CN2914080Y - 一种新型高低温箱试验机 - Google Patents

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陈景长
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Abstract

本实用新型涉及高低温箱试验机技术领域，尤其是指一种新型高低温箱试验机，采用了在箱体内设置有标点伸长计，同时上下、支座通过滑块分别连接在滑轨上和在上、下轴与箱体内外交接处设置有一个由温度开关和加热管组成的加温装置的一种具有全新结构的高低温箱，不仅大大的提高了测试精度，还能将测试结果更加准确、直观的表示出来。

Description

一种新型高低温箱试验机
技术领域：
本实用新型涉及高低温箱试验机技术领域，尤其是指一种新型高低温箱试验机。
背景技术：
各种物质在不同的温度下都会呈现出不同的温度特性，而物体在不同温度下所表现出来的特性则往往决定了其是否合适用在某些领域和场合中，目前通常是用高低温箱试验机来测试一些物体的温度特性，传统的高低温箱一般是由箱体、加热器、冷却***及温度控制装置等部分组成。现在的高低温箱试验机普遍把标点伸长计放置在箱外，使标点伸长计在测试试件移动距离时存在着测试精度不高或者是不能将测试结果很直观、准确的表示出来等缺点。这都给人们选择一种温度特性更为适合的材料带来一定的不利影响，故现在人们都希望有一种能克服这些缺点的一种高低温箱试验机的面世。
实用新型内容：
本实用新型的目的在于，针对以上问题，通过改进现有的技术，提供一种新型高低温箱试验机。
为达到上述目的，本实用新型采用如下技术方案：它主要包括：一箱体，在箱体内设置有标点伸长计，标点伸长计通过其上、下轴与箱体外的上、下支座相连。
上面所述的上、下支座通过滑块分别连接在滑轨上。
在上面所述的上、下轴与箱体内外交接处设置有一个由温度开关和加热管组成的加温装置。
本实用新型的有益效果是：采用了在箱体内设置有标点伸长计，同时上、下支座通过滑块分别连接在滑轨上和在上、下轴与箱体内外交接处设置有一个由温度开关和加热管组成的加温装置的一种具有全新结构的高低温箱，不仅大大的提高了测试精度，还能将测试结果更加准确、直观的表示出来。
附图说明：
下面结合附图对本实用新型作进一步的说明：
图1是本实用新型的结构示意图之一(部分剖开)。
图2是附图1的局部放大图。
图3是图1的侧视图。
图4是上、下轴，上、下支座、加温装置、滑轨连接结构示意图。
具体实施方式：
见附图1，本实用新型主要包括：一箱体1，在箱体1内设置有标点伸长计2，标点伸长计2通过上、下夹持座21、上、下轴22与箱体1外的上、下支座23相连。
上面所述的上、下支座23通过滑块24分别连接在滑轨25上。
在上面所述的上、下轴22与箱体1内外交接处设置有一个由温度开关31和加热管32组成的加温装置3。
标点伸长计2是位移传感器中的一种，在本实用新型里所述的标点伸长计2的主要作用是测量运动距离，其主要由上、下夹持座21、上、下轴22、上、下支座23、滑块24、滑轨25、译码器26和配重砝码27组成，译码器26的主要功能是把机械运动转换为可以传送的电信号，而配重砝码27是平衡上、下夹持座21、上、下轴22、上、下支座23、和滑块24的重量的。在现有技术的基础上将标点伸长计2设置在高低温箱试验机之中能更加精确的测试出被测物的温度特性，同时也能更加准确直观地将测试结构表示出来。
标点伸长计2置入高低温箱体1内，用上、下轴22与箱体1外的上、下支座23连接，上、下支座23与滑轨25之间用滑块通过光滑连接。这样就能保证标点伸长计2在一个方向上移动，不会因为产生分力而影响精度。在上下轴22处在箱体1内外交界处设置一个由温度开关31和发热管32组成的加温装置3，当箱体1内为低温时，加温装置3化解在此处因温差的产生霜冻，防止因霜冻而增大上、下轴22与箱体1的摩擦力影响测试的精度。当箱体1内为高温时，加温装置3使上、下轴22与箱体1周边的温度保持一致，避免上、下轴22膨胀而箱体1不膨胀产生的摩擦力，保持精密的测试精度。
本机选材上使用优质耐高低温材料来保证测试中的设备的稳定性，结构上利用高精度直线滑轨和直线滑杆保证测试中试件变形的精敏量测，方法上利用温湿平衡法保证测试不受滴露影响。
当然，以上所述之实施例，只是本实用新型的较佳实例而已，并非来限制本实用新型实施范围，故凡依本实用新型申请专利范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均应包括于本实用新型申请专利范围内。

Claims (3)

1、一种新型高低温箱试验机，它主要包括：一箱体，其特征在于：在箱体内设置有标点伸长计，标点伸长计通过上、下夹持座和上、下轴与箱体外的上、下支座相连。
2、根具权利要求1所述的一种新型高低温箱试验机，其特征在于：所述的上、下支座通过滑块分别连接在滑轨上。
3、根具权利要求1所述的一种新型高低温箱试验机，其特征在于：在上下轴与箱体内外交接处设置有一个由温度开关和加热管组成的加温装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Effective date of registration: 20070601

Address after: 523080 grand three, hi tech Development Zone, Nancheng District, Guangdong, Dongguan

Patentee after: Gotech Testing Machines (Dongguan) Co., Ltd.

Address before: 523070 Guangdong City, Dongguan Province grand High-tech Development Zone, district road three high-speed rail Monitoring Instrument Co., Ltd.

Patentee before: Chen Jingchang

C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20070620

Termination date: 20121213