CN220457381U - 一种内置多种参考电压比较器的ic芯片 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种内置多种参考电压比较器的IC芯片,包括比较器CMP,比较器CMP的反向输入端与第一数据选择器MUX1连接;比较器CMP的同相输入端与第二数据选择器MUX2连接;第一数据选择器MUX1的输入端分别与正相输入端CON、VDD*2/3、内建基准电平VREF_LVD和GND连接;第二数据选择器MUX2的输入端分别与反相输入端COP、VDD*2/3、内建基准电平VREF_LVD和GND连接;比较器CMP的输出端输出结果数据至滤波器;滤波器对接收的数据进行滤波处理后传输至控制器;控制器向外部电路输出比较结果数据。本实用新型通过将比较器集成在IC芯片中,用户可直接通过配置内置的比较器比较器控制寄存器来比较输入源的大小,无需外接比较器电路。
Description
技术领域
本实用新型属于IC芯片技术领域,特别是涉及一种内置多种参考电压比较器的IC芯片。
背景技术
电压比较器(以下简称比较器)是一种常用的集成电路。它可用于报警器电路、自动控制电路、测量技术,也可用于V/F变换电路、A/D变换电路、高速采样电路、电源电压监测电路、振荡器及压控振荡器电路、过零检测电路等。电压比较器的功能是比较两个模拟信号的大小,并以二进制的信号在输出端输出高电平或低电平。比较器作为一种集成运放非线性应用电路,常用于各种电子设备中,灵敏度高,由于两端需要输入外部电压进行比较,导致抗干扰能力差,无法精准比较。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种内置多种参考电压比较器的IC芯片,通过将比较器集成在IC芯片中,用户可直接通过配置内置的比较器控制寄存器来比较输入源的大小,无需外接比较器电路,在比较器中用户可自行配置比较器内部基准电平阈值为用户设计电路带来了很大的方便,且极大程度上减少外部电路的干扰。
为解决上述技术问题,本实用新型是通过以下技术方案实现的:
本实用新型为一种内置多种参考电压比较器的IC芯片,包括比较器CMP,所述比较器CMP的反向输入端与第一数据选择器MUX1连接;所述比较器CMP的同相输入端与第二数据选择器MUX2连接;所述第一数据选择器MUX1的输入端分别与正相输入端CON、VDD*2/3、内建基准电平VREF_LVD和GND连接;所述第二数据选择器MUX2的输入端分别与反相输入端COP、VDD*2/3、内建基准电平VREF_LVD和GND连接;所述比较器CMP的输出端输出结果数据至滤波器;所述滤波器对接收的数据进行滤波处理后传输至控制器;所述控制器向外部电路输出比较结果数据。
进一步地,所述内建基准电平VREF_LVD的范围为1.15V-2.70V,每0.05V一挡。
进一步地,所述第一数据选择器MUX1和第二数据选择器MUX2通过配置CNS[1:0]和CPS[1:0]位来进行参数配置。
进一步地,所述滤波器将不稳定信号进行滤波处理后输出到比较器中断或者端口。
本实用新型具有以下有益效果:
本实用新型将比较器集成在IC芯片中,用户可直接通过配置内置的比较器控制寄存器来比较输入源的大小,无需外接比较器电路,在比较器中用户可自行配置比较器内部基准电平阈值为用户设计电路带来了很大的方便,且极大程度上减少外部电路的干扰。
当然,实施本实用新型的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案,下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一种内置多种参考电压比较器的IC芯片的结构示意图;
图2为一种内置多种参考电压比较器的IC芯片的原理示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-2所示,本实用新型为一种内置多种参考电压比较器的IC芯片,型号为M8P831;包括比较器CMP,比较器CMP的反向输入端与第一数据选择器MUX1连接;比较器CMP的同相输入端与第二数据选择器MUX2连接;第一数据选择器MUX1和第二数据选择器MUX2通过配置CNS[1:0]和CPS[1:0]位来进行参数配置;
第一数据选择器MUX1的输入端分别与正相输入端CON、VDD*2/3、内建基准电平VREF_LVD和GND连接;第二数据选择器MUX2的输入端分别与反相输入端COP、VDD*2/3、内建基准电平VREF_LVD和GND连接;内建基准电平VREF_LVD的范围为1.15V-2.70V,每0.05V一挡,可由用户自由配置IC内部基准电平可供用户选择;
比较器CMP的输出端输出结果数据至滤波器;滤波器对接收的数据进行滤波处理后传输至控制器;控制器向外部电路输出比较结果数据。
如图2所示为比较器原理框图,其中GND、VREF参考电压、Vin以及VDD*2/3为电压输入端口模块,比较器可选择电压输入端口经由电压比较电路将结果输出到滤波电路中,滤波电路将不稳定信号进行滤波后输出到比较器中断或者端口。
用户可自由配置正相输入端(COP)从端口输出,从而在实际运用电路中可测量正相输入端(COP)内部信号,在用户实际运用中更加灵活。在此比较器中用户可自行配置比较器内部基准电平阈值为用户设计电路带来了很大的方便,且极大程度上减少外部电路的干扰。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上公开的本实用新型优选实施例只是用于帮助阐述本实用新型。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该实用新型仅为所述的具体实施方式。显然,根据本说明书的内容,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本实用新型。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
Claims (4)
1.一种内置多种参考电压比较器的IC芯片,其特征在于:包括比较器CMP,所述比较器CMP的反向输入端与第一数据选择器MUX1连接;所述比较器CMP的同相输入端与第二数据选择器MUX2连接;
所述第一数据选择器MUX1的输入端分别与正相输入端CON、VDD*2/3、内建基准电平VREF_LVD和GND连接;
所述第二数据选择器MUX2的输入端分别与反相输入端COP、VDD*2/3、内建基准电平VREF_LVD和GND连接;
所述比较器CMP的输出端输出结果数据至滤波器;所述滤波器对接收的数据进行滤波处理后传输至控制器;所述控制器向外部电路输出比较结果数据。
2.根据权利要求1所述的一种内置多种参考电压比较器的IC芯片,其特征在于,所述内建基准电平VREF_LVD的范围为1.15V-2.70V,每0.05V一挡。
3.根据权利要求1所述的一种内置多种参考电压比较器的IC芯片,其特征在于,所述第一数据选择器MUX1和第二数据选择器MUX2通过配置CNS[1:0]和CPS[1:0]位来进行参数配置。
4.根据权利要求1所述的一种内置多种参考电压比较器的IC芯片,其特征在于,所述滤波器将不稳定信号进行滤波处理后输出到比较器中断或者端口。
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