika Co Ltd | 自動調光式表面性状測定装置 |
JP3326962B2 (ja) * | 1994-05-12 | 2002-09-24 | 日産自動車株式会社 | 塗装品質解析装置 |
JP3396960B2 (ja) * | 1994-07-26 | 2003-04-14 | 石川島播磨重工業株式会社 | 塗膜劣化自動診断方法 |
JP3185559B2 (ja) * | 1994-09-14 | 2001-07-11 | 日産自動車株式会社 | 表面欠陥検査装置 |
GB2293448B (en) * | 1994-09-20 | 1996-12-11 | Honda Motor Co Ltd | Method of determining color tone of glitter-containing coating |
JPH0979988A (ja) * | 1995-09-11 | 1997-03-28 | Nissan Motor Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
JP3412366B2 (ja) * | 1995-11-06 | 2003-06-03 | 日産自動車株式会社 | 塗膜平滑性検査装置 |
ES2153150T3 (es) * | 1997-08-22 | 2001-02-16 | Fraunhofer Ges Forschung | Metodo y aparato para la inspeccion automatica de superficies en movimiento. |
JPH11211673A (ja) * | 1998-01-27 | 1999-08-06 | Honda Motor Co Ltd | 表面性状評価装置および表面性状評価方法 |
-
2001
- 2001-05-11 DE DE10122917A patent/DE10122917A1/de not_active Ceased
-
2002
- 2002-05-06 US US10/140,385 patent/US6975404B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-05-13 JP JP2002137514A patent/JP4377107B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10324104B4 (de) * | 2003-05-27 | 2014-01-16 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften |
DE102004046461B4 (de) * | 2004-09-24 | 2007-03-08 | Audi Ag | Verfahren zur Ermittlung der Lackqualität einer lackierten Oberfläche, insbesondere eines lackierten Fahrzeugkarosserieteils |
DE102004046461A1 (de) * | 2004-09-24 | 2006-03-30 | Audi Ag | Verfahren zur Ermittlung der Lackqualität einer lackierten Oberfläche, insbesondere eines lackierten Fahrzeugkarosserieteils, und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
DE102006032405B4 (de) | 2006-07-13 | 2021-08-12 | Byk-Gardner Gmbh | Bestimmung von Oberflächeneigenschaften mit Neigungskorrektur |
DE102006032404B4 (de) | 2006-07-13 | 2019-05-09 | Byk-Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften |
DE102007014475B4 (de) | 2007-03-22 | 2023-04-13 | Byk-Gardner Gmbh | Bestimmung von Oberflächeneigenschaften |
DE102007014474B4 (de) | 2007-03-22 | 2022-12-29 | Byk-Gardner Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur quantitativen Bestimmung von Oberflächeneigenschaften |
DE102007014735A1 (de) * | 2007-03-24 | 2008-09-25 | Massen Machine Vision Systems Gmbh | Überwachung des Farbeindrucks von mehrfarbig gemusterten Flächen |
DE102008022013A1 (de) * | 2008-05-02 | 2009-11-12 | Basf Coatings Ag | Verfahren zur Messung der Wolkigkeit von Lackierungen auf Prüftafeln |
EP2551663A1 (de) * | 2011-07-27 | 2013-01-30 | BYK-Gardner GmbH | Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung von Beschichtungen mit Effektpigmenten |
US9581546B2 (en) | 2011-07-27 | 2017-02-28 | Byk-Gardner Gmbh | Apparatus and method of investigating coatings with effect pigments |
EP3564654A1 (de) * | 2011-07-27 | 2019-11-06 | BYK-Gardner GmbH | Vorrichtung und verfahren zur untersuchung von beschichtungen mit effektpigmenten |
EP2930494A1 (de) * | 2012-11-06 | 2015-10-14 | X-Rite Switzerland GmbH | Handmessgerät zur Erfassung des visuellen Eindrucks eines Messobjekts |
EP2728342B1 (de) | 2012-11-06 | 2015-06-10 | X-Rite Switzerland GmbH | Handmessgerät zur Erfassung des visuellen Eindrucks eines Messobjekts |
EP2728342A1 (de) | 2012-11-06 | 2014-05-07 | X-Rite Europe GmbH | Handmessgerät zur Erfassung des visuellen Eindrucks eines Messobjekts |
DE102014105746C5 (de) * | 2013-12-05 | 2020-12-24 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung glänzender Objekte |
US20220120680A1 (en) * | 2019-02-22 | 2022-04-21 | Technische Universität Wien | Method and apparatus for determining optical properties of a sample material |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003042965A (ja) | 2003-02-13 |
JP4377107B2 (ja) | 2009-12-02 |
US20020167669A1 (en) | 2002-11-14 |
US6975404B2 (en) | 2005-12-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE10122917A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Eigenschaften von reflektierenden Körpern | |
EP3891465B1 (de) | Optische messeinrichtung | |
EP2930494B1 (de) | Handmessgerät zur erfassung des visuellen eindrucks eines messobjekts | |
EP2270451B1 (de) | Farbmessgerät | |
EP2551663B1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung von Beschichtungen mit Effektpigmenten | |
DE10122313A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur berührungsfreien Untersuchung eines Gegenstandes, insbesondere hinsichtlich dessen Oberflächengestalt | |
DE102014008596B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur schnellen und sicheren Messung von Verzerrungsfehlern in einem produzierten Floatglas - Band | |
DE102004034167A1 (de) | Vorrichtung zur goniometrischen Untersuchung optischer Oberflächeneigenschaften | |
DE202004011811U1 (de) | Vorrichtung zur goniometrischen Untersuchung optischer Oberflächeneigenschaften | |
DE19950588A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätskontrolle von insbesondere lackierten Oberflächen | |
DE69927367T2 (de) | Optoelektronische Formerfassung durch chromatische Kodierung mit Beleuchtungsebenen | |
DE10220872A1 (de) | Einrichtung zur messtechnischen Bewertung von reflektierenden Objekten, insbesondere von reflektiven Anzeigen | |
DE69404643T2 (de) | Goniophotometer | |
DE102011015478B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung und Analyse von Laserstrahlung | |
DE102006048688B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Oberflächen mit Effektpigmenten | |
DE102015105128B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Glanzgrads und/oder der Mattheit von Gegenständen | |
EP0955538A1 (de) | Verfahren und Einrichtung zur Feststellung und/oder Visualisierung von Fehlern auf der Oberfläche von Gegenständen | |
DE102018210019B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Erkennung und/oder Bewertung von Erzeugnissen oder Produkten | |
DE10131684C1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur ortsaufgelösten Messung einer Schichtdicke | |
DE102018101995B3 (de) | 6Vorrichtung zur Messung nach dem Lichtschnitt-Triangulationsverfahren | |
DE102022116099B3 (de) | Oberflächeninspektionssystem und Verfahren zur Erfassung von Oberflächendefekten | |
WO2023046771A1 (de) | Inspektionssystem und verfahren zur fehleranalyse | |
WO2024120821A1 (de) | Verfahren zur fehleranalyse und inspektionssystem | |
DE102021124504A1 (de) | Inspektionssystem und Verfahren zur Fehleranalyse | |
WO2021110671A1 (de) | System zur vermessung von messobjekten |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R002 | Refusal decision in examination/registration proceedings | ||
R003 | Refusal decision now final |