CN219301543U - 一种密封治具平面度快速检测平台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种密封治具平面度快速检测平台，其特征在于，包括机台、载物滑台、柱面反射镜和光源，载物滑台通过双向滑轨机构活动的设置在机台上，柱面反射镜通过第一支架架设在机台上，所述光源通过第二支架架设在机台上，位于柱面反射镜一侧的机台上设置有相交的校准线。该检测平台结构简洁，搭建容易，使用该检测平台可以快速方便的检测密封治具内两个棱镜的平面度，成本低，效果好，对操作人员的技能要求不高，使用度高。
Description
技术领域
本实用新型属于光学检测领域，尤其涉及一种密封治具平面度快速检测平台。
背景技术
应力仪测量应力需将玻璃样品置于密封治具上，使用折射液填充，使样品和治具之间亲密连接，光线不发生较大的散射现象，而密封治具核心部位为两块规格不一致的棱镜，制作时需要保证两块棱镜接触面高度保持一致，且与密封治具固定板表面保持同一平面，或者平行，为确保每块密封治具合格率，减少更换率，保证应力仪的平稳运行与测量正确率，则在制作完成后需要对密封治具平面度进行检测，现有检测使用专业检测设备，成本高，结构复杂，操作难。
发明内容
鉴于以上，本实用新型提供一种密封治具平面度快速检测平台，该检测平台结构简洁，搭建容易，使用该检测平台可以快速方便的检测密封治具内两个棱镜的平面度，成本低，效果好，对操作人员的技能要求不高，使用度高。具体技术方案如下。
一种密封治具平面度快速检测平台，其特征在于，包括机台、载物滑台、柱面反射镜和光源，载物滑台通过双向滑轨机构活动的设置在机台上，柱面反射镜通过第一支架架设在机台上，所述光源通过第二支架架设在机台上，位于柱面反射镜一侧的机台上设置有相交的校准线。
进一步，所述双向滑轨机构包括X轴滑轨和Y轴滑轨各两条，X轴滑轨平行的固定在所述机台上，所述Y轴滑轨通过滑块垂直的设置在所述X轴滑轨上，所述载物滑台匹配的设置在Y轴滑轨上。
进一步，所述第一支架和第二支架垂直于所述X轴滑轨且架设在其上方，所述第一支架和第二支架分别位于X轴滑轨的两端。
进一步，所述光源通过安装座活动的设置在所述第二支架上，光源座可摆动角度进而调整光源照射在下方载物滑台上的位置。
进一步，所述校准线为两根相互垂直相交的直线。
本实用新型的密封治具平面度快速检测平台，载物滑台通过X轴滑轨、Y轴滑轨的双向滑轨机构设置在机台上，搭配上垂直架设在其上方的柱面反射镜和光源，操作人员只需要将待检测的密封治具放置在载物滑台上，推动载物滑台改变其位置，观察光源照射的光源经密封治具、柱面反射镜反射后是否落点于校准线的交点处，就可快速的判断出密封治具内的棱镜平面度，操作简单，结果直观，成本低，检测效率高。
本实用新型附加的方面和优点将在下面的描述中进一步给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
图1为本实用新型密封治具平面度快速检测平台的整体结构示意图；
图2为本实用新型检测的光路示意图；
其中，1-机台，2-载物滑台，3-柱面反射镜，4-光源，5-第一支架，6-第二支架，7-校准线，8-X轴滑轨，9-Y轴滑轨，10-安装座，11-密封治具。
具体实施方式
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
参照图1-图2，本实施例的一种密封治具平面度快速检测平台，包括机台1、载物滑台2、柱面反射镜3和光源4，载物滑台2通过双向滑轨机构活动的设置在机台1上，双向滑轨机构包括X轴滑轨8和Y轴滑轨9各两条，X轴滑轨8平行的固定在机台1上，Y轴滑轨9通过滑块垂直的设置在X轴滑轨8上，载物滑台2匹配的设置在Y轴滑轨9上，载物滑台2上设置有固定凹槽，用于安装待检测的密封治具，检测时将密封治具卡固在固定凹槽内即可。柱面反射镜3通过第一支架5架设在机台1上，所述光源4通过第二支架6架设在机台1上，第一支架5和第二支架6垂直于X轴滑轨8且架设在其上方，第一支架5和第二支架6分别位于X轴滑轨8的两端。位于柱面反射镜3一侧的机台1上设置有相交的校准线7，校准线7为两根相互垂直相交的直线。
优选的，光源4通过安装座10活动的设置在第二支架6上，光源座10可摆动角度进而调整光源4照射在下方载物滑台2上的位置。光源4优选激光光源。可调节角度的安装座现有技术中有，不赘述亦可理解。
首次使用本检测平台前先进行校准，取一个平板反射玻璃置于载物滑台上，调整安装座10的角度改变光源4入射方向，同时调节柱面反射镜，使激光点经平板反射玻璃、柱面反射镜后落于对比校准刻度线交点处，滑动滑台带动反射玻璃移动，激光点始终处于对比校准刻度线交点处，则校准完成。
检测时，将密封治具放置于载物滑台的固定凹槽内，密封治具略高于滑台面，推动载物滑台，使光源照射在密封治具的其中一个棱镜上，观察此时激光经柱面反射镜反射后的落点，继续在X轴、Y轴滑轨上推动载物滑台，若激光反射落点始终处于初始点位，则单个棱镜面水平，切换到另一个棱镜时，激光反射落点位置不变，则说明两棱镜镜面处于同一高度或者同一平面。
尽管参照本实用新型的示意性实施例对本实用新型的具体实施方式进行了详细的描述，但是必须理解，本领域技术人员可以设计出多种其他的改进和实施例，这些改进和实施例将落在本发明原理的精神和范围之内。具体而言，在前述公开、附图以及权利要求的范围之内，可以在零部件和/或者从属组合布局的布置方面作出合理的变型和改进，而不会脱离本发明的精神。除了零部件和/或布局方面的变型和改进，其范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (5)
1.一种密封治具平面度快速检测平台，其特征在于，包括机台、载物滑台、柱面反射镜和光源，载物滑台通过双向滑轨机构活动的设置在机台上，柱面反射镜通过第一支架架设在机台上，所述光源通过第二支架架设在机台上，位于柱面反射镜一侧的机台上设置有相交的校准线。
2.根据权利要求1所述的密封治具平面度快速检测平台，其特征在于，所述双向滑轨机构包括X轴滑轨和Y轴滑轨各两条，X轴滑轨平行的固定在所述机台上，所述Y轴滑轨通过滑块垂直的设置在所述X轴滑轨上，所述载物滑台匹配的设置在Y轴滑轨上。
3.根据权利要求2所述的密封治具平面度快速检测平台，其特征在于，所述第一支架和第二支架垂直于所述X轴滑轨且架设在其上方，所述第一支架和第二支架分别位于X轴滑轨的两端。
4.根据权利要求3所述的密封治具平面度快速检测平台，其特征在于，所述光源通过安装座活动的设置在所述第二支架上，光源座可摆动角度进而调整光源照射在下方载物滑台上的位置。
5.根据权利要求1所述的密封治具平面度快速检测平台，其特征在于，所述校准线为两根相互垂直相交的直线。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202223529297.XU CN219301543U (zh) | 2022-12-29 | 2022-12-29 | 一种密封治具平面度快速检测平台 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202223529297.XU CN219301543U (zh) | 2022-12-29 | 2022-12-29 | 一种密封治具平面度快速检测平台 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN219301543U true CN219301543U (zh) | 2023-07-04 |
Family
ID=86985941
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202223529297.XU Active CN219301543U (zh) | 2022-12-29 | 2022-12-29 | 一种密封治具平面度快速检测平台 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN219301543U (zh) |
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2022
- 2022-12-29 CN CN202223529297.XU patent/CN219301543U/zh active Active
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