CN2809590Y - 简易测高测深量具 - Google Patents

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闫军平
冯跃平
高斌
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Abstract

本实用新型公开了一种简易测高测深量具,包括垂直安装在下基准座上的刻度尺,在刻度尺的顶端垂直安装着上基准座,上基准座的顶面与下基准座的底面相互平行,在上基准座的侧部边缘上垂直设置着导向槽,导向槽内滑动配合安装着一根探针,探针的上端为针尖而其下端为平底测量脚,探针与刻度尺相互平行,探针的针尖与上基准座的顶面平齐,探针的平底测量脚的底面与下基准座的底面平齐,在刻度尺上配合安装着游标尺,游标尺与探针针体之间通过连接臂相互固接在一起。本实用新型可以很方便的测量出工件表面凸起或凹陷等的尺寸,测量速度快,测量精度高。

Description

简易测高测深量具
技术领域
本实用新型涉及一种量具,特别是简易测高测深量具。
背景技术
在工厂的连续化批量生产中,对被检测件的表面凸起或凹陷以及划线等尺寸的检测,利用一般的检测工具进行检测,较为困难,而且检测时间长,检测的准确度也不高,影响了对工件尺寸的正常判定。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种简易测高测深量具,可以很方便的测量出工件表面凸起或凹陷等的尺寸,测量速度快,测量精度高。
本实用新型的目的是这样实现的:一种简易测高测深量具,包括垂直安装在下基准座上的刻度尺,在刻度尺的顶端垂直安装着上基准座,上基准座的顶面与下基准座的底面相互平行,在上基准座的侧部边缘上垂直设置着导向槽,导向槽内滑动配合安装着一根探针,探针的上端为针尖而其下端为平底测量脚,探针与刻度尺相互平行,探针的针尖与上基准座的顶面平齐,探针的平底测量脚的底面与下基准座的底面平齐,在刻度尺上配合安装着游标尺,游标尺与探针针体之间通过连接臂相互固接在一起。
本实用新型的上基准座顶面以及下基准座底面均为基准面,使用时,先将基准座安放在所取的某一基准面上,上、下移动游标尺带动探针上下运动,分别使探针的平底测量脚落在工件表面的凸起上,或使探针的针尖***工件表面的凹陷内,即可通过读取刻度尺以及游标尺上的刻度数值测量在被测工件表面的凸起高度或凹陷深度。本实用新型不仅能用于检测连续批量化生产的被检测件表面的凸起和凹陷数值,同时也可以进行多数物件的长、宽、高的测量,测量精度可达到0.02mm,检测速度快,测量精度高。
附图说明
下面将结合附图对本实用新型作进一步说明。
图1为本实用新型的主视结构示意图;
图2为本实用新型的俯视结构示意图。
具体实施方式
一种简易测高测深量具,如图1所示,包括垂直安装在下基准座4上的刻度尺7,在刻度尺7的顶端垂直安装着上基准座8,上基准座8的顶面与下基准座4的底面相互平行。在上基准座8的侧部边缘上垂直设置着导向槽9,导向槽9内滑动配合安装着一根探针2。如图2所示,导向槽9的横截面可以为矩形、半圆形或凸字形。当导向槽9的横截面为矩形时,为了防止探针2从导向槽9中滑脱出来,还可以在导向槽9的侧面开口上横置着一挡块1,挡块1的内表面形状与探针2的外表面形状相匹配。探针2的上端为针尖而其下端为平底测量脚5,平底测量脚5为直角梯形或直角三角形。探针2与刻度尺7相互间隔平行,探针2的针尖与上基准座8的顶面平齐,探针2的平底测量脚5的底面与下基准座4的底面平齐。在刻度尺7上配合安装着游标尺6,游标尺6与探针2针体之间通过连接臂3相互固接在一起。

Claims (4)

1、一种简易测高测深量具,包括垂直安装在下基准座(4)上的刻度尺(7),其特征是:在刻度尺(7)的顶端垂直安装着上基准座(8),上基准座(8)的顶面与下基准座(4)的底面相互平行,在上基准座(8)的侧部边缘上垂直设置着导向槽(9),导向槽(9)内滑动配合安装着一根探针(2),探针(2)的上端为针尖而其下端为平底测量脚(5),探针(2)与刻度尺(7)相互平行,探针(2)的针尖与上基准座(8)的顶面平齐,探针(2)的平底测量脚(5)的底面与下基准座(4)的底面平齐,在刻度尺(7)上配合安装着游标尺(6),游标尺(6)与探针(2)针体之间通过连接臂(3)相互固接在一起。
2、根据权利要求1.所述的简易测高测深量具,其特征是:平底测量脚(5)为直角梯形。
3、根据权利要求1所述的简易测高测深量具,其特征是:导向槽(9)的横截面为矩形、半圆形或凸字形。
4、根据权利要求1或3所述的简易测高测深量具,其特征是:在导向槽(9)的侧面开口上横置着一挡块(1),挡块(1)的内表面形状与探针(2)的外表面形状相匹配。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104006714A (zh) * 2014-05-07 2014-08-27 南京惠德机械有限公司 一种闭模高度测量装置及其测量方法
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