CN221405938U - 一种芯片测试翻转装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试翻转装置，属于产品测试技术领域，其包括底板，所述底板顶部连接有四个立柱，四个立柱顶部连接有承重箱，所述承重箱顶部连接有电机，所述电机一端连接有箱体，所述箱体顶部设置有限位板。该芯片测试翻转装置，通过设置弹簧、连接板、滑轮、大型圆凹槽与小型圆凹槽，当滑轮从小型圆凹槽运动到大型圆凹槽中，由于大型圆凹槽的深度比小型圆凹槽更深，限位板会靠近连接板一段距离，在弹簧的作用下，弹簧推动夹板会带动第一塑胶片靠近第二塑胶片，进而将芯片夹持住，只需要将连接板推动，使其靠近电机就能完成芯片的夹持，十分方便快捷，便于固定芯片，实用性强。

Description

一种芯片测试翻转装置

技术领域

本实用新型属于产品测试技术领域，具体为一种芯片测试翻转装置。

背景技术

芯片作为一种高精度产品，在使用前常常需要进行测试，为了方便对芯片进行多角度的测试，需要将芯片进行翻转，以便于对芯片进行多角度测试，在翻转之前需要对芯片进行固定，现有的一些芯片测试翻转装置能够将芯片固定住，然而，现有的芯片测试翻转装置固定芯片的操作步骤复杂，不便于固定芯片，实用性较差。

实用新型内容

为了克服上述缺陷，本实用新型提供了一种芯片测试翻转装置，解决了现有的芯片测试翻转装置固定芯片的操作步骤复杂，不便于固定芯片，实用性较差的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试翻转装置，包括底板，所述底板顶部连接有四个立柱，四个立柱顶部连接有承重箱，所述承重箱顶部连接有电机，所述电机一端连接有箱体，所述箱体顶部设置有限位板，所述限位板上开设有小型圆凹槽与大型圆凹槽。

作为本实用新型的进一步方案：所述限位板底部连接有连接柱，所述连接柱上套接有弹簧，所述连接柱远离限位板的一端连接有夹板。

作为本实用新型的进一步方案：所述箱体内底部设置有凹形板，所述凹形板内部设置有若干滚轮。

作为本实用新型的进一步方案：所述滚轮上设置有连接板，所述连接板顶部设置有两个对称的滑轮。

作为本实用新型的进一步方案：所述连接柱穿过箱体与限位板相连，所述连接板与凹形板滑动连接。

作为本实用新型的进一步方案：所述夹板底部设置有第一塑胶片，所述连接板内底部设置有第二塑胶片。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

1、该芯片测试翻转装置，通过设置弹簧、连接板、滑轮、大型圆凹槽与小型圆凹槽，当需要夹持芯片时，将芯片放在第二塑胶片上，此时推动连接板，使其靠近电机，连接板上的滑轮随连接板运动，当滑轮从小型圆凹槽运动到大型圆凹槽中，由于大型圆凹槽的深度比小型圆凹槽更深，限位板会靠近连接板一段距离，在弹簧的作用下，弹簧推动夹板会带动第一塑胶片靠近第二塑胶片，进而将芯片夹持住，只需要将连接板推动，使其靠近电机就能完成芯片的夹持，十分方便快捷，便于固定芯片，实用性强。

2、该芯片测试翻转装置，通过设置弹簧、连接板、滑轮、大型圆凹槽与小型圆凹槽，当需要取出芯片时，拉动限位板使其远离箱体，拉动连接板使其靠近远离电机，连接板上的滑轮随连接板运动，当滑轮运动到小型圆凹槽中，小型圆凹槽将滑轮限位住，使其难以滑动，此时停止拉动连接板，此时将芯片取出，只需要拉动限位板与连接板，小型圆凹槽将滑轮限位住，就能取出芯片，十分方便快捷，操作简单。

3、该芯片测试翻转装置，通过设置滑轮与滚轮，推动连接板时，连接板底部在滚轮上滑动，连接板顶部上的滑轮在限位板上滚动，在推动连接板的过程中，由于设置有滑轮与滚轮，摩擦力更小，更易被拉动。

附图说明

图1为本实用新型立体的结构示意图；

图2为本实用新型箱体剖面的结构示意图；

图3为本实用新型图2中A处放大的结构示意图；

图中：1、底板；2、立柱；3、承重箱；4、电机；5、箱体；6、凹形板；7、连接板；8、限位板；9、弹簧；10、连接柱；11、夹板；12、滚轮；13、滑轮；14、小型圆凹槽；15、大型圆凹槽；16、第一塑胶片；17、第二塑胶片。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。

如图1-3所示，本实用新型提供一种技术方案：一种芯片测试翻转装置，包括底板1，底板1顶部连接有四个立柱2，四个立柱2顶部连接有承重箱3，承重箱3顶部连接有电机4，电机4一端连接有箱体5，箱体5内底部设置有凹形板6，凹形板6内部设置有若干滚轮12，因设有滚轮12，连接板7在运动过程中，摩擦力变小，更易被推动。

箱体5顶部设置有限位板8，限位板8上开设有小型圆凹槽14与大型圆凹槽15，限位板8底部连接有连接柱10，连接柱10上套接有弹簧9，连接柱10远离限位板8的一端连接有夹板11，因小型圆凹槽14与大型圆凹槽15为弧面设计，滑轮13能更容易被推动，更加省力。

滚轮12上设置有连接板7，连接板7顶部设置有两个对称的滑轮13，连接柱10穿过箱体5与限位板8相连，连接板7与凹形板6滑动连接，因凹形板6上开有凹形槽，连接板7在运动过程中，不易偏离位置，更加准确。

夹板11底部设置有第一塑胶片16，连接板7内底部设置有第二塑胶片17，因设置有第一塑胶片16与第二塑胶片17，在夹持芯片时，不易损坏芯片，更加安全。

本实用新型的工作原理为：

当需要夹持芯片时，将芯片放在第二塑胶片17上，此时推动连接板7，使其靠近电机4，连接板7上的滑轮13随连接板7运动，当滑轮13从小型圆凹槽14运动到大型圆凹槽15中，由于大型圆凹槽15的深度比小型圆凹槽14更深，限位板8会靠近连接板7一段距离，在弹簧9的作用下，弹簧9推动夹板11会带动第一塑胶片16靠近第二塑胶片17，进而将芯片夹持住，此时启动电机4，电机4带动箱体5转动，进而带动芯片转动，进而可以将芯片进行测试，当需要取出芯片时，拉动限位板8使其远离箱体5，拉动连接板7使其靠近远离电机4，连接板7上的滑轮13随连接板7运动，当滑轮13运动到小型圆凹槽14中，小型圆凹槽14将滑轮13限位住，使其难以滑动，此时停止拉动连接板7，此时将芯片取出。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

上面对本专利的较佳实施方式作了详细说明，但是本专利并不限于上述实施方式，在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本专利宗旨的前提下作出各种变化。

Claims (6)

1.一种芯片测试翻转装置，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)顶部连接有四个立柱(2)，四个立柱(2)顶部连接有承重箱(3)，所述承重箱(3)顶部连接有电机(4)，所述电机(4)一端连接有箱体(5)，所述箱体(5)顶部设置有限位板(8)，所述限位板(8)上开设有小型圆凹槽(14)与大型圆凹槽(15)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试翻转装置，其特征在于：所述限位板(8)底部连接有连接柱(10)，所述连接柱(10)上套接有弹簧(9)，所述连接柱(10)远离限位板(8)的一端连接有夹板(11)。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试翻转装置，其特征在于：所述箱体(5)内底部设置有凹形板(6)，所述凹形板(6)内部设置有若干滚轮(12)。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试翻转装置，其特征在于：所述滚轮(12)上设置有连接板(7)，所述连接板(7)顶部设置有两个对称的滑轮(13)。

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试翻转装置，其特征在于：所述连接柱(10)穿过箱体(5)与限位板(8)相连，所述连接板(7)与凹形板(6)滑动连接。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试翻转装置，其特征在于：所述夹板(11)底部设置有第一塑胶片(16)，所述连接板(7)内底部设置有第二塑胶片(17)。