CN219757356U - 光栅、编码器和伺服电机 - Google Patents

光栅、编码器和伺服电机 Download PDF

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CN219757356U CN202320618147.1U CN202320618147U CN219757356U CN 219757356 U CN219757356 U CN 219757356U CN 202320618147 U CN202320618147 U CN 202320618147U CN 219757356 U CN219757356 U CN 219757356U
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李宗伟
董静
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Abstract

本实用新型公开一种光栅、编码器和伺服电机,其中光栅包括:载体、第一绝对码道、及第二绝对码道,第一绝对码道设于载体,第一绝对码道具有沿测量方向形成的第一明暗图案,第一明暗图案包含多个第一明刻线区和多个第一暗刻线区,第二绝对码道,设于载体,第二绝对码道具有沿测量方向形成的第二明暗图案,第二明暗图案包含多个第二明刻线区和多个第二暗刻线区,第一明刻线区与第二暗刻线区一一对应,第一暗刻线区与第二明刻线区一一对应。本实用新型的技术方案旨在使装有该光栅的编码器的光电接收单元可以高效地输出高精度的绝对信号。

Description

光栅、编码器和伺服电机
技术领域
本实用新型涉及编码器技术领域,特别涉及一种光栅、编码器和伺服电机。
背景技术
编码器包括光栅、光源和感光芯片,由于光源照射测量光的非理想性,如光强分布不均的原因,而导致光源、光栅、感光芯片处在非理论位置时,会造成感光芯片上不同位置处接收到的光强不一致,如感光芯片中间接收到的光强较强,两边接收到的光强较弱,或感光芯片的中间接收到的光强较弱,两边接收到的光强较强,进而导致感光芯片的光电接收阵列输出的信号呈首尾信号幅值和偏置较小,中间信号幅值和偏置较大,亦或中间信号幅值、偏置小,首尾信号幅值、偏置大的情况。
由于上述现象的存在,处理这些幅值、偏置不均匀的模拟信号,现有技术中需要设计的繁杂的硬件电路和消耗较高的软件资源,来识别这些幅值、偏置不均匀的模拟信号中隐藏的编码信息。并且处理这些幅值、偏置不均匀的模拟信号,在时间上会带来较大延迟,使得编码器的位置响应的反馈速度较慢。
针对上述问题,目前尚未提出有效的解决方案。
实用新型内容
本实用新型的主要目的是提供一种光栅,旨在使装有该光栅的编码器的光电接收单元可以高效地输出高精度的绝对信号,有利于实现编码器后级软硬件对前端光电信号的快速处理,从而实现快速位置反馈,进而提升伺服***的响应速度。
为实现上述目的,本实用新型提出的光栅,该光栅应用于编码器,该光栅包括:
载体;
第一绝对码道,设于所述载体,所述第一绝对码道具有沿测量方向形成的第一明暗图案,所述第一明暗图案包含多个第一明刻线区和多个第一暗刻线区;以及
第二绝对码道,设于所述载体,所述第二绝对码道具有沿所述测量方向形成的第二明暗图案,所述第二明暗图案包含多个第二明刻线区和多个第二暗刻线区,所述第一明刻线区与所述第二暗刻线区一一对应,所述第一暗刻线区与所述第二明刻线区一一对应。
可选地,所述载体配置为旋转码盘,所述旋转码盘具有垂直于所述旋转码盘的轴线的盘面,第一绝对码道和所述第二绝对码道均设于所述盘面,所述测量方向为所述旋转码盘的周向。
可选地,所述载体配置为旋转码盘,所述第一绝对码道和所述第二绝对码道均设于所述旋转码盘的外周面,所述测量方向为所述旋转码盘的周向。
可选地,所述载体配置为直线光栅尺,所述直线光栅尺具有垂直于所述直线光栅尺的厚度方向的尺面,第一绝对码道和所述第二绝对码道均设于所述尺面,所述测量方向为所述直线光栅尺的长度方向。
可选地,所述光栅还包括设于所述载体的第三绝对码道,所述地三绝对码道具有沿所述测量方向形成的第三明暗图案,所述第三明暗图案包含多个第三明刻线区和多个第三暗刻线区。
可选地,所述光栅还包括设于所述载体的增量码道,所述增量码道具有沿所述测量方向形成的第四明暗图案,所述第四明暗图案包含多个第四明刻线区和多个第四暗刻线区。
本实用新型还提出一种编码器,该编码器包括:
前述的光栅;
光源,用以照射所述光栅;以及
第一绝对受光阵列,与所述光栅相对设置,所述第一绝对受光阵列用以接收所述光源照射到至少部分第一绝对码道时反射或透射的测量光,并生成第一绝对信号;
第二绝对受光阵列,与所述光栅相对设置,所述第二绝对受光阵列用以接收所述光源照射到至少部分第二绝对码道时反射或透射的测量光,并生成第二绝对信号,所述第一绝对信号和所述第二绝对信号用于解算绝对位置。
可选地,所述编码器还包括:
减法器,与所述第一绝对受光阵列和所述第一绝对受光阵列电性连接,所述减法器用于将所述第一绝对信号和所述第二绝对信号相减得到第一信号;
加法模块,用于将所述第一信号叠加比较电平,得到第二信号;以及
比较器,与所述减法器电连接,所述比较器设有所述比较电平,所述比较器用于比较所述第二信号与所述比较电平以输出方波,所述方波用于解算所述绝对位置。
可选地,所述方波的占空比为50%。
本实用新型还提出一种伺服电机,该伺服电机包括:
伺服电机主体;以及
前述的编码器,设于所述伺服电机主体。
本实用新型的技术方案中,光栅包括载体、设于载体的第一绝对码道、及设于载体的第二绝对码道。其中,第一绝对码道具有沿第一绝对码道具有沿测量方向形成的第一明暗图案,第一明暗图案包含多个第一明刻线区和多个第一暗刻线区。第二绝对码道具有沿测量方向形成的第二明暗图案,第二明暗图案包含多个第二明刻线区和多个第二暗刻线区,第一明刻线区与第二暗刻线区一一对应,第一暗刻线区与第二明刻线区一一对应,如此,当光栅应用于编码器时,编码器的减法器可以获得对应第一绝对码道的第一绝对信号、及对应第二绝对码道的第二绝对信号,由于第一明刻线区与第二暗刻线区一一对应,第一暗刻线区与第二明刻线区一一对应,那么,第一绝对信号和第二绝对信号存在共模差分的特质,减法器将第一绝对信号和第二绝对信号相减可以消除第一绝对信号和第二绝对信号的直流分量,使得编码器的光电接收单元可以高效地输出的高精度的绝对信号,有利于实现编码器后级软硬件对前端光电信号的快速处理,从而实现快速位置反馈。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本实用新型光栅一实施例的结构示意图;
图2为光栅的载体配置为旋转码盘时的结构示意图;
图3为本实用新型编码器第一实施例的结构示意图;
图4为本实用新型编码器第二实施例的结构示意图;
图5为本实用新型编码器第三实施例的结构示意图;
图6为本实用新型编码器第四实施例的结构示意图;
图7为本实用新型编码器第五实施例的结构示意图。
附图标号说明:
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
需要说明,本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“连接”、“固定”等应做广义理解,例如,“固定”可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,也可以是抵接,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
另外,若本实用新型实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述,则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,全文中出现的“和/或”的含义,包括三个并列的方案,以“A和/或B”为例,包括A方案、或B方案、或A和B同时满足的方案。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本实用新型要求的保护范围之内。
参照图1至7,在本实用新型一实施例中,光栅100可应用于编码器,编码器可以配置为旋转型编码器或直线型编码器。编码器可以包括光栅100、光源400和感光芯片500,在一些实施方式中,光源400也可以集成在感光芯片500上,具体的可以根据实际情况确定,本说明书实施例对此不作限定。光源400可以用于照射至少部分光栅100,感光芯片500用以接收光源400照射到光栅100时反射或透射的测量光,并将接收到的光信号转换成电信号从而生成输出信号,光栅100可相对光源400沿测量方向运动。
在本实施例中,上述测量方向可以为附图中的A方向,当然也可以根据实际的测量需求定义测量方向,具体的可以根据实际情况确定,本说明书实施例对此不作限定。
在本实施例中,光栅100可以包括第一绝对码道200和第二绝对码道300。感光芯片500可以包括第一绝对受光阵列600,第一绝对受光阵列600与光栅100相对设置,第一绝对受光阵列600用以接收光源400照射到至少部分第一绝对码道200时反射或透射的测量光,并生成第一绝对信号。感光芯片500还可以包括第二绝对受光阵列700,第二绝对受光阵列700与光栅100相对设置,第二绝对受光阵列700用以接收光源400照射到至少部分第二绝对码道300时反射或透射的测量光,并生成第二绝对信号。第一绝对信号和第二绝对信号用于解算绝对位置。
在本实施例中,第一绝对码道200和第二绝对码道300可以包括沿测量方向排布的第一绝对图案和第二绝对图案,绝对图案可以是指当前光源400照射的绝对码道的位置可以根据该绝对码道反射或透射的光信号在一个完整的测量周期内唯一确定的图案,绝对位置可以是指光栅100在一个测量周期内相对于原点的位置,绝对图案可以为按照预设规则变化的明暗条纹组合。
在本实施例中,绝对受光阵列可以包括沿测量方向排列的多个受光元件,用于接收码道反射或透射的光,并将接收的光信号转换为电信号。上述受光元件可以为光敏元件,例如:光电二极管、光电三极管等,当然还可以采用其它的光敏元件,具体的可以根据实际情况确定,本说明书实施例对此不作限定。
在一个实施例中关于第一绝对信号和第二绝对信号用于解算绝对位置,感光芯片500还可以包括减法器、加法模块和比较器。减法器与第一绝对受光阵列600和第一绝对受光阵列600电性连接,减法器用于将第一绝对信号和第二绝对信号相减得到第一信号,由于第一绝对码道200和第二绝对码道300具有互补特性,使得第一绝对信号和第二绝对信号存在相反的表现,这种表现就造成第一绝对信号和第二绝对信号存在共模差分的特质,第一绝对信号和第二绝对信号可通过运算消除直流分量,使得光电接收单元可以高效地输出高精度的绝对信号,有利于实现编码器后级软硬件对前端光电信号的快速处理,从而实现快速位置反馈,进而提升伺服***的响应速度。当第一绝对信号减去第二绝对信号时,第一绝对信号的共模电平和第二绝对信号的共模电平会相抵消。加法模块用于将第一信号叠加比较电平以得到第二信号,以使得第二信号的最小电平大于零。比较器与减法器电连接,比较器设有比较电平,比较电平用于比较第二信号与比较电平的输出方波,该方波用于解算绝对位置。
在本实施例中,方波的占空比可以为50%,比较电平的数值为第一信号的最大值与最小值之和再除以二的数值,如此,可得到方波的占空比为50%,从而使得光电接收单元可以高效地输出高精度的绝对信号,有利于实现编码器后级软硬件对前端光电信号的快速处理,从而实现快速位置反馈,进而提升伺服***的响应速度。当然,在其他实施例中,方波的占空比还可以根据实际需求进行设置,例如方波的占空比设置为40%。
在本实施例中,如图1,该仅展示了第一绝对信号和第二绝对信号的示意图,A(1)为与第一绝对码道200对应的第一绝对信号,B(1)为与第二绝对码道300对应的第二绝对信号,可以看出,A(1)与B(1)有类似于共模的特性,将两路信号经过减法器后,消除第一绝对信号和第二绝对信号中的不确定的共模电平Vref1_1,以获得第一信号,第一信号叠加比较电平VREF以获得第二信号,比较器设有该比较电平,即用同一个比较电平可实现,比较器输出的方波在明/暗图案处高电平时间或低电平时间一致,即占空比为50%。如果光栅100上不设计这样的相反图案,后端电路就没办法做共模信号处理运算,只能第一绝对受光阵列600和第二绝对受光阵列700之间分别选取不同的比较电平,这个比较电平选择的正确与否,直接影响了方波占空比质量,且非常耗费硬件和软件资源。其中,图1中的C1为比较器析出的方波。
在一个实施例中,应用于旋转电机的透射式光电编码器的结构可以如图3中所示,光栅100与电机的旋转轴连接,以带动光栅100跟随电机的旋转轴旋转,从而实现对电机位置的检测。第一绝对码道200、第二绝对码道300设置在旋转码盘的盘面,在光栅100厚度方向上,感光芯片500和光源400分别设置在光栅100的两侧,感光芯片500和光源400相对设置,感光芯片500用于接收光源400照射到第一绝对码道200、第二绝对码道300时透射的测量光。
在一个实施例中,应用于旋转电机的透射式光电编码器的结构可以如图4中所示,光栅100与电机的旋转轴连接,以带动光栅100跟随电机的旋转轴旋转,从而实现对电机位置的检测。第一绝对码道200、第二绝对码道300设置在旋转码盘的盘面,图4中示例性的将光源400集成在一个感光芯片500中,光源400和感光芯片500与盘面相对设置,感光芯片500用于接收光源400照射到第一绝对码道200、第二绝对码道300时反射的测量光。在一些实施例中,光源400还可以独立于感光芯片500设置,具体的位置可以根据实际的需求通过光路设计确定,本说明书实施例对此不作限定。
在又一实施例中,应用于旋转电机的反射式光电编码器的结构可以如图5中所示,光栅100与电机的旋转轴连接,以带动光栅100跟随电机的旋转轴旋转,从而实现对电机位置的检测。第一绝对码道200、第二绝对码道300设置在旋转码盘的外周面,光源400设于感光芯片500,光源400和感光芯片500与旋转码盘的外周面相对设置,感光芯片500用于接收光源400照射到第一绝对码道200、第二绝对码道300时反射的测量光。在一些实施例中,光源400还可以独立于感光芯片500设置,具体的位置可以根据实际的需求通过光路设计确定,本说明书实施例对此不作限定。
在再一实施例中,应用于透射式直线型编码器的结构可以如图6所示,第一绝对码道200、第二绝对码道300设置在直线光栅尺的尺面,在光栅100厚度方向上,感光芯片500和光源400分别设置在光栅100的两侧,感光芯片500和光源400相对设置,感光芯片500用于接收光源400照射到第一绝对码道200、第二绝对码道300时透射的测量光。
在另一个实施例中,应用于反射式光直线型编码器的结构可以如图7所示,第一绝对码道200、第二绝对码道300设置在直线光栅尺的尺面,图7中示例性的将光源400集成在一个感光芯片500中,感光芯片与尺面相对设置,感光芯片500用于接收光源照射到第一绝对码道200、第二绝对码道300时反射的测量光。在一些实施例中,光源400还可以独立于感光芯片500设置,具体的位置可以根据实际的需求通过光路设计确定,本说明书实施例对此不作限定。
在一个实施例中,光栅100可以包括载体110、第一绝对码道200、及第二绝对码道300。第一绝对码道200设于载体110,第一绝对码道200具有沿测量方向形成的第一明暗图案,第一明暗图案包含多个第一明刻线区220和多个第一暗刻线区240。第二绝对码道300,设于载体110,第二绝对码道300具有沿测量方向形成的第二明暗图案,第二明暗图案包含多个第二明刻线区320和多个第二暗刻线区340,第一明刻线区220与第二暗刻线区340一一对应,第一暗刻线区240与第二明刻线区320一一对应。如此,第一绝对码道200和第二绝对码道300明暗相反,呈互补设置。
在一些实施方式中,第一绝对码道200和第二绝对码道300也可以是错位设置,而不是明暗相反设置,具体的错位的相位差可以根据实际情况设计,本说明书上实施例对此不作限定。
在本实施例中,第一明刻线区220和第一暗刻线区240可以呈非周期性排列,第二明刻线区320和第二暗刻线区340呈非周期性排列。如此,光栅100在相对光源400沿测量方向运动时,由于多个第一明暗图案呈非周期性设置,以及第二明暗图案呈非周期性设置,光栅100上不同位置处的明暗图案信息都是不一样的,对应的反射或者透射的光信号也是不同的,因此,在一个测量周期中编码器可以通过光信号解析出唯一的位置信息。
光栅100的具体结构形式有很多,可选地,在一实施例中,载体110可以配置为旋转码盘,旋转码盘具有垂直于旋转码盘的轴线的盘面,第一绝对码道200和第二绝对码道300均设于盘面,测量方向可以为旋转码盘的周向。其中,第一绝对码道200和第二绝对码道300可以环绕上述轴线设置。
在又一实施例中,载体110可以配置为旋转码盘,第一绝对码道200和第二绝对码道300均设于旋转码盘的外周面,测量方向为旋转码盘的周向。具体而言,第一绝对码道200和第二绝对码道300环绕该轴线设置。
在另一实施例中,载体110可以配置为直线光栅尺,直线光栅尺具有垂直于直线光栅尺的厚度方向的尺面,第一绝对码道200和第二绝对码道300均设于尺面,测量方向为直线光栅尺的长度方向。
在一实施例中,第一明刻线区220可以配置为第一高透射刻线区,第一暗刻线区240配置为第一低透射刻线区。需要指出的是,高透射和低透射是相对而言的,也即在本方案中第一明刻线区220比第一暗刻线区240透光,至少大部分测量光可从第一明刻线区220穿过,而第一暗刻线区240不透光或只是透少量的光。
在另一实施例中,第一明刻线区220可以配置为第一高反射刻线区,第一暗刻线区240配置为第一低反射刻线区。需要指出的是,高反射和低反射是相对而言的,也即在本方案中第一明刻线区220的反射率比第一暗刻线的反射率要高。射入第一暗刻线区240的光大部分会被吸收,仅有少量的光被反射回来,入射第一明刻线区220的光大部分会被反射回来,反射回来的光会照射在感光芯片500上。
在一实施例中,第二明刻线区320可以配置为第二高透射刻线区,第二暗刻线区340配置为第二低透射刻线区。需要指出的是,高透射和低透射是相对而言的,也即在本方案中第二明刻线区320比第二暗刻线区340透光,至少大部分测量光可从第二明刻线区320穿过,而第二暗刻线区340不透光或只是透少量的光。
在另一实施例中,第二明刻线区320可以配置为第二高反射刻线区,第二暗刻线区340配置为第二低反射刻线区。需要指出的是,高反射和低反射是相对而言的,也即在本方案中第二明刻线区320的反射率比第二暗刻线的反射率要高。射入第二暗刻线区340的光大部分会被吸收,仅有少量的光被反射回来,入射第二明刻线区320的光大部分会被反射回来,反射回来的光会照射在感光芯片500上。
在一实施例中,光栅100还可以包括设于载体110的第三绝对码道,地三绝对码道具有沿测量方向形成的第三明暗图案,第三明暗图案可以包含多个第三明刻线区和多个第三暗刻线区。上述第三明暗图案可以与第一明暗图案存在相位差,不与第一明暗图案呈互补特征。第三明暗图案可以呈非周期性设置,或者第三明暗图案中明条纹的面积可以周期性规律变化等,只要可以实现绝对位置解算的明暗图案均应包含在本申请的保护范围内,具体的可以根据实际情况设计,本说明书实施例对此不作限定。
在本实施例中,由于工艺问题,第一绝对码道200和第二绝对码道300可能会存在一定的误差,因此,可以利用第三绝对码道进行校准验证,进而提高位置信号解算的精度。
在本实施例中,由于有些位置第一绝对码道200更精确,有些位置第二绝对码道300更精确,因此,可以将第三绝对码道作为参考码道,预先测试第三绝对码道与第一绝对码道200和第二绝对码道300之间的对应关系,并将该对应关系存储在预设位置处,在编码器运行时可以获取该对应关系,利用第三绝对码道对应的第三绝对信号选择第一绝对信号和第二绝对信号其中的一个作为目标绝对信号以解算绝对位置。当然可以理解的是,也可以利用第一绝对码道200和第二绝对码道300对应的第一绝对信号和第二绝对信号解算得到一个绝对位置,再利用第三码道对应的第三绝对信号解算得到另一个绝对位置,利用两个绝对位置相互校验以提高编码器输出的位置信息的精度。
在一实施例中,光栅100还可以包括设于载体110的增量码道800,增量码道800具有沿测量方向形成的第四明暗图案,第四明暗图案可以包含多个第四明刻线区和多个第四暗刻线区。第四明暗图案中的第四明刻线区和第四暗刻线区截图间隔设置,如此,增量码道800的明暗图案呈周期性变化。装有该光栅100的编码器可以具有增量编码器的功能,增量码道800可以用于对上述解算的绝对位置进行细分。
本实用新型还提出一种伺服电机,该伺服电机包括伺服电机主体、及设于伺服电机主体的前述的编码器,该编码器的具体结构参照上述实施例,由于本伺服电机采用了上述所有实施例的全部技术方案,因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果,在此不再一一赘述。
以上仅为本实用新型的可选实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是在本实用新型的发明构思下,利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种光栅,应用于编码器,其特征在于,包括:
载体;
第一绝对码道,设于所述载体,所述第一绝对码道具有沿测量方向形成的第一明暗图案,所述第一明暗图案包含多个第一明刻线区和多个第一暗刻线区;以及
第二绝对码道,设于所述载体,所述第二绝对码道具有沿所述测量方向形成的第二明暗图案,所述第二明暗图案包含多个第二明刻线区和多个第二暗刻线区,所述第一明刻线区与所述第二暗刻线区一一对应,所述第一暗刻线区与所述第二明刻线区一一对应。
2.如权利要求1所述的光栅,其特征在于,所述载体配置为旋转码盘,所述旋转码盘具有垂直于所述旋转码盘的轴线的盘面,第一绝对码道和所述第二绝对码道均设于所述盘面,所述测量方向为所述旋转码盘的周向。
3.如权利要求1所述的光栅,其特征在于,所述载体配置为旋转码盘,所述第一绝对码道和所述第二绝对码道均设于所述旋转码盘的外周面,所述测量方向为所述旋转码盘的周向。
4.如权利要求1所述的光栅,其特征在于,所述载体配置为直线光栅尺,所述直线光栅尺具有垂直于所述直线光栅尺的厚度方向的尺面,第一绝对码道和所述第二绝对码道均设于所述尺面,所述测量方向为所述直线光栅尺的长度方向。
5.如权利要求1所述的光栅,其特征在于,所述光栅还包括设于所述载体的第三绝对码道,所述第三绝对码道具有沿所述测量方向形成的第三明暗图案。
6.如权利要求1所述的光栅,其特征在于,所述光栅还包括设于所述载体的增量码道,所述增量码道具有沿所述测量方向形成的第四明暗图案,所述第四明暗图案包含多个第四明刻线区和多个第四暗刻线区。
7.一种编码器,其特征在于,包括:
如权利要求1至6任一项所述的光栅;
光源,用以照射所述光栅;以及
第一绝对受光阵列,与所述光栅相对设置,所述第一绝对受光阵列用以接收所述光源照射到至少部分第一绝对码道时反射或透射的测量光,并生成第一绝对信号;
第二绝对受光阵列,与所述光栅相对设置,所述第二绝对受光阵列用以接收所述光源照射到至少部分第二绝对码道时反射或透射的测量光,并生成第二绝对信号,所述第一绝对信号和所述第二绝对信号用于解算绝对位置。
8.如权利要求7所述的编码器,其特征在于,所述编码器还包括:
减法器,与所述第一绝对受光阵列和所述第一绝对受光阵列电性连接,所述减法器用于将所述第一绝对信号和所述第二绝对信号相减得到第一信号;
加法模块,用于将所述第一信号叠加比较电平,得到第二信号;以及
比较器,与所述减法器电连接,所述比较器设有所述比较电平,所述比较器用于比较所述第二信号与所述比较电平以输出方波,所述方波用于解算所述绝对位置。
9.如权利要求8所述的编码器,其特征在于,所述方波的占空比为50%。
10.一种伺服电机,其特征在于,包括:
伺服电机主体;以及
如权利要求7至9任一项所述的编码器,设于所述伺服电机主体。
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