CN219258527U - 一种半导体芯片测试用间歇下料机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体芯片测试用间歇下料机构，属于芯片测试领域，一种半导体芯片测试用间歇下料机构，包括水平移动支架，水平移动支架上安装有储存盒，水平移动支架用于带动储存盒进行线性移动，储存盒的内部装配有从上至下依次重叠放置的多个半导体芯片件，储存盒两侧的下部均开设有出料口，储存盒的下侧装配有水平出料单元，水平出料单元包括有固定连接在储存盒下侧的小支架，小支架上转动连接有第一转轮，储存盒的下侧开设有延伸槽，它可以实现，快速的将多个半导体芯片件分批次的等距放置检测半导体芯片件所用的工作平台上，以方便检测人员进行检测。

Description

一种半导体芯片测试用间歇下料机构

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，更具体地说，涉及一种半导体芯片测试用间歇下料机构。

背景技术

在半导体芯片生产过程中，需要对半导体芯片进行测试，且由于自动测试设备成本较高，部分工厂仍使用手动测试的方法；

其具体测试过程为将一批半导体芯片均匀放置在检测半导体芯片件所用的工作平台上，让检测人员进行测试，将此批次的半导体芯片测试完成后，再次上下一批次的半导体芯片均匀放置在工作平台上，反复重复上述步骤；

在此检测过程中将半导体芯片放置在工作平台的过程需要检测人员手动进行，为检测人员的检测带来了不便。

实用新型内容

1.要解决的技术问题

针对现有技术中存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种半导体芯片测试用间歇下料机构，它可以实现，快速的将多个半导体芯片件分批次的等距放置检测半导体芯片件所用的工作平台上，以方便检测人员进行检测。

2.技术方案

为解决上述问题，本实用新型采用如下的技术方案。

一种半导体芯片测试用间歇下料机构，包括水平移动支架，所述水平移动支架上安装有储存盒，所述水平移动支架用于带动储存盒进行线性移动，所述储存盒的内部装配有从上至下依次重叠放置的多个半导体芯片件，所述储存盒两侧的下部均开设有出料口，所述储存盒的下侧装配有水平出料单元。

进一步的，所述水平出料单元包括有固定连接在储存盒下侧的小支架，所述小支架上转动连接有第一转轮，所述储存盒的下侧开设有延伸槽，所述第一转轮的上部边缘位置通过延伸槽延伸至储存盒的内部和位于下侧的半导体芯片件相抵。

进一步的，所述水平出料单元包括有两个固定连接在储存盒下侧的侧架，两个所述侧架上均转动连接有转轴，两个所述转轴的外侧装配有传输带体，所述传输带体的上部通过出料口延伸至储存盒的内部，所述传输带体的下部位于储存盒的下侧。

进一步的，两个所述转轴的两端均固定连接有第二转轮。

进一步的，所述水平移动支架包括有主支架，所述主支架的上端固定连接有横导轨，所述横导轨上装配有和储存盒相连的移动小车。

进一步的，所述移动小车上可以装配有竖向设置的电动推杆，所述电动推杆的输出端固定连接有连接件，所述连接件和储存盒固定连接。

3.有益效果

相比于现有技术，本实用新型的优点在于：

本方案通过移动的储存盒对半导体芯片件进行间歇式的匀速出料，能够快速的将多个半导体芯片件分批次的等距放置检测半导体芯片件所用的工作平台上，以方便检测人员进行检测。

附图说明

图1为本实用新型实施例1的结构示意图；

图2为本实用新型实施例2中水平出料单元结构示意图；

图3为本实用新型实施例3中水平出料单元结构示意图；

图4为本实用新型实施例4中水平出料单元结构示意图。

图中标号说明：

1、主支架；2、横导轨；3、移动小车；4、电动推杆；5、连接件；6、储存盒；7、出料口；8、半导体芯片件；9、水平出料单元；10、小支架；11、第一转轮；12、延伸槽；13、侧架；14、转轴；15、传输带体；16、第二转轮。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述；显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例1：

请参阅图1-4，一种半导体芯片测试用间歇下料机构，包括水平移动支架和安装在水平移动支架上的储存盒6，水平移动支架用于带动储存盒6进行线性移动，从而使储存盒6能够延一条直线进行移动，储存盒6的内部装配有从上至下依次重叠放置的多个半导体芯片件8，储存盒6两侧的下部均开设有出料口7，位于最下侧的半导体芯片件8可通过出料口7从储存盒6的内部出料，为了带动最下侧的半导体芯片件8进行出料，储存盒6的下侧装配有水平出料单元9，用于带动最下侧的半导体芯片件8进行水平移动；

此时，当对半导体芯片件8进行检测时，通过水平移动支架上带动储存盒6进行水平移动，储存盒6水平移动时会通过水平出料单元9将储存盒6内部的半导体芯片件8出料，其储存盒6移动一段即出一批半导体芯片件8，将一批半导体芯片件8延直线方向均匀排布，让检测人员进行检测，检测完成后再次通过水平移动支架上带动储存盒6进行水平移动将下一批半导体芯片件8出料，从而将多个半导体芯片件8分别多批间隙出料，以方便检测人员进行检测；

综上，本实施例中通过移动的储存盒6对半导体芯片件8进行间歇式的匀速出料，能够快速的将多个半导体芯片件8分批次的等距放置检测半导体芯片件8所用的工作平台上，以方便检测人员进行检测。

实施例2：

请参阅图1-2所示，本实施例在实施例1的基础上对其中一种水平出料单元9进行公开，其具体为水平出料单元9包括有固定连接在储存盒6下侧的小支架10，小支架10上转动连接有第一转轮11，储存盒6的下侧开设有延伸槽12，第一转轮11的上部边缘位置通过延伸槽12延伸至储存盒6的内部和位于下侧的半导体芯片件8相抵，此时，当储存盒6水平移动时会带动第一转轮11进行移动，由于第一转轮11的下部和工作平台相抵，第一转轮11在水平移动时会进行转动，第一转轮11转动时会对半导体芯片件8进行推动，让半导体芯片件8进行出料；

本技术方案中通过使用第一转轮11作为水平出料单元9，能够通过储存盒6水平移动时带来的动能带动半导体芯片件8进行转动，降低运行动能，且，其结构较为简单，生成成本较低。

实施例3：

请参阅图1-3所示，本实施例和实施例2的区别在于水平出料单元9包括有两个固定连接在储存盒6下侧的侧架13，两个侧架13上均转动连接有转轴14，两个转轴14的外侧装配有传输带体15，传输带体15的上部通过出料口7延伸至储存盒6的内部，传输带体15的下部位于储存盒6的下侧，此时，当储存盒6在水平移动时，传输带体15的下部和工作平台相抵，当其进行水平移动时，传输带体15会在两个转轴14的外侧进行移动，让传输带体15的上部对半导体芯片件8进行推动，从而完成半导体芯片件8的出料；

本实施例中选择用和半导体芯片件8接触面积较大的传输带体15代替第一转轮11，能够更加稳定的带动半导体芯片件8进行移动，提升其运行稳定性。

实施例4：

请参阅图3-4所示，本实施例和实施例3的不同在于两个转轴14的两端均固定连接有第二转轮16，此时，通过第二转轮16的转动即可带动转轴14进行转动，通过第二转轮16的设置能够隔绝传输带体15和工作平台的直接接触，从而避免传输带体15沾附工作平台上灰尘后，再次沾附给半导体芯片件8。

实施例5：

请参阅图1所示，本实施例在上述实施例的基础上对水平移动支架的结构进行详细公开，其具体为，水平移动支架包括有主支架1，主支架1的上端固定连接有横导轨2，横导轨2上装配有和储存盒6相连的移动小车3，当移动小车3在横导轨2上进行水平移动时，即可带动储存盒6进行水平移动，调节储存盒6的位置。

且，移动小车3上可以装配有竖向设置的电动推杆4，电动推杆4的输出端固定连接有连接件5，连接件5和储存盒6固定连接，通过电动推杆4的设置可调节储存盒6的高度，在不需要出料时，直接上升储存盒6，让水平出料单元9不再和工作平台接触即可。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式；但本实用新型的保护范围并不局限于此。任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其改进构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。

Claims (6)

1.一种半导体芯片测试用间歇下料机构，包括水平移动支架，其特征在于：所述水平移动支架上安装有储存盒(6)，所述水平移动支架用于带动储存盒(6)进行线性移动，所述储存盒(6)的内部装配有从上至下依次重叠放置的多个半导体芯片件(8)，所述储存盒(6)两侧的下部均开设有出料口(7)，所述储存盒(6)的下侧装配有水平出料单元(9)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试用间歇下料机构，其特征在于：所述水平出料单元(9)包括有固定连接在储存盒(6)下侧的小支架(10)，所述小支架(10)上转动连接有第一转轮(11)，所述储存盒(6)的下侧开设有延伸槽(12)，所述第一转轮(11)的上部边缘位置通过延伸槽(12)延伸至储存盒(6)的内部和位于下侧的半导体芯片件(8)相抵。

3.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试用间歇下料机构，其特征在于：所述水平出料单元(9)包括有两个固定连接在储存盒(6)下侧的侧架(13)，两个所述侧架(13)上均转动连接有转轴(14)，两个所述转轴(14)的外侧装配有传输带体(15)，所述传输带体(15)的上部通过出料口(7)延伸至储存盒(6)的内部，所述传输带体(15)的下部位于储存盒(6)的下侧。

4.根据权利要求3所述的一种半导体芯片测试用间歇下料机构，其特征在于：两个所述转轴(14)的两端均固定连接有第二转轮(16)。

5.根据权利要求2-4中任一一项所述的一种半导体芯片测试用间歇下料机构，其特征在于：所述水平移动支架包括有主支架(1)，所述主支架(1)的上端固定连接有横导轨(2)，所述横导轨(2)上装配有和储存盒(6)相连的移动小车(3)。

6.根据权利要求5所述的一种半导体芯片测试用间歇下料机构，其特征在于：所述移动小车(3)上可以装配有竖向设置的电动推杆(4)，所述电动推杆(4)的输出端固定连接有连接件(5)，所述连接件(5)和储存盒(6)固定连接。

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