DE10082824T1 - Adapter zum Steuern einer Meßvorrichtung, eine Meßvorrichtung, eine Steuervorrichtung für eine Meßvorrichtung, ein Verfahren zum Verarbeiten der Messung und ein Aufzeichnungsmedium - Google Patents

Adapter zum Steuern einer Meßvorrichtung, eine Meßvorrichtung, eine Steuervorrichtung für eine Meßvorrichtung, ein Verfahren zum Verarbeiten der Messung und ein Aufzeichnungsmedium

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Takahiro Yamguchi
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Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10047321A1 (de) * 2000-09-25 2002-04-25 Grieshaber Vega Kg Verfahren zum Anzeigen und/oder Ändern von Parametern einer Messvorrichtung und Messvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US7139530B2 (en) * 2001-12-07 2006-11-21 Kyocera Wireless Corp. Method and apparatus for calibrating a reference oscillator
EP1504628B1 (de) * 2002-05-03 2006-02-08 Agilent Technologies, Inc. Messeinrichtung mit konkurrenz-prozesssteuerung
JP2004133632A (ja) * 2002-10-09 2004-04-30 Arkray Inc データ中継装置およびこれを用いたデータ管理システム
DE10308816A1 (de) * 2003-02-27 2004-05-19 Siemens Ag Ikone und Schrittikonendarstellung zur graphischen Visualisierung von aufgabenorientierten Schritten
US20040190458A1 (en) * 2003-03-27 2004-09-30 Yokogawa Electric Corporation Measurement system and mesaurement method
JP4334285B2 (ja) * 2003-06-19 2009-09-30 株式会社アドバンテスト 半導体試験装置及びその制御方法
JP2005265630A (ja) * 2004-03-18 2005-09-29 Agilent Technol Inc 測定器
JP2005274145A (ja) * 2004-03-22 2005-10-06 Agilent Technol Inc 測定方法、モジュールおよびシステム
US7590142B2 (en) * 2004-04-02 2009-09-15 Avo Multi-Amp Corporation Dba Megger Adapter channel mapping system and method
US20050268183A1 (en) * 2004-05-25 2005-12-01 Barmettler Mark G Local area network measurement test device
US8214461B1 (en) * 2004-11-23 2012-07-03 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method of processing request by server computer system
JP4258473B2 (ja) * 2005-01-31 2009-04-30 ブラザー工業株式会社 サーバ装置及びコンテンツ提供システム
US20060176944A1 (en) * 2005-02-10 2006-08-10 Avo Multi-Amp Corporation D/B/A Megger Synthesizer design for network testing device
US7400151B2 (en) * 2005-07-25 2008-07-15 Avo Multi-Amp Corporation Connector crosstalk and return loss cancellation
US7429866B2 (en) * 2006-08-21 2008-09-30 Avo Multi-Amp Corporation System and method for resistance measurement
US8438229B2 (en) 2007-03-07 2013-05-07 True Engineering Technology, Llc System and method of supporting constructive discourse on computers and mobile devices
GB2470134A (en) * 2008-01-02 2010-11-10 True Engineering Technology Ll Statement-based computing system
US20100117624A1 (en) * 2008-11-11 2010-05-13 Alcatel-Lucent Usa Inc. Network-distributed oscilloscope and method of operation thereof
ITTO20090416A1 (it) * 2009-06-03 2010-12-04 Selex Communications Spa Procedimento di gestione di sistemi automatici di test
US20180025704A1 (en) * 2016-07-21 2018-01-25 Tektronix, Inc. Composite user interface

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4878179A (en) * 1987-11-12 1989-10-31 Rockwell International Corporation Interactive diagnostic methodology and apparatus for microelectronic devices
JP4160642B2 (ja) * 1995-09-08 2008-10-01 株式会社日立製作所 ネットワークデータ転送方法
JP3100335B2 (ja) * 1996-05-23 2000-10-16 株式会社光研 センサ信号処理モジュール
US5790977A (en) 1997-02-06 1998-08-04 Hewlett-Packard Company Data acquisition from a remote instrument via the internet
US6105093A (en) * 1997-02-21 2000-08-15 General Electric Company Interface monitor for communicating between different communication protocols
US5978753A (en) * 1997-03-18 1999-11-02 Hewlett-Packard Company Context parameters for establishing data communication patterns in a distributed control and measurement system
US6052653A (en) * 1997-07-11 2000-04-18 Solid State Measurements, Inc. Spreading resistance profiling system
JP3922662B2 (ja) * 1997-09-05 2007-05-30 株式会社ティアンドデイ 測定管理装置および測定システム
JPH11224394A (ja) * 1997-10-02 1999-08-17 Advantest Corp 電子計測器制御システムおよび電子計測器制御方法
JPH11120477A (ja) * 1997-10-09 1999-04-30 Advantest Corp 測定システム
EP0913674A1 (de) * 1997-10-31 1999-05-06 Gretag-Macbeth AG Rechnergesteuerte Messvorrichtung
JPH11175874A (ja) * 1997-12-10 1999-07-02 Babcock Hitachi Kk 計装用インターフェース及びこれを用いたネットワークシステム
EP0932194A1 (de) * 1997-12-30 1999-07-28 International Business Machines Corporation Methode und System zur Halbleiterscheiben interaktvien in-Situ Überwachung
US6937844B2 (en) * 2002-05-30 2005-08-30 Wireless Lab Sweden Ab Methods and arrangements for short range wireless communication
US7191257B2 (en) * 2003-12-22 2007-03-13 National Instruments Corp. System and method for real-time processing of nondeterministic captured data events
US20050251564A1 (en) * 2004-04-15 2005-11-10 Tillotson Timothy N Remote instrument control by multiple clients
US7340365B2 (en) * 2004-04-23 2008-03-04 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for verifying the operation of a plurality of test system instruments

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Publication number Publication date
WO2001013347A1 (fr) 2001-02-22
US20020013835A1 (en) 2002-01-31
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