CN221326686U - 一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路及装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提出了一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路及装置，包括第一检测模块、第一开关模块、第二检测模块、第二开关模块以及集成电路检测模块，第一检测模块分别与第一开关模块和集成电路检测模块电性连接，且包括多个检测支路；第一开关模块与集成电路检测模块电性连接，用于切换多个检测支路；第二检测模块分别与第二开关模块和集成电路检测模块电性连接，且包括多个检测支路；第二开关模块与集成电路检测模块电性连接，用于切换多个检测支路；集成电路检测模块用于分别向第一检测模块和第二检测模块传输多个测试信号，使第一检测模块和第二检测模块对应产生的多个检测信号。本实用新型有助于提升达林顿晶体管阵列的检测效率。

Description

一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路及装置

技术领域

本实用新型涉及元器件检测技术领域，尤其涉及一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路及装置。

背景技术

达林顿晶体管是一种半导体复合管，由于其结构为两个晶体管复合而成，所以达林顿晶体管放大倍数较大，有的达林顿晶体管的放大倍数可以达到几千倍，甚至上万倍。达林顿管因其具有很高的放大系数，广泛应用于电力电子，发动机，发电机组，纺织机械，汽车空调风扇调节器中。

公告号为CN206775770U的中国专利申请公开了一种基于多路达林顿晶体管阵列的改进电路，包含达林顿晶体管阵列，控制单元，供电直流电源，感性负载，达林顿管阵列内部续流二极管公共端分别连接一个接地开关和公共续流二极管，公共续流二极管负极接感性负载的供电直流电源，接地开关闭合，达林顿晶体管阵列全驱动，接地开关断开，达林顿晶体管阵列内部各个续流二极管与公共续流二极管形成感性负载的续流回路。但是上述方案接入达林顿晶体管阵列后仅能实现对达林顿晶体管阵列的全驱动，同时进行全驱动的达林顿晶体管数量存在限制，无法实现对多组达林顿晶体管阵列的检测，因此，提供一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路及装置，来提升达林顿晶体管阵列的检测效率，是非常有必要的。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提出了一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路，通过第一开关模块和第二开关模块对应切换检测模块中的多条检测支路，实现集成电路检测模块对于检测支路中达林顿管的切换检测，从而提升达林顿晶体管阵列的检测效率。

第一方面，本实用新型提供了一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路，包括第一检测模块、第一开关模块、第二检测模块、第二开关模块以及集成电路检测模块，其中，

所述第一检测模块分别与所述第一开关模块和所述集成电路检测模块电性连接，所述第一检测模块包括第一检测支路、第二检测支路、第三检测支路以及第四检测支路；

所述第一开关模块与所述集成电路检测模块电性连接，所述第一开关模块用于切换所述第一检测支路、所述第二检测支路、所述第三检测支路以及所述第四检测支路；

所述第二检测模块分别与所述第二开关模块和所述集成电路检测模块电性连接，所述第二检测模块包括第五检测支路、第六检测支路、第七检测支路以及第八检测支路；

所述第二开关模块与所述集成电路检测模块电性连接，所述第二开关模块用于切换所述第五检测支路、所述第六检测支路、所述第七检测支路以及所述第八检测支路；

所述集成电路检测模块用于分别向所述第一检测模块和所述第二检测模块传输多个测试信号，使所述第一检测模块和所述第二检测模块对应产生的多个检测信号。

在以上技术方案的基础上，优选的，所述第一开关模块包括第一切换单元、第二切换单元、第三切换单元、第四切换单元、第五切换单元、第六切换单元以及第七切换单元，所述第一切换单元分别所述第二切换单元和所述第三切换单元电性连接，所述第二切换单元分别与所述第四切换单元和所述第五切换单元电性连接，所述第三切换单元分别与所述第六切换单元和所述第七切换单元电性连接，所述第四切换单元、所述第五切换单元、所述第六切换单元以及所述第七切换单元均与所述集成电路检测模块电性连接。

在以上技术方案的基础上，优选的，所述第一检测支路分别与所述第四切换单元和所述集成电路检测模块电性连接，所述第二检测支路分别与所述第五切换单元和所述集成电路检测模块电性连接，所述第三检测支路分别与所述第六切换单元和所述集成电路检测模块电性连接，所述第四检测支路分别与所述第七切换单元和所述集成电路检测模块电性连接。

更进一步优选的，所述集成电路检测模块包括集成电路测试***母板、第一欧式插座、第二欧式插座以及第三欧式插座，所述集成电路测试***母板分别与所述第一欧式插座、所述第二欧式插座、所述第三欧式插座以及所述第二开关模块电性连接，所述第一欧式插座分别与所述第一检测模块和所述第二检测模块电性连接。

更进一步优选的，所述第一检测支路包括第一待测器件、第二待测器件、第三待测器件以及第四待测器件，所述第一待测器件、所述第二待测器件、所述第三待测器件以及所述第四待测器件均分别与所述第四切换单元和所述集成电路检测模块电性连接。

更进一步优选的，所述第一待测器件、所述第二待测器件、所述第三待测器件以及所述第四待测器件均包括DIP转接座和达林顿晶体管阵列，所述DIP转接座与所述达林顿晶体管阵列电性连接。

更进一步优选的，所述第一切换单元、所述第二切换单元、所述第三切换单元、所述第四切换单元、所述第五切换单元、所述第六切换单元以及所述第七切换单元均为继电器。

第二方面，本申请提供一种多支路达林顿晶体管阵列测试装置，其包括壳体和设有第一方面中任一一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路的电路板，上述电路板设于上述壳体内。

本实用新型提供的一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路及装置相对于现有技术具有以下有益效果：

(1)通过第一开关模块和第二开关模块对应切换第一检测模块和第二检测模块中的多个检测支路，使得检测电路能够实时检测多条检测支路中的达林顿管，实现集成电路检测模块对于检测支路中达林顿管的切换检测，从而提升达林顿晶体管阵列的检测效率；

(2)通过设置第一开关模块和第二开关模块，以简化与对应检测模块之间的连接电路，同时通过第一开关模块和第二开关模块组合控制每个切换单元的通断，每次可以使1个待测器件与集成电路检测模块导通并进行测试，使得测试电路能够批量完成达林顿晶体管阵列的测试，能够极大提升达林顿晶体管阵列的检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型提供的多支路达林顿晶体管阵列测试电路的框架示意图；

图2为本实用新型提供的多支路达林顿晶体管阵列测试电路的原理示意图；

图3为本实用新型提供的第一检测模块的电路示意图；

图4为本实用新型提供的第一开关模块的电路示意图；

图5为本实用新型提供的欧式插座的电路示意图。

附图标记说明：1、第一检测模块；2、第一开关模块；3、第二检测模块；4、第二开关模块；5、集成电路检测模块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施方式，对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本实用新型一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型公开一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路，参考图1，该多支路达林顿晶体管阵列测试电路包括第一检测模块1、第一开关模块2、第二检测模块3、第二开关模块4以及集成电路检测模块5，其中，

第一检测模块1分别与第一开关模块2和集成电路检测模块5电性连接，第一检测模块1包括第一检测支路、第二检测支路、第三检测支路以及第四检测支路。

如图2所示，第一开关模块2与集成电路检测模块5电性连接，第一开关模块2用于切换第一检测支路、第二检测支路、第三检测支路以及第四检测支路。第一开关模块2包括第一切换单元、第二切换单元、第三切换单元、第四切换单元、第五切换单元、第六切换单元以及第七切换单元，第一切换单元分别第二切换单元和第三切换单元电性连接，第二切换单元分别与第四切换单元和第五切换单元电性连接，第三切换单元分别与第六切换单元和第七切换单元电性连接，第四切换单元、第五切换单元、第六切换单元以及第七切换单元均与集成电路检测模块5电性连接。第一切换单元、第二切换单元、第三切换单元、第四切换单元、第五切换单元、第六切换单元以及第七切换单元均为继电器。

在本实施例中，第一检测支路分别与第四切换单元和集成电路检测模块5电性连接，第二检测支路分别与第五切换单元和集成电路检测模块5电性连接，第三检测支路分别与第六切换单元和集成电路检测模块5电性连接，第四检测支路分别与第七切换单元和集成电路检测模块5电性连接。

第一检测支路包括第一待测器件、第二待测器件、第三待测器件以及第四待测器件，第一待测器件、第二待测器件、第三待测器件以及第四待测器件均分别与第四切换单元和集成电路检测模块5电性连接。并且第二检测支路、第三检测支路以及第四检测支路也均包括第一待测器件、第二待测器件、第三待测器件以及第四待测器件，第二检测支路中的第一待测器件、第二待测器件、第三待测器件以及第四待测器件均分别与第五切换单元和集成电路检测模块5电性连接，第三检测支路中的第一待测器件、第二待测器件、第三待测器件以及第四待测器件均分别与第六切换单元和集成电路检测模块5电性连接，第四检测支路中的第一待测器件、第二待测器件、第三待测器件以及第四待测器件均分别与第七切换单元和集成电路检测模块5电性连接。其中，第一待测器件、第二待测器件、第三待测器件以及第四待测器件均包括DIP转接座和达林顿晶体管阵列，DIP转接座与达林顿晶体管阵列电性连接。

如图3所示，第一开关模块2中包括16个待测器件，分为上下两行，每行各8个待测器件，第一行前4个待测器件为第一检测支路，第一行后4个待测器件为第二检测支路，第二行前4个待测器件为第三检测支路，第二行后4个待测器件为第四检测支路。

第二检测模块3分别与第二开关模块4和集成电路检测模块5电性连接，第二检测模块3包括第五检测支路、第六检测支路、第七检测支路以及第八检测支路。

第二开关模块4与集成电路检测模块5电性连接，第二开关模块4用于切换第五检测支路、第六检测支路、第七检测支路以及第八检测支路，且第二开关模块4同样包括第一切换单元、第二切换单元、第三切换单元、第四切换单元、第五切换单元、第六切换单元以及第七切换单元，第五检测支路与第二开关模块4中的第四切换单元电性连接，第六检测支路与第二开关模块4中的第五切换单元电性连接，第七检测支路与第二开关模块4中的第六切换单元电性连接，第八检测支路与第二开关模块4中的第七切换单元电性连接，上述切换单元的连接关系与第一开关模块2中的切换单元一致，此处不再赘述。如图4为第一开关模块2或第二开关模块4的电路示意图。

第一开关模块2和第二开关模块4对应切换第一检测模块1和第二检测模块3中的多个检测支路，使得检测电路能够实时检测多条检测支路中的达林顿管，实现集成电路检测模块5对于检测支路中达林顿管的切换检测，从而提升达林顿晶体管阵列的检测效率。

集成电路检测模块5用于分别向第一检测模块1和第二检测模块3传输多个测试信号，使第一检测模块1和第二检测模块3对应产生的多个检测信号。

集成电路检测模块5包括集成电路测试***母板、第一欧式插座、第二欧式插座以及第三欧式插座，集成电路测试***母板分别与第一欧式插座、第二欧式插座、第三欧式插座以及第二开关模块4电性连接，第一欧式插座分别与第一检测模块1和第二检测模块3电性连接。如图5为第一欧式插座、第二欧式插座以及第三欧式插座的电路示意图。

在本实施例中，集成电路测试***母板可以选用型号为JC3165集成电路测试***母板，JC3165集成电路测试***母板具有DUT0-DUT127共128路数字通道，并且由于DIP转接座一般为16pin，其中14个pin需要接入数字通道，若每个DIP转接座使用独立的数字通道，最多只能同时测量9个7路达林顿晶体管阵列。为了尽可能多的增加DIP转接座数量，使用继电器切换接入集成电路测试***母板的DIP转接座，不同DIP转接座使用的数字通道可以重复，能够使DIP转接座不受集成电路测试***母板中数字通道总数量的限制，可以尽可能的增加DIP转接座的数量。

请再次参阅图2，在本实施例中，多支路达林顿晶体管阵列测试电路包括32个DIP转接座、14个继电器、3个3排96芯欧式插座将达林顿晶体管阵列与JC3165集成电路测试***母板相连接。通过14个继电器将JC3165集成电路测试***母板的地线分为独立连接的32路地线，分别接入32个DIP转接座。每8个DIP转接座为一组，分别接入JC3165集成电路测试***母板提供的数字通道，第1组8个DIP转接座(第一检测支路和第二检测支路)接入DUT0-DUT13，第2组8个DIP转接座(第三检测支路和第四检测支路)接入DUT14-DUT27，第3组8个DIP转接座(第五检测支路和第六检测支路)接入DUT28-DUT41，第4组8个DIP转接座(第七检测支路和第八检测支路)接入DUT42-DUT55。通过控制继电器的通断，每次可以使每组各1个，即4个DIP转接座与接入JC3165集成电路测试***母板接通进行测试，循环8次，即可完成32个DIP封装7路达林顿晶体管阵列的电参数测试。为尽可能降低测量误差，缩短布线距离DIP，转接座或SOP烧录座尽量靠近欧式插座上数字通道对应的pin脚。

本实用新型实施例还提供一种多支路达林顿晶体管阵列测试装置，其包括壳体和设有上述的任一一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路的电路板，电路板设于壳体内。其通过将设有多支路达林顿晶体管阵列测试电路的电路板封装到壳体内，做成多支路达林顿晶体管阵列测试装置，可以利于用户进行使用，方便快捷。示例性地，可以将设有上述的任一一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路的电路板进行浇封处理(相当于利用浇封得到一壳体)，从而得到多支路达林顿晶体管阵列测试装置。

在本实施例中，上述设有多支路达林顿晶体管阵列测试电路的电路板为双层印制电路板，板厚1.5mm，板材为FR-4，焊盘表面为无铅喷锡处理，将DIP转接座、继电器和欧式插座焊接在电路板上，该电路板最多支持32个DIP转接座作为7路达林顿晶体管阵列的器件夹具。该电路板上预留了32个DIP16规格的焊盘，DIP16规格的焊盘引脚列宽7.5mm、引脚间距2.54mm，DIP转接座的尺寸和型号可以根据达林顿晶体管阵列的封装类型进行更换。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施方式而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，包括第一检测模块(1)、第一开关模块(2)、第二检测模块(3)、第二开关模块(4)以及集成电路检测模块(5)，其中，

所述第一检测模块(1)分别与所述第一开关模块(2)和所述集成电路检测模块(5)电性连接，所述第一检测模块(1)包括第一检测支路、第二检测支路、第三检测支路以及第四检测支路；

所述第一开关模块(2)与所述集成电路检测模块(5)电性连接，所述第一开关模块(2)用于切换所述第一检测支路、所述第二检测支路、所述第三检测支路以及所述第四检测支路；

所述第二检测模块(3)分别与所述第二开关模块(4)和所述集成电路检测模块(5)电性连接，所述第二检测模块(3)包括第五检测支路、第六检测支路、第七检测支路以及第八检测支路；

所述第二开关模块(4)与所述集成电路检测模块(5)电性连接，所述第二开关模块(4)用于切换所述第五检测支路、所述第六检测支路、所述第七检测支路以及所述第八检测支路；

所述集成电路检测模块(5)用于分别向所述第一检测模块(1)和所述第二检测模块(3)传输多个测试信号，使所述第一检测模块(1)和所述第二检测模块(3)对应产生的多个检测信号。

2.如权利要求1所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述第一开关模块(2)包括第一切换单元、第二切换单元、第三切换单元、第四切换单元、第五切换单元、第六切换单元以及第七切换单元，所述第一切换单元分别所述第二切换单元和所述第三切换单元电性连接，所述第二切换单元分别与所述第四切换单元和所述第五切换单元电性连接，所述第三切换单元分别与所述第六切换单元和所述第七切换单元电性连接，所述第四切换单元、所述第五切换单元、所述第六切换单元以及所述第七切换单元均与所述集成电路检测模块(5)电性连接。

3.如权利要求2所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述第一检测支路分别与所述第四切换单元和所述集成电路检测模块(5)电性连接，所述第二检测支路分别与所述第五切换单元和所述集成电路检测模块(5)电性连接，所述第三检测支路分别与所述第六切换单元和所述集成电路检测模块(5)电性连接，所述第四检测支路分别与所述第七切换单元和所述集成电路检测模块(5)电性连接。

4.如权利要求2所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述集成电路检测模块(5)包括集成电路测试***母板、第一欧式插座、第二欧式插座以及第三欧式插座，所述集成电路测试***母板分别与所述第一欧式插座、所述第二欧式插座、所述第三欧式插座以及所述第二开关模块(4)电性连接，所述第一欧式插座分别与所述第一检测模块(1)和所述第二检测模块(3)电性连接。

5.如权利要求4所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述第一检测支路包括第一待测器件、第二待测器件、第三待测器件以及第四待测器件，所述第一待测器件、所述第二待测器件、所述第三待测器件以及所述第四待测器件均分别与所述第四切换单元和所述集成电路检测模块(5)电性连接。

6.如权利要求5所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述第一待测器件、所述第二待测器件、所述第三待测器件以及所述第四待测器件均包括DIP转接座和达林顿晶体管阵列，所述DIP转接座与所述达林顿晶体管阵列电性连接。

7.如权利要求2所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述第一切换单元、所述第二切换单元、所述第三切换单元、所述第四切换单元、所述第五切换单元、所述第六切换单元以及所述第七切换单元均为继电器。

8.一种多支路达林顿晶体管阵列测试装置，其特征在于，包括壳体和设有如权利要求1至7任一项所述的一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路的电路板，所述电路板设于所述壳体内。