CN220206585U - 一种薄膜辊平行度测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种薄膜辊平行度测量装置,涉及测量技术领域,包括至少两个测量模块,以及连接杆,测量模块包括固定座、带有刻度读数的测量臂和滑动安装于测量臂上的滑块,各固定座通过连接杆固定连接,分别用于可拆卸的固定于一个薄膜辊的检测位置;各测量臂分别固定于相应的各固定座上,各测量臂平行,并且分别伸向另一个远固定座的薄膜辊,各滑块分别沿相应的测量臂滑向远固定座的薄膜辊的测量位置,用于根据各滑块在相应测量臂的所在位置的刻度读数,读取两个薄膜辊的间距,实现了一次固定测量即可得到薄膜辊两端的间距数据,高效准确的得到辊系平行度的判断。
Description
技术领域
本实用新型涉及测量技术领域,更具体的说,本实用新型涉及一种薄膜辊平行度测量装置。
背景技术
导电金属薄膜是一类具有多种良好性能的材料,现已广泛应用于电池中作为正极集流体或者负极集流体。
导电金属薄膜生产完成后需被缠绕成卷,然后进行后续的裁切等工序。在整个生产过程中,不断涉及到薄膜辊的运用,而薄膜辊之间的平行度是薄膜辊的重要指标。因此,需对两个薄膜辊之间的平行度进行测量。
现有技术中,通常是检测人员手持直尺分别在两根薄膜辊的两端,对两个薄膜辊的间距进行两次测量,根据测量的数值来判定薄膜辊之间的平行度,这种测量方式由于需要手工测量两次,效率较低。
实用新型内容
为了克服现有技术的不足,本实用新型提供了一种薄膜辊平行度测量装置。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种薄膜辊平行度测量装置,其改进之处在于:包括至少两个测量模块,以及连接杆,测量模块包括固定座、带有刻度读数的测量臂和滑动安装于测量臂上的滑块,各固定座通过连接杆固定连接,分别用于可拆卸的固定于一个薄膜辊的检测位置;
各测量臂分别固定于相应的各固定座上,各测量臂平行,并且分别伸向另一个远固定座的薄膜辊,各滑块分别沿相应的测量臂滑向远固定座的薄膜辊的测量位置,用于根据各滑块在相应测量臂的所在位置的刻度读数,读取两个薄膜辊的间距。
在上述结构中,所述的连接杆为伸缩杆,用于根据薄膜辊的长度调整各固定座之间的距离,使各固定座固定于薄膜辊的检测位置。
在上述结构中,所述的固定座上设有用于卡紧薄膜辊的辊子卡槽,各固定座通过辊子卡槽可拆卸的固定于一个薄膜辊的检测位置。
在上述结构中,所述的辊子卡槽为磁吸式卡槽。
在上述结构中,所述磁吸为电驱动。
在上述结构中,所述的测量臂垂直于连接杆。
在上述结构中,所述的测量臂铰接固定于相应的各固定座上,用于调节测量臂的角度。
在上述结构中,所述的各固定座均设有可伸缩的支脚,用于调整固定座的高度。
在上述结构中,所述的滑块上还设有精确测量单元,该精确测量单元用于精确测量两个薄膜辊的两端的间距。
在上述结构中,所述的精确测量单元为千分尺。
本实用新型的有益效果是:通过将测量模块固定在待测量的薄膜辊上,实现了一次固定测量即可得到薄膜辊两端的间距数据,高效准确的得到辊系平行度的判断;并且,固定座的设置方便了对测量装置的固定,从而使得测量更加精确。
附图说明
附图1为本实用新型的一种薄膜辊平行度测量装置的结构示意图。
其中,100、测量模块;200、连接杆;1、固定座;2、测量臂;3、滑块;4、辊子卡槽;5、支脚;6、精确测量单元。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
以下将结合实施例和附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述,以充分地理解本实用新型的目的、特征和效果。显然,所描述的实施例只是本实用新型的一部分实施例,而不是全部实施例,基于本实用新型的实施例,本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例,均属于本实用新型保护的范围。另外,专利中涉及到的所有联接/连接关系,并非单指构件直接相接,而是指可根据具体实施情况,通过添加或减少联接辅件,来组成更优的联接结构。本实用新型创造中的各个技术特征,在不互相矛盾冲突的前提下可以交互组合。
参照图1所示,一种薄膜辊平行度测量装置,包括至少两个测量模块100,以及连接杆200,本实施例之一,以两个测量模块100作为举例说明,测量模块100包括固定座1、带有刻度读数的测量臂2和滑动安装于测量臂2上的滑块3,两个固定座1通过连接杆200固定连接,分别用于可拆卸的固定于待测的一个薄膜辊的两端,该两端即该薄膜辊的检测位置(该薄膜辊为待测平行度的两个薄膜辊中的其中一个,即近固定座的薄膜辊);两个测量臂2分别固定于两个固定座1,两个测量臂2平行,并且分别伸向另一个远固定座的薄膜辊(该薄膜辊为待测平行度的两个薄膜辊中的另外一个,即远离固定座的薄膜辊),两个滑块3分别沿相应的测量臂2滑向远固定座1的薄膜辊的两端,即该远固定座的薄膜辊的测量位置(即待测平行度的两个薄膜辊中远离固定座的那个薄膜辊的两端),用于根据两个滑块3在相应测量臂2的所在位置的刻度读数,读取两个薄膜辊的两端的间距,进而判断两个薄膜辊的平行度,实现了一次固定测量即可得到两个薄膜辊两端的间距数据,高效准确的得到薄膜辊平行度的判断。进一步的,滑块3上设有指针,方便了对滑块3所在位置的测量臂2的刻度读数进行示数。本实用新型是以薄膜辊为实施例来说明本测量装置对辊系的平行度进行测量的原理,实际上,本实用新型的测量装置不仅可应用于薄膜辊,也可以用于其他辊系的测量。
进一步的,所述的连接杆200为伸缩杆,方便根据待测量的薄膜辊的长度调整两个固定座1之间的距离,使两个固定座1可始终保持固定于薄膜辊的两端(即薄膜辊的检测位置),从而方便适应不同的使用场景。
进一步的,所述的固定座1上设有用于卡紧薄膜辊的辊子卡槽4,两个固定座1通过辊子卡槽4可拆卸的固定于一个薄膜辊的两端(即薄膜辊的检测位置)。进一步的,所述的辊子卡槽4为磁吸式卡槽,磁吸固定的方式,使得将固定座1固定于薄膜辊两端时,或者将固定座1从薄膜辊两端拆下时,都更加方便快捷,并且在固定座1固定于薄膜辊两端时,可以使固定座1与薄膜辊固定的更紧密。所述磁吸为电驱动,方便磁吸固定或者解除磁吸固定。
进一步的,所述的两个测量臂2垂直于连接杆200。
进一步的,所述的两个测量臂2铰接固定于两个固定座1上,用于调节测量臂2的角度,方便了根据两个待测量的薄膜辊的不同落差来调节测量臂2的角度,使两个测量臂2始终保持分别伸向另一个薄膜辊的两端,适应不同的使用场景。
进一步的,所述的两个固定座1均设有可伸缩的支脚5,例如,将可伸缩的支脚5设置在固定座1的底部,方便了根据待测量的薄膜辊的高度来相应调整固定座1的高度,适应不同的使用场景。
进一步的,所述的滑块3上还设有精确测量单元6,该精确测量单元6用于精确测量两个薄膜辊的两端的间距。例如,所述的精确测量单元6可为千分尺,对两个薄膜辊两端的间距,进行更精确的测量。
作为实施例之二,所述的测量模块100为三个,其他结构与上述实施例之一的结构相同,区别在于:第三个测量模块100位于其他两个测量模块100之间,第三个测量模块100中的固定座1可拆卸的固定于待测的一个薄膜辊的中间的检测位置,相应的,第三个测量模块100中的滑块3沿相应的测量臂2滑向远固定座1的薄膜辊的中间的测量位置,根据第三个测量模块100中的滑块3在相应测量臂2的所在位置的刻度读数,读取两个薄膜辊的两端的间距,如此,便比上述的实施例多了一个间距的读数,进而根据该三个间距得数,判断两个薄膜辊的平行度。此时,能判断的更加准确。
本实用新型的一种薄膜辊平行度测量装置,通过将测量模块固定在待测量的薄膜辊上,实现了一次固定测量即可得到薄膜辊两端的间距数据,高效准确的得到辊系平行度的判断;并且,固定座的设置方便了对测量装置的固定,从而使得测量更加精确。
以上是对本实用新型的较佳实施进行了具体说明,但本实用新型创造并不限于所述实施例,熟悉本领域的技术人员在不违背本实用新型精神的前提下还可做出种种的等同变形或替换,这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。
Claims (10)
1.一种薄膜辊平行度测量装置,其特征在于:包括至少两个测量模块,以及连接杆,测量模块包括固定座、带有刻度读数的测量臂和滑动安装于测量臂上的滑块,各固定座通过连接杆固定连接,分别用于可拆卸的固定于一个薄膜辊的检测位置;
各测量臂分别固定于相应的各固定座上,各测量臂平行,并且分别伸向另一个远固定座的薄膜辊,各滑块分别沿相应的测量臂滑向远固定座的薄膜辊的测量位置,用于根据各滑块在相应测量臂的所在位置的刻度读数,读取两个薄膜辊的间距。
2.如权利要求1所述的一种薄膜辊平行度测量装置,其特征在于:所述的连接杆为伸缩杆,用于根据薄膜辊的长度调整各固定座之间的距离,使各固定座固定于薄膜辊的检测位置。
3.如权利要求1或2所述的一种薄膜辊平行度测量装置,其特征在于:所述的固定座上设有用于卡紧薄膜辊的辊子卡槽,各固定座通过辊子卡槽可拆卸的固定于一个薄膜辊的检测位置。
4.如权利要求3所述的一种薄膜辊平行度测量装置,其特征在于:所述的辊子卡槽为磁吸式卡槽。
5.如权利要求4所述的一种薄膜辊平行度测量装置,其特征在于:所述磁吸为电驱动。
6.如权利要求1、2、4或5任一项所述的一种薄膜辊平行度测量装置,其特征在于:所述的测量臂垂直于连接杆。
7.如权利要求1、2、4或5任一项所述的一种薄膜辊平行度测量装置,其特征在于:所述的测量臂铰接固定于相应的各固定座上,用于调节测量臂的角度。
8.如权利要求1、2、4或5任一项所述的一种薄膜辊平行度测量装置,其特征在于:所述的各固定座均设有可伸缩的支脚,用于调整固定座的高度。
9.如权利要求1、2、4或5任一项所述的一种薄膜辊平行度测量装置,其特征在于:所述的滑块上还设有精确测量单元,该精确测量单元用于精确测量两个薄膜辊的间距。
10.如权利要求9所述的一种薄膜辊平行度测量装置,其特征在于:所述的精确测量单元为千分尺。
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