CN219608385U - 一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量*** - Google Patents

一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量*** Download PDF

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梁田喜
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Abstract

本实用新型公开一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量***,所述一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量***内包括二维成像色度计、投影仪、显示器、平移架、投影屏、测试台、外框,所述二维成像色度计固定安装在外框外部;所述投影仪固定设置在测试台中间,并与二维成像色度计垂直;所述显示器安装在外框右侧;所述平移架设置在外框内部,并且可以平行移动;所述平移架固定设置有投影屏;该光学测量***能够对各种投影仪画质进行光学测量,通过显示器查看数据,并且测量效率高,保证了产品合格率。

Description

一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量***
技术领域
本实用新型涉及光学自动化检测行业,具体涉及一种适合于投影仪画质测量的光学自动测量***。
背景技术
目前的投影仪都是使用照度计进行传统的亮度测量,由于投影仪使用场景不断地扩大,投影尺寸也各有不同,投影仪的画质效果直接影响用户的体验,大规模的量产,传统的测试方法已经不能符合当今投影仪质量的标准,无法满足投影仪厂商的生产效益。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型目的是提供一种能够对投影仪画质进行二维光学测量,并且测量效率高,保证了产品合格率的投影仪光学测量***。
为了解决上述技术问题,本实用新型的技术方案是:一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量***,所述机架内包括二维成像色度计、投影仪、显示器、平移架、投影屏、测试台、外框,所述二维成像色度计固定安装在外框外部;所述投影仪固定设置在测试台中间,并与二维成像色度计垂直;所述显示器安装在外框右侧;所述平移架设置在外框内部,并且可以平行移动;所述平移架固定设置有投影屏;该光学测量***能够对各种投影仪画质进行光学测量,并且测量精度高,保证了产品合格率。
作为优选,所述平移架设置有投影屏,并且平移架可以平行移动,测试65寸至80寸的影像。
作为优选,所述投影仪以6度的方向投射影像到投影屏上。
作为优选,所述二维成像色度计与投影仪垂直设置。
作为优选,所述外框为封闭结构,螺柱固定在平移架外部,为产品检测提供测量暗室环境。
作为优选,所述显示器固定安装在外框右侧,方便查看测量数据
本实用新型技术效果主要体现在以下方面:由于二维成像色度计受外置电脑的控制,投影仪把影像投射到投影屏上,在外框提供的暗室环境下,通过二维成像色度计进行光学检测,可以对影像进行亮度、均匀性及坏点等光学分析,完成一次产品的光学测量,并且测量效率高,保证了产品合格率。
附图说明
图1为本实用新型一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量***的整体结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图1,对本实用新型的具体实施方式作进一步详述,以使本实用新型技术方案更易于理解和掌握。
一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量***,所述一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量***包括二维成像色度计1、投影仪2、显示器3、平移架4、投影屏5、测试台6、外框7。所述二维成像色度计1固定安装在外框7外部;所述投影仪2固定设置在测试台6中间,并与二维成像色度计1垂直;所述显示器3安装在外框7右侧;所述平移架4设置在外框7内部,外框7底部设有导轨,平移架4可以平行移动;所述平移架4固定设置有投影屏5;该光学测量***能够对各种投影仪画质进行光学测量,并且测量精度高,保证了产品合格率。
所述平移架4设置有投影屏5,并且平移架4可以平行移动,测试65寸至80寸的影像。
所述投影仪2以6度的方向投射影像到投影屏上。
所述二维成像色度计1与投影仪2垂直设置。
所述外框7为封闭结构,螺柱固定在平移架4外部,为产品检测提供测量暗室环境。
所述显示器3固定安装在外框7右侧,方便查看测量数据。
本实用新型在使用时,由于二维成像色度计1受外置电脑的控制,投影仪2把影像投射到投影屏5上,在外框7提供的暗室环境下,通过二维成像色度计1进行光学检测,可以对影像进行亮度、均匀性及坏点等光学分析,完成一次产品的光学测量,通过显示器3查看测试数据,方便快速。并且测量效率高,保证了产品合格率。
本实用新型技术效果主要体现在以下方面:由于二维成像色度计受外置电脑的控制,投影仪把影像投射到投影屏上,在外框提供的暗室环境下,通过二维成像色度计进行光学检测,可以对影像进行亮度、均匀性及坏点等光学分析,完成一次产品的光学测量,通过显示器查看测试数据,方便快速并且测量效率高,保证了投影仪产品合格率。
当然,以上只是本实用新型的典型实例,除此之外,本实用新型还可以有其它多种具体实施方式,凡采用等同替换或等效变换形成的技术方案,均落在本实用新型要求保护的范围之内。

Claims (4)

1.一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量***,其特征在于:所述一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量***包括二维成像色度计、投影仪、显示器、平移架、投影屏、测试台、外框,所述二维成像色度计固定安装在外框外部;所述投影仪固定设置在测试台中间,并与二维成像色度计垂直;所述显示器安装在外框右侧;所述平移架设置在外框内部,并且可以平行移动;所述平移架固定设置有投影屏。
2.如权利要求1所述的一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量***,其特征在于:所述平移架设置有投影屏,并且平移架可以平行移动,测试65寸至80寸的影像。
3.如权利要求2所述的一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量***,其特征在于:所述投影仪以6度的方向投射影像到投影屏上。
4.如权利要求3所述的一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量***,其特征在于:所述外框为封闭结构,螺柱固定在平移架外部。
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