DD214721A1 - Montage-anordnung fuer halbleiterbauelemente - Google Patents

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DD214721A1
DD214721A1 DD83249884A DD24988483A DD214721A1 DD 214721 A1 DD214721 A1 DD 214721A1 DD 83249884 A DD83249884 A DD 83249884A DD 24988483 A DD24988483 A DD 24988483A DD 214721 A1 DD214721 A1 DD 214721A1
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DD
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semiconductor chip
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semiconductor
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DD83249884A
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Wolfgang Beck
Lutz Volland
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Funkwerk Erfurt Veb K
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8338Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
    • H01L2224/83385Shape, e.g. interlocking features
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
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Abstract

Die Erfindung findet vorzugsweise bei der Montage von Halbleiterchips auf metallische Traegerkoerper bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen Anwendung. Ziel der Erfindung ist es, die Ausfallrate bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen zu senken. Es ist Aufgabe der Erfindung, eine Anordnung so auszubilden, dass bei thermischer Belastung einer mittels adhaesiven Materials hergestellten Verbindung zwischen einem Halbleiterchip und einem Traegerkoerper eine sichere Haftung des Halbleiterchips auf dem Traegerkoerper gewaehrleistet wird. Erfindungsgemaess wird die Aufgabe dadurch geloest, dass ein Halbleiterchip und / oder ein Traegerkoerper im Bereich seiner Befestigungsflaeche teilweise so strukturiert ist, dass der Traegerkoerper im Bereich der zum Befestigen des Halbleiterchips vorgesehenen Flaeche ein oder mehrere Vertiefungen bzw. Durchbrueche beliebiger Konfiguration enthaelt und das Halbleiterchip im Bereich seiner Befestigungsflaeche rillenartige Einschliffe aufweist.

Description

Titel der Erfindung
Montage-Anordnung für Halbleiterbauelements
Anwendungsgebiet der Erfindung
Die Erfindung findet vorzugsweise bei der Montage von Halbleiterchips auf metallische Trager körper bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen Anwendung.
Charakteristik der bekannten technischen Lösungen
Im Montage prozeß von Halbleiterbauelementen werden die Halbleiterchips durch-eutektisches Anlegieren, Weichlöten oder durch Kleben auf einem Trägerkörper befestigt.
Es ist eine Anordnung zur Befestigung eines Halbleiterchips auf einem Trägerkörper nach DS-OS 2 509 100 bekannt, wobei die Befestigung des Halbleiterchips auf dem Trägerkörper mittels Lötprozeß erfolgt und bei dem Halbleiterchips mit.glatter ebener ganzflächig metallisierter Unterseite verwendet werden. Nachteilig hierbei ist, daß aufwendige Prozesse und Einrichtungen zur Matallisierung der Unterseite des Halbleiterchips im Scheibenverband erfoderlich sind, v/eitere bekannte Anordnungen nach DE-OS 2 319 287 und DE-03 2 514 011, bei denen die Halbleiterchips auf
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einem im Zentrum eines Leitungsmusters angeordneten ebenen metallischen Trägerkörper befestigt sind, haben sich bei der Montage von Halbleiterchips mittels Lötprozeß, insbesondere für das eutektische Chipbonden von Siliciumchips unter Zufügen von Goldfolie bewährt, besitzen jedoch den Nachteil, daß bei der Montage mit adhäsiveni Material aufgrund der relativ hohen Temperaturbelastung beim nachfolgenden Thermokompressionsbonden der Ausfallprozentanteil infolge gelöster Chips erheblich ansteigt. . .
Ziel der Erfindung
Ziel der Erfindung ist es, die Ausfallrate bei der Herstellung .von Halbleiterbauelementen zu senken«
Darlegung des Wesens der Erfindung
An das thermische Verhalten von Verbindungen zwischen einem Halbleiterchip und einem Trägerkörper, die im Montageprozeß von Halbleiterbauelementen, insbesondere mittels adhäsiven Materials, hergestellt werden, sind zur Beherrschung -der Folgearbeitsgänge'wie beispielsweiseder.Drahtkontaktierung durch das Thermokompressionsverfahren hohe Anforderungen bezüglich einer sicheren Haftung der Halbleiterchips auf dem Trägerkörper zu stellen, die von den bekannten technischen Lösungen nicht in genügendem Maße erfüllt werden.
Es ist Aufgabe- der Erfindung,-eine Anordnung so auszubilden, daß bei thermischer -Belastung einer mittels adhäsiven Materials hergestellten· Verbindung zwischen einem Halbleiterchip und einem Trägerkörper eine sichere Haftung des Halbleiterchips auf dem Trägerkörper gewährleistet wird.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch, gelöst, daß ein Halbleiterchip und/oder ein Trägerkörper im Bereich, seiner Befestigungsflache teilweise so strukturiert ist, daß der Trägerkörper im Bereich der zum Befestigen des Halbleiterchips vorgesehenen Fläche ein oder mehre ie Vertiefungen bzw. Durchbrüche beliebiger Konfiguration enthält und das Halbleiterchip im Bereich seiner Befestigungsfläche rillenartige Einschliffe in Linien- oder ifetzfornr aufweist.
Ss ist zweckmäßig, daß die "Vertiefungen konisches Profil aufweisen und sich in der Tiefe bis zur halben Träge rk or pe rd icke erstrecken.
Es ist weiterhin zweckmäßig, daß der Durchbruch/die Durchbrüche annähernd doppelkonisch.es- bzw, zylindrisches Profil aufweisen.
Ferner ist es zweckmäßig, daß die Vertiefung/Vertie-fungen bzw. der Durchbruch/die Durchbrüche auf dem Trägerkörper so angeordnet ist/sind, daß die sie einschließende Fläche gegenüber der Halbleiterchipflache wesentlich kleiner ist* _ .
Der Vorteil der erfindungsgemäßen Lösung besteht darin, daß mit der besonderen strukturellen Ausgestaltung des Trägerkörpers bzw· Halbleiterchips die Verbindungsfläche zwischen Halbleiterehip und Trägerkörper indirekt vergrößert wird sowie ein besonders guter Verhakungseffekt des adhäsiven Materials erreicht wird und damit in dessen Folge eine feste Bindung zwischen aufgebrachtem Halbleiterchip und Trägerkörper gewährleistet wird,was sich, insgesamt vorteilhaft hinsichtlich der Stabilität der Verbindung auswirkt.
Dies ermöglicht wiederum eine extreme Senkung des Ausfallprozentanteils, infolge gelöster Halbleiterchips beim Arbeitsgang "Drahtkontaktierung" und damit eine wesentliche Kosteneinsparung bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen. . .
Ausführungsbeispiel
Nachfolgend soll die Erfindung anhand zweckmäßiger Realisierungsformen beschrieben werden. In der zugehörigen Zeichnung zeigen:
Pig, 1: die erfindungsgemäße Anordnung mit geätzten Vertie-fungen im Trägerkörper und glatter Chipunterseite
Fig. 2: die erfindungsgemäße Anordnung mit geätzten . Durchbrüchen im Trägerkörper und strukturierter Chipunterseite mit Einschliffen
Fig. 3: einen strukturierten Trägerkörper in Drauf- '. sieht
Fig. 4: eine strukturierte Chipunterseite
Fig« 5: die erfindungsgemäße Anordnung mit gestanzten Durchbrüchen im Trägerkörper und glatter Chip— Unterseite
Fig. 6: die erfindungsgemäße Anordnung mit gestanzten Durchbrüchen im Trägerkörper und strukturierter Chipunterseite"mit Einschliffen.
Die Anordnung nach Fig. 1 zeigt einen mit geätzten Vertiefungen 4 j die konisches'Profil aufweisen, ausgebildeten. Trägerkörper I1 auf dem mittels adhasiven'Materials. "3,beispielsweise Epoxydharzkleber, ein Halbleiterchip 2 befestigt ist.. Der Vorteil der Anordnung besteht darin, daß beim Aufbringen der adhasiven Schicht kein adhäsives Material 3 durch den Trägerkörper 1 hindurchdringen kann. Bei der in Fig.- 2 bis Fig. 4 dargestellten- Anordnungen enthält der- Trägerkörper 1 Durchbrüche 5 und außerdem ist die zur Befestigung vorgesehene Fläche des Halbleiter-
chips 2 mittels kreuzweise angeordneten rillenartigen Einschliffen -6 strukturiert. Die Seitenflächen des Trägerkörpers 1 bzw. das Profil der Durchbrüche 5 zeigen in Fig. 1 bis Fig. 4 das für ätztechnisch hergestellte Trägerstreifen typische annähernd doppelkonische Profil.
Der Vorteil dieser Anordnungen ergibt sich dadurch, daß das adhäsive Material 3 zwischen dem Halbleiterchip 2 und dem Trägerkörper 1 in die Durchbrüche 5 und Vertiefungen 6 eindringt, sich dort, begünstigt durch die erfolgte Strukturierung und damit indirekte Vergrößerung der Befestigungsfläche,gut verhakt und so eine hohe Stabilität der Verbindung ermöglicht wird.
Die in Fig. 5 und Fig. 6 dargestellten Realisierungsmöglichkeiten sind auf stanztechnisch hergestellte Trägerstreifen bezogen und haben Durchbrüche. 5 mit zylindrischem Profil. Sie weisen die gleichen Vorteile wie die in Fig. 1 bis Fig. 4 dargestellten Anordnungen auf. : , . .
Insgesamt wirkt sich bei allen Realisierungsmöglichkeiten günstig aus, daß bezüglich der Strukturierung des Trägerkörpers 1 kein zusätzlicher Arbeitsgang erforderlich ist,da die erfindungsgemäßen Vertiefungen 6 bzw, Durchbrüche 5 im Trägerkörper, sich gleichzeitig mit der ätztechnischen bzw. stanztechnischen Strukturierung eines metallischen Halbleiterträgerstreifens,, d.h. ohne großen zusätzlichen technologischen und materiellen Aufwand realisieren lassen.

Claims (2)

  1. Erfindunesanspruch
    Montage-Anordnung für Halbleiterbauelemente, bei der ein Halbleiterchip mittels adhäsiven Materials auf einem Trägerkörper befestigt ist, gekennzeichnet dadurch, daß das Halbleiterchip (2) und/oder der Trägerkörper (1) im Bereich seiner Befestigungsfläche teilweise' strukturiert ist.
    Montage-Anordnung nach Punkt 1, gekennzeichnet dadurch, daß der Trägerkörper (1) im Bereich der zum Befestigen des Halbleiterchips (2) vorgesehenen Fläche ein oder mehrere Vertiefungen (4) bzw. Durchbrüche (5) beliebiger Konfiguration enthält· :
    3· Montage-Anordnung nach Punkt 2, gekennzeichnet dadurch, daß die Vertiefungen (4) konisches Profil aufweisen und sich in der Tiefe bis zur annähernd halben Trägerkörperdicke erstrecken.
    4. Montage-Anordnung nach Punkt 2, gekennzeichnet
    dadurch, daß.die Durchbrüche' (5) annähernd doppe!· konisches Profil aufweisen. -.'.- ·.'' '.-'
    5· Montage-Anordnung nach Punkt 2, gekennzeichnet dadurch, daß die Durchbrüche (5) zylindrisches Profil aufweisen.
    -7- £ -ί ^ U U
    Montage-Anordnung nach Punkt 2, gekennzeichnet dadurch, daß die gesainte, die Vertiefung/Vertiefungen (4) bzw. den Durchbruch/die Durchbrüche (5) einschließende Fläche auf dem Trägerkörper (1) gegenüber der Halbleiterchipfläche wesentlich, kleiner ist.
  2. 7. Montage-Anordnung nach Punkt 1, gekennzeichnet dadurch, daß das Halbleiterchip (2) im Bereich seiner Befestigungsfläche rillenartige Sinschliffe (6) in Linien- oder Netzform aufweist.
    Hierzu 2 Seiten Zeichnung
DD83249884A 1983-04-15 1983-04-15 Montage-anordnung fuer halbleiterbauelemente DD214721A1 (de)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4433689A1 (de) * 1994-09-21 1996-03-28 Siemens Ag Chipkonfiguration und Verwendung eines entsprechenden Chips
DE19828653A1 (de) * 1998-06-26 2000-01-05 Siemens Ag Chipmodul zum Einbau in einen Chipkartenträger sowie Verfahren zu dessen Herstellung

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4433689A1 (de) * 1994-09-21 1996-03-28 Siemens Ag Chipkonfiguration und Verwendung eines entsprechenden Chips
DE19828653A1 (de) * 1998-06-26 2000-01-05 Siemens Ag Chipmodul zum Einbau in einen Chipkartenträger sowie Verfahren zu dessen Herstellung

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