DD295251A5 - Anordnung zum pruefen von leiterplatten - Google Patents

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Pruefen von Leiterplatten zur Anwendung in der leiterplattenherstellenden Industrie, zur Pruefung kleiner Serien unbestueckter Leiterplatten. Die Anordnung besteht aus mindestens zwei parallelen, absenkbaren Kontaktnadelreihen, von denen mindestens eine orthogonal verschiebbar ist. Weiterhin umfaszt sie eine Aufnahmevorrichtung fuer die zu pruefende Leiterplatte sowie an die Kontaktnadelreihen angeschlossene Pruefschaltungen. Die Steuerung der Bewegungen erfolgt durch einen Automaten. Fig. 1{Leiterplattenpruefung; Kontaktnadelreihen; Aufnahmevorrichtung; Pruefschaltungen}

Description

Anwendungsgebiet der Erfindung

Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Prüfen von Leiterplatten zur Anwendung in der leiterplattenherstellenden Industrie, zur Prüfung kleiner Serien unbestückter Leiterplatten.

Charakteristik des bekannten Standes der Technik

Stand der Technik ist es, unbestückte Leiterplatten mit Nadelbettadaptern zu prüfen. Solche Prüfvorrichtungen werden z. B. in den DE 3736689 und DE 3906691 beschrieben. Sie sind dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Platten benötigt werden, von denen mindestens eine in einem vorgegebenen Rastor befindliche Bohrungen besitzt. Die anderen Platten weisen in und/oder außer Raster befindliche Bohrungen auf.

Die Platten mit außer Raster befindlichen Bohrungen müssen für die Prüflinge individuell hergestellt werden.

Dadurch ergibt sich ein hoher Kostenanteil für die Fertigung der Adapter bei der Muster- und Kleinserienfertigung.

im WP DD 265003 wird eine Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten beschrieben, die mit einem verschiebbaren und einem drehbaren elektromagnetischen Arbeitstisch, ferromagnetischer Leiterplattenaufnahme und bezugsfestem Abtastsystem arbeitet.

Mit Hilfe elektromagnetischer Kraftwirkung wird die zu prüfende Leiterplatte, je nach Leiterzugverlauf, lagefixiert und kann dann in Abtastrichtung unter dem Abtastsystem hindurch bewegt werden.

Nachteilig bei dieser Methode ist, daß immer nur ein Leiterzug abgetastet werden kann und die Prüfung von Durchkontaktierungen unmöglich ist.

Eine weitere Prüfvorrichtung, bei der hochelastische leitfähige Polymere zum Einsatz kommen, beschreibt das WP DD2433fi7.

„Verbindungselemente werden in geeigneter Form als Kombination elektrisch leitfähiger Polymere hergestellt und als elastische Zwischenlage von einer Kontaktplatte gegen die zu prüfende Struktur gepreßt." Dabei muß die Deckungsgleichheit zwischen den Kontaktflächen dar Kontaktplatte und den Prüfpunkten gegeben sein.

Aus diesem Grund kann die Kontaktplatte nicht für die Testung jeder beliebigen Leiterplatte genutzt werden.

Durch die Herstellung der, für die zu prüfenden Leiterplatte, benötigten Kontaktplatte und das Befestigen der Verbindungselemente auf den Kontaktflächen bzw. auf einer Trägerplatte, entstehen für die Prüfung bei der Muster- und Kleinserienfertigung zu hohe Kosten.

Ziel der Erfindung

Ziel der Erfindung ist es, den Kostenanteil für die Prüfung zu .senken, um Muster und Kleinserien günstiger fertigen zu können.

Darlegung des Wesens der Erfindung

Die erfindungsgemäße Aufgabe besteht darin, die spezifisch zu fertigenden Nadelbettadapter oder Kontaktplatten bei der Prüfung unbestückter Leiterplatten zu vermeiden und trotidem die Prüfung von mehreren Leiterzügen oder Leiterzugabschnitten gleichzeitig zu ermöglichen.

Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe mittels einer Anordnung gelöst, die aus mindestens zwei parallelen, absenkbaren Kontaktnadelreihen besteht, von denen mindestens eine orthogonal verschiebbar ist.

Sie umfaßt weiterhin eine Aufnahmevorrichtung für din zu prüfende Leiterplatte sowie an die Kontaktnadelreihen angeschlossene Prüfschaltungen, die als Sender oder als Empfänger geschaltet werden können.

Die Steuerung der Bewegungen der Kontaktnadelreihon und der Aufnahmevorricchtung für die zu prüfende Leiterplatte sowie die Steuerung der Prüfschaltungen erfolgt durch einen Automaten, dem eine Beschreibung der fehlerfreien Leiterplatte eingegeben ist.

Das Steuerungsprogramm umfaßt mehrere Optimierungen, um die Prüfzeit durch Minimierung der Bewegungen der Kontaktreihen und der Leiterplatt» gering zu halten.

Nach dem ersten Durchlauf kann die Leiterplatte in fiiner Dreh- und Wendestation um 90 Grad gedreht und gewendet werden, um die Prüfanordnung nochmals zu durchlaufen. Di» Drehung erfolgt, weil der Prüfdurchlauf vorzugsweise in der Hauptrichtung der Leiterzüge der zu prüfenden Leiterplattenseite e.rfolgt und bei den meisten Leiterplatten diese Hauptrichtungen auf beiden Seiten um 90 Grad versetzt sind. Das Wenden erfolgt, um auch die andere Seite prüfen zu können.

Durchkontaktiorungen von Leiterplatten können ebenfalls geprüft werden, Indem unter der einen Nadelreihe eine entsprechende dritte oder auch vierte angeordnet wird und diese in die Prüfung durch Steuerung ihrer Bewegungen, des Absenkens und der Einstellung und Auswertung der Prüfschaltungen einbezogen werden.

Die Kontaktreihen sollen so ausgeführt sein, daß ein Ineinandergreifen der Kontaktreihen möglich Ist. Damit ist es möglich, auch Strukturen zu prüfen, deren Abstand kleiner als der Nadelabstand (ca. 1 d) Ist. Die kleinste prüfbare Struktur ist dann nur noch durch den Nadeldurchmesser gegeben.

Ausführungsbelsplel

Die Erfindung soll nachstehend an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert werden. Die zugehörigen Zeichnungen zeigen

Fig. 1: Prinzipieller Aufbau der Prüfanordnung

Fig.2: Vereinfachte Draufsicht bei Ineinandergreifen der Kontaktnadelreihen.

Fig. 1 beschreibt den prinzipiellen Aufbau. Die feste Reihe von absenkbaren Kontaktnadeln ist mit K1 bezeichnet, die verschiebbare Reihe mit K2. Es ist A die Aufnahmevorrichtung für die zu prüfende Leiterplatte (L), die die fünf Leiterzüge Z1... Z 5 tragensoll.

Mit der beschriebenen Anordnung läßt sich jode Leiterplatte prüfen, wenn unter den Voraussetzungen

- Leiterzug-Hauptrichtung in y-Rlchtung, (Kammrichtung in Richtung der x-Achse),

- Leiterplattenabmessungen La-xmax, La-ymax,

- die Nadeln in einer Reihe den Abstand r haben

- eine Nadelreihe (Kximax = Kylmax = 0) feststeht,

- die zweite um

Kx2max = r/2 und

Ky2max = La-ymax verschiebbar ist,

- die Leiterplatte um

Ixmax = r/2 und

lymax = la_ymax verschiebbar ist.

Dabei kann die Bedingung

Ixmax = r/2 und Kx1 max = 0 durch die Bedingung

Kx I max = r/2 und Ixmax ··= 0

ersetzt werden, was die Konstruktion vereinfachen kann.

Zwecks Prüfung wird die Leiterplatte L gesteuert unter der ersten Kontaktnadelreihe K1 hindurchgeschoben. Befindet sich ein Leiterzug unter der Kontaktnadelreihe K1, wird er durch Absenken der Nadeln kontaktiert. Zur Prüfung eines in Richtung von K1 verlaufenden Leiterzuges Z1 werden nur die Nadeln der Reihe K1 benötigt. Von den beiden Kontaktnadeln an dem Anfangs- und Endpunkt von Z1 wird die angeschlossene Prüfschaltung dereinen als Sender und der anderen als Empfängereines elektrischen Signals geschaltet. Ist der Leiterzug in Ordnung, empfängt der Empfänger das Signal des Senders, ist er unterbrochen, erfolgt dies nicht. Stimmen Anfangs- und/oder Endpunkt des Leiterzuges nicht mit dem Raster der Nadeln überein, wird zunächst nur ein Teilstück des Leitorzuges erfaßt und anschließend erfolgt eine gesteuerte Verschiebung der Leiterplatte so, daß das Ende des Leiterzuges durch eine Kontaktnadel getroffen wird, oder die zweite Nadelreihe wird gesteuert verschoben, so daß die Nadelreihen ineinander greifen, wie in Flg.2 zu sehen, und Anfangs- und Endpunkt des Leiterzuges kontaktiert sind. Längs verlaufende Leiterzüge wie Z2 werden so geprüft, daß, wenn der erste Teil von Z 2 unter der Nadelreihe K1 erscheint, dieser kontaktiert wird und das andere Ende oder ein Zwischenstück durch die Nadelreihe K2 erfaßt wird. Dann kann z. B. die den Leiterzug Z2 treffende Nadel der Nadelreihe K2 als Empfänger geschaltet werden, so daß die Prüfung des Leiterzuges Z2 oder eines Teilstücks erfolgen kann. Nebenliegende Nadeln können zur Kurzschlußprüfung anderer Leiterzüge gegen den Leiterzug Z2 herangezogen werden.

Claims (2)

1. Anordnung zum Prüfen von Leiterplatten, dadurch gekennzeichnet, daß sie aus mindestens zwei parallelen absenkbaren Kontaktnadelreihen (K1; K2), von denen mindestens eine gesteuert orthogonal verschiebbar ist, einer gesteuert verschiebbaren Aufnahmevorrichtung (A) für die zu prüfende Leiterplatte (L), an die Kontaktnadelreihen (K 1; K2) angeschlossene Prüfschaltungen sowie einem Automaten zur Steuerung der Bewegungen der Kontaktnadelreihen (K 1; K2) und der Leiterplatte (L) und zur Steuerung der an die Kontaktnadelreihen (K 1; K2) angeschlossenen Prüfschaltungen besteht.

   Hierzu
2. 2 Seiten Zeichnungen