CN221025139U - 一种半导体测试收集箱 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种半导体测试收集箱，涉及收集箱技术领域，包括：收集箱本体，所述收集箱本体连接设有开关机构，所述收集箱本体连接设有传动机构。本实用新型，通过设置的收集箱本体与开关机构和传动机构之间的相互配合，从而在半导体收集后，可对半导体提供收纳的效果，而在使用者需要取出半导体时，通过设置的传动机构与开关机构的相互配合，从而可使存放的部件自行推出。在一定程度上提高了取出半导体时的便利性，并提高了使用者的工作效率性。

Description

一种半导体测试收集箱

技术领域

本实用新型涉及收集箱技术领域，尤其涉及一种半导体测试收集箱。

背景技术

收集箱指通过人力将需要收集的物体通过外力将收集物体置入箱内，从而完成收集。

现有的部分收集箱通过人力将需收集物体置入箱体内，从而完成收集。但在常规的收集箱对半导体进行收集后，在工作人员需要对箱内的半导体进行检测时，可能会因箱体出口的大小，从而导致半导体不易倒出箱体外，并且可能因倒出时，因人为因素或者其他因素的影响，导致半导体摔落在地，造成半导体损坏的可能，而因半导体的制作过程较为繁琐，可能会导致一定的经济损失，并可能降低工作者的工作效率，且摔落在地的半导体，因损坏的半导体通过外部特征很难判断，所以仍然需要通过工作者的检测进行判断。在一定程度上具有一定的不便性，具有一定的技术缺陷。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，提供一种半导体测试收集箱。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种半导体测试收集箱，包括：收集箱本体，所述收集箱本体连接设有开关机构，所述收集箱本体连接设有传动机构，所述传动机构设有电机，所述电机一侧中部处贯穿连接有第一螺纹杆，所述第一螺纹杆设有螺纹处螺纹连接有第一移动块，所述第一螺纹杆一端端头处贯穿连接有主动齿轮，所述主动齿轮一侧卡齿处啮合连接有齿带，所述齿带内侧卡齿处啮合连接有从动齿轮，所述从动齿轮中部贯穿连接有第二螺纹杆。

作为一种优选的实施方式，所述第二螺纹杆一侧处设有螺纹处同螺纹连接有移动块，所述移动块内侧处贯穿连接有控制槽，所述移动块另一侧处固定连接有置物槽，所述置物槽内侧处卡合连接有压块，所述压块底侧处固定连接有若干个弹簧。

作为一种优选的实施方式，若干个所述弹簧另一端处固定连接有置物槽，所述置物槽底侧处设有连接杆，所述连接杆两端处固定连接有移动块，所述连接杆底侧处固定连接有两个传动轴。

作为一种优选的实施方式，两个所述传动轴底端处贯穿连接有支杆，所述支杆另一端端头处贯穿连接有定位销，所述定位销一端端头处固定连接有门扇。

作为一种优选的实施方式，所述门扇固定连接有壳体一端处，壳体两侧中部处固定连接有控制槽。

作为一种优选的实施方式，所述控制槽两侧中部处设有进料槽，所述进料槽底端处贯穿连接有壳体。

与现有技术相比，本实用新型的优点和积极效果在于：

本实用新型通过设置的收集箱本体与开关机构和传动机构之间的相互配合，从而在半导体收集后，可对半导体提供收纳的效果，而在使用者需要取出半导体时，通过设置的传动机构与开关机构的相互配合，从而可使存放的部件自行推出。在一定程度上提高了取出半导体时的便利性，并提高了使用者的工作效率性。

附图说明

图1为本实用新型提供的一种半导体测试收集箱的外部整体结构立体示意图。

图2为本实用新型提供的一种半导体测试收集箱的传动机构与开关机构部分结构立体示意图。

图3为本实用新型提供的一种半导体测试收集箱的传动机构外部整体结构立体示意图。

图4为本实用新型提供的一种半导体测试收集箱的传动机构中收集部分结构立体示意图。

图5为本实用新型提供的一种半导体测试收集箱的外部整体机构底部结构立体示意图。

图例说明：

1、收集箱本体；11、进料槽；12、壳体；

2、开关机构；21、定位销；22、支杆；23、传动轴；24、连接杆；25、门扇；

3、传动机构；31、电机；32、第一螺纹杆；33、移动块；34、主动齿轮；35、齿带；36、从动齿轮；37、第二螺纹杆；38、控制槽；39、置物槽；310、压块；311、弹簧。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例

如图1-5所示，本实用新型提供一种技术方案：一种半导体测试收集箱，包括：收集箱本体1，收集箱本体1连接设有开关机构2，通过设置的开关机构2从而可与传动机构3相互配合，从而可提供自动开关门的效果。收集箱本体1连接设有传动机构3，通过设置的传动机构3从而可为收集后的半导体进行运输。传动机构3设有电机31，电机31一侧中部处贯穿连接有第一螺纹杆32，当电机31进行旋转时，将带动第一螺纹杆32进行旋转，第一螺纹杆32设有螺纹处螺纹连接有第一移动块33，当第一螺纹杆32进行旋转时，将控制第一移动块33以第一螺纹杆32的螺纹轨迹进行移动。第一螺纹杆32一端端头处贯穿连接有主动齿轮34，当第一螺纹杆32进行旋转时，将带动主动齿轮34以第一螺纹杆32的旋转方向进行旋转。主动齿轮34一侧卡齿处啮合连接有齿带35，当主动齿轮34进行旋转时，将带动齿带35进行运作。齿带35内侧卡齿处啮合连接有从动齿轮36，当齿带35进行运作时，将带动从动齿轮36进行旋转，且从动齿轮36与主动齿轮34旋转方向相同。从动齿轮36中部贯穿连接有第二螺纹杆37，当从动齿轮36进行旋转时，将带动第二螺纹杆37以从动齿轮36的旋转方向进行旋转。第二螺纹杆37设有螺纹处螺纹连接有移动块33。

实施例

如图3和图4所示，第二螺纹杆37一侧处设有螺纹处同螺纹连接有移动块33，当第二螺纹杆37进行旋转时，将控制移动块33以第二螺纹杆37的螺纹轨迹进行移动。移动块33内侧处贯穿连接有控制槽38，当移动块33通过第一螺纹杆32与第二螺纹杆37进行位移时，将在控制槽38中进行移动。移动块33另一侧处固定连接有置物槽39，当移动块33进行移动时，将控制置物槽39进行移动。置物槽39内侧处卡合连接有压块310，且压块310质地较为柔软，当半导体进入置物槽39时，将落在压块310上，压块310底侧处固定连接有若干个弹簧311，通过设置的弹簧311与压块310相互配合，从而在半导体下落时提供一定的减震与保护措施。

实施例

如图1-5所示，若干个弹簧311另一端处固定连接有置物槽39，通过设置的置物槽39从而为半导体提供可放置的效果。置物槽39底侧处设有连接杆24，连接杆24两端处固定连接有移动块33，当移动块33进行移动时，将控制连接杆24进行移动。连接杆24底侧处固定连接有两个传动轴23，当连接杆24进行移动时，将控制传动轴23与连接杆24同步移动。两个传动轴23底端处贯穿连接有支杆22，支杆22另一端端头处贯穿连接有定位销21，定位销21一端端头处固定连接有门扇25，当移动块33进行移动时，将控制连接杆24进行移动，而在连接杆24移动时，将通过定位销21控制门扇25进行打开或闭合。且在移动块33移动时，将控制装有半导体的置物槽39同步移动，从而在门扇25打开时，使置物槽39推出，从而便于使用者进行拿取。门扇25固定连接有壳体12一端处，壳体12两侧中部处固定连接有控制槽38，壳体12为控制槽38提供固定的效果。控制槽38两侧中部处设有进料槽11，进料槽11底端处贯穿连接有壳体12，通过设置的进料槽11从而可将半导体通过壳体12并分流进入置物槽39中。

工作原理：

如图1-5所示，当需要对半导体进行收集时，同进料槽11从而使半导体经过壳体12进入置物槽39中，而在进入置物槽39时，将通过压块310与弹簧311的配合从而增加减震效果。当需要对置物槽39中的半导体进行拿取时，通过电机31带动第一螺纹杆32与主动齿轮34进行旋转，当主动齿轮34进行旋转时，将通过齿带35带动从动齿轮36进行旋转，而在从动齿轮36进行旋转时，将带动第二螺纹杆37进行旋转，而在第一螺纹杆32与第二螺纹杆37进行旋转时，将带动二者螺纹连接的移动块33根据旋转方向在控制槽38中进行位移，而在移动块33位移时，将带动连接杆24进行移动，而在连接杆24进行位移时，将通过传动轴23和支杆22与定位销21的相互配合，从而在移动块33进行位移时，带动与定位销21连接的门扇25进行开关与闭合的行为。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非是对本实用新型作其它形式的限制，任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述揭示的技术内容加以变更或改型为等同变化的等效实施例应用于其它领域，但是凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与改型，仍属于本实用新型技术方案的保护范围。

Claims (6)

1.一种半导体测试收集箱，其特征在于，包括：收集箱本体（1），所述收集箱本体（1）连接设有开关机构（2），所述收集箱本体（1）连接设有传动机构（3），所述传动机构（3）设有电机（31），所述电机（31）一侧中部处贯穿连接有第一螺纹杆（32），所述第一螺纹杆（32）设有螺纹处螺纹连接有第一移动块（33），所述第一螺纹杆（32）一端端头处贯穿连接有主动齿轮（34），所述主动齿轮（34）一侧卡齿处啮合连接有齿带（35），所述齿带（35）内侧卡齿处啮合连接有从动齿轮（36），所述从动齿轮（36）中部贯穿连接有第二螺纹杆（37）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试收集箱，其特征在于：所述第二螺纹杆（37）一侧处设有螺纹处同螺纹连接有移动块（33），所述移动块（33）内侧处贯穿连接有控制槽（38），所述移动块（33）另一侧处固定连接有置物槽（39），所述置物槽（39）内侧处卡合连接有压块（310），所述压块（310）底侧处固定连接有若干个弹簧（311）。

3.根据权利要求2所述的一种半导体测试收集箱，其特征在于：若干个所述弹簧（311）另一端处固定连接有置物槽（39），所述置物槽（39）底侧处设有连接杆（24），所述连接杆（24）两端处固定连接有移动块（33），所述连接杆（24）底侧处固定连接有两个传动轴（23）。

4.根据权利要求3所述的一种半导体测试收集箱，其特征在于：两个所述传动轴（23）底端处贯穿连接有支杆（22），所述支杆（22）另一端端头处贯穿连接有定位销（21），所述定位销（21）一端端头处固定连接有门扇（25）。

5.根据权利要求4所述的一种半导体测试收集箱，其特征在于：所述门扇（25）固定连接有壳体（12）一端处，壳体（12）两侧中部处固定连接有控制槽（38）。

6.根据权利要求5所述的一种半导体测试收集箱，其特征在于：所述控制槽（38）两侧中部处设有进料槽（11），所述进料槽（11）底端处贯穿连接有壳体（12）。