CN219483481U - 一种双脉冲测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种双脉冲测试装置，包括竖向设置的底板，所述底板上竖向设置有检测轨道，所述检测轨道上自上而下依次设置有间歇进料机构、检测机构和下料机构；所述间歇进料机构包括夹爪气缸，所述夹爪气缸的两端分别连接有第一进料挡杆和第二进料挡杆，所述第一进料挡杆和第二进料挡杆均***检测轨道，所述夹爪气缸驱动第一进料挡杆水平向着靠近或远离底板方向移动。该双脉冲测试装置，第一进料挡杆、第二进料挡杆、检测挡料挡杆和下料挡料挡杆均通过抵靠的阻挡方式实现对半导***置的固定，可以防止对半导体进行位置固定时损坏半导体，另外，还可以避免半导体检测期间产生竖向的偏移，提升定位效果，提高半导体检测精度。

Description

一种双脉冲测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种双脉冲测试装置，属于半导体测试技术领域。

背景技术

双脉冲测试分选机是对半导体元件性能进行测试并且分选的设备，双脉冲测试分选机分为上料装置、导料装置、测试装置和分选装置，半导体元件通过上料装置实现上料，并通过导料装置将半导体元件输送至测试装置，再通过测试装置对半导体元件性能进行测试，最后，通过分选装置实现分选。

申请号为CN202121514395.9的实用新型专利公开了一种关于半导体引脚检测的装置，涉及半导体引脚检测技术领域，包括检测机构，所述检测机构包括底板、落料斗板、第一气缸、第二气缸、产品、测试件、顶块、第三气缸、挡料件、第四气缸、转轴、推杆座、第五气缸、第一落料斗和第二落料斗，所述第一气缸、第二气缸、第三气缸、第四气缸和第五气缸均固定安装在底板顶部，所述测试件固定安装在底板顶部，所述产品设置在测试件上，所述顶块固定安装在第三气缸的伸缩端上，所述挡料件固定安装在第四气缸的伸缩端上，该实用新型中，通过设置的检测机构能够对半导体引脚进行自动检测，检测误差小，提高了工作效率，降低了生产成本。但是，现有技术中，在对半导体实现进行位置固定时，采用夹持的方式，易导致半导体所受压力过大而损坏。

因此，需要有一种双脉冲测试装置，防止对半导体进行位置固定时损坏半导体。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是：为了克服现有技术的不足，提供防止对半导体进行位置固定时损坏半导体的一种双脉冲测试装置。

本实用新型解决上述问题所采用的技术方案为：一种双脉冲测试装置，包括竖向设置的底板，所述底板上竖向设置有检测轨道，所述检测轨道上自上而下依次设置有间歇进料机构、检测机构和下料机构；

所述间歇进料机构包括夹爪气缸，所述夹爪气缸的两端分别连接有第一进料挡杆和第二进料挡杆，所述第一进料挡杆和第二进料挡杆均***检测轨道，所述夹爪气缸驱动第一进料挡杆水平向着靠近或远离底板方向移动，所述第二进料挡杆与第一进料挡杆反向移动；

所述检测机构包括检测挡料组件和检测组件，所述检测组件设置在连接板上；

所述检测挡料组件包括检测挡料气缸，所述检测挡料气缸的活塞端连接有检测挡料挡杆，所述检测挡料挡杆***检测轨道；

所述下料机构包括下料挡料气缸，所述下料挡料气缸的活塞端连接有下料挡料挡杆，所述下料挡料挡杆***检测轨道。

作为优选，所述底板包括固定板和连接板，所述连接板嵌入固定板内，所述连接板通过多个连接杆与固定板可拆卸固定连接。

作为优选，所述第一进料挡杆由并排设置的第一左进料挡杆和第一右进料挡杆组成。

作为优选，所述检测挡料挡杆由两个左右并排布置的检测挡杆杆体组成。

作为优选，所述检测组件包括固定设置在连接板上的检测支架，所述检测支架上固定设置有检测气缸，所述检测气缸的活塞端设置有压板，所述压板的靠近底板的一侧设置有双脉冲测试检测器。

作为优选，所述下料挡料挡杆由两个左右并排布置的下料挡杆杆体组成。

作为优选，所述底板上设置有第一传感器、第二传感器和第三传感器。

作为优选，所述第一传感器设置在间歇进料机构处。

作为优选，所述第二传感器设置在检测组件处。

作为优选，所述第三传感器设置在下料机构。

与现有技术相比，本实用新型的优点在于：

本实用新型一种双脉冲测试装置，第一进料挡杆、第二进料挡杆、检测挡料挡杆和下料挡料挡杆均通过抵靠的阻挡方式实现对半导***置的固定，可以防止对半导体进行位置固定时损坏半导体，另外，还可以避免半导体检测期间产生竖向的偏移，提升定位效果，提高半导体检测精度。

附图说明

图1为本实用新型一种双脉冲测试装置的结构示意图；

图2为本实用新型一种双脉冲测试装置的正视图；

图3为本实用新型一种双脉冲测试装置的左视图；

图4为本实用新型一种双脉冲测试装置的俯视图；

图5为间歇进料机构的结构示意图；

图6为检测挡料组件的结构示意图；

图7为下料机构的结构示意图；

图8为检测组件的结构示意图。

其中：底板1，固定板11，连接板12，连接杆13，检测轨道2，间歇进料机构3，夹爪气缸31，第一进料挡杆32，第一左进料挡杆32.1，第一右进料挡杆32.2，第二进料挡杆33，检测机构4，检测挡料组件41，检测挡料气缸41.1，检测挡料挡杆41.2，检测挡杆杆体41.21，检测组件42，检测支架42.1，检测气缸42.2，双脉冲测试检测器42.3，压板42.4，下料机构5，下料挡料气缸51，下料挡料挡杆52，下料挡杆杆体52.1，第一传感器6，第二传感器7，第三传感器8。

具体实施方式

如图1-8所示，本实施例中的一种双脉冲测试装置，包括竖向设置的底板1，所述底板1包括固定板11和连接板12，所述连接板12嵌入固定板11内，所述连接板12通过四个呈矩阵分布的连接杆13与固定板11可拆卸固定连接，所述底板1上竖向设置有检测轨道2，所述检测轨道2上自上而下依次设置有间歇进料机构3、检测机构4和下料机构5，多个半导体依次从检测轨道2顶端输入，通过间歇进料机构3使半导体单个间歇性输送至检测机构4处，通过检测机构4对半导体进行检测，然后，再通过下料机构5使检测完毕的半导体间歇性输送至下一分选装置；

所述间歇进料机构3包括夹爪气缸31，所述夹爪气缸31的两端分别连接有第一进料挡杆32和第二进料挡杆33，所述第一进料挡杆32和第二进料挡杆33均***检测轨道2，所述夹爪气缸31驱动第一进料挡杆32水平向着靠近或远离底板1方向移动，所述第二进料挡杆33与第一进料挡杆32反向移动，多个半导体依次从检测轨道2顶端输入后，最下方的半导体的底部与第二进料挡杆33抵靠，如此则可以起到挡住半导体的效果，且此时，第一进料挡杆32位于半导体的远离底板1的一侧，之后夹爪气缸31驱动第一进料挡杆32和第二进料挡杆33移动，且使第二进料挡杆33与半导体分离，而第一进料挡杆32抵靠在自下而上起第二个半导体的底部，如此，最下方的半导体则从检测轨道2滑落至检测机构4处进行检测，检测完毕后，夹爪气缸31驱动第一进料挡杆32和第二进料挡杆33移动反向移动，则使第一进料挡杆32上方的半导体下降并抵靠在第二进料挡杆33上，如此循环，实现对检测机构4的间歇性进料，而第一进料挡杆32和第二进料挡杆33通过抵靠的阻挡方式实现对半导***置的固定，可以防止对半导体进行位置固定时损坏半导体，所述夹爪气缸31处设置有第一传感器6，所述第一传感器6用于检测向检测机构4处间隙进料情况。

所述第一进料挡杆32由并排设置的第一左进料挡杆32.1和第一右进料挡杆32.2组成，当第一进料挡杆32抵靠在半导体底部时，第一左进料挡杆32.1与半导体塑封处抵靠，而第一右进料挡杆32.2则抵靠在半导体引脚处，防止半导体倾斜；

所述检测机构4包括检测挡料组件41和检测组件42，所述检测组件42设置在连接板12上，检测挡料组件41用于检测组件42处半导***置的固定，检测组件42用于半导体的检测，当对不同型号的半导体进行检测需要更换检测组件42时，拆下连接板12进行检测组件42的更换，避免更换空间过小而影响更换效率；

所述检测挡料组件41包括检测挡料气缸41.1，所述检测挡料气缸41.1的活塞端连接有检测挡料挡杆41.2，所述检测挡料挡杆41.2***检测轨道2，所述检测挡料挡杆41.2由两个左右并排布置的检测挡杆杆体41.21组成，输送至检测机构4处的半导体底部抵靠在检测挡料挡杆41.2，从而可以避免半导体继续向下移动，实现半导体检测前的定位，半导体检测完毕后，检测挡料气缸41.1驱动检测挡料挡杆41.2移动并与半导体分离，使半导体移动至下料机构5处，检测挡料挡杆41.2通过抵靠的阻挡方式实现对半导***置的固定，可以防止对半导体进行位置固定时损坏半导体，另外，还可以防止半导体在检测位置发生竖向偏移，提升定位效果，提高半导体检测精度，所述底板1上设置有第二传感器7，通过第二传感器7检测半导体是否抵靠在检测挡料挡杆41.2；

所述检测组件42包括固定设置在连接板12上的检测支架42.1，所述检测支架42.1上固定设置有检测气缸42.2，所述检测气缸42.2的活塞端设置有压板42.4，所述压板42.4的靠近底板1的一侧设置有双脉冲测试检测器42.3，所述检测气缸42.2驱动双脉冲测试检测器42.3向着靠近或远离底板1方向移动，检测气缸42.2驱动压板42.4向着靠近底板1方向移动，使压板42.4与半导体的引脚抵靠并推动引脚与双脉冲测试检测器42.3抵靠，通过双脉冲测试检测器42.3实现对半导体性能的测试，测试完毕后，检测气缸42.2驱动压板42.4反向移动实现复位即可；

所述下料机构5包括下料挡料气缸51，所述下料挡料气缸51的活塞端连接有下料挡料挡杆52，所述下料挡料挡杆52***检测轨道2，所述下料挡料挡杆52由两个左右并排布置的下料挡杆杆体52.1组成，检测完毕的半导体向下移动且底板1与下料挡料挡杆52抵靠，当后序分选装置选择不同流道后，下料挡料气缸51驱动下料挡料挡杆52移动并与半导体分离，使半导体移动至后序分选装置，然后，下料挡料气缸51驱动下料挡料挡杆52反向移动实现复位即可，所述底板1上设置有第三传感器8，通过第三传感器8检测半导体是否抵靠在下料挡料挡杆52。

除上述实施例外，本实用新型还包括有其他实施方式，凡采用等同变换或者等效替换方式形成的技术方案，均应落入本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种双脉冲测试装置，其特征在于：包括竖向设置的底板(1)，所述底板(1)上竖向设置有检测轨道(2)，所述检测轨道(2)上自上而下依次设置有间歇进料机构(3)、检测机构(4)和下料机构(5)；

所述间歇进料机构(3)包括夹爪气缸(31)，所述夹爪气缸(31)的两端分别连接有第一进料挡杆(32)和第二进料挡杆(33)，所述第一进料挡杆(32)和第二进料挡杆(33)均***检测轨道(2)，所述夹爪气缸(31)驱动第一进料挡杆(32)水平向着靠近或远离底板(1)方向移动，所述第二进料挡杆(33)与第一进料挡杆(32)反向移动；

所述检测机构(4)包括检测挡料组件(41)和检测组件(42)，所述检测组件(42)设置在连接板(12)上；

所述检测挡料组件(41)包括检测挡料气缸(41.1)，所述检测挡料气缸(41.1)的活塞端连接有检测挡料挡杆(41.2)，所述检测挡料挡杆(41.2)***检测轨道(2)；

所述下料机构(5)包括下料挡料气缸(51)，所述下料挡料气缸(51)的活塞端连接有下料挡料挡杆(52)，所述下料挡料挡杆(52)***检测轨道(2)。

2.根据权利要求1所述的一种双脉冲测试装置，其特征在于：所述底板(1)包括固定板(11)和连接板(12)，所述连接板(12)嵌入固定板(11)内，所述连接板(12)通过多个连接杆(13)与固定板(11)可拆卸固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种双脉冲测试装置，其特征在于：所述第一进料挡杆(32)由并排设置的第一左进料挡杆(32.1)和第一右进料挡杆(32.2)组成。

4.根据权利要求1所述的一种双脉冲测试装置，其特征在于：所述检测挡料挡杆(41.2)由两个左右并排布置的检测挡杆杆体(41.21)组成。

5.根据权利要求1所述的一种双脉冲测试装置，其特征在于：所述检测组件(42)包括固定设置在连接板(12)上的检测支架(42.1)，所述检测支架(42.1)上固定设置有检测气缸(42.2)，所述检测气缸(42.2)的活塞端设置有压板(42.4)，所述压板(42.4)的靠近底板(1)的一侧设置有双脉冲测试检测器(42.3)。

6.根据权利要求1所述的一种双脉冲测试装置，其特征在于：所述下料挡料挡杆(52)由两个左右并排布置下料挡杆杆体(52.1)的组成。

7.根据权利要求1所述的一种双脉冲测试装置，其特征在于：所述底板(1)上设置有第一传感器(6)、第二传感器(7)和第三传感器(8)。

8.根据权利要求7所述的一种双脉冲测试装置，其特征在于：所述第一传感器(6)设置在间歇进料机构(3)处。

9.根据权利要求7所述的一种双脉冲测试装置，其特征在于：所述第二传感器(7)设置在检测组件(42)处。

10.根据权利要求7所述的一种双脉冲测试装置，其特征在于：所述第三传感器(8)设置在下料机构(5)。