CN219417570U - 一种测试针 - Google Patents
一种测试针 Download PDFInfo
- Publication number
- CN219417570U CN219417570U CN202223567907.5U CN202223567907U CN219417570U CN 219417570 U CN219417570 U CN 219417570U CN 202223567907 U CN202223567907 U CN 202223567907U CN 219417570 U CN219417570 U CN 219417570U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- shaft
- needle
- test
- needle shaft
- head
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
本实用新型提出了一种测试针,其特征包括基座,所述基座上浮动安装有至少一个第一针轴以及至少一个第二针轴,所述第一针轴的测试端可拆卸安装有第一轴头,所述第二针轴的测试端可拆卸安装有第二轴头,所述第一轴头与所述第二轴头的端面均设有阵列均布的若干凸齿结构;所述基座上设有用于连接安装的安装部,所述安装部上设有沿轴向均布的至少两个弹性卡扣结构,所述弹性卡扣结构上设有反向限位且向外侧凸起的限位凸起部。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试探针领域,具体涉及一种测试针。
背景技术
集成电路(IC)元件的封装测试中,主要通过在治具上根据集成电路需要检测的点位将测试针进行安装固定后,通过测试针作为集成电路与检测设备之间的导通器件,从而能够在一次测试中实现对多个点位同步进行检测。
如中国专利CN104614610B中公开了一种测试PCBA的模块化针床工装,公告日为2017.09.19,具体记载了包括工装主体,针床模块和PCBA压接模块,其中工装主体包括工装箱体,针床定位销,下压机构,PCBA压接模块固定压板。其中的可更换针床模块包括测试探针,待测PCBA托盘,连接轴承与弹簧,测试探针固定模块,测试探针转接PCB。其中可更换PCBA压接模块包括模块主体,PCBA压接柱,手拧螺钉孔;具体通过将测试探针安装在针床模块上后,通过对针床模块进行移动对需要测试的PCBA进行多点位同步检测。
又如中国专利CN101846695A中公开了一种测试探针及探针座,公开日为2010.09.29,具体记载了测试探针包含:管体、第一探针头、第二探针头、第一弹簧与第二弹簧。管体内设有间隔部,将管体的内部区域分为第一容置空间与第二容置空间,其中,第一容置空间包含具有第一弹性系数的第一弹簧,而第二容置空间包含具有第二弹性系数的第二弹簧,第一弹簧的第一弹性系数不相同于第二弹簧的第二弹性系数。第一探针头与第二探针头设置于前述管体的两端,其中,第一探针头的一端连接于上述的第一弹簧,另一端自管体伸出,于进行集成电路元件测试时,与待测的集成电路元件接触;第二探针头的一端连接于上述的第二弹簧,另一端自管体伸出,供与印刷电路板接触;即公开了在两端头均设置了不同的探针头,且通过不同弹性系数的弹簧对两端的探针头进行推动实现不同压缩形成,对两端的集成电路元件进行测试。
上述专利中已经公开了对于集成电路元件进行测试的针床模块以及测试探针结构,但在测试过程中由于测试探针与集成电路元件接触部位可能存在相对移动的问题,并且上述专利中也未公开测试探针快速安装或拆卸的相关结构。
实用新型内容
针对现有技术中所存在的不足,本实用新型提供了一种测试针,解决了现有技术中公开的测试探针与被测试集成电路元件之间可能存在相对移动以及测试探针快速安装或拆卸结构的问题。
为实现上述目的,本实用新型采用了如下的技术方案:
一种测试针,其特征包括基座,所述基座上浮动安装有至少一个第一针轴以及至少一个第二针轴,所述第一针轴的测试端可拆卸安装有第一轴头,所述第二针轴的测试端可拆卸安装有第二轴头,所述第一轴头与所述第二轴头的端面均设有阵列均布的若干凸齿结构;所述基座上设有用于连接安装的安装部,所述安装部上设有沿轴向均布的至少两个弹性卡扣结构,所述弹性卡扣结构上设有反向限位且向外侧凸起的限位凸起部。
优选的,所述基座开设有用于滑动安装所述第一针轴的第一台阶孔,以及用于滑动安装所述第二针轴的第二台阶孔;所述第一针轴上远离所述第一轴头的一端伸出所述第一台阶孔并安装有第一卡簧;所述第二针轴上远离所述第二轴头的一端伸出所述第二台阶孔并安装有第二卡簧。
优选的,所述第一针轴上套设有用于推动其复位的第一弹簧,所述第二针轴上套设有用于推动其复位的第二弹簧。
优选的,所述第二针轴的轴径大于所述第一针轴的轴径,所述第一针轴的数量为2个,所述第一针轴的数量为1个;所述第一针轴与所述第二针轴呈三角形排列设置。
优选的,所述第一针轴上设有用于安装第一轴头的第一插接头,所述第一插接头包括轴径逐渐缩小的第一卡紧部以及第一导向部,所述第一卡紧部与所述第一导向部之间设置有第一导向锥面。
优选的,所述第一轴头上开设有第一插接孔,所述第一插接孔的开口边缘设有第一导向斜面;所述第一卡紧部与所述第一插接孔紧固配合。
优选的,所述第二针轴上设有用于安装第二轴头的第二插接头,所述第二插接头包括轴径逐渐缩小的第二卡紧部以及第二导向部,所述第二卡紧部与所述第二导向部之间设置有第二导向锥面。
优选的,所述第二轴头上开设有第二插接孔,所述第二插接孔的开口边缘设有第二导向斜面;所述第二卡紧部与所述第二插接孔紧固配合。
优选的,所述基座上还设有呈台阶结构的定位部。
优选的,所述基座为一体注塑成型结构,其材质为PA46;所述第一针轴、所述第二针轴、所述第一轴头以及所述第二轴头均为铜材质。
相比于现有技术,本实用新型具有如下有益效果:
1、通过在第一针轴上可拆卸安装第一轴头,第二针轴上可拆卸安装第二轴头,由此可实现对第一轴头、第二轴头进行替换适应不同的测试需求,且可拆卸结构能够对第一轴头、第二轴头进行更换以适应于长时间使用后磨损进行替换的情况;
2、在第一轴头与第二轴头的断面设置阵列均布的若干凸齿结构,从而能够在测试时在凸齿结构的作用下让第一轴头、第二轴头保持能够可靠接触到检测电路板上,并且避免产生相对滑动的情况;
3、同时在基座上设置安装部并且在安装部上设置弹性卡扣结构后,能够进行快速拆卸或安装,便于根据测试需求对测试针在多个测试点位进行快速安装或拆卸。
附图说明
图1为本实用新型一种实施例的结构示意图;
图2为本实用新型实施例的剖视结构示意图;
图3为本实用新型实施例中基座的结构示意图;
图4为本实用新型实施例中第一针轴的结构示意图;
图5为本实用新型实施例中第一轴头的结构示意图;
图6为本实用新型实施例中第二针轴的结构示意图;
图7为本实用新型实施例中第二轴头的结构示意图;
图中,
基座1、安装部101、弹性卡扣结构102、限位凸起部103、第一台阶孔104、第二台阶孔105、定位部106、第一针轴2、第一插接头21、第一卡紧部22、第一导向部23、第一导向锥面24、第二针轴3、第二插接头31、第二卡紧部32、第二导向部33、第二导向锥面34、第一轴头4、第一插接孔41、第一导向斜面42、第二轴头5、第二插接孔51、第二导向斜面52、凸齿结构6、第一卡簧7、第二卡簧8、第一弹簧9、第二弹簧10。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明,以使本领域的技术人员可以更好地理解本实用新型并能予以实施,但所举实施例不作为对本实用新型的限定。
如图1-图7所示,本实用新型的实施例中提出了一种测试针,该测试针用于安装到治具上,并根据需要检测的电路板触点分布情况对测试针进行安装,从而能够在测试过程中将治具进行移动而实现让测试针接触到电路板上进行导通测试;具体测试针在于实现对要检测的电路板与检测设备之间进行导通。具体的,测试针包括基座1并在基座1上浮动安装有至少一个第一针轴2以及至少一个第二针轴3,其中在第一针轴2的测试端可拆卸安装有第一轴头4,同时在第二针轴3的测试端可拆卸安装有第二轴头5,并且在第一轴头4与第二轴头5的端面均设有阵列均布的若干凸齿结构6,在于测试过程中当第一轴头4、第二轴头5接触到电路板上后能够通过凸齿结构6实现防滑并保持良好的接触的作用,而第一轴头4与第二轴头5可拆卸更换在于频繁使用后进行更换,避免造成对整个测试针进行更换的情况,降低维护成本。
为了便于将整个测试针快速安装到治具上并实现固定限位,同时也能够在后续维护时进行便于拆卸的操作,在基座1上设有用于连接安装的安装部101,安装部101呈柱状结构,能够与治具上的安装孔位形成定位配合,并且在安装部101上设有沿轴向均布的至少两个弹性卡扣结构102,所述弹性卡扣结构102上设有反向限位且向外侧凸起的限位凸起部103;即在将测试针安装到治具上后通过弹性卡扣结构102实现连接,并通过限位凸起部103的作用防止弹性卡扣结构102反向松动的情况。
为了对第一针轴2、第二针轴3的浮动过程实现导向,在所述基座1开设有用于滑动安装所述第一针轴2的第一台阶孔104,以及用于滑动安装所述第二针轴3的第二台阶孔105,让第一针轴2在第一台阶孔104内滑动,同时为了避免造成第一针轴2从基座1上脱落的情况,在所述第一针轴2上远离所述第一轴头4的一端伸出所述第一台阶孔104并安装有第一卡簧7;而第二针轴3在第二台阶孔105内滑动,也为了避免造成第二针轴3从基座1上脱落,在所述第二针轴3上远离所述第二轴头5的一端伸出所述第二台阶孔105并安装有第二卡簧8;在第一卡簧7、第二卡簧8的作用下实现对第一针轴2、第二针轴3起到限位,避免造成脱落的情况。
同时为了对每次测试后让第一针轴2、第二针轴3的浮动位置产生复位,在所述第一针轴2上套设有用于推动其复位的第一弹簧9,所述第二针轴3上套设有用于推动其复位的第二弹簧10,在每次测试过程中由于第一针轴2压缩第一弹簧9而浮动,第二针轴3压缩第二弹簧10而浮动,在外力消失后,在第一弹簧9作用下让第一针轴2复位,在第二弹簧10作用下让第二针轴3复位,便于下一次测试时处于复位状态,并保证接触后良好贴合导通效果。
具体在用测试针进行相关功能测试时,如功率、电流、信号等不同的功能进行测试时,对于导电截面积有不同的要求,由此,为了适应于探测过程中能够实现结合信号检测的相应检测过程需求的导电截面积差异,让所述第二针轴3的轴径大于所述第一针轴2的轴径,所述第一针轴2的数量为2个,所述第一针轴2的数量为1个;且所述第一针轴2与所述第二针轴3呈三角形排列设置。
为了实现对第一轴头4进行可靠插接并保证第一轴头4不会掉落,在所述第一针轴2上设有用于安装第一轴头4的第一插接头21,所述第一插接头21包括轴径逐渐缩小的第一卡紧部22以及第一导向部23,所述第一卡紧部22与所述第一导向部23之间设置有第一导向锥面24;同时,所述第一轴头4上开设有第一插接孔41,所述第一插接孔41的开口边缘设有第一导向部23;所述第一卡紧部22与所述第一插接孔41紧固配合;在将第一轴头4***到第一插接孔41内时,主要在于通过第一导向部23与第一导向斜面42接触后被导向向第一插接孔41内移动,且第一导向部23在第一插接孔41内移动时被导向,且能够保证第一卡紧部22与第一插接孔41之间处于可靠稳定接触状态,从而实现第一轴头4与第一插接头21之间稳定、可靠连接。
同时,为了实现第二轴头5不会产生掉落,在所述第二针轴3上设有用于安装第二轴头5的第二插接头31,所述第二插接头31包括轴径逐渐缩小的第二卡紧部32以及第二导向部33,所述第二卡紧部32与所述第二导向部33之间设置有第二导向锥面34;且所述第二轴头5上开设有第二插接孔51,所述第二插接孔51的开口边缘设有第二导向斜面52;所述第二卡紧部32与所述第二插接孔51紧固配合;由此也能够在第二导向部33***过程中形成导向作用,并且保证第二卡紧部32能够与第二插接孔51可靠配合实现将第二轴头5稳定安装在第二插接头31上。
为了便于在对整个测试针进行安装后具有可靠的定位,并且能够实现对第一针轴2、第二针轴3的良好导向,在所述基座1上还设有呈台阶结构的定位部106。
基座1结构需要进行绝缘,不干涉内部第一针轴2、第二针轴3的导电性并能够让相邻的第一针轴2、第二针轴3之间隔离绝缘,让基座1为一体注塑成型结构,其材质为PA46;所述第一针轴2、所述第二针轴3、所述第一轴头4以及所述第二轴头5均为铜材质,由此整个基座1为绝缘材质,而铜材质,如锡青铜可以保证导电效果,减小电阻。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,指示方位或位置关系的术语为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
最后说明的是,以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的宗旨和范围,其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
Claims (10)
1.一种测试针,其特征在于:包括基座(1),所述基座(1)上浮动安装有至少一个第一针轴(2)以及至少一个第二针轴(3),所述第一针轴(2)的测试端可拆卸安装有第一轴头(4),所述第二针轴(3)的测试端可拆卸安装有第二轴头(5),所述第一轴头(4)与所述第二轴头(5)的端面均设有阵列均布的若干凸齿结构(6);
所述基座(1)上设有用于连接安装的安装部(101),所述安装部(101)上设有沿轴向均布的至少两个弹性卡扣结构(102),所述弹性卡扣结构(102)上设有反向限位且向外侧凸起的限位凸起部(103)。
2.根据权利要求1所述的一种测试针,其特征在于:所述基座(1)开设有用于滑动安装所述第一针轴(2)的第一台阶孔(104),以及用于滑动安装所述第二针轴(3)的第二台阶孔(105);
所述第一针轴(2)上远离所述第一轴头(4)的一端伸出所述第一台阶孔(104)并安装有第一卡簧(7);
所述第二针轴(3)上远离所述第二轴头(5)的一端伸出所述第二台阶孔(105)并安装有第二卡簧(8)。
3.根据权利要求2所述的一种测试针,其特征在于:所述第一针轴(2)上套设有用于推动其复位的第一弹簧(9),所述第二针轴(3)上套设有用于推动其复位的第二弹簧(10)。
4.根据权利要求1-3任意一项所述的一种测试针,其特征在于:所述第二针轴(3)的轴径大于所述第一针轴(2)的轴径,所述第一针轴(2)的数量为2个,所述第一针轴(2)的数量为1个;
所述第一针轴(2)与所述第二针轴(3)呈三角形排列设置。
5.根据权利要求1所述的一种测试针,其特征在于:所述第一针轴(2)上设有用于安装第一轴头(4)的第一插接头(21),所述第一插接头(21)包括轴径逐渐缩小的第一卡紧部(22)以及第一导向部(23),所述第一卡紧部(22)与所述第一导向部(23)之间设置有第一导向锥面(24)。
6.根据权利要求5所述的一种测试针,其特征在于:所述第一轴头(4)上开设有第一插接孔(41),所述第一插接孔(41)的开口边缘设有第一导向斜面(42);
所述第一卡紧部(22)与所述第一插接孔(41)紧固配合。
7.根据权利要求1所述的一种测试针,其特征在于:所述第二针轴(3)上设有用于安装第二轴头(5)的第二插接头(31),所述第二插接头(31)包括轴径逐渐缩小的第二卡紧部(32)以及第二导向部(33),所述第二卡紧部(32)与所述第二导向部(33)之间设置有第二导向锥面(34)。
8.根据权利要求7所述的一种测试针,其特征在于:所述第二轴头(5)上开设有第二插接孔(51),所述第二插接孔(51)的开口边缘设有第二导向斜面(52);
所述第二卡紧部(32)与所述第二插接孔(51)紧固配合。
9.根据权利要求1-3任意一项所述的一种测试针,其特征在于:所述基座(1)上还设有呈台阶结构的定位部(106)。
10.根据权利要求9所述的一种测试针,其特征在于:所述基座(1)为一体注塑成型结构,其材质为PA46;
所述第一针轴(2)、所述第二针轴(3)、所述第一轴头(4)以及所述第二轴头(5)均为铜材质。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202223567907.5U CN219417570U (zh) | 2022-12-30 | 2022-12-30 | 一种测试针 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202223567907.5U CN219417570U (zh) | 2022-12-30 | 2022-12-30 | 一种测试针 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN219417570U true CN219417570U (zh) | 2023-07-25 |
Family
ID=87209594
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202223567907.5U Active CN219417570U (zh) | 2022-12-30 | 2022-12-30 | 一种测试针 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN219417570U (zh) |
-
2022
- 2022-12-30 CN CN202223567907.5U patent/CN219417570U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0621485B1 (en) | Double-headed spring contact probe | |
EP2485335B1 (en) | Contactor and electrical connection device | |
US5942906A (en) | Interface system utilizing engagement mechanism | |
US20120214356A1 (en) | Contact and electrical connecting apparatus | |
CN101345360A (zh) | 插座适配器设备 | |
US10948519B2 (en) | Probe | |
US5633597A (en) | Micro interface technology system utilizing slide engagement mechanism | |
US6130547A (en) | Test apparatus for printed circuit board and assembly kit therefor | |
CN105527465A (zh) | 连接器测试插座及连接器测试装置 | |
KR100648014B1 (ko) | 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브장치의 pcb 접속용지그 | |
US6424163B1 (en) | Test fixtures for contacting assembled printed circuit boards | |
CN219417570U (zh) | 一种测试针 | |
CN220171106U (zh) | 一种电路板或tr模块测试工装 | |
US6466044B1 (en) | Through connector circuit test apparatus | |
CN112710873B (zh) | 接线装置及测试装置 | |
CN213600836U (zh) | 一种综合测试仪板卡检测装置 | |
KR200247134Y1 (ko) | 인쇄회로기판검사장치 | |
CN216525964U (zh) | 探针、探针组件和测量设备 | |
CN213957460U (zh) | 一种测试治具探针针盘的新型结构 | |
JPH0726716Y2 (ja) | Icテスト用接続具 | |
CN215678638U (zh) | 一种探针倾斜的针模测试设备 | |
CN218101737U (zh) | 一种通电测试组件及通电测试工装 | |
CN220871730U (zh) | 端子***深度测试模组 | |
CN201130196Y (zh) | 印刷电路板测试针 | |
CN220961626U (zh) | 一种垂直型元件底座检测装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |