CN219871747U - 一种半导体探针测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体探针测试治具，包括支撑架和探针切换机构；支撑架：其上表面固定连接有固定板，支撑架的下表面四角均螺纹连接有支脚，固定板的上表面中部固定连接有测试台，测试台上表面开设的滑动槽内滑动连接有活动台，固定板的上表面左侧固定连接有支柱，支柱的上端通过销轴转动连接有摆臂，固定板的上表面右侧设置有显示屏；探针切换机构：其设置于摆臂的内部，摆臂的上表面设置有第二电动推杆，第二电动推杆的伸缩端与位于其下方的探针切换机构配合安装，该半导体探针测试治具，可以对需要进行测试的探针进行快速准确的切换，可以对探针进行多角度测试，便于使用。

Description

一种半导体探针测试治具

技术领域

本实用新型涉及半导体探针技术领域，具体为一种半导体探针测试治具。

背景技术

半导体探针也被称测试探针，是应用于电子测试中测试半导体元器件的一种功能测试探针，起连接导电和传播信号的作用，除了一般的芯片测试用途，也可广泛应用在汽车、智能手机、平板电脑、GSP导航、电视机等作为内部连接配件，在半导体探针的生产中，常常需要对半导体探针进行测试，现有的半导体探针测试治具是将半导体探针进行固定在电动推杆伸缩端的安装座上，使半导体探针的输入端点连接外部PLC控制器的输出端，然后对PCB板进行固定，使PCB板的输出端点连接PLC控制器的输入端，然后由电动推杆驱动需要进行测试的半导体探针靠近PCB板，如果可以由PCB板向PCB板传输信息则说明半导体探针合格，但是在对半导体探针的测试中，人员需要不断的更换半导体探针来进行测试，比较费时费力，为此，我们提出一种半导体探针测试治具。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种半导体探针测试治具，可以对需要进行测试的探针进行快速准确的切换，可以对探针进行多角度测试，便于使用，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体探针测试治具，包括支撑架和探针切换机构；

支撑架：其上表面固定连接有固定板，支撑架的下表面四角均螺纹连接有支脚，固定板的上表面中部固定连接有测试台，测试台上表面开设的滑动槽内滑动连接有活动台，固定板的上表面左侧固定连接有支柱，支柱的上端通过销轴转动连接有摆臂，固定板的上表面右侧设置有显示屏；

探针切换机构：其设置于摆臂的内部，摆臂的上表面设置有第二电动推杆，第二电动推杆的伸缩端与位于其下方的探针切换机构配合安装；

其中：所述固定板的上表面左侧设置有PLC控制器，第二电动推杆和显示屏的输入端均电连接PLC控制器的输出端，可以对需要进行测试的探针进行快速准确的切换，可以对探针进行多角度测试，便于使用。

进一步的，所述探针切换机构包括转动盘、弹簧、活动板和滑柱，所述转动盘通过转轴转动连接于摆臂的下表面，转动盘的下表面固定连接有均匀分布的滑柱，滑柱的底端均固定连接有挡片，相邻的两个滑柱的外弧面之间均滑动连接有活动板，活动板上表面靠近转动盘竖向中心的一侧均匀开设的放置槽内均固定连接有橡胶圈，挡片与活动板之间均设置有弹簧，弹簧均套设于滑柱的外弧面，第二电动推杆的伸缩端与位于其下方的活动板配合安装，通过放置槽来对需要进行测试的探针进行安装，通过活动板带动安装之后的探针上下移动。

进一步的，所述探针切换机构还包括第二支座、蜗杆、蜗轮、第一齿轮和第二齿轮，所述第一齿轮通过转动轴转动连接于摆臂的内部底端右侧，第二齿轮固定套设于转轴的外弧面上端，第一齿轮与第二齿轮啮合连接，蜗轮固定套设于转动轴的外弧面下侧，摆臂的内部底端固定连接有两个左右对称分布的第二支座，两个第二支座之间通过轴承转动连接有蜗杆，蜗杆与蜗轮啮合连接，通过蜗杆与蜗轮之间的啮合关系带动转动盘的转动实现对探针的切换。

进一步的，所述摆臂的内部底端后侧设置有第一电机，第一电机的输出轴与蜗杆固定连接，第一电机的输入端电连接PLC控制器的输出端，控制蜗杆的转动。

进一步的，所述支柱的后侧面下端通过销轴转动连接有第一电动推杆，第一电动推杆的伸缩端通过销轴与摆臂转动连接，第一电动推杆的输入端电连接PLC控制器的输出端，控制探针的转动角度。

进一步的，固定板的上表面中部固定连接有两个左右对称分布的第一支座，两个第一支座之间通过轴承转动连接有调节丝杆，调节丝杆与活动台螺纹连接，通过调节丝杆的转动来带动活动台的移动。

进一步的，所述固定板的上表面右侧设置有第二电机，第二电机的输出轴与调节丝杆固定连接，第二电机的输入端电连接PLC控制器的输出端，控制调节丝杆的转动。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本半导体探针测试治具，具有以下好处：

通过PLC控制器调控显示屏和第二电动推杆运行，第二电动推杆的伸缩端向下伸出，使得第二电动推杆的伸缩端带动位于其下侧的活动板与滑柱发生滑动，弹簧被压缩，使得活动板带动需要测试的半导体探针向下移动，使需要测试的半导体探针与PCB板的触点接触，当PCB板的输出端向PLC控制器传输数据时，则由PLC控制器向显示屏发出合格的信息，由显示屏将信息显示出来，然后通过PLC控制器调控第一电动推杆运行，使第一电动推杆的伸缩端收回一定的长度，使得摆臂与支柱发生转动，使得摆臂带动需要测试的半导体探针发生倾斜，通过PLC控制器调控第二电机运行，第二电机的输出轴带动调节丝杆发生转动，使得调节丝杆带动活动台带动PCB板发生移动，对PCB板的位置进行调整，再由PLC控制器调控第二电动推杆运行，使得第二电动推杆运行的伸缩端推动，需要测试的半导体探针重新与PCB板触点接触，对需要测试的半导体探针进行多角度的接触，在需要更换半导体探针测试时，通过PLC控制器调控第一电机发生转动，使得第一电机的输出轴带动蜗杆发生转动，进而通过蜗杆与蜗轮之间的啮合关系，使得蜗轮发生转动，进而使第一齿轮发生转动，通过第一齿轮与第二齿轮之间的啮合关系，使得转轴发生转动，进而使转轴带动转动盘发生转动，使转动盘转动一定的角度，对位于第二电动推杆下方的活动板进行切换，进而对需要更换半导体探针进行切换，然后重复上述测试操作，实现对半导体探针的测试，通过蜗杆与蜗轮之间的啮合关系实现第一齿轮的自锁，再由第一齿轮与第二齿轮之间的啮合关系实现转动盘的自锁，进而使转动盘可以快速稳定的切换需要进行测试的半导体探针的测试，通过第二电动推杆的伸缩端推动位于其下方的活动板向下，使得需要进行测试的半导体探针向下接触PCB板，对半导体探针进行检测，再通过第一电动推杆控制需要进行测试的半导体探针发生转动，对半导体探针进行多角度测试，可以对需要进行测试的探针进行快速准确的切换，可以对探针进行多角度测试，便于使用。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型摆臂的内部剖视结构示意图；

图3为本实用新型结构A处放大示意图。

图中：1支撑架、2支脚、3固定板、4测试台、5第一支座、6调节丝杆、7活动台、8支柱、9摆臂、10第一电动推杆、11探针切换机构、111第二支座、112蜗杆、113蜗轮、114第一齿轮、115第二齿轮、116转动盘、117弹簧、118活动板、119滑柱、12第一电机、13第二电动推杆、14第二电机、15显示屏、16PLC控制器。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，本实施例提供一种技术方案：一种半导体探针测试治具，包括支撑架1和探针切换机构11；

支撑架1：其上表面固定连接有固定板3，支撑架1的下表面四角均螺纹连接有支脚2，固定板3的上表面中部固定连接有测试台4，测试台4上表面开设的滑动槽内滑动连接有活动台7，固定板3的上表面左侧固定连接有支柱8，支柱8的上端通过销轴转动连接有摆臂9，固定板3的上表面右侧设置有显示屏15，固定板3的上表面中部固定连接有两个左右对称分布的第一支座5，两个第一支座5之间通过轴承转动连接有调节丝杆6，调节丝杆6与活动台7螺纹连接，使得调节丝杆6带动活动台7带动PCB板发生移动，对PCB板的位置进行调整；

探针切换机构11：其设置于摆臂9的内部，摆臂9的上表面设置有第二电动推杆13，第二电动推杆13的伸缩端与位于其下方的探针切换机构11配合安装，探针切换机构11包括转动盘116、弹簧117、活动板118和滑柱119，转动盘116通过转轴转动连接于摆臂9的下表面，转动盘116的下表面固定连接有均匀分布的滑柱119，滑柱119的底端均固定连接有挡片，相邻的两个滑柱119的外弧面之间均滑动连接有活动板118，活动板118上表面靠近转动盘116竖向中心的一侧均匀开设的放置槽内均固定连接有橡胶圈，挡片与活动板118之间均设置有弹簧117，弹簧117均套设于滑柱119的外弧面，第二电动推杆13的伸缩端与位于其下方的活动板118配合安装，探针切换机构11还包括第二支座111、蜗杆112、蜗轮113、第一齿轮114和第二齿轮115，第一齿轮114通过转动轴转动连接于摆臂9的内部底端右侧，第二齿轮115固定套设于转轴的外弧面上端，第一齿轮114与第二齿轮115啮合连接，蜗轮113固定套设于转动轴的外弧面下侧，摆臂9的内部底端固定连接有两个左右对称分布的第二支座111，两个第二支座111之间通过轴承转动连接有蜗杆112，蜗杆112与蜗轮113啮合连接，将需要测试的半导体探针依次放入放置槽内，通过放置槽内设置的橡胶圈对需要测试的半导体探针的摩擦力对半导体探针进行固定，进而通过蜗杆112与蜗轮113之间的啮合关系，使得蜗轮113发生转动，进而使第一齿轮114发生转动，通过第一齿轮114与第二齿轮115之间的啮合关系，使得转轴发生转动，进而使转轴带动转动盘116发生转动，使转动盘116转动一定的角度，对位于第二电动推杆13下方的活动板118进行切换，进而对需要更换半导体探针进行切换；

其中：固定板3的上表面左侧设置有PLC控制器16，第二电动推杆13和显示屏15的输入端均电连接PLC控制器16的输出端，摆臂9的内部底端后侧设置有第一电机12，第一电机12的输出轴与蜗杆112固定连接，第一电机12的输入端电连接PLC控制器16的输出端，支柱8的后侧面下端通过销轴转动连接有第一电动推杆10，第一电动推杆10的伸缩端通过销轴与摆臂9转动连接，第一电动推杆10的输入端电连接PLC控制器16的输出端，固定板3的上表面右侧设置有第二电机14，第二电机14的输出轴与调节丝杆6固定连接，第二电机14的输入端电连接PLC控制器16的输出端，PLC控制器16调控显示屏15、第一电动推杆10、第二电动推杆13、第一电机12和第二电机14的正常运行，将需要测试的半导体探针的输入端与PLC控制器16连接，将PCB板放置在活动台7的上表面，通过螺丝使PCB板与活动台7连接，使PCB板的输出端电连接PLC控制器16的输入端，通过PLC控制器16调控显示屏15和第二电动推杆13运行，第二电动推杆13的伸缩端向下伸出，使得第二电动推杆13的伸缩端带动位于其下侧的活动板118与滑柱119发生滑动，弹簧117被压缩，使得活动板118带动需要测试的半导体探针向下移动，使需要测试的半导体探针与PCB板的触点接触，当PCB板的输出端向PLC控制器16传输数据时，则由PLC控制器16向显示屏15发出合格的信息，由显示屏15将信息显示出来，然后通过PLC控制器16调控第一电动推杆10运行，使第一电动推杆10的伸缩端收回一定的长度，使得摆臂9与支柱8发生转动，使得摆臂9带动需要测试的半导体探针发生倾斜，通过PLC控制器16调控第二电机14运行，第二电机14的输出轴带动调节丝杆6发生转动，再由PLC控制器16调控第二电动推杆13运行，使得第二电动推杆13运行的伸缩端推动，需要测试的半导体探针重新与PCB板触点接触，对需要测试的半导体探针进行多角度的接触，在需要更换半导体探针测试时，通过PLC控制器16调控第一电机12发生转动，使得第一电机12的输出轴带动蜗杆112发生转动，进而通过蜗杆112与蜗轮113之间的啮合关系，使得蜗轮113发生转动，进而使第一齿轮114发生转动，通过第一齿轮114与第二齿轮115之间的啮合关系，使得转轴发生转动，进而使转轴带动转动盘116发生转动，使转动盘116转动一定的角度，对位于第二电动推杆13下方的活动板118进行切换，进而对需要更换半导体探针进行切换。

本实用新型提供的一种半导体探针测试治具的工作原理如下：

在对半导体探针进行测试时，测试人员将需要测试的半导体探针依次放入放置槽内，通过放置槽内设置的橡胶圈对需要测试的半导体探针的摩擦力对半导体探针进行固定，将需要测试的半导体探针的输入端与PLC控制器16连接，将PCB板放置在活动台7的上表面，通过螺丝使PCB板与活动台7连接，使PCB板的输出端电连接PLC控制器16的输入端，通过PLC控制器16调控显示屏15和第二电动推杆13运行，第二电动推杆13的伸缩端向下伸出，使得第二电动推杆13的伸缩端带动位于其下侧的活动板118与滑柱119发生滑动，弹簧117被压缩，使得活动板118带动需要测试的半导体探针向下移动，使需要测试的半导体探针与PCB板的触点接触，当PCB板的输出端向PLC控制器16传输数据时，则由PLC控制器16向显示屏15发出合格的信息，由显示屏15将信息显示出来，然后通过PLC控制器16调控第一电动推杆10运行，使第一电动推杆10的伸缩端收回一定的长度，使得摆臂9与支柱8发生转动，使得摆臂9带动需要测试的半导体探针发生倾斜，通过PLC控制器16调控第二电机14运行，第二电机14的输出轴带动调节丝杆6发生转动，使得调节丝杆6带动活动台7带动PCB板发生移动，对PCB板的位置进行调整，再由PLC控制器16调控第二电动推杆13运行，使得第二电动推杆13运行的伸缩端推动，需要测试的半导体探针重新与PCB板触点接触，对需要测试的半导体探针进行多角度的接触，在需要更换半导体探针测试时，通过PLC控制器16调控第一电机12发生转动，使得第一电机12的输出轴带动蜗杆112发生转动，进而通过蜗杆112与蜗轮113之间的啮合关系，使得蜗轮113发生转动，进而使第一齿轮114发生转动，通过第一齿轮114与第二齿轮115之间的啮合关系，使得转轴发生转动，进而使转轴带动转动盘116发生转动，使转动盘116转动一定的角度，对位于第二电动推杆13下方的活动板118进行切换，进而对需要更换半导体探针进行切换，然后重复上述测试操作，实现对半导体探针的测试，通过蜗杆112与蜗轮113之间的啮合关系实现第一齿轮114的自锁，再由第一齿轮114与第二齿轮115之间的啮合关系实现转动盘116的自锁，进而使转动盘116可以快速稳定的切换需要进行测试的半导体探针的测试，通过第二电动推杆13的伸缩端推动位于其下方的活动板118向下，使得需要进行测试的半导体探针向下接触PCB板，对半导体探针进行检测，再通过第一电动推杆10控制需要进行测试的半导体探针发生转动，对半导体探针进行多角度测试，可以对需要进行测试的探针进行快速准确的切换，可以对探针进行多角度测试，便于使用。

值得注意的是，以上实施例中所公开的显示屏15可选用的是LED显示屏，第一电动推杆10可选用的是DTP型，第二电动推杆13可选用的是DTZ型，第一电机12可选用的是ECMA-C20604RS，第二电机14可选用的是SM3L-042A1BDV伺服电机，PLC控制器16可选用的是STM32，PLC控制器16调控显示屏15、第一电动推杆10、第二电动推杆13、第一电机12和第二电机14工作采用现有技术中常用的方法。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (7)

1.一种半导体探针测试治具，其特征在于：包括支撑架(1)和探针切换机构(11)；

支撑架(1)：其上表面固定连接有固定板(3)，支撑架(1)的下表面四角均螺纹连接有支脚(2)，固定板(3)的上表面中部固定连接有测试台(4)，测试台(4)上表面开设的滑动槽内滑动连接有活动台(7)，固定板(3)的上表面左侧固定连接有支柱(8)，支柱(8)的上端通过销轴转动连接有摆臂(9)，固定板(3)的上表面右侧设置有显示屏(15)；

探针切换机构(11)：其设置于摆臂(9)的内部，摆臂(9)的上表面设置有第二电动推杆(13)，第二电动推杆(13)的伸缩端与位于其下方的探针切换机构(11)配合安装；

其中：所述固定板(3)的上表面左侧设置有PLC控制器(16)，第二电动推杆(13)和显示屏(15)的输入端均电连接PLC控制器(16)的输出端。

2.根据权利要求1所述的一种半导体探针测试治具，其特征在于：所述探针切换机构(11)包括转动盘(116)、弹簧(117)、活动板(118)和滑柱(119)，所述转动盘(116)通过转轴转动连接于摆臂(9)的下表面，转动盘(116)的下表面固定连接有均匀分布的滑柱(119)，滑柱(119)的底端均固定连接有挡片，相邻的两个滑柱(119)的外弧面之间均滑动连接有活动板(118)，活动板(118)上表面靠近转动盘(116)竖向中心的一侧均匀开设的放置槽内均固定连接有橡胶圈，挡片与活动板(118)之间均设置有弹簧(117)，弹簧(117)均套设于滑柱(119)的外弧面，第二电动推杆(13)的伸缩端与位于其下方的活动板(118)配合安装。

3.根据权利要求2所述的一种半导体探针测试治具，其特征在于：所述探针切换机构(11)还包括第二支座(111)、蜗杆(112)、蜗轮(113)、第一齿轮(114)和第二齿轮(115)，所述第一齿轮(114)通过转动轴转动连接于摆臂(9)的内部底端右侧，第二齿轮(115)固定套设于转轴的外弧面上端，第一齿轮(114)与第二齿轮(115)啮合连接，蜗轮(113)固定套设于转动轴的外弧面下侧，摆臂(9)的内部底端固定连接有两个左右对称分布的第二支座(111)，两个第二支座(111)之间通过轴承转动连接有蜗杆(112)，蜗杆(112)与蜗轮(113)啮合连接。

4.根据权利要求3所述的一种半导体探针测试治具，其特征在于：所述摆臂(9)的内部底端后侧设置有第一电机(12)，第一电机(12)的输出轴与蜗杆(112)固定连接，第一电机(12)的输入端电连接PLC控制器(16)的输出端。

5.根据权利要求1所述的一种半导体探针测试治具，其特征在于：所述支柱(8)的后侧面下端通过销轴转动连接有第一电动推杆(10)，第一电动推杆(10)的伸缩端通过销轴与摆臂(9)转动连接，第一电动推杆(10)的输入端电连接PLC控制器(16)的输出端。

6.根据权利要求1所述的一种半导体探针测试治具，其特征在于：所述固定板(3)的上表面中部固定连接有两个左右对称分布的第一支座(5)，两个第一支座(5)之间通过轴承转动连接有调节丝杆(6)，调节丝杆(6)与活动台(7)螺纹连接。

7.根据权利要求6所述的一种半导体探针测试治具，其特征在于：所述固定板(3)的上表面右侧设置有第二电机(14)，第二电机(14)的输出轴与调节丝杆(6)固定连接，第二电机(14)的输入端电连接PLC控制器(16)的输出端。