DE10004974A1 - Adapter for testing circuit boards comprises testing needles and two guide plate units which are laterally movable relative to one another for alignment of the respective guide holes for testing needles - Google Patents

Abstract

The adapter for testing circuit boards comprises testing needles (7) and guide plates (2, 3, 4, 5) which form two units (12, 16) consisting of one or several guide plates. The guide holes (6) of all guide plates of each unit are arranged in the same pattern. At least one of the two units are laterally movable relative to one another in such a way that the respective guide holes for a given testing needle can be aligned in pairs. Also claimed is a testing needle (7). Such a needle is provided with at least one hinge section.

Description

Die Erfindung betrifft einen Adapter zum Prüfen von Leiterplatten und eine Prüfnadel für einen solchen Adapter.The invention relates to an adapter for testing printed circuit boards and a test needle for such an adapter.

Aus der EP 149 767 B2 geht ein Adapter für ein Leiterplattenprüfgerät hervor, mittels welchem im Raster befindliche Prüfkontakte einer Prüfvorrichtung mit außer oder in und außer Raster befindlichen Leiterplattentestpunkten einer zu prüfenden Leiter­ platte durch Adapterstifte verbindbar sind. Dieser Adapter weist drei Führungsplatten auf, die parallel zueinander in einem festen Abstand voneinander angeordnet sind. Die Führungsplatten sind mit Führungslöcher versehen, in die die Adapterstifte ein­ steckbar sind. Die Führungslöcher sind derart in die Führungsplatten eingebracht, daß die Adapterstifte sich geradlinig von den Prüfkontakten zu den Leiterplattentest­ punkten erstrecken. Die einzelnen Adapterstifte können sowohl vertikal zu den Füh­ rungsplatten als auch schräg dazu angeordnet sein, so daß die unterschiedlichen Anordnungen der Prüfkontakte und der Leiterplattentestpunkte elektrisch miteinander verbunden sind. Durch die schräge Anordnung der Adapterstifte wird die Anpassung an außer Raster angeordnete Leiterplattentestpunkte ermöglicht.From EP 149 767 B2 an adapter for a circuit board test device emerges by means of which test contacts of a test device are in the grid with outside or in and out of grid printed circuit board test points of a conductor to be tested plate can be connected by adapter pins. This adapter has three guide plates on, which are arranged parallel to each other at a fixed distance from each other. The guide plates are provided with guide holes into which the adapter pins enter are pluggable. The guide holes are made in the guide plates in such a way that the adapter pins are straight from the test contacts to the circuit board test extend points. The individual adapter pins can be both vertical to the feet tion plates as well as arranged obliquely so that the different Arrangements of the test contacts and the circuit board test points electrically with each other are connected. The oblique arrangement of the adapter pins makes the adjustment to printed circuit board test points arranged outside of the grid.

In der EP 0 215 146 B1 (entspricht der US 4,721,908) wird ein Adapter zum Prüfen von Leiterplatten beschrieben, der wiederum Führungsplatten aufweist, die parallel zueinander mit vorbestimmten Abstand angeordnet sind und in Führungslöcher ein­ gebracht sind. Zum Kontaktieren der Prüfkontakte einer Prüfvorrichtung mit den Lei­ terplattentestpunkten einer zu testenden Leiterplatte werden sogenannte Starrnadeln verwendet. Starrnadeln sind Prüfnadeln mit einer über ihrer gesamten Länge kon­ stanten Querschnittsfläche. Diese Prüfnadeln können kostengünstig hergestellt wer­ den. Bei dem Adapter nach der EP 0 215 146 B1 werden die Starrnadeln mittels ei­ ner elastischen Platte im Adapter durch Reibschluß gehalten.EP 0 215 146 B1 (corresponds to US 4,721,908) describes an adapter for testing described by printed circuit boards, which in turn has guide plates that are parallel  are arranged at a predetermined distance from one another and into guide holes are brought. For contacting the test contacts of a test device with the Lei Board test points of a circuit board to be tested are so-called rigid needles used. Rigid needles are test needles with a con over their entire length constant cross-sectional area. These test needles can be manufactured inexpensively the. In the adapter according to EP 0 215 146 B1, the rigid needles are ei ner elastic plate held in the adapter by friction.

In der EP 0 315 707 B1 ist ein weiterer Adapter zum Prüfen von Leiterplatten be­ schrieben, der wiederum drei Führungsplatten besitzt, in welche Führungsbohrungen eingebracht sind. Bei diesem Adapter ist eine erste Führungsplatte mit Führungslö­ chern im Raster des Grundrasters der Prüfvorrichtung ausgebildet und bei der zwei­ ten Führungsplatte sind die Löcher entsprechend den Leiterplattentestpunkten der zu prüfenden Leiterplatte angeordnet. Eine dritte Führungsplatte ist im Bereich zwischen der ersten und zweiten Führungsplatte mit geringem Abstand zur zweiten Führungs­ platte angeordnet. Als Prüfnadeln werden Starrnadeln verwendet, die an einer be­ stimmten Stelle verquetscht sind, wodurch deren Querschnitt lokal verbreitert ist. Die­ se Querschnittsverbreiterung wird im Bereich zwischen der zweiten und der dritten Führungsplatte angeordnet, so daß diese Prüfnadeln nicht aus dem Adapter fallen können. Ein Teil der Prüfnadeln ist in dem Bereich zwischen der ersten und dritten Führungsplatte biegsam ausgelenkt, um evtl. Fluchtungsfehler zwischen den Füh­ rungslöchern der Führungsplatten auszugleichen oder um eine Anpassung an lokale Erhöhung der Kontaktpunktdichte auf der zu prüfenden Leiterplatte zu schaffen. Die­ ser Adapter wird manuell bestückt, wobei die flexibel ausgelenkten Prüfnadeln von Hand ausgelenkt und in die entsprechenden Führungslöcher eingeführt werden.Another adapter for testing printed circuit boards is described in EP 0 315 707 B1 wrote, which in turn has three guide plates, in which guide holes are introduced. With this adapter there is a first guide plate with guide loops chern formed in the grid of the basic grid of the test device and in the two The guide plate holes are according to the PCB test points of the testing circuit board arranged. A third guide plate is in the area between the first and second guide plates at a short distance from the second guide plate arranged. Rigid needles are used as test needles certain spot are squeezed, whereby their cross-section is locally widened. The This cross-sectional broadening is in the area between the second and the third Guide plate arranged so that these test needles do not fall out of the adapter can. A part of the test needles is in the area between the first and third Guide plate deflected flexibly to avoid misalignment between the guides compensation holes in the guide plates or to adapt to local To increase the contact point density on the circuit board to be tested. The This adapter is assembled manually using the flexibly deflected test pins from Hand deflected and inserted into the corresponding guide holes.

In der Praxis haben sich die Adapter mit geradlinig verlaufenden Prüfnadeln durch­ gesetzt, da diese maschinell bestückt werden können. Mit einer Bestückungsvorrich­ tung werden die Prüfnadeln an der Führungsbohrung der obersten Führungsplatte eingeführt. Durch das Vorsehen weiterer Führungsplatten mit entsprechenden Füh­ rungsbohrungen werden die Führungsnadeln geradlinig bis zur untersten Führungs­ platte geführt, wobei die Führungsbohrungen so angeordnet sind, daß möglichst kei­ ne Fehlbestückungen durch Einführen einer Prüfnadeln in eine falsche Kombination von Führungslöchern der unterschiedlichen Führungsplatten möglich ist. Um eine automatische Bestückung zu ermöglichen, ist es in der Regel notwendig mindestens fünf Führungsplatten vorzusehen. Üblicherweise weisen derartige Adapter fünf bis zwölf Führungsplatten auf. Aufgrund der zum Teil schrägen Anordnung der Prüfna­ deln müssen die Bohrungen der einzelnen Führungsplatten in unterschiedlichen Mu­ stern angeordnet sein. Deshalb muß für jede Führungsplatte ein spezielles Bohrmu­ ster berechnet werden. Da die Prüfnadeln schräg durch die einzelnen Führungsplat­ ten verlaufen, werden die Bohrungen abgestuft gebohrt, das heißt, daß zunächst eine schmale Bohrung durch die Führungsplatte hindurch gebohrt wird und dann im Be­ reich der Oberflächen der Führungsplatte eine Bohrung mit größerem Durchmesser gebohrt wird. Hierdurch ist es möglich, daß die Prüfnadeln schräg gegenüber einer auf den Führungsplatten senkrechten Linie angeordnet sein können. Das Bohren dieser abgestuften Bohrungen erfordert für jede Führungsplatte zumindest zwei Bohrlöcher. Das Bohren der Führungsplatten stellt einen erheblichen Kostenfaktor bei der Herstellung der Adapter dar.In practice, the adapters with straight-line test needles are used set, since these can be loaded by machine. With a placement device the test needles on the guide hole of the top guide plate introduced. By providing additional guide plates with appropriate guides The guide needles become straight through to the bottom guide plate guided, the guide holes are arranged so that as possible kei ne incorrect assembly by inserting a test needle into the wrong combination  of guide holes of the different guide plates is possible. To one To enable automatic assembly, it is usually necessary at least provide five guide plates. Such adapters usually have five to twelve guide plates. Due to the partly oblique arrangement of the test the bores of the individual guide plates must be in different sizes be arranged star. Therefore, a special Bohrmu must for each guide plate be calculated. Because the test needles diagonally through the individual guide plates ten holes, the holes are drilled in stages, which means that initially one narrow hole is drilled through the guide plate and then in the loading a larger diameter hole on the surface of the guide plate is drilled. This makes it possible for the test needles to be inclined relative to one vertical line can be arranged on the guide plates. The drilling these stepped holes require at least two for each guide plate Boreholes. Drilling the guide plates is a significant cost factor in the manufacture of the adapter.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Adapter zum Prüfen von Leiterplat­ ten zu schaffen, der einfach und kostengünstig herstellbar ist und maschinell be­ stückt werden kann.The invention has for its object an adapter for testing printed circuit boards to create ten that is easy and inexpensive to manufacture and machine pieces can be.

Die Aufgabe wird durch einen Adapter mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.The object is achieved by an adapter with the features of claim 1. Advantageous embodiments of the invention are specified in the subclaims.

Der erfindungsgemäße Adapter zum Prüfen von Leiterplatten weist Prüfnadeln, die zum elektrischen Verbinden eines Prüfkontaktes eines Grundrasters einer Prüfvorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten und eines Leiterplattentestpunktes der zu prüfenden Leiterplatte vorgesehen sind, und Führungsplatten auf, die mit Führungslöchern versehen sind, durch die sich die Prüf­ nadeln erstrecken, wobei die Führungslöcher der zu prüfenden Leiterplatte weisen­ den Führungsplatte im gleichen Muster wie die Leiterplattentestpunkte einer zu prü­ fenden Leiterplatte und die Führungslöcher der zum Grundraster weisenden Füh­ rungsplatte im gleichen Muster wie die Prüfkontakte des Grundrasters angeordnet sind. The adapter according to the invention for testing printed circuit boards has Test needles for the electrical connection of a test contact of a basic grid a test device for testing circuit boards and a circuit board test point the circuit board to be tested are provided, and Guide plates that are provided with guide holes through which the test extend needles, the guide holes facing the circuit board to be tested to test the guide plate in the same pattern as one of the circuit board test points circuit board and the guide holes of the guide pointing to the basic grid arranged in the same pattern as the test contacts of the basic grid are.  

Der erfindungsgemäße Adapter zeichnet sich dadurch aus, daß die Führungsplatten zwei Einheiten bilden, die jeweils eine der mehrere Führungsplatten umfassen,
daß die Führungslöcher aller Führungsplatten der jeweiligen Einheit im gleichen Mu­ ster angeordnet sind, und
daß zumindest eine der beiden Einheiten derart quer zu den Prüfnadeln verschieblich angeordnet ist, daß die einander zugeordneten Führungslöcher der beiden Einheiten durch die sich die gleiche Prüfnadel erstreckt, paarweise in Flucht gebracht werden können.The adapter according to the invention is characterized in that the guide plates form two units, each comprising one of the several guide plates,
that the guide holes of all guide plates of the respective unit are arranged in the same pattern, and
that at least one of the two units is arranged such that it can be moved transversely to the test needles in such a way that the guide holes of the two units which are assigned to one another and through which the same test needle extends can be aligned.

Da die Führungslöcher aller Führungsplatten der jeweiligen Einheit im gleichen Mu­ ster angeordnet sind, können alle Führungsplatten einer Einheit mit dem gleichen "Bohrprogramm" gebohrt werden. Grundsätzlich ist es auch möglich, daß mehrere Führungsplatten auf einmal übereinanderliegend mit einer Bohrspindel gebohrt wer­ den, die in einem einzigen Bohrvorgang durch mehrere Führungsplatten getrieben wird. Zum Bohren identischer Bohrmuster sind Bohrmaschinen mit vier oder fünf Bohrspindeln bekannt, die an einer gemeinsamen Halterung befestigt sind und ge­ meinsam bewegt werden, so daß in den entsprechenden Leiterplatten identische Bohrmuster eingebracht werden.Since the guide holes of all guide plates of the respective unit in the same Mu are arranged, all guide plates of a unit with the same "Drilling program" are drilled. In principle, it is also possible for several Who bored the guide plates one above the other with a drilling spindle those driven by multiple guide plates in a single drilling operation becomes. Drills with four or five are for drilling identical drilling patterns Drilling spindles known, which are attached to a common bracket and ge be moved together so that identical in the corresponding circuit boards Drilling patterns are introduced.

Die Führungslöcher können somit sehr kostengünstig eingebracht werden, ohne daß hierbei unterschiedliche Bohrprogramme, die mit unterschiedlichen Bohrmustern boh­ ren, angewendet werden müssen oder Stufenbohrungen eingebracht werden müs­ sen, die zumindest zwei Bohrvorgänge erfordern.The guide holes can thus be made very inexpensively without Here different drilling programs that drill with different drilling patterns Ren, must be used or stepped holes must be drilled sen that require at least two drilling operations.

Da eine der beiden Einheiten quer zu den Prüfnadeln verschieblich angeordnet ist, können beim Bestücken des Adapters die einer Prüfnadel zugeordneten Führungslö­ cher der beiden Einheiten in Flucht gebracht werden, so daß die Prüfnadeln einfach, auch von einer automatisch arbeitenden Bestückungsvorrichtung, in die Führungslö­ cher eingebracht werden können. Durch das weitere Verschieben der Einheiten wer­ den die Prüfnadeln im Bereich zwischen den beiden Einheiten des Adapters etwas gebogen, so daß durch die in den Prüfnadeln bestehende Spannung sich in den Führungslöchern ein Reibschluß ausbildet, der es erlaubt, selbst glatte Nadeln ohne Vor­ sprünge oder dergleichen sicher im Adapter zu halten.Since one of the two units is slidable across the probe, can, when assembling the adapter, the guide loops assigned to a test needle of the two units are brought into alignment so that the test needles are simple, also from an automatic assembly device into the guide solution cher can be introduced. By moving the units further the test needles in the area between the two units of the adapter bent so that the tension existing in the test needles in the guide holes  forms a frictional connection, which allows even smooth needles without front to keep jumps or the like safely in the adapter.

Ein weiterer Vorteil des erfindungsgemäßen Adapters ist, daß bei gleicher Größe we­ niger Führungsplatten als bei bekannten Adaptern mit schräg gestellten Nadeln be­ nötigt werden, da aufgrund des geradlinigen Verlaufes der Führungsnadeln innerhalb der Einheiten der Abstand zwischen den Führungsplatten größer gewählt werden kann.Another advantage of the adapter according to the invention is that we have the same size niger guide plates than in known adapters with inclined needles be necessary because of the straight line of the guide needles inside of the units, the distance between the guide plates can be chosen larger can.

Nach einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung sind die Prüfnadeln zumin­ dest in den sich durch die Führungslöcher erstreckenden Bereichen mit einer rei­ bungsvermindernden Schicht versehen, so daß die Prüfnadeln bei Benutzung durch die Führungslöcher geschoben werden können, ohne daß sie im Bereich zwischen den beiden Einheiten ausbiegen.According to a preferred embodiment of the invention, the test needles are at least at least in the areas extending through the guide holes with a rei treatment-reducing layer so that the test needles when used by the guide holes can be pushed without them in the area between turn out the two units.

Gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren zum Bestücken des erfindungsgemäßen Adapters wird in einem ersten Schritt die verschiebliche Einheit derart bewegt, daß die Führungslöcher der beiden Einheiten, die einer Prüfnadel zugeordnet sind, in Flucht gebracht werden, und in einem zweiten Schritt eine oder mehrere Prüfnadeln in die fluchtenden Führungslöcher eingebracht. Diese beiden Schritte werden so oft wiederholt, bis der Adapter bestückt ist.According to the inventive method for loading the inventive In a first step the adapter is moved in such a way that the guide holes of the two units assigned to a test needle in Be brought into flight, and in a second step one or more test needles inserted in the aligned guide holes. These two steps are so common repeated until the adapter is populated.

Zum Bestücken des erfindungsgemäßen Adapters ist eine Vorrichtung vorgesehen, die einen Verschiebemechanismus aufweist, der die verschiebliche Einheit des Ad­ apters automatisch derart verschieben kann, daß die entsprechenden Führungslö­ cher in Flucht gebracht werden.A device is provided for equipping the adapter according to the invention, which has a sliding mechanism that the movable unit of the Ad apters can automatically move so that the corresponding leadership be brought into flight.

Nachfolgend wird die Erfindung näher anhand in der Zeichnung dargestellten Ausfüh­ rungsbeispielen erläutert. In der Zeichnung zeigen schematisch:The invention is explained in more detail below with reference to the embodiment shown in the drawing Examples explained. The drawing shows schematically:

Fig. 1 einen Bereich eines erfindungsgemäßen Adapters in einer Schnittdarstellung, Fig. 1 shows a portion of an adapter according to the invention in a sectional illustration,

Fig. 2 eine Bestückungsvorrichtung in perspektivischer Ansicht, Fig. 2 is a mounting apparatus in a perspective view;

Fig. 3 eine Prüfnadel mit zwei Gelenkbereichen, Fig. 3 shows a test needle with two hinge portions,

Fig. 4 eine Prüfnadel mit einem Gelenkbereich, Fig. 4 is a test needle with a hinge region,

Fig. 5 schematisch vereinfacht ein erfindungsgemäßer Adapter in der Draufsicht, und Fig. 5 schematically simplified an adapter according to the invention in plan view, and

Fig. 6a bis 6c jeweils eine Lochmatrix des in Fig. 5 gezeigten Adpaters. FIGS. 6a to 6c each have a hole matrix of the adapter shown in Fig. 5.

In Fig. 1 ist ein Ausschnitt eines erfindungsgemäßen Adapters schematisch darge­ stellt. Der erfindungsgemäße Adapter 1 weist vier Führungsplatten 2 bis 5 auf, die im wesentlichen parallel zueinander angeordnet sind. In den Führungsplatten 2 bis 5 sind Führungslöcher 6 eingebracht. In den Führungslöchern 6 lagern Prüfnadeln 7, die sich von Prüfstiften 8 einer Vollrasterkassette 9 bis zu Leiterplattentestpunkten 10 einer zu prüfenden Leiterplatte 11 erstrecken.In Fig. 1 a section of an adapter according to the invention is shown schematically Darge. The adapter 1 according to the invention has four guide plates 2 to 5 , which are arranged essentially parallel to one another. Guide holes 6 are made in the guide plates 2 to 5 . Test pins 7 , which extend from test pins 8 of a full-grid cassette 9 to printed circuit board test points 10 of a printed circuit board 11 to be tested, are stored in the guide holes 6 .

Die Prüfstifte 8 sind zueinander parallel angeordnet und stehen mit Prüfkontakten eines Grundrasters einer Prüfvorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten in Kontakt. Die Prüfstifte sind somit im Raster der Prüfkontakte des Grundrasters angeordnet. Die Prüfstifte 8 sind federnd ausgebildet.The test pins 8 are arranged parallel to one another and are in contact with test contacts of a basic grid of a test device for testing printed circuit boards. The test pins are thus arranged in the grid of the test contacts of the basic grid. The test pins 8 are resilient.

Die benachbart zum Grundraster 9 angeordnete Führungsplatte 2 wird nachfolgend als Basisplatte 2 bezeichnet. Die angrenzend an der zu prüfenden Leiterplatte 11 angeordnete Führungsplatte 5 wird nachfolgend als Kontaktplatte 5 bezeichnet.The adjacent to the basic screen 9 disposed guide plate 2 is hereinafter referred to as a base plate. 2 The adjacent the circuit board under test arranged 11 guide plate 5 is hereinafter referred to as a contact plate. 5

Die Führungslöcher 6 sind in die Basisplatte 2 mit dem gleichen Muster eingebracht wie die Prüfkontakte 8 im Grundraster 9 bzw. wie die Prüfstifte 8 der Vollrasterkas­ sette 9 angeordnet sind. In der Kontaktplatte 3 sind die Führungslöcher 6 mit dem gleichen Muster wie die Leiterplattentestpunkte 10 der zu prüfenden Leiterplatte 11 angeordnet. Somit ist jedem Prüfkontakt 8 ein Führungsloch 6 der Basisplatte 2 und jedem Leiterplattentestpunkt 10 ein Führungsloch 6 der Kontaktplatte 5 zugeordnet. The guide holes 6 are introduced into the base plate 2 with the same pattern as the test contacts 8 in the basic grid 9 or how the test pins 8 of the full grid cassette 9 are arranged. The guide holes 6 are arranged in the contact plate 3 with the same pattern as the circuit board test points 10 of the circuit board 11 to be tested. Thus, each test contact 8 is assigned a guide hole 6 of the base plate 2 and each circuit board test point 10 a guide hole 6 of the contact plate 5 .

Die Basisplatte 2 bildet zusammen mit den Führungsplatten 3 und 4 eine Einheit 12. Die Führungslöcher 6 der Führungsplatten 2 bis 4 der Einheit 12 sind mit dem identi­ schem Muster auf den jeweiligen Führungsplatten 2 bis 4 angeordnet, das heißt, daß die Führungslöcher 6 dieser drei Führungsplatten 2 bis 4 alle im Muster der Prüfkon­ takte des Grundrasters angeordnet sind. Die Führungslöcher 6 sind durch vertikal zur Ebene der einzelnen Führungsplatten 2 bis 4 verlaufende Bohrungen eingebracht. Die Führungsplatte 3 ist starr mit der Basisplatte 2 mittels säulenartiger Abstands­ halter 13 verbunden. Die Abstandshalter 13 sind mit den Führungsplatten 2, 3 ver­ schraubt. Die Führungsplatte 4 ist mit der Führungsplatte 3 über ein Federelement 14 verbunden, so daß die Führungsplatte 4 quer zu ihrer Ebene bzw. parallel zu den Führungsnadeln 7 beweglich auf der Führungsplatte 3 angeordnet ist (in Richtung des Doppelpfeils 15). Das Federelement ist im vorliegenden Ausführungsbeispiel aus zwei teleskopartig ineinander gesteckten Buchsen 14a, 14b ausgebildet, in welchen eine Schraubenfeder (nicht dargestellt) angeordnet ist. Die Führungsplatten 2 bis 4 der Einheit 12 erlauben somit eine gewisse Bewegung in Längsrichtung der Prüfna­ deln 7, jedoch sind diese Führungsplatten 2 bis 4 innerhalb der Einheit 12 nicht in eine Richtung quer zu den Führungsplatten 7 beweglich ausgebildet. Die Führungs­ löcher 6 dieser Führungsplatten 2 bis 4 sind in vertikaler Flucht übereinander ange­ ordnet, so daß die Führungsnadeln 7 im Bereich der Einheit 12 senkrecht zu den Führungsplatten 2 bis 4 verlaufen. Die Führungslöcher 6 sind dementsprechend als vertikale Bohrungen eingebracht.The base plate 2 forms a unit 12 together with the guide plates 3 and 4 . The guide holes 6 of the guide plates 2 to 4 of the unit 12 are arranged with the identical pattern on the respective guide plates 2 to 4 , that is, the guide holes 6 of these three guide plates 2 to 4 are all arranged in the pattern of the test contacts of the basic grid. The guide holes 6 are introduced through bores running vertically to the level of the individual guide plates 2 to 4 . The guide plate 3 is rigidly connected to the base plate 2 by means of column-like spacers 13 . The spacers 13 are screwed to the guide plates 2 , 3 . The guide plate 4 is connected to the guide plate 3 via a spring element 14 , so that the guide plate 4 is arranged movably on the guide plate 3 transversely to its plane or parallel to the guide needles 7 (in the direction of the double arrow 15 ). In the present exemplary embodiment, the spring element is formed from two telescopically inserted bushings 14 a, 14 b, in which a helical spring (not shown) is arranged. The guide plates 2 to 4 of the unit 12 thus permit a certain movement in the longitudinal direction of the Prüfna spindles 7, however, these guide plates 2 to 4 are not formed within the unit 12 in a direction transverse to the guide plates 7 movable. The guide holes 6 of these guide plates 2 to 4 are arranged one above the other in vertical alignment, so that the guide needles 7 in the area of the unit 12 are perpendicular to the guide plates 2 to 4 . The guide holes 6 are accordingly made as vertical bores.

Die Kontaktplatte 5 bildet eine weitere Einheit 16, die im vorliegenden Beispiel ledig­ lich aus einer einzigen Führungsplatte 5 besteht. Die Kontaktplatte 5 ist mittels eines säulenartigen Abstandhalters 17 mit der Einheit 12 verbunden. Der Abstandshalter 17 weist an seinem an der Kontaktplatte 5 angrenzenden Ende einen Auflageab­ schnitt 17a auf, der gegenüber dem übrigen Bereich des Abstandhalters 17 verbrei­ tert ist. Der Auflagerabschnitt 17a weist eine in der Draufsicht kreisförmige Auflage­ fläche 18 auf. An der Auflagefläche 18 ist mittig ein Halteelement 19 befestigt, das aus einem Schafft 20 und einer kreisförmigen Halteplatte 21 ausgebildet ist. Der Schafft 20 steht senkrecht auf der Auflagefläche 18 und die Halteplatte 21 ist ein­ stückig am Schafft 20 ausgebildet und parallel zur Auflagefläche 18 mit Abstand zu dieser angeordnet. Der Schafft 20 erstreckt sich durch eine Öffnung 22 in der Kontaktplatte 5. Die Öffnung 22 ist als kreisförmige Bohrung ausgebildet mit einem deut­ lich größeren Durchmesser als der des Schaftes 20. Der Auflageabschnitt 17a und die Halteplatte 21 übergreifen mit ihren Randbereichen den Rand der Öffnung 22. Die Kontaktplatte 5 ist im Bereich der Halteplatte 21 mit einer Senke 23 ausgebildet, die in der Draufsicht kreisförmig ausgebildet ist und einen deutlich größeren Durch­ messer als die Halteplatte 21 besitzt.The contact plate 5 forms a further unit 16 , which in the present example consists only of a single guide plate 5 . The contact plate 5 is connected to the unit 12 by means of a columnar spacer 17 . The spacer 17 has at its end adjacent to the contact plate 5 a Auflageab section 17 a, which is widespread compared to the rest of the spacer 17 . The support section 17 a has a circular support surface 18 in plan view. A holding element 19 , which is formed from a shaft 20 and a circular holding plate 21 , is fastened in the center to the bearing surface 18 . The shaft 20 is perpendicular to the bearing surface 18 and the holding plate 21 is integrally formed on the shaft 20 and is arranged parallel to the bearing surface 18 at a distance therefrom. The shaft 20 extends through an opening 22 in the contact plate 5 . The opening 22 is formed as a circular bore with a significantly larger diameter than that of the shaft 20th The support section 17 a and the holding plate 21 overlap with their edge regions the edge of the opening 22nd The contact plate 5 is formed in the region of the holding plate 21 with a depression 23 which is circular in plan view and has a significantly larger diameter than the holding plate 21 .

Diese Verbindung zwischen dem Abstandhalter 17 und der Kontaktplatte 5 besitzt ein Bewegungsspiel derart, daß die Kontaktplatte 5 in ihrer Ebene bewegt werden kann, wie es durch den 4-fach-Pfeil 24 in Fig. 1 angedeutet ist. Die Kontaktplatte 5 kann sich soweit bewegen, bis der Schafft 20 am Rand der Öffnung 22 anstößt. Dieser Kontakt begrenzt das Bewegungsspiel. Der maximale Bewegungsweg S beträgt so­ mit sowohl in X- als auch in Y-Richtung gegenüber einer um den Schafft 20 zentrier­ ten Position der Öffnung 22 die halbe Differenz zwischen dem Durchmesser D der Öffnung 22 und dem Durchmesser d des Schaftes 20:
This connection between the spacer 17 and the contact plate 5 has a play in such a way that the contact plate 5 can be moved in its plane, as indicated by the 4-fold arrow 24 in Fig. 1. The contact plate 5 can move until the shaft 20 abuts the edge of the opening 22 . This contact limits the range of motion. The maximum path of movement S is so with both the X and Y direction relative to a centering around the Creates 20 th position of the opening 22, the half difference between the diameter D of the opening 22 and the diameter d of the shaft 20:

S = ½(D - d)S = ½ (D - d)

Die Kontaktplatte 5 weist eine Dicke von 1 cm auf. Wenn eine Einheit lediglich aus einer Führungsplatte ausgebildet ist, ist es zweckmäßig ein Platte mit einer Dicke von 0,5 cm bis 1,5 cm vorzusehen.The contact plate 5 has a thickness of 1 cm. If a unit is only formed from a guide plate, it is advisable to provide a plate with a thickness of 0.5 cm to 1.5 cm.

Beim Bestücken des Adapters wird die Kontaktplatte 5 derart bewegt, daß die Füh­ rungslöcher 6 der Kontaktplatte 5 mit den korrespondierenden Führungslöchern 6 der weiteren Führungsplatten 2 bis 4 fluchten, so daß eine Nadel vertikal in alle Füh­ rungsplatten 2 bis 5 eingeführt werden kann. In einer solchen Stellung, bei der die Führungslöcher 6 miteinander fluchten, kann es sein, daß Führungslöcher 6 mehre­ rer Nadeln zueinander in Flucht angeordnet sind. Es werden dann die Nadeln all die­ ser fluchtenden Führungslöcher in den Adapter eingeführt. Danach wird die Kontakt­ platte 5 derart verschoben, daß andere Führungslöcher 6 der Kontaktplatte 5 zu den Führungslöchern 6 der Einheit 12 fluchten. Durch diese Verschiebung werden die vor dem Verschieben eingeführten Prüfnadeln im Bereich zwischen der Einheit 12 und der Einheit 16 gebogen, um den Versatz der Führungslöcher 6 der beiden Einheiten auszugleichen. In die durch die Verschiebung in Flucht gebrachten Führungslöcher 6 wird eine oder werden mehrere Prüfnadeln eingeführt, danach wird der Verschiebe­ vorgang wiederholt. Das Verschieben und das Einführen der Nadeln wird solange wiederholt, bis der Adapter vollständig mit Prüfnadeln bestückt ist.When placing the adapter, the contact plate 5 is moved such that the Füh the contact plate 5 are aligned approximately holes 6 with the corresponding guide holes 6 of the other guide plates 2 to 4, so that a needle approximately plates vertically in all Füh can be introduced 2 to 5. In such a position, in which the guide holes 6 are aligned with one another, it may be the case that guide holes 6 are arranged in a plurality of multiple needles in alignment with one another. Then the needles of all these aligned guide holes are inserted into the adapter. Then, the contact plate 5 is shifted so that other guide holes 6 of the contact plate 5 are aligned with the guide holes 6 of the unit 12th As a result of this displacement, the test needles introduced before the displacement are bent in the area between the unit 12 and the unit 16 in order to compensate for the offset of the guide holes 6 of the two units. One or more test needles are inserted into the guide holes 6 brought into alignment by the displacement, after which the displacement process is repeated. The displacement and insertion of the needles is repeated until the adapter is fully equipped with test needles.

Durch das Biegen der Prüfnadeln 7 im Bereich zwischen den beiden Einheiten 12 und 16 wird eine Spannung in den Prüfnadeln 7 aufgebaut, die zu einem Reibschluß an den Führungslöchern 6 führt. Durch diesen Reibschluß können Starr- bzw. Glatt­ nadeln verwendet werden, die eine durchgehend glatte Oberfläche besitzen, ohne daß sie aus dem Adapter 1 fallen. Glattnadeln sind z. B. Nadeln, die über ihre ge­ samte Länge einen konstanten Querschnitt aufweisen oder lediglich an einem Ende konisch verjüngt sind. Kostengünstige Glattnadeln besitzen im unbelasteten Zustand einen geradlinigen Verlauf. Der Adapter nach Fig. 1 weist zwei Glattnadeln 7 auf. Die Längenänderungen aufgrund des Biegens der Prüfnadeln 7 sind so gering, daß sie von den federnden Prüfstiften 8 der Vollrasterkassette 9 vollständig ausgeglichen werden.By bending the test needles 7 in the area between the two units 12 and 16 , a tension is built up in the test needles 7 , which leads to a frictional engagement at the guide holes 6 . This frictional connection allows rigid or smooth needles to be used which have a continuously smooth surface without falling out of the adapter 1 . Smooth needles are e.g. B. needles that have a constant cross-section over their entire length or are only tapered at one end. Inexpensive straight needles have a straight course in the unloaded state. The adapter of FIG. 1 has two smooth needles. 7 The changes in length due to the bending of the test needles 7 are so small that they are completely compensated for by the resilient test pins 8 of the full grid cassette 9 .

Während des Testens einer zu prüfenden Leiterplatte 11 wird der Adapter 1 gegen die Leiterplatte 11 gedrückt, so daß das Federelement 14 etwas zusammengedrückt wird und die Prüfnadeln 7 sowohl an der Basisplatte 2 als auch an der Kontaktplatte 5 ein Stück vorstehen, um die Prüfstifte 8 der Vollrasterkassette 9 bzw. die Leiter­ plattentestpunkte 10 der zu prüfenden Leiterplatte 11 sicher zu kontaktieren. Die Prüfnadeln müssen deshalb beim Beaufschlagen mit einer Kraft in Axialrichtung an einer Seite des Adapters zumindest einen erheblichen Teil dieser Kraft auf die ande­ re Seite des Adapters übertragen. Sie dürfen deshalb nicht die beaufschlagte Kraft durch seitliches Ausbiegen im Bereich zwischen den beiden Einheiten absorbieren.During the testing of a circuit board 11 to be tested, the adapter 1 is pressed against the circuit board 11 , so that the spring element 14 is compressed somewhat and the test needles 7 protrude a bit both on the base plate 2 and on the contact plate 5 , around the test pins 8 Full grid cassette 9 or the circuit board test points 10 of the circuit board 11 to be tested to contact safely. The test needles must therefore transmit at least a substantial part of this force to the other side of the adapter when a force is exerted in the axial direction on one side of the adapter. Therefore, you must not absorb the applied force by bending out in the area between the two units.

Es hat sich gezeigt, daß der Reibschluß zwischen den Führungslöchern 6 und den Prüfnadeln 7 so gering ist, daß bei einer solchen Beaufschlagung die Prüfnadeln 7 durch die entsprechenden Führungslöcher 6 zum Kontaktieren der Leiterplattentest­ punkte 10 bzw. der Prüfstifte 8 gleiten können, ohne daß die Prüfnadeln 7 im Bereich zwischen den beiden Einheiten 12 und 16 seitlich ausbiegen. Es sind Versuche mit einem Adapter mit Glattnadeln durchgeführt worden, deren Durchmesser 0,2 mm, 0,25 mm und 0,3 mm betragen hat. Der Abstand A zwischen den Einheiten 12 und 16, der der Länge des Abstandhalters 17 entspricht betrug hierbei 20 mm bis 30 mm. Mit diesem Adapter sind maximale Versätze im Bereich von 5 bis 8 mm zwischen den Führungslöchern 6 der beiden Einheiten 12, 16 realisiert worden, ohne daß die Prüfnadeln zu stark ausgebogen sind. Überraschenderweise hat sich bei diesen Ver­ suchen gezeigt, daß sogar ein Versatz von 10 mm möglich ist.It has been shown that the frictional engagement between the guide holes 6 and the test needles 7 is so low that the test needles 7 can be slid through the corresponding guide holes 6 for contacting the circuit board test points 10 or the test pins 8 with such an exposure, without the Bend out test needles 7 in the area between the two units 12 and 16 . Experiments have been carried out with an adapter with smooth needles, the diameter of which was 0.2 mm, 0.25 mm and 0.3 mm. The distance A between the units 12 and 16 , which corresponds to the length of the spacer 17 , was 20 mm to 30 mm. With this adapter, maximum offsets in the range of 5 to 8 mm between the guide holes 6 of the two units 12 , 16 have been realized without the test needles being bent out too much. Surprisingly, it has been found in these tests that even an offset of 10 mm is possible.

Falls stärkere Reibschlüsse auftreten sollten, beispielsweise aufgrund von größeren Versätzen, stärkeren Nadeln oder dergleichen, kann es zweckmäßig sein, die Prüf­ nadeln 7 mit einer reibungsmindernden Beschichtung zu versehen. Eine derartige geeignete Beschichtung ist z. B. Teflon. Mit einer solchen Beschichtung wird der Reibschluß begrenzt und ein seitliches Ausbiegen der Prüfnadeln im Bereich zwi­ schen der beiden Einheiten 12, 16 verhindert, wenn die Prüfnadeln 7 im Betrieb an einem Ende mit einer Schiebekraft beaufschlagt werden.If stronger frictional engagements should occur, for example due to larger offsets, stronger needles or the like, it may be appropriate to provide the test needles 7 with a friction-reducing coating. Such a suitable coating is e.g. B. Teflon. With such a coating, the frictional engagement is limited and lateral bending of the test needles in the area between the two units 12 , 16 is prevented if the test needles 7 are subjected to a pushing force at one end during operation.

Eine weitere Möglichkeit, den Reibschluß der Prüfnadeln 7 gering zu halten, ist das Vorsehen von Gelenkabschnitten 25 an den Prüfnadeln 7 (Fig. 3, 4). Die Gelenkab­ schnitte 25 sind durch verjüngte Bereiche an den Prüfnadeln 7 ausgebildet. An die­ sen Gelenkabschnitten 25 können die Prüfnadeln 7 mit geringem Kraftaufwand ab­ gebogen werden. Hierdurch werden die durch die Verspannung erzeugten Reibungs­ kräfte gering gehalten und ein Gleiten der Prüfnadeln 7 durch die Führungslöcher 6 ist bei einer entsprechenden Beaufschlagung mit einer Kraft in Axialrichtung möglich, ohne daß die Prüfnadeln 7 im Bereich zwischen den beiden Einheiten 12, 16 seitlich ausbiegen.Another possibility of keeping the frictional engagement of the test needles 7 low is to provide articulated sections 25 on the test needles 7 (FIGS . 3, 4). The articulated sections 25 are formed by tapered areas on the test needles 7 . At the sen joint sections 25 , the test needles 7 can be bent from with little effort. As a result, the frictional forces generated by the bracing are kept low and sliding of the test needles 7 through the guide holes 6 is possible with a corresponding application of a force in the axial direction without the test needles 7 bending out laterally in the area between the two units 12 , 16 .

Fig. 3 zeigt ein Ausführungsbeispiel einer Prüfnadeln mit zwei Gelenkabschnitten 25. In Fig. 4 ist ein Ausführungsbeispiel einer Prüfnadel mit einem einzigen Gelenkab­ schnitt 25 dargestellt. Die Kontaktspitze 26 dieser Prüfnadel 7 ist über einen längeren Bereich verjüngt ausgebildet. Diese Prüfnadel 7 ist für einen Adapter 1 geeignet, wie er in Fig. 1 gezeigt ist, dessen zur prüfenden Leiterplatte 11 benachbarte Einheit 16 aus lediglich einer einzigen Führungsplatte, der Kontaktplatte 5 besteht. Die ver­ jüngte Kontaktspitze 26 erstreckt sich über die gesamte Länge des jeweiligen Füh­ rungsloches 6 der Kontaktplatte 5, so daß bei einer Abbiegung der Prüfnadel 7 im Adapter 1 diese an der Kontaktspitze 26 und am Gelenkabschnitt 25 gebogen wird. Die restlichen Bereiche der Prüfnadel 7 verlaufen hingegen geradlinig. Fig. 3 shows an embodiment of a test needles with two joint portions 25. In Fig. 4 an embodiment of a test needle with a single articulated section 25 is shown. The contact tip 26 of this test needle 7 is tapered over a longer area. This test needle 7 is suitable for an adapter 1 , as shown in FIG. 1, whose unit 16 adjacent to the printed circuit board 11 consists of only a single guide plate, the contact plate 5 . The ver young contact tip 26 extends over the entire length of the respective Füh approximately 6 of the contact plate 5 , so that when the test needle 7 is bent in the adapter 1, this is bent at the contact tip 26 and at the joint section 25 . The remaining areas of the test needle 7 , however, run in a straight line.

In Fig. 2 ist grob schematisch vereinfacht eine Vorrichtung zum automatischen Be­ stücken eines erfindungsgemäßen Adapters 1 dargestellt. Die Bestückungsvorrich­ tung 28 weist eine Auflageplatte 29 mit einem Aufnahmebereich 30 für einen zu be­ stückenden Adapter 1 auf, der durch Halterungen 31 zum Fixieren des Adapters 1 auf der Auflageplatte 29 begrenzt ist. Mit den Halterungen 31 wird die untere Einheit 12 des Adapters 1 auf der Auflageplatte 29 fixiert. Auf der Auflageplatte 29 sind Ver­ stelleinrichtungen 32 vorgesehen, die an der oberen Einheit 16 des Adapters 1 mit jeweils einem Stellzylinder angreifen und die obere Einheit 16 auf der unteren Einheit 12 verschieben können. Die Stellzylinder 33 werden beispielsweise elektrisch von einem Spindelantrieb derart betätigt, daß eine Positionierung der oberen Einheit 16 mit einer Genauigkeit von 0,1 mm möglich ist.In Fig. 2, a device for automatically loading an adapter 1 according to the invention is shown roughly schematically simplified. The Bestückungsvorrich device 28 has a support plate 29 with a receiving area 30 for a piece to be be adapter 1 , which is limited by brackets 31 for fixing the adapter 1 on the support plate 29 . The lower unit 12 of the adapter 1 is fixed on the support plate 29 with the brackets 31 . On the support plate 29 Ver adjusting devices 32 are provided, which engage the upper unit 16 of the adapter 1 with a respective actuating cylinder and can move the upper unit 16 on the lower unit 12 . The actuating cylinders 33 are actuated, for example, electrically by a spindle drive in such a way that the upper unit 16 can be positioned with an accuracy of 0.1 mm.

Die Bestückungsvorrichtung weist ferner einen Sammelbehälter 34 für die zu bestüc­ kenden Prüfnadeln auf, in dem eine Vereinzelungseinrichtung integriert ist, die die Prüfnadeln vereinzelt und über ein Rohrsystem 35 den Führungslöchern 6 des Ad­ apters 1 zuführen. Das Rohrsystem 35 wird beispielsweise von einem Roboterarm (nicht dargestellt) über den jeweiligen Führungslöchern 6 positioniert. Die Prüfnadeln werden vom Sammelbehälter 34 durch das Rohrsystem 35 und in die Führungslö­ cher 6 beispielsweise mittels Druckluft befördert. Es sind jedoch auch Rohrsysteme bekannt, bei welchen die Prüfnadeln durch Schwerkraft und mit mechanischen Mit­ teln befördert werden. Das Rohrsystem 35 weist an seinem freien Ende einen trich­ terförmigen Ausgang 36 auf, mit dem die Prüfnadeln sehr präzise in die Führungslö­ cher 6 eingeführt werden können.The assembly device also has a collecting container 34 for the test needles to be fitted, in which a separating device is integrated, which separates the test needles and feeds the guide holes 6 of the adapter 1 via a pipe system 35 . The pipe system 35 is positioned, for example, by a robot arm (not shown) over the respective guide holes 6 . The test needles are conveyed from the collecting container 34 through the pipe system 35 and into the guide holes 6, for example by means of compressed air. However, pipe systems are also known in which the test needles are conveyed by gravity and by mechanical means. The pipe system 35 has at its free end a funnel-shaped outlet 36 with which the test needles can be inserted very precisely into the guide holes 6 .

Das Bestücken des Adapters 1 erfolgt in der oben beschriebenen Art und Weise, bei der jeweils korrespondierende Führungslöcher 6 des Adapters 1 durch Verschieben mittels der Stelleinrichtung 32 in Flucht angeordnet werden und dann das Rohrsy­ stem 35 über die fluchtenden Führungslöcher 6 positioniert wird, so daß die Prüfna­ deln in den Adapter 1 eingeführt werden. Diese Vorgänge mit den Schritten des Verschiebens bzw. Einführen der Prüfnadeln werden so oft wiederholt, bis der Adapter 1 vollständig bestückt ist.The adapter 1 is fitted in the manner described above, in which the corresponding guide holes 6 of the adapter 1 are aligned by moving by means of the actuating device 32 and then the Rohrsy stem 35 is positioned over the aligned guide holes 6 , so that the Test needles are inserted into adapter 1 . These processes with the steps of displacing or inserting the test needles are repeated until the adapter 1 is fully equipped.

Die Bestückungsvorrichtung kann auch halbautomatisch ausgebildet sein, indem ein Trichter vorgesehen ist, der automatisch über den entsprechenden Führungslöchern positioniert wird. In diesen Trichter werden die Prüfnadeln von Hand eingegeben.The placement device can also be designed semi-automatically by a Hopper is provided, which automatically over the corresponding guide holes is positioned. The test needles are entered into this funnel by hand.

Für den erfindungsgemäßen Adapter ist es zweckmäßig, daß die Prüfvorrichtung zum Testen von Leiterplatten, die oftmals Verschiebemechanismen zum Justieren des Adapters bezüglich der Leiterplatte bzw. der Leiterplatte bezüglich des Adapters besitzen, diese derart weiterzubilden, daß mit diesen Verschiebemechanismen auch die Einheiten 12, 16 des Adapters 1 gegeneinander verschoben werden können. Mit einer solchen Verschiebeeinrichtung wäre es dann z. B. möglich, eine defekte Prüf­ nadel 7 an der Prüfvorrichtung auszutauschen, wobei mit Hilfe der Verschiebeein­ richtung die entsprechenden Führungslöcher 6 in Flucht gebracht werden. Hierdurch können einfache Wartungsarbeiten unmittelbar an der Prüfvorrichtung vorgenommen werden, ohne daß der gesamte Aufbau auf dem Grundraster der Prüfvorrichtung zerlegt werden muß.For the adapter according to the invention, it is expedient that the test device for testing printed circuit boards, which often have displacement mechanisms for adjusting the adapter with respect to the printed circuit board or the printed circuit board with respect to the adapter, is to be further developed such that the units 12 , 16 of the Adapters 1 can be moved against each other. With such a shifting device it would then be z. B. possible to replace a defective test needle 7 on the test device, the corresponding guide holes 6 being brought into alignment with the aid of the displacement device. As a result, simple maintenance work can be carried out directly on the test device without the entire structure having to be disassembled on the basic grid of the test device.

Eine solche Verschiebeeinrichtung kann auch in den Adapter integriert sein. Es kann eine mit einem elektrisch betätigbaren Element (z. B. Piezoelement) ausgebildete Verschiebeeinrichtung vorgesehen sein. Es ist jedoch auch möglich eine manuell betätigbare Verschiebeeinrichtung vorzusehen.Such a displacement device can also be integrated in the adapter. It can one designed with an electrically actuable element (e.g. piezo element) Sliding device can be provided. However, it is also possible to do one manually to provide actuatable displacement device.

Eine sehr einfache Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Stelleinrichtung ist in den Fig. 5 bis 6c dargestellt. Hierbei sind in den Führungsplatten 2 bis 5 der beiden Einheiten 12, 16 in einem übereinander angeordneten Bereich jeweils eine Lochmatrix 37 ausgebildet. Im dargestellten Ausführungsbeispiel weist jede Lochmatrix 7 × 7 Löcher 38a, 38b auf, die in einem Quadrat mit jeweils konstantem Lochabstand a bzw. b zwi­ schen den benachbarten Löchern 38a, 38b angeordnet sind. Die Löcher 38a, 38b sind in jeweils sieben Spalten 39 und sieben Reihen 40 angeordnet, wobei sich die Spalten in Y-Richtung und die Reihen in X-Richtung erstrecken. A very simple embodiment of an actuating device according to the invention is shown in FIGS. 5 to 6c. Here, a hole matrix 37 is formed in the guide plates 2 to 5 of the two units 12 , 16 in a region arranged one above the other. In the illustrated embodiment, each hole matrix has 7 × 7 holes 38 a, 38 b, which are arranged in a square with a constant hole spacing a or b between the adjacent holes 38 a, 38 b. The holes 38 a, 38 b are each arranged in seven columns 39 and seven rows 40 , the columns extending in the Y direction and the rows in the X direction.

Die Löcher 38a, 38b der beiden Matrizen sind jeweils mit unterschiedlichem Rastermaß angeordnet. Der Lochabstand a der Löcher 38a (weiß in Fig. 6a bis 6c) der der Füh­ rungsplatte 5 der oberen Einheit 16 ist z. B. um Δs größer oder kleiner als der Lochab­ stand b der Löcher 38b (schwarz in Fig. 6a bis 6c) der Führungsplatten 2 bis 4 der un­ teren Einheit 12. In den beiden Matrizen 37 sind jeweils die Löcher 38a, 38b gleicher Reihe 40 und gleicher Spalte 39 einander paarweise zugeordnet. Durch Einstecken eines Stiftes (nicht dargestellt) in ein solches Lochpaar werden die beiden Löcher 38a, 38b des Lochpaares zueinander fluchtend ausgerichtet, wodurch die beiden Einheiten 12, 16 entsprechend relativ zueinander verschoben werden.The holes 38 a, 38 b of the two matrices are each arranged with different grid dimensions. The hole spacing a of the holes 38 a (white in Fig. 6a to 6c) of the guide plate 5 of the upper unit 16 is z. B. by Δs larger or smaller than the hole spacing b of the holes 38 b (black in FIGS. 6a to 6c) of the guide plates 2 to 4 of the lower unit 12 . In the two matrices 37 , the holes 38 a, 38 b of the same row 40 and the same column 39 are assigned to one another in pairs. By inserting a pin (not shown) into such a pair of holes, the two holes 38 a, 38 b of the pair of holes are aligned with one another, as a result of which the two units 12 , 16 are correspondingly displaced relative to one another.

In einer Ausgangs-Stellung (Fig. 6a) wird das zentrale Lochpaar mit den Löchern 37a, 37b der vierten Reihe und der vierten Spalte zueinander fluchtend ausgerichtet, so daß die beiden Matrizen zueinander zentrisch ausgerichtet sind. Die Löcher 37a, 37b eines Lochpaares, das von dem zentralen Lochpaar um n Spalten und k Reihen entfernt ist, weisen einen Versatz von n . Δs in X-Richtung und k . Δs in Y-Richtung auf. Das bedeu­ tet, daß der Versatz umso größer ist, je weiter die Lochpaare vom zentralen Lochpaar beabstandet sind. Wird somit ein anderes Lochpaar als das zentrale Lochpaar durch Einstecken eines Stiftes in Flucht gebracht, so werden die Einheiten 12, 16 um diesen Versatz verschoben. Werden z. B. die Löcher des Lochpaares der siebten Reihe und der siebten Spalte (Fig. 6b) zueinander ausgerichtet, so wird die obere Einheit 16 ge­ genüber der unteren Einheit 12 um 3 . Δs in X-Richtung nach rechts und um 3 . Δs in Y- Richtung nach unten verschoben, wie es an den seitlich dargestellten Testmar­ kierungen 41 für die obere Einheit 16 bzw. den Testmarkierungen 42 für die untere Einheit 12 erkennbar ist.In a starting position (FIG. 6a), the central pair of holes with the holes 37 is a, 37 of the fourth row and the fourth column, b to each other in alignment, so that the two arrays are aligned centrally. Holes 37 a, 37 b of a pair of holes that are n columns and k rows away from the central pair of holes have an offset of n. Δs in the X direction and k. Δs in the Y direction. This means that the further the hole pairs are spaced from the central hole pair, the greater the offset. If a pair of holes other than the central pair of holes is thus brought into alignment by inserting a pin, the units 12 , 16 are shifted by this offset. Are z. B. the holes of the pair of holes of the seventh row and the seventh column ( Fig. 6b) aligned with each other, the upper unit 16 ge compared to the lower unit 12 by 3. Δs in the X direction to the right and by 3. Δs shifted downward in the Y direction, as can be seen from the test markings 41 on the side for the upper unit 16 and the test markings 42 for the lower unit 12 .

In Fig. 6c sind die Löcher 38a, 38b des Lochpaares der ersten Spalte und der dritten Reihe in Flucht gebracht, so daß die obere Einheit 16 gegenüber der unteren Einheit 12 um 3 . Δs in X-Richtung nach links und um 1 . Δs in Y-Richtung nach oben verschoben ist.In Fig. 6c the holes 38 a, 38 b of the pair of holes of the first column and the third row are aligned, so that the upper unit 16 relative to the lower unit 12 by 3. Δs in the X direction to the left and by 1. Δs is shifted up in the Y direction.

Mit den Lochmatrizen 37 können die Einheiten 12, 16 sehr präzise zueinander positio­ niert werden. Vorzugsweise weist ein Adapter zwei Verstelleinrichtungen mit derartigen Lochmatrizen 37 auf, so daß die relative Position der beiden Einheiten 12, 16 eindeutig festgelegt ist.With the perforated dies 37 , the units 12 , 16 can be positioned very precisely with respect to one another. An adapter preferably has two adjustment devices with perforated matrices 37 of this type, so that the relative position of the two units 12 , 16 is clearly defined.

Diese mit Lochmatrizen ausgebildete Stelleinrichtung des Adapters kann mit einer Prüfvorrichtung dahingehend kombiniert werden, daß die Prüfvorrichtung mit einer Funktion zur Berechnung der Verschiebeposition ausgerüstet ist, damit die einer Prüf­ nadel zugeordneten Führungslöcher in Flucht gebracht werden können. Denn in jeder Prüfvorrichtung sind die Koordinaten aller Leiterplattentestpunkte und damit die Koor­ dinaten der Führungsbohrungen der oberen Einheit 16 und die Koordinaten aller Prüf­ kontakte des Grundrasters gespeichert.This designed with hole matrices adjusting device of the adapter can be combined with a test device in that the test device is equipped with a function for calculating the displacement position so that the guide holes associated with a test needle can be brought into alignment. The coordinates of all circuit board test points and thus the coordinates of the guide bores of the upper unit 16 and the coordinates of all test contacts of the basic grid are stored in each test device.

Wenn eine bestimmte Nadel defekt ist, kann die Verschiebeposition für diese Nadel anhand der gespeicherten Koordinaten berechnet werden. Diese Verschiebeposition wird an einer Anzeige der Prüfvorrichtung ausgegeben, so daß ein Benutzer der Prüfvorrichtung den Stift in die Lochmatrix zum Ausrichten der entsprechenden Füh­ rungslöcher stecken kann.If a particular needle is defective, the shift position for that needle may change can be calculated from the saved coordinates. This shift position is output on a display of the test device so that a user of the Check the pin in the hole matrix to align the corresponding guide holes.

Mit dieser Verschiebeeinrichtung kann die Anordnung der beiden Einheiten 12, 16 zueinander fixiert werden. Diese Verschiebeeinrichtung kann auch zum Justieren der Kontaktplatte 5 bzgl. der zu prüfenden Leiterplatte 11 verwendet werden.The arrangement of the two units 12 , 16 can be fixed to one another with this displacement device. This displacement device can also be used to adjust the contact plate 5 with respect to the circuit board 11 to be tested.

Das oben beschriebene Ausführungsbeispiel eines Adapters 1 besitzt zwei Einheiten 12, 16, wobei die untere Einheit drei Führungsplatten aufweist und die obere Einheit lediglich eine einzige Führungsplatte aufweist. Im Rahmen der Erfindung ist es grundsätzlich möglich, beide Einheiten lediglich mit einer einzigen Führungsplatte auszubilden oder in beiden Einheiten mehrere Führungsplatten vorzusehen. Ein we­ sentlicher Vorteil der Erfindung gegenüber dem Stand der Technik ist, daß aufgrund der geradlinigen Führung der Prüfnadel innerhalb einer Einheit 12, 16 weniger Füh­ rungsplatten notwendig sind, wodurch sich der gesamte Aufbau des Adapters ver­ einfacht. Der wesentliche Vorteil des erfindungsgemäßen Adapters ist, daß er deut­ lich günstiger herstellbar ist, als bekannte Adapter mit schräg gestellten Nadeln, bei welchen die Bohrungen sehr aufwendig eingebracht werden müssen. Alle Führungs­ platten einer Einheit des erfindungsgemäßen Adapters sind mit dem gleichen Bohrmuster gebohrt, entweder dem Muster der Leiterplattentestpunkte auf der zu prüfen­ den Leiterplatte oder dem Muster des Grundrasters der Prüfvorrichtung. Beide Mu­ ster sind in der Regel bekannt und als CAD-Daten in den entsprechenden Produkti­ onssystemen gespeichert, so daß ein entsprechendes Bohrprogramm ohne große Berechnungen lediglich durch übertragen dieser Daten auf eine Vorrichtung zum Bohren von Leiterplatten erzeugt werden kann.The exemplary embodiment of an adapter 1 described above has two units 12 , 16 , the lower unit having three guide plates and the upper unit having only a single guide plate. In the context of the invention, it is fundamentally possible to design both units with only a single guide plate or to provide a plurality of guide plates in both units. A significant advantage of the invention over the prior art is that due to the linear guidance of the test needle within a unit 12 , 16 less guide plates are necessary, thereby simplifying the entire structure of the adapter. The main advantage of the adapter according to the invention is that it can be manufactured significantly more economically than known adapters with inclined needles, in which the holes have to be made very expensively. All guide plates of a unit of the adapter according to the invention are drilled with the same drilling pattern, either the pattern of the circuit board test points on the circuit board to be tested or the pattern of the basic grid of the test device. Both patterns are generally known and stored as CAD data in the corresponding production systems so that a corresponding drilling program can be generated without large calculations simply by transferring this data to a device for drilling printed circuit boards.

Ein weiterer Vorteil des erfindungsgemäßen Adapters ist, daß durch die Verspan­ nung der Prüfnadeln 7 Glattnadeln ohne zusätzliche Einrichtungen zum Fixieren der Nadeln im Adapter verwendet werden können. Es muß lediglich sichergestellt sein, daß bei der Handhabung des Adapters außerhalb der Bestückungsvorrichtung 28 und außerhalb der Prüfvorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten jede Nadel eine vor­ bestimmte Verspannung aufweist. Hierzu kann es zweckmäßig sein, Eine Null- Stellung zu berechnen, in der alle Führungslöcher 6 einer der beiden Einheiten 12, 16 einen Mindest-Versatz zu den korrespondierenden Führungslöchern 6 der ande­ ren Einheiten aufweisen. Dieser Mindest-Versatz ist derart bemessen, daß die Füh­ rungsnadeln 7 durch den Reibschluß bei normaler Handhabung des Adapters nicht aus diesem fallen können. Die Berechnung der Null-Stellung wird vorab beim Entwurf des Adapters ausgeführt. Ein solcher Adapter ist mit Elementen zum Fixieren der Position der beiden Einheiten 12, 16 versehen. Ein solches Element ist z. B. ein Paß­ stift, der in entsprechende Paßlöcher innerhalb der Halteplatte 21 und der Kontakt­ platte 5 eingesteckt wird. Ein solches Element ist z. B. auch die Stelleinrichtung nach den Fig. 5 bis 6c, die z. B. in der Ausgangsstellung als Null-Stellung fixierbar ist.Another advantage of the adapter according to the invention is that by spanning the test needles 7 smooth needles can be used without additional devices for fixing the needles in the adapter. It only has to be ensured that when handling the adapter outside the assembly device 28 and outside the test device for testing printed circuit boards, each needle has a predetermined tension. For this purpose, it may be expedient to calculate a zero position in which all the guide holes 6 of one of the two units 12 , 16 have a minimum offset to the corresponding guide holes 6 of the other units. This minimum offset is such that the Füh needles 7 can not fall out of this by the frictional engagement during normal handling of the adapter. The zero position is calculated in advance when designing the adapter. Such an adapter is provided with elements for fixing the position of the two units 12 , 16 . Such an element is e.g. B. a passport pin which is inserted into corresponding fitting holes within the holding plate 21 and the contact plate 5 . Such an element is e.g. B. also the adjusting device according to FIGS. 5 to 6c, the z. B. can be fixed in the starting position as a zero position.

Anhand von Computerprogrammen kann eine Stellung der beiden Einheiten ermittelt werden, bei der alle Führungslöcher innerhalb eines gewissen Versatzbereichs ver­ setzt angeordnet sind. Mit dem Paßstift werden die beiden Einheiten in dieser Stel­ lung fixiert.A position of the two units can be determined using computer programs where all pilot holes are ver within a certain offset range sets are arranged. With the dowel, the two units in this position lung fixed.

Anstelle einer Fixierung des Versatzes der Führungslöcher der beiden Einheiten zum Halten von Glattnadeln im Adapter ist es auch möglich, lediglich eine einzige Füh­ rungsplatte einer Einheit gegenüber den anderen Führungsplatten quer zur Längs­ richtung der Prüfnadeln verschieblich auszubilden und zum Fixieren der Führungsnadeln ein Stück versetzt (z. B. um 0,1 bis 0,2 mm versetzt) gegenüber den anderen Führungsplatten anzuordnen. Bei einer solchen Ausführungsform sind keinerlei Be­ rechnungen notwendig.Instead of fixing the offset of the guide holes of the two units for Holding smooth needles in the adapter is also possible, just a single guide tion plate of one unit compared to the other guide plates transverse to the longitudinal to form the direction of the test needles and to fix the guide needles  one piece offset (e.g. 0.1 to 0.2 mm apart) from the others Arrange guide plates. In such an embodiment there are no loading bills necessary.

Weiterhin ist beim erfindungsgemäßen Adapter vorteilhaft, daß die Führungslöcher durch zur Oberfläche der Führungsplatten senkrechte Bohrungen mit einem kon­ stanten Durchmesser eingebracht werden können. Durch diese senkrecht in den Führungsplatten verlaufenden Führungslöchern wird auch eine genauere Positionie­ rung der Prüfnadeln als bei schräg verlaufenden Nadeln erzielt, da bei der Erfindung die Prüfnadeln 7 senkrecht zur Oberfläche der Kontaktplatte 5 bzw. der Basisplatte 2 aus dem Adapter 1 hervorstehen. Dies ist insbesondere bei den zunehmend engeren Anordnungen der Leiterplattentestpunkte der zu prüfenden Leiterplatten von Vorteil.It is also advantageous in the adapter according to the invention that the guide holes can be introduced through holes perpendicular to the surface of the guide plates with a constant diameter. Through these guide holes running perpendicularly in the guide plates, a more precise positioning of the test needles is achieved than with obliquely running needles, since in the invention the test needles 7 protrude perpendicularly to the surface of the contact plate 5 or the base plate 2 from the adapter 1 . This is particularly advantageous with the increasingly narrow arrangement of the circuit board test points of the circuit boards to be tested.

Die Muster, mit welchen die Führungslöcher der Leiterplatten einer Einheit einge­ bracht sind, sind vorzugsweise identisch. Die Führungslöcher können jedoch auch innerhalb eines Toleranzbereiches etwas versetzt sein, wenn hierdurch nicht die au­ tomatische Bestückung des Adapters beeinträchtigt wird. Der Toleranzbereich ent­ spricht zumindest der Hälfte des Prüfnadeldurchmessers. Bei angefasten oder abge­ schrägten Führungslöchern kann er auch größer sein. The patterns with which the guide holes of the circuit boards of a unit are inserted are preferably identical. However, the guide holes can also be slightly offset within a tolerance range if this does not result in the au automatic fitting of the adapter is impaired. The tolerance range ent speaks at least half of the test needle diameter. When chamfered or chipped slanted guide holes it can also be larger.  

BezugzeichenlisteReference list

11

Adapter
adapter

22

Führungsplatte (Basisplatte)
Guide plate (base plate)

33rd

Führungsplatte
Guide plate

44

Führungsplatte
Guide plate

55

Führungsplatte (Kontaktplatte)
Guide plate (contact plate)

66

Führungsloch
Pilot hole

77

Prüfnadel
Test needle

88th

Prüfstift
Test pin

99

Vollrasterkassette
Full grid cassette

1010th

Leiterplattentestpunkt
PCB test point

1111

zu prüfende Leiterplatte
PCB to be tested

1212th

Einheit
unit

1313

Abstandshalter
Spacers

1414

Federelement
Spring element

1414

a Buchse
a socket

1414

b Buchse
b socket

1515

Doppelpfeil
Double arrow

1616

Einheit
unit

1717th

Abstandshalter
Spacers

1717th

a Auflageabschnitt
a support section

1818th

Auflagefläche
Contact surface

1919th

Halteelement
Holding element

2020th

Schafft
Can do it

2121

Halteplatte
Retaining plate

2222

Öffnung
opening

2323

Senke
Sink

2424th

4-fach-Pfeil
4-way arrow

2525th

Gelenkabschnitt
Joint section

2626

Kontaktspitze
Contact tip

2727

2828

Bestückungsvorrichtung
Assembly device

2929

Auflageplatte
Platen

3030th

Aufnahmebereich
Recording area

3131

Halterung
bracket

3232

Stelleinrichtung
Actuator

3333

Stellzylinder
Actuating cylinder

3434

Sammelbehälter
Collection container

3535

Rohrsystem
Pipe system

3636

Ausgang
output

3737

Lochmatrix
Hole matrix

3838

a Loch
a hole

3838

b Loch
b hole

3939

Spalte
column

4040

Reihe
line

4141

Testmarkierung
Test marker

4242

Testmarkierung
Test marker

Claims (24)

1. Adapter zum Prüfen von Leiterplatten mit

• - Prüfnadeln (7), die zum Verbinden eines Prüfkontaktes eines Grundrasters einer Prüfvorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten und eines Leiterplattentestpunktes der zu prüfenden Leiterplatte (11) vorgesehen sind,
• - Führungsplatten (2, 3, 4, 5), die mit Führungslöcher (6) versehen sind, durch die sich die Prüfnadeln (7) erstrecken, wobei die Führungslöcher (6) der zur prüfenden Leiterplatte (11) weisenden Führungsplatte (5) im gleichen Muster wie die Leiterplat­ tentestpunkte (10) einer zu prüfenden Leiterplatte (11) und die Führungslöcher (6) der zum Grundraster weisenden Führungsplatte (2) im gleichen Muster wie die Prüf­ kontakte des Grundrasters angeordnet sind,
  dadurch gekennzeichnet,
  daß die Führungsplatten (2, 3, 4, 5) zwei Einheiten (12, 16) bilden, die jeweils eine oder mehrere Führungsplatten (2, 3, 4, 5) umfassen,
  daß die Führungslöcher (6) aller Führungsplatten (2, 3, 4, 5) der jeweiligen Einheit (12, 16) im gleichen Muster angeordnet sind, und
  daß zumindest eine der beiden Einheiten (12, 16) derart quer zu den Prüfnadeln (7) verschieblich angeordnet ist, daß die einander zugeordneten Führungslöcher (6) der beiden Einheiten 12, 16), durch die sich die gleiche Prüfnadel (7) erstreckt, paarwei­ se in Flucht gebracht werden können.

1. Adapter for testing printed circuit boards with

• - Test needles ( 7 ) which are provided for connecting a test contact of a basic grid of a test device for testing printed circuit boards and a circuit board test point of the printed circuit board ( 11 ) to be tested,
• - Guide plates ( 2 , 3 , 4 , 5 ), which are provided with guide holes ( 6 ) through which the test needles ( 7 ) extend, the guide holes ( 6 ) of the guide plate ( 11 ) facing the test board ( 5 ) in the same pattern as the circuit board test points ( 10 ) of a circuit board ( 11 ) to be tested and the guide holes ( 6 ) of the guide plate ( 2 ) facing the basic grid are arranged in the same pattern as the test contacts of the basic grid,
  characterized by
  that the guide plates ( 2 , 3 , 4 , 5 ) form two units ( 12 , 16 ), each comprising one or more guide plates ( 2 , 3 , 4 , 5 ),
  that the guide holes ( 6 ) of all guide plates ( 2 , 3 , 4 , 5 ) of the respective unit ( 12 , 16 ) are arranged in the same pattern, and
  that at least one of the two units ( 12 , 16 ) is displaceably arranged transversely to the test needles ( 7 ) in such a way that the mutually assigned guide holes ( 6 ) of the two units 12 , 16 ) through which the same test needle ( 7 ) extends, in pairs can be brought into flight.

2. Adapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Führungslöcher (6) senkrecht zur Ebene der Führungsplatten (2, 3, 4, 5)) verlaufen.2. Adapter according to claim 1, characterized in that the guide holes ( 6 ) perpendicular to the plane of the guide plates ( 2 , 3 , 4 , 5 )). 3. Adapter nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen die beiden Einheiten (12, 16) ein Abstand von ca. 2 cm bis ca. 5 cm ausgebildet ist.3. Adapter according to claim 1 or 2, characterized in that a distance of about 2 cm to about 5 cm is formed between the two units ( 12 , 16 ). 4. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zumindest ein Teil der Prüfnadeln (7) zum Ausgleich eines Versatzes von einan­ der zugeordneten Führungslöcher (6) der beiden Einheiten (12, 16) im Bereich zwi­ schen den beiden Einheiten (12, 16) gebogen bzw. abgewinkelt sind.4. Adapter according to one of claims 1 to 3, characterized in that at least part of the test needles ( 7 ) to compensate for an offset of one of the associated guide holes ( 6 ) of the two units ( 12 , 16 ) in the area between the two units ( 12 , 16 ) are bent or angled. 5. Adapter nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Versätze zwischen den einander zugeordneten Führungslöchern (6) maximal 5 bis 8 mm betragen.5. Adapter according to claim 4, characterized in that the offsets between the mutually associated guide holes ( 6 ) amount to a maximum of 5 to 8 mm. 6. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfnadeln (7) zumindest in den sich durch die Führungslöcher (6) erstrec­ kenden Bereichen mit einer reibungsvermindernden Schicht, wie z. B. Teflon, be­ schichtet sind.6. Adapter according to one of claims 1 to 5, characterized in that the test needles ( 7 ) at least in the through the guide holes ( 6 ) erstrec kenden areas with a friction-reducing layer, such as. B. Teflon, be layers. 7. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß eine der beiden Einheiten (12, 16) lediglich eine einzige Führungsplatte (5) mit einer Dicke von zumindest 0,5 mm aufweist.7. Adapter according to one of claims 1 to 6, characterized in that one of the two units ( 12 , 16 ) has only a single guide plate ( 5 ) with a thickness of at least 0.5 mm. 8. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß alle Führungsplatten (2, 3, 4) einer Einheit (12, 16) in der Ebene quer zu den Prüfnadeln (7) nicht verschieblich miteinander verbunden sind.8. Adapter according to one of claims 1 to 7, characterized in that all guide plates ( 2 , 3 , 4 ) of a unit ( 12 , 16 ) in the plane transverse to the test needles ( 7 ) are not connected to one another. 9. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen den beiden Einheiten (12, 16) Federelemente derart angeordnet sind,
daß die beiden Einheiten (12, 16) in Längsrichtung der Prüfnadeln zueinander ela­ stisch beweglich angeordnet sind.9. Adapter according to one of claims 1 to 8, characterized in
that spring elements are arranged between the two units ( 12 , 16 ) in such a way
that the two units ( 12 , 16 ) in the longitudinal direction of the test needles are arranged ela stably movable. 10. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfnadeln (7) jeweils mit einem federnden Abschnitt ausgebildet sind, der ein Federwirkung in Längsrichtung der Prüfnadeln bewirkt.10. Adapter according to one of claims 1 to 9, characterized in that the test needles ( 7 ) are each formed with a resilient section which causes a spring action in the longitudinal direction of the test needles. 11. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfnadeln (7) eine Dicke von 0,15 mm bis 0,4 mm und vorzugsweise von 0,2 mm bis 0,3 mm besitzen.11. Adapter according to one of claims 1 to 10, characterized in that the test needles ( 7 ) have a thickness of 0.15 mm to 0.4 mm and preferably from 0.2 mm to 0.3 mm. 12. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfnadeln (7) über ihre gesamte Länge eine glatte Oberfläche aufweisen.12. Adapter according to one of claims 1 to 11, characterized in that the test needles ( 7 ) have a smooth surface over their entire length. 13. Prüfnadel zum Prüfen von Leiterplatten, insbesondere für einen Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfnadel (7) zumindest einen Gelenkabschnitt (25) aufweist.13. Test needle for testing printed circuit boards, in particular for an adapter according to one of claims 1 to 12, characterized in that the test needle ( 7 ) has at least one joint section ( 25 ). 14. Prüfnadel nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfnadel (7) zwei Gelenkabschnitte (25) aufweist. 14. Test needle according to claim 13, characterized in that the test needle ( 7 ) has two joint sections ( 25 ). 15. Prüfnadel nach Anspruch 13 oder 14, dadurch gekennzeichnet, daß der Gelenkabschnitt (25) durch eine Querschnittsverjüngung ausgebildet ist.15. Test needle according to claim 13 or 14, characterized in that the joint section ( 25 ) is formed by a cross-sectional taper. 16. Verfahren zum Bestücken eines aus mehreren Führungsplatten ausgebildeten Adapters, wobei in den Führungsplatten (2, 3, 4, 5) Führungslöcher (6) zum Aufneh­ men von Prüfnadeln (7) eingebracht sind, und
die Führungsplatten (2, 3, 4, 5) zwei Einheiten (12, 16) bilden, die jeweils eine oder mehrere Führungsplatten (2, 3, 4, 5) umfassen,
die Führungslöcher (6) aller Führungsplatten (2, 3, 4, 5) der jeweiligen Einheit (12, 16) im gleichen Muster angeordnet sind, und
zumindest eine der beiden Einheiten (12, 16) derart quer zu den Prüfnadeln (7) ver­ schieblich angeordnet ist, daß die einander zugeordneten Führungslöcher (6) der beiden Einheiten (12, 16), durch die sich die gleiche Prüfnadel (7) erstreckt, paarwei­ se in Flucht gebracht werden können, wobei die folgenden Schritte zum Einbringen einer oder mehrerer Prüfnadeln 7) wiederholt ausgeführt werden:

• a) Verschieben der verschieblichen Einheit (16) derart, daß die Führungslöcher (6) der beiden Einheiten (12, 16), die einer Prüfnadel (7) zugeordnet sind, in Flucht gebracht werden,
• b) Einführen einer oder mehrerer Prüfnadel (7) in fluchtende Führungslöcher.

16. A method for equipping an adapter formed from a plurality of guide plates, wherein guide holes ( 6 ) for receiving test needles ( 7 ) are introduced in the guide plates ( 2 , 3 , 4 , 5 ), and
the guide plates ( 2 , 3 , 4 , 5 ) form two units ( 12 , 16 ), each comprising one or more guide plates ( 2 , 3 , 4 , 5 ),
the guide holes ( 6 ) of all guide plates ( 2 , 3 , 4 , 5 ) of the respective unit ( 12 , 16 ) are arranged in the same pattern, and
at least one of the two units ( 12 , 16 ) is slidably arranged transversely to the test needles ( 7 ) in such a way that the mutually associated guide holes ( 6 ) of the two units ( 12 , 16 ) through which the same test needle ( 7 ) extends , in pairs can be brought into flight, the following steps for inserting one or more test needles 7 ) being carried out repeatedly:

• a) moving the displaceable unit ( 16 ) in such a way that the guide holes ( 6 ) of the two units ( 12 , 16 ), which are assigned to a test needle ( 7 ), are brought into alignment,
• b) inserting one or more test needle ( 7 ) into aligned guide holes.

17. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß ein Adapter (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 12 verwendet wird.17. The method according to claim 16, characterized in that an adapter ( 1 ) according to one of claims 1 to 12 is used. 18. Vorrichtung zum Ausführen des Verfahrens nach Anspruch 16 oder 17, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung einen Aufnahmebereich (30) zum Aufnehmen eines Adapters (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 12 aufweist, und mit einem Verschiebemechanis­ mus (32) versehen ist, der eine verschiebliche Einheit (16) des Adapters (1) automa­ tisch derart verschieben kann, daß einander zugeordneten Führungslöcher (6) von zwei Einheiten (12, 16) des Adapters (1), durch die sich die gleiche Prüfnadel (7) er­ streckt, paarweise in Flucht gebracht werden.18. Device for carrying out the method according to claim 16 or 17, characterized in that the device has a receiving area ( 30 ) for receiving an adapter ( 1 ) according to one of claims 1 to 12, and with a displacement mechanism ( 32 ) is provided , The one movable unit ( 16 ) of the adapter ( 1 ) can automatically move such that mutually associated guide holes ( 6 ) of two units ( 12 , 16 ) of the adapter ( 1 ) through which the same test needle ( 7 ) stretches, in pairs. 19. Vorrichtung nach Anspruch 18, gekennzeichnet durch
eine Einrichtung zum Vereinzeln der Prüfnadeln (7),
eine über den Führungslöcher positionierbare Zuführeinrichtung (35) zum Zuführen der einzelnen Nadeln, und
eine Einrichtung zum Beaufschlagen der Prüfnadeln mit einer Kraft, die die Prüfna­ deln (7) in die Führungslöcher (6) drückt.19. The apparatus according to claim 18, characterized by
a device for separating the test needles ( 7 ),
a feed device ( 35 ) that can be positioned over the guide holes for feeding the individual needles, and
a device for applying a force to the test needles which presses the test needles ( 7 ) into the guide holes ( 6 ). 20. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 19, gekennzeichnet durch eine Stelleinrichtung zum Einstellen der relativen Position der beiden Einheiten (12, 16).20. Adapter according to one of claims 1 to 19, characterized by an adjusting device for adjusting the relative position of the two units ( 12 , 16 ). 21. Adapter nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß die Stelleinrichtung durch eine Anzahl von Löchern (38a, 38b) ausgebildet ist, wobei die Löcher (38a, 38b) in einem sich überlappenden Bereich der beiden Ein­ heiten (12, 16) angeordnet sind und die Löcher (38a) in einem sich etwas unterschei­ denden Muster in die beiden Einheiten (12, 16) eingebracht sind, wobei jeweils ein Loch (38a) einer der beiden Einheiten (16) einem Loch (38b) der anderen Einheit (17) zugeordnet ist und die Löcher dieser einander zugeordneten Lochpaare bezüg­ lich einer Nullstellung, die einer idealen Justierung der Leiterplatte entspricht, jeweils in unterschiedliche Richtung und/oder mit unterschiedlichem Abstand voneinander beabstandet sind, so daß durch Einstecken eines Stiftes die zwei Löcher (38a, 38b) eines Lochpaares zueinander fluchtend ausgerichtet und die beiden Einheiten (12, 16) entsprechend relativ zueinander verschoben sind.21. Adapter according to claim 20, characterized in that the actuating device is formed by a number of holes ( 38 a, 38 b), the holes ( 38 a, 38 b) in an overlapping area of the two units ( 12 , 16 ) are arranged and the holes ( 38 a) are introduced in a somewhat different pattern into the two units ( 12 , 16 ), with one hole ( 38 a) each of the two units ( 16 ) having a hole ( 38 b ) is assigned to the other unit ( 17 ) and the holes of these mutually assigned pairs of holes bezüg Lich a zero position, which corresponds to an ideal adjustment of the circuit board, in each case in different directions and / or at a different distance from each other, so that by inserting a pin two holes ( 38 a, 38 b) of a pair of holes aligned with each other and the two units ( 12 , 16 ) are correspondingly displaced relative to each other. 22. Adapter nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß die Löcher (38a, 38b) jeweils in einer quadratischen Lochmatrix (37) angeordnet sind, wobei die Löcher (38a, 38b) jeweils einen konstanten Lochabstand (a, b) aufwei­ sen, wobei sich der Lochabstand (a) der Löcher der einen Einheit (16) von dem Lo­ chabstand (b) der anderen Einheit (12) um Δs unterscheidet.22. Adapter according to claim 21, characterized in that the holes ( 38 a, 38 b) are each arranged in a square hole matrix ( 37 ), the holes ( 38 a, 38 b) each having a constant hole spacing (a, b) aufwei sen, the hole spacing (a) of the holes of one unit ( 16 ) from the hole spacing (b) of the other unit ( 12 ) differs by Δs. 23. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 22, gekennzeichnet durch eine Fixiereinrichtung zum Fixieren der beiden Einheiten (12, 16) in einer Null- Stellung, in der alle Führungslöcher (6) einer der beiden Einheiten (12, 16) einen Mindest-Versatz zu den korrespondierenden Führungslöchern der anderen Einheit (12, 16) aufweisen, so daß alle Prüfnadeln (7) durch Reibschluß im Adapter gehalten werden.23. Adapter according to one of claims 1 to 22, characterized by a fixing device for fixing the two units ( 12 , 16 ) in a zero position in which all guide holes ( 6 ) of one of the two units ( 12 , 16 ) have a minimum Have an offset to the corresponding guide holes of the other unit ( 12 , 16 ) so that all test needles ( 7 ) are held in the adapter by friction. 24. Adapter zum Prüfen von Leiterplatten, insbesondere nach einem der Ansprüche 1 bis 22, mit

• - Prüfnadeln (7), die zum Verbinden eines Prüfkontaktes eines Grundrasters einer Prüfvorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten und eines Leiterplattentestpunktes der zu prüfenden Leiterplatte (11) vorgesehen sind, wobei die Prüfnadeln geradlinig und mit glatter Oberfläche ausgebildet sind,
• - Führungsplatten (2, 3, 4, 5), die mit Führungslöcher (6) versehen sind, durch die sich die Prüfnadeln (7) erstrecken, wobei die Führungslöcher (6) der zur prüfenden Leiterplatte (11) weisenden Führungsplatte (5) im gleichen Muster wie die Leiterplat­ tentestpunkte (10) einer zu prüfenden Leiterplatte (11) und die Führungslöcher (6) der zum Grundraster weisenden Führungsplatte (2) im gleichen Muster wie die Prüf­ kontakte des Grundrasters angeordnet sind, und
• - zumindest eine weitere Führungsplatte (3, 4) zwischen den beiden äußeren Füh­ rungsplatten (2, 5) angeordnet ist,

dadurch gekennzeichnet,
daß eine der weiteren Führungsplatten (3, 4) derart quer zu den Prüfnadeln (7) ver­ schieblich angeordnet und fixierbar ist, daß die Führungslöcher (6) dieser verschieb­ lich angeordneten Führungsplatte einen geringen Versatz zu den Führungslöchern der benachbart angeordneten Führungsplatten aufweist, so daß die Prüfnadeln (7) verspannt und gegen ein Herausfallen gesichert sind.24. Adapter for testing printed circuit boards, in particular according to one of claims 1 to 22, with

• - Test needles ( 7 ), which are provided for connecting a test contact of a basic grid of a test device for testing printed circuit boards and a circuit board test point of the printed circuit board ( 11 ) to be tested, the test needles being linear and having a smooth surface,
• - Guide plates ( 2 , 3 , 4 , 5 ), which are provided with guide holes ( 6 ) through which the test needles ( 7 ) extend, the guide holes ( 6 ) of the guide plate ( 11 ) facing the test board ( 5 ) in same pattern as the PCB test test points ( 10 ) of a circuit board to be tested ( 11 ) and the guide holes ( 6 ) of the guide plate ( 2 ) facing the basic grid are arranged in the same pattern as the test contacts of the basic grid, and
• - At least one further guide plate ( 3 , 4 ) between the two outer guide plates ( 2 , 5 ) is arranged,

characterized,
that one of the other guide plates ( 3 , 4 ) is slidably arranged and fixable ver transversely to the test needles ( 7 ) in such a way that the guide holes ( 6 ) of this displaceably arranged guide plate have a slight offset to the guide holes of the adjacent guide plates, so that the test needles ( 7 ) are clamped and secured against falling out.