CN219552493U - 一种高压大电流的动态老化测试*** - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 56
- 230000032683 aging Effects 0.000 title claims abstract description 20
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims abstract description 35
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 14
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims description 12
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 5
- 230000035882 stress Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 101100365087 Arabidopsis thaliana SCRA gene Proteins 0.000 description 2
- 101150105073 SCR1 gene Proteins 0.000 description 2
- 101100134054 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) NTG1 gene Proteins 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型涉及老化测试装置,公开了一种高压大电流的动态老化测试***,其包括单片机控制单元、高压测试单元和低压测试单元;高压测试单元用于控制交流反向VR的输出,报警显示单元用于对老化测试器件进行报警显示;低压测试单元包括电子负载、低压变压器、低压隔离保护单元,单片机控制单元输出控制电子负载的波形,并确定低压变压器输出电压值,低压隔离保护单元用户对输入至电子负载的电流进行隔离保护;本实用新型控制简单,操作方便,可远程操作;用保险丝和指示灯代替限流电阻,可以排除反向漏电对加载器件两端反向电压的影响,使得器件电应力更稳态,且能够快速剔除不良工位。
Description
技术领域
本实用新型涉及老化测试装置,尤其涉及了一种高压大电流的动态老化测试***。
背景技术
随着科学技术的进步,电子产品在人们生活中的应用越来越广泛,不同的电子产品由于其工作环境和功能的不同,对电子元器件的要求也不同,在电子元件生产领域,为生产出合格的产品,需要对其生产的产品进行全动态测试,以达到预期产品可靠性数据。
在电子产品使用过程中由干电压的波动和负载的变化会造成电子产品的过载,这就需要电子元器件具有一定的过载能力,为测试所生产的电子元器件的性能对其过载能力进行测试。
实用新型内容
本实用新型针对现有技术中其VR反向加载通过手动调压模式,操作麻烦的问题,提供了一种高压大电流的动态老化测试***。
为了解决上述技术问题,本实用新型通过下述技术方案得以解决:
一种高压大电流的动态老化测试***,包括单片机控制单元、高压测试单元和低压测试单元;单片机控制单元用于对高压电压输出和低压电流的控制,其还包括报警显示单元,高压测试单元用于控制交流反向VR的输出,报警显示单元用于对老化测试器件进行报警显示;低压测试单元用于控制正向电流的输出;低压电流测试单元包括电子负载、低压变压器、低压隔离保护单元,单片机控制单元输出控制电子负载的波形,并确定低压变压器输出电压值,低压隔离保护单元用户对输入至电子负载的电流进行隔离保护。
作为优选,报警显示单元包括保险丝、LED显示单元和限流电阻;LED显示单元与限流电阻串联,对于串联后的LED显示单元与限流电阻再与保险丝并联。
作为优选,低压隔离保护单元采用可控硅二极管,其一端与低压变压器连接,另一端与测试单元连接。
作为优选,高压测试单元包括高压变压器和程控调压器;通过程控调压器调节高压,对于调节后的高压通过程控变压器进行输出。
作为优选,电子负载一端连接有采样电阻,采样电阻另一端接地,同时采样电阻采集的电流返回至单片机控制单元。
作为优选,高压测试单元的一端还连接有高压隔离单元,高压隔离单元采用大电压的二极管,一端与高压测试单元连接,另一端与低压隔离单元连接。
本实用新型的设计,达到了下述的技术效果:
本实用新型自动控制反向高压和正向电流,控制简单且成本低。
本实用新型提供老化实验测试***其控制精度高和稳定性好。
本实用新型用保险丝和指示灯代替限流电阻,可以排除反向漏电对加载器件两端反向电压的影响,使得器件电应力更稳态,且能够快速剔除不良工位。
本实用新型恒流电子负载单工位独立调节,控制精度更高,且单独开关,可以快速剔除不良工位。
附图说明
图1是本实用新型的***框图;
图2是本实用新型的电子负载框图
图3是本实用新型的单片机控制单元电路图;
实施方式
下面结合附图与实施例对本实用新型作进一步详细描述。
实施例
一种高压大电流的动态老化测试***,包括单片机控制单元、高压测试单元和低压测试单元;单片机控制单元用于对高压电压输出和低压电流的控制,还包括报警显示单元,高压测试单元用于控制交流反向VR的输出,报警显示单元用于对老化测试器件进行报警显示;低压测试单元用于控制正向电流的输出;低压电流测试单元包括电子负载、低压变压器、低压隔离保护单元,单片机控制单元输出控制电子负载的波形,并确定低压变压器输出电压值,低压隔离保护单元用户对输入至电子负载的电流进行隔离保护。
图1中,低压隔离保护单元通过低压变压器T1进行变压;同时低压变压器T1的一端连接有低压隔离保护单元,该处低压隔离保护单元为SCR1;SCR1的输出端连接有电子测试单元DUT;电子测试单元DUT连接有DA1,DA1用于对电子负载单元进行隔离保护;电子测试单元DUT还连接有报警显示单元
在图2中,电子负载一端连接有采样电阻,采样电阻另一端接地,同时采样电阻采集的电流返回至单片机控制单元。在该实施例中电子负载Mosfet;电子负载Mosfet的一端连接有低压半波电源;通过单片机控制单元控制DA控制端的输入电流,其中DA控制端输入的为正弦半波,正弦半波与低压斑驳同步同向;在电子负载采样Mosfet连接有采样电阻R4;同时采样电阻R的电流通过DAC控制芯片反馈至单片机控制单元
低压隔离保护单元采用可控硅二极管,其一端与低压变压器连接,另一端与测试单元连接。
实施例
在实施例1基础上,本实施例的报警显示单元包括保险丝、LED显示单元和限流电阻;LED显示单元与限流电阻串联,对于串联后的LED显示单元与限流电阻再与保险丝并联。在图1中,其保险丝为FA1,LED显示单元与限流电阻R3串联,串联后与保险丝FA1并联;用FA1保险丝,LED0指示灯,R3限流电阻组成线路 来代替原来的线路,既能充分老化器件,又可以很好的保护采样线路和指示。
实施例3
在上述实施例基础上,本实施例高压测试单元包括高压变压器和程控调压器;通过程控调压器调节高压,对于调节后的高压通过程控变压器进行输出。
高压测试单元的一端还连接有高压隔离单元,高压隔离单元采用大电压的二极管,一端与高压测试单元连接,另一端与低压隔离单元连接。在图1中,其高压变压器与变压器T2连接,同时变压器T2连接有高压隔离单元DVRA,高压隔离单元DVRA用于对高压进行隔离保护。
实施例
在上述实施例基础上,在图3中,单片机控制单元通过ADM2587与低压测试单元进行通信,正向电流采用交流电子负载和分档式变压器组成。通过电流大小选择合适的低压变压器输值,然后单片机控制单元输出控制交流电子负载波形,通过R4采样电阻,反馈实际电流,使其达到设定值。且单片机控制单元设置多路DAC,可控制不同的电流值来满足不同工位的需要,可以提高器件的正向电流老化精度。
Claims (6)
1.一种高压大电流的动态老化测试***,包括单片机控制单元、高压测试单元和低压测试单元;单片机控制单元用于对高压电压输出和低压电流的控制,其特征在于,还包括报警显示单元,高压测试单元用于控制交流反向VR的输出,报警显示单元用于对老化测试器件进行报警显示;低压测试单元用于控制正向电流的输出;低压电流测试单元包括电子负载、低压变压器、低压隔离保护单元,单片机控制单元输出控制电子负载的波形,并确定低压变压器输出电压值,低压隔离保护单元用户对输入至电子负载的电流进行隔离保护。
2.根据权利要求1所述的一种高压大电流的动态老化测试***,其特征在于,报警显示单元包括保险丝、LED显示单元和限流电阻;LED显示单元与限流电阻串联,对于串联后的LED显示单元与限流电阻再与保险丝并联。
3.根据权利要求1所述的一种高压大电流的动态老化测试***,其特征在于,低压隔离保护单元采用可控硅二极管,其一端与低压变压器连接,另一端与测试单元连接。
4.根据权利要求1所述的一种高压大电流的动态老化测试***,其特征在于,高压测试单元包括高压变压器和程控调压器;通过程控调压器调节高压,对于调节后的高压通过程控变压器进行输出。
5.根据权利要求1所述的一种高压大电流的动态老化测试***,其特征在于,电子负载一端连接有采样电阻,采样电阻另一端接地,同时采样电阻采集的电流返回至单片机控制单元。
6.根据权利要求1所述的一种高压大电流的动态老化测试***,其特征在于,高压测试单元的一端还连接有高压隔离单元,高压隔离单元采用大电压的二极管,一端与高压测试单元连接,另一端与低压隔离单元连接。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202320490150.XU CN219552493U (zh) | 2023-03-15 | 2023-03-15 | 一种高压大电流的动态老化测试*** |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202320490150.XU CN219552493U (zh) | 2023-03-15 | 2023-03-15 | 一种高压大电流的动态老化测试*** |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN219552493U true CN219552493U (zh) | 2023-08-18 |
Family
ID=87708401
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202320490150.XU Active CN219552493U (zh) | 2023-03-15 | 2023-03-15 | 一种高压大电流的动态老化测试*** |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN219552493U (zh) |
-
2023
- 2023-03-15 CN CN202320490150.XU patent/CN219552493U/zh active Active
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